CN111986597A - 显示面板、显示面板的检测方法和显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示面板、显示面板的检测方法和显示装置。该显示面板包括显示区和非显示区，非显示区设置有检测信号输入端、至少一条检测信号线、第一检测控制单元；显示区设置有至少一条第一数据线；检测信号输入端通过检测信号线与第一数据线连接，检测信号输入端通过第一检测控制单元与第一数据线连接，第一检测控制单元用于控制检测信号输入端和第一数据线之间的导通或关断。在显示面板的屏体检测时，通过第一检测控制单元控制控制检测信号输入端和第一数据线导通，可以减小检测信号传输至第一数据线的压降，进而减小了显示面板上由检测信号线导致的不同数据线对应的像素单元的发光亮度差异，提高了显示面板的屏体检测准确性。

Description

显示面板、显示面板的检测方法和显示装置

技术领域

本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板、显示面板的检测方法和显示装置。

背景技术

在制作显示面板的过程中，由于工艺的原因造成显示面板中存在裂纹，降低了显示面板的可靠性，因此需要设置裂纹检测机制对显示面板的裂纹进行检测。而裂纹检测机制会导致显示面板在屏体检测时显示面板发光亮度不均一的问题，降低了显示面板的屏体检测的准确性。

发明内容

本发明提供一种显示面板、显示面板的检测方法和显示装置，以提高显示面板屏体检测的准确性。

第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板，包括显示区和非显示区，所述非显示区设置有检测信号输入端、至少一条检测信号线、第一检测控制单元；所述显示区设置有至少一条第一数据线；

所述检测信号输入端通过所述检测信号线与所述第一数据线连接，所述检测信号输入端通过所述第一检测控制单元与所述第一数据线连接，所述第一检测控制单元用于控制所述检测信号输入端和所述第一数据线之间的导通或关断；其中，所述检测信号输入端通过所述检测信号线至所述第一数据线的支路电阻大于所述检测信号输入端通过所述第一检测控制单元至所述第一数据线的支路电阻。

可选地，所述第一检测控制单元包括至少一个第一晶体管；

所述第一晶体管的第一极与所述检测信号输入端连接，所述第一晶体管的第二极与所述第一数据线连接，所述第一晶体管的栅极与第一控制信号输入端连接。

可选地，所述第一晶体管的线性区电阻小于或等于2kΩ。

可选地，所述非显示区包括互相接触的第一区域、第二区域、第三区域和第四区域，所述检测信号输入端设置于所述第四区域；所述检测信号线包括一条，所述检测信号线通过所述第一区域、所述第二区域和所述第三区域围绕所述显示区设置。

可选地，所述非显示区包括互相接触的第一区域、第二区域、第三区域和第四区域，所述检测信号输入端设置于所述第四区域；所述检测信号线包括两条，所述第一检测控制单元包括两个第一晶体管，所述第一数据线包括两条；每一所述检测信号线通过所述第一区域、所述第二区域和所述第三区域中的至少部分围绕所述显示区设置，两条所述检测信号线通过所述第一区域、所述第二区域和所述第三区域围绕所述显示区；每一所述第一晶体管的第二极分别与两条所述第一数据线连接。

