KR101226532B1 - 스위치 제어 유닛, 액정 셀 조립 후 검사 장치와 방법 - Google Patents

스위치 제어 유닛, 액정 셀 조립 후 검사 장치와 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 스위치 제어 유닛, 액정 셀 조립 후 검사 장치와 방법을 개시하고, 액정 디스플레이의 제조 분야에 관한 것으로서, 액정 디스플레이 구동기 신호의 출력에 대한 제어 및 종래 기술이 액정 표시 패널의 불량 위치를 확정하기 어려운 문제를 해결할 수 있다. 스위치 제어 유닛은, 액정 디스플레이 구동기에 입력되는 신호를 제어하여 액정 디스플레이 구동기 신호의 출력을 제어하기 위해 사용되며, 제어 신호 발생기와 스위치 모듈을 구비한다. 액정 셀 조립 후 검사 장치는 게이트 구동기에 접속되고 게이트 구동기에 입력되는 신호의 온/오프를 제어하여 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어하는 스위치 제어 유닛을 구비한다. 액정 셀 조립 후 검사 방법은, 검사 신호를 입력하는 단계와, 게이트 구동기에 입력되는 신호의 온/오프를 제어하여 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어하고 액정 표시 패널의 불량 위치를 확정하는 단계를 구비한다. 본 발명은 액정 셀 조립 후의 검사에 적용한다.

Description

스위치 제어 유닛, 액정 셀 조립 후 검사 장치와 방법{Switch control unit, test apparatus and method for liquid crystal cell}
이 발명은 액정 디스플레이의 제조 분야에 관한 것으로서, 특히 액정 셀 조립 후의 검사에 관한 것이다.
현재, TFT-LCD(박막 트랜지스터 액정 디스플레이)의 액정 셀 조립 후의 검사는 데이터 신호를 변경함으로써 다른 검사 화면을 실현하는 것이 대부분이다. 그 목적은 각종 액정 표시 패널의 불량을, 다같이 특정 검사 화면에서 조작원에 의해 육안으로 검출하여 불량의 위치를 확정하는 것이다. 그러나 이와 같은 데이터 신호를 변경함으로써 다른 검사 화면을 실현하는 검사 방식은, 게이트 주사 신호의 검사에서의 중요 의의를 충분히 중시하지 않기 때문에 액정 표시 패널의 수많은 결함, 예를 들면 데이터 라인과 게이트 주사 라인의 합선 불량 등은 검사 화면에서 충분히 표시될 수 없다. 그래서 이와 같은 검사 방법은 불량 현상을 전면적으로 반영할 수 없고 동시에 조작원이 불량 위치의 정확한 좌표 정보를 획득하기 어려워 유지, 분석과 개선에 큰 어려움을 초래한다.
게이트 주사 라인이 게이트 주사 신호를 싣는다. 동일 화면에서 어느 행의 게이트 주사 라인은 약 10∼30㎲의 TFT 턴온 전압을 1회만 출력하여 턴온 전압의 전압값이 일반적으로는 15∼30볼트이고, 다른 기간에서 게이트 주사 라인은 게이트 주사 신호의 출력이 함께 턴오프되는 상태가 되며 일반적으로는 ―3 내지 ―10볼트이다. 데이터 라인에 싣는 신호 전압은 표시하고자 하는 화면 정보를 나타내며 일반적으로는 0∼15볼트이다. 노멀리 화이트 모드(Normally White mode)에서 공공 전극 전압에 대한 절대값이 가장 큰 신호 전압은 검은색 화면 정보를 나타낸다.
데이터 라인과 게이트 주사 라인의 합선 불량은 전기 합선에 의해 데이터 라인과 게이트 주사 라인이 서로 교섭하는 문제로서, DGS(Data Gate Short Circuit)불량이라고 부른다. DGS불량이 있는 데이터 라인은 대부분의 시간 동안 게이트 주사 라인 턴오프 신호(음전압 신호)로 제어되기 때문에 데이터 라인 방향에 따라 전압 경사도를 형성하여 전압이 합선 교차점에서 최소가 된다.
도 1에 도시한 바와 같이, 현재의 액정 셀 조립 후 검사 장치는 검사 신호 발생기(200)와 직류 모듈(300)과, 상기 검사 신호 발생기(200)에 접속되는 시퀀스 제어기(400)와, 상기 직류 모듈(300)과 시퀀스 제어기(400)에 접속되는 게이트 구동기(500)와, 및 상기 시퀀스 제어기(400)에 접속되는 소스 구동기(600)를 구비한다. 검사할 때, 검사 신호 발생기(200)가 검사 신호를 생성하여 시퀀스 제어기(400)에 입력하고, 직류 모듈(300)이 하이 레벨 신호와 로우 레벨 신호를 생성하고, 게이트 구동기(500)는 시퀀스 제어기(400)가 생성하는 프레임 온 제어 신호에 의해 하이 레벨 신호와 로우 레벨 신호를 변조하여 게이트 주사 신호를 출력하고, 동시에 시퀀스 제어기(400)는 계조 화면 신호(gray scale picture signal)를 출력하고 소스 구동기(600)에 의해 화소 유닛을 구동하여 스크린으로 검사 결과의 화면을 표시할 수 있다.
도 2에 도시한 바와 같이 조립 후의 검사에서, 예를 들면 종래의 L0검사 화면에서 DGS 불량이 있는 데이터 라인 방향으로 전압 경사도를 형성하기 때문에 합선된 데이터 라인이 존재하는 곳, 휘도가 점차 변화되는 선을 나타내지만 위치가 불명료하다. DGS 불량이 있는 게이트 주사 라인은 온 신호가 출력될 때 데이터 라인에서의 계조 화면 신호의 영향을 받아 전압이 낮아져 해당 행의 모든 TFT 충전 전류가 낮아지게 하고, 즉 충전 부족이 되고, 오프 신호가 출력될 때 데이터 라인에서의 계조 화면 신호의 영향을 받아 전압이 올라가 해당 행의 모든 TFT 오프 전류가 올라가게 하고, 즉 전류를 유지할 수 없다. 그러나 해당 행의 각 화소 전극 전압이 게이트 주사 라인과 데이터 라인 사이의 합선 영향을 받는데, 정상적인 순차 주사 과정 중에 이와 같은 영향은 인접 행에 비하면 분명히 나타내어 조작원에게 식별될 수 없다. 그래서 문제가 있는 게이트 주사 라인과 데이터 라인의 교차점을 확정할 수 없다. 즉, DGS 불량의 위치가 불명료하다.
본 발명의 목적은, 액정 디스플레이 구동기에 입력되는 신호를 제어하여 액정 디스플레이 구동기 신호의 출력을 제어할 수 있는 스위치 제어 유닛을 제공하는 데 있다.
상기 목적을 달성하기 위해 본 발명의 일실시예는 이하의 기술 방안을 채용한다.
액정 디스플레이 구동기에 입력되는 신호를 제어하여 액정 디스플레이 구동기 신호의 출력을 제어하기 위해 사용되는 스위치 제어 유닛으로서,
제어 신호 발생기와, 상기 제어 신호 발생기에 접속되는 스위치 모듈을 구비하고, 상기 제어 신호 발생기는 주기적인 제어 신호를 생성하기 위해 사용되고, 상기 스위치 모듈은 상기 제어 신호에 기초하여 액정 디스플레이 구동기에 입력되는 신호를 제어하여 액정 디스플레이 구동기 신호의 출력을 제어하기 위해 사용되는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 관한 스위치 제어 유닛은, 제어 신호 발생기와 스위치 모듈을 설치함으로써 제어 신호 발생기가 생성하는 주기적인 제어 신호를 사용하여 액정 디스플레이 구동기에 입력되는 신호를 제어하고 액정 디스플레이 구동기 신호의 출력을 제어하는 목적을 실현한다.
