CN112133235A - 显示面板的检查装置、及显示面板的检查方法 - Google Patents
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Abstract
及早检测源极配线的缺陷。一种显示面板(20)的检查装置(10)，具有：多个像素(PX)，其排列成矩阵状；多根栅极配线(24)，其与像素(PX)连接，并传输用于驱动像素的栅极信号；多根源极配线(23)，其传输用于驱动源极信号，所述显示面板(20)的检查装置(10)，具备：信号生成部(12)，其将栅极信号及所述源极信号分别生成为脉冲状；输出部(14)，其将栅极信号提供给栅极配线(24)，并将源极信号提供给源极配线(23)，信号生成部(12)在各像素(PX)中以在栅极信号下降前使源极信号下降的方式生成栅极信号及源极信号。
Description
技术领域
本发明涉及一种显示面板的检查装置、及显示面板的检查方法。
背景技术
液晶显示装置中，多个像素呈矩阵状排列在作为主要部件的液晶面板上，通过调整施加在各像素的电压并控制像素内的液晶分子的取向，来显示期望的图像。因此，由于液晶面板的制造不良而未对各像素施加适当的电压时，会产生显示不良。专利文献1中公开了液晶面板的检查方法的一个例子，根据该检查方法，能够针对被施加了电压的像素电极，检测相邻的像素电极之间的泄露。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：特开平10-123566号公报
发明内容
本发明所要解决的技术问题
但是，尽管在该检查中未检测出不良情况，之后也有可能产生显示不良。具体而言，大量设置在液晶面板上的，传输用于驱动液晶面板的信号的源极配线有可能会在检查后的制造工序、通电检测、及搬运等中断线。这是由如下原因导致的：源极配线产生形成不良、异物附着等潜在的缺陷，在检查后这些潜在缺陷因上述应力而发展成断线。实际情况而言，通过专利文献1的检查方法无法检测这些潜在的缺陷。
本申请说明书所记载的技术基于上述实际情况而完成，其目的在于，及早检测源极配线的缺陷。
解决问题的方案
(1)本申请说明书所记载的技术相关的显示面板的检查装置，所述显示面板具有：多个像素，其排列成矩阵状；多根栅极配线，其与所述像素连接，并传输用于驱动所述像素的栅极信号；多根源极配线，其与所述像素连接，并传输用于驱动所述像素的源极信号，所述显示面板的检查装置具备：信号生成部，其将所述栅极信号及所述源极信号分别生成为脉冲状；输出部，其将所述栅极信号提供给所述栅极配线，并将所述源极信号提供给所述源极配线，所述信号生成部在所述各像素中以在所述栅极信号下降前使所述源极信号下降的方式生成所述栅极信号及所述源极信号。
(2)另外，上述检查装置除了上述(1)以外，所述信号生成部也可以周期性地生成所述栅极信号及所述源极信号。
(3)另外，上述检查装置除了上述(1)或(2)以外，所述源极信号的脉冲宽度也可以小于所述栅极信号的脉冲宽度。
(4)另外，上述检查装置除了上述(2)或(3)以外，所述信号生成部也可以以下个周期的所述源极信号变成反转的脉冲状的方式生成所述源极信号。
(5)另外，上述检查装置除了上述(1)至(4)中的任一个以外，所述各像素也可以具有与所述源极配线及所述栅极配线连接的开关元件，以及与所述开关元件连接的像素电极。
(6)另外，上述检查装置除了上述(1)至(5)中的任一个以外，也可以检查作为所述显示面板的液晶面板。
(7)本申请说明书所记载的技术相关的显示面板的检查方法，所述显示面板具有：多个像素，其排列成矩阵状；多根栅极配线，其与所述像素连接，并传输用于驱动所述像素的栅极信号；多根源极配线，其与所述像素连接，并传输用于驱动所述像素的源极信号，所述显示面板的检查方法的特征在于，将所述栅极信号及所述源极信号生成为脉冲状，并且在所述各像素中，以在所述脉冲状的所述栅极信号下降前使所述脉冲状的所述源极信号下降的方式生成所述栅极信号及所述源极信号，将生成的所述栅极信号提供给所述栅极配线，并将生成的所述源极信号提供给所述源极配线，从而检查所述像素的显示状态。
(8)另外，上述检查方法除了上述(7)以外，也可以周期性地生成所述栅极信号及所述源极信号。
(9)另外，上述检查方法除了上述(7)或(8)以外，所述源极信号的脉冲宽度小于所述栅极信号的脉冲宽度。