可选地，显示面板还包括第二检测控制单元；

所述第二检测控制单元串联于所述检测信号线和所述第一数据线之间，所述第一检测控制单元通过所述第二检测单元与所述第一数据线连接。

可选地，所述第二检测控制单元包括至少一个第二晶体管；

所述第二晶体管的第一极与所述检测信号线和所述第一检测控制单元连接，所述第二晶体管的第二极与所述第一数据线连接，所述第二晶体管的栅极与第二控制信号输入端连接。

可选地，所述第二检测控制单元包括多个所述第二晶体管，所述显示区设置有多条第一数据线；所述第二晶体管和所述第一数据线一一对应连接。

第二方面，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括本发明任意实施例提供的显示面板。

第三方面，本发明实施例还提供了一种显示面板的检测方法，用于检测本发明任意实施例提供的显示面板，包括：

在裂纹检测阶段，所述第一检测控制单元控制所述检测信号输入端和所述第一数据线之间关断，并根据所述第一数据线连接的像素单元发光状态检测显示面板的裂纹；

在屏体检测阶段，所述第一检测控制单元控制所述检测信号输入端和所述第一数据线之间导通，并根据所述显示面板的发光状态检测所述显示面板。

本发明实施例的技术方案，通过在检测信号输入端和第一数据线之间设置第一检测控制单元，在显示面板的屏体检测时，第一检测控制单元控制检测信号输入端与第一数据线直接连接，使得检测信号线与第一检测控制单元并联，从而可以减小检测信号传输至第一数据线过程中的电阻，减小检测信号传输至第一数据线的压降，进而可以减小第一数据线上的检测信号与第二数据线上的检测信号的压差，减小了屏体检测过程中显示面板上由检测信号线导致的不同数据线对应的像素单元的发光亮度差异，提高了显示面板的屏体检测准确性。

附图说明

图1为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图4为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图5为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图6为本发明实施例提供的一种显示面板的检测方法的流程示意图；

图7为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

随着显示面板行业的逐渐成熟，显示面板的产线对显示面板的生产良率要求越来越高。在制作显示面板的工艺过程中，显示面板容易出现裂纹，造成显示面板的可靠性降低，因此可以通过裂纹检测提高显示面板的生产良率。在显示面板的裂纹检测过程中，可以设置裂纹检测信号线围绕显示面板的显示区，并分别与检测信号输入端子和数据线连接。当显示面板上无裂纹时，检测信号输入端子输入的检测信号通过裂纹检测信号线传输至数据线，驱动与数据线连接的像素单元根据检测信号发光。当显示面板上有裂纹时，检测信号输入端子输入的检测信号无法通过裂纹检测信号线传输至数据线，与数据线连接的像素单元发光异常，从而实现了显示面板的裂纹检测。由于裂纹检测信号线围绕显示区设置，裂纹检测信号线比较长，通过裂纹检测信号线的信号存在比较大的压降。当显示面板进行屏体检测时，检测信号输入端子输入的检测信号通过裂纹检测信号线后传输到数据线的电压与其他直接提供到数据线上的电压的差值比较大，从而导致显示面板上不同数据线对应的像素单元的发光亮度存在差异，导致显示面板的屏体检测不准确。例如，检测信号通过裂纹检测信号线后传输到数据线的电压小于其他数据线的电压，导致与裂纹检测信号线连接的数据线上的像素单元的发光亮度大于其他数据线上的像素单元的发光亮度，使得显示面板存在亮线，进而作出显示面板的屏体检测异常的误判，降低了显示面板的屏体检测的准确性。

针对上述技术问题，本发明实施例提供了一种显示面板。图1为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图。如图1所示，该显示面板包括显示区10和非显示区20，非显示区20设置有检测信号输入端VT、至少一条检测信号线210、第一检测控制单元220；显示区10设置有至少一条第一数据线110；检测信号输入端VT通过检测信号线210与第一数据线110连接，检测信号输入端VT通过第一检测控制单元220与第一数据线110连接，第一检测控制单元220用于控制检测信号输入端VT和第一数据线110之间的导通或关断；其中，检测信号输入端VT通过检测信号线210至第一数据线110的支路电阻大于检测信号输入端VT通过第一检测控制单元220至第一数据线110的支路电阻。

具体的，图1中示例性地示出了显示区10设置有一条第一数据线110，检测信号输入端VT可以通过检测信号线210与第一数据线110连接，还可以通过第一检测控制单元220与第一数据线110连接。检测信号线210和第一检测控制单元220与第一数据线110的同一端连接，当第一检测控制单元220控制检测信号输入端VT和第一数据线110之间导通时，检测信号线210和第一检测控制单元220并联。显示面板的显示区10内设置有像素单元(图1中未示出)，第一数据线110与像素单元连接，用于为像素单元提供驱动信号，驱动像素单元发光。

