JP2010191241A - 液晶装置の製造方法及び液晶装置の検査方法 - Google Patents

Abstract

【課題】例えば、ノーマリーブラック方式を表示方式として採用する液晶装置について、不具合が生じた保持容量を正確に破壊し、不良保持容量を含む画素部によって表示品位が低下することを抑制する。
【解決手段】不良保持容量（１１９Ａ）を含む不良画素部（７０Ａ）は、走査線１１２Ａ及びデータ線１１４Ａの夫々に電気的に接続されており、不良保持容量（１１９Ａ）を破壊する際に、走査線（１１２Ａ）を介して不良画素部（７０Ａ）に供給された選択信号（ＳＥ）によって非導通状態から導通状態に切り替えられるＴＴＦ（３０Ａ）を介してデータ線（１１４Ａ）及び不良保持容量（１１９Ａ）が相互に電気的に接続された後、データ線（１１４Ａ）を介して不良保持容量（１１９Ａ）に電圧Ｖを印加される。
【選択図】図８

Description

本発明は、例えば、プロジェクタのライトバルブとして用いられる液晶装置を製造するための液晶装置の製造方法、及び、液晶装置の検査方法の技術分野に関する。

この種の電気光学装置の一例である液晶装置では、液晶装置の動作時において、画像信号に応じた電位を画素電極に一定期間保持させることを目的として保持容量が設けられている。このような液晶装置では、画素スイッチング素子であるトランジスタの不具合を修復する技術が提案されている（例えば、特許文献１参照。）。

また、液晶装置の表示方式の一例として、画素電極に画像信号が供給されていない状態即ち、画素部が非駆動である状態において、当該画素電極を含む画素部に黒表示を行わせるノーマリーブラック方式が採用されている。

特開２００７−５２２８６号公報

しかしながら、液晶装置では、保持容量に不具合が生じている場合、言い換えれば、一対の容量電極間の絶縁抵抗が低下していることに起因して、画像信号に応じた輝度で画素部に表示を行わせることが困難となる。特に、ノーマリーブラック方式を採用する液晶装置では、本来行われるべき輝度と異なる白表示或いは中間調表示がなされた画素部は、表示された画像のなかでは黒表示よりむしろ目立ってしまい、そのことが表示品位の低下を招く一因となるという問題点がある。

また、レーザ光の照射によって不良保持容量を破壊するためには、レーザ光を精度良く不良保持容量に照射する必要が生じる。したがって、例えば、画素ピッチが微細化された液晶装置では、所定の保持容量に正確にレーザ光を照射することが困難になるという技術的問題点も生じる。

よって、本発明は上記問題点等に鑑みてなされたものであり、例えば、ノーマリーブラック方式を表示方式として採用する液晶装置について、不具合が生じた保持容量を正確に破壊し、不良保持容量を含む画素部によって表示品位が低下することを抑制可能な液晶装置の製造方法、及び、液晶装置の検査方法を提供することを課題とする。

本発明に係る液晶装置の製造方法は上記課題を解決するために、基板と、前記基板上の表示領域で互いに交差する複数の走査線及び複数のデータ線と、前記複数の走査線及び前記複数のデータ線の夫々の交差に対応して各々設けられた複数の画素電極と、前記複数の画素電極の夫々に電気的に接続された複数の保持容量とを備え、ノーマリーブラック方式で駆動される液晶装置を製造するための液晶装置の製造方法であって、前記複数の保持容量のうち不具合が生じている不良保持容量を特定する第１工程と、前記不良保持容量が電圧破壊されるように、前記不良保持容量が有する一対の容量電極間に電圧を印加する第２工程とを備える。

本発明に係る液晶装置の製造方法によれば、第１工程において、例えば、複数の保持容量の電気特性から直接的に不良保持容量を特定することもできるし、表示領域に画像を表示させることによって不良画素部を特定することによって間接的に不良保持容量を特定することも可能である。

第２工程では、前記不良保持容量が電圧破壊されるように、より具体的には、例えば、一対の容量電極間を短絡させるように、前記不良保持容量が有する一対の容量電極間に電圧を印加する。したがって、本発明に係る液晶装置の製造方法によれば、レーザ光を正確に不良保持容量に照射することなく、電圧を印加するという電気的な方法によって、不良保持容量を破壊できる。よって、本発明に係る液晶装置の製造方法によれば、例えば、画素ピッチが微細化された液晶装置でも、不良保持容量を正確に破壊できる。

したがって、本発明に係る液晶装置の製造方法によれば、液晶装置の製造プロセスの段階で不良保持容量が形成された場合でも当該不良保持容量を正確に破壊できるため、液晶装置の動作時において、当該破壊された不良保持容量を含む画素部に、白表示或いは中間調表示より表示品位を低下させない黒表示を行わせることが可能になる。