본 발명은, 액정 표시 패널의 불량 위치를 검출할 수 있는 액정 셀 조립 후 검사 장치를 더 제공한다.
상기 목적을 달성하기 위해 본 발명의 일실시예는 이하의 기술 방안을 채용한다.
액정 셀 조립 후 검사 장치로서, 검사 신호 발생기와, 직류 모듈과, 상기 검사 신호 발생기에 접속되는 시퀀스 제어기와, 상기 직류 모듈과 시퀀스 제어기에 접속되는 게이트 구동기와, 상기 시퀀스 제어기에 접속되는 소스 구동기와, 상기 게이트 구동기에 접속되는 스위치 제어 유닛을 구비한다.
그 중, 상기 검사 신호 발생기는 검사 신호를 생성하기 위해 사용되고, 상기 직류 모듈은 하이 레벨 신호와 로우 레벨 신호를 생성하기 위해 사용되고, 상기 시퀀스 제어기는 상기 검사 신호에 기초하여 프레임 온 제어 신호와 계조 화면 신호를 생성하기 위해 사용되고, 상기 게이트 구동기는 상기 프레임 온 제어 신호, 하이 레벨 신호와 로우 레벨 신호의 제어에 게이트 주사 신호를 생성하기 위해 사용되고, 상기 소스 구동기는 상기 계조 화면 신호를 사용하여 액정 셀내의 화소 유닛을 구동하기 위해 사용되고, 상기 스위치 제어 유닛은 게이트 구동기에 입력되는 신호의 온/오프를 제어하여 상기 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어한다.
본 발명은 검사 신호 발생기, 직류 모듈, 상기 검사 신호 발생기에 접속되는 시퀀스 제어기, 상기 직류 모듈과 시퀀스 제어기에 접속되는 게이트 구동기 및 상기 시퀀스 제어기에 접속되는 소스 구동기를 설치하고, 상기 게이트 구동기에 접속되어 게이트 구동기에 입력되는 신호의 온/오프를 제어하여 게이트 구동기에서 출력하는 상기 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어하는 스위치 제어 유닛을 더 설치함으로써 스크린에서 액정 표시 패널의 불량 위치를 검출할 수 있다.
본 발명은 나아가 액정 표시 패널의 불량 위치를 검출할 수 있는 액정 셀 조립 후 검사 방법을 제공한다.
상기 목적을 달성하기 위해 본 발명의 일실시예는 이하의 기술 방안을 채용한다.
검사 신호를 입력하는 단계와, 게이트 구동기에 입력되는 신호의 온/오프를 제어하여 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어하고 스크린에서의 불량 위치를 확정하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 한다.
본 발명이 제공하는 액정 셀 조립 후 검사 방법은, 검사 신호를 입력하여 게이트 구동기에 입력되는 신호의 온/오프를 더 제어하여 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어함으로써 스크린에서 액정 표시 패널의 불량 위치를 검출할 수 있다.
도 1은 종래 기술에 관한 액정 셀 조립 후 검사 장치의 모식도이다.
도 2는 종래 기술에 관한 액정 셀 조립 후에 LO 계조 화면에서 DGS 불량을 검사할 때 표시하는 화면이다.
도 3은 본 발명에 관한 스위치 제어 유닛의 모식도이다.
도 4는 본 발명에 관한 스위치 제어 유닛의 실시예 1의 모식도이다.
도 5는 본 발명에 관한 스위치 제어 유닛의 실시예 2의 모식도이다.
도 6은 본 발명에 관한 액정 셀 조립 후 검사 장치의 실시예 1의 모식도이다.
도 7은 본 발명에 관한 액정 셀 조립 후 검사 장치의 실시예 1의 신호 모식도이다.
도 8은 본 발명에 관한 액정 셀 조립 후 검사 장치의 실시예 1의 L0 계조 화면에서 DGS불량을 검사할 때 표시하는 화면이다.
도 9는 본 발명에 관한 액정 셀 조립 후 검사 장치의 실시예 1의 L127 계조 화면에서 "바둑판 얼룩" 불량을 검사할 때 표시하는 화면이다.
도 10은 본 발명에 관한 액정 셀 조립 후 검사 장치의 실시예 2의 모식도이다.
도 11은 본 발명에 관한 액정 셀 조립 후 검사 장치의 실시예 2의 직류 모듈의 모식도이다.
도 12는 본 발명에 관한 액정 셀 조립 후 검사 장치의 실시예 2의 신호 모식도이다.
도 13은 본 발명에 관한 액정 셀 조립 후 검사 방법의 흐름도이다.
도 14는 본 발명에 관한 액정 셀 조립 후 검사 방법의 실시예 1의 흐름도이다.
도 15는 본 발명에 관한 액정 셀 조립 후 검사 방법의 실시예 2의 흐름도이다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명에 관한 액정 셀 조립 후 검사 장치와 방법에 대해서 상세히 설명하기로 한다.
본 발명은, 액정 디스플레이 구동기에 입력되는 신호를 제어하여 액정 디스플레이 구동기 신호의 출력을 제어할 수 있는 스위치 제어 유닛을 제공한다.
도 3에 도시한 바와 같이, 본 발명의 스위치 제어 유닛은, 액정 디스플레이 구동기에 입력되는 신호를 제어하여 액정 디스플레이 구동기 신호의 출력을 제어하기 위해 사용된다. 상기 스위치 제어 유닛은 제어 신호 발생기(110), 제어 신호 발생기(110)에 접속되는 스위치 모듈(120)을 구비한다.
상기 제어 신호 발생기(110)는 주기적인 제어 신호를 생성하기 위해 사용된다.
상기 스위치 모듈(120)은 상기 제어 신호에 기초하여 액정 디스플레이 구동기에 입력되는 신호를 제어하여 액정 디스플레이 구동기 신호의 출력을 제어하기 위해 사용된다.
본 발명의 스위치 제어 유닛은 제어 신호 발생기와 스위치 모듈을 설치함으로써 제어 신호 발생기가 생성하는 주기적인 제어 신호를 이용하여 액정 디스플레이 구동기에 입력되는 신호를 제어하여 액정 디스플레이 구동기 신호의 출력을 제어하는 것을 실현한다.
<스위치 제어 유닛의 실시예 1>
본 실시예에 관한 스위치 제어 유닛은 게이트 구동기 신호의 출력 제어에 적용되고 게이트 구동기에 입력되는 프레임 온 신호의 온/오프를 제어함으로써 게이트 구동기가 출력하는 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어한다.
도 4에 도시한 바와 같이, 본 실시예에 관한 스위치 제어 유닛은 제어 신호 발생기(110) 및 제어 신호 발생기(110)에 접속되는 광스위치(130)를 구비하고, 상기 제어 신호 발생기(110)와 광스위치(130) 사이에 하나의 보호 저항(R)을 설치하였다. 광스위치(130)의 또 하나의 단자가 어스에 접속된다. 사용시에는 광스위치(130)의 단자(C)가 시퀀스 제어기에 접속되기 때문에 단자(C)에서 광스위치에 입력되는 신호가 프레임 온 제어 신호로서, 도 7에 도시한 V2가 된다.
