CN112419949B - 显示面板及显示装置 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种显示面板及显示装置，该显示面板包括显示区和非显示区，显示区内设有阵列排布的多个子像素以及多条数据线，非显示区内设有多个输出通道、面板电学检测单元、裂纹检测走线和检测控制电路，面板电学检测单元与检测控制电路连接，裂纹检测走线的输入端与检测控制电路的输出端连接，裂纹检测走线的输出端和检测控制电路的另一输出端输出至至少同一输出通道的输入端，检测控制电路用于根据检测控制信号向裂纹检测走线或输出通道输出检测信号，无需通过裂纹检测走线，即可将检测信号通过检测控制电路输出至输出通道，以此减小检测信号在传输过程中的压降，从而改善显示不均的问题，并提高面板电学检测的准确性。

Description

显示面板及显示装置

技术领域

本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及显示装置。

背景技术

随着显示技术的不断发展，显示面板在各个领域的应用越来越广泛。通常情况下，在显示面板的制作过程中会在母板上形成多个显示面板，再对母板进行切割，最终得到分立的显示面板，但在切割工艺中可能会在显示面板的边缘产生裂纹，随着使用时间的增加，裂纹可能会向显示面板的内部延伸，影响显示面板的使用寿命，因此，在显示面板板切割形成后要进行裂纹检测。

现有技术中，目前常用的方法是采用面板裂纹检测(panel crack decide,PCD)法，通过在显示面板的边缘形成一圈用于进行裂纹检测的裂纹检测走线，该裂纹检测走线与面板电学检测(cell test)单元连接，通过面板电学检测单元向裂纹检测走线发送裂纹检测信号，以对显示面板是否存在裂纹进行检测。同时，还需要通过裂纹检测走线将电学检测信号传递至与裂纹检测走线连接的一行子像素中，以进行除裂纹检测以外的其他不良检测。但是，随着显示面板的尺寸越来越大，裂纹检测走线的阻容负载(RC Loading)也会随着裂纹走线长度的延长而逐渐增大，使得裂纹检测走线传输的电学检测信号存在明显的压降，导致与裂纹检测走线连接的子像素的亮度与其他不与裂纹检测走线连接的子像素的亮度之间存在差异，进而使得显示面板出现显示不均的现象，导致在进行面板电学检测的过程中，影响显示面板进行除裂纹检测以外的不良检测，容易出现误判，最终影响产品的品质和良品率。

综上所述，现有显示面板存在由于裂纹检测走线的阻容负载较大导致面板电学检测准确性降低的问题。故，有必要提供一种显示面板及显示装置来改善这一缺陷。

发明内容

本申请实施例提供一种显示面板及显示装置，用于解决现有显示面板存在由于裂纹检测走线的阻容负载较大导致面板电学检测准确性降低的问题。

本申请实施例提供一种显示面板，至少包括显示区和围绕所述显示区的非显示区，所述显示区内设有阵列排布的多个子像素以及多条数据线，每条所述数据线连接位于同一列的多个所述子像素，所述非显示区内设有分别与所述多条数据线连接的多个输出通道；

其中，所述非显示区内还设有面板电学检测单元、至少一条裂纹检测走线和至少一个检测控制电路，所述面板电学检测单元与所述检测控制电路连接，并向所述检测控制电路输出检测信号和检测控制信号，所述裂纹检测走线的输入端与所述检测控制电路的输出端连接，所述裂纹检测走线的输出端和所述检测控制电路的另一输出端输出至至少同一所述输出通道的输入端，所述检测控制电路用于根据所述检测控制信号向所述裂纹检测走线或所述输出通道输出所述检测信号。

根据本申请一实施例，所述裂纹检测走线为环绕所述显示区的封闭走线。

根据本申请一实施例，所述检测控制电路包括第一薄膜晶体管和第二薄膜晶体管，所述检测控制信号包括第一检测控制信号和第二检测控制信号，所述第一薄膜晶体管的栅极接收所述第一检测控制信号，所述第二薄膜晶体管的栅极接收所述第二检测控制信号，所述第一薄膜晶体管的源极和所述第二薄膜晶体管的源极均接收所述检测信号，所述第二薄膜晶体管的漏极与所述裂纹检测走线的输入端连接，所述第一薄膜晶体管的漏极与所述裂纹检测走线的输出端输出至至少同一所述输出通道。

