KR102519733B1

KR102519733B1 - 디스플레이의 균열을 확인하는 방법 및 이를 수행하는 전자 장치

Info

Publication number: KR102519733B1
Application number: KR1020180057698A
Authority: KR
Inventors: 배종곤; 박현준; 김동휘; 장은택; 한동균; 홍윤표
Original assignee: 삼성전자주식회사
Priority date: 2018-05-21
Filing date: 2018-05-21
Publication date: 2023-04-11
Also published as: WO2019225955A1; US11217133B2; US20210241665A1; KR20190132774A

Abstract

본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 복수의 픽셀들이 배치되는 디스플레이 패널, 상기 복수의 픽셀들 각각에 소스 전압을 제공하기 위한 제1 그룹 라인들, 상기 제1 그룹 라인들과 전기적으로 연결되어 상기 복수의 픽셀들 각각에 상기 소스 전압을 제공하는 복수의 소스 증폭기들, 상기 제1 그룹 라인들과 교차하는 적어도 하나의 감지 라인, 및 상기 적어도 하나의 감지 라인 상에 배치되는 제1 그룹 스위치들을 포함하는 디스플레이 구동 회로, 및 상기 적어도 하나의 감지 라인의 일단과 전기적으로 연결되고 상기 전자 장치의 적어도 일부 영역의 균열을 확인하기 위한 감지 회로를 포함하고, 상기 디스플레이 구동 회로는, 상기 전자 장치가 감지 모드로 진입하기 위한 지정된 신호를 수신하고, 상기 수신된 지정된 신호에 응답하여 상기 적어도 하나의 감지 라인의 일단과 구별되는 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단에 제1 전압을 인가하고, 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단으로부터 상기 감지 회로까지 상기 적어도 하나의 감지 라인이 단락되도록 상기 제1 그룹 스위치들을 온(on)시키고, 상기 적어도 하나의 감지 라인의 일단과 전기적으로 연결된 상기 감지 회로에서 감지된 제2 전압을 획득하고, 상기 제1 전압과 상기 제2 전압의 차이에 적어도 기초하여 상기 전자 장치의 적어도 일부 영역의 균열과 관련된 정보를 확인하는 것을 특징으로 하는 전자 장치가 개시된다. 이 외에도 명세서를 통해 파악되는 다양한 실시 예가 가능하다.

Description

디스플레이의 균열을 확인하는 방법 및 이를 수행하는 전자 장치 {AN ELECTRONIC DEVICE AND A METHOD FOR CHECKING CRACK IN DISPLAY}

본 문서에서 개시되는 실시 예들은, 디스플레이의 균열을 확인하는 방법 및 이를 수행하는 전자 장치에 관한 것이다.

IT(information technology)의 발달에 따라, 스마트폰(smartphone), 태블릿 PC(tablet personal computer) 등 디스플레이를 포함하는 다양한 유형의 전자 장치들이 광범위하게 보급되고 있다.

디스플레이에는 미세한 소자들이 정교하게 배치되기 때문에, 전자 장치의 조립 과정에서 디스플레이가 충격을 받는 경우 상기 디스플레이에는 미세한 균열이 발생할 수 있다. 예를 들면, 디스플레이 패널에 포함되는 픽셀에 균열이 발생하면 디스플레이의 일부 영역에 지정된 이미지가 출력되지 않을 수 있다. 다른 예를 들면, 픽셀에 이미지 데이터를 전송하기 위한 소스 증폭기에 균열이 발생하면 상기 픽셀에 지정된 이미지 데이터가 제대로 전송되지 못할 수 있고 디스플레이에 원하지 않는 세로선이 출력될 수 있다.

상기와 같은 문제점을 미연에 방지하기 위해, 전자 장치의 조립 과정 중 각 단계는 디스플레이의 균열을 확인하는 과정이 포함될 수 있다. 예를 들면, 디스플레이의 회로(integrated circuit, IC)가 완성되면 각 출력단의 출력 전압을 확인하는 과정, 예컨대, EDS(electrical die sorting) 테스트 과정이 수행될 수 있다. 다른 예를 들면, 디스플레이의 모듈이 완성되면, 디스플레이 모듈에 지정된 신호를 인가하여 출력의 이상 여부를 확인하는 과정이 수행될 수 있다.

완성된 디스플레이 모듈이 전자 장치에 실장되어 조립되는 과정에서도 디스플레이 내부의 균열이 발생할 수 있다. 예를 들면, 디스플레이의 일부 영역에 지정된 수준 이상의 압력이 발생하거나 그 밖에 다른 외부 충격으로 인해 디스플레이의 일부에 균열이 발생할 수 있다.

그런데 전자 장치의 조립이 완료되면 디스플레이의 내부에 대한 검사, 예컨대, 상기 EDS 테스트와 같은 정밀한 검사는 수행되기 어려울 수 있다. 이 경우 상기 디스플레이는 단순히 육안 검사에 의해 불량 여부가 최종 확인될 수 있다. 그러나, 이러한 육안 검사만으로는 디스플레이의 불량 여부를 제대로 확인하기 곤란할 수 있다. 상기와 같이 전자 장치는 최종 조립 단계에서 발생할 수 있는 디스플레이의 균열이 제대로 확인되지 못하고 사용자에 제공될 수 있다.

본 문서에서 개시되는 실시 예들은, 전술한 문제 및 본 문서에서 제기되는 과제들을 해결하기 위한 전자 장치를 제공하고자 한다.

본 문서에 개시되는 일 실시 예에 따른 전자 장치는, 복수의 픽셀들이 배치되는 디스플레이 패널, 상기 복수의 픽셀들 각각에 소스 전압을 제공하기 위한 제1 그룹 라인들, 상기 제1 그룹 라인들과 전기적으로 연결되어 상기 복수의 픽셀들 각각에 상기 소스 전압을 제공하는 복수의 소스 증폭기들, 상기 제1 그룹 라인들과 교차하는 적어도 하나의 감지 라인, 및 상기 적어도 하나의 감지 라인 상에 배치되는 제1 그룹 스위치들을 포함하는 디스플레이 구동 회로, 및 상기 적어도 하나의 감지 라인의 일단과 전기적으로 연결되고 상기 전자 장치의 적어도 일부 영역의 균열을 확인하기 위한 감지 회로를 포함하고, 상기 디스플레이 구동 회로는, 상기 전자 장치가 감지 모드로 진입하기 위한 지정된 신호를 수신하고, 상기 수신된 지정된 신호에 응답하여 상기 적어도 하나의 감지 라인의 일단과 구별되는 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단에 제1 전압을 인가하고, 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단으로부터 상기 감지 회로까지 상기 적어도 하나의 감지 라인이 단락되도록 상기 제1 그룹 스위치들을 온(on)시키고, 상기 적어도 하나의 감지 라인의 일단과 전기적으로 연결된 상기 감지 회로에서 감지된 제2 전압을 획득하고, 상기 제1 전압과 상기 제2 전압의 차이에 적어도 기초하여 상기 전자 장치의 적어도 일부 영역의 균열과 관련된 정보를 확인하는 것을 특징으로 할 수 있다.

또한, 본 문서에서 개시되는 일 실시 예에 따른 디스플레이는, 복수의 서브 픽셀들을 각각 포함하는 복수의 픽셀들을 포함하는 디스플레이 패널, 상기 복수의 서브 픽셀들과 전기적으로 연결된 복수의 소스 증폭기들, 상기 복수의 소스 증폭기들의 출력 단자 및 상기 복수의 서브 픽셀들 사이의 전기적인 경로 위에 배치된 제1 그룹 소스 스위치들, 상기 복수의 픽셀들 각각에 포함되는 상기 복수의 서브 픽셀들 사이를 선택적으로 연결하는 제1 그룹 공유 스위치들, 상기 복수의 픽셀들 사이를 선택적으로 연결하는 제1 그룹 스위치들, 상기 제1 그룹 소스 스위치들, 상기 제1 그룹 공유 스위치들, 및 상기 제1 그룹 스위치들을 통해 상기 복수의 서브 픽셀들 또는 상기 복수의 소스 증폭기들과 선택적으로 연결되는 감지 회로, 및 상기 복수의 소스 증폭기들의 입력 단자 및 상기 감지 회로와 전기적으로 연결되는 디스플레이 구동 회로를 포함하고, 상기 디스플레이 구동 회로는, 상기 복수의 소스 증폭기들 중 제1 소스 증폭기에 대하여, 상기 제1 증폭기에 대응하는 제1 소스 스위치, 상기 제1 그룹 공유 스위치들 중 적어도 일부, 및 상기 제1 그룹 스위치들 중 적어도 일부가 온(on)된 상태에서, 제1 전압을 공급하고, 상기 감지 회로를 이용하여, 상기 제1 전압이 상기 지정된 제1 소스 스위치, 상기 제1 그룹 공유 스위치들 중 적어도 일부, 및 상기 제1 그룹 스위치들 중 적어도 일부를 통해 상기 감지 회로로 전달된 제2 전압을 감지하고, 및 상기 감지된 제2 전압에 적어도 기반하여 상기 디스플레이의 균열과 관련된 정보를 확인하도록 설정되는 것을 특징으로 할 수 있다.

또한, 본 문서에 개시되는 일 실시 예에 따른 디스플레이는, 복수의 서브 픽셀들을 포함하는 복수의 픽셀들을 포함하는 디스플레이 패널, 상기 복수의 서브 픽셀들과 전기적으로 연결된 하나 이상의 소스 증폭기들, 상기 복수의 서브 픽셀들 및 상기 하나 이상의 소스 증폭기들의 출력 단과 전기적으로 연결된 전원 장치, 상기 복수의 픽셀들 각각에 포함되는 상기 복수의 서브 픽셀들 사이를 선택적으로 연결하는 제1 그룹 공유 스위치들, 상기 복수의 픽셀들 사이를 선택적으로 연결하는 제1 그룹 스위치들, 상기 제1 그룹 공유 스위치들 및 상기 제1 그룹 스위치들을 통해 상기 복수의 서브 픽셀들 또는 상기 하나 이상의 소스 증폭기들과 선택적으로 연결되는 감지 회로, 및 상기 하나 이상의 소스 증폭기들의 입력 단자 및 상기 감지 회로와 전기적으로 연결되는 디스플레이 구동 회로를 포함하고, 상기 디스플레이 구동 회로는, 상기 제1 그룹 공유 스위치들 중 적어도 일부 및 상기 제1 그룹 스위치들 중 적어도 일부를 온(on) 시키고, 상기 전원 장치로부터 공급된 제1 전압이 상기 제1 그룹 공유 스위치들 중 적어도 일부 및 상기 제1 그룹 스위치들 중 적어도 일부를 통해 상기 감지 회로로 전달된 제2 전압을 감지하고, 및 상기 감지된 제2 전압에 적어도 기반하여 상기 디스플레이의 균열과 관련된 정보를 확인하도록 설정될 수 있다.

본 문서에 개시되는 실시 예들에 따르면, 전자 장치는 최종 조립 단계에서도 디스플레이의 균열을 확인할 수 있다. 이를 통해, 사용자에게 제공되는 전자 장치에 대한 불량률은 감소될 수 있다. 이 외에, 본 문서를 통해 직접적 또는 간접적으로 파악되는 다양한 효과들이 제공될 수 있다.

도 1은 일 실시 예에 따른, 전자 장치의 내부 도면을 나타낸다.
도 2는 일 실시 예에 따른, 연결 부재 및 소스 증폭기의 균열을 확인하기 위한 전자 장치의 세부 회로도를 나타낸다.
도 3은 다른 실시 예에 따른, 연결 부재 및 소스 증폭기의 균열을 확인하기 위한 전자 장치의 세부 회로도를 나타낸다.
도 4a는 또 다른 실시 예에 따른, 연결 부재 및 소스 증폭기의 균열을 확인하기 위한 전자 장치의 세부 회로도를 나타낸다.
도 4b는 또 다른 실시 예에 따른, 연결 부재 및 소스 증폭기의 균열을 확인하기 위한 전자 장치의 세부 회로도를 나타낸다.
도 5는 일 실시 예에 따른, 복수의 감지 라인을 포함하는 전자 장치의 세부 회로도를 나타낸다.
도 6a는 일 실시 예에 따른, 게이트 증폭기의 균열을 확인하기 위한 전자 장치의 세부 회로도를 나타낸다.
도 6b는 일 실시 예에 따른, 게이트 증폭기의 균열을 확인하기 위한 전자 장치의 세부 회로도를 나타낸다.
도 7a는 일 실시 예에 따른, 디스플레이 패널의 균열을 확인하기 위한 전자 장치의 세부 회로도를 나타낸다.
도 7b는 일 실시 예에 따른, 디스플레이 패널의 균열을 확인하기 위한 전자 장치의 세부 회로도를 나타낸다.
도 8은 다양한 실시 예에 따른, DDI를 이용하여 디스플레이의 균열을 확인하는, 네트워크 환경 내의 전자 장치의 블록도이다.
도 9는 다양한 실시 예들에 따른, DDI를 이용하여 디스플레이의 균열을 확인하는, 표시 장치의 블록도이다.
도면의 설명과 관련하여, 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일 또는 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다.

도 1은 일 실시 예에 따른, 전자 장치의 내부 도면을 나타낸다.

도 1을 참조하면, 전자 장치(100)는 디스플레이 패널(110), 디스플레이 구동 회로(121), 제1 그룹 라인들(140), 가요성 기판(flexible printed circuit board, FPCB)(11), 및 메인 기판(main printed circuit board, M-PCB)(12)을 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 전자 장치(100)는 연결 부재(120)를 포함하고, 디스플레이 구동 회로(121) 및 제1 그룹 라인들(140)은 연결 부재(120) 상에 배치될 수도 있다. 다양한 실시 예에 따르면, 전자 장치(100)는 도 1에 도시되지 않은 구성을 추가로 더 포함하거나 도 1에 도시되는 구성을 생략할 수도 있다. 예를 들면, 전자 장치(100)는 디스플레이 패널(110)에 포함되는 픽셀들(111, 112, 113)에 게이트 전압을 제공하기 위한 게이트 증폭기(미도시)를 더 포함할 수도 있다. 다른 예를 들면, 전자 장치(100)는 가요성 기판(11)을 생략할 수도 있다.

디스플레이 패널(110)은 활성 영역(110a) 및 비활성 영역(110b)을 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 활성 영역(110a)은 격자로 배치된 복수의 픽셀들(111, 112, 113)을 포함할 수 있고 복수의 픽셀들(111, 112, 113)을 이용하여 지정된 이미지를 출력할 수 있다. 일 실시 예에서, 비활성 영역(110b)은 활성 영역(110a)의 외곽에 위치할 수 있다. 비활성 영역(110b)은 디스플레이 패널(110)에 픽셀들(111, 112, 113)이 배치되지 않는 영역으로 이해될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 상기 복수의 픽셀들(111, 112, 113)은 연결되는 소스 증폭기(131, 132, 133)에 따라 구별되는 제1 그룹 픽셀(111), 제2 그룹 픽셀(112), 및 제3 그룹 픽셀(113)을 포함할 수 있다. 제1 그룹 픽셀(111)은 제1 소스 증폭기(131)로부터 소스 전압을 제공받을 수 있고, 제2 그룹 픽셀(112)은 제2 소스 증폭기(132)로부터 소스 전압을 제공받을 수 있다. 제3 그룹 픽셀(113)은 제3 소스 증폭기(133)로부터 소스 전압을 제공받을 수 있다.

연결 부재(120)는 디스플레이 패널(110)의 일단에서 연장되어 디스플레이 패널(110) 및 디스플레이 구동 회로(121)를 물리적으로 연결시킬 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 연결 부재(120)는 기판, 예컨대, PI(poly imide) 기판을 포함할 수 있다. 다른 실시 예에 따르면, 연결 부재(120)는 기판 및 구부러질 수 있는 필름 소재를 포함할 수 있다. 이를 통해 연결 부재(120)의 적어도 일부는 디스플레이 패널(110)의 배면 방향으로 굽어질 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 연결 부재(120)에는 각각의 구성들을 연결하기 위한 도선들이 배치될 수 있다. 예를 들면, 연결 부재(120)에는 복수의 픽셀들(111, 112, 113)에 소스 전압을 제공하기 위한 제1 그룹 라인들(140)이 배치될 수 있다.