在裂纹检测过程中，第一检测控制单元220控制检测信号输入端VT和第一数据线110之间关断。此时检测信号输入端VT提供的检测信号通过检测信号线210传输。当显示面板无裂纹时，检测信号线210不存在断裂现象，检测信号输入端VT提供的检测信号通过检测信号线210传输至第一数据线110，与第一数据线110连接的像素单元根据检测信号发光，则可以判断显示面板无裂纹。示例性的，检测信号输入端VT提供的检测信号可以为不同灰阶数据电压，当显示面板无裂纹时，与第一数据线110连接的像素单元的发光亮度可以根据灰阶数据电压的改变而改变。当显示面板存在裂纹时，检测信号线210存在断裂现象，检测信号输入端VT提供的检测信号无法通过检测信号线210传输至第一数据线110，或因检测信号线210断裂导致电阻比较大，检测信号在检测信号线210上的压降比较大，使得传输至第一数据线110的电压比较低，与第一数据线110连接的像素单元无法根据检测信号发光，或检测信号对像素单元的控制力比较弱，则可以判断显示面板存在裂纹。示例性的，检测信号输入端VT提供的检测信号可以为不同灰阶数据电压，当显示面板存在裂纹时，与第一数据线110连接的像素单元的发光亮度无法根据灰阶数据电压的改变而改变。由此可以实现显示面板的裂纹检测。

显示面板还可以包括屏体检测。显示面板还包括多条第二数据线120，第一数据线110和第二数据线120构成显示面板的所有数据线。在显示面板的屏体检测中，第二数据线120可以直接接收检测信号，实现与第二数据线120连接的像素单元的点屏测试。同时第一检测控制单元220控制检测信号输入端VT和第一数据线110之间导通，此时检测信号输入端VT提供的检测信号通过检测信号线210和第一检测控制单元220并联传输，当检测信号线210与第一检测控制单元220并联时，检测信号线210所在支路的电阻与第一检测控制单元220所在支路的电阻并联，由于检测信号输入端VT通过检测信号线210至第一数据线110的支路电阻大于检测信号输入端VT通过第一检测控制单元220至第一数据线110的支路电阻，可以相对于检测信号输入端VT提供的检测信号通过检测信号线210传输至第一数据线110的过程，减小检测信号传输至第一数据线110过程中的电阻，从而减小检测信号传输至第一数据线110的压降，进而可以减小第一数据线110上的检测信号与第二数据线120上的检测信号的压差，减小了屏体检测过程中显示面板上由检测信号线210导致的不同数据线对应的像素单元的发光亮度差异，提高了显示面板的屏体检测准确性。

图2为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图。如图2所示，第一检测控制单元220包括至少一个第一晶体管T1；第一晶体管T1的第一极与检测信号输入端VT连接，第一晶体管T1的第二极与第一数据线110连接，第一晶体管T1的栅极与第一控制信号输入端ctrl1连接。

具体地，图2中示例性地示出了第一检测控制单元220包括一个第一晶体管T1。第一控制信号输入端ctrl1可以输入屏体检测信号。当显示面板进行屏体检测时，第一控制信号输入端ctrl1提供的屏体检测信号控制第一晶体管T1导通。图2中示例性地示出了第一晶体管T1为P型晶体管，在显示面板进行屏体检测时，第一控制信号输入端ctrl1输入低电平信号，控制第一晶体管T1导通，此时第一晶体管T1与检测信号线210并联，第一晶体管T1的导通电阻比较小，因此可以减小检测信号输入端VT提供的检测信号传输至第一数据线110过程中的电阻，减小检测信号传输至第一数据线110的压降，从而可以减小第一数据线110上的检测信号与第二数据线120上的检测信号的压差，进而减小了屏体检测过程中显示面板上由检测信号线210导致的不同数据线对应的像素单元的发光亮度差异，提高了显示面板的屏体检测准确性。

