KR20200003023A - 디스플레이 패널과 그 균열 검출 방법, 디스플레이 장치 - Google Patents

디스플레이 패널과 그 균열 검출 방법, 디스플레이 장치 Download PDF

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Abstract

디스플레이 패널 및 균열 검출 방법, 및 디스플레이 디바이스가 개시된다. 디스플레이 패널은 디스플레이 영역(100) 및 디스플레이 영역(100)을 둘러싸는 주변 영역(200)을 포함하고, 주변 영역(200)은 균열 검출 회로 구조(210)를 구비하고, 균열 검출 회로 구조(210)는 검출 회로 배선(211) 및 제1 검출 스위칭 회로(212)를 포함하고, 디스플레이 패널은 제1 부화소(110) 및 제1 부화소(110)에 전기적으로 접속된 제1 데이터 선(120)을 포함하고, 제1 데이터 선(120)의 제1 단부(121)는 검출 회로 배선(211)의 제1 단부(2111)에 전기적으로 접속되고, 제1 데이터 선(120)의 제2 단부(122)는 제1 검출 스위칭 회로(212)를 통해 검출 회로 배선(211)의 제2 단부(2112)에 전기적으로 접속되고, 검출 회로 배선(211)의 제2 단부(2112)는 검출 전압을 수신하도록 구성된다.

Description

디스플레이 패널과 그 균열 검출 방법, 디스플레이 장치
본원은 그 전체가 본원의 일부로서 참조로 포함된, 2018년 5월 17일자 출원된 중국 특허 출원 번호 201810473966.5호를 우선권 주장한다.
본 개시내용의 적어도 하나의 실시예는 디스플레이 패널과 그 균열 검출 방법, 및 디스플레이 장치에 관한 것이다.
일반적으로 말하면, 작은 균열들은 디스플레이 패널의 주변의 패키징 막 층, 가요성 기판 또는 유리에서 발생하기 쉬어서, 결국 주변 환경 내의 수증기가 주변의 균열들을 따라 디스플레이 영역에 들어가는 것에 이르게 된다. 그러므로, 디스플레이 디바이스의 금속 배선들이 부식되거나 유기 발광 막 층이 잠식되고, 결국, 디스플레이 패널의 고장이 발생한다. 현재, 균열들은 주로 디스플레이 패널의 주변 영역 내에 균열 방지 구조를 설치함으로써 방지된다.
본 개시내용의 적어도 하나의 실시예는 디스플레이 영역 및 디스플레이 영역을 둘러싸는 주변 영역을 포함하는 디스플레이 패널을 제공하고, 주변 영역은 균열 검출 회로 구조를 구비하고, 균열 검출 회로 구조는 검출 회로 배선 및 제1 검출 스위칭 회로를 포함하고, 디스플레이 패널은 제1 부화소 및 제1 부화소에 전기적으로 접속된 제1 데이터 선을 포함하고, 제1 데이터 선의 제1 단부는 검출 회로 배선의 제1 단부에 전기적으로 접속되고, 제1 데이터 선의 제2 단부는 제1 검출 스위칭 회로를 통해 검출 회로 배선의 제2 단부에 전기적으로 접속되고, 검출 회로 배선의 제2 단부는 검출 전압을 수신하기 위해 사용된다.
일부 예들에서, 제1 부화소 및 제1 데이터 선은 디스플레이 영역 내에 위치한다.
일부 예들에서, 검출 전압은 전원 전압과 동일하다.
일부 예들에서, 디스플레이 패널은 전압 인가부를 추가로 포함하고, 전압 인가부는 검출 회로 배선의 제2 단부에 전기적으로 접속되고 검출 회로 배선에 검출 전압을 인가하기 위해 사용된다.
일부 예들에서, 전압 인가부는 주변 영역 내에 배치된 제1 접촉 패드를 포함하고, 제1 접촉 패드는 검출 프로브에 접촉하도록 구성된다.
일부 예들에서, 전압 인가부는 주변 영역 내에 배치된 제1 접촉 패드를 포함하고, 제1 접촉 패드는 구동 회로 보드에 전기적으로 접속되도록 구성된다.
일부 예들에서, 디스플레이 패널은 온-오프 신호 인가부를 추가로 포함하고, 온-오프 신호 인가부는 제1 검출 스위칭 회로의 제어 단자에 전기적으로 접속되고, 제1 검출 스위칭 회로의 온 또는 오프 상태를 제어하기 위해 제1 검출 스위칭 회로에 온/오프 신호를 인가하기 위해 사용된다.
일부 예들에서, 온-오프 신호 인가부는 주변 영역 내에 배치된 제2 접촉 패드를 포함하고, 제2 접촉 패드는 검출 프로브에 접촉하거나 구동 회로 보드에 전기적으로 접속되도록 구성된다.
일부 예들에서, 전압 인가부는 주변 영역 내에 배치된 제2 접촉 패드를 포함하고, 제2 접촉 패드는 구동 회로 보드에 전기적으로 접속되도록 구성된다.
일부 예들에서, 제1 검출 스위칭 회로는 적어도 하나의 박막 트랜지스터를 포함하고, 박막 트랜지스터의 게이트 전극은 온-오프 신호 인가부에 전기적으로 접속되고, 박막 트랜지스터의 소스 전극과 드레인 전극 중 하나는 제1 데이터 선에 전기적으로 접속되고, 박막 트랜지스터의 소스 전극과 드레인 전극 중 다른 하나는 검출 회로 배선의 제2 단부에 전기적으로 접속된다.
일부 예들에서, 디스플레이 패널은 저항 소자를 추가로 포함하고, 저항 소자는 제1 데이터 선의 제2 단부와 제1 검출 스위칭 회로 사이에 접속되거나, 또는 제1 검출 스위칭 회로와 검출 회로 배선의 제2 단부 사이에 접속된다.
일부 예들에서, 검출 회로 배선은 디스플레이 영역을 둘러싸도록 배치된다.
일부 예들에서, 검출 회로 배선은 사형 구조를 포함한다.
일부 예들에서, 디스플레이 영역은 제2 부화소 및 제2 부화소에 전기적으로 접속된 제2 데이터 선을 추가로 구비하고, 디스플레이 패널은 제2 검출 스위칭 회로를 추가로 포함하고, 온-오프 신호 인가부는 제2 검출 스위칭 회로의 제어 단자에 접속되고, 제2 데이터 선은 제2 검출 스위칭 회로에 전기적으로 접속되고 제2 검출 스위칭 회로를 통해 흑색 화상 또는 백색 화상의 디스플레이를 위해 디스플레이 패널의 데이터 신호를 수신할 수 있다.
일부 예들에서, 제1 부화소와 제2 부화소의 발광 색은 상이하다.
일부 예들에서, 제1 부화소 및 제2 부화소 각각은 화소 구동 회로 및 유기 발광 소자를 포함하고, 화소 구동 회로는 전원 전압과 동일한 디스플레이 데이터 전압을 수신할 때 구동 전류를 출력하지 않도록 구성된다.
본 개시내용의 적어도 하나의 실시예는 상기 예들 중 어느 하나에 따른 디스플레이 패널을 포함하는 디스플레이 장치를 제공한다.
본 개시내용의 적어도 하나의 실시예는 디스플레이 패널의 균열 검출 방법을 제공하고, 디스플레이 패널은 상기 예들 중 어느 하나에 따른 디스플레이 패널이고, 상기 방법은 디스플레이 패널을 사용하여 흑색 화상을 디스플레이하고, 제1 검출 스위칭 회로를 턴 온하고, 검출 회로 배선의 제2 단부에 검출 전압을 인가하는 단계; 또는 디스플레이 패널을 사용하여 백색 화상을 디스플레이하고, 제1 검출 스위칭 회로를 턴 온하고, 검출 회로 배선의 제2 단부에 검출 전압을 인가하는 단계를 포함한다.
일부 예들에서, 흑색 화상을 디스플레이하는 경우에, 제1 부화소가 발광하면, 주변 영역에서 균열이 나타난다고 판정되거나; 또는 백색 화상을 디스플레이하는 경우에, 제1 부화소가 발광하지 않으면, 주변 영역에서 균열이 나타나지 않는다고 판정된다.
본 개시내용의 실시예들의 기술적 해결책을 분명히 도시하기 위해, 실시예들의 도면들이 다음에서 간략히 설명될 것이고, 물론 설명에서의 도면들은 단지 본 개시내용의 일부 실시예들에 관련되고 본 개시내용으로 제한되지 않는다.
도 1a는 본 개시내용의 실시예의 예에 의해 제공된 디스플레이 패널의 부분적 간소화된 구조의 개략도이고;
도 1b 및 도 1c는 본 개시내용의 실시예에 의해 제공된 균열이 디스플레이 패널의 주변 영역에서 발생하는지를 판정하기 위한 원리를 도시한 개략도이고;
도 2는 본 개시내용의 실시예의 또 하나의 예에 의해 제공된 디스플레이 패널의 부분적 간소화된 구조의 개략도이고;
도 3a는 본 개시내용의 실시예에서의 제1 부화소 내에 포함된 예시적인 화소 구동 회로 및 유기 발광 소자를 도시한 구조적 개략도이고;
도 3b는 도 3a에 도시한 예시적인 화소 구동 회로의 구동 타이밍을 도시한 도면이고;
도 4a는 본 개시내용의 실시예의 예에 의해 제공된 디스플레이 패널의 부분적 구조의 개략도이고;
도 4b는 본 개시내용의 실시예의 또 하나의 예에 의해 제공된 디스플레이 패널의 부분적 구조의 개략도이고;
도 4c는 본 개시내용의 실시예의 또 하나의 예에 의해 제공된 디스플레이 패널의 부분적 구조의 개략도이고;
도 4d는 본 개시내용의 실시예의 또 하나의 예에 의해 제공된 디스플레이 패널의 부분적 구조의 개략도이고;
도 4e는 본 개시내용의 실시예의 또 하나의 예에 의해 제공된 디스플레이 패널의 부분적 구조의 개략도이고;
도 4f는 본 개시내용의 실시예의 또 하나의 예에 의해 제공된 디스플레이 패널의 부분적 구조의 개략도이고;
도 5a는 본 개시내용의 또 하나의 실시예의 예에 의해 제공된 디스플레이 패널의 균열 검출 방법의 검출 과정을 도시한 개략도이고;
도 5b는 본 개시내용의 또 하나의 실시예의 또 하나의 예에 의해 제공된 디스플레이 패널의 균열 검출 방법의 검출 과정을 도시한 개략도이다.