디스플레이 구동 회로(121)는 디스플레이 패널(110)에 지정된 크기의 전압들, 예컨대, 소스 전압 또는 게이트 전압을 제공함으로써 디스플레이 패널(110)에 지정된 이미지가 출력되도록 디스플레이 패널(110)을 구동할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 디스플레이 구동 회로(121)는 복수의 소스 증폭기(131, 132, 133)들, 감지 회로(134), 감지 라인(160), 및 제1 그룹 스위치(170)를 포함할 수 있다. 다양한 실시 예에 따르면, 디스플레이 구동 회로(121)는 도 1에 도시되지 않은 구성, 예컨대, 게이트 증폭기, 감마 회로, 또는 컨트롤러를 더 포함할 수 있다. 다양한 실시 예에 따르면, 디스플레이 구동 회로(121)는 도 1에 도시된 바와 다르게, 감지 회로(134)를 포함하지 않을 수도 있다. 예를 들면, 감지 회로(134)는 도 1에 도시된 바와 다르게, 디스플레이 구동 회로(121)의 외부, 예컨대, 연결 부재(120), 가요성 기판(11), 또는 메인 기판(12)에 배치될 수도 있다.

일 실시 예에 따르면, 복수의 소스 증폭기(131, 132, 133)들은 전자 장치(100)가 감지 모드가 아닌 경우에, 제1 그룹 라인들(140)을 통해 픽셀들(111, 112, 113)에 지정된 전압, 예컨대, 소스 전압을 제공할 수 있다. 예를 들면, 제1 소스 증폭기(131)는 제1 라인(141)을 통해 제1 그룹 픽셀(111)에 포함되는 픽셀들에 소스 전압을 제공하고 제2 소스 증폭기(132)는 제2 라인(142)을 통해 제2 그룹 픽셀(112)에 포함되는 픽셀들에 소스 전압을 제공할 수 있다. 상기 감지 모드는, 예를 들면, 전자 장치(100)의 조립 후 전자 장치(100)의 적어도 일부 영역에서 균열이 발생했는지 여부를 확인하기 위한 전자 장치(100)의 동작 상태일 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 복수의 소스 증폭기들(131, 132, 133)은 전자 장치(100)가 감지 모드인 경우에, 제1 그룹 라인들(140) 중 적어도 하나를 통해 감지 라인(160)에 지정된 전압, 예컨대, 제1 전압을 제공할 수 있다. 예를 들면, 제1 소스 증폭기(131)는 제1 라인(141)을 통해 감지 라인(160)에 제1 전압을 제공할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 상기 제1 전압은 다른 구성, 예컨대, 도 1에 도시되지 않은 외부 전원 장치에 의해 제공될 수도 있다. 이 경우, 복수의 소스 증폭기들(131, 132, 133)의 출력은 제한될 수 있다. 예를 들면, 복수의 소스 증폭기(131, 132, 133)는 상기 제1 그룹 라인들(140)에 상기 제1 전압을 제공하지 않을 수 있다.

본 명세서에서, 상기 제1 전압은 감지 회로(134)와 연결되는 감지 라인(160)의 일단과 구별되는 감지 라인(160)의 타단에 인가되는 전압으로 이해될 수 있다. 상기 제1 전압과 구별되는 제2 전압은 상기 제1 전압이 감지 라인(160)을 통해 감지 라인(160)의 타단에서 일단으로 전달되어 감지 회로(134)에서 감지되는 전압으로 이해될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 감지 회로(134)는 감지 라인(160)의 일단과 연결되어 전자 장치(100)의 적어도 일부 영역에 대한 균열을 확인할 수 있다. 감지 회로(134)는 감지 라인(160)의 타단에 인가된 신호, 예컨대, 제1 전압과 감지 회로(134)에서 획득된 신호, 예컨대, 제2 전압을 비교하여 전자 장치(100)의 적어도 일부 영역에 대한 균열을 확인할 수 있다. 예를 들면, 감지 회로(134)는 감지 라인(160)이 배치된 영역에 대한 균열 여부를 확인할 수 있다. 다른 예를 들면, 감지 회로(134)는 감지 라인(160)과 연결된 소스 증폭기(131, 132, 133)에 대한 균열 여부를 확인할 수 있다. 또 다른 예를 들면, 감지 회로(134)는 감지 라인(160)과 연결된 복수의 픽셀들(111, 112, 113)에 대한 균열 여부를 확인할 수 있다. 본 명세서에서, 감지 회로(134)는 전압 감지 블록(voltage sensing block)으로 참조될 수도 있다.

일 실시 예에 따르면, 감지 라인(160)은 제1 그룹 라인들(140)과 교차하는 적어도 하나의 도선일 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 감지 라인(160)의 일단은 감지 회로(134)와 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 감지 라인(160)의 일단과 구별되는 타단에는 지정된 신호, 예컨대, 제1 전압이 인가될 수 있다. 감지 라인(160)은 상기 타단으로부터 인가된 제1 전압을 상기 일단에 연결된 감지 회로(134)에 전달할 수 있다. 상기 제1 전압이 전달되어 상기 감지 회로(134)에서 획득된 전압은 상기 제1 전압과 구별되는 제2 전압으로 참조될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 감지 라인(160)의 상기 타단은 도 1에 도시된 바와 같이 적어도 하나의 소스 증폭기(111, 112, 또는 113)의 출력단과 전기적으로 연결될 수 있다. 다른 실시 예에 따르면, 감지 라인(160)의 상기 타단은 도 1에 도시되지 않은 지정된 외부 전원 장치 또는 별개의 소스 증폭기의 출력단과 전기적으로 연결될 수도 있다.

일 실시 예에 따르면, 제1 그룹 스위치(170)는 감지 라인(160) 상에 배치될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 제1 그룹 스위치(170)는 각각의 픽셀과 전기적으로 연결된 제1 그룹 라인들(140) 사이에 배치되거나, 상기 제1 그룹 라인들(140) 중 적어도 하나 및 감지 회로(134) 사이에 배치될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 상기 제1 그룹 스위치(170)는 감지 회로(134)의 제어에 기초하여 온(on)되거나 오프(off)될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 전자 장치(100)가 감지 모드인 경우에 상기 제1 그룹 스위치(170)는 적어도 일부가 온될 수 있고, 감지 라인(160)은 적어도 일부가 단락될 수 있다. 전자 장치(100)가 상기 감지 모드가 아닌 경우에는 상기 제1 그룹 스위치(170)는 모두 오프되고 감지 라인(160)은 개방될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 제1 그룹 라인들(140)은 소스 증폭기들(131, 132, 133) 각각에서 복수의 픽셀들(111, 112, 113)까지 연장되는 도선들의 집합일 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 그룹 라인들(140)은 연결 부재(120) 상에 배치될 수 있다. 다양한 실시 예에 따르면, 제1 그룹 라인들(140)은 복수의 픽셀들(111, 112, 113) 및 소스 증폭기들(131, 132, 133)을 전기적으로 연결시킬 수 있다. 이를 통해 지정된 전기적 신호, 예컨대, 전압 또는 전류가 상호 간에 전송될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 가요성 기판(11)은 연결 부재(120) 및 메인 기판(12)과 연결될 수 있다. 가용성 기판(11)은 구부러질 수 있는 소재, 예컨대, 필름으로 구현될 수 있다. 일 실시 예에서, 가요성 기판(11)이 연결 부재(120) 또는 디스플레이 패널(110)의 배면 방향을 향해 구부러지면 메인 기판(12)은 연결 부재(120) 또는 디스플레이 패널(110)의 배면 방향에 배치될 수 있다.

일 실시 예에서, 가요성 기판(11)에는 적어도 하나의 전자 부품 또는 상기 적어도 하나의 전자 부품들을 전기적으로 연결시키는 도선들이 배치될 수 있다. 예를 들면, 가요성 기판(11)에는 도 1에 도시된 바와 다르게, 감지 회로(134)가 배치될 수 있고, 감지 회로(134)와 전기적으로 연결된 도선들, 예컨대, 감지 라인(160)의 적어도 일부가 배치될 수도 있다.

일 실시 예에 따르면, 메인 기판(12)은 가요성 기판(11)을 통해 연결 부재(120)와 연결될 수 있다. 다른 실시 예에서, 메인 기판(11)은 도 1에 도시된 바와 다르게 연결 부재(120)와 직접 연결될 수도 있다. 일 실시 예에 따르면, 메인 기판(11)은 전자 장치(100)에 포함되는 다양한 전자 부품들 및 상기 전자 부품들을 전기적으로 연결시키는 도선들이 배치될 수 있다. 상기 전자 부품들은 예컨대, 프로세서, 메모리, 외부 전원 장치, 또는 (도 1에 도시된 바와 다르게) 감지 회로(134)를 포함할 수 있다.

본 문서에서 도 1에 도시된 전자 장치(100)에 포함되는 구성 요소들과 동일한 참조 부호를 갖는 구성 요소들은 도 1에서 설명한 내용이 동일하게 적용될 수 있다.

도 2는 일 실시 예에 따른, 연결 부재 및 소스 증폭기의 균열을 확인하기 위한 전자 장치의 세부 회로도를 나타낸다.

도 2를 참조하면, 전자 장치(200)는 A-1 영역 및 B-1 영역을 포함할 수 있다. 상기 A-1 영역은 도 1에 도시된 A 영역을 확대 도시한 것으로 이해될 수 있고, 상기 B-1 영역은 도 1에 도시된 B 영역을 확대 도시한 것으로 이해될 수 있다. 다시 말해, A-1 영역은 디스플레이 패널(110)의 일부 영역이고, B-1 영역은 디스플레이 구동 회로(121)가 배치된 연결 부재(120) 중 일부를 나타낼 수 있다. 도 2의 설명에 있어서 도 1의 설명과 중복되는 내용은 생략될 수 있다.

A-1 영역을 참조하면, 디스플레이 패널(110)은 복수의 픽셀들(111_1, 111_2, 112_1, 112_2, 113_1, 113_2)을 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 복수의 픽셀들(111_1, 111_2, 112_1, 112_2, 113_1, 113_2) 각각은 복수의 서브 픽셀들을 포함할 수 있다. 예를 들면, 각각의 픽셀들, 예컨대, 제1 픽셀(111_1)은 도 2에 도시된 바와 같이, 한 개의 레드 서브 픽셀(111_1a), 두 개의 그린 서브 픽셀(111_1b, 111_1d), 및 한 개의 블루 서브 픽셀(111_1c)을 포함할 수 있다. 다른 예를 들면, 각각의 픽셀들은 도 2에 도시된 바와 달리, 레드 서브 픽셀, 그린 서브 픽셀, 및 블루 서브 픽셀을 각각 하나씩 포함할 수도 있다. 또 다른 예를 들면, 각각의 픽셀들은 도 2에 도시된 바와 달리, 레드 서브 픽셀, 그린 서브 픽셀, 블루 서브 픽셀, 및 화이트 서브 픽셀을 각각 하나씩 포함할 수도 있다.

일 실시 예에 따르면, 각각의 서브 픽셀들(예: 제1 레드 서브 픽셀(111_1a))은 제1 그룹 라인들(140)과 각각 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 제1 그룹 라인들(140)은 복수의 라인들(141a, 141b, 141c, 141d, 142a, 142b, 142c, 142d, 143a, 143b, 143c, 143d)을 포함할 수 있다. 서브 픽셀들은 제1 그룹 라인들을 통해 소스 증폭기들(130)로부터 소스 전압을 제공받을 수 있다.

B-1 영역을 참조하면, 연결 부재(120)에는 제1 그룹 라인들(140) 및 디스플레이 구동 회로(121)가 배치될 수 있다. 일 실시 예에서, 디스플레이 구동 회로(121)는 복수의 소스 증폭기들(130), 제1 그룹 소스 스위치(190), 디코더 그룹(210), 감마 회로(230), 및 감지 회로(134)를 포함할 수 있다. 디스플레이 구동 회로(121)에는 감지 라인(160), 제1 그룹 공유 스위치(180), 제1 그룹 스위치(170), 및 제어 라인(160_1)이 배치될 수 있다.

다양한 실시 예에 따르면, 연결 부재(120) 또는 디스플레이 구동 회로(121)는 도 2에 도시된 바에 한정되지 않는다. 예를 들면, 디스플레이 구동 회로(121)는 게이트 증폭기를 더 포함할 수 있고, 연결 부재(120)는 상기 게이트 증폭기와 연결되는 제2 그룹 라인들을 더 포함할 수도 있다. 다른 예를 들면, 디스플레이 구동 회로(121)는 디스플레이 구동 회로(121)의 구성을 제어하는 컨트롤러를 더 포함할 수도 있다. 또 다른 예를 들면, 감지 회로(134)는 디스플레이 구동 회로(121)에 포함되지 않고 도 1에 도시된 가요성 기판(11) 또는 메인 기판(12)에 배치될 수도 있다.

일 실시 예에 따르면, 제1 그룹 공유 스위치들(180) 및 제1 그룹 스위치들(170)은 제1 그룹 라인들(140) 사이에 배치될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 제1 그룹 스위치들(170)은 제1 그룹 라인들(140) 중 어느 하나 및 감지 회로(134) 사이에 배치될 수도 있다.

일 실시 예에서, 제1 그룹 공유 스위치들(180)는 제1 그룹 라인들(140) 중 하나의 픽셀에 포함되는 서브 픽셀들을 위한 라인들 사이에 배치될 수 있다. 예를 들면, 제1 그룹 공유 스위치들(180)은 제1 픽셀(111_1)에 포함되는 서브 픽셀들(111_1a, 111_1b, 111_1c, 111_1d)을 위한 제1 라인(141a), 제2 라인(141b), 제3 라인(141c) 및 제4 라인(141d) 사이에 배치될 수 있다. 일 실시 예에서, 하나의 픽셀에 포함되는 서브 픽셀들은 제1 그룹 공유 스위치들(180)을 통해 선택적으로 연결될 수 있다. 예를 들면, 제1 레드 서브 픽셀(111_1a), 제1 그린 서브 픽셀(111_1b)은 제1 라인(141a) 및 제2 라인(141b)을 따라 제1 공유 스위치(181a)를 통해 선택적으로 연결될 수 있다.