可选地，第一晶体管T1的线性区电阻小于或等于2kΩ。第一晶体管T1的线性区电阻为第一晶体管T1工作在线性区时的电阻。当第一晶体管T1的线性区电阻小于或等于2kΩ时，可以使得第一晶体管T1的导通电阻小于检测信号线210上的线阻。当第一晶体管T1与检测信号线210并联时，可以更好的减小检测信号输入端VT提供的检测信号传输至第一数据线110过程中的电阻，减小检测信号传输至第一数据线110的压降，从而可以减小第一数据线110上的检测信号与第二数据线120上的检测信号的压差。

继续参考图2，非显示区20包括互相接触的第一区域201、第二区域202、第三区域203和第四区域204，检测信号输入端VT设置于第四区域204；检测信号线210包括一条，检测信号线210通过第一区域201、第二区域202和第三区域203围绕显示区10设置。

具体地，检测信号输入端VT设置于第四区域204时，第四区域204可以为显示面板的邦定区，用于设置信号端子与外部连接，从而为显示面板提供驱动信号。当检测信号线210包括一条时，检测信号线210沿第一区域201、第二区域202和第三区域203围绕显示区10设置，使得检测信号线210可以对显示区10周围的所有区域进行裂纹检测，提高显示面板的裂纹检测范围。

图3为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图。如图3所示，非显示区20包括互相接触的第一区域201、第二区域202、第三区域203和第四区域204，检测信号输入端VT设置于第四区域204；检测信号线210包括两条，第一检测控制单元220包括两个第一晶体管T1，第一数据线110包括两条；每一检测信号线210通过第一区域201、第二区域202和第三区域203中的至少部分围绕显示区10设置，两条检测信号线210通过第一区域201、第二区域202和第三区域203围绕显示区；每一第一晶体管T1的第二极分别与两条第一数据线110连接。

具体地，检测信号输入端VT设置于第四区域204时，第四区域204可以为显示面板的邦定区。当检测信号线210包括两条时，每条检测信号线210通过第一区域201、第二区域202和第三区域203中的至少部分围绕显示区10设置，可以对每条检测信号线210通过的第一区域201、第二区域202和第三区域203中的部分区域进行裂纹检测。同时两条检测信号线210通过第一区域201、第二区域202和第三区域203围绕显示区，使得两条检测信号线210检测的区域之和能够对显示区10周围的所有区域进行裂纹检测，提高显示面板的裂纹检测范围。另外，当检测信号线210包括两条时，第一晶体管T1可以对应设置为两个，第一数据线110可以对应设置为两条，每一检测信号线210与一个第一晶体管T1并联后与一条第一数据线110对应连接，可以通过两条第一数据线110上的像素单元的发光状态分别检测两条检测信号线210通过的部分区域，提高显示面板检测裂纹的位置准确性。示例性地，当第二区域202与第四区域204相对设置时，一条检测信号线210可以通过第一区域201和第二区域202中与第一区域201相邻的一半区域，另一条检测信号线210可以通过第三区域203和第二区域202中与第三区域203相邻的一半区域，此时两条检测信号线210可以分别检测显示面板中的一半区域，并通过与检测信号线210对应连接的数据线110上的像素单元的发光状态分别判断显示面板的一半区域是否存在裂纹，提高了检测裂纹的位置准确性。

需要说明的是，图3中示例性地示出了一条检测信号线210对应一条第一数据线110。在其他实施例中，一条检测信号线210可以对应多条第一数据线110，在检测显示面板的裂纹时，可以降低其他因素导致的像素单元显示异常错误判断为裂纹的现象，提高了显示面板裂纹检测的可靠性。同时有利于直观的判断，增加了显示面板裂纹检测的直观性。

图4为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图。如图4所示，显示面板还包括第二检测控制单元230；第二检测控制单元230串联于检测信号线210和第一数据线110之间，第一检测控制单元220通过第二检测单元230与第一数据线110连接。