본 개시내용의 실시예들의 목적들, 기술적 상세들 및 장점들을 분명히 하기 위해, 실시예들의 기술적 해결책들이 본 개시내용의 실시예들에 관련된 도면들과 관련하여 분명하고 완전히 이해가능한 방식으로 설명될 것이다. 분명히, 설명된 실시예들은 본 개시내용의 실시예들의 단지 일부이지 전부는 아니다. 여기에 설명된 실시예들에 기초하여, 본 기술 분야의 통상의 기술자들은 어떤 발명적 연구 없이, 본 개시내용의 범위 안에 있게 되는 다른 실시예(들)를 획득할 수 있다.
달리 정의되지 않는다면, 여기에 사용된 기술적 및 과학적 용어들 모두는 본 개시내용이 속하는 기술 분야의 통상의 기술자에 의해 통상적으로 이해되는 것과 동일한 의미들을 갖는다. 본 개시내용에서 사용되는 용어들 "제1", "제2" 등은 어떤 순차, 양 또는 중요도를 표시하고자 하는 것이 아니라, 다양한 소자들을 구별하고자 하는 것이다. 또한, 용어들 "구성한다", "구성하는", "포함한다", "포함하는" 등은 이들 용어들 전에 언급된 소자들 또는 물체들이 이들 용어들 뒤에 나열된 소자들 또는 물체들 및 그들의 등가물들을 포함하지만, 다른 소자들 또는 물체들을 배제하는 것은 아니다. 용어들 "접속", "접속된" 등은 물리적 또는 기계적 접속으로 제한되지 않고 직접적으로 또는 간접적으로, 전기적 접속을 포함할 수 있다.
연구에서, 본원의 발명자(들)는 작은 균열들의 발생은 현재 디스플레이 패널에서 일반적으로 사용되고 있는 균열 방지 구조에 의해 완전히 방지될 수 없고, 균열들이 디스플레이 패널의 부분적 주변에서 발생할 것이라는 것을 알았다. 그러나, 이런 종류의 작은 균열들은 육안으로 관찰될 수 없으므로, 디스플레이 패널의 주변에서 발생하는 작은 균열들을 검출하는 편리하고 상당히 효율적인 방법이 필요하다.
본 개시내용의 적어도 하나의 실시예는 디스플레이 패널과 그 균열 검출 방법, 및 디스플레이 장치를 제공한다. 디스플레이 패널은 디스플레이 영역 및 디스플레이 영역을 둘러싸는 주변 영역을 포함하고, 디스플레이 영역은 제1 부화소 및 제1 부화소에 전기적으로 접속된 제1 데이터 선을 구비하고, 주변 영역은 균열 검출 회로 구조를 구비하고, 이 균열 검출 회로 구조는 검출 회로 배선 및 제1 검출 스위칭 회로를 포함한다. 제1 데이터 선의 제1 단부는 검출 회로 배선의 제1 단부에 전기적으로 접속되고, 제1 데이터 선의 제2 단부는 제1 검출 스위칭 회로를 통해 검출 회로 배선의 제2 단부에 전기적으로 접속되고, 검출 회로 배선의 제2 단부는 검출 전압을 수신하기 위해 사용된다.
본 개시내용의 실시예에서의 디스플레이 패널 내에 포함된 균열 검출 회로 구조는 디스플레이 패널의 주변에서의 작은 균열들을 검출할 수 있으므로, 불량 제품들이 제 시간에 선별될 수 있어서, 디스플레이 디바이스들의 금속 회로가 디스플레이 패널 내로의 외부 수증기의 유입으로 인해 이 불량 디스플레이 패널의 후속 사용 동안 부식되고, 디스플레이 패널의 고장이 발생하는 문제를 효과적으로 방지할 수 있다.
이후, 본 개시내용의 실시예들에 의해 제공된 디스플레이 패널과 그 균열 검출 방법, 및 디스플레이 장치가 첨부 도면들과 함께 아래에 설명될 것이다.
본 개시내용의 실시예는 디스플레이 패널을 제공하고, 도 1a는 본 실시예의 예에 의해 제공된 디스플레이 패널의 부분적 간소화된 구조의 개략도이다.
도 1a에 도시된 것과 같이, 디스플레이 패널은 디스플레이 영역(100) 및 디스플레이 영역(100)을 둘러싸는 주변 영역(200)을 포함한다. 디스플레이 영역(100)은 복수의 부화소를 포함하는 부화소 어레이뿐만 아니라 부화소 어레이에 주사 신호들을 제공하기 위한 복수의 게이트 선(도면에 도시하지 않음) 및 데이터 신호들을 제공하기 위한 복수의 데이터 선을 구비한다. 이들 게이트 선은 X 방향에 평행한 방향으로 연장하고, 예를 들어, 게이트 선들 각각은 복수의 부화소의 한 행에 대응하고; 이들 데이터 선은 Y 방향에 평행한 방향으로 연장하고, 예를 들어, 데이터 선들 각각은 복수의 부화소의 한 열에 대응한다. 복수의 부화소는 적어도 하나의 제1 부화소(110)를 포함하고, 대응하여, 복수의 데이터 선은 제1 부화소(110)에 전기적으로 접속된 적어도 하나의 제1 데이터 선(120)을 포함한다. 상이한 색들의 부화소들의 조합은 화소 단위들을 형성할 수 있고, 예를 들어, 하나의 적색 부화소, 하나의 녹색 부화소 및 하나의 청색 부화소가 하나의 화소 단위를 형성하도록 조합된다.
도 1a는 하나의 제1 데이터 선(120)에 전기적으로 접속된 하나의 제1 부화소(110)를 단지 예시적으로 도시하지만, 예를 들어, 한 열 내의 제1 부화소들(110)은 디스플레이 영역(100) 내의 동일한 제1 데이터 선(120)에 전기적으로 접속되고, 이 열 내의 제1 부화소들(110)은 동일한 색(예를 들어, 녹색)을 디스플레이하기 위한 부화소들이라는 것을 이해하여야 한다. 디스플레이 패널 내에 포함된 제1 데이터 선(120)은 적어도 하나의 제1 데이터 선(120)을 의미하고, 예를 들어, 복수의 제1 데이터 선(120)이 존재하는 경우에, 상이한 제1 데이터 선들(120)에 전기적으로 접속된 상이한 열들 내의 제1 부화소들(110)은 동일한 색, 또는 상이한 색들을 디스플레이할 수 있다.
도 1a에 도시된 것과 같이, 디스플레이 패널의 주변 영역(200)은 적어도 하나의 검출 회로 배선(211) 및 적어도 하나의 제1 검출 스위칭 회로(212)를 포함하는 균열 검출 회로 구조(210)를 구비한다. 도 1a에 도시된 것과 같이, 제1 데이터 선(120)의 제1 단부는 검출 회로 배선(211)의 제1 단부(2111)에 전기적으로 접속되고, 제1 단부(121)에 반대되는 제1 데이터 선(120)의 제2 단부(122)는 제1 검출 스위칭 회로(212)를 통해 제1 단부(2111)에 반대되는 검출 회로 배선(211)의 제2 단부(2112)에 전기적으로 접속되고, 검출 회로 배선(211)의 제2 단부(2112)는 검출 전압을 수신하기 위해 사용된다. 본 개시내용의 실시예들은 포함하지만, 이로 제한되지 않고, 제1 데이터 선 및 제1 부화소는 또한 디스플레이 영역 외부에 추가적으로 배열된 데이터 선 및 부화소일 수 있다는 점에 주목한다. 제1 데이터 선 및 제1 화소가 디스플레이 영역 내에 배열될 때, 한편으로, 재료 및 공정이 절약될 수 있고, 다른 한편으로, 검출 회로 배선은 디스플레이 영역의 전체 주변으로 연장될 수 있으므로, 검출 범위를 증가시킨다.
제1 데이터 선(120)의 상기 제1 단부(121)는 제1 데이터 선(120)의 한 측을 의미하고, 검출 회로 배선(211)의 제1 단부(2111)는 제1 데이터 선(120)의 제1 단부(121)에 접속된 하나의 측을 의미하고, 그들은 실제 종점들 또는 단부들일 필요는 없다는 점에 주목한다. 예를 들어, 적어도 하나의 제1 데이터 선(211)의 제1 단부(2111)가 검출 회로 배선(211)의 제1 단부(2111)에 전기적으로 접속되는 경우에, 검출 회로 배선(211)의 제1 단부(2111)는 제1 데이터 선(120)의 제1 단부(121)에 접속된 검출 회로 배선(211)의 접속 측이다. 유사하게, 제1 데이터 선(120)의 제2 단부(122)는 제1 데이터 선(120)의 다른 측을 의미하고, 검출 회로 배선(211)의 제2 단부(2112)는 후속하여 언급되는 것과 같이 전압 인가부(220)에 접속된 측이고, 그들은 실제 종점들 또는 단부들일 필요는 없다. 분명히 하기 위해, 제1 데이터 선(120)의 제1 단부(121), 검출 회로 배선(211)의 제1 단부(2111), 제1 데이터 선(120)의 제2 단부(122) 및 검출 회로 배선(211)의 제2 단부(2112)만이 도 1a에 개략적으로 도시된다.
또한, 디스플레이 패널 내의 제1 데이터 선은 단지 검출 회로 배선에 전기적으로 접속된 데이터 선을 의미한다는 점에 주목한다. 도 1a에 도시한 검출 회로 배선(211)에 전기적으로 접속된 제1 데이터 선(120), 제1 데이터 선(120)에 전기적으로 접속된 제1 부화소(110) 및 균열 검출 회로 구조(210)는 공동으로 균열들이 디스플레이 패널의 주변 영역에서 나타나는지를 검출하고 판정하기 위한 균열 검출 구조로서 기능한다.
본 실시예에 의해 제공된 디스플레이 패널에서, 디스플레이 패널의 주변 영역에서 작은 균열들이 발생할 때, 디스플레이 패널이 전압 인가의 검출에 의해 제 시간에 선별될 수 있어서, 디스플레이 디바이스들의 금속 회로가 디스플레이 패널 내로의 외부 수증기의 유입으로 인해 이 불량 디스플레이 패널의 후속 사용 동안 부식되고, 디스플레이 패널의 고장이 발생하는 문제를 효과적으로 방지한다.
예를 들어, 도 1a에 도시된 것과 같이, 디스플레이 패널은 검출 회로 배선(211)의 제2 단부(2112)에 전기적으로 접속되고, 검출 회로 배선(211)에 검출 전압을 인가하기 위해 사용되는 전압 인가부(220)를 추가로 포함한다. 제1 검출 스위칭 회로(212)가 도전 상태에 있는 경우에, 전압 인가부(220)가 검출 회로 배선(211)에 검출 전압을 인가하는 동안 검출 전압이 또한 제1 데이터 선(120)에 인가된다. 예를 들어, 제1 데이터 선(120)에 인가된 검출 전압은 제1 부화소(110)가 디스플레이를 위해 사용되는 전원 전압(Vdd)일 수 있다.