일 실시 예에서, 제1 그룹 스위치들(170)은 서로 다른 픽셀들 사이의 경계에 위치한 라인들 사이에 배치될 수 있다. 예를 들면, 제1 그룹 스위치들(170)은 제1 픽셀(111_1)과 제2 픽셀(112_1) 사이에 위치한 제4 라인(141d) 및 제5 라인(142a) 사이에 배치될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 전자 장치(200)가 감지 모드가 아닌 경우에 제1 그룹 공유 스위치들(180)은 소스 증폭기들(130)의 출력 중 일부를 하나의 픽셀에 포함되는 복수의 서브 픽셀들 사이에서 공유시킬 수 있다. 예를 들면, 제1 공유 스위치(181a)는 제1 레드 소스 증폭기(131a)의 출력을 제1 레드 서브 픽셀(111_1a) 및 제1 그린 서브 픽셀(111_1b)에 공유시키기 위해 온될 수 있다. 다른 예를 들면, 제1 공유 스위치(181a) 및 제2 공유 스위치(181b)는 제1 레드 소스 증폭기(131a)의 출력을 제1 레드 서브 픽셀(111_1a), 제1 그린 서브 픽셀(111_1b), 및 제1 블루 서브 픽셀(111_1c)에 공유시키기 위해 온될 수 있다. 이 경우, 전자 장치(200)는 소스 증폭기들(130) 중 적어도 일부를 비활성시킬 수 있기 때문에 전력 소비를 감소시킬 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 전자 장치(200)가 감지 모드인 경우에 제1 그룹 공유 스위치들(180) 및 제1 그룹 스위치들(170)은 감지 라인(160)의 적어도 일부를 단락시킬 수 있다. 예를 들면, 전자 장치(200)가 감지 모드인 경우에 제1 그룹 공유 스위치들(180) 및 제1 그룹 스위치들(170)은 모두 온될 수 있다. 이 경우, 감지 라인(160)은 제1 라인(141a)으로부터 감지 회로(134)까지 단락될 수 있고, 감지 라인(160)의 일단, 예컨대, 감지 회로(134)에는 감지 라인(160)의 타단, 예컨대, 제1 라인(141a)으로부터 인가되는 지정된 신호, 예컨대, 제1 전압이 전송될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 제어 라인(160_1)은 제1 그룹 스위치들(170)을 제어하기 위한 신호 라인일 수 있다. 일 실시 예에서, 감지 회로(134)는 제어 라인(160_1)을 통해 제1 그룹 스위치들(170)을 온시키거나 오프시킬 수 있다. 예를 들면, 전자 장치(200)가 감지 모드인 경우 감지 회로(134)는 제어 라인(160_1)을 통해 제1 그룹 스위치들(170) 중 적어도 일부를 온시킬 수 있다. 다른 예를 들면, 전자 장치(200)가 감지 모드가 아닌 경우, 감지 회로(134)는 제어 라인(160_1)을 통해 제1 그룹 스위치들(170)을 오프시킬 수 있다. 제1 그룹 스위치들(170)이 오프되면 감지 라인(160)은 적어도 일부가 개방될 수 있고 서로 다른 픽셀들 사이에는 소스 증폭기의 출력이 공유되지 않을 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 복수의 소스 증폭기들(130)은 디코더 그룹(210)으로부터 입력된 전기적 신호, 예컨대, 전압을 지정된 수준만큼 증폭시켜 출력할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 소스 증폭기들(130)은 전자 장치(200)가 감지 모드가 아닌 경우 상기 출력된 전압을 복수의 픽셀들 또는 서브 픽셀들에 제공할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 소스 증폭기들(130)은 전자 장치(200)가 감지 모드인 경우 상기 출력된 전압을 감지 라인(160)에 인가할 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 각각의 소스 증폭기들(130)의 출력단에는 제1 그룹 소스 스위치들(190)이 배치될 수 있다. 제1 그룹 소스 스위치들(190)은 각각의 소스 증폭기(130)의 출력을 활성화 또는 비활성화시킬 수 있다. 예를 들면, 전자 장치(200)가 감지 모드인 경우, 제1 그룹 소스 스위치들(190) 중 제1 소스 스위치(191a)는 온되고 나머지 소스 스위치들은 오프될 수 있다. 이 경우 제1 소스 증폭기(131a)의 출력, 예컨대, 제1 전압이 감지 라인(160)에 인가될 수 있다. 상기 제1 전압은 감지 라인(160)을 통해 감지 회로(134)에 전달될 수 있다. 다른 예를 들면, 전자 장치(200)가 감지 모드인 경우, 제1 그룹 소스 스위치들(190)은 지정된 시간 간격에 따라 순차적으로 하나씩 온 또는 오프될 수 있다. 이 경우 복수의 소스 증폭기들(130)의 출력은 지정된 시간 간격에 따라 순차적으로 하나씩 감지 라인(160)에 인가될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 디코더 그룹(210)은 영상 데이터(220) 및 감마 회로(230)로부터 수신된 계조 전압 데이터를 결합할 수 있다. 상기 영상 데이터(220)는 예컨대, 컨트롤러로부터 제공될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 상기 결합된 데이터는 디지털 신호에서 아날로그 신호, 예컨대, 전압으로 변환될 수 있다. 디코더 그룹(210)은 상기 변환된 아날로그 신호를 소스 증폭기들(130)에 제공할 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 감마 회로(230)는 서브 픽셀의 특성에 따라 구분되는 레드 감마 회로(233), 그린 감마 회로(232), 블루 감마 회로(231)을 포함할 수 있다. 감마 회로(230)는 각각의 서브 픽셀의 계조를 결정하는 계조 전압 데이터를 생성할 수 있다. 상기 생성된 계조 전압 데이터는 아날로그 신호, 예컨대, 계조 전압으로 변환되고, 영상 데이터(220)와 결합될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 전자 장치(200)는 지정된 신호에 기초하여 감지 모드로 진입할 수 있다. 상기 지정된 신호는, 예컨대, 사용자의 지정된 입력 또는 외부 장치로부터 인가된 신호일 수 있다. 일 실시 예에서, 상기 지정된 신호는 디스플레이 구동 회로(121)로 전달될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 디스플레이 구동 회로(121)는 상기 지정된 신호를 수신하면 감지 모드로 진입할 수 있다. 디스플레이 구동 회로(121)는 상기 수신된 지정된 신호에 응답하여 감지 라인(160)의 타단, 예컨대, 감지 회로(134)와 연결된 일단의 반대쪽 단에 제1 전압을 인가할 수 있다.

다양한 실시 예에 따르면, 상기 제1 전압은 다양한 구성에 의해 인가될 수 있다. 예를 들면, 상기 제1 전압은 복수의 소스 증폭기(130) 중 어느 하나에 의해 인가될 수 있다. 예컨대, 디스플레이 구동 회로(121)는 제1 소스 스위치(191a)를 온시키고 제1 영상 데이터(221a)에 지정된 값을 인가할 수 있다. 이 경우, 상기 제1 전압은 제1 소스 증폭기(191a)에 의해 인가될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 디스플레이 구동 회로(121)는 감지 모드로 진입하면 감지 라인(160)의 상기 타단으로부터 감지 회로(134)까지 감지 라인(160)이 단락되도록 제1 그룹 스위치들(170)을 온시킬 수 있다. 디스플레이 구동 회로(121)는 감지 라인(160)이 단락되도록 제1 공유 스위치(181a)를 온시킬 수도 있다. 일 실시 예에서, 감지 라인(160)이 단락되면, 감지 라인(160)의 타단에 인가된 제1 전압이 감지 라인(160)을 통해 감지 회로(134)로 전달될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 디스플레이 구동 회로(121)는 감지 회로(134)에서 감지된 제2 전압을 획득할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 디스플레이 구동 회로(121)는 상기 제1 전압과 상기 제2 전압의 차에 기초하여 감지 라인(160)을 포함하는 영역의 균열과 관련된 정보를 확인할 수 있다. 상기 균열과 관련된 정보는 예컨대, 균열 여부, 균열의 정도, 또는 균열이 발생한 위치 등을 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 감지 라인(160)을 포함하는 영역에 균열이 없는 경우 상기 제2 전압 및 상기 제1 전압의 차이는 지정된 수준 이하일 수 있다. 다른 실시 예에서, 감지 라인(160)을 포함하는 영역에 균열이 있는 경우 상기 제2 전압 및 상기 제1 전압의 차이는 지정된 수준을 초과할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 상기 제1 전압의 크기 또는 상기 지정된 수준은 메모리 등에 미리 저장된 값일 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 디스플레이 구동 회로(121)는 감지 회로(134)를 이용하여 감지 라인(160)을 포함하는 영역의 균열뿐만 아니라 소스 증폭기(130)의 이상 여부도 확인할 수 있다. 예를 들면, 디스플레이 구동 회로(121)는 제1 전압을 인가하는 소스 증폭기(130)를 변경시킴으로써 소스 증폭기(130)의 이상 여부를 확인할 수 있다. 일 실시 예에서, 디스플레이 구동 회로(121)는 지정된 시간 간격에 따라 소스 증폭기들(130) 각각이 순차적으로 감지 라인(160)의 타단에 제1 전압을 인가하도록 소스 증폭기들(130)을 제어할 수 있다. 예를 들면, 디스플레이 구동 회로(121)는 지정된 시간 간격에 따라 복수의 소스 증폭기(130)의 출력 단에 배치된 제1 그룹 소스 스위치들(190)이 하나씩 온되도록 제어할 수 있다. 일 실시 예에서, 디스플레이 구동 회로(121)는 상기 지정된 시간 간격으로 각각의 제1 전압에 대응하는 제2 전압을 획득할 수 있다. 디스플레이 구동 회로(121)는 지정된 시간 간격으로 상기 제1 전압과 상기 제2 전압의 차에 기초하여 복수의 소스 증폭기들(130) 각각의 이상 여부를 확인할 수 있다.

본 문서에서 도 2에 도시된 전자 장치(200)에 포함되는 구성 요소들과 동일한 참조 부호를 갖는 구성 요소들은 도 2에서 설명한 내용이 동일하게 적용될 수 있다.

도 3은 다른 실시 예에 따른, 연결 부재(120) 및 소스 증폭기의 균열을 확인하기 위한 전자 장치(300)의 세부 회로도를 나타낸다.

도 3을 참조하면, 전자 장치(300)는 A-2 영역 및 B-2 영역을 포함할 수 있다. 상기 A-2 영역은 도 1에 도시된 A 영역을 확대 도시한 것으로 이해될 수 있고, 상기 B-2 영역은 도 1에 도시된 B 영역을 확대 도시한 것으로 이해될 수 있다. 다시 말해, A-2 영역은 디스플레이 패널(110)의 일부 영역이고, B-2 영역은 디스플레이 구동 회로(121)가 배치된 연결 부재(120) 중 일부를 나타낼 수 있다. 도 3의 설명에 있어서 도 2의 설명과 중복되는 내용은 생략될 수 있다.

B-2 영역을 참조하면, 디스플레이 구동 회로(121)는 복수의 소스 증폭기들(130) 중 어느 하나, 예컨대, 제1 소스 증폭기(131a)와 전기적으로 연결된 멀티플렉서(310)를 포함할 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 소스 증폭기(131a)와 멀티플렉서(310)는 제1 디코더(211a)를 통해 전기적으로 연결될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 멀티플렉서(310)는 제1 영상 데이터(221a) 및 감지 전원 데이터(320)를 입력으로 수신할 수 있고, 전자 장치(300)의 동작 상태에 기초하여 출력을 선택할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(300)가 감지 모드인 경우 멀티플렉서(310)는 감지 전원 데이터(320)를 출력으로 선택하고 상기 감지 전원 데이터(320)를 제1 디코더(211a)에 전달할 수 있다. 다른 예를 들어, 전자 장치(300)가 감지 모드가 아닌 경우 멀티플렉서(310)는 제1 영상 데이터(221a)를 입력으로 선택하고 상기 제1 영상 데이터(221a)를 제1 디코더(211a)에 전달할 수 있다. 일 실시 예에서, 멀티플렉서(310)의 상기 동작은 디스플레이 구동 회로(121)에 포함되는 컨트롤러(미도시)에 의해 제어될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 상기 감지 전원 데이터(320)는 사용자 입력에 기초하여 변경될 수 있다. 예를 들면, 디스플레이 구동 회로(121)는 전자 장치(300)가 감지 모드인 경우에 상기 사용자 입력에 기초하여 상기 감지 전원 데이터(320)의 값을 변경할 수 있다. 이를 통해, 디스플레이 구동 회로(121)는 제1 소스 증폭기(131a)의 출력을 조절할 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 디스플레이 구동 회로(121)는 전자 장치(300)가 감지 모드인 경우에 제1 소스 스위치(191a)를 온시키고 제1 소스 증폭기(131a)의 출력을 감지 라인(160)에 제1 전압으로 인가할 수 있다. 디스플레이 구동 회로(121)는 감지 전원 데이터(320)의 값을 변경하고 상기 멀티플렉서(310)를 이용하여 감지 라인(160)에 인가되는 상기 제1 전압의 크기를 조절할 수 있다.

본 문서에서 도 3에 도시된 전자 장치(300)에 포함되는 구성 요소들과 동일한 참조 부호를 갖는 구성 요소들은 도 3에서 설명한 내용이 동일하게 적용될 수 있다.

도 4a 및 도 4b는 또 다른 실시 예에 따른, 연결 부재 및 소스 증폭기의 균열을 확인하기 위한 전자 장치의 세부 회로도를 나타낸다.

도 4a를 참조하면, 전자 장치(400a)는 A-3 영역 및 B-3a 영역을 포함할 수 있다. 상기 A-3 영역은 도 1에 도시된 A 영역을 확대 도시한 것으로 이해될 수 있고, 상기 B-3a 영역은 도 1에 도시된 B 영역을 확대 도시한 것으로 이해될 수 있다. 다시 말해, A-3 영역은 디스플레이 패널(110)의 일부 영역이고, B-3a 영역은 디스플레이 구동 회로(121)가 배치된 연결 부재(120) 중 일부를 나타낼 수 있다. 도 4a의 설명에 있어서 도 2의 설명과 중복되는 내용은 생략될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 전자 장치(400a)는 감지 라인(160)에 제1 전압을 인가하기 위해 제1 모듈(41) 또는 제2 모듈(42) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 다양한 실시 예에 따르면, 도 4a에 도시된 제1 모듈(41) 또는 제2 모듈(42) 중 적어도 하나는 생략될 수도 있다.

일 실시 예에 따르면, 제1 모듈(41)은 감지 증폭기(410)를 포함할 수 있다. 감지 증폭기(410)는 소스 증폭기(130)와 구별되는 별개의 증폭기로서 감지 라인(160)의 타단과 전기적으로 연결될 수 있다. 감지 증폭기(410)는 연결 부재(120)의 균열을 확인할 수 있도록 감지 라인(160)에 제1 전압을 인가할 수 있다. 이 경우, 소스 증폭기들(130)의 출력 단에 배치된 제1 그룹 소스 스위치들(190)은 모두 오프될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 감지 증폭기(410)에는 감지 전원 데이터(420)가 입력될 수 있다. 일 실시 예에서, 상기 감지 전원 데이터(420)는 사용자 입력에 기초하여 변경될 수 있다. 예를 들면, 디스플레이 구동 회로(121)는 전자 장치(400a)가 감지 모드인 경우에 상기 사용자 입력에 기초하여 상기 감지 전원 데이터(420)의 값을 변경할 수 있다. 이를 통해, 디스플레이 구동 회로(121)는 감지 증폭기(410)의 출력 및 제1 전원의 크기를 조절할 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 제2 모듈은 외부 전원 장치(430) 및 전원 스위치(440)를 포함할 수 있다. 외부 전원 장치(430)는 예를 들면, 디스플레이 구동 회로(121)에 전원을 공급하기 위한 전력 관리 모듈(예: 도 8의 전력 관리 모듈(888))일 수 있다. 다른 예를 들면, 외부 전원 장치(430)는 디스플레이 구동 회로(121) 내부에 배치되고 디스플레이 패널(110)에 전원을 공급하기 위한 전원 레귤레이터일 수 있다. 일 실시 예에서, 전원 스위치(440)는 외부 전원 장치(430) 및 감지 라인(160) 사이에 배치될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 외부 전원 장치(430)은 디스플레이 구동 회로(121)의 적어도 일부와 연결되기 위한 단자들, 예컨대, GPIO(general purpose input output) 단자들을 포함할 수 있다. 외부 전원 장치(430)는 상기 단자들을 통해 디스플레이 구동 회로(121)의 적어도 일부, 예컨대, 감지 라인의 타단에 제1 전압을 제공할 수 있다. 다양한 실시 예에 따르면, 외부 전원 장치(430)는 도 1에 도시된 가요성 기판(11) 또는 메인 기판(12)에 배치될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 전자 장치(400a)가 감지 모드인 경우 디스플레이 구동 회로(121)는 전원 스위치(440)를 온시킬 수 있다. 외부 전원 장치(430)는 전원 스위치(440)를 통해 감지 라인(160)에 제1 전압을 인가할 수 있다.

상기와 같이, 전자 장치(400a)는 제1 모듈(41) 또는 제2 모듈(42)을 통해 감지 라인(160)에 제1 전압을 인가할 수 있고, 디스플레이 구동 회로(121)는 상기 제1 전압 및 감지 회로(134)를 통해 획득된 제2 전압을 통해 감지 라인(160)을 포함하는 영역의 균열 여부를 확인할 수 있다.