도 7에 도시한 바와 같이, 제어 신호 발생기(110)는 사각형파 신호(V1)를 생성하기 위해 사용된다. 광스위치(130)는 V1에 기초하여 상기 프레임 온 제어 신호(V2)의 온/오프를 제어한다. 사각형파 신호(V1)가 하이 레벨일 때, 프레임 온 제어 신호(V2)가 단자(D)에서 출력되도록 제어하고, 사각형파 신호(V1)가 로우 레벨일 때 프레임 온 제어 신호(V2)가 오프되도록 제어하기 때문에 단자(D)에서 출력되지 않는다. 도 7에 도시되는 V2'는 제어된 후 게이트 구동기에 입력되는 신호이고, Vs는 게이트 구동기에서 각 행의 게이트 주사 라인으로 출력하는 게이트 주사 신호이므로 게이트 구동기가 출력하는 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어할 수 있다.
본 실시예에서의 스위치 제어 유닛은 소스 구동기 신호의 출력 제어에도 적용할 수 있고, 소스 구동기에 입력되는 신호의 온/오프를 제어함으로써 소스 구동기에서 출력하는 신호의 온/오프를 제어한다.
<스위치 제어 유닛의 실시예 2>
본 실시예에 관한 스위치 제어 유닛은 게이트 구동기 신호의 출력 제어에 적용된다. 직류 모듈이 생성하는 하이 레벨 신호와 로우 레벨 신호 및 프레임 온 제어 신호는 게이트 구동기에 입력되어 게이트 주사 신호를 생성할 수 있다. 본 실시예에 관한 스위치 제어 유닛은 직류 모듈이 생성하는, 게이트 구동기에 입력되는 하이 레벨 신호와 로우 레벨 신호의 온/오프를 제어함으로써 게이트 구동기에서 출력되는 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어한다.
도 5에 도시한 바와 같이, 본 실시예에 관한 스위치 제어 유닛은, 제어 신호 발생기(110) 및 제어 신호 발생기(110)에 접속되는 스위치 모듈(120)을 구비한다. 구체적으로는, 스위치 모듈(120)이 제1 스위치 모듈(121)과 제2 스위치 모듈(122)을 구비한다.
도 12에 도시한 바와 같이, 제어 신호 발생기(110)는 사각형파 신호(V1)를 생성한다. 제1 스위치 모듈(121)의 E단자가 직류 모듈의 하이 레벨 출력 단자에 접속되고, 제2 스위치 모듈(122)의 F단자가 직류 모듈의 로우 레벨 출력 단자에 접속된다. 직류 모듈이 출력하는 하이 레벨 신호와 로우 레벨 신호는, 각각 도 12에 도시한 V3와 V4이다. 사각형파(V1)가 하이 레벨이 될 때, 제1 스위치 모듈(121)은 V3이 단자(G)에서 출력되도록 제어하고, 제2 스위치 모듈(122)는 V4가 단자(H)에서 출력되도록 제어한다. 사각형파(V1)가 로우 레벨이 될 때 제1 스위치 모듈(121)과 제2 스위치 모듈(122)은 단자(G),(H)에서 신호를 출력하지 않도록 각각 제어한다. 도 12에 도시한 V3'와 V4'는 스위치 모듈(120)에 의해 제어된 후 각각 단자(G),(H)에서 출력되는 신호이고, Vs는 게이트 구동기에서 각 행의 게이트 주사 라인으로 출력하는 게이트 주사 신호이므로 게이트 구동기가 출력하는 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어한다.
시퀀스 제어기에서 소스 구동기로 입력되는 신호가 많기 때문에 본 실시예에 제공하는 스위치 제어 유닛을 이용하고, 목적을 가지고 2개의 신호를 선택하도록 제어하여 소스 구동기 신호의 출력을 제어할 수 있다.
본 발명에 관한 스위치 제어 유닛은 사각형파를 생성하기 위한 제어 신호 발생기와, 상기 사각형파에 기초하여 액정 디스플레이 구동기에 입력되는 신호를 제어하여 액정 디스플레이 구동기 신호의 출력을 제어하기 위한 스위치 모듈을 구비한다. 본 장치는 액정 셀의 게이트 구동기에 접속될 때 게이트 구동기에 입력되는 프레임 온 제어 신호 또는 직류 모듈이 생성하는 하이 레벨 신호와 로우 레벨 신호의 온/오프를 제어할 수 있기 때문에 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어할 수 있다. 본 장치는 액정 셀의 소스 구동기에 접속될 때 소스 구동기에 입력되는 신호의 온/오프를 제어할 수 있기 때문에 소스 구동기에서 출력되는 신호 온/오프를 제어할 수 있다. 본 발명은, 액정 셀 조립 후의 검사에 적용하여 게이트 구동기 또는 소스 구동기의 신호 출력을 제어함으로써 액정 표시 패널의 불량 위치 혹은 불량 타입을 검출할 수 있다.
본 발명은 검사 신호 발생기와, 직류 모듈과, 상기 검사 신호 발생기에 접속되는 시퀀스 제어기와, 상기 직류 모듈과 시퀀스 제어기에 접속되는 게이트 구동기와, 상기 시퀀스 제어기에 접속되는 소스 구동기와, 상기 게이트 구동기에 접속되는 스위치 제어 유닛을 구비한 액정 셀 조립 후 검사 장치를 제공한다.
그 중, 상기 검사 신호 발생기는 검사 신호를 생성하기 위해 사용한다.
상기 직류 모듈은 하이 레벨 신호와 로우 레벨 신호를 생성하기 위해 사용한다.
상기 시퀀스 제어기는 상기 검사 신호에 기초하여 프레임 온 제어 신호와 계조 화면 신호를 생성하기 위해 사용한다.
상기 게이트 구동기는 상기 프레임 온 제어 신호, 하이 레벨 신호와 로우 레벨 신호의 제어로 게이트 주사 신호를 생성하기 위해 사용한다.
상기 소스 구동기는 상기 계조 화면 신호를 사용하여 액정 셀내의 화소 유닛을 구동한다.
상기 스위치 제어 유닛은 게이트 구동기에 입력되는 신호의 온/오프를 제어하여 상기 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어한다.
본 발명은 검사 신호 발생기와, 직류 모듈과, 상기 검사 신호 발생기에 접속되는 시퀀스 제어기와, 상기 직류 모듈과 시퀀스 제어기에 접속되는 게이트 구동기와, 상기 시퀀스 제어기에 접속되는 소스 구동기를 설치하고, 상기 게이트 구동기에 더 접속되어 게이트 구동기에 입력되는 신호의 온/오프를 제어하여 상기 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어하는 스위치 제어 유닛을 설치함으로써 스크린으로 액정 표시 패널의 불량 위치를 검출할 수 있다.
<검사 장치의 실시예 1>
도 6에 도시한 바와 같이, 본 발명의 실시예 1의 액정 셀 조립 후 검사 장치는, 검사 신호 발생기(200), 직류 모듈(300), 상기 검사 신호 발생기(200)에 접속되는 시퀀스 제어기(400), 상기 직류 모듈(300)과 시퀀스 제어기(400)에 접속되는 게이트 구동기(500), 시퀀스 제어기(400)에 접속되는 소스 구동기(600) 및 상기 시퀀스 제어기(400)와 게이트 구동기(500) 사이에 접속되는 스위치 제어 유닛(100)을 구비한다. 또 게이트 구동기의 출력단이 액정 셀(A)의 게이트 주사 라인에 접속되고, 소스 구동기(600)의 출력단이 액정 셀(A)의 데이터 라인에 접속된다.