根据本申请一实施例，所述面板电学检测单元包括多个第三薄膜晶体管，所述第三薄膜晶体管的栅极接收面板电学检测控制信号，所述第三薄膜晶体管的源极接收所述检测信号，所述第三薄膜晶体管的漏极与所述输出通道的输入端连接。

根据本申请一实施例，所述面板电学检测单元还包括至少一个第四薄膜晶体管，所述第四薄膜晶体管的栅极接收所述面板电学检测控制信号，所述第四薄膜晶体管的源极分别与所述裂纹检测走线的输出端以及所述第一薄膜晶体管的漏极连接，所述第四薄膜晶体管的漏极连接至少一个不与所述第三薄膜晶体管连接的所述输出通道。

根据本申请一实施例，所述输出通道包括解复用模块，所述解复用模块的输入端分别与所述第三薄膜晶体管和所述第四薄膜晶体管的漏极连接，所述解复用模块的输出端与至少两条所述数据线连接。

根据本申请一实施例，在进行裂纹检测时，所述第一检测控制信号与所述第二检测控制信号的相位相反。

根据本申请一实施例，当所述显示面板存在裂纹时，与所述裂纹检测走线连接的所述输出通道对应的至少一个所述子像素发出的光的亮度不同于不与所述裂纹检测走线连接的所述输出通道对应的子像素发出的光的亮度。

根据本申请一实施例，所述非显示区内还设有源极驱动电路芯片，所述源极驱动电路芯片的输出端分别与所述多个输出通道的输入端连接。

本申请实施例还提供一种显示装置，包括装置主体以及设置于所述装置主体上的如上述的显示面板。

本申请实施例的有益效果：本申请实施例提供一种显示面板及显示装置，该显示面板至少包括显示区和围绕所述显示区的非显示区，所述显示区内设有阵列排布的多个子像素以及多条数据线，每条所述数据线连接位于同一列的多个所述子像素，所述非显示区内设有分别与所述多条数据线连接的多个输出通道，所述非显示区内还设有面板电学检测单元、至少一条裂纹检测走线和至少一个检测控制电路，所述面板电学检测单元与所述检测控制电路连接，并向所述检测控制电路输出检测信号和检测控制信号，所述裂纹检测走线的输入端与所述检测控制电路的输出端连接，所述裂纹检测走线的输出端和所述检测控制电路的另一输出端输出至至少同一所述输出通道的输入端，所述检测控制电路用于根据所述检测控制信号向所述裂纹检测走线或所述输出通道输出所述检测信号，无需通过裂纹检测走线，即可将检测信号通过检测控制电路输出至输出通道，以此减小检测信号在传输过程中的压降，从而改善显示面板显示不均的问题，并提高面板电学检测的准确性以及显示面板的品质和良品率。

附图说明

为了更清楚地说明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的显示面板的结构示意图；

图2为本申请实施例提供的显示面板的第二种结构示意图；

图3为本申请实施例提供的显示面板的第三种结构示意图；

图4为本申请实施例提供的显示装置的结构示意图。

具体实施方式

以下各实施例的说明是参考附加的图示，用以例示本申请可用以实施的特定实施例。本申请所提到的方向用语，例如[上]、[下]、[前]、[后]、[左]、[右]、[内]、[外]、[侧面]等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本申请，而非用以限制本申请。在图中，结构相似的单元是用以相同标号表示。

下面结合附图和具体实施例对本申请做进一步的说明。

本申请实施例提供一种显示面板，下面结合图1至图3进行详细说明。如图1所示，图1为本申请实施例提供的显示面板1的结构示意图，所述显示面板1至少包括显示区A1和围绕所述显示区A1的非显示区A2，所述显示区A1内设有阵列排布的多个子像素11以及多条数据线12，每条所述数据线12连接位于同一列的多个所述子像素11，所述非显示区A2内设有分别与所述多条数据线12连接的多个输出通道13。

需要说明的是，上述显示面板1既可以为液晶显示面板，也可以为有机发光二极管显示面板，且图1仅对的显示面板的整体结构进行了示意，并不代表显示区A1和非显示区A2的实际尺寸。此外，图1也仅对显示区A1所包含的子像素11和数据线12以及非显示区A2所包含的输出通道13进行了示意，并不代表子像素11、数据线12以及输出通道13的实际数量。