具体地，第二检测控制单元230串联于检测信号线210和第一数据线110之间，用于控制检测信号线210和第一数据线110之间的导通或关断。在显示面板的裂纹检测和屏体检测过程中，可以控制第二检测控制单元230处于导通状态，使得检测信号线210上的信号可以传输至第一数据线110。

继续参考图4，第二检测控制单元230包括至少一个第二晶体管T2；第二晶体管T2的第一极与检测信号线210和第一检测控制单元220连接，第二晶体管T2的第二极与第一数据线110连接，第二晶体管T2的栅极与第二控制信号输入端ctrl2连接。

具体地，图4示例性地示出了第二检测控制单元230包括一个第二晶体管T2。第二控制信号输入端ctrl2可以输入检测信号，检测信号可以包括裂纹检测信号和屏体检测信号。当显示面板进行检测时，第二控制信号输入端ctrl2提供的检测信号控制第二晶体管T2导通。图4示例性地示出了第二晶体管T2为P型晶体管，在显示面板进行检测时，第二控制信号输入端ctrl2输入低电平信号，控制第二晶体管T2导通，此时检测信号线210上的信号可以传输至数据线110上，实现显示面板的检测。

可选地，第一晶体管T1和第二晶体管T2的类型相同。在显示面板的屏体检测过程中，可以控制第一晶体管T1和第二晶体管T2同时导通，实现第一晶体管T1与检测信号线210并联，并通过第二晶体管T2将信号传输至第一数据线110上。

图5为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图。如图5所示，第二检测控制单元230包括多个第二晶体管T2，显示区10设置有多条第一数据线110；第二晶体管T2和第一数据线110一一对应连接。

具体地，与第二晶体管T2对应的第一数据线110为多条时，用于裂纹检测的像素单元包括多列。图5中示例性地示出了与第二晶体管T2对应的第一数据线110为两条，此时用于裂纹检测的像素单元包括两列。在显示面板的裂纹检测时，多条第一数据线110上的多列像素单元的发光状态可以用于判断显示面板是否存在裂纹，从而降低了其他因素导致的像素单元显示异常错误判断为裂纹的现象，提高了显示面板裂纹检测的可靠性。同时有利于直观的判断，增加了显示面板裂纹检测的直观性。

需要说明的是，图5中示例性地示出了检测信号线210为一条。在其他实施例中，检测信号线210还可以为多条。例如，如图3所示，检测信号线210可以为两条。此时可以设置每条检测信号线210对应的第一数据线110为多条，使得每条检测信号线210检测显示面板部分区域的裂纹时，可以在提高显示面板检测裂纹的位置准确性的基础上，降低其他因素导致的像素单元显示异常错误判断为裂纹的现象，提高显示面板裂纹检测的可靠性。同时有利于直观的判断，增加了显示面板裂纹检测的直观性。

本发明实施例还提供了一种显示面板的检测方法，用于检测本发明任意实施例提供的显示面板。图6为本发明实施例提供的一种显示面板的检测方法的流程示意图。如图6所示，该方法包括：

S310、在裂纹检测阶段，第一检测控制单元控制检测信号输入端和第一数据线之间关断，并根据第一数据线连接的像素单元发光状态检测显示面板的裂纹；

具体地，在裂纹检测阶段，第一检测控制单元控制检测信号输入端和第一数据线之间关断，使得检测信号输入端提供的检测信号通过检测信号线传输至第一数据线。当显示面板无裂纹时，检测信号线不存在断裂现象，检测信号能够传输至第一数据线，与第一数据线连接的像素单元可以根据检测信号发光，则可以判断显示面板无裂纹。当显示面板有裂纹时，检测信号线存在断裂现象，检测信号无法传输至第一数据线，或因检测信号线断裂导致电阻比较大，检测信号在检测信号线上的压降比较大，使得传输至第一数据线的电压比较低，与第一数据线连接的像素单元不能根据检测信号发光，或检测信号对像素单元的控制力比较弱，则可以判断显示面板存在裂纹，由此可以实现显示面板的裂纹检测。