그 중, 상기 검사 신호 발생기(200)는 검사 신호를 생성하기 위해 사용한다.
상기 직류 모듈(300)은 하이 레벨 신호와 로우 레벨 신호를 생성하기 위해 사용한다.
상기 시퀀스 제어기(400)는 상기 검사 신호에 기초하여 프레임 온 제어 신호와 계조 화면 신호를 생성하기 위해 사용한다.
상기 게이트 구동기(500)는 하이 레벨 신호, 로우 레벨 신호와 상기 프레임 온 제어 신호의 제어로 게이트 주사 신호를 생성하기 위해 사용한다.
상기 소스 구동기(600)는 상기 계조 화면 신호를 사용하여 액정 셀내의 화소 유닛을 구동한다.
상기 스위치 제어 유닛(100)은 게이트 구동기에 입력되는 신호의 온/오프를 제어하여 상기 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어한다.
도 4에 도시한 바와 같이 본 실시예에서 상기 스위치 제어 유닛(100)은 제어 신호 발생기(110)와 광스위치(130)를 구비한다.
제어 신호 발생기(110)는 주기적인 사각형파 신호를 생성한다. 상기 주기적인 사각형파 신호의 주기가 상기 프레임 온 제어 신호의 주기보다 크다. 도 7에 도시한 바와 같이 V1이 사각형파 신호이고, V2가 프레임 온 제어 신호이고, V1의 주기가 V2의 주기보다 크다.
광스위치(130)의 C단자가 시퀀스 제어기(400)에 접속되고, D단자가 게이트 구동기(500)에 접속된다. 광스위치(130)는 보호 저항(R)을 통해 제어 신호 발생기(110)에 접속되고, 광스위치(130)의 또 하나의 단자가 어스에 접속된다.
광스위치(130)는 사각형파 신호(V1)가 하이 레벨일 때, 프레임 온 제어 신호(V2)가 단자(D)에서 상기 게이트 구동기(500)에 입력되도록 제어하고, 사각형파 신호(V1)가 로우 레벨일 때, 프레임 온 제어 신호(V2)가 오프되도록 제어한다. 도 5에 도시한 바와 같이 V2'는 스위치 제어 유닛(100)을 통과한 후 게이트 구동기(500)에 입력되는 신호이고, Vs는 게이트 구동기(500)에서 각 행의 게이트 주사 라인으로 출력하는 게이트 주사 신호이다.
이하, 본 실시예의 동작 원리를 소개하기로 한다. 액정 셀 중의 액정 표시 패널에서 DGS불량이 있으면 L0 계조 화면 신호를 사용하여 검사한 결과, 검사 과정 중, 도 8에서의 왼쪽 도면에 도시한 화면이 나타난다. 해당 왼쪽 도면에서의 휘도가 점차 변화되는 선은 DGS불량이 있는 데이터 라인의 위치를 가리킨다. 스위치 제어 유닛에 의해 게이트 구동기를 제어하여 게이트 주사 신호를 밖으로 출력할 수 없는 경우, 각 화소의 TFT가 오프 상태가 되어 화소 전극이 충방전될 수 없기 때문에 유지 상태가 되는데, DGS불량이 있는 게이트 주사 라인은, 데이터 라인 신호가 합선되는 것에 영향을 받아 전압이 올라가 해당 행의 TFT부분이 온되어 누설 전류가 인접 행의 화소 유닛보다 커지고, 도 8에서의 오른쪽 도면에 도시한 흰색 또는 회색 선 또는 점차 변화되는 선을 생성한다. 제어 유닛이 주기적인 제어를 하는 것 및 육안의 잔류 효과에 의해 스크린에서 종방향의 밝은 선과 횡방향의 흰 선이 동시에 나타나는 것을 볼 수 있다. 이 때, 조작원은 종방향의 밝은 선의 횡좌표와 횡방향의 흰 선의 종좌표를 확정하거나 또는 다른 위치 결정 장치를 사용하여 DGS불량의 위치를 찾아낼 수 있다.
아울러 화면 얼룩 문제도 액정 표시 패널 품질의 주요 문제 중 하나로서 조립 공정에 의한 셀 두께의 불균일이 일으키는 화면 얼룩, 어레이 기판 집적 회로 공정에서 각 화소 TFT 특성의 차별에 의한 화면 얼룩 및 각 화소 용량의 차별에 의한 화면 얼룩 등이 있다. 이러한 액정 표시 패널의 품질 문제는, 종래의 액정 셀 조립 후 검사 방법을 사용하여 간단히 구별할 수 없고, 이러한 불량을 강화시켜야 비로소 육안으로 식별할 수 있다. 예를 들면, 액정 표시 패널의 "바둑판 얼룩" 불량에 대해서도 본 발명에 관한 검사 장치의 실시예 1을 이용하여 검사할 수 있다. 예를 들면, L127 계조 화면 신호를 채용하여 검사할 경우, 검사 신호가 입력된 후 스크린에서 표시하는 결과가 도 9의 왼쪽 도면과 같이 나타난다. 스위치 제어 유닛에 의해 게이트 주사 신호를 턴오프하도록 제어할 때, 스크린에서 표시하는 검사 결과가 도 9의 오른쪽 도면과 같이 나타난다. 게이트 주사 신호를 오프시키도록 주기적으로 제어함으로써 왼쪽 도면과 오른쪽 도면의 화면의 전환 및 육안의 잔류 효과에 의해 "바둑판 얼룩" 불량의 위치를 분명하게 확정할 수 있다. 다른 타입의 액정 표시 패널의 불량은 스크린에서 표시하는 화면이 다르기 때문에 본 실시예에 관한 액정 셀 조립 후 검사 장치가 다른 타입의 액정 표시 패널의 불량을 구별할 수 있다.
<검사 장치의 실시예 2>
본 실시예의 구조도를 도 10에 도시한다. 본 실시예와 검사 장치 실시예 1의 구별은, 스위치 제어 유닛(100)은 직류 모듈(300)과 게이트 구동기(500) 사이에 접속되어, 직류 모듈(300)이 생성하는 하이 레벨 신호와 로우 레벨 신호를 상기 게이트 구동기(500)에 입력시키거나 오프시키도록 주기적으로 제어한다.
도 11에 도시한 바와 같이, 상기 직류 모듈(300)은 제1 직류 모듈(310)과 제2 직류 모듈(320)을 구비하고, 상기 제1 직류 모듈(310)이 하이 레벨 신호를 생성하기 위해 사용되고, 상기 제2 직류 모듈(320)이 로우 레벨 신호를 생성하기 위해 사용된다.
도 5에 도시한 바와 같이, 스위치 제어 유닛(100)은 제어 신호 발생기(110)와 스위치 모듈(120)을 구비한다. 스위치 모듈(120)은 직류 모듈(300)과 게이트 구동기(500) 사이에 접속된다. 스위치 모듈(120)은 제1 스위치 모듈(121)과 제2 스위치 모듈(122)를 구비하고, 제1 스위치 모듈(121)이 E단자에 의해 제1 직류 모듈(310)에 접속되고, 제2 스위치 모듈(122)가 F단자에 의해 제2 직류 모듈(320)에 접속된다.