도 4b를 참조하면, 전자 장치는 A-3 영역 및 B-3b 영역을 포함할 수 있다. 상기 B-3b 영역은 도 1에 도시된 B 영역을 확대 도시한 것으로 이해될 수 있다. 다시 말해, B-3b 영역은 디스플레이 구동 회로(121)가 배치된 연결 부재(120) 중 일부를 나타낼 수 있다. 도 4b의 설명에 있어서 도 2의 설명 또는 도 4a의 설명과 중복되는 내용은 생략될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 전자 장치(400b)는 도 4a에 도시된 전자 장치(400a)와 다르게 제1 모듈(41) 및 제2 모듈(42)을 생략하고, 감지 모듈(460)을 포함할 수 있다. 감지 모듈(460)은 외부 전원 장치(430) 및 감지 회로(134)를 포함하는 하나의 IC(integrated circuit)로 이해될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 감지 모듈(460)은 디스플레이 구동 회로(121)의 외부, 예컨대, 도 1에 도시된 가요성 기판(11) 또는 메인 기판(12)에 배치될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 감지 모듈(460)은 외부 전원 장치(430)를 이용하여 디스플레이 구동 회로(121)에 지정된 전원을 전달할 수 있다. 예를 들면, 감지 모듈(460)은 외부 전원 장치(430)를 이용하여 감지 라인(160)에 제1 전압을 인가할 수 있다. 외부 전원 장치(430)는 예를 들면, 디스플레이 구동 회로(121)에 전원을 공급하기 위한 전력 관리 모듈(예: 도 8의 전력 관리 모듈(888))일 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 감지 모듈(460)은 감지 회로(134)를 이용하여 감지 라인(160)을 포함하는 영역의 균열 여부를 확인할 수 있다. 예를 들면, 감지 모듈(460)은 감지 회로(134)를 이용하여 감지 라인(160)의 일단에서 측정되는 제2 전압의 크기를 획득할 수 있다. 감지 모듈(460)은 상기 제1 전압 및 상기 제2 전압을 통해 감지 라인(160)을 포함하는 영역의 균열 여부를 확인할 수 있다.

본 문서에서 도 4a에 도시된 전자 장치(400a) 또는 도 4b에 도시된 전자 장치(400b)에 포함되는 구성 요소들과 동일한 참조 부호를 갖는 구성 요소들은 도 4a 또는 도 4b에서 설명한 내용이 동일하게 적용될 수 있다.

도 5는 일 실시 예에 따른, 복수의 감지 라인을 포함하는 전자 장치의 세부 회로도를 나타낸다.

도 5를 참조하면, 전자 장치는 A-4 영역 및 B-4 영역을 포함할 수 있다. 상기 A-4 영역은 도 1에 도시된 A 영역을 확대 도시한 것으로 이해될 수 있고, 상기 B-4 영역은 도 1에 도시된 B 영역을 확대 도시한 것으로 이해될 수 있다. 다시 말해, A-4 영역은 디스플레이 패널(110)의 일부 영역이고, B-4 영역은 디스플레이 구동 회로(121)가 배치된 연결 부재(120) 중 일부를 나타낼 수 있다. 도 5의 설명에 있어서 도 2의 설명과 중복되는 내용은 생략될 수 있다.

B-4를 참조하면, 디스플레이 구동 회로(121)는 감지 증폭기(410)를 포함할 수 있다. 감지 증폭기(410)는 소스 증폭기와 구별되는 별개의 증폭기로서 감지 라인(160a, 160b, 160c, 160d)의 타단과 전기적으로 연결될 수 있다. 감지 증폭기(410)는 감지 라인(160a, 160b, 160c, 160d)을 포함하는 영역의 균열을 확인할 수 있도록 감지 라인(160a, 160b, 160c, 160d)에 제1 전압을 인가할 수 있다. 이 경우, 소스 증폭기들(130)의 출력 단에 배치된 제1 그룹 소스 스위치들(190)은 모두 오프될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 감지 증폭기(410)에는 감지 전원 데이터(420)가 입력될 수 있다. 일 실시 예에서, 상기 감지 전원 데이터(420)는 사용자 입력에 기초하여 변경될 수 있다. 예를 들면, 디스플레이 구동 회로(121)는 전자 장치(500)가 감지 모드인 경우에 상기 사용자 입력에 기초하여 상기 감지 전원 데이터(420)의 값을 변경할 수 있다. 이를 통해, 디스플레이 구동 회로(121)는 감지 증폭기(410)의 출력 및 제1 전원의 크기를 조절할 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 감지 라인(160a, 160b, 160c, 160d) 상에는 제1 그룹 공유 스위치들(510)이 배치될 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 그룹 공유 스위치들(510)은 적어도 동일한 특성의 서브 픽셀들이 서로 선택적으로 연결되도록 제1 그룹 라인들(140) 중 적어도 일부 라인들 사이에 배치될 수 있다. 예를 들면, 제1 공유 스위치(511a)는 n 번째 게이트 라인의 레드 서브 픽셀들(111_1a, 112_1a, 113_1a)과 연결된 라인들 사이, 예컨대, 제1 라인(141a) 및 제5 라인(142a) 사이에 배치될 수 있다. 다른 예를 들면, 제2 공유 스위치(511b)는 n 번째 게이트 라인의 그린 서브 픽셀들(111_1b, 112_1b, 113_1b)과 연결된 라인들 사이, 예컨대, 제2 라인(141b) 및 제6 라인(142b) 사이에 배치될 수 있다. 또 다른 예를 들면, 제3 공유 스위치(511c)는 n 번째 게이트 라인의 블루 서브 픽셀들(111_1c, 112_1c, 113_1c)과 연결된 라인들 사이, 예컨대, 제3 라인(141c) 및 제7 라인(142c) 사이에 배치될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 제1 그룹 공유 스위치들(510)은 서브 픽셀들의 특성에 따라 제1 그룹 라인들(140) 중 일부를 연결시키므로 전자 장치(500)는 상기 서브 픽셀들의 특성에 따라 적어도 하나의 감지 라인(160a, 160b, 160c, 160d)을 포함할 수 있다. 예를 들면, 전자 장치(500)는 n 번째 게이트 라인의 레드 서브 픽셀들(111_1a, 112_1a, 113_1a)과 연결된 제1 감지 라인(160a), n 번째 게이트 라인의 그린 서브 픽셀들(111_1b, 112_1b, 113_1b, 111_1d, 112_1d, 113_1d)과 연결된 제2 감지 라인(160b) 및 제4 감지 라인(160d), 및 n 번째 게이트 라인의 블루 서브 픽셀들(111_1c, 112_1c, 113_1c)과 연결된 제3 감지 라인(160c)을 포함할 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 제1 그룹 스위치들(170a, 170b, 170c, 170d)은 적어도 하나의 감지 라인 각각에 배치될 수 있다. 예를 들면, 제1 스위치(170a)는 제1 감지 라인(160a) 상에서, 감지 증폭기(410) 및 제1 공유 스위치(511a) 사이에 배치될 수 있다. 다른 예를 들면, 제2 스위치(170b)는 제2 감지 라인(160b) 상에서, 감지 증폭기(410) 및 제2 공유 스위치(511b) 사이에 배치될 수 있다. 제3 스위치(170c) 또는 제4 스위치(170d)도 상기와 마찬가지로 제3 감지 라인(160c) 또는 제4 감지 라인(160d) 상에 배치될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 전자 장치(500)가 감지 모드인 경우 디스플레이 구동 회로(121)는 감지 라인(160a, 160b, 160c, 160d)의 타단으로부터 감지 회로(134)까지 감지 라인(160a, 160b, 160c, 160d)이 단락되도록 상기 제1 그룹 스위치들(170a, 170b, 170c, 170d) 및 제1 그룹 공유 스위치들(510)을 온시킬 수 있다. 일 실시 예에서, 디스플레이 구동 회로(121)는 지정된 시간 간격에 따라 각각의 감지 라인(160a, 160b, 160c, 160d)이 순차적으로 단락되도록 제1 그룹 스위치들(170a, 170b, 170c, 170d) 및 제1 그룹 공유 스위치들(510)을 제어할 수 있다.

예를 들면, 디스플레이 구동 회로(121)는 제1 시간 동안 제1 감지 라인(160a)이 단락되도록 제1 그룹 스위치들(170a, 170b, 170c, 170d) 및 제1 그룹 공유 스위치들(510)을 제어할 수 있다. 감지 증폭기(410)로부터 제1 감지 라인(160a)에 제1 전압이 인가되면 디스플레이 구동 회로(121)는 상기 제1 시간 동안 감지 회로(134)에서 획득된 제2 전압과 상기 제1 전압을 비교하여 감지 라인(160a)을 포함하는 영역의 균열 여부를 확인할 수 있다.

다른 예를 들면, 디스플레이 구동 회로(121)는 상기 제1 시간과 구별되는 제2 시간 동안 제2 감지 라인(160b)이 단락되도록 제1 그룹 스위치들(170a, 170b, 170c, 170d) 및 제1 그룹 공유 스위치들(510)을 제어할 수 있다. 감지 증폭기(410)로부터 제2 감지 라인(160b)에 제1 전압이 인가되면 디스플레이 구동 회로(121)는 상기 제2 시간 동안 감지 회로(134)에서 획득된 제2 전압과 상기 제1 전압을 비교하여 감지 라인(160b)을 포함하는 영역의 균열 여부를 확인할 수 있다.

또 다른 예를 들면, 디스플레이 구동 회로(121)는 상기 제1 시간 및 상기 제2 시간과 구별되는 제3 시간 또는 제4 시간 동안 제3 감지 라인(160c) 또는 제4 감지 라인(160d)에 제1 전압이 인가되도록 제1 그룹 스위치들(170a, 170b, 170c, 170d) 및 제1 그룹 공유 스위치들(510)을 제어할 수 있다. 디스플레이 구동 회로(121)는 제3 감지 라인(160c) 또는 제4 감지 라인(160d)을 통해 전자 장치(500)의 적어도 일부 영역의 균열 여부를 확인할 수 있다.

본 문서에서 도 5에 도시된 전자 장치(500)에 포함되는 구성 요소들과 동일한 참조 부호를 갖는 구성 요소들은 도 5에서 설명한 내용이 동일하게 적용될 수 있다.

도 6a 및 도 6b는 일 실시 예에 따른, 게이트 증폭기의 균열을 확인하기 위한 전자 장치의 세부 회로도를 나타낸다.

도 6a를 참조하면, 전자 장치(600a)는 A-5 영역 및 B-5a 영역을 포함할 수 있다. 상기 A-5 영역은 도 1에 도시된 A 영역을 확대 도시한 것으로 이해될 수 있고, 상기 B-5a 영역은 도 1에 도시된 B 영역을 확대 도시한 것으로 이해될 수 있다. 다시 말해, A-5 영역은 디스플레이 패널(110)의 일부 영역이고, B-5a 영역은 디스플레이 구동 회로(121)가 배치된 연결 부재(120) 중 일부를 나타낼 수 있다. 도 6a의 설명에 있어서 도 2의 설명과 중복되는 내용은 생략될 수 있다.

A-5를 참조하면, 디스플레이 패널(110)에는 각각의 픽셀들에 게이트 전압을 제공하기 위한 게이트 드라이버(610) 및 게이트 라인들이 배치될 수 있다. 게이트 드라이버(610)는 게이트 증폭기(135, 136, 137)로부터 수신된 게이트 전압을 각각의 게이트 라인에 순차적으로 인가할 수 있다. 게이트 라인에 상기 게이트 전압이 인가되면, 상기 게이트 라인에 포함되는 각각의 픽셀들과 연결된 트랜지스터는 활성화되고 소스 전압이 상기 픽셀들에 인가될 수 있다. 상기 픽셀들은 소스 전압에 기초하여 발광할 수 있다.

B-5를 참조하면, 디스플레이 구동 회로(121)는 게이트 전압을 제공하기 위한 게이트 증폭기들(135, 136, 137)을 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 게이트 증폭기들(135, 136, 137)은 제2 그룹 라인들(150)을 통해 디스플레이 패널(110)의 픽셀과 전기적으로 연결될 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 그룹 라인들(150) 사이에는 게이트 드라이버(610)가 배치될 수 있다. 상기 게이트 드라이버(610)는 제2 그룹 라인들(150)을 통해 수신된 게이트 전압을 각각의 게이트 라인에 순차적으로 전달할 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 게이트 증폭기들(135, 136, 137)의 출력 단에는 제1 그룹 게이트 스위치들(631a, 631b, 631c)이 배치될 수 있다. 제1 그룹 게이트 스위치들(631a, 631b, 631c)은 각각의 게이트 증폭기(135, 136, 137)의 출력을 활성화 또는 비활성화시킬 수 있다. 예를 들면, 전자 장치(600a)가 감지 라인(160)을 포함하는 영역의 균열을 확인하기 위한 감지 모드인 경우 디스플레이 구동 회로(121)는 제1 그룹 게이트 스위치들(631a, 631b, 631c)을 모두 오프시킬 수 있다. 이 경우, 게이트 증폭기(135, 136, 137)의 출력은 감지 회로(134)에 인가되지 않고, 외부 전원 장치(430)로부터 제1 전압이 감지 회로(134)에 인가될 수 있다. 다른 예를 들면, 전자 장치(600a)가 게이트 증폭기(135, 136, 137)의 이상을 감지하기 위한 감지 모드인 경우 디스플레이 구동 회로(121)는 지정된 시간 간격에 따라 제1 그룹 게이트 스위치들(631a, 631b, 631c)을 순차적으로 온시킬 수 있다. 이 경우 게이트 증폭기(135, 136, 137)의 출력은 감지 회로(134)에 순차적으로 하나씩 인가될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 제2 그룹 라인들(150)은 제1 그룹 라인들(140)과 마찬가지로 감지 라인(160)과 교차할 수 있다. 일 실시 예에서, 제2 그룹 라인들(150) 사이에는 제2 그룹 공유 스위치들(611a, 611b, 611c)이 배치될 수 있다. 다른 실시 예에서, 제2 그룹 공유 스위치들(611a, 611b, 611c)은 제2 그룹 라인들(150) 중 적어도 하나 및 제1 그룹 라인들(140) 중 적어도 하나 사이에 배치될 수도 있다.

일 실시 예에 따르면, 전자 장치(600a)는 외부 전원 장치(430) 및 전원 스위치(440)를 포함할 수 있다. 외부 전원 장치(430)는 예를 들면, 디스플레이 구동 회로(121)에 전원을 공급하기 위한 전력 관리 모듈(예: 도 8의 전력 관리 모듈(888))일 수 있다. 다른 예를 들면, 외부 전원 장치(430)는 디스플레이 구동 회로(121) 내부에 배치되고 디스플레이 패널(110)에 전원을 공급하기 위한 전원 레귤레이터일 수 있다. 일 실시 예에서, 전원 스위치(440)는 외부 전원 장치(430) 및 감지 라인(160) 사이에 배치될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 외부 전원 장치(430)은 디스플레이 구동 회로(121)의 적어도 일부와 연결되기 위한 단자들, 예컨대, GPIO(general purpose input output) 단자들을 포함할 수 있다. 외부 전원 장치(430)는 상기 단자들을 통해 디스플레이 구동 회로(121)의 적어도 일부, 예컨대, 감지 라인의 타단에 제1 전압을 제공할 수 있다. 다양한 실시 예에서, 외부 전원 장치(430)는 도 1에 도시된 가요성 기판(11) 또는 메인 기판(12)에 배치될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 전자 장치(600a)가 감지 라인(160)을 포함하는 영역의 균열을 확인하기 위한 감지 모드인 경우 디스플레이 구동 회로(121)는 전원 스위치(440)를 온시킬 수 있다. 외부 전원 장치(430)는 전원 스위치(440)를 통해 감지 라인(160)에 제1 전압을 인가할 수 있다. 일 실시 예에서, 디스플레이 구동 회로(121)는 감지 라인(160)이 단락되도록 제1 그룹 스위치들(170), 제1 그룹 공유 스위치들(180), 및 제2 그룹 공유 스위치들(611a, 611b, 611c)를 온 시킬 수 있다. 이 경우, 제1 그룹 게이트 스위치들(631a, 631b, 631c)은 모두 오프될 수 있다. 이를 통해 외부 전원 장치(430)로부터 인가된 상기 제1 전압은 감지 라인(160)을 통해 감지 회로(134)에 전달될 수 있다. 디스플레이 구동 회로(121)는 상기 제1 전압 및 감지 회로(134)를 통해 획득된 제2 전압을 통해 감지 라인(160)을 포함하는 영역의 균열 여부를 확인할 수 있다.