예를 들어, 전압 인가부(220)는 상이한 구현 모드들을 가질 수 있고, 예를 들어, 그것은 전기 신호 검사 패드(ET 검사 패드) 및 가요성 인쇄 회로 본딩 패드(FPC 본딩 패드)로 이루어진 그룹으로부터 선택된 적어도 하나일 수 있다. 그러므로, 전압 인가부(220)의 상이한 구현 모드들에 따라, 디스플레이 패널 내의 균열 검출 회로 구조는 상이한 접속 모드들을 갖고, 대응하여 상이한 균열 검사 모드들을 갖는다. 전압 인가부(220)가 전기 신호 검사 패드인 경우에, 대응하는 균열 검사는 디스플레이 패널의 전기적 검사 단계에서 수행될 수 있고; 전압 인가부(220)가 가요성 인쇄 회로 본딩 패드인 경우에, 대응하는 균열 검사는 디스플레이 패널의 모듈 검사 단계에서 수행될 수 있다.
예를 들어, 도 1a에 도시된 것과 같이, 예에서, 전압 인가부(220)는 검출 프로브(도면에 도시하지 않음)에 접촉하도록 구성될 수 있는, 주변 영역 내에 배열된 제1 접촉 패드(221)를 포함한다. 검출 프로브는 디스플레이 패널 외부에 위치한 검출 장치 등에 접속될 수 있음으로써, 검출 회로 배선(211)에 검출 전압을 인가하기 위해, 전압을 전압 인가부(220)에 제공한다.
예를 들어, 또 하나의 예에서, 제1 접촉 패드(221)는 또한 디스플레이 패널 내부에 또는, 디스플레이 패널 외부에 배열되고, 가요성 회로 보드(FPC) 등과 같은 방식으로 디스플레이 패널 상에 설치될 수 있는, 구동 회로 보드(도면에 도시하지 않음)에 전기적으로 접속되도록 구성될 수 있다. 구동 회로 보드는 검출 회로 배선(211)에 검출 전압을 인가하기 위해, 전압을 전압 인가부(220)에 제공한다.
예를 들어, 도 1a에 도시된 것과 같이, 디스플레이 패널은 제1 검출 스위칭 회로(212)의 제어 단자(2120)에 전기적으로 접속되고, 제1 검출 스위칭 회로(212)의 온 또는 오프 상태를 제어하기 위해 제1 검출 스위칭 회로(212)에 온/오프 신호를 인가하기 위해 사용되는 온-오프 신호 인가부(230)를 추가로 포함한다.
예를 들어, 온-오프 신호 인가부(230)는 상이한 구현 모드들을 가질 수 있고, 예를 들어, 마찬가지로 그것은 전기적 신호 검사 패드 및 가요성 인쇄 회로 패드로 이루어진 그룹으로부터 선택된 적어도 하나일 수 있다. 그러므로, 온-오프 신호 인가부(230)의 상이한 구현 모드들에 따라, 디스플레이 패널 내의 균열 검출 회로 구조는 상이한 접속 모드들을 갖는다.
예를 들어, 도 1a에 도시된 것과 같이, 예에서, 온-오프 신호 인가부(230)는 검출 프로브(도면에 도시하지 않음)에 접촉하도록 구성될 수 있는, 주변 영역(200) 내에 배열된 제2 접촉 패드(231)를 포함한다. 검출 프로브는 디스플레이 패널 외부에 위치한 검출 장치 등에 접속될 수 있음으로써, 제1 검출 스위칭 회로(212)의 온 또는 오프 상태를 제어하기 위해, 전압을 온-오프 신호 인가부(230)에 제공한다.
예를 들어, 또 하나의 예에서, 제2 접촉 패드(231)는 또한 디스플레이 패널 내부에 또는, 디스플레이 패널 외부에 배열되고, 가요성 회로 보드 등과 같은 방식으로 디스플레이 패널 상에 설치될 수 있는, 구동 회로 보드(도면에 도시하지 않음)에 전기적으로 접속되도록 구성될 수 있다. 구동 회로 보드는 제1 검출 스위칭 회로(212)의 온 또는 오프 상태를 제어하기 위해, 전압을 온-오프 신호 인가부(230)에 제공한다.
예를 들어, 본 실시예에서의 전압 인가부 및 온-오프 신호 인가부는 동일한 유형으로 될 수 있고, 예를 들어, 전압 인가부와 온-오프 신호 인가부는 둘 다 전기적 신호 검사 패드들 또는 가요성 인쇄 회로 본딩 패드들일 수 있다. 본 실시예는 이로 제한되지 않는다.
예를 들어, 전압 인가부 및 온-오프 신호 인가부는 또한 상이한 유형들로 될 수 있고, 예를 들어, 전압 인가부와 온-오프 신호 인가부 중 하나는 전기적 신호 검사 패드와 가요성 인쇄 회로 본딩 패드 중 하나이고, 그들 중 다른 하나는 전기적 신호 검사 패드와 가요성 인쇄 회로 본딩 패드 중 다른 하나이다. 본 실시예는 이로 제한되지 않고, 설계는 실제 상황에 따라 이루어질 수 있다.
예를 들어, 도 1a에 도시된 것과 같이, 디스플레이 패널의 디스플레이 영역(100)은 제2 부화소(130) 및 제2 부화소(130)에 전기적으로 접속된 제2 데이터 선(140)을 추가로 구비한다. 제2 데이터 선(140)은 검출 회로 배선(211)에 전기적으로 접속되지 않은 데이터 선이고; 디스플레이 영역(100)에서, 한 열 내의 제2 부화소들(130)은 동일한 제2 데이터 선(140)에 전기적으로 접속되고, 이 열 내의 제2 부화소들(130)은 동일한 색(예를 들어, 적색 또는 청색)을 디스플레이하기 위한 부화소들이다.
도 1a는 제2 데이터 선(140)에 전기적으로 접속된 하나의 제2 부화소(130)를 단지 예시적으로 도시하고, 디스플레이 패널 내에 포함된 제2 데이터 선(140)은 적어도 하나의 제2 데이터 선(140)을 의미한다. 예를 들어, 복수의 제2 데이터 선(140)이 존재하는 경우에, 상이한 제2 데이터 선들(140)에 전기적으로 접속된 상이한 열들 내의 제2 부화소들(130)은 동일한 색, 또는 상이한 색들을 디스플레이할 수 있다.
예를 들어, 제1 부화소(110)와 제2 부화소(130)는 동일한 색으로 될 수 있고, 예를 들어, 제1 부화소(110)와 제2 부화소(130)는 서로 인접하지 않고 상이한 화소 단위들에 속한다.
예를 들어, 제1 부화소(110)의 색은 제2 부화소(130)의 것과 상이하다. 예를 들어, 제1 부화소(110)는 녹색 부화소이고, 제2 부화소(130)는 청색 부화소 및/또는 적색 부화소이다. 본 실시예는 이로 제한되지 않는다.
예를 들어, 도 1a에 도시된 것과 같이, 예에서, 디스플레이 패널은 제2 검출 스위칭 회로(213)를 추가로 포함하고, 온-오프 신호 인가부(230)는 제2 검출 스위칭 회로(213)의 온 또는 오프 상태를 제어하기 위해, 제2 검출 스위칭 회로(213)의 제어 단자에 접속될 수 있다. 제2 검출 스위칭 회로(213)의 제1 단자는 제2 데이터 선(140)에 전기적으로 접속되고, 제2 검출 스위칭 회로(213)의 제2 단자는 전압 인가부(220)에 전기적으로 접속될 수 있다.
예를 들어, 제2 검출 스위칭 회로(213)는 박막 트랜지스터를 포함할 수 있고, 온-오프 신호 인가부(230)는 제2 검출 스위칭 회로의 온 또는 오프 상태를 제어하기 위해 박막 트랜지스터의 게이트 전극에 접속될 수 있다. 제2 검출 스위칭 회로 내에 포함된 박막 트랜지스터의 소스 전극과 드레인 전극 중 하나는 제2 데이터 선(140)에 전기적으로 접속되고, 제2 검출 스위칭 회로 내에 포함된 박막 트랜지스터의 소스 전극과 드레인 전극 중 다른 하나는 흑색 화상 또는 백색 화상의 디스플레이를 위한 디스플레이 패널의 데이터 신호를 수신하기 위해 사용된다.
예를 들어, 도 1a에 도시된 것과 같이, 제2 데이터 선(140)은 제2 검출 스위칭 회로(213)를 통해 전압 인가부(220)에 전기적으로 접속될 수 있다. 온-오프 신호 인가부(230)가 도전 상태에서 제2 검출 스위칭 회로(213)를 제어할 때, 전압 인가부(220)는 제2 검출 스위칭 회로(213)를 통해 제2 데이터 선(140)에 전압을 인가하므로, 디스플레이 패널은 흑색 화상 또는 백색 화상을 디스플레이하기 위해 사용된다.
예를 들어, 전압 인가부(220)는 제2 데이터 선(140) 및 제1 데이터 선(120)에 각각 상이한 전압들을 인가하기 위해, 복수의 전압 인가 서브-부분을 포함할 수 있다.
예를 들어, 제2 데이터 선(140)은 또한 제2 검출 스위칭 회로(213)를 통해 전압 인가부(220)와 상이한 전압 신호를 제공하기 위해 다른 소자에 접속될 수 있고, 본 실시예는 이로 제한되지 않는다.
예를 들어, 제2 검출 스위칭 회로(213)가 제1 검출 스위칭 회로(212)와 동시에 턴 온될 수 있는 한, 제2 검출 스위칭 회로(213)는 또한 온-오프 신호 인가부(230)와 상이한 온/오프 신호를 제공하기 위해 다른 소자에 의해 접속될 수 있다.
도 1b 및 도 1c는 본 개시내용의 실시예에 의해 제공된 균열들이 디스플레이 패널의 주변 영역에서 발생하는지를 판정하는 원리를 도시한 개략도들이다. 도 1b 및 도 1c에 도시한 원리 개략도들에서, 설명들이 전압 인가부와 온-오프 신호 인가부가 동일한 소자인 예를 참조하여 이루어질 것이고, 본 실시예는 이로 제한되지 않는다.