所述非显示区A2内还设有面板电学检测单元14，所述面板电学检测单元14的输出端与输出通道13的输入端连接，用于接收检测信号，并通过输出通道13将检测信号输出至与输出通道连接的数据线12上的多个子像素，从而在由母版切割成多个分立的显示面板1时，对显示面板1进行相关的面板电学检测。所述非显示区A2还设有至少一条裂纹检测走线15和至少一个检测控制电路16，所述面板电学检测单元14与所述检测控制电路16的输入端连接，并向所述检测控制电路16输出检测信号和检测控制信号，所述裂纹检测走线15的输入端与所述检测控制电路16的输出端连接，所述裂纹检测走线15的输出端和所述检测控制电路16的另一输出端则输出至至少同一个所述输出通道13的输入端。所述检测控制电路16用于根据检测控制信号选择性的将检测信号输出至所述裂纹检测走线15或所述输出通道13的输入端。

在一实施例中，如图1所示，所述非显示区A2内仅设有一条裂纹检测走线15以及一个检测控制电路16，所述裂纹检测走线15为环绕所述显示区A1的封闭走线，由所述非显示区A2底部的一侧沿所述显示区A1的外围延伸至所述非显示区A2底部的另一侧。当需要对显示面板进行裂纹检测时，所述检测控制信号控制所述检测控制电路16将所述检测信号输出至裂纹检测走线15，若显示面板的边缘出现裂纹，那么裂纹检测走线通常会产生裂纹甚至断裂，检测信号会产生压降甚至断开，与所述裂纹检测走线连接的输出通道所对应的至少一条数据线上的至少一个子像素所呈现的状态与其他不与裂纹检测走线连接的输出通道所对应的子像素所呈现的状态不同，若显示面板的边缘不存在裂纹，那么显示面板上的子像素均呈现相同的状态；当需要对显示面板进行面板电学检测时，所述检测控制信号控制所述检测控制电路16将所述检测信号直接通过所述输出通道输出至与所述输出通道连接的至少一条数据线上的子像素中，因此无需通过裂纹检测走线，即可将检测信号通过检测控制电路输出至输出通道，以此减小检测信号在传输过程中的压降，从而改善显示面板显示不均的问题，并提高面板电学检测的准确性。

所述检测控制信号包括第一检测控制信号和第二检测控制信号，所述面板电学检测单元14包括用于传输所述第一检测控制信号的第一检测控制信号线141、用于传输所述第二检测控制信号的第二检测控制信号线142以及用于传输所述检测信号的检测信号线143。所述检测控制电路16包括第一薄膜晶体管T1和第二薄膜晶体管T2，所述第一薄膜晶体管T1的栅极与所述第一检测控制信号线141连接并接收所述第一检测控制信号，所述第二薄膜晶体管T2的栅极与所述第二检测控制信号线142连接并接收所述第二检测控制信号，所述第一薄膜晶体管T1的源极和所述第二薄膜晶体管T2的源极均与所述检测信号线连接并接收所述检测信号，所述第二薄膜晶体管T2的漏极与所述裂纹检测走线15的输入端连接，所述第一薄膜晶体管T1的漏极与所述裂纹检测走线15的输出端均输出至至少同一所述输出通道13的输入端。

在一实施例中，在进行裂纹检测时，所述第一检测控制信号与所述第二检测控制信号的相位相反。以图1所示的显示面板为例，在进行裂纹检测时，所述第一检测控制信号为高电位，所述第二检测控制信号为低电位，所述第一薄膜晶体管T1关闭，所述第二薄膜晶体管T2开启，所述检测信号通过所述第二薄膜晶体管T2流入至所述裂纹检测走线15，并通过所述输出通道13输出至所述显示区A1内，以对显示面板1进行裂纹检测；在进行面板电学检测时，所述第一检测控制信号为低电位，所述第二检测控制信号为高电位，所述第一薄膜晶体管T1开启，所述第二薄膜晶体管T2关闭，所述检测信号通过所述第一薄膜晶体管T1以及所述输出通道13输出至所述显示区A1内，以对显示面板1进行面板电学检测。