다른 실시 예에 따르면, 전자 장치(600a)가 게이트 증폭기(135, 136, 137) 또는 소스 증폭기(130)의 이상을 감지하기 위한 감지 모드인 경우 디스플레이 구동 회로(121)는 전원 스위치(440)를 오프시키고 감지 라인(160)이 단락되도록 제1 그룹 스위치들(170), 제1 그룹 공유 스위치들(180), 및 제2 그룹 공유 스위치들(611a, 611b, 611c)을 온 시킬 수 있다. 일 실시 예에서, 디스플레이 구동 회로(121)는 제1 그룹 게이트 스위치들(631a, 631b, 631c) 및 제1 그룹 소스 스위치들(190)을 지정된 시간 간격에 따라 순차적으로 하나씩 온 또는 오프시킬 수 있다. 이 경우 복수의 게이트 증폭기(135, 136, 137)들 및 복수의 소스 증폭기(130)들은 지정된 시간 간격에 따라 순차적으로 하나씩 감지 라인(160)에 제1 전압을 인가할 수 있다. 디스플레이 구동 회로(121)는 상기 제1 전압 및 감지 회로(134)를 통해 획득된 제2 전압을 통해 게이트 증폭기들(135, 136, 137) 및 소스 증폭기들(130)의 이상 여부를 확인할 수 있다.

도 6b를 참조하면, 전자 장치는 A-5 영역 및 B-5b 영역을 포함할 수 있다. 상기 B-5b 영역은 도 1에 도시된 B 영역을 확대 도시한 것으로 이해될 수 있다. 다시 말해, B-5b 영역은 디스플레이 구동 회로(121)가 배치된 연결 부재(120) 중 일부를 나타낼 수 있다. 도 6b의 설명에 있어서 도 2의 설명 또는 도 6a의 설명과 중복되는 내용은 생략될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 전자 장치(600b)는 도 6a에 도시된 전자 장치(600a)와 다르게 감지 모듈(460)을 포함할 수 있다. 감지 모듈(460)은 외부 전원 장치(430) 및 감지 회로(134)를 포함하는 하나의 IC(integrated circuit)로 이해될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 감지 모듈(460)은 디스플레이 구동 회로(121)의 외부, 예컨대, 도 1에 도시된 가요성 기판(11) 또는 메인 기판(12)에 배치될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 감지 모듈(460)은 감지 회로(134)를 이용하여 게이트 증폭기들(135, 136, 137) 및 소스 증폭기들(130)의 이상 여부를 확인할 수 있다. 예를 들면, 감지 모듈(460)은 감지 회로(134)를 이용하여 감지 라인(160)의 일단에서 측정되는 제2 전압의 크기를 획득할 수 있다. 감지 모듈(460)은 상기 제1 전압 및 상기 제2 전압을 통해 게이트 증폭기들(135, 136, 137) 및 소스 증폭기들(130)의 이상 여부를 확인할 수 있다.

본 문서에서 도 6a에 도시된 전자 장치(600a) 또는 도 6b에 도시된 전자 장치(600b)에 포함되는 구성 요소들과 동일한 참조 부호를 갖는 구성 요소들은 도 6a 또는 도 6b에서 설명한 내용이 동일하게 적용될 수 있다.

도 7a 및 도 7b는 일 실시 예에 따른, 디스플레이 패널의 균열을 확인하기 위한 전자 장치의 세부 회로도를 나타낸다.

도 7a를 참조하면, 전자 장치(700a)는 A-6 영역 및 B-6a 영역을 포함할 수 있다. 상기 A-6 영역은 도 1에 도시된 A 영역을 확대 도시한 것으로 이해될 수 있고, 상기 B-6a 영역은 도 1에 도시된 B 영역을 확대 도시한 것으로 이해될 수 있다. 다시 말해, A-6 영역은 디스플레이 패널(110)의 일부 영역이고, B-6a 영역은 디스플레이 구동 회로(121)가 배치된 연결 부재(120) 중 일부를 나타낼 수 있다. 도 7a의 설명에 있어서 도 2 및 도 6a의 설명과 중복되는 내용은 생략될 수 있다.

A-6을 참조하면, 디스플레이 패널(110)의 일단에는 제1 그룹 트랜지스터들(710)이 추가적으로 배치될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 제1 그룹 트랜지스터들(710)은 제1 그룹 라인들(140)의 일단과 전기적으로 연결될 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 그룹 트랜지스터들(710)은 디스플레이 패널(110)에 배치되는 다른 트랜지스터들과 달리 발광 소자와 연결되지 않을 수 있다. 예를 들면, 제1 그룹 트랜지스터들(710)은 전원 공급 라인(730)을 통해 발광 소자 대신 외부 전원 장치(430)와 전기적으로 연결될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 제1 그룹 트랜지스터들(710)에는 추가적인 별도의 게이트 라인(720)이 연결될 수 있다. 예를 들면, 별도의 게이트 라인(720)은 제1 그룹 트랜지스터들(710)의 게이트 단자와 전기적으로 연결되고 제1 그룹 트랜지스터들(710)은 별도의 게이트 라인(720)을 통해 게이트 전압을 제공받을 수 있다.

B-6을 참조하면, 디스플레이 구동 회로(121)는 제2 그룹 스위치들(740)을 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 제2 그룹 스위치들(740)은 제1 그룹 라인들(140) 상에 배치되고 제1 그룹 라인들(140)을 단락 또는 개방 시킬 수 있다. 예를 들면, 전자 장치(700a)가 감지 모드가 아닌 경우 상기 제2 그룹 스위치들(740)은 온 될 수 있고, 제1 그룹 라인들(140)은 단락될 수 있다. 픽셀들은 제1 그룹 라인들(140)을 통해 소스 전압을 제공받을 수 있다. 다른 예를 들면, 전자 장치(700a)가 디스플레이 패널(110)의 이상을 확인하기 위한 감지 모드인 경우에 제2 그룹 스위치들(740)은 적어도 일부는 온되고 나머지 일부는 오프될 수 있다. 이 경우 제1 그룹 라인들(140) 중 적어도 일부는 단락되고 나머지 일부는 개방될 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 그룹 트랜지스터들(710)을 통해 외부 장치로부터 인가된 제1 전압은 상기 단락된 일부의 라인들을 통해 감지 라인(160)에 인가될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 전자 장치(700a)는 외부 전원 장치(430), 제1 전원 스위치(440), 및 제2 전원 스위치(450)를 포함할 수 있다. 외부 전원 장치(430)는 예를 들면, 디스플레이 구동 회로(121)에 전원을 공급하기 위한 전력 관리 모듈(예: 도 8의 전력 관리 모듈(888))일 수 있다. 다른 예를 들면, 외부 전원 장치(430)는 디스플레이 구동 회로(121) 내부에 배치되고 디스플레이 패널(110)에 전원을 공급하기 위한 전원 레귤레이터일 수 있다. 일 실시 예에서, 제1 전원 스위치(440)는 외부 전원 장치(430) 및 감지 라인(160) 사이에 배치될 수 있고, 제2 전원 스위치(450)는 외부 전원 장치(430) 및 전원 공급 라인(730) 사이에 배치될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 제1 전원 스위치(440) 또는 제2 전원 스위치(450)는 선택적으로 온될 수 있다. 예를 들면, 전자 장치(700a)가 감지 라인(160)을 포함하는 영역의 균열을 확인하는 감지 모드인 경우 제1 전원 스위치(440)는 온되고 제2 전원 스위치(450)는 오프될 수 있다. 다른 예를 들면, 전자 장치(700a)가 디스플레이 패널(110)의 이상을 확인하는 감지 모드인 경우 제1 전원 스위치(440)는 오프되고 제2 전원 스위치(450)는 온될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 전자 장치(700a)가 디스플레이 패널(110)의 이상을 확인하는 감지 모드인 경우 디스플레이 구동 회로(121)는 게이트 증폭기(135, 136, 137)를 이용하여 별도의 게이트 라인(720)을 통해 제1 그룹 트랜지스터들(710)에 게이트 전압을 인가할 수 있다. 제1 그룹 트랜지스터들(710)에 게이트 전압이 인가되면 제1 그룹 트랜지스터들(710)은 도통(turn on)될 수 있다. 도통된 제1 그룹 트랜지스터들(710)은 외부 전원 장치(430)로부터 전원 공급 라인(730)을 통해 인가된 제1 전압을 제1 그룹 라인들(140)에 전달할 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 전자 장치(700a)가 디스플레이 패널(110)의 이상을 확인하는 감지 모드인 경우 디스플레이 구동 회로(121)는 제2 그룹 스위치들(740) 중 적어도 일부를 온시킬 수 있다. 이 경우 상기 제2 그룹 스위치들(740) 중 상기 온된 일부를 통해 제1 그룹 라인들(140) 중 일부가 단락되고 감지 라인(160)에 제1 전압이 인가될 수 있다. 이 경우, 디스플레이 구동 회로(121)는 상기 제1 전압과 감지 회로(134)를 통해 획득된 제2 전압을 이용하여 상기 단락된 일부의 제1 그룹 라인들(140)에 포함되는 픽셀들 또는 서브 픽셀들의 이상 여부를 확인할 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 전자 장치(700a)가 디스플레이 패널(110)의 균열을 확인하는 감지 모드인 경우 디스플레이 구동 회로(121)는 제2 그룹 스위치들(740) 중 어느 하나의 스위치를 지정된 시간 간격에 따라 순차적으로 온시킬 수 있다. 이 경우 제1 그룹 라인들(140) 중 어느 하나의 라인들은 상기 지정된 시간 간격에 따라 순차적으로 온될 수 있다. 디스플레이 구동 회로(121)는 상기 지정된 시간 간격에 따라 제1 전압 및 상기 제1 전압에 대응하는 제2 전압을 이용하여 픽셀들 또는 서브 픽셀들의 이상 여부를 순차적으로 확인할 수 있다.

도 7b를 참조하면, 전자 장치는 A-6 영역 및 B-6b 영역을 포함할 수 있다. 상기 B-6b 영역은 도 1에 도시된 B 영역을 확대 도시한 것으로 이해될 수 있다. 다시 말해, B-6b 영역은 디스플레이 구동 회로(121)가 배치된 연결 부재(120) 중 일부를 나타낼 수 있다. 도 7b의 설명에 있어서 도 2의 설명 또는 도 7a의 설명과 중복되는 내용은 생략될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 전자 장치(700b)는 도 7a에 도시된 전자 장치(700a)와 다르게 감지 모듈(460)을 포함할 수 있다. 감지 모듈(460)은 외부 전원 장치(430) 및 감지 회로(134)를 포함하는 하나의 IC(integrated circuit)로 이해될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 감지 모듈(460)은 디스플레이 구동 회로(121)의 외부, 예컨대, 도 1에 도시된 가요성 기판(11) 또는 메인 기판(12)에 배치될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 감지 모듈(460)은 감지 회로(134)를 이용하여 픽셀들 또는 서브 픽셀들의 이상 여부를 확인할 수 있다. 예를 들면, 감지 모듈(460)은 감지 회로(134)를 이용하여 감지 라인(160)의 일단에서 측정되는 제2 전압의 크기를 획득할 수 있다. 감지 모듈(460)은 상기 제1 전압 및 상기 제2 전압을 통해 픽셀들 또는 서브 픽셀들의 이상 여부를 확인할 수 있다.

도 8은 다양한 실시 예에 따른, 네트워크 환경 내의 전자 장치의 블록도이다.

도 8을 참조하면, 네트워크 환경(800)에서 전자 장치(801)는 제1 네트워크(898)(예: 근거리 무선 통신 네트워크)를 통하여 전자 장치(802)와 통신하거나, 또는 제2 네트워크(899)(예: 원거리 무선 통신 네트워크)를 통하여 전자 장치(804) 또는 서버(808)와 통신할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 전자 장치(801)는 서버(808)를 통하여 전자 장치(804)와 통신할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 전자 장치(801)는 프로세서(820), 메모리(830), 입력 장치(850), 음향 출력 장치(855), 표시 장치(860), 오디오 모듈(870), 센서 모듈(876), 인터페이스(877), 햅틱 모듈(879), 카메라 모듈(880), 전력 관리 모듈(888), 배터리(889), 통신 모듈(890), 가입자 식별 모듈(896), 또는 안테나 모듈(897)을 포함할 수 있다. 어떤 실시 예에서는, 전자 장치(801)에는, 이 구성요소들 중 적어도 하나(예: 표시 장치(860) 또는 카메라 모듈(880))가 생략되거나, 하나 이상의 다른 구성 요소가 추가될 수 있다. 어떤 실시 예에서는, 이 구성요소들 중 일부들은 하나의 통합된 회로로 구현될 수 있다. 예를 들면, 센서 모듈(876)(예: 지문 센서, 홍채 센서, 또는 조도 센서)은 표시 장치(860)(예: 디스플레이)에 임베디드된 채 구현될 수 있다

프로세서(820)는, 예를 들면, 소프트웨어(예: 프로그램(840))를 실행하여 프로세서(820)에 연결된 전자 장치(801)의 적어도 하나의 다른 구성요소(예: 하드웨어 또는 소프트웨어 구성요소)을 제어할 수 있고, 다양한 데이터 처리 또는 연산을 수행할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 데이터 처리 또는 연산의 적어도 일부로서, 프로세서(820)는 다른 구성요소(예: 센서 모듈(876) 또는 통신 모듈(890))로부터 수신된 명령 또는 데이터를 휘발성 메모리(832)에 로드하고, 휘발성 메모리(832)에 저장된 명령 또는 데이터를 처리하고, 결과 데이터를 비휘발성 메모리(834)에 저장할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 프로세서(820)는 메인 프로세서(821)(예: 중앙 처리 장치 또는 어플리케이션 프로세서), 및 이와는 독립적으로 또는 함께 운영 가능한 보조 프로세서(823)(예: 그래픽 처리 장치, 이미지 시그널 프로세서, 센서 허브 프로세서, 또는 커뮤니케이션 프로세서)를 포함할 수 있다. 추가적으로 또는 대체적으로, 보조 프로세서(823)은 메인 프로세서(821)보다 저전력을 사용하거나, 또는 지정된 기능에 특화되도록 설정될 수 있다. 보조 프로세서(823)는 메인 프로세서(821)와 별개로, 또는 그 일부로서 구현될 수 있다.

보조 프로세서(823)는, 예를 들면, 메인 프로세서(821)가 인액티브(예: 슬립) 상태에 있는 동안 메인 프로세서(821)를 대신하여, 또는 메인 프로세서(821)가 액티브(예: 어플리케이션 실행) 상태에 있는 동안 메인 프로세서(821)와 함께, 전자 장치(801)의 구성요소들 중 적어도 하나의 구성요소(예: 표시 장치(860), 센서 모듈(876), 또는 통신 모듈(890))와 관련된 기능 또는 상태들의 적어도 일부를 제어할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 보조 프로세서(823)(예: 이미지 시그널 프로세서 또는 커뮤니케이션 프로세서)는 기능적으로 관련 있는 다른 구성 요소(예: 카메라 모듈(880) 또는 통신 모듈(890))의 일부로서 구현될 수 있다.

메모리(830)는, 전자 장치(801)의 적어도 하나의 구성요소(예: 프로세서(820) 또는 센서모듈(876))에 의해 사용되는 다양한 데이터를 저장할 수 있다. 데이터는, 예를 들어, 소프트웨어(예: 프로그램(840)) 및, 이와 관련된 명령에 대한 입력 데이터 또는 출력 데이터를 포함할 수 있다. 메모리(830)는, 휘발성 메모리(832) 또는 비휘발성 메모리(834)를 포함할 수 있다.