도 12에 도시한 바와 같이, V1은 제어 신호 발생기(110)이 생성하는 사각형파 신호이고, V3, V4는 게이트 구동기(500)에 입력되는 하이 레벨 신호와 로우 레벨 신호이다. 제1 스위치 모듈(121)은 사각형파 신호(V1)에 기초하여 상기 하이 레벨 신호(V3)의 온/오프를 제어하고, 제2 스위치 모듈(122)은 사각형파 신호(V1)에 기초하여 상기 로우 레벨 신호(V4)의 온/오프를 제어한다. V3',V4'는 스위치 제어 유닛(100)을 통과한 후 G,H단자에서 게이트 구동기(500)로 입력되는 신호이다. Vs는 게이트 구동기(500)에서 각 행의 게이트 주사 라인으로 출력되는 게이트 주사 신호이다.
본 실시예는 게이트 구동기에 입력되는 신호의 온/오프를 제어함으로써 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어하여 검사 장치의 실시예 1에서의 DGS불량의 검사를 실현할 수 있다.
본 발명의 실시예는 검사 신호 발생기, 직류 모듈, 시퀀스 제어기, 상기 직류 모듈과 시퀀스 제어기에 접속되는 게이트 구동기, 상기 시퀀스 제어기에 접속되는 소스 구동기, 및 상기 시퀀스 제어기와 상기 게이트 구동기 사이에 접속되거나 또는 상기 직류 모듈과 상기 게이트 구동기 사이에 접속되는 스위치 제어 유닛을 설치하고, 또한 그 중, 스위치 제어 유닛이 게이트 구동기에 입력되는 신호의 온/오프를 제어하여 상기 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어함으로써 검사 화면에 불량의 위치를 표시할 수 있다. 아울러 본 발명의 실시예는 상기 스위치 제어 유닛이 상기 시퀀스 제어기와 게이트 구동기 사이에 접속되는 것을 적절하게 선택할 때, 액정 표시 패널의 불량 타입의 검사를 실현할 수 있다. 다른 불량 타입은 스크린에서 다른 화면을 표시하기 때문에 본 발명은 다른 타입의 액정 표시 패널 불량을 검사할 수 있다.
본 발명은, 액정 표시 패널의 불량 위치를 검사할 수 있는 액정 셀 조립 후 검사 방법도 제공한다.
도 13에 도시한 바와 같이, 본 실시예의 액정 셀 조립 후 검사 방법은,
S1301, 검사 신호를 입력하고,
S1302, 게이트 구동기에 입력되는 신호의 온/오프를 제어함으로써 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어하여 액정 표시 패널에서의 불량 위치를 확정하는 단계를 구비한다.
본 발명은 검사 신호를 입력하고 나아가 게이트 구동기에 입력되는 신호의 온/오프를 제어함으로써 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어하여 액정 표시 패널로의 불량 위치를 검출할 수 있다.
<방법 실시예 1>
도 14에 도시한 바와 같이, 본 실시예에서 액정 셀 조립 후 검사 방법은 이하의 단계를 구비한다:
S1401, 특정 검사 신호를 시퀀스 제어기에 입력한다.
S1402, 게이트 구동기에 입력되는 프레임 온 제어 신호의 온/오프를 주기적으로 제어하여 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어한다.
구체적으로는 사각형파 신호에 의해 게이트 구동기에 입력되는 프레임 온 제어 신호의 온/오프를 제어하고, 상기 사각형파 신호가 하이 레벨일 때, 상기 프레임 온 제어 신호가 상기 게이트 구동기에 입력되도록 제어하고, 사각형파 신호가 로우 레벨일 때, 상기 프레임 온 제어 신호가 오프되도록 제어한다. 상기 사각형파 신호가 도 7에 도시되는 V1이고, 프레임 온 제어 신호가 도 7에 도시되는 V2이고, 또한 V1의 주기는 V2의 주기보다 크다. V2'는 V1에 제어된 후 게이트 구동기에 입력되는 신호이고, Vs는 게이트 구동기에서 각 행의 게이트 주사 라인으로 출력하는 게이트 주사 신호이다.
이로써 알 수 있듯이 V1이 하이 레벨일 때 게이트 구동기는 게이트 주사 신호를 생성하여 게이트 주사 라인으로 출력할 수 있고, V1이 로우 레벨일 때 게이트 구동기는 게이트 주사 신호를 출력할 수 없다.
본 실시예에서 게이트 주사 신호의 온/오프를 주기적으로 제어함과 동시에 상기 검사 신호를 시퀀스 제어기로 변조한 후 소스 구동기에 L0 계조 화면 신호를 출력하고, 소스 구동기가 L0 계조 화면 신호를 이용하여 액정 표시 패널로의 화소 유닛을 구동한다.
S1403, 스크린으로 표시하는 화면에 기초하여 액정 표시 패널에서의 불량의 위치를 확정한다.
만일 액정 셀 중의 액정 표시 패널에서 DGS불량이 있으면 검사 과정 중에 도 8에서의 왼쪽 도면에 도시한 화면이 나타난다. 해당 도면에서의 휘도가 점차 변화되는 선은 DGS불량이 있는 데이터 라인의 위치를 가리킨다. 프레임 온 제어 신호를 오프시키도록 제어함으로써 게이트 구동기에 게이트 주사 신호를 밖으로 출력시킬 수 없는 경우, 각 화소의 TFT가 오프 상태가 되어 화소 전극을 충방전할 수 없기 때문에 유지 상태가 되는데, DGS불량이 있는 게이트 주사 라인은 합선에 의한 데이터 라인의 계조 화면 신호의 영향을 받아 전압이 올라가 해당 행의 TFT가 부분적으로 온되어 누설 전류가 인접 행의 화소 유닛보다 커지고, 도 8에서의 오른쪽 도면에 도시한 흰색 또는 회색 선 또는 점차 변화되는 선을 생성한다. 게이트 주사 신호의 출력에 대해 주기적인 제어를 하는 것 및 육안의 잔류 효과에 의해 스크린에서 종방향의 밝은 선과 횡방향의 흰 선이 동시에 나타나는 것을 볼 수 있다. 이 때, 조작원은 종방향의 밝은 선의 횡좌표와 횡방향의 흰 선의 종좌표를 확정하거나 또는 다른 위치 결정 장치를 사용하여 DGS불량의 위치를 찾아낼 수 있다.
구체적으로는, 각각 다른 액정 표시 패널의 불량을 검사하기 위해서는 다른 검사 신호를 채용해야 한다. 예를 들면, 액정 표시 패널의 "바둑판 얼룩" 불량에 대해서 본 발명에 관한 방법의 실시예 1을 이용하여 검사할 수 있다. 예를 들면, L127 계조 화면 신호를 채용하여 소스 구동기에 입력하여 검사를 할 경우, 스크린으로 표시하는 검사 결과가 도 9의 왼쪽 도면과 같이 나타난다. 스위치 제어 유닛에 의해 게이트 주사 신호를 턴오프하도록 제어할 때, 스크린으로 표시하는 결과가 도 9의 오른쪽 도면과 같이 나타난다. 게이트 주사 신호의 온/오프를 주기적으로 제어함으로써 왼쪽 도면과 오른쪽 도면의 화면의 전환 및 육안의 잔류 효과에 의해 "바둑판 얼룩" 불량의 위치를 분명하게 확정할 수 있다. 그래서 불량 위치 외에 액정 표시 패널의 불량 타입도 검사할 수 있다. 다른 불량 타입은 스크린에서 다른 화면을 표시하기 때문에 본 발명은 액정 표시 패널의 다른 불량을 검출할 수 있다.