在一实施例中，如图1所示，所述第一薄膜晶体管T1的漏极与所述裂纹检测走线15的输出端均输出至一条相同的输出通道13的输入端。在另一些实施例中，第一薄膜晶体管T1的漏极还可以连接多个输出通道13的输入端，裂纹检测走线13同样也可以连接多个输出通道13的输入端，且裂纹检测走线13所连接的多个输入端与第一薄膜晶体管T1的漏极所连接的输入端相同。

所述面板电学检测单元14还包括多个第三薄膜晶体管T3、至少一个第四薄膜晶体管T4以及用于传输面板电学检测控制信号的面板电学检测控制信号线144，所述第三薄膜晶体管T3的栅极与所述面板电学检测控制信号线144连接，并接收所述面板电学检测控制信号，所述第三薄膜晶体管T3的源极与所述检测信号线143连接，并接收所述检测信号，所述第三薄膜晶体管T3的漏极与所述输出通道13的输入端连接，以用于将所述检测信号输出至所述输出通道13的输入端。所述第四薄膜晶体管T4的栅极与所述面板电学检测控制信号线144连接，并接收所述面板电学检测控制信号，所述第四薄膜晶体管T4的源极分别与所述裂纹检测走线15的输出端以及所述第一薄膜晶体管T1的漏极连接，用于接收所述裂纹检测走线15或所述第一薄膜晶体管T1输出的所述检测信号，所述第四薄膜晶体管T4的漏极连接至少一个不与所述第三薄膜晶体管T3连接的输出通道13。

在一实施例中，如图1所示，所述显示面板1的非显示区A2内仅设有一条裂纹检测走线15以及一个检测控制电路16，所述面板电学检测单元14包括多个第三薄膜晶体管T3和1个与所述裂纹检测走线15以及所述检测控制电路16对应的第四薄膜晶体管T4。需要说明的是，图1所示的显示面板的结构示意图中的第三薄膜晶体管T3的数量并不代表第三薄膜晶体管的实际数量。

进一步的，所述第四薄膜晶体管T4与多个所述输出通道13中靠近显示面板一侧边缘的输出通道连接。在另一些实施例中，第四薄膜晶体管T4同样也可以与位于显示面板中间部分的输出通道13连接。第四薄膜晶体管T4所连接的输出通道13的数量、与所述第四薄膜晶体管T4所连接的输出通道13的位置以及所述第四薄膜晶体管14所设置的位置均可以根据实际情况进行设定，此处不做限制。

在一实施例中，如图2所述，图2为本申请实施例提供的显示面板的第二种结构示意图，所述非显示区域A2设有两条裂纹检测走线15，两条裂纹检测走线15分别设置于所述显示区域A1的相对两侧，并对所述显示区域A1形成封闭包围结构。非显示区还设有与两条所述裂纹检测走线15一一对应的两个检测控制电路16，所述两个检测控制电路16分别设置于所述非显示区A2底部的两侧，所述检测控制电路16与所述裂纹检测走线15、所述输出通道13以及所述面板电学检测单元14之间的连接关系与上述实施例所提供的连接方式相同，此处不再赘述。本申请实施例所提供的显示面板，可以通过两条对称设置的裂纹检测走线15对于显示面板1相对称的左右两侧裂纹的检测功能，同时通过对应的检测控制电路16对于检测信号的分配作用，避免裂纹检测走线15的阻容负载对检测信号的影响，从而减小检测信号在传输过程中的压降，从而改善显示面板显示不均的问题，并提高面板电学检测的准确性。

在一实施例中，如图3所示，图3为本申请实施例提供的显示面板的第三种结构示意图，其中所述面板电学检测单元14包括多个第三薄膜晶体管T3，且并不设有第四薄膜晶体管T4，第三薄膜晶体管T3与面板电学检测单元14中的各条信号线以及所述多个输出通道13的连接方式与上述实施例相同，此处不再赘述。所述第一薄膜晶体管T1的漏极以及所述裂纹检测走线15的输出端直接与对应的一个输出通道13的输入端连接，并在所述检测控制信号的作用下，通过所述检测控制电路16选择性的将所述检测信号直接输出至所述输出通道13的输入端，其中第一检测控制信号的相位与面板电学检测控制信号的相位相同，第二检测控制信号在进行裂纹检测时，与第一检测控制信号的相位相反，在其他时刻，第二薄膜晶体管均保持关闭状态。本申请实施例所提供的显示面板中，无需设置上述实施例中的第四薄膜晶体管T4，通过将裂纹检测走线15的输出端和第一薄膜晶体管T1的漏极直接与输出通道13的输入端连接，在实现与上述实施例相同的技术效果的同时，还可以减少非显示区A2内薄膜晶体管的数量，从而减少非显示区A2的宽度，提高显示面板的品占比。