프로그램(840)은 메모리(830)에 소프트웨어로서 저장될 수 있으며, 예를 들면, 운영 체제(842), 미들 웨어(844) 또는 어플리케이션(846)을 포함할 수 있다.

입력 장치(850)는, 전자 장치(801)의 구성요소(예: 프로세서(820))에 사용될 명령 또는 데이터를 전자 장치(801)의 외부(예: 사용자)로부터 수신할 수 있다. 입력 장치(850)은, 예를 들면, 마이크, 마우스, 또는 키보드를 포함할 수 있다.

음향 출력 장치(855)는 음향 신호를 전자 장치(801)의 외부로 출력할 수 있다. 음향 출력 장치(855)는, 예를 들면, 스피커 또는 리시버를 포함할 수 있다. 스피커는 멀티미디어 재생 또는 녹음 재생과 같이 일반적인 용도로 사용될 수 있고, 리시버는 착신 전화를 수신하기 위해 사용될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 리시버는 스피커와 별개로, 또는 그 일부로서 구현될 수 있다.

표시 장치(860)는 전자 장치(801)의 외부(예: 사용자)로 정보를 시각적으로 제공할 수 있다. 표시 장치(860)은, 예를 들면, 디스플레이, 홀로그램 장치, 또는 프로젝터 및 해당 장치를 제어하기 위한 제어 회로를 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 표시 장치(860)는 터치를 감지하도록 설정된 터치 회로(touch circuitry), 또는 상기 터치에 의해 발생되는 힘의 세기를 측정하도록 설정된 센서 회로(예: 압력 센서)를 포함할 수 있다.

오디오 모듈(870)은 소리를 전기 신호로 변환시키거나, 반대로 전기 신호를 소리로 변환시킬 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 오디오 모듈(870)은, 입력 장치(850)를 통해 소리를 획득하거나, 음향 출력 장치(855), 또는 전자 장치(801)와 직접 또는 무선으로 연결된 외부 전자 장치(예: 전자 장치(802)) (예: 스피커 또는 헤드폰))를 통해 소리를 출력할 수 있다.

센서 모듈(876)은 전자 장치(801)의 작동 상태(예: 전력 또는 온도), 또는 외부의 환경 상태(예: 사용자 상태)를 감지하고, 감지된 상태에 대응하는 전기 신호 또는 데이터 값을 생성할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 센서 모듈(876)은, 예를 들면, 제스처 센서, 자이로 센서, 기압 센서, 마그네틱 센서, 가속도 센서, 그립 센서, 근접 센서, 컬러 센서, IR(infrared) 센서, 생체 센서, 온도 센서, 습도 센서, 또는 조도 센서를 포함할 수 있다.

인터페이스(877)는 전자 장치(801)이 외부 전자 장치(예: 전자 장치(802))와 직접 또는 무선으로 연결되기 위해 사용될 수 있는 하나 이상의 지정된 프로토콜들을 지원할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 인터페이스(877)는, 예를 들면, HDMI(high definition multimedia interface), USB(universal serial bus) 인터페이스, SD카드 인터페이스, 또는 오디오 인터페이스를 포함할 수 있다.

연결 단자(878)는, 그를 통해서 전자 장치(801)가 외부 전자 장치(예: 전자 장치(802))와 물리적으로 연결될 수 있는 커넥터를 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 연결 단자(878)은, 예를 들면, HDMI 커넥터, USB 커넥터, SD 카드 커넥터, 또는 오디오 커넥터(예: 헤드폰 커넥터)를 포함할 수 있다.

햅틱 모듈(879)은 전기적 신호를 사용자가 촉각 또는 운동 감각을 통해서 인지할 수 있는 기계적인 자극(예: 진동 또는 움직임) 또는 전기적인 자극으로 변환할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 햅틱 모듈(879)은, 예를 들면, 모터, 압전 소자, 또는 전기 자극 장치를 포함할 수 있다.

카메라 모듈(880)은 정지 영상 및 동영상을 촬영할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 카메라 모듈(880)은 하나 이상의 렌즈들, 이미지 센서들, 이미지 시그널 프로세서들, 또는 플래시들을 포함할 수 있다.

전력 관리 모듈(888)은 전자 장치(801)에 공급되는 전력을 관리할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 전력 관리 모듈(388)은, 예를 들면, PMIC(power management integrated circuit)의 적어도 일부로서 구현될 수 있다.

배터리(889)는 전자 장치(801)의 적어도 하나의 구성 요소에 전력을 공급할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 배터리(889)는, 예를 들면, 재충전 불가능한 1차 전지, 재충전 가능한 2차 전지 또는 연료 전지를 포함할 수 있다.

통신 모듈(890)은 전자 장치(801)와 외부 전자 장치(예: 전자 장치(802), 전자 장치(804), 또는 서버(808))간의 직접(예: 유선) 통신 채널 또는 무선 통신 채널의 수립, 및 수립된 통신 채널을 통한 통신 수행을 지원할 수 있다. 통신 모듈(890)은 프로세서(820)(예: 어플리케이션 프로세서)와 독립적으로 운영되고, 직접(예: 유선) 통신 또는 무선 통신을 지원하는 하나 이상의 커뮤니케이션 프로세서를 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 통신 모듈(890)은 무선 통신 모듈(892)(예: 셀룰러 통신 모듈, 근거리 무선 통신 모듈, 또는 GNSS(global navigation satellite system) 통신 모듈) 또는 유선 통신 모듈(894)(예: LAN(local area network) 통신 모듈, 또는 전력선 통신 모듈)을 포함할 수 있다. 이들 통신 모듈 중 해당하는 통신 모듈은 제1 네트워크(898)(예: 블루투스, WiFi direct 또는 IrDA(infrared data association) 같은 근거리 통신 네트워크) 또는 제2 네트워크(899)(예: 셀룰러 네트워크, 인터넷, 또는 컴퓨터 네트워크(예: LAN 또는 WAN)와 같은 원거리 통신 네트워크)를 통하여 외부 전자 장치와 통신할 수 있다. 이런 여러 종류의 통신 모듈들은 하나의 구성 요소(예: 단일 칩)으로 통합되거나, 또는 서로 별도의 복수의 구성 요소들(예: 복수 칩들)로 구현될 수 있다. 무선 통신 모듈(892)은 가입자 식별 모듈(896)에 저장된 가입자 정보(예: 국제 모바일 가입자 식별자(IMSI))를 이용하여 제1 네트워크(898) 또는 제2 네트워크(899)와 같은 통신 네트워크 내에서 전자 장치(801)를 확인 및 인증할 수 있다.

안테나 모듈(897)은 신호 또는 전력을 외부(예: 외부 전자 장치)로 송신하거나 외부로부터 수신할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 안테나 모듈(897)은 하나 이상의 안테나들을 포함할 수 있고, 이로부터, 제1 네트워크 (898) 또는 제2 네트워크 (899)와 같은 통신 네트워크에서 사용되는 통신 방식에 적합한 적어도 하나의 안테나가, 예를 들면, 통신 모듈(890)에 의하여 선택될 수 있다. 신호 또는 전력은 상기 선택된 적어도 하나의 안테나를 통하여 통신 모듈(890)과 외부 전자 장치 간에 송신되거나 수신될 수 있다.

상기 구성요소들 중 적어도 일부는 주변 기기들간 통신 방식(예: 버스, GPIO(general purpose input and output), SPI(serial peripheral interface), 또는 MIPI(mobile industry processor interface))를 통해 서로 연결되고 신호(예: 명령 또는 데이터)를 상호간에 교환할 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 명령 또는 데이터는 제2 네트워크(899)에 연결된 서버(808)를 통해서 전자 장치(801)와 외부의 전자 장치(804)간에 송신 또는 수신될 수 있다. 전자 장치(802, 804) 각각은 전자 장치(801)와 동일한 또는 다른 종류의 장치일 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 전자 장치(801)에서 실행되는 동작들의 전부 또는 일부는 외부 전자 장치들(802, 804, 또는 808) 중 하나 이상의 외부 장치들에서 실행될 수 있다. 예를 들면, 전자 장치(801)가 어떤 기능이나 서비스를 자동으로, 또는 사용자 또는 다른 장치로부터의 요청에 반응하여 수행해야 할 경우에, 전자 장치(801)는 기능 또는 서비스를 자체적으로 실행시키는 대신에 또는 추가적으로, 하나 이상의 외부 전자 장치들에게 그 기능 또는 그 서비스의 적어도 일부를 수행하라고 요청할 수 있다. 상기 요청을 수신한 하나 이상의 외부 전자 장치들은 요청된 기능 또는 서비스의 적어도 일부, 또는 상기 요청과 관련된 추가 기능 또는 서비스를 실행하고, 그 실행의 결과를 전자 장치(801)로 전달할 수 있다. 전자 장치(801)는 상기 결과를, 그대로 또는 추가적으로 처리하여, 상기 요청에 대한 응답의 적어도 일부로서 제공할 수 있다. 이를 위하여, 예를 들면, 클라우드 컴퓨팅, 분산 컴퓨팅, 또는 클라이언트-서버 컴퓨팅 기술이 이용될 수 있다.

도 9는 다양한 실시 예들에 따른, 표시 장치의 블록도이다.

도 9를 참조하면, 표시 장치(860)는 디스플레이(910), 및 이를 제어하기 위한 디스플레이 드라이버 IC(DDI)(930)를 포함할 수 있다. DDI(930)는 인터페이스 모듈(931), 메모리(933)(예: 버퍼 메모리), 이미지 처리 모듈(935), 또는 맵핑 모듈(937)을 포함할 수 있다. DDI(930)은, 예를 들면, 영상 데이터, 또는 상기 영상 데이터를 제어하기 위한 명령에 대응하는 영상 제어 신호를 포함하는 영상 정보를 인터페이스 모듈(931)을 통해 전자 장치(801)의 다른 구성요소로부터 수신할 수 있다. 예를 들면, 일 실시 예에 따르면, 영상 정보는 프로세서(820)(예: 메인 프로세서(821)(예: 어플리케이션 프로세서) 또는 메인 프로세서(821)의 기능과 독립적으로 운영되는 보조 프로세서(823)(예: 그래픽 처리 장치)로부터 수신될 수 있다. DDI(930)는 터치 회로(950) 또는 센서 모듈(876) 등과 상기 인터페이스 모듈(931)을 통하여 커뮤니케이션할 수 있다. 또한, DDI(930)는 상기 수신된 영상 정보 중 적어도 일부를 메모리(933)에, 예를 들면, 프레임 단위로 저장할 수 있다. 이미지 처리 모듈(935)은, 예를 들면, 상기 영상 데이터의 적어도 일부를 상기 영상 데이터의 특성 또는 디스플레이(910)의 특성에 적어도 기반하여 전처리 또는 후처리(예: 해상도, 밝기, 또는 크기 조정)를 수행할 수 있다. 맵핑 모듈(937)은 이미지 처리 모듈(835)를 통해 전처리 또는 후처리된 상기 영상 데이터에 대응하는 전압 값 또는 전류 값을 생성할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 전압 값 또는 전류 값의 생성은 예를 들면, 디스플레이(910)의 픽셀들의 속성(예: 픽셀들의 배열(RGB stripe 또는 pentile 구조), 또는 서브 픽셀들 각각의 크기)에 적어도 일부 기반하여 수행될 수 있다. 디스플레이(910)의 적어도 일부 픽셀들은, 예를 들면, 상기 전압 값 또는 전류 값에 적어도 일부 기반하여 구동됨으로써 상기 영상 데이터에 대응하는 시각적 정보(예: 텍스트, 이미지, 또는 아이콘)가 디스플레이(910)를 통해 표시될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 표시 장치(860)는 터치 회로(950)를 더 포함할 수 있다. 터치 회로(950)는 터치 센서(951) 및 이를 제어하기 위한 터치 센서 IC(953)를 포함할 수 있다. 터치 센서 IC(953)는, 예를 들면, 디스플레이(910)의 특정 위치에 대한 터치 입력 또는 호버링 입력을 감지하기 위해 터치 센서(951)를 제어할 수 있다. 예를 들면, 터치 센서 IC(953)는 디스플레이(910)의 특정 위치에 대한 신호(예: 전압, 광량, 저항, 또는 전하량)의 변화를 측정함으로써 터치 입력 또는 호버링 입력을 감지할 수 있다. 터치 센서 IC(953)는 감지된 터치 입력 또는 호버링 입력에 관한 정보(예: 위치, 면적, 압력, 또는 시간)를 프로세서(820) 에 제공할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 터치 회로(950)의 적어도 일부(예: 터치 센서 IC(953))는 디스플레이 드라이버 IC(930), 또는 디스플레이(910)의 일부로, 또는 표시 장치(860)의 외부에 배치된 다른 구성요소(예: 보조 프로세서(823))의 일부로 포함될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 표시 장치(860)는 센서 모듈(876)의 적어도 하나의 센서(예: 지문 센서, 홍채 센서, 압력 센서 또는 조도 센서), 또는 이에 대한 제어 회로를 더 포함할 수 있다. 이 경우, 상기 적어도 하나의 센서 또는 이에 대한 제어 회로는 표시 장치(860)의 일부(예: 디스플레이(910) 또는 DDI(930)) 또는 터치 회로(950)의 일부에 임베디드될 수 있다. 예를 들면, 표시 장치(860)에 임베디드된 센서 모듈(876)이 생체 센서(예: 지문 센서)를 포함할 경우, 상기 생체 센서는 디스플레이(910)의 일부 영역을 통해 터치 입력과 연관된 생체 정보(예: 지문 이미지)를 획득할 수 있다. 다른 예를 들면, 표시 장치(860)에 임베디드된 센서 모듈(876)이 압력 센서를 포함할 경우, 상기 압력 센서는 디스플레이(910)의 일부 또는 전체 영역을 통해 터치 입력과 연관된 압력 정보를 획득할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 터치 센서(951) 또는 센서 모듈(876)은 디스플레이(910)의 픽셀 레이어의 픽셀들 사이에, 또는 상기 픽셀 레이어의 위에 또는 아래에 배치될 수 있다.

본 분서에 개시되는 일 실시 예에 따른 전자 장치는, 복수의 픽셀들이 배치되는 디스플레이 패널, 상기 복수의 픽셀들 각각에 소스 전압을 제공하기 위한 제1 그룹 라인들, 상기 제1 그룹 라인들과 전기적으로 연결되어 상기 복수의 픽셀들 각각에 상기 소스 전압을 제공하는 복수의 소스 증폭기들, 상기 제1 그룹 라인들과 교차하는 적어도 하나의 감지 라인, 및 상기 적어도 하나의 감지 라인 상에 배치되는 제1 그룹 스위치들을 포함하는 디스플레이 구동 회로, 및 상기 적어도 하나의 감지 라인의 일단과 전기적으로 연결되고 상기 전자 장치의 적어도 일부 영역의 균열을 확인하기 위한 감지 회로를 포함하고, 상기 디스플레이 구동 회로는, 상기 전자 장치가 감지 모드로 진입하기 위한 지정된 신호를 수신하고, 상기 수신된 지정된 신호에 응답하여 상기 적어도 하나의 감지 라인의 일단과 구별되는 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단에 제1 전압을 인가하고, 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단으로부터 상기 감지 회로까지 상기 적어도 하나의 감지 라인이 단락되도록 상기 제1 그룹 스위치들을 온(on)시키고, 상기 적어도 하나의 감지 라인의 일단과 전기적으로 연결된 상기 감지 회로에서 감지된 제2 전압을 획득하고, 상기 제1 전압과 상기 제2 전압의 차이에 적어도 기초하여 상기 전자 장치의 적어도 일부 영역의 균열과 관련된 정보를 확인하는 것을 특징으로 할 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 상기 디스플레이 구동 회로는 상기 수신된 지정된 신호에 응답하여 상기 복수의 소스 증폭기들 중 어느 하나의 소스 증폭기를 이용하여 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단에 상기 제1 전압을 인가하는 것을 특징으로 할 수 있다.