<방법 실시예 2>
도 15에 도시한 바와 같이 본 실시예에서 액정 셀 조립 후 검사 방법은 이하의 단계를 구비한다:
S1501, 특정 검사 신호를 시퀀스 제어기에 입력한다.
S1502, 직류 모듈이 생성하는, 게이트 구동기에 입력되는 하이 레벨 신호와 로우 레벨 신호의 온/오프를 주기적으로 제어하여 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어한다. 구체적으로는 사각형파 신호에 의해 게이트 구동기에 입력되는 하이 레벨 신호와 로우 레벨 신호의 온/오프를 제어하고, 상기 사각형파 신호가 하이 레벨일 때, 상기 직류 모듈이 생성하는 하이 레벨 신호와 로우 레벨 신호를 상기 게이트 구동기에 입력하도록 제어하고, 상기 사각형파 신호가 로우 레벨일 때, 직류 모듈이 생성하는 하이 레벨 신호와 로우 레벨 신호가 오프되도록 제어한다. 도 12에 도시한 것은, 사각형파 신호(V1), 상기 게이트 구동기에 입력되는 하이 레벨 신호(V3)와 로우 레벨 신호(V4)의 모식도이다. 이로써 알 수 있듯이 V1이 하이 레벨인 기간에 V3와 V4가 게이트 구동기에 입력되기 때문에 게이트 구동기의 출력단이 게이트 주사 라인에 게이트 주사 신호를 출력할 수 있다. V1이 로우 레벨인 기간에 V3와 V4가 턴오프되기 때문에 게이트 구동기의 출력단이 밖으로 게이트 주사 신호를 출력할 수 없다. V3'과 V4'는 V1에 의해 제어된 후 게이트 구동기에 입력되는 신호이고, Vs는 게이트 구동기에서 각 행의 게이트 주사 라인으로 출력하는 게이트 주사 신호이다.
게이트 주사 신호의 온/오프를 주기적으로 제어함과 동시에 상기 검사 신호를 시퀀스 제어기에 의해 변조한 후 소스 구동기에 L0 계조 화면 신호를 출력하고, 소스 구동기가 L0 계조 화면 신호를 이용하여 액정 표시 패널에서의 화소 유닛을 구동한다.
S1503, 스크린으로 표시하는 화면에 기초하여 상기 스크린에서의 불량 위치를 확정한다. 만일 액정 표시 패널에서 DGS불량이 있으면 소스 구동기에 입력되는 것은 L0 계조 화면 신호이므로 스크린에 도 8의 왼쪽 도면과 오른쪽 도면이 전환되는 화상을 나타내고, 육안의 잔류 효과에 의해 종방향의 밝은 선의 횡좌표와 횡방향의 흰 선의 종좌표를 확정함으로써, 또는 다른 위치 결정 장치를 사용하여 DGS불량의 구체적인 위치를 확정할 수 있다.
본 발명이 제공하는 액정 셀 조립 후 검사 방법은, 검사 신호를 입력하여 게이트 구동기에 입력되는 신호의 온/오프를 더 제어하여 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어하고 검사 화면에서 불량 위치를 표시할 수 있다. 본 발명의 방법의 실시예 1은 게이트 구동기에 입력되는 프레임 온 제어 신호의 온/오프를 제어하여, 나아가 액정 표시 패널의 다른 불량 타입, 예를 들면 각종 화면 얼룩 문제를 일으키는 액정 표시 패널의 불량을 검출할 수 있다.
이상에 설명하는 것은, 본 발명의 구체적인 실시 방식일 뿐 본 발명의 보호 범위는 여기에 한정되지 않으며 본 기술 영역을 숙지한 기술자가 본 발명이 개시하는 기술 범위에서 용이하게 짐작할 수 있는 변화 또는 교체는 본 발명의 보호 범위에 포함된다. 본 발명 보호 범위는 청구 범위의 보호 범위를 기준으로 한다.
100 스위치 제어 유닛 110 제어 신호 발생기
120 스위치 모듈 121 제1 스위치 모듈
122 제2 스위치 모듈
130 광스위치(LAS(Light Activated Switch))
200 검사 신호 발생기 300 직류 모듈
310 제1 직류 모듈 320 제2 직류 모듈
400 시퀀스 제어기 500 게이트 구동기
600 소스 구동기 A 액정 셀

Claims (21)

  1. 게이트 구동기에 입력되는 신호를 제어하여 게이트 주사 신호의 출력을 제어하기 위해 사용되는 스위치 제어 유닛으로서,
    제어 신호 발생기;
    상기 제어 신호 발생기에 접속되는 스위치 모듈;을 구비하고,
    상기 제어 신호 발생기는 주기적인 제어 신호를 생성하기 위해 사용되고,
    상기 스위치 모듈은 상기 제어 신호에 기초하여 상기 게이트 구동기에 입력되는 신호의 온/오프를 제어하여 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어하기 위해 사용되며 액정 표시 패널의 불량 위치를 확정하며,
    상기 제어 신호는 사각형파 신호이며,
    상기 스위치 모듈은 광스위치로서,
    상기 광스위치는 상기 사각형파 신호에 기초하여 상기 게이트 구동기에 입력되는 신호의 온/오프를 제어하는 것을 특징으로 하는 스위치 제어 유닛.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제어 신호 발생기와 상기 광스위치 사이에 접속되는 보호 저항을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 스위치 제어 유닛.
  3. 제1항에 있어서, 상기 스위치 모듈은 상기 제어 신호 발생기에 접속되는 제1 스위치 모듈과 제2 스위치 모듈을 구비하고,
    상기 제1 스위치 모듈은 상기 사각형파 신호에 기초하여 상기 게이트 구동기에 입력되는 제1 신호의 온/오프를 제어하고,
    상기 제2 스위치 모듈은 상기 사각형파 신호에 기초하여 상기 게이트 구동기에 입력되는 제2 신호의 온/오프를 제어하는 것을 특징으로 하는 스위치 제어 유닛.
  4. 제3항에 있어서, 상기 제1 신호는 게이트 구동기에 입력되는 하이 레벨의 신호로서,
    상기 제2 신호는 상기 게이트 구동기에 입력되는 로우 레벨의 신호임을 특징으로 하는 스위치 제어 유닛.
  5. 소스 구동기에 입력되는 신호를 제어하여 소스 구동기 신호의 출력을 제어하기 위해 사용되는 스위치 제어 유닛으로서,
    제어 신호 발생기;
    상기 제어 신호 발생기에 접속되는 스위치 모듈;을 구비하고,
    상기 제어 신호 발생기는 주기적인 제어 신호를 생성하기 위해 사용되고,
    상기 스위치 모듈은 상기 제어 신호에 기초하여 상기 소스 구동기에 입력되는 신호의 온/오프를 제어하여 소스 구동기 출력 신호의 온/오프를 제어하기 위해 사용되며 액정 표시 패널의 불량 위치를 확정하는 것을 특징으로 하는 스위치 제어 유닛.