所述输出通道13包括多个解复用模块131，所述多个解复用模块131的输入端分别与所述第三薄膜晶体管T3和所述第四薄膜晶体管T4的漏极连接，任意一个所述解复用模块131的输出端与至少两条所述数据线12连接。

在一实施例中，如图1所示，所述多个子像素11包括颜色各不相同的第一子像素、第二子像素和第三子像素，且第一子像素、第二子像素和第三子像素均沿竖直方向间隔排列，位于同一列颜色相同的子像素均连接于同一数据线上，其中第一子像素为红色子像素，第二子像素为蓝色子像素，第三子像素为绿色子像素。所述解复用模块131包括第五薄膜晶体管T5、第六薄膜晶体管T6、第七薄膜晶体管T7、用于传输第一子像素检测信号的第一子像素检测信号线，用于传输第二子像素检测信号的第二子像素检测信号线以及用于传输第三子像素检测信号的第三子像素检测信号线，所述第五薄膜晶体管T5的栅极与所述第一子像素检测信号信连接，所述第五薄膜晶体管T5的源极与所述解复用模块131的输入端连接，所述第五薄膜晶体管T5的漏极与第一子像素所连接的数据线连接，所述第六薄膜晶体管T6的栅极与所述第二子像素检测信号线连接，所述第六薄膜晶体管T6的源极与所述解复用模块131的输入端连接，所述第六薄膜晶体管T6的漏极与第二子像素所连接的数据线连接，所述第七薄膜晶体管T7的栅极与所述第三子像素检测信号线连接，所述第七薄膜晶体管T7的源极与所述解复用模块131的输入端连接，所述第七薄膜晶体管T7的漏极与第三子像素所连接的数据线连接。在其他一些实施例中，

在一实施例中，当所述显示面板1存在裂纹时，与所述裂纹检测走线15连接的所述输出通道13对应的至少一个所述子像素发出的光的亮度不同于不与所述裂纹检测走线连接的所述输出通道对应的子像素发出的光的亮度。如图1所示，当显示面板存在裂纹时，裂纹检测走线的电阻增大，因而施加到的与所述裂纹检测走线15连接的一列子像素的检测信号的电压低于不与所述裂纹检测走线15连接的一列子像素的检测信号的电压，使得与所述裂纹检测走线15连接的一列子像素可以发出比不与所述裂纹检测走线15连接的子像素更亮或者更暗的光。检测人员或者检测设备可以通过观察与裂纹检测走线15所连接的一列子像素的光的亮度是否不同于其他子像素的光的亮度，来判断显示面板是否存在裂纹。

所述非显示区A2内还设有驱动电路芯片17，所述驱动电路芯片17的输出端分别与所述多个输出通道13的输入端连接。当显示面板为液晶显示面板时，所述驱动电路芯片17用于输出源极驱动信号，以对显示区A1内的子像素的子像素电极充电，以使得子像素电极与公共电极之间形成电场并驱动液晶层中的液晶分子发生偏转；当显示面板为有机发光二极管显示面板时，所述驱动电路芯片17用于输出源极驱动信号，以驱动有机发光二极管发光。

综上所述，本申请实施例提供一种显示面板，该显示面板至少包括显示区和围绕所述显示区的非显示区，所述显示区内设有阵列排布的多个子像素以及多条数据线，每条所述数据线连接位于同一列的多个所述子像素，所述非显示区内设有分别与所述多条数据线连接的多个输出通道，所述非显示区内还设有面板电学检测单元、至少一条裂纹检测走线和至少一个检测控制电路，所述面板电学检测单元与所述检测控制电路连接，并向所述检测控制电路输出检测信号和检测控制信号，所述裂纹检测走线的输入端与所述检测控制电路的输出端连接，所述裂纹检测走线的输出端和所述检测控制电路的另一输出端输出至至少同一所述输出通道的输入端，所述检测控制电路用于根据所述检测控制信号向所述裂纹检测走线或所述输出通道输出所述检测信号，无需通过裂纹检测走线，即可将检测信号通过检测控制电路输出至输出通道，以此减小检测信号在传输过程中的压降，从而改善显示面板显示不均的问题，并提高面板电学检测的准确性以及显示面板的品质和良品率。