일 실시 예에서, 상기 복수의 소스 증폭기들은 상기 복수의 소스 증폭기들의 출력단에 각각 배치되는 제1 그룹 소스 스위치들을 더 포함하고, 상기 디스플레이 구동 회로는 상기 수신된 지정된 신호에 응답하여 상기 제1 그룹 소스 스위치들 중 상기 어느 하나의 소스 증폭기의 출력단에 배치된 소스 스위치를 온시키는 것을 특징으로 할 수 있다.

일 실시 예에서, 상기 디스플레이 구동 회로는 상기 어느 하나의 소스 증폭기의 입력 단과 전기적으로 연결된 멀티플렉서를 더 포함하고, 상기 멀티플렉서를 이용하여 상기 어느 하나의 소스 증폭기의 출력 전압의 크기를 조절하는 것을 특징으로 할 수 있다.

일 실시 예에서, 상기 디스플레이 구동 회로는 지정된 시간 간격에 따라 상기 복수의 소스 증폭기들을 순차적으로 하나씩 이용하여 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단에 상기 제1 전압을 순차적으로 인가하고, 상기 제1 전압과 상기 제2 전압의 차이에 기초하여 상기 복수의 소스 증폭기들 각각의 이상 여부를 상기 지정된 시간 간격에 따라 순차적으로 확인하는 것을 특징으로 할 수 있다. 일 실시 예에서, 상기 복수의 소스 증폭기들은 상기 복수의 소스 증폭기들의 출력단에 각각 배치되는 제1 그룹 소스 스위치들을 더 포함하고, 상기 디스플레이 구동 회로는 상기 제1 그룹 소스 스위치들을 상기 지정된 시간 간격에 따라 순차적으로 하나씩 온시킴으로써 상기 지정된 시간 간격에 따라 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단에 상기 제1 전압을 순차적으로 인가하는 것을 특징으로 할 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 상기 디스플레이 구동 회로는 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단과 전기적으로 연결된 감지 증폭기를 더 포함하고, 상기 수신된 지정된 신호에 응답하여 상기 감지 증폭기를 이용하여 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단에 상기 제1 전압을 인가하는 것을 특징으로 할 수 있다.

일 실시 예에서, 상기 디스플레이 구동 회로는 상기 감지 증폭기의 입력 단과 전기적으로 연결된 멀티플렉서를 더 포함하고, 상기 멀티플렉서를 이용하여 상기 감지 증폭기의 출력 전압의 크기를 조절할 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 상기 전자 장치는 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단과 전기적으로 연결된 외부 전원 장치를 더 포함하고, 상기 디스플레이 구동 회로는 상기 외부 전원 장치를 이용하여 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단에 상기 제1 전압을 인가하는 것을 특징으로 할 수 있다.

일 실시 예에서, 상기 디스플레이 구동 회로는 상기 외부 전원 장치 및 상기 적어도 하나의 감지 라인 사이에 배치되는 전원 스위치를 더 포함하고, 상기 수신된 지정된 신호에 응답하여 상기 외부 전원 장치로부터 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단에 상기 제1 전압이 인가되도록 상기 전원 스위치를 온 시킬 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 상기 전자 장치는 상기 적어도 하나의 감지 라인과 교차하고 상기 복수의 픽셀들 각각에 게이트 전압을 제공하기 위한 제2 그룹 라인들을 더 포함하고, 상기 디스플레이 구동 회로는 상기 상기 제2 그룹 라인들과 전기적으로 연결되어 상기 복수의 픽셀들 각각에 상기 게이트 전압을 제공하는 복수의 게이트 증폭기들을 더 포함하고, 지정된 시간 간격에 따라 상기 복수의 소스 증폭기들 및 상기 복수의 게이트 증폭기들을 순차적으로 하나씩 이용하여 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단에 상기 제1 전압을 순차적으로 인가하고, 상기 제1 전압과 상기 제2 전압의 차이에 기초하여 상기 복수의 소스 증폭기들 및 상기 복수의 게이트 증폭기들의 이상 여부를 상기 지정된 시간 간격에 따라 순차적으로 확인하는 것을 특징으로 할 수 있다.

일 실시 예에서, 상기 복수의 소스 증폭기들은 상기 복수의 소스 증폭기들의 출력단에 각각 배치되는 제1 그룹 소스 스위치들을 더 포함하고, 상기 복수의 게이트 증폭기들은 상기 복수의 게이트 증폭기들의 출력단에 각각 배치되는 제1 그룹 게이트 스위치들을 더 포함하고, 상기 디스플레이 구동 회로는 상기 제1 그룹 소스 스위치들 및 제1 그룹 게이트 스위치들을 상기 지정된 시간 간격에 따라 순차적으로 하나씩 온시킴으로써 상기 지정된 시간 간격에 따라 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단에 상기 제1 전압을 순차적으로 인가하는 것을 특징으로 할 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 상기 전자 장치는 지정된 전압을 공급하는 외부 전원 장치를 더 포함하고, 상기 디스플레이 패널은 상기 외부 전원 장치 및 상기 제1 그룹 라인들 각각을 전기적으로 연결하는 제1 그룹 트랜지스터들을 더 포함하고, 상기 디스플레이 구동 회로는 상기 제1 그룹 트랜지스터들의 게이트 단자에 게이트 전압을 인가하기 위한 게이트 증폭기 및 상기 제1 그룹 라인들 상에 배치되어 상기 제1 그룹 트랜지스터 및 상기 적어도 하나의 감지 라인을 선택적으로 연결하는 제2 그룹 스위치들을 더 포함하고, 상기 디스플레이 구동 회로는 상기 수신된 지정된 신호에 응답하여 상기 제1 그룹 트랜지스터가 도통(turn on)되도록 상기 게이트 증폭기를 이용하여 상기 제1 그룹 트랜지스터의 게이트 단자에 게이트 전압을 인가하고, 지정된 시간 간격에 따라 상기 제2 그룹 스위치들을 순차적으로 하나씩 온 시키고, 상기 외부 전원 장치를 이용하여 상기 지정된 시간 간격에 따라 상기 제1 그룹 트랜지스터 중 어느 하나 및 상기 제1 그룹 그룹 라인들 중 어느 하나를 통해 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단에 제1 전압을 순차적으로 인가하고, 상기 제1 전압과 상기 제2 전압의 차이에 기초하여 상기 복수의 픽셀들의 균열 여부를 상기 지정된 시간 간격에 따라 순차적으로 확인할 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 상기 복수의 픽셀들 각각은 상기 제1 그룹 라인들을 통해 상기 소스 증폭기들과 전기적으로 연결되는 복수의 서브 픽셀들을 포함하고, 상기 디스플레이 구동 회로는 상기 복수의 픽셀들 중 어느 하나의 픽셀에 포함되는 서브 픽셀들이 서로 선택적으로 연결되도록 상기 감지 라인 상에서 상기 제1 그룹 라인들 중 적어도 일부 라인들 사이에 배치되는 제1 그룹 공유 스위치들을 더 포함하고, 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단으로부터 상기 감지 회로까지 상기 적어도 하나의 감지 라인이 단락되도록 상기 제1 그룹 스위치들 및 상기 제1 그룹 공유 스위치들을 온시킬 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 상기 복수의 픽셀들 각각은 상기 제1 그룹 라인들을 통해 상기 소스 증폭기들과 전기적으로 연결되는 복수의 서브 픽셀들을 포함하고, 상기 디스플레이 구동 회로는 상기 복수의 서브 픽셀들 중 적어도 동일한 특성의 서브 픽셀들이 서로 선택적으로 연결되도록 상기 감지 라인 상에서 상기 제1 그룹 라인들 중 적어도 일부 라인들 사이에 배치되는 제1 그룹 공유 스위치를 더 포함하고, 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단으로부터 상기 감지 회로까지 상기 적어도 하나의 감지 라인이 단락되도록 상기 제1 그룹 스위치들 및 상기 제1 그룹 공유 스위치들을 온시킬 수 있다.

본 문서에서 개시되는 일 실시 예에 따른 디스플레이는, 복수의 서브 픽셀들을 각각 포함하는 복수의 픽셀들을 포함하는 디스플레이 패널, 상기 복수의 서브 픽셀들과 전기적으로 연결된 복수의 소스 증폭기들, 상기 복수의 소스 증폭기들의 출력 단자 및 상기 복수의 서브 픽셀들 사이의 전기적인 경로 위에 배치된 제1 그룹 소스 스위치들, 상기 복수의 픽셀들 각각에 포함되는 상기 복수의 서브 픽셀들 사이를 선택적으로 연결하는 제1 그룹 공유 스위치들, 상기 복수의 픽셀들 사이를 선택적으로 연결하는 제1 그룹 스위치들, 상기 제1 그룹 소스 스위치들, 상기 제1 그룹 공유 스위치들, 및 상기 제1 그룹 스위치들을 통해 상기 복수의 서브 픽셀들 또는 상기 복수의 소스 증폭기들과 선택적으로 연결되는 감지 회로, 및 상기 복수의 소스 증폭기들의 입력 단자 및 상기 감지 회로와 전기적으로 연결되는 디스플레이 구동 회로를 포함하고, 상기 디스플레이 구동 회로는, 상기 복수의 소스 증폭기들 중 제1 소스 증폭기에 대하여, 상기 제1 증폭기에 대응하는 제1 소스 스위치, 상기 제1 그룹 공유 스위치들 중 적어도 일부, 및 상기 제1 그룹 스위치들 중 적어도 일부가 온(on)된 상태에서, 제1 전압을 공급하고, 상기 감지 회로를 이용하여, 상기 제1 전압이 상기 지정된 제1 소스 스위치, 상기 제1 그룹 공유 스위치들 중 적어도 일부, 및 상기 제1 그룹 스위치들 중 적어도 일부를 통해 상기 감지 회로로 전달된 제2 전압을 감지하고, 및 상기 감지된 제2 전압에 적어도 기반하여 상기 디스플레이의 균열과 관련된 정보를 확인하도록 설정되는 것을 특징으로 할 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 상기 디스플레이 구동 회로는 상기 지정된 소스 증폭기에 대하여, 상기 제1 그룹 소스 스위치들 중 상기 제1 소스 스위치가 아닌 나머지 소스 스위치들은 오프(off)된 상태에서 상기 지정된 전압을 공급하도록 설정될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 상기 디스플레이 구동 회로는 상기 복수의 소스 증폭기들 중 제2 소스 증폭기에 대하여, 상기 제2 증폭기에 대응하는 제2 소스 스위치, 상기 상기 제1 그룹 공유 스위치들 중 적어도 일부, 및 상기 제1 그룹 스위치들 중 적어도 일부가 온(on)된 상태에서, 제3 전압을 공급하고, 상기 감지 회로를 이용하여, 상기 제1 전압이 상기 지정된 제1 소스 스위치, 상기 제1 그룹 공유 스위치들 중 적어도 일부, 및 상기 제1 그룹 스위치들 중 적어도 일부를 통해 상기 감지 회로로 전달된 제4 전압을 감지하고, 및 상기 감지된 제2 전압 및 상기 감지된 제4 전압에 적어도 기반하여 상기 디스플레이의 균열과 관련된 정보를 확인하도록 설정될 수 있다.

본 문서에 개시되는 일 실시 예에 따른 디스플레이는, 복수의 서브 픽셀들을 포함하는 복수의 픽셀들을 포함하는 디스플레이 패널, 상기 복수의 서브 픽셀들과 전기적으로 연결된 하나 이상의 소스 증폭기들, 상기 복수의 서브 픽셀들 및 상기 하나 이상의 소스 증폭기들의 출력 단과 전기적으로 연결된 전원 장치, 상기 복수의 픽셀들 각각에 포함되는 상기 복수의 서브 픽셀들 사이를 선택적으로 연결하는 제1 그룹 공유 스위치들, 상기 복수의 픽셀들 사이를 선택적으로 연결하는 제1 그룹 스위치들, 상기 제1 그룹 공유 스위치들 및 상기 제1 그룹 스위치들을 통해 상기 복수의 서브 픽셀들 또는 상기 하나 이상의 소스 증폭기들과 선택적으로 연결되는 감지 회로, 및 상기 하나 이상의 소스 증폭기들의 입력 단자 및 상기 감지 회로와 전기적으로 연결되는 디스플레이 구동 회로를 포함하고, 상기 디스플레이 구동 회로는, 상기 제1 그룹 공유 스위치들 중 적어도 일부 및 상기 제1 그룹 스위치들 중 적어도 일부를 온(on) 시키고, 상기 전원 장치로부터 공급된 제1 전압이 상기 제1 그룹 공유 스위치들 중 적어도 일부 및 상기 제1 그룹 스위치들 중 적어도 일부를 통해 상기 감지 회로로 전달된 제2 전압을 감지하고, 및 상기 감지된 제2 전압에 적어도 기반하여 상기 디스플레이의 균열과 관련된 정보를 확인하도록 설정될 수 있다.

일 실시 예에 따르면, 상기 전자 장치는 상기 전원 장치의 출력 단에 배치되는 전원 스위치를 더 포함하고, 상기 디스플레이 구동 회로는 상기 전원 장치로부터 상기 제1 전압이 공급되도록 상기 전원 스위치를 온시키는 것을 특징으로 할 수 있다.

본 문서에 개시되는 실시 예들에 따르면, 전자 장치는 최종 조립 단계에서도 디스플레이의 균열을 확인할 수 있다. 이를 통해, 사용자에게 제공되는 전자 장치에 대한 불량률은 감소될 수 있다.

본 문서에 개시된 다양한 실시 예들에 따른 전자 장치는 다양한 형태의 장치가 될 수 있다. 전자 장치는, 예를 들면, 휴대용 통신 장치 (예: 스마트폰), 컴퓨터 장치, 휴대용 멀티미디어 장치, 휴대용 의료 기기, 카메라, 웨어러블 장치, 또는 가전 장치를 포함할 수 있다. 본 문서의 실시 예에 따른 전자 장치는 전술한 기기들에 한정되지 않는다.

본 문서의 다양한 실시 예들 및 이에 사용된 용어들은 본 문서에 기재된 기술적 특징들을 특정한 실시 예들로 한정하려는 것이 아니며, 해당 실시 예의 다양한 변경, 균등물, 또는 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 도면의 설명과 관련하여, 유사한 또는 관련된 구성요소에 대해서는 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다. 아이템에 대응하는 명사의 단수 형은 관련된 문맥상 명백하게 다르게 지시하지 않는 한, 상기 아이템 한 개 또는 복수 개를 포함할 수 있다. 본 문서에서, "A 또는 B", "A 및 B 중 적어도 하나", "A 또는 B 중 적어도 하나,""A, B 또는 C," "A, B 및 C 중 적어도 하나,"및 "A, B, 또는 C 중 적어도 하나"와 같은 문구들 각각은 그 문구들 중 해당하는 문구에 함께 나열된 항목들의 모든 가능한 조합을 포함할 수 있다. "제1", "제2", 또는 "첫째" 또는 "둘째"와 같은 용어들은 단순히 해당 구성요소를 다른 해당 구성요소와 구분하기 위해 사용될 수 있으며, 해당 구성요소들을 다른 측면(예: 중요성 또는 순서)에서 한정하지 않는다. 어떤(예: 제1) 구성요소가 다른(예: 제2) 구성요소에, "기능적으로" 또는 "통신적으로"라는 용어와 함께 또는 이런 용어 없이, "커플드" 또는 "커넥티드"라고 언급된 경우, 그것은 상기 어떤 구성요소가 상기 다른 구성요소에 직접적으로(예: 유선으로), 무선으로, 또는 제3 구성요소를 통하여 연결될 수 있다는 것을 의미한다.