  6. 검사 신호 발생기;
    직류 모듈;
    상기 검사 신호 발생기에 접속되는 시퀀스 제어기;
    상기 직류 모듈과 상기 시퀀스 제어기에 접속되는 게이트 구동기;
    상기 시퀀스 제어기에 접속되는 소스 구동기를 구비하고,
    상기 검사 신호 발생기는 검사 신호를 생성하기 위해 사용되고,
    상기 직류 모듈은 하이 레벨 신호와 로우 레벨 신호를 생성하기 위해 사용되고,
    상기 시퀀스 제어기는 상기 검사 신호에 기초하여 프레임 온 제어 신호와 계조 화면 신호를 생성하기 위해 사용되고,
    상기 게이트 구동기는 상기 프레임 온 제어 신호, 하이 레벨 신호와 로우 레벨 신호의 제어로 게이트 주사 신호를 생성하기 위해 사용되고,
    상기 소스 구동기는 상기 계조 화면 신호를 사용하여 액정 셀내의 화소 유닛을 구동하기 위해 사용되는 액정 셀조립 후 검사 장치에서,
    상기 게이트 구동기에 접속되고, 상기 게이트 구동기에 입력되는 신호의 온/오프를 제어하여 상기 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어하는 스위치 제어 유닛을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 액정 셀 조립 후 검사 장치.
  7. 제6항에 있어서, 상기 스위치 제어 유닛이 상기 시퀀스 제어기와 상기 게이트 구동기 사이에 접속되는 것을 특징으로 하는 액정 셀 조립 후 검사 장치.
  8. 제7항에 있어서, 상기 스위치 제어 유닛은,
    주기적인 제어 신호로서, 또한 그 주기가 상기 프레임 온 제어 신호의 주기보다 큰 제어 신호를 생성하는 제어 신호 발생기;
    상기 게이트 구동기와 상기 시퀀스 제어기 사이에 접속되고, 또한 상기 제어 신호 발생기에 접속되고 상기 제어 신호에 기초하여 상기 게이트 구동기에 입력되는 프레임 온 제어 신호의 온/오프를 제어하는 광스위치;를 구비하는 것을 특징으로 하는 액정 셀 조립 후 검사 장치.
  9. 제8항에 있어서, 상기 스위치 제어 유닛은 상기 제어 신호 발생기와 광스위치 사이에 접속되는 보호 저항을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 액정 셀 조립 후 검사 장치.
  10. 제6항에 있어서, 상기 스위치 제어 유닛은 상기 직류 모듈과 상기 게이트 구동기 사이에 접속되는 것을 특징으로 하는 액정 셀 조립 후 검사 장치.
  11. 제10항에 있어서, 상기 스위치 제어 유닛은,
    주기적인 제어 신호를 생성하는 제어 신호 발생기;
    상기 직류 모듈과 상기 게이트 구동기 사이에 접속되고, 또한 상기 제어 신호 발생기에 접속되고, 상기 제어 신호에 기초하여 상기 게이트 구동기에 입력되는 하이 레벨 신호와 로우 레벨 신호의 온/오프를 제어하는 스위치 모듈;을 구비하는 것을 특징으로 하는 액정 셀 조립 후 검사 장치.
  12. 제11항에 있어서, 상기 직류 모듈은,
    하이 레벨 신호를 생성하기 위한 제1 직류 모듈;
    로우 레벨 신호를 생성하기 위한 제2 직류 모듈;을 구비하고,
    상기 스위치 모듈은,
    상기 제어 신호에 기초하여 상기 하이 레벨 신호의 온/오프를 제어하는 제1 스위치;
    상기 제어 신호에 기초하여 상기 로우 레벨 신호의 온/오프를 제어하는 제2 스위치;를 구비하는 것을 특징으로 하는 액정 셀 조립 후 검사 장치.
  13. 제8,9,11,12항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제어 신호가 사각형파임을 특징으로 하는 액정 셀 조립 후 검사장치.
  14. 액정 셀 조립 후 검사 방법으로서,
    검사 신호를 입력하는 단계;
    게이트 구동기에 입력되는 신호의 온/오프를 제어하여 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어하고 액정 표시 패널의 불량 위치를 확정하는 단계;를 구비하고,
    상기 게이트 구동기에 입력되는 신호의 온/오프를 제어하여 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어하고 상기 액정 표시 패널의 불량 위치를 확정하는 단계는,
    직류 모듈이 생성하는, 상기 게이트 구동기에 입력되는 하이 레벨 신호와 로우 레벨 신호의 온/오프를 제어하는 단계;,
    스크린으로 표시하는 화면에 기초하여 상기 액정 표시 패널에서의 불량 위치를 확정하는 단계;를 구비하는 것을 특징으로 하는 액정 셀 조립 후 검사 방법.
  15. 제14항에 있어서, 상기 게이트 구동기에 입력되는 신호의 온/오프를 제어하여 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어하고 액정 표시 패널의 불량 위치를 확정하는 단계는,
    상기 게이트 구동기에 입력되는 프레임 온 제어 신호의 온/오프를 주기적으로 제어하여 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어하는 단계;
    스크린으로 표시하는 화면에 기초하여 상기 액정 표시 패널에서의 불량 위치를 확정하는 단계;를 구비하는 것을 특징으로 하는 액정 셀 조립 후 검사 방법.
  16. 제15항에 있어서, 상기 게이트 구동기에 입력되는 프레임 온 제어 신호의 온/오프를 주기적으로 제어하여 게이트 주사 신호의 온/오프를 제어하는 단계는,
    사각형파 신호에 의해 상기 게이트 구동기에 입력되는 프레임 온 제어 신호의 온/오프를 제어하고, 상기 사각형파 신호가 하이 레벨일 때, 상기 프레임 온 제어 신호를 상기 게이트 구동기에 입력하도록 제어하고, 상기 사각형파 신호가 로우 레벨일 때, 상기 프레임 온 제어 신호가 오프되도록 제어하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 액정 셀 조립 후 검사 방법.
  17. 제16항에 있어서, 상기 사각형파 신호의 주기가 상기 프레임 온 제어 신호의 주기보다 큰 것을 특징으로 하는 액정 셀 조립 후 검사 방법.
  18. 제14항에 있어서, 상기 직류 모듈이 생성하는, 상기 게이트 구동기에 입력되는 하이 레벨 신호와 로우 레벨 신호의 온/오프를 제어하는 단계는,
    사각형파 신호에 의해 상기 직류 모듈이 생성하는 하이 레벨 신호와 로우 레벨 신호의 온/오프를 제어하는단계;
    상기 사각형파 신호가 하이 레벨일 때, 상기 직류 모듈이 생성하는 하이 레벨 신호와 로우 레벨 신호를 상기 게이트 구동기에 입력하도록 제어하는 단계;
    상기 사각형파 신호가 로우 레벨일 때, 상기 직류 모듈이 생성하는 하이 레벨 신호와 로우 레벨 신호가 오프되도록 제어하는 단계;를 구비하는 것을 특징으로 하는 액정 셀 조립 후 검사 방법.