(10)另外，上述检查方法除了上述(8)或(9)以外，以下个周期的所述源极信号变成反转的脉冲状的方式生成所述源极信号。
(11)另外，上述检查方法除了上述(7)至(10)中的任一个以外，所述各像素具有与所述源极配线及所述栅极配线连接的开关元件，以及与所述开关元件连接的像素电极。
(12)另外，上述检查方法除了上述(7)至(11)中的任一个以外，也可以检查作为所述显示面板的液晶面板。
有益效果
根据本申请说明书所记载的技术，能够及早检测源极配线的缺陷。
附图说明
图1是液晶面板的俯视图。
图2是像素的等效电路图。
图3是液晶面板的检查装置的框图。
图4是实施例1所涉及的栅极信号、源极信号、及像素电极的电位的波形图。
图5是比较例1所涉及的栅极信号、源极信号、及像素电极的电位的波形图。
图6是变形例1所涉及的栅极信号及源极信号的波形图。
图7是变形例2所涉及的栅极信号及源极信号的波形图。
具体实施方式
(实施例1)
参照图1至图7说明关于实施例1所涉及的液晶面板20(显示面板的一例)的检查装置10及检查方法。此外，图1及图2的一部分表示X轴及Y轴，以使各轴方向成为各附图中通用的方向的方式进行绘制。
首先，说明成为检查对象的液晶面板20。如图1所示，液晶面板20整体形成为横长的矩形状，其内面被显示区域(有源区域)AA和非显示区域(非有源区域)NAA划分，所述显示区域可显示图像且配置在中央侧，所述非显示区域以包围显示区域AA的方式在俯视中形成为框状(边框状)。在图1中，单点划线表示显示区域AA的外形，所述单点划线外侧的区域成为非显示区域NAA。液晶面板20构成为：透明的两个基板以隔着规定的间隙的状态贴合，并且在两基板之间封入液晶层。
如图1及图2所示，在液晶面板20的显示区域AA中，形成有多根源极配线(数据线、信号线)23、多根栅极配线(扫描线)24、作为开关元件的TFT(薄膜晶体管)32、像素电极34及共用电极(相对电极)35。液晶面板20的显示区域AA形成为如下构成：至少具有TFT32和像素电极34的像素(图像元素)PX呈矩阵状大量地排列。多根源极配线23及多根栅极配线24以相互交叉的方式形成为格子状。如图2所示，TFT32形成于源极配线23和栅极配线24的交叉点附近。像素电极34形成于源极配线23和栅极配线24所包围的区域，并与TFT32连接。共用电极35以施加有基准电位COM的方式形成。
如图1所示，栅极配线24与设置在非显示区域NAA的短边侧的栅极驱动电路25连接。源极配线23与设置在非显示区域NAA的长边侧的源极驱动电路26连接。如图2所示，从栅极驱动电路25发送的栅极信号G在栅极配线24中传输并提供给构成TFT32的栅极电极32G。从源极驱动电路26发送的源极信号S在源极配线23中传输并提供给构成TFT32的源极电极32S。若通过栅极信号G及源极信号S控制TFT32的开关时，则像素电极34的电位P改变。然后，在电位P的像素电极34和基准电位COM的共用电极35之间产生像素电压V，当通过像素电压V改变施加在液晶层的电场时，液晶分子的取向状态改变。其结果，透过像素PX的光的透过率改变，像素PX的显示状态改变。如此一来，液晶面板20通过多个像素PX显示图像。
接着，说明液晶面板20的检查装置10及检查方法。如图3所示，检查装置10具备信号生成部12和输出部14。信号生成部12将栅极信号G及源极信号S作为脉冲状的信号而生成。输出部14将生成的栅极信号G及源极信号S分别输出(提供)至液晶面板20的栅极配线24、源极配线23。检查装置10不经由栅极驱动电路25及源极驱动电路26，而直接对栅极配线24及源极配线23提供检查用栅极信号G及源极信号S，并使液晶面板20显示检查用图像。
信号生成部12将具有图4所示的脉冲波形的栅极信号G及源极信号S作为电压而生成。栅极信号G的脉冲在上升状态下的电压被设定为大于TFT32的栅极阀值电压。在与栅极信号G的脉冲宽度对应的栅极写入期间TGON中，当源极信号S的脉冲上升时，电流流入TFT32的栅极电极32G和漏极电极32D之间，像素电极34被充电。若进行充电则像素电极34的电位P1增加并达到饱和电位，像素电压V1变成如图4所示的电压A。由此，像素PX变成与电压A对应的第一显示状态(例如，常白的情况，白显示)。