본 문서에서 사용된 용어 "모듈"은 하드웨어, 소프트웨어 또는 펌웨어로 구현된 유닛을 포함할 수 있으며, 예를 들면, 로직, 논리 블록, 부품, 또는 회로 등의 용어와 상호 호환적으로 사용될 수 있다. 모듈은, 일체로 구성된 부품 또는 하나 또는 그 이상의 기능을 수행하는, 상기 부품의 최소 단위 또는 그 일부가 될 수 있다. 예를 들면, 일 실시 예에 따르면, 모듈은 ASIC(application-specific integrated circuit)의 형태로 구현될 수 있다.

본 문서의 다양한 실시 예들은 기기(machine)(예: 전자 장치(801)) 의해 읽을 수 있는 저장 매체(storage medium)(예: 내장 메모리(836) 또는 외장 메모리(838))에 저장된 하나 이상의 명령어들을 포함하는 소프트웨어(예: 프로그램(840))로서 구현될 수 있다. 예를 들면, 기기(예: 전자 장치(801))의 프로세서(예: 프로세서(820))는, 저장 매체로부터 저장된 하나 이상의 명령어들 중 적어도 하나의 명령을 호출하고, 그것을 실행할 수 있다. 이것은 기기가 상기 호출된 적어도 하나의 명령어에 따라 적어도 하나의 기능을 수행하도록 운영되는 것을 가능하게 한다. 상기 하나 이상의 명령어들은 컴파일러에 의해 생성된 코드 또는 인터프리터에 의해 실행될 수 있는 코드를 포함할 수 있다. 기기로 읽을 수 있는 저장매체 는, 비일시적(non-transitory) 저장매체의 형태로 제공될 수 있다. 여기서, ‘비일시적’은 저장매체가 실재(tangible)하는 장치이고, 신호(signal)(예: 전자기파)를 포함하지 않는다는 것을 의미할 뿐이며, 이 용어는 데이터가 저장매체에 반영구적으로 저장되는 경우와 임시적으로 저장되는 경우를 구분하지 않는다.

일 실시 예에 따르면, 본 문서에 개시된 다양한 실시 예들에 따른 방법은 컴퓨터 프로그램 제품(computer program product)에 포함되어 제공될 수 있다. 컴퓨터 프로그램 제품은 상품으로서 판매자 및 구매자 간에 거래될 수 있다. 컴퓨터 프로그램 제품은 기기로 읽을 수 있는 저장 매체(예: compact disc read only memory (CD-ROM))의 형태로 배포되거나, 또는 어플리케이션 스토어(예: 플레이 스토어TM)를 통해 또는 두개의 사용자 장치들(예: 스마트폰들) 간에 직접, 온라인으로 배포(예: 다운로드 또는 업로드)될 수 있다. 온라인 배포의 경우에, 컴퓨터 프로그램 제품의 적어도 일부는 제조사의 서버, 어플리케이션 스토어의 서버, 또는 중계 서버의 메모리와 같은 기기로 읽을 수 있는 저장 매체에 적어도 일시 저장되거나, 임시적으로 생성될 수 있다.

다양한 실시 예들에 따르면, 상기 기술한 구성요소들의 각각의 구성요소(예: 모듈 또는 프로그램)는 단수 또는 복수의 개체를 포함할 수 있다. 다양한 실시 예들에 따르면, 전술한 해당 구성요소들 중 하나 이상의 구성요소들 또는 동작들이 생략되거나, 또는 하나 이상의 다른 구성요소들 또는 동작들이 추가될 수 있다. 대체적으로 또는 추가적으로, 복수의 구성요소들(예: 모듈 또는 프로그램)은 하나의 구성요소로 통합될 수 있다. 이런 경우, 통합된 구성요소는 상기 복수의 구성요소들 각각의 구성요소의 하나 이상의 기능들을 상기 통합 이전에 상기 복수의 구성요소들 중 해당 구성요소에 의해 수행되는 것과 동일 또는 유사하게 수행할 수 있다. 다양한 실시 예들에 따르면, 모듈, 프로그램 또는 다른 구성요소에 의해 수행되는 동작들은 순차적으로, 병렬적으로, 반복적으로, 또는 휴리스틱하게 실행되거나, 상기 동작들 중 하나 이상이 다른 순서로 실행되거나, 생략되거나, 또는 하나 이상의 다른 동작들이 추가될 수 있다.

Claims

전자 장치에 있어서,
복수의 픽셀들이 배치되는 디스플레이 패널;
상기 복수의 픽셀들 각각에 소스 전압을 제공하기 위한 제1 그룹 라인들;
상기 제1 그룹 라인들과 전기적으로 연결되어 상기 복수의 픽셀들 각각에 상기 소스 전압을 제공하는 복수의 소스 증폭기들, 상기 제1 그룹 라인들과 교차하는 적어도 하나의 감지 라인, 및 상기 적어도 하나의 감지 라인 상에 배치되는 제1 그룹 스위치들을 포함하는 디스플레이 구동 회로;
상기 적어도 하나의 감지 라인의 일단과 전기적으로 연결되고 상기 전자 장치의 적어도 일부 영역의 균열을 확인하기 위한 감지 회로; 및
상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단과 전기적으로 연결된 외부 전원 장치를 포함하고,
상기 디스플레이 구동 회로는,
상기 전자 장치가 감지 모드로 진입하기 위한 지정된 신호를 수신하고,
상기 수신된 지정된 신호에 응답하여 상기 외부 전원 장치를 이용하여 상기 적어도 하나의 감지 라인의 일단과 구별되는 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단에 제1 전압을 인가하고,
상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단으로부터 상기 감지 회로까지 상기 적어도 하나의 감지 라인이 단락되도록 상기 제1 그룹 스위치들을 온(on)시키고,
상기 적어도 하나의 감지 라인의 일단과 전기적으로 연결된 상기 감지 회로에서 감지된 제2 전압을 획득하고,
상기 제1 전압과 상기 제2 전압의 차이에 적어도 기초하여 상기 전자 장치의 적어도 일부 영역의 균열과 관련된 정보를 확인하는, 전자 장치.
청구항 1에 있어서,
상기 디스플레이 구동 회로는 상기 수신된 지정된 신호에 응답하여 상기 복수의 소스 증폭기들 중 어느 하나의 소스 증폭기를 이용하여 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단에 상기 제1 전압을 인가하는, 전자 장치.
청구항 2에 있어서,
상기 복수의 소스 증폭기들은 상기 복수의 소스 증폭기들의 출력단에 각각 배치되는 제1 그룹 소스 스위치들을 더 포함하고,
상기 디스플레이 구동 회로는 상기 수신된 지정된 신호에 응답하여 상기 제1 그룹 소스 스위치들 중 상기 어느 하나의 소스 증폭기의 출력단에 배치된 소스 스위치를 온시키는, 전자 장치.
청구항 2에 있어서,
상기 디스플레이 구동 회로는 상기 어느 하나의 소스 증폭기의 입력 단과 전기적으로 연결된 멀티플렉서를 더 포함하고,
상기 멀티플렉서를 이용하여 상기 어느 하나의 소스 증폭기의 출력 전압의 크기를 조절하는, 전자 장치.
청구항 2에 있어서,
상기 디스플레이 구동 회로는 지정된 시간 간격에 따라 상기 복수의 소스 증폭기들을 순차적으로 하나씩 이용하여 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단에 상기 제1 전압을 순차적으로 인가하고,
상기 제1 전압과 상기 제2 전압의 차이에 기초하여 상기 복수의 소스 증폭기들 각각의 이상 여부를 상기 지정된 시간 간격에 따라 순차적으로 확인하는, 전자 장치.
청구항 5에 있어서,
상기 복수의 소스 증폭기들은 상기 복수의 소스 증폭기들의 출력단에 각각 배치되는 제1 그룹 소스 스위치들을 더 포함하고,
상기 디스플레이 구동 회로는 상기 제1 그룹 소스 스위치들을 상기 지정된 시간 간격에 따라 순차적으로 하나씩 온시킴으로써 상기 지정된 시간 간격에 따라 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단에 상기 제1 전압을 순차적으로 인가하는, 전자 장치.
청구항 1에 있어서,
상기 디스플레이 구동 회로는 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단과 전기적으로 연결된 감지 증폭기를 더 포함하고,
상기 수신된 지정된 신호에 응답하여 상기 감지 증폭기를 이용하여 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단에 상기 제1 전압을 인가하는, 전자 장치.
청구항 7에 있어서,
상기 디스플레이 구동 회로는 상기 감지 증폭기의 입력 단과 전기적으로 연결된 멀티플렉서를 더 포함하고,
상기 멀티플렉서를 이용하여 상기 감지 증폭기의 출력 전압의 크기를 조절하는, 전자 장치.
삭제
청구항 1에 있어서,
상기 디스플레이 구동 회로는 상기 외부 전원 장치 및 상기 적어도 하나의 감지 라인 사이에 배치되는 전원 스위치를 더 포함하고,
상기 수신된 지정된 신호에 응답하여 상기 외부 전원 장치로부터 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단에 상기 제1 전압이 인가되도록 상기 전원 스위치를 온시키는, 전자 장치.
◈청구항 11은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈

청구항 1에 있어서,
상기 적어도 하나의 감지 라인과 교차하고 상기 복수의 픽셀들 각각에 게이트 전압을 제공하기 위한 제2 그룹 라인들;을 더 포함하고,
상기 디스플레이 구동 회로는 상기 상기 제2 그룹 라인들과 전기적으로 연결되어 상기 복수의 픽셀들 각각에 상기 게이트 전압을 제공하는 복수의 게이트 증폭기들을 더 포함하고,
지정된 시간 간격에 따라 상기 복수의 소스 증폭기들 및 상기 복수의 게이트 증폭기들을 순차적으로 하나씩 이용하여 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단에 상기 제1 전압을 순차적으로 인가하고,
상기 제1 전압과 상기 제2 전압의 차이에 기초하여 상기 복수의 소스 증폭기들 및 상기 복수의 게이트 증폭기들의 이상 여부를 상기 지정된 시간 간격에 따라 순차적으로 확인하는, 전자 장치.
◈청구항 12은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈

청구항 11에 있어서,
상기 복수의 소스 증폭기들은 상기 복수의 소스 증폭기들의 출력단에 각각 배치되는 제1 그룹 소스 스위치들을 더 포함하고,
상기 복수의 게이트 증폭기들은 상기 복수의 게이트 증폭기들의 출력단에 각각 배치되는 제1 그룹 게이트 스위치들을 더 포함하고,
상기 디스플레이 구동 회로는 상기 제1 그룹 소스 스위치들 및 제1 그룹 게이트 스위치들을 상기 지정된 시간 간격에 따라 순차적으로 하나씩 온시킴으로써 상기 지정된 시간 간격에 따라 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단에 상기 제1 전압을 순차적으로 인가하는, 전자 장치.
◈청구항 13은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈

청구항 1에 있어서,
지정된 전압을 공급하는 외부 전원 장치;를 더 포함하고,
상기 디스플레이 패널은 상기 외부 전원 장치 및 상기 제1 그룹 라인들 각각을 전기적으로 연결하는 제1 그룹 트랜지스터들을 더 포함하고,
상기 디스플레이 구동 회로는 상기 제1 그룹 트랜지스터들의 게이트 단자에 게이트 전압을 인가하기 위한 게이트 증폭기 및 상기 제1 그룹 라인들 상에 배치되어 상기 제1 그룹 트랜지스터 및 상기 적어도 하나의 감지 라인을 선택적으로 연결하는 제2 그룹 스위치들을 더 포함하고,
상기 디스플레이 구동 회로는 상기 수신된 지정된 신호에 응답하여 상기 제1 그룹 트랜지스터가 도통(turn on)되도록 상기 게이트 증폭기를 이용하여 상기 제1 그룹 트랜지스터의 게이트 단자에 게이트 전압을 인가하고,
지정된 시간 간격에 따라 상기 제2 그룹 스위치들을 순차적으로 하나씩 온 시키고,
상기 외부 전원 장치를 이용하여 상기 지정된 시간 간격에 따라 상기 제1 그룹 트랜지스터 중 어느 하나 및 상기 제1 그룹 그룹 라인들 중 어느 하나를 통해 상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단에 제1 전압을 순차적으로 인가하고,
상기 제1 전압과 상기 제2 전압의 차이에 기초하여 상기 복수의 픽셀들의 균열 여부를 상기 지정된 시간 간격에 따라 순차적으로 확인하는, 전자 장치.
◈청구항 14은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈

청구항 1에 있어서,
상기 복수의 픽셀들 각각은 상기 제1 그룹 라인들을 통해 상기 소스 증폭기들과 전기적으로 연결되는 복수의 서브 픽셀들을 포함하고,
상기 디스플레이 구동 회로는 상기 복수의 픽셀들 중 어느 하나의 픽셀에 포함되는 서브 픽셀들이 서로 선택적으로 연결되도록 상기 감지 라인 상에서 상기 제1 그룹 라인들 중 적어도 일부 라인들 사이에 배치되는 제1 그룹 공유 스위치들을 더 포함하고,
상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단으로부터 상기 감지 회로까지 상기 적어도 하나의 감지 라인이 단락되도록 상기 제1 그룹 스위치들 및 상기 제1 그룹 공유 스위치들을 온시키는, 전자 장치.
◈청구항 15은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈

청구항 1에 있어서,
상기 복수의 픽셀들 각각은 상기 제1 그룹 라인들을 통해 상기 소스 증폭기들과 전기적으로 연결되는 복수의 서브 픽셀들을 포함하고,
상기 디스플레이 구동 회로는 상기 복수의 서브 픽셀들 중 적어도 동일한 특성의 서브 픽셀들이 서로 선택적으로 연결되도록 상기 감지 라인 상에서 상기 제1 그룹 라인들 중 적어도 일부 라인들 사이에 배치되는 제1 그룹 공유 스위치를 더 포함하고,
상기 적어도 하나의 감지 라인의 타단으로부터 상기 감지 회로까지 상기 적어도 하나의 감지 라인이 단락되도록 상기 제1 그룹 스위치들 및 상기 제1 그룹 공유 스위치들을 온시키는, 전자 장치.
삭제
삭제
삭제
디스플레이에 있어서,
복수의 서브 픽셀들을 포함하는 복수의 픽셀들을 포함하는 디스플레이 패널;
상기 복수의 서브 픽셀들과 전기적으로 연결된 하나 이상의 소스 증폭기들;
상기 복수의 서브 픽셀들 및 상기 하나 이상의 소스 증폭기들의 출력 단과 전기적으로 연결된 전원 장치;
상기 복수의 픽셀들 각각에 포함되는 상기 복수의 서브 픽셀들 사이를 선택적으로 연결하는 제1 그룹 공유 스위치들;
상기 복수의 픽셀들 사이를 선택적으로 연결하는 제1 그룹 스위치들;상기 제1 그룹 공유 스위치들 및 상기 제1 그룹 스위치들을 통해 상기 복수의 서브 픽셀들 또는 상기 하나 이상의 소스 증폭기들과 선택적으로 연결되는 감지 회로; 및
상기 하나 이상의 소스 증폭기들의 입력 단자 및 상기 감지 회로와 전기적으로 연결되는 디스플레이 구동 회로;를 포함하고, 상기 디스플레이 구동 회로는,
상기 제1 그룹 공유 스위치들 중 적어도 일부 및 상기 제1 그룹 스위치들 중 적어도 일부를 온(on) 시키고,
상기 전원 장치로부터 공급된 제1 전압이 상기 제1 그룹 공유 스위치들 중 적어도 일부 및 상기 제1 그룹 스위치들 중 적어도 일부를 통해 상기 감지 회로로 전달된 제2 전압을 감지하고, 및
상기 감지된 제2 전압에 적어도 기반하여 상기 디스플레이의 균열과 관련된 정보를 확인하도록 설정된, 디스플레이.
◈청구항 20은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈

청구항 19에 있어서,
상기 전원 장치의 출력 단에 배치되는 전원 스위치;를 더 포함하고,
상기 디스플레이 구동 회로는 상기 전원 장치로부터 상기 제1 전압이 공급되도록 상기 전원 스위치를 온시키는, 디스플레이.