예를 들어, 도 1b에 도시된 것과 같이, 온-오프 신호 인가부(230)는 제1 검출 스위칭 회로(212)를 도전 상태로 제어하기 위해, 온/오프 신호를 인가한다. 디스플레이 패널의 주변 영역에서 균열이 발생하지 않을 때, 검출 회로 배선(211)은 도전 상태에 있고, 검출 전압이 전압 인가부(220)에 의해 검출 회로 배선(120)에 인가되고, 제1 검출 스위칭 회로(212)를 통해 제1 데이터 선(120)에 인가되므로, 검출 회로 배선(211)과 제1 데이터 선(120)은 폐쇄 루프(도 1b에 파선 화살표로 도시한 루프)를 형성한다. 폐쇄 루프 내에 전위차가 없으므로, 제1 부화소(110)와 제1 데이터 선(120)이 서로 전기적으로 접속된 점 P에서의 전압은 전압 인가부(220)에 의해 인가된 검출 전압(예를 들어, Vdd)과 동일하다. 그리고 전압차가 없기 때문에, 구동 전류가 점 P를 통해 통과하지 않고 그것이 접속된 제1 부화소(110)에 들어가지 않고, 즉, 제1 부화소(110)는 발광하지 않는다.
도 1c에 도시된 것과 같이, 온-오프 신호 인가부(230)는 제1 검출 스위칭 회로(212)를 도전 상태로 제어하기 위해, 제1 검출 스위칭 회로(212)에 온/오프 신호를 인가한다. 디스플레이 패널의 주변 영역에서 균열이 발생할 때, 검출 회로 배선(211)은 비도전 상태에 있고(예를 들어, 파열을 겪음), 즉, 개방 회로 또는 거의 개방 회로가 형성되고, 전압 인가부(220)는 단지 제1 검출 스위칭 회로(212)를 통해 제1 데이터 선(120)에 검출 전압을 인가할 수 있다. 이 때, 도 1b에 도시한 폐쇄 루프는 더 이상 존재하지 않고, 전위차(예를 들어, 제1 검출 스위칭 회로에 의해 발생된 전압 강하)가 제1 부화소(110)와 제1 데이터 선(120)이 서로 전기적으로 접속된 점 P와 전압 인가부(220)에 의해 인가된 검출 전압 사이에 존재한다. 즉, 점 P에서의 전압은 전압 인가부(220)에 의해 인가된 검출 전압보다 작다. 이 경우에, 부화소를 구동시키기 위한 전류가 제1 데이터 선(120)으로부터 점 P를 통해 제1 데이터 선(120)에 접속된 제1 부화소(110) 내로 흘러서, 발광하기 위해 제1 부화소(110) 내의 유기 발광 소자(1310)를 구동시키고, 즉, 제1 부화소(110)는 발광한다.
예를 들어, 도 2는 본 실시예의 또 하나의 예에 의해 제공된 디스플레이 패널의 국부적 간소화된 구조의 개략도이다. 도 2에 도시된 것과 같이, 본 예에서, 도 1a에 도시한 경우와 비교하여, 디스플레이 패널은 제1 데이터 선(120)의 제2 단부(122)와 제1 검출 스위칭 회로(212) 사이에 접속될 수 있거나(도면에 도시하지 않음), 제1 검출 스위칭 회로(212)와 검출 회로 배선(211)의 제2 단부(2112) 사이에 접속될 수 있는 저항 소자(240)를 추가로 포함할 수 있다. 이 방식으로, 검출 회로 배선(211)의 제2 단부(2112)로부터 제1 데이터 선(2112)의 제2 단부(122)로 가고 제1 검출 스위칭 회로(212)를 지나 가는 도전성 경로는 저항 소자(240)를 통해 갈 필요가 있다. 제1 데이터 선(120)의 제2 단부(122)와 제1 검출 스위칭 회로(212) 사이의, 또는 제1 검출 스위칭 회로(212)와 검출 회로 배선(211)의 제2 단부(2112) 사이의 전압 강하는 본 실시예에 의해 제공된 저항 소자(240)에 의해 증가될 수 있어서, 디스플레이 패널의 주변 영역에서의 균열의 발생의 경우에 검출 효과를 더욱 개선시킨다는 점에 주목한다.
예를 들어, 도 2에 도시한 저항 소자가 도 1b 및 도 1c에 도시한 원리 개략도들에서 제공되는 경우, 디스플레이 패널의 주변 영역에서 균열이 발생하지 않을 때, 검출 회로 배선(211)은 도전 상태에 있고, 전압 인가부(220)에 의해 검출 회로 배선(211)에 인가된 검출 전압은 검출 회로 배선(211)을 통해 제1 부화소(110)에 전기적으로 접속된 제1 데이터 선(120) 상의 점 P로 전송되는 과정에서 전압 강하를 갖지 않는다. 그러므로, 점 P에서의 전압은 전압 인가부(220)에 의해 인가된 검출 전압과 동일하다. 그리고 전압 강하가 없기 때문에, 구동 전류는 점 P를 통해 통과하지 않고 그것에 접속된 제1 부화소(110)에 들어가지 않고, 즉, 제1 부화소(110)는 발광하지 않는다.
예를 들어, 도 2에 도시한 저항 소자가 도 1b 및 도 1c에 도시한 원리 개략도들에서 제공되는 경우, 디스플레이 패널의 주변 영역에서 균열이 발생할 때, 검출 회로 배선(211)은 비도전 상태에 있고, 전압 인가부(220)는 단지 제1 검출 스위칭 회로(212)를 통해 제1 데이터 선(120)에 검출 전압을 인가하고, 전압 인가부(220)에 의해 제1 데이터 선(120)에 인가된 검출 전압은 제1 데이터 선(120) 상의 점 P로 전송되는 과정에서 전압 강하를 갖는다. 그러므로, 점 P에서의 전압은 전압 인가부(220)에 의해 인가된 검출 전압보다 작다. 부화소를 구동시키기 위한 전류가 제1 데이터 선(120)으로부터 점 P를 통해 그것에 접속된 제1 부화소(110)로 흘러서, 발광하기 위해 그것 내의 유기 발광 소자(1310)를 구동시키고, 즉, 제1 부화소(110)는 발광한다.
도 3a는 본 실시예에서의 제1 부화소 내에 포함된 예시적인 화소 구동 회로 및 유기 발광 소자를 도시한 구조적 개략도이고, 예시적인 화소 구동 회로는 전원 전압과 동일한 디스플레이 데이터 전압을 수신할 때 구동 전류를 출력하지 않도록 구성된다. 도 3b는 예시적인 화소 구동 회로의 구동 타이밍을 도시한 도면이다.
도 3a 및 도 3b에 도시된 것과 같이, 예시적인 화소 구동 회로는 6개의 박막 트랜지스터(TFT들) 및 2개의 캐패시터들 C1 및 C2를 포함한다. 6개의 TFT들은 모두 P 채널 트랜지스터들이고, T1-T5는 스위칭 트랜지스터들이고 DTFT는 구동 트랜지스터이다. 화소 구동 회로는 2개의 제어 신호 단자들 S1 및 S2, 하나의 데이터 신호 단자 Vdata(즉, 데이터 선에 의해 입력된 디스플레이 데이터 신호), 및 3개의 전압 신호 단자들 VDD, VSS, VREF를 추가로 포함한다. 예를 들어, 전압 신호 단자들 VDD, VSS, VREF는 모두 DC 전압 신호 단자들이고, 예를 들어, 전압 신호 단자들 VDD 및 VSS 중에서, 전자는 고전압 단자이고, 후자는 (접지 단자와 같은) 저전압 단자이고, 전압 신호 단자 VREF는 기준 전압 단자이고, 그것의 전압 값은 필요들에 따라 (접지되는 것과 같은) 저전압으로서 선택될 수 있다.
도 3b의 타이밍도에 도시한 제1 스테이지 ①은 화소 리셋 단계이고: 제1 제어 신호 S1은 저레벨에 있고, 제2 제어 신호 S2는 저레벨에 있고, 데이터 신호 Vdata는 저레벨에 있다. 이 때, 스위칭 트랜지스터들 T1 내지 T5는 모두 턴 온된다. 이 때, T1의 턴-온으로 인해, 구동 트랜지스터 DTFT는 다이오드 접속 상태이다. 이 시점에, DTFT의 드레인 전압은 VDD+Vth이다. 제1 스테이지의 종료시에, 점 A에서의 전위는 VDD+Vth에 도달하고, 점 B에서의 전위는 VREF이고, 점 C에서의 전위는 VDD이다.
디스플레이 구동이 수행될 때, 예를 들어, 타이밍도의 제2 스테이지 ②, 즉, 데이터 기입 단계에서, 제1 제어 신호 S1은 고레벨에 있고, 제2 제어 신호 S2는 저레벨에 있고, 데이터 신호 Vdata는 고레벨에 있다. 이 때, 스위칭 트랜지스터들 T1, T4 및 T5는 턴 온되고, 스위칭 트랜지스터들 T2 및 T3은 컷 오프된다. 점 A에서의 전위는 VDD+Vth이고, 점 B에서의 전위는 VREF이고, 점 C에서의 전위는 Vdata이고, 캐패시터들 C1 및 C2는 둘 다 충전 상태에 있다.
타이밍도에 도시한 제3 스테이지 ③, 즉, 발광 단계에서, 제1 제어 신호 S1은 저레벨에 있고, 제2 제어 신호 S2는 고레벨에 있고, 데이터 신호 Vdata는 저레벨에 있다. 이 때, 스위칭 트랜지스터 T1, T4 및 T5는 컷 오프되고, 스위칭 트랜지스터들 T2 및 T3은 턴 온된다. 점 A에서의 전위는 2VDD+Vth-Vdata이고, 점 B에서의 전위는 VREF+VDD-Vdata이고, 점 C에서의 전위는 VDD이다. 구동 트랜지스터 DTFT에 대해, 게이트 전극과 소스 전극 사이의 전압차는 Vgs=VDD+Vth-Vdata이고, DTFT는 포화 상태에 있고 유기 발광 소자(1310)를 충전한다. 출력 전류는 다음과 같이 제공된다:
I= 1/2*β*(Vgs-Vth)2
=1/2*β*(VDD+Vth-Vdata-Vth)2
=1/2*β*(VDD-Vdata)2
여기서, β는 상수 값이고, 구동 전류 I의 크기는 전원 전압 VDD가 변화되지 않은 조건 하에서 데이터 신호 Vdata(즉, 디스플레이 데이터 전압)에 직접 관련된다. 데이터 신호 Vdata가 전원 전압 VDD와 동일할 때, 구동 트랜지스터 DTFT의 출력 전류 I는 영이고, 즉, 유기 발광 소자(1310)를 통해 전류가 흐르지 않고, 대응하여, 화소 구동 회로를 포함하는 제1 부화소는 발광하지 않고, 즉, 흑색으로 렌더링된다. 따라서, 데이터 신호 Vdata가 전원 전압 VDD와 동일하지 않을 때, 구동 트랜지스터 DTFT의 출력 전류 I는 영이 아니고, 즉, 유기 발광 소자(1310)를 통해 전류가 흐른다. 따라서, 화소 구동 회로를 포함하는 제1 부화소는 발광하고, 즉, 백색으로 렌더링되고, 데이터 신호 Vdata와 전원 전압 VDD 사이의 차이가 클수록, 출력 전류 I는 더 크고, 대응하는 부화소들에 제시되는 그레이 스케일은 더 높다.