接着，在栅极写入期间TGON中，当源极信号S的脉冲下降时，被充电的像素电极34放电，像素电极34的电位P1降低。该状态下，当栅极信号G的脉冲下降且栅极写入期间TGON结束时，电流不会流入栅极电极32G和漏极电极32D之间，像素电极34的放电结束。由此，像素电极34的电位P1保持在栅极写入期间TGON结束时的电位。如图4所示，像素电压V1变成该电位和基准电位COM的电位差即电压B，在栅极信号G下降的状态(栅极非写入期间TGOFF)下保持在电压B。由此，像素PX变成与电压B对应的第二显示状态(例如，常白的情况，黑显示)。
上述像素电极34的电位P1的变化为正常时的变化，接着说明源极配线23产生潜在的缺陷的情况下的像素电极34的电位P2的变化。该情况下，源极配线23的电阻变成与正常时(无缺陷的情况)相比的大电阻。像素电极34的充电、放电由于与正常时相比响应延迟，像素电极34的电位P2与正常时的电位P1相比跟随源极信号S的变化延迟。其结果，像素电极34不进行放电，像素电压V2在栅极非写入期间TGOFF中，变成接近与图4所示的白显示对应的电压A的电压C。由此，栅极非写入期间TGOFF中的像素PX的显示变得接近于白显示。因此，当在栅极非写入期间TGOFF确认像素PX的显示时，相对于正常时的情况下像素PX为黑显示，源极配线23的电阻较大的情况下，像素PX为白显示或接近白显示。根据该显示的不同，能够检测与像素PX连接的源极配线23的电阻是否变大，即能够检测源极配线23是否包含有缺陷。由于源极配线23的这种缺陷有可能会发展成未来的断线，根据检查装置10，能够在产生断线前及早的检测源极配线23的缺陷。
如图4所示，信号生成部12优选为周期性地生成栅极信号G及源极信号S。由此，由于能够多次重复地确认栅极非写入期间TGOFF中的像素PX的显示，所以变得容易检测像素PX有无缺陷。此外，像素PX的显示确认既可以是通过作业人员目视确认，也可以使用图像检测器等确认。
另外，如图4所示，源极信号S的脉冲宽度优选为小于栅极信号G的脉冲宽度。如此一来，在栅极写入期间TGON中，以源极信号S的脉冲下降的方式也能够容易地生成栅极信号G及源极信号S。
另外，如图4所示，信号生成部12优选为下个周期的源极信号S变成以脉冲下降的状态下的值(电压)为中心反转的脉冲状的方式生成源极信号。如此一来，由于像素电极34的电位P变成相对于基准电位COM，按每个周期反转的值，所以能够防止液晶层的劣化。
接着，参照图5说明关于比较例1所涉及的栅极信号G、源极信号S、及像素电极34的电位P的波形图。在比较例1中，与实施例1不同，如图5所示，栅极信号G的脉冲下降时(栅极写入期间TGON结束时)与源极信号的脉冲下降时一致。在栅极写入期间TGON的整个期间中，由于源极信号S的脉冲上升，不会产生像素电极34的放电。因此，无论源极配线23有无缺陷，在栅极非写入期间TGOFF中的像素电压V都会变成与白显示对应的电压A。因此，在比较例1中，与实施例1不同，栅极非写入期间TGOFF的像素PX的显示不论在正常时还是源极配线23有缺陷的情况下都变成白显示。在比较例1所涉及的检查装置中，在栅极非写入期间TGOFF中通过像素PX的显示确认无法检测与该像素PX连接的源极配线23是否产生缺陷。
(变形例1)
接着，参照图6说明关于变形例1所涉及的栅极信号G、以及源极信号S的信号波形图。此外，省略对与上述实施例1相同的构成、作用及效果进行说明。
在变形例1中，与实施例1不同，如图6所示，在栅极信号G的脉冲上升前，源极信号S的脉冲上升。一方面，与实施例1相同，由于在栅极信号G的脉冲下降前，源极信号S的脉冲下降(在栅极写入期间TGON中，源极信号S的脉冲下降)，像素电极34在栅极写入期间TGON内放电。因此，与实施例1相同，在栅极非写入期间TGOFF中通过像素PX的显示确认能够检测与该像素PX连接的源极配线23是否产生缺陷。
(变形例2)
接着，参照图6说明关于变形例2所涉及的栅极信号G、以及源极信号S的信号波形图。省略对与实施例1及变形例1相同的构成、作用及效果进行说明。
在变形例2中，与实施例1及变形例1不同，如图7所示，在栅极信号G的脉冲上升后，源极信号S的脉冲上升。一方面，与实施例1及变形例1相同，由于在栅极信号G的脉冲下降前，源极信号S的脉冲下降(在栅极写入期间TGON中，源极信号S的脉冲下降)，像素电极34在栅极写入期间TGON内放电。因此，与实施例1及变形例1相同，在栅极非写入期间TGOFF中通过像素PX的显示确认能够检测与该像素PX连接的源极配线23是否产生缺陷。
(其它实施例)