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Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101472843B1 (ko) * 2008-07-11 2014-12-15 삼성디스플레이 주식회사 디스플레이 포트 기능 테스트 장치, 이를 이용하는디스플레이 포트 기능 테스트 시스템 및 방법
CN102455525A (zh) * 2010-10-18 2012-05-16 北京京东方光电科技有限公司 薄膜晶体管液晶显示面板检测方法和设备
US20120120129A1 (en) * 2010-11-11 2012-05-17 Novatek Microelectronics Corp. Display controller driver and method for testing the same
CN102467863B (zh) * 2010-11-17 2014-09-03 北京京东方光电科技有限公司 Tft-lcd电学不良测试电路和测试方法
JP5911867B2 (ja) * 2011-07-08 2016-04-27 シャープ株式会社 液晶表示装置およびその駆動方法
CN102681233B (zh) * 2011-08-01 2014-11-19 北京京东方光电科技有限公司 真空对盒设备及对盒方法
CN103926767B (zh) 2013-10-17 2017-01-25 成都天马微电子有限公司 液晶显示器及其检测方法
CN103927956B (zh) * 2013-12-24 2017-02-08 上海中航光电子有限公司 一种显示面板的驱动电路、显示面板和显示装置
KR102236128B1 (ko) * 2014-12-31 2021-04-05 엘지디스플레이 주식회사 액정 표시 장치 및 이를 구비한 디스플레이 시스템
KR102469735B1 (ko) * 2016-04-12 2022-11-23 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN105929210B (zh) * 2016-05-06 2018-09-04 中南大学 一种检测信号生成电路及自检系统
CN106098007B (zh) * 2016-08-16 2019-03-01 武汉华星光电技术有限公司 液晶面板及其控制方法
CN106128398B (zh) * 2016-08-31 2019-01-01 深圳市华星光电技术有限公司 栅极电压驱动装置、方法、驱动电路以及液晶显示面板
CN106782244B (zh) * 2017-01-03 2020-11-13 京东方科技集团股份有限公司 触摸显示屏的测试方法和测试装置
CN107038985B (zh) 2017-06-02 2020-04-03 京东方科技集团股份有限公司 用于显示面板的驱动模块、显示面板及显示装置
CN107481693B (zh) * 2017-09-06 2019-10-01 京东方科技集团股份有限公司 一种显示驱动电路及其控制方法、显示装置
KR102549004B1 (ko) * 2018-06-22 2023-06-29 삼성디스플레이 주식회사 점등 검사 장치, 점등 검사 방법 및 점등 검사 시스템
CN109300440B (zh) * 2018-10-15 2020-05-22 深圳市华星光电技术有限公司 显示装置
CN109448616A (zh) * 2018-12-21 2019-03-08 厦门天马微电子有限公司 显示面板及显示装置
CN110288931B (zh) * 2019-06-12 2021-10-01 北海惠科光电技术有限公司 栅线不良的检测方法、显示面板及可读存储介质
CN111341243B (zh) * 2020-04-10 2021-08-24 Tcl华星光电技术有限公司 显示装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20070001373A (ko) * 2005-06-29 2007-01-04 삼성전자주식회사 액정 표시 장치의 구동 장치
KR20070079181A (ko) * 2006-02-01 2007-08-06 삼성전자주식회사 액정 표시 장치의 테스트용 전압 제공 장치 및 액정 표시장치의 테스트 시스템
KR20080012512A (ko) * 2006-08-03 2008-02-12 삼성전자주식회사 표시 장치와 표시 장치 검사 시스템 및 이를 이용한 표시장치의 검사 방법

Family Cites Families (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0261896B1 (en) * 1986-09-20 1993-05-12 THORN EMI plc Display device
US5285150A (en) * 1990-11-26 1994-02-08 Photon Dynamics, Inc. Method and apparatus for testing LCD panel array
JP2758103B2 (ja) * 1992-04-08 1998-05-28 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板及びその製造方法
DE69332935T2 (de) * 1992-12-10 2004-02-26 Sharp K.K. Flache Anzeigevorrichtung, ihr Ansteuerungsverfahren und Verfahren zu ihrer Herstellung
TW275684B (ko) * 1994-07-08 1996-05-11 Hitachi Seisakusyo Kk
JPH0862572A (ja) * 1994-08-26 1996-03-08 Matsushita Electric Works Ltd 液晶画面のバックライト装置
JP4147594B2 (ja) * 1997-01-29 2008-09-10 セイコーエプソン株式会社 アクティブマトリクス基板、液晶表示装置および電子機器
JP2001330639A (ja) * 2000-05-24 2001-11-30 Toshiba Corp アレイ基板の検査方法
JP3614792B2 (ja) * 2001-04-23 2005-01-26 ウインテスト株式会社 アクティブマトリックス型ディスプレイの画素検査装置および画素検査方法
JP2003207756A (ja) * 2002-01-11 2003-07-25 Sharp Corp 液晶表示装置
JP3807321B2 (ja) * 2002-02-08 2006-08-09 セイコーエプソン株式会社 基準電圧発生回路、表示駆動回路、表示装置及び基準電圧発生方法
KR100425765B1 (ko) * 2002-04-12 2004-04-01 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치
KR20040010160A (ko) * 2002-07-25 2004-01-31 파이오니아 가부시키가이샤 디스플레이 패널용 표시 검사 방법 및 표시 검사 장치
JP2004061782A (ja) * 2002-07-29 2004-02-26 Sharp Corp 液晶表示装置
JP2004264035A (ja) * 2003-01-27 2004-09-24 Agilent Technol Inc プローブ装置及びそれを用いたディスプレイ基板の試験装置
KR101127813B1 (ko) * 2004-12-29 2012-03-26 엘지디스플레이 주식회사 쉬프트 레지스터와 이를 이용한 액정 표시장치
JP4600147B2 (ja) * 2005-05-20 2010-12-15 エプソンイメージングデバイス株式会社 検査回路、電気光学装置および電子機器
JP4882529B2 (ja) * 2005-08-26 2012-02-22 セイコーエプソン株式会社 欠陥検出方法および欠陥検出装置
TWI308314B (en) * 2005-12-02 2009-04-01 Chi Mei Optoelectronics Corp Liquid crystal display and driving method thereof
KR101112559B1 (ko) * 2005-12-05 2012-02-15 삼성전자주식회사 액정 표시 장치 및 구동 방법
KR101127829B1 (ko) * 2005-12-07 2012-03-20 엘지디스플레이 주식회사 평판표시장치와 그 제조방법, 제조장치, 화질 제어장치 및화질 제어방법
KR100769193B1 (ko) * 2006-02-06 2007-10-23 엘지.필립스 엘시디 주식회사 평판표시장치와 그 화질제어 방법 및 장치
KR20070082230A (ko) * 2006-02-15 2007-08-21 삼성전자주식회사 액정 표시 장치용 테스트 장치 및 그 방법
KR100896178B1 (ko) * 2006-04-11 2009-05-12 삼성전자주식회사 테스트 패턴 발생 회로를 포함하는 액정 표시 장치의 구동회로
US20070291198A1 (en) * 2006-06-16 2007-12-20 Vastview Technology Inc. Method and device for driving LED-based backlight module
WO2008029546A1 (en) * 2006-09-05 2008-03-13 Sharp Kabushiki Kaisha Display controller, display device, display system and method for controlling display device
KR101319276B1 (ko) * 2006-11-06 2013-10-18 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치 및 그의 구동 방법
KR100843148B1 (ko) 2006-12-22 2008-07-02 삼성전자주식회사 액정 표시 장치, 액정 표시 장치의 테스트용 커넥터 및이의 테스트 방법
KR101502366B1 (ko) * 2007-06-12 2015-03-16 엘지디스플레이 주식회사 액정 표시 장치 및 그 검사 방법
KR101458910B1 (ko) * 2008-03-28 2014-11-10 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN101661169B (zh) * 2008-08-27 2011-12-28 北京京东方光电科技有限公司 液晶显示器亮点或暗点检测方法及其装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20070001373A (ko) * 2005-06-29 2007-01-04 삼성전자주식회사 액정 표시 장치의 구동 장치
KR20070079181A (ko) * 2006-02-01 2007-08-06 삼성전자주식회사 액정 표시 장치의 테스트용 전압 제공 장치 및 액정 표시장치의 테스트 시스템
KR20080012512A (ko) * 2006-08-03 2008-02-12 삼성전자주식회사 표시 장치와 표시 장치 검사 시스템 및 이를 이용한 표시장치의 검사 방법

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