본 개시내용의 실시예에 따른 디스플레이 패널의 부화소의 화소 구동 회로는 도 3a에 도시한 회로로 제한되지 않고, 다음의 조건: 수신된 디스플레이 데이터 전압이 전원 전압과 동일할 때 구동 전류가 출력되지 않는다는 조건이 충족되는 한, 다른 형태의 회로 구조가 또한 채택될 수 있다는 것을 이해하여야 한다.
도 1b 및 도 3a, 도 3b에 도시된 것과 같이, 디스플레이 패널의 주변에서 균열이 발생하지 않는 경우에, 균열 검출의 과정에서, 전압 인가부(220)에 의해 인가된 검출 전압이 제1 부화소(110)의 화소 구동 회로의 전원 전압 VDD일 때, 점 P에서의 전압(즉, 제1 데이터 선(120) 상의 디스플레이 데이터 전압)은 전압 인가부(220)에 의해 인가된 VDD와 동일하기 때문에, 제1 데이터 선(120) 상의 디스플레이 데이터 전압 Vdata=VDD이다. 구동 전류 I의 상기 수식에 따라, 디스플레이 데이터 전압 Vdata가 전원 전압 VDD와 동일할 때, 구동 전류 I는 영이고, 즉, 유기 발광 소자 내로 구동 전류가 흐르지 않는다. 그러므로, 균열이 디스플레이 패널의 주변에서 발생하지 않는 경우에, 제1 데이터 선(120)에 접속된 (예를 들어, 한 열 내의) 제1 부화소들(110)은 발광하지 않는다. 결과적으로, 어두운 선이 나타난다.
도 1c 및 도 3a, 도 3b에 도시된 것과 같이, 디스플레이 패널의 주변에서 균열이 발생하는 경우에, 전압 인가부(220)에 의해 인가된 검출 전압이 전원 전압 VDD일 때, 점 P에서의 전압은 전압 인가부(220)에 의해 인가된 검출 전압보다 작기 때문에, 제1 데이터 선(120) 상의 디스플레이 데이터 전압 Vdata<VDD이다. 구동 전류 I의 상기 수식에 따라, 디스플레이 데이터 전압 Vdata가 전원 전압 VDD와 동일하지 않을 때, 구동 전류 I는 영이 아니고, 즉, 유기 발광 소자 내로 전류가 흐른다. 그러므로, 균열이 디스플레이 패널의 주변에서 발생하는 경우에, 제1 데이터 선(120)에 접속된 (예를 들어, 한 열 내의) 제1 부화소들(110)은 발광한다.
실시예에 의해 제공된 디스플레이 패널로, 주변 영역에서 균열이 발생하는지가 제1 부화소들의 발광 상황의 도움으로 효과적으로 판정될 수 있어서, 주변 영역에서의 균열의 검출율을 개선시킨다.
예를 들어, 본 실시예에 의해 제공된 제2 부화소는 또한 도 3a에 도시한 화소 구동 회로 및 유기 발광 소자를 포함한다. 제2 부화소에 전기적으로 접속된 제2 데이터 선은 검출 회로 배선에 전기적으로 접속되지 않기 때문에(예를 들어, 폐쇄 루프를 형성), 디스플레이 패널의 주변에서의 균열들은 제2 부화소의 발광 상태에 영향을 주지 않을 것이다.
도 4a는 본 개시내용의 실시예의 예에 의해 제공된 디스플레이 패널의 부분적 구조의 개략도이다. 도 1a 또는 도 2에 도시한 간소화된 구조는 도 4a의 예에 의해 구체적으로 구현되고, 도 1b 및 도 1c뿐만 아니라, 도 3a 및 도 3b에 도시한 원리는 균열들이 주변 영역에서 나타나는지 여부를 검출하기 위해 적용될 수 있다.
예를 들어, 도 4a에 도시된 것과 같이, 디스플레이 패널의 주변 영역(200)은 본딩 영역(도면에 디스플레이 영역 아래에 위치한 주변 영역)을 포함하고, 본딩 영역은 예를 들어, 가요성 회로 보드 패드들, IC 회로 보드 패드들(250) 등의 본딩을 위해 사용될 수 있다. 예를 들어, IC 회로는 데이터 구동 칩일 수 있다.
예를 들어, 검출 회로 배선(211)의 제1 단부는 본딩 영역으로부터 먼 디스플레이 영역(100)의 측 상에 위치하고, 제1 데이터 선(120)의 제1 단부는 본딩 영역으로부터 먼 디스플레이 영역(100)의 측 상에 위치하고, 제1 데이터 선(120)의 제2 단부는 본딩 영역에 가까운 디스플레이 영역(100)의 측 상에 위치한다.
예를 들어, 도 4a에 도시된 것과 같이, 검출 회로 배선(211)은 디스플레이 영역(100)을 적어도 부분적으로 둘러싸기 위해 주변 영역(200) 내에 배열된다.
예를 들어, 검출 회로 배선(211)은 Y 방향으로 연장하는 부분 및 X 방향으로 연장하는 부분을 포함할 수 있다.
예를 들어, 도 4a에 도시된 것과 같이, 디스플레이 패널은 Y 방향으로 연장하는 중심 선(300)을 포함하고, 검출 회로 배선(211)은 중심 선(300)의 2개의 측들 상에 위치하고 대칭으로 분포된 배선들의 2개의 부분들을 포함하고, 즉, 검출 회로 배선(211)은 X 방향으로 디스플레이 영역(100)의 2개의 측들 상에, 그리고 본딩 영역으로부터 먼 디스플레이 영역(100)의 측 상에 분포된다.
예를 들어, 도 4a에 도시된 것과 같이, 중심 선(300)의 좌측 및 우측 상에 위치한 검출 회로 배선(211)의 2개의 부분들은 각각 전기적 접속이 없는 2개의 검출 회로 배선들이고, 이 방식으로, 작은 균열이 발생하는 디스플레이 패널 상의 영역의 위치결정을 위하여, 검출 정확성이 향상될 수 있다. 그러나, 본 실시예는 이로 제한되지 않는다. 예를 들어, 중심 선(300)의 좌측 및 우측 상에 위치한 검출 회로 배선(211)의 2개의 부분들은 또한 동일한 검출 회로 배선(211)일 수 있다(즉, 검출 회로 배선(211)의 2개의 부분들은 전기적 접속 관계를 갖는다).
예를 들어, 필요한 대로, 더 많은 검출 회로 배선들(211)이 제공될 수 있고, 검출 회로 배선들(211) 각각은 디스플레이 패널의 주변 영역의 부분에 대응한다. 예를 들어, 도 1a에 도시한 경우에 대해, 하나의 검출 회로 배선이 각각 디스플레이 패널의 좌측 주변 영역, 우측 주변 영역 및 상부 주변 영역에 제공되고, 그러므로 작은 균열들의 발생의 경우에, 작은 균열들이 좌측 주변 영역, 우측 주변 영역 및 상부 주변 영역 중 어디에서 발생한다는 것이 검사 결과에 의해 결정될 수 있다.
예를 들어, 도 4a에 도시된 것과 같이, 중심 선(300)의 좌측 및 우측 상에 각각 위치하고, 검출 회로 배선(211)에 전기적으로 접속된 제1 데이터 선들(120)의 수는 동일할 수 있고, 상이할 수도 있다.
예를 들어, 도 4a에 도시된 것과 같이, 중심 선(300)의 좌측 및 우측 상에 각각 위치하고, 검출 회로 배선(211)에 전기적으로 접속된 제1 데이터 선들(120)의 위치들은 중심 선(300)에 대해 대칭으로 또는 비대칭으로 분포될 수 있고, 본 실시예는 이로 제한되지 않는다.
예를 들어, 도 4a에 도시한 예에서, 전압 인가부(220)와 온-오프 신호 인가부(230)는 둘 다 전기적 신호 검사 패드들이고, 디스플레이 패널의 균열 검출이 디스플레이 패널의 전기적 검사 단계에서 수행된다. 이 경우에, 디스플레이 패널 내의 가요성 인쇄 회로 본딩 패드(260)는 균열 검출 회로 구조(210)와 전기적 접속 관계를 갖지 않는다.
예를 들어, 도 4a에 도시된 것과 같이, 본 예에서 제공된 디스플레이 패널은 중심 선(300)의 2개의 측들(즉, 좌측 및 우측) 상에 위치한 2개의 전기적 신호 검사 패드들을 포함하고, 전기적 신호 검사 패드들 각각은 중심 선(300)의 2개의 측들 상에 위치한 검출 회로 배선(211)의 2개의 부분들에 각각 검출 전압을 인가한다. 본 실시예는 이로 제한되지 않고, 또한 단지 하나의 전기적 신호 검사 패드가 제공될 수 있다.
예를 들어, 도 4a에 도시된 것과 같이, 제1 검출 스위칭 회로(212)는 적어도 하나의 박막 트랜지스터(2121)를 포함하고, 박막 트랜지스터(2121)의 게이트 전극(즉, 제1 검출 스위칭 회로(212)의 제어 단자)은 온-오프 신호 인가부(230)에 전기적으로 접속되고, 박막 트랜지스터(2121)의 소스 전극과 드레인 전극 중 하나는 제1 데이터 선(120)에 전기적으로 접속되고, 박막 트랜지스터(2121)의 소스 전극과 드레인 전극 중 다른 하나는 검출 회로 배선(211)의 제2 단부에 전기적으로 접속된다.
예를 들어, 개략적으로, 도 4a에 도시한 예에서의 제1 검출 스위칭 회로(212)는 균열이 디스플레이 패널의 주변 영역에서 발생하는지를 검출하기 위해 제1 데이터 선들(120)에 따로따로 대응하는 박막 트랜지스터들의 6개의 그룹들을 포함하고, 박막 트랜지스터들의 각각의 그룹은 제1 박막 트랜지스터 및 제2 박막 트랜지스터를 포함한다. 박막 트랜지스터들의 각각의 그룹에서, 제1 박막 트랜지스터의 게이트 전극은 중심 선(300)의 좌측 상에 위치한 전기적 신호 검사 패드에 전기적으로 접속되고, 제2 박막 트랜지스터의 게이트 전극은 중심 선(300)의 우측 상에 위치한 전기적 신호 검사 패드에 전기적으로 접속되고, 제1 박막 트랜지스터의 소스 전극은 제1 데이터 선(120)에 전기적으로 접속되고, 제1 박막 트랜지스터의 드레인 전극은 제2 박막 트랜지스터의 소스 전극 및 검출 회로 배선(211)에 전기적으로 접속되고, 제2 박막 트랜지스터의 드레인 전극은 또 하나의 제1 데이터 선(120)에 전기적으로 접속된다.