本申请实施例还提供一种显示装置，如图4所示，图4为本申请实施例提供的显示装置2的结构示意图，所述显示装置2包括装置主体21以及设置于所述装置主体21上的显示面板22，所述装置主体21包括壳体以及设置于所述壳体内的处理器、电源、摄像头等零部件，所述显示面板22可以采用上述实施例所提供的显示面板。本申请实施例所提供的显示装置2中的显示面板21可以实现与上述实施例所提供的显示面板相同的技术效果，此处不再赘述。

综上所述，虽然本申请以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本申请，本领域的普通技术人员，在不脱离本申请的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本申请的保护范围以权利要求界定的范围为基准。

Claims (10)

1.一种显示面板，其特征在于，至少包括显示区和围绕所述显示区的非显示区，所述显示区内设有阵列排布的多个子像素以及多条数据线，每条所述数据线连接位于同一列的多个所述子像素，所述非显示区内设有分别与所述多条数据线连接的多个输出通道；

其中，所述非显示区内还设有面板电学检测单元、至少一条裂纹检测走线和至少一个检测控制电路，所述面板电学检测单元与所述检测控制电路连接，并向所述检测控制电路输出检测信号和检测控制信号，所述裂纹检测走线的输入端与所述检测控制电路的输出端连接，所述裂纹检测走线的输出端和所述检测控制电路的另一输出端输出至至少同一所述输出通道的输入端，所述检测控制电路用于根据所述检测控制信号向所述裂纹检测走线或所述输出通道输出所述检测信号。

2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述裂纹检测走线为环绕所述显示区的封闭走线。

3.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述检测控制电路包括第一薄膜晶体管和第二薄膜晶体管，所述检测控制信号包括第一检测控制信号和第二检测控制信号，所述第一薄膜晶体管的栅极接收所述第一检测控制信号，所述第二薄膜晶体管的栅极接收所述第二检测控制信号，所述第一薄膜晶体管的源极和所述第二薄膜晶体管的源极均接收所述检测信号，所述第二薄膜晶体管的漏极与所述裂纹检测走线的输入端连接，所述第一薄膜晶体管的漏极与所述裂纹检测走线的输出端输出至至少同一所述输出通道。

4.如权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述面板电学检测单元包括多个第三薄膜晶体管，所述第三薄膜晶体管的栅极接收面板电学检测控制信号，所述第三薄膜晶体管的源极接收所述检测信号，所述第三薄膜晶体管的漏极与所述输出通道的输入端连接。

5.如权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述面板电学检测单元还包括至少一个第四薄膜晶体管，所述第四薄膜晶体管的栅极接收所述面板电学检测控制信号，所述第四薄膜晶体管的源极分别与所述裂纹检测走线的输出端以及所述第一薄膜晶体管的漏极连接，所述第四薄膜晶体管的漏极连接至少一个不与所述第三薄膜晶体管连接的所述输出通道。

6.如权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述输出通道包括解复用模块，所述解复用模块的输入端分别与所述第三薄膜晶体管和所述第四薄膜晶体管的漏极连接，所述解复用模块的输出端与至少两条所述数据线连接。

7.如权利要求3所述的显示面板，其特征在于，在进行裂纹检测时，所述第一检测控制信号与所述第二检测控制信号的相位相反。

8.如权利要求3所述的显示面板，其特征在于，当所述显示面板存在裂纹时，与所述裂纹检测走线连接的所述输出通道对应的至少一个所述子像素发出的光的亮度不同于不与所述裂纹检测走线连接的所述输出通道对应的子像素发出的光的亮度。

9.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述非显示区内还设有源极驱动电路芯片，所述源极驱动电路芯片的输出端分别与所述多个输出通道的输入端连接。

10.一种显示装置，其特征在于，包括装置主体以及设置于所述装置主体上的如权利要求1至9任一项所述的显示面板。

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