本申请的说明书所记载的技术不限于通过上述记载和附图进行说明的实施例，例如诸如以下的实施例也包含在本发明的技术范围中。
(1)像素PX的第一显示状态也可以为黑显示，而第二显示状态为白显示(常白)。另外，像素PX也可以不是第一显示状态、第二显示状态这两个阶段，而是以两个阶段以上的多个阶段变化的方式生成源极信号S。
(2)液晶面板20的俯视形状也可以是非矩形。
(3)针对在两个基板之间夹持有除了液晶层以外的功能性有机分子(媒质层)的显示面板也可适用于本申请说明书所记载的技术中。
(4)除了液晶面板20以外的显示面板(PDP(等离子显示面板)、有机EL面板、EPD(电泳显示面板)、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems：微机电系统)显示面板等)也可适用于本申请说明书所记载的技术中。
附图标记说明
10：液晶面板(显示面板)的检查装置
12：信号生成部
14：输出部
20：液晶面板(显示面板)
23：源极配线
24：栅极配线
32：TFT(薄膜晶体管、开关元件)
34：像素电极
G：栅极信号
S：源极信号
PX：像素
Claims (12)
1.一种显示面板的检查装置，所述显示面板具有：多个像素，其排列成矩阵状；多根栅极配线，其与所述像素连接，并传输用于驱动所述像素的栅极信号；多根源极配线，其与所述像素连接，并传输用于驱动所述像素的源极信号，所述显示面板的检查装置的特征在于，具备：
信号生成部，其将所述栅极信号及所述源极信号分别生成为脉冲状；
输出部，其将所述栅极信号提供给所述栅极配线，并将所述源极信号提供给所述源极配线，
所述信号生成部在所述各像素中以在所述栅极信号下降前使所述源极信号下降的方式生成所述栅极信号及所述源极信号。
2.如权利要求1所述的显示面板的检查装置，其特征在于，所述信号生成部周期性地生成所述栅极信号及所述源极信号。
3.如权利要求1或2所述的显示面板的检查装置，其特征在于，所述源极信号的脉冲宽度小于所述栅极信号的脉冲宽度。
4.如权利要求2所述的显示面板的检查装置，其特征在于，所述信号生成部以下个周期的所述源极信号变成反转的脉冲状的方式生成所述源极信号。
5.如权利要求1、2、4中的任一项所述的显示面板的检查装置，其特征在于，所述各像素具有与所述源极配线及所述栅极配线连接的开关元件，以及与所述开关元件连接的像素电极。
6.如权利要求1、2、4中的任一项所述的显示面板的检查装置，其特征在于，检查作为所述显示面板的液晶面板。
7.一种显示面板的检查方法，所述显示面板具有：多个像素，其排列成矩阵状；多根栅极配线，其与所述像素连接，并传输用于驱动所述像素的栅极信号；多根源极配线，其与所述像素连接，并传输用于驱动所述像素的源极信号，所述显示面板的检查方法的特征在于，
将所述栅极信号及所述源极信号生成为脉冲状，并且
在所述各像素中，以在所述脉冲状的所述栅极信号下降前使所述脉冲状的所述源极信号下降的方式生成所述栅极信号及所述源极信号，
将生成的所述栅极信号提供给所述栅极配线，并将生成的所述源极信号提供给所述源极配线，
从而检查所述像素的显示状态。
8.如权利要求7所述的显示面板的检查方法，其特征在于，周期性地生成所述栅极信号及所述源极信号。
9.如权利要求7或8所述的显示面板的检查方法，其特征在于，所述源极信号的脉冲宽度小于所述栅极信号的脉冲宽度。
10.如权利要求8所述的显示面板的检查方法，其特征在于，以下个周期的所述源极信号变成反转的脉冲状的方式生成所述源极信号。
11.如权利要求7、8、10中的任一项所述的显示面板的检查方法，其特征在于，所述各像素具有与所述源极配线及所述栅极配线连接的开关元件，以及与所述开关元件连接的像素电极。
12.如权利要求7、8、10中的任一项所述的显示面板的检查方法，其特征在于，检查作为所述显示面板的液晶面板。
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Legal Events
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| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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