예를 들어, 전기적 검출의 과정에서, 제1 박막 트랜지스터 및 제2 박막 트랜지스터는 동시에 턴-온 상태에 있을 수 있고, 그들 중 하나 또는 하나의 그룹이 제1 검출 스위칭 회로(212)가 도전 상태에 있다는 것을 실현하기 위해 턴-온 상태에 있는 것이 또한 가능하다. 본 실시예는 이로 제한되지 않는다.
본 개시내용의 실시예의 예는 박막 트랜지스터(2121)가 P-채널 금속 산화물 반도체 전계 효과 트랜지스터(PMOS)인 것을 예로 취하여 설명될 것이다. 도 4a에 도시한 특정한 예에서, 전기적 검사 단계에서, 전기적 신호 검사 패드는 제1 검출 스위칭 회로(212)를 도전 상태로 제어하기 위해, 박막 트랜지스터(2121)의 게이트 전극에 저레벨 신호를 인가하기 위해 온-오프 신호 인가부(230)로서 동작한다. 전기적 신호 검사 패드는 전압 인가부(220)로서 사용되고, 검출 전압으로서 기능하기 위해 검출 회로 배선(211)에 고레벨 신호를 인가하기 위해 사용된다. 본 개시내용의 실시예들의 예는 이로 제한되지 않고, 박막 트랜지스터는 또한 NMOS 박막 트랜지스터일 수 있다. 이 경우에, 온-오프 신호 인가부로서 동작하는 전기적 신호 검사 패드는 제1 검출 스위칭 회로를 도전 상태로 제어하기 위해 NMOS 박막 트랜지스터에 고레벨을 인가하고; 마찬가지로, 전압 인가부(220)로서 기능하는 전기적 신호 검사 패드는 검출 전압으로서 동작하기 위해 검출 회로 배선(211)에 여전히 고레벨 신호를 인가할 수 있다.
예를 들어, 도 4a에 도시한 디스플레이 패널에서, 전기적 검사 단계 동안, 제1 검출 스위칭 회로(212)는 전기적 신호 검사 패드의 제어 하에서 도전 상태로 되고, 동시에, 전기적 신호 검사 패드는 검출 회로 배선(211) 및 제1 데이터 선(120)에 (예를 들어, 전원 전압 VDD와 동일한) 검출 전압을 인가하고, 흑색 화상의 디스플레이를 위한 제1 데이터 신호가 제2 데이터 선에 인가된다. 흑색 화상이 디스플레이 패널에 의해 디스플레이되는 경우에, 제1 데이터 선(120)에 전기적으로 접속된 제1 부화소가 발광하면, 그것은 주변 영역에서 균열이 나타나는 것을 보인다. 제1 데이터 선(120)에 전기적으로 접속된 제1 부화소가 발광하지 않으면, 그것은 주변 영역에서 균열이 나타나지 않는 것을 보이고, 단지 흑색 화상이 이 때 전체 디스플레이 패널 상에 보인다.
예를 들어, 제1 부화소가 녹색 부화소이고 제1 데이터 선(120)이 동일한 열 내의 녹색 부화소들에 접속되는 경우에, 흑색 화상이 디스플레이 패널에 의해 디스플레이되고, 제1 데이터 선(120)에 전기적으로 접속된 제1 부화소에 인가된 디스플레이 데이터 전압 Vdata가 VDD인 경우에, 디스플레이 패널 상에 녹색의 밝은 선이 나타나면, 그것은 주변 영역에서 균열이 발생하는 것을 보인다. 본 예는 이로 제한되지 않고, 제1 부화소는 또한 다른 색의 부화소일 수 있다.
예를 들어, 도 4a에 도시한 디스플레이 패널에서, 전기적 검사 단계 동안, 제1 검출 스위칭 회로(212)는 전기적 신호 검사 패드의 제어 하에서 도전 상태로 되고, 동시에, 전기적 신호 검사 패드는 검출 회로 배선(211) 및 제1 데이터 선(120)에 (예를 들어, 전원 전압 VDD와 동일한) 검출 전압을 인가하고, 백색 화상의 디스플레이를 위한 제2 데이터 신호가 제2 데이터 선에 인가된다. 백색 화상이 디스플레이 패널에 의해 디스플레이되는 경우에, 제1 부화소가 발광하면, 그것은 주변 영역에서 균열이 나타나는 것을 보이고, 단지 백색 화상이 이 때 전체 디스플레이 패널 상에 보여지고; 제1 부화소가 발광하지 않으면, 그것은 주변 영역에서 균열이 나타나지 않는 것을 보인다.
예를 들어, 제1 부화소가 녹색 부화소이고 제1 데이터 선(120)이 동일한 열 내의 녹색 부화소들에 접속되는 경우에, 백색 화상이 디스플레이 패널에 의해 디스플레이되고, 제1 데이터 선(120)에 전기적으로 접속된 제1 부화소에 인가된 디스플레이 데이터 전압 Vdata가 VDD인 경우에 디스플레이 패널 상에 자주색의 밝은 선이 나타나면, 그것은 주변 영역에서 균열이 나타나지 않는 것을 보인다.
도 4b 내지 도 4f는 본 개시내용의 실시예의 다른 예에 의해 제공된 디스플레이 패널의 국부적 구조의 개략도들이다. 도 4b 내지 도 4f의 예들은 각각 도 1a 또는 도 2에 도시한 간소화된 구조를 구체적으로 구현하고, 도 1b 및 도 1c뿐만 아니라, 도 3a 및 도 3b에 도시한 원리는 균열들이 주변 영역에서 발생하는지를 검출하기 위해 적용될 수 있다.
예를 들어, 도 4b에 도시된 것과 같이, 도 4a에 도시한 예와 다르게, 도 4b에 도시한 예에서 검출 회로 배선(211)은 (S자형 배선, Z자형 배선, W자형 배선 등과 같은) 사형 구조를 포함하고, 주변 영역(200)을 위한 커버리지가 개선될 수 있고, 그러므로 디스플레이 패널의 주변 영역에서 균열이 발생하는지가 더 잘 검출될 수 있다. 또한, 본 예에서의 다른 구조적 설계들은 도 4a에 도시한 예들에서의 것들과 동일하고, 상세들은 여기서 생략된다.
예를 들어, 도 4c에 도시된 것과 같이, 도 4a에 도시한 예와 다르게, 도 4c에 도시한 예에서 전압 인가부(220)와 온-오프 신호 인가부(230)는 둘 다 가요성 인쇄 회로 본딩 패드들이고, 디스플레이 패널의 균열 검출은 디스플레이 패널의 모듈 검사 단계에서 수행된다. 그러므로, 모듈 검사 단계 동안, 가요성 인쇄 회로 본딩 패드는 전압 인가부(220)뿐만 아니라, 온-오프 신호 인가부(230)로서 사용된다. 그러나, 전기적 신호 검사 패드(270)는 또한 균열 검출 회로 구조(210)와 전기적 접속 관계를 갖지 않는다.
예를 들어, 본 예에서 제공된 디스플레이 패널의 가요성 인쇄 회로 본딩 패드는 중심 선(도 4a의 중심 선(300))의 좌측 및 우측 상에 위치한 2개의 입력 포트들을 포함함으로써, 중심 선의 2개의 측들 상에 위치한 검출 회로 배선(211)의 2개의 부분들에 검출 전압을 인가한다. 본 예는 이로 제한되지 않고, 본 예에서의 가요성 인쇄 회로 본딩 패드는 또한 단지 하나의 입력 포트를 포함할 수 있다.
모듈 검사 단계에서, 가요성 인쇄 회로 본딩 패드의 작동 원리는 전기적 신호 검사 패드의 것과 동일하고, 상세들은 여기서 생략된다. 또한, 본 예에서의 다른 구조적 설계들이 도 4a에 도시한 예에서의 것들과 동일하고, 상세들은 여기서 생략된다.
예를 들어, 도 4d에 도시된 것과 같이, 도 4a에 도시한 예와 다르게, 도 4d에 도시한 예에서, 전기적 검사 단계에서, 전기적 신호 검사 패드는 전압 인가부(220)를 포함할 뿐만 아니라, 온-오프 신호 인가부(230)를 포함하고; 모듈 검사 단계에서, 가요성 인쇄 회로 본딩 패드는 전압 인가부(220)를 포함할 뿐만 아니라, 온-오프 신호 인가부(230)를 포함한다. 그러므로, 도 4d에 도시한 예에서, 디스플레이 패널 내의 균열 검출 회로 구조는 전기적 검사 단계 동안, 또는 모듈 검사 단계 동안 디스플레이 패널의 주변에서 작은 균열들을 검출할 수 있다.
도 4d에 도시한 실시예에서, 전압 인가부(220)는 전기적 신호 검사 패드와 가요성 인쇄 회로 본딩 패드 둘 다를 포함하고, 다음에 대응하는 균열 검사는 디스플레이 패널의 전기적 검사 단계에서 또는 디스플레이 패널의 모듈 검사 단계에서 수행될 수 있고, 2개의 균열 검사 방법들은 서로 간섭하지 않고 충돌하지 않는다.
그러므로, 실시예의 디스플레이 패널 내의 균열 검출 회로 구조는 전기적 검사 단계에서, 또는 모듈 검사 단계에서 사용될 수 있으므로, 디스플레이 패널의 주변에서 작은 균열들이 검출될 수 있고 디스플레이 패널들 중 불량 제품들이 제 시간에 선별된다. 그러므로, 디스플레이 디바이스들의 금속 회로가 그 안으로의 외부 수증기의 침투로 인해 불량 디스플레이 패널의 후속하는 사용 동안 부식된 다음에, 디스플레이 패널의 고장이 발생하는 이러한 문제가 효과적으로 방지될 수 있을 뿐만 아니라; 다음의 문제가 발생하지 않을 것이다: 이 불량 디스플레이 패널을 포함하는 모바일 제품이 일정 시간 기간 동안 사용자에 의해 사용된 후에, 균열의 점차적 확대에 의해 기계적 손상이 초래되고, 결국 디스플레이 화면의 고장을 초래하는 것.
본 예에서의 디스플레이 패널을 위해, 전기적 검사 단계에서 또는 모듈 검사 단계에서든지, 균열 검출을 실현하는 원리는 도 4a에 도시한 디스플레이 패널에서의 것과 동일하고, 상세들은 여기서 생략된다.