S320、在屏体检测阶段，第一检测控制单元控制检测信号输入端和第一数据线之间导通，并根据显示面板的发光状态检测显示面板。

具体地，在屏体检测阶段，第一检测控制单元控制检测信号输入端和第一数据线之间导通，检测信号通过检测信号线和第一检测控制单元并联传输，由于检测信号输入端通过检测信号线至第一数据线的支路电阻大于检测信号输入端通过第一检测控制单元至第一数据线的支路电阻，检测信号线和第一检测控制单元并联可以减小检测信号传输至第一数据线过程中的电阻，从而减小检测信号传输至第一数据线的压降，进而可以减小第一数据线上的检测信号与第二数据线上的检测信号的压差，减小了屏体检测过程中显示面板上由检测信号线导致的不同数据线对应的像素单元的发光亮度差异，提高了显示面板的屏体检测准确性。

本发明实施例还提供一种显示装置。图7为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。如图7所示，该显示装置40包括本发明任意实施例提供的显示面板41。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种显示面板，其特征在于，包括显示区和非显示区，所述非显示区设置有检测信号输入端、至少一条检测信号线、第一检测控制单元；所述显示区设置有至少一条第一数据线；

所述检测信号输入端通过所述检测信号线与所述第一数据线连接，所述检测信号输入端通过所述第一检测控制单元与所述第一数据线连接，所述第一检测控制单元用于控制所述检测信号输入端和所述第一数据线之间的导通或关断；其中，所述检测信号输入端通过所述检测信号线至所述第一数据线的支路电阻大于所述检测信号输入端通过所述第一检测控制单元至所述第一数据线的支路电阻。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一检测控制单元包括至少一个第一晶体管；

所述第一晶体管的第一极与所述检测信号输入端连接，所述第一晶体管的第二极与所述第一数据线连接，所述第一晶体管的栅极与第一控制信号输入端连接。

3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述第一晶体管的线性区电阻小于或等于2kΩ。

4.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述非显示区包括互相接触的第一区域、第二区域、第三区域和第四区域，所述检测信号输入端设置于所述第四区域；所述检测信号线包括一条，所述检测信号线通过所述第一区域、所述第二区域和所述第三区域围绕所述显示区设置。

5.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述非显示区包括互相接触的第一区域、第二区域、第三区域和第四区域，所述检测信号输入端设置于所述第四区域；所述检测信号线包括两条，所述第一检测控制单元包括两个第一晶体管，所述第一数据线包括两条；每一所述检测信号线通过所述第一区域、所述第二区域和所述第三区域中的至少部分围绕所述显示区设置，两条所述检测信号线通过所述第一区域、所述第二区域和所述第三区域围绕所述显示区；每一所述第一晶体管的第二极分别与两条所述第一数据线连接。

6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，还包括第二检测控制单元；

所述第二检测控制单元串联于所述检测信号线和所述第一数据线之间，所述第一检测控制单元通过所述第二检测单元与所述第一数据线连接。

7.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述第二检测控制单元包括至少一个第二晶体管；

所述第二晶体管的第一极与所述检测信号线和所述第一检测控制单元连接，所述第二晶体管的第二极与所述第一数据线连接，所述第二晶体管的栅极与第二控制信号输入端连接。

8.根据权利要求7所述的显示面板，其特征在于，所述第二检测控制单元包括多个所述第二晶体管，所述显示区设置有多条第一数据线；所述第二晶体管和所述第一数据线一一对应连接。

9.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1-8任一项所述的显示面板。

10.一种显示面板的检测方法，用于检测权利要求1-8任一项所述的显示面板，其特征在于，包括：

在裂纹检测阶段，所述第一检测控制单元控制所述检测信号输入端和所述第一数据线之间关断，并根据所述第一数据线连接的像素单元发光状态检测显示面板的裂纹；

在屏体检测阶段，所述第一检测控制单元控制所述检测信号输入端和所述第一数据线之间导通，并根据所述显示面板的发光状态检测所述显示面板。

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