상기 예들 각각에서, 전기적 검사 단계에서, 전기적 신호 검사 패드는 전압 인가부와 온-오프 신호 인가부 둘 다를 포함하고; 모듈 검사 단계에서, 가요성 인쇄 회로 본딩 패드는 전압 인가부와 온-오프 신호 인가부 둘 다를 포함한다.
예를 들어, 도 4e에 도시된 것과 같이, 도 4a에 도시한 예와 다르게, 도 4e에 도시한 예에서, 전압 인가부(220)는 전기적 신호 검사 패드이고, 온-오프 신호 인가부(230)는 가요성 인쇄 회로 본딩 패드이다. 그러므로, 전기적 신호 검사 패드는 검출 회로 배선(211)에 검출 전압을 인가하기 위해 사용되고, 가요성 인쇄 회로 본딩 패드는 제1 검출 스위칭 회로(212)의 온 또는 오프 상태의 제어를 위해 제1 검출 스위칭 회로(212)에 온/오프 신호를 인가하기 위해 사용된다.
예를 들어, 도 4f에 도시된 것과 같이, 도 4a에 도시한 예와 다르게, 도 4f에 도시한 예에서, 전압 인가부(220)는 가요성 인쇄 회로 본딩 패드이고, 온-오프 신호 인가부(230)는 전기적 신호 검사 패드이다. 그러므로, 가요성 인쇄 회로 본딩 패드는 검출 회로 배선(211)에 검출 전압을 인가하기 위해 사용되고, 전기적 신호 검사 패드는 제1 검출 스위칭 회로(212)의 온 또는 오프 상태의 제어를 위해 제1 검출 스위칭 회로(212)에 온/오프 신호를 인가하기 위해 사용된다.
도 4e 및 도 4f에 도시한 예들에서, 전기적 신호 검사 패드 및 가요성 인쇄 회로 본딩 패드는 디스플레이 패널의 주변 영역에서의 균열의 검출을 실현하기 위해, 각각 전압 인가부 및 온-오프 신호 인가부로서 사용될 수 있다.
도 5a는 본 개시내용의 또 하나의 실시예의 예에 의해 제공된 디스플레이 패널의 균열 검출 방법의 검출 과정을 도시한 개략도이고, 본 실시예에서의 디스플레이 패널은 상기 예들 중 어느 것에 의해 제공된 디스플레이 패널이다. 도 5a에 도시된 것과 같이, 특정한 단계들은 다음을 포함한다.
S201: 제1 검출 스위칭 회로 및 제2 검출 스위칭 회로를 턴 온한다.
S202: 검출 회로 배선의 제2 단부에 검출 전압을 인가한다.
S203: 제2 데이터 선에 흑색 화상의 디스플레이를 위한 제1 데이터 신호를 인가한다.
예를 들어, 본 예에서, 제2 검출 스위칭 회로는 먼저 도전 상태로 되도록 턴 온되고, 다음에 흑색 화상의 디스플레이를 위한 제1 데이터 신호가 디스플레이 패널 상의 제2 데이터 선에 인가되므로, 흑색 화상이 디스플레이 패널 상에 디스플레이된다.
예를 들어, 흑색 화상이 디스플레이 패널에 의해 디스플레이되는 경우에, 제1 부화소가 발광하면, 주변 영역에서 균열이 나타난다고 판정된다. 예를 들어, 제1 부화소가 녹색 부화소이고, 제1 데이터 선이 동일한 열 내의 녹색 부화소들에 접속될 때, 흑색 화상이 디스플레이 패널 상에 디스플레이될 때 녹색의 밝은 선이 디스플레이 패널 상에 나타나면, 주변 영역에서 균열이 나타난다고 판정된다.
예를 들어, 흑색 화상이 디스플레이 패널에 의해 디스플레이되는 경우에, 제1 부화소가 발광하지 않으면, 주변 영역에서 균열이 나타나지 않는다고 판정된다. 이 경우에, 단지 흑색 화상이 전체 디스플레이 패널 상에 보인다.
예를 들어, 본 예에서 제공된 균열 검출 방법은 전기적 검사 단계에서, 또는 모듈 검사 단계에서 디스플레이 패널의 주변 영역에서 균열이 발생하는지를 검출할 수 있고, 본 예는 이로 제한되지 않는다.
본 예에서, 디스플레이 패널이 흑색 화상을 디스플레이할 때, 디스플레이 패널의 주변 영역에서 균열이 발생하는지를 제1 부화소들의 발광 상황의 도움으로 효과적으로 판정할 수 있는 것이 가능하다.
도 5b는 본 개시내용의 또 하나의 실시예의 예에 의해 제공된 디스플레이 패널의 균열 검출 방법의 검출 과정을 도시한 개략도이고, 본 실시예에서의 디스플레이 패널은 상기 예들 중 어느 것에 의해 제공된 디스플레이 패널이다. 도 5b에 도시된 것과 같이, 특정한 단계들은 다음을 포함한다.
S211: 제1 검출 스위칭 회로 및 제2 검출 스위칭 회로를 턴 온한다.
S212: 검출 회로 배선의 제2 단부에 검출 전압을 인가한다.
S213: 제2 데이터 선에 백색 화상의 디스플레이를 위한 제2 데이터 신호를 인가한다.
예를 들어, 본 예에서, 제2 검출 스위칭 회로는 먼저 도전 상태로 되도록 턴 온되고, 다음에 백색 화상의 디스플레이를 위한 제2 데이터 신호가 디스플레이 패널의 제2 데이터 선에 인가되므로, 백색 화상이 디스플레이 패널 상에 디스플레이된다.
예를 들어, 백색 화상이 디스플레이 패널에 의해 디스플레이되는 경우에, 제1 부화소가 발광하지 않으면, 주변 영역에서 균열이 나타나지 않는다고 판정된다. 예를 들어, 제1 부화소가 녹색 부화소이고, 제1 데이터 선이 동일한 열 내의 녹색 부화소들에 접속될 때, 백색 화상이 디스플레이 패널 상에 디스플레이될 때 자주색의 밝은 선이 디스플레이 패널 상에 나타나면, 주변 영역에서 균열이 나타나지 않는다고 판정된다.
예를 들어, 백색 화상이 디스플레이 패널에 의해 디스플레이되는 경우에, 제1 부화소가 발광하면, 주변 영역에서 균열이 나타난다고 판정된다. 이 경우에, 단지 백색 화상이 전체 디스플레이 패널 상에 디스플레이된다.
예를 들어, 본 예에서 제공된 균열 검출 방법은 전기적 검사 단계에서, 또는 모듈 검사 단계에서 디스플레이 패널의 주변 영역에서 균열이 발생하는지를 검출할 수 있고, 본 예는 이로 제한되지 않는다.
본 예에서, 디스플레이 패널이 백색 화상을 디스플레이할 때, 디스플레이 패널의 주변 영역에서 균열이 발생하는지를 제1 부화소들의 발광 상황의 도움으로 효과적으로 판정하는 것이 가능하다.
본 개시내용의 또 하나의 실시예는 상기 예들 중 어느 것에 의해 제공된 디스플레이 패널을 포함하는 디스플레이 장치를 제공한다. 본 실시예에 의해 제공된 디스플레이 장치는 전기적 검사 단계에서, 또는 모듈 검사 단계에서 디스플레이 장치의 주변에서 작은 균열들을 검출하기 위해 사용될 수 있으므로, 불량 제품들이 제 시간에 선별될 수 있다. 그러므로, 그 안의 금속 회로가 그 안으로의 외부 수증기의 침투로 인해 불량 디스플레이 장치의 후속하는 사용 동안 부식된 다음에, 디스플레이 장치의 고장이 발생하는 이러한 문제가 효과적으로 방지될 수 있을 뿐만 아니라; 다음의 문제가 발생하지 않을 것이다: 이 불량 디스플레이 장치가 일정 시간 기간 동안 사용자에 의해 사용된 후에, 균열의 점차적 확대에 의해 기계적 손상이 초래되고, 결국 디스플레이 화면의 고장을 초래하는 것.
예를 들어, 디스플레이 장치는 유기 발광 다이오드(OLED) 디스플레이 장치 등과 같은 디스플레이 장치 및 텔레비전, 디지털 카메라, 워치, 태블릿 컴퓨터, 노트북 컴퓨터, 내비게이터 등과 같은, 디스플레이 장치를 포함하는 디스플레이 기능을 갖는 임의의 제품 또는 소자이고, 본 실시예는 이로 제한되지 않는다.
다음의 점들이 주목되어야 한다:
(1) 본 개시내용의 실시예들에서의 첨부 도면들은 단지 본 개시내용의 실시예들에 관련한 구조들에 관련한 것이고, 다른 구조들은 공통 설계를 참조할 수 있다.
(2) 충돌이 없는 경우에, 하나의 실시예에서의 또는 상이한 실시예들에서의 특징들은 조합될 수 있다.
전술한 것은 단지 본 개시내용의 실시예들이고 본 개시내용의 보호 범위를 제한하려는 것이 아니고, 통상의 기술자에 의해 쉽게 상상될 수 있는 변경들 또는 대체들은 본 개시내용의 범위 내에 들 것이다. 그러므로, 본 개시내용의 보호 범위는 청구범위의 보호 범위에 기초하여야 한다.

Claims (19)

  1. 디스플레이 영역 및 상기 디스플레이 영역을 둘러싸는 주변 영역을 포함하는 디스플레이 패널로서, 상기 주변 영역은 균열 검출 회로 구조를 구비하고, 상기 균열 검출 회로 구조는 검출 회로 배선 및 제1 검출 스위칭 회로를 포함하고,
    상기 디스플레이 패널은 제1 부화소 및 상기 제1 부화소에 전기적으로 접속된 제1 데이터 선을 포함하고, 상기 제1 데이터 선의 제1 단부는 상기 검출 회로 배선의 제1 단부에 전기적으로 접속되고, 상기 제1 데이터 선의 제2 단부는 상기 제1 검출 스위칭 회로를 통해 상기 검출 회로 배선의 제2 단부에 전기적으로 접속되고, 상기 검출 회로 배선의 상기 제2 단부는 검출 전압을 수신하도록 구성되는 디스플레이 패널.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1 부화소 및 상기 제1 데이터 선은 상기 디스플레이 영역 내에 위치하는 디스플레이 패널.
  3. 제1항에 있어서, 상기 검출 전압은 전원 전압과 동일한 디스플레이 패널.
  4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 전압 인가부를 추가로 포함하고, 상기 전압 인가부는 상기 검출 회로 배선의 상기 제2 단부에 전기적으로 접속되고 상기 검출 회로 배선에 상기 검출 전압을 인가하도록 구성되는 디스플레이 패널.
  5. 제4항에 있어서, 상기 전압 인가부는 상기 주변 영역 내에 배치된 제1 접촉 패드를 포함하고,
    상기 제1 접촉 패드는 검출 프로브에 접촉하도록 구성되는 디스플레이 패널.
  6. 제4항에 있어서, 상기 전압 인가부는 상기 주변 영역 내에 배치된 제1 접촉 패드를 포함하고,
    상기 제1 접촉 패드는 구동 회로 보드에 전기적으로 접속되도록 구성되는 디스플레이 패널.
  7. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 온-오프 신호 인가부를 추가로 포함하고, 상기 온-오프 신호 인가부는 상기 제1 검출 스위칭 회로의 제어 단자에 전기적으로 접속되고, 상기 제1 검출 스위칭 회로의 온 또는 오프 상태를 제어하기 위해 상기 제1 검출 스위칭 회로에 온/오프 신호를 인가하도록 구성되는 디스플레이 패널.
  8. 제7항에 있어서, 상기 온-오프 신호 인가부는 상기 주변 영역 내에 배치된 제2 접촉 패드를 포함하고,
    상기 제2 접촉 패드는 검출 프로브에 접촉하거나 구동 회로 보드에 전기적으로 접속되도록 구성되는 디스플레이 패널.
  9. 제7항에 있어서, 상기 전압 인가부는 상기 주변 영역 내에 배치된 제2 접촉 패드를 포함하고,
    상기 제2 접촉 패드는 구동 회로 보드에 전기적으로 접속되도록 구성되는 디스플레이 패널.
  10. 제8항에 있어서, 상기 제1 검출 스위칭 회로는 적어도 하나의 박막 트랜지스터를 포함하고,
    상기 박막 트랜지스터의 게이트 전극은 상기 온-오프 신호 인가부에 전기적으로 접속되고,
    상기 박막 트랜지스터의 소스 전극과 드레인 전극 중 하나는 상기 제1 데이터 선에 전기적으로 접속되고, 상기 박막 트랜지스터의 상기 소스 전극과 상기 드레인 전극 중 다른 하나는 상기 검출 회로 배선의 상기 제2 단부에 전기적으로 접속되는 디스플레이 패널.
  11. 제8항에 있어서, 저항 소자를 추가로 포함하고, 상기 저항 소자는 상기 제1 데이터 선의 상기 제2 단부와 상기 제1 검출 스위칭 회로 사이에, 또는 상기 제1 검출 스위칭 회로와 상기 검출 회로 배선의 상기 제2 단부 사이에 접속되는 디스플레이 패널.
  12. 제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 검출 회로 배선은 상기 디스플레이 영역을 둘러싸도록 배치되는 디스플레이 패널.
  13. 제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 검출 회로 배선은 사형 구조를 포함하는 디스플레이 패널.
  14. 제8항에 있어서, 상기 디스플레이 영역은 제2 부화소 및 상기 제2 부화소에 전기적으로 접속된 제2 데이터 선을 추가로 구비하고,
    상기 디스플레이 패널은 제2 검출 스위칭 회로를 추가로 포함하고, 상기 온-오프 신호 인가부는 상기 제2 검출 스위칭 회로의 제어 단자에 접속되고,
    상기 제2 데이터 선은 상기 제2 검출 스위칭 회로에 전기적으로 접속되고 상기 제2 검출 스위칭 회로를 통해 흑색 화상 또는 백색 화상의 디스플레이를 위해 상기 디스플레이 패널의 데이터 신호를 수신할 수 있는 디스플레이 패널.
  15. 제14항에 있어서, 상기 제1 부화소와 상기 제2 부화소의 발광 색은 상이한 디스플레이 패널.
  16. 제14항에 있어서, 상기 제1 부화소 및 상기 제2 부화소 각각은 화소 구동 회로 및 유기 발광 소자를 포함하고, 상기 화소 구동 회로는 전원 전압과 동일한 디스플레이 데이터 전압을 수신할 때 구동 전류를 출력하지 않도록 구성되는 디스플레이 패널.
  17. 제1항 내지 제16항 중 어느 항 항에 따른 디스플레이 패널을 포함하는 디스플레이 장치.
  18. 디스플레이 패널의 균열 검출 방법으로서, 상기 디스플레이 패널은 제1항 내지 제16항 중 어느 한 항에 따른 디스플레이 패널이고, 상기 방법은
    상기 디스플레이 패널을 사용하여 흑색 화상을 디스플레이하고, 상기 제1 검출 스위칭 회로를 턴 온하고, 상기 검출 회로 배선의 상기 제2 단부에 상기 검출 전압을 인가하는 단계; 또는
    상기 디스플레이 패널을 사용하여 백색 화상을 디스플레이하고, 상기 제1 검출 스위칭 회로를 턴 온하고, 상기 검출 회로 배선의 상기 제2 단부에 검출 전압을 인가하는 단계
    를 포함하는 방법.
  19. 제18항에 있어서, 상기 흑색 화상을 디스플레이하는 경우에, 상기 제1 부화소가 발광하면, 상기 주변 영역에서 균열이 나타난다고 판정되거나; 또는
    상기 백색 화상을 디스플레이하는 경우에, 제1 부화소가 발광하지 않으면, 상기 주변 영역에서 균열이 나타나지 않는다고 판정되는 방법.
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Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102601650B1 (ko) * 2016-07-26 2023-11-13 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR102519733B1 (ko) * 2018-05-21 2023-04-11 삼성전자주식회사 디스플레이의 균열을 확인하는 방법 및 이를 수행하는 전자 장치
KR102576801B1 (ko) * 2018-10-05 2023-09-12 삼성디스플레이 주식회사 크랙 검출부, 표시 장치 및, 표시 장치의 구동 방법
CN109192767B (zh) * 2018-11-01 2020-08-21 武汉天马微电子有限公司 显示面板和显示装置
US11256308B2 (en) * 2019-03-14 2022-02-22 Sharp Kabushiki Kaisha Wiring substrate and display panel
KR20200145976A (ko) * 2019-06-21 2020-12-31 삼성디스플레이 주식회사 전자 패널 및 이를 포함하는 전자 장치
KR20210044356A (ko) * 2019-10-14 2021-04-23 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN110853558B (zh) * 2019-12-19 2023-05-12 京东方科技集团股份有限公司 一种柔性显示屏、其检测方法及显示装置
CN111223408B (zh) * 2020-02-11 2022-03-25 京东方科技集团股份有限公司 显示面板、边缘破损检测方法、制备方法、及显示装置
CN111627366B (zh) * 2020-05-27 2022-07-12 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板及显示面板的检测方法
CN111509026B (zh) * 2020-05-27 2023-02-07 京东方科技集团股份有限公司 显示面板及其裂纹检测方法、显示装置
CN111540294B (zh) * 2020-06-04 2023-09-12 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置
KR20220003735A (ko) * 2020-07-02 2022-01-11 엘지디스플레이 주식회사 디스플레이 장치 및 구동 회로
CN111986597B (zh) * 2020-08-31 2023-03-21 云谷（固安）科技有限公司 显示面板、显示面板的检测方法和显示装置
CN112086050B (zh) * 2020-09-21 2023-12-26 京东方科技集团股份有限公司 显示基板、其裂纹的检测方法及显示装置
CN112289837A (zh) * 2020-10-27 2021-01-29 昆山国显光电有限公司 显示基板及其检测方法和显示装置
CN112951133B (zh) * 2021-02-20 2023-10-31 京东方科技集团股份有限公司 显示模组、显示装置、检测方法、存储介质及计算机设备
CN113487990B (zh) * 2021-06-30 2022-09-09 云谷（固安）科技有限公司 裂纹检测电路、显示面板、终端设备和裂纹检测方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20130020725A (ko) * 2010-06-28 2013-02-27 샤프 가부시키가이샤 액티브 매트릭스 기판, 표시 장치, 및 이것들의 검사 방법
JP2014122974A (ja) * 2012-12-20 2014-07-03 Japan Display Inc 表示装置
KR20160017845A (ko) * 2014-08-06 2016-02-17 삼성디스플레이 주식회사 표시장치와 그의 제조방법
KR20180014906A (ko) * 2016-08-01 2018-02-12 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101652705B (zh) * 2007-04-25 2012-05-30 夏普株式会社 液晶显示面板及其检查方法
CN103198793B (zh) * 2013-03-29 2015-04-29 京东方科技集团股份有限公司 像素电路及其驱动方法、显示装置
US20150022211A1 (en) * 2013-07-19 2015-01-22 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. Detection circuit for display panel
CN103488018B (zh) * 2013-09-25 2016-03-23 深圳市华星光电技术有限公司 液晶显示装置及其显示控制方法
CN104460161B (zh) * 2014-12-30 2017-11-14 厦门天马微电子有限公司 一种边缘电路、阵列基板和显示面板
CN104535620B (zh) 2015-01-16 2017-05-24 友达光电(厦门)有限公司 显示面板及其裂纹检测方法
KR102409454B1 (ko) * 2015-02-02 2022-06-15 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널
KR102356028B1 (ko) * 2015-02-06 2022-01-26 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR102314796B1 (ko) * 2015-03-11 2021-10-19 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널
KR102417143B1 (ko) * 2015-04-29 2022-07-05 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR102446857B1 (ko) 2015-05-26 2022-09-23 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR102523051B1 (ko) * 2016-03-15 2023-04-18 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR102601650B1 (ko) * 2016-07-26 2023-11-13 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
US9947255B2 (en) * 2016-08-19 2018-04-17 Apple Inc. Electronic device display with monitoring circuitry
KR20180021965A (ko) * 2016-08-22 2018-03-06 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR102590316B1 (ko) * 2016-12-05 2023-10-17 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN106875879B (zh) * 2017-04-24 2020-05-22 上海天马有机发光显示技术有限公司 一种显示面板、电子设备以及测试方法
KR102432386B1 (ko) * 2017-07-12 2022-08-12 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN208111041U (zh) * 2018-05-17 2018-11-16 北京京东方技术开发有限公司 显示面板以及显示装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20130020725A (ko) * 2010-06-28 2013-02-27 샤프 가부시키가이샤 액티브 매트릭스 기판, 표시 장치, 및 이것들의 검사 방법
JP2014122974A (ja) * 2012-12-20 2014-07-03 Japan Display Inc 表示装置
KR20160017845A (ko) * 2014-08-06 2016-02-17 삼성디스플레이 주식회사 표시장치와 그의 제조방법
KR20180014906A (ko) * 2016-08-01 2018-02-12 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치

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