本発明に係る液晶装置の製造方法の一の態様では、前記不良保持容量を含む不良画素部は、前記複数の走査線に含まれる一の走査線と、前記複数のデータ線に含まれる一のデータ線との夫々に電気的に接続されており、前記第２工程において、前記一の走査線を介して前記不良画素部に供給された選択信号によって非導通状態から導通状態に切り替えられるスイッチング素子を介して前記一のデータ線及び前記不良保持容量が相互に電気的に接続された後、前記一のデータ線を介して前記不良保持容量に前記電圧を印加してもよい。

この態様によれば、例えば、表示領域にマトリクス状に設けられた複数の画素部のうち不良保持容量を含む不良画素部のみに、不良保持容量を破壊するための電圧を印加することが可能である。

この態様では、前記第１工程において、前記表示領域に画像を表示させた状態で前記不良画素部を特定し、前記不良画素部に含まれる保持容量を前記不良保持容量として特定してもよい。

この態様によれば、液晶装置を動作させた状態で各画素部の輝度が画像信号に対応した輝度に設定されているか否かを画像から判別することによって、不良画素部を特定できるため、間接的に不良保持容量を特定できる。

この態様では、前記不良画素部の不良モードは、白点欠陥又は中間調欠陥であってもよい。

この態様によれば、黒表示より目立つ白表示又は中間調表示がなされる白欠陥又は中間調欠陥を特定することによって、間接的に不良保持容量を特定できる。

本発明に係る液晶装置の製造方法の他の態様では、前記第１工程及び前記第２工程のうち少なくとも前記第１工程は、前記基板上に前記不良保持容量が形成されたタイミングから、前記液晶装置が組み上がるタイミングまでの期間に実行され、該期間中に実行される第１工程では、前記複数の保持容量の夫々が有する一対の容量電極間の電気抵抗を測定することによって取得された抵抗値に基づいて、前記複数の保持容量のなかから前記不良保持容量を特定してもよい。

この態様によれば、テスタ等の測定手段を用いて、液晶装置の製造プロセスの早い段階で不良保持容量を破壊しておくことができるため、液晶装置を組み上げた後に当該液晶装置に画像を表示させるまでもなく、不良保持容量の存在を一因とする表示品位を低下を抑制可能である。

本発明に係る液晶装置の検査方法は、上記課題を解決するために、基板と、前記基板上の表示領域で互いに交差する複数の走査線及び複数のデータ線と、前記複数の走査線及び前記複数のデータ線の夫々の交差に対応して各々設けられた複数の画素電極と、前記複数の画素電極の夫々に電気的に接続された複数の保持容量とを備え、ノーマリーブラック方式で駆動される液晶装置を検査するための液晶装置の検査方法であって、前記複数の保持容量のうち不具合が生じている不良保持容量を特定する第１工程と、前記不良保持容量が電圧破壊されるように、前記不良保持容量が有する一対の容量電極間に電圧を印加する第２工程とを備える。

本発明に係る液晶装置の検査方法によれば、上述の液晶装置の製造方法と同様に、液晶装置の製造プロセスの段階で不良保持容量が形成された場合でも当該不良保持容量に正確に破壊できるため、液晶装置の動作時において、当該破壊された不良保持容量を含む画素部に、白表示或いは中間調表示より表示品位を低下させない黒表示を行わせることが可能になる。

本発明のこのような作用及び他の利得は次に説明する実施形態から明らかにされる。

本実施形態に係る液晶装置の製造方法によって製造される液晶パネルの平面図である。 図１のＩＩ−ＩＩ´断面図である。 本実施形態に係る液晶装置の製造方法によって製造される液晶パネルを含む表示装置の電気的な構成を示したブロック図である。 本実施形態に係る液晶パネルの電気的構成を示したブロック図である。 本実施形態に係る液晶パネルにおける画素部の回路構成を示した回路図である。 本実施形態に係る液晶パネルの一部を構成するビットチェック回路の一部の電気的な構成を示した回路図である。 本実施形態に係る液晶装置の製造方法の主要な工程を順に示したフローチャートである。 本実施形態に係る液晶パネルにおける画素部について、保持容量を破壊する際に当該保持容量に印加される電圧を示した回路図である。

以下、図面を参照しながら、本発明に係る液晶装置の製造方法、及び液晶装置の検査方法の各実施形態を説明する。本実施形態では、本発明に係る液晶装置の検査方法を含む液晶装置の製造方法の一実施形態を説明する。

＜１：液晶パネル＞
＜１−１：液晶パネルの全体構成＞
先ず、図１及び図２を参照しながら、本実施形態に係る液晶装置の製造方法によって製造される液晶パネル１００の全体構成を説明する。図１は、ＴＦＴアレイ基板をその上に形成された各構成要素と共に対向基板の側から見た液晶パネル１００の概略的な平面図であり、図２は、図１のＩＩ−ＩＩ´断面図である。ここでは、駆動回路内蔵型のＴＦＴアクティブマトリクス駆動方式の液晶パネルを例に挙げている。

図１及び図２において、液晶パネル１００では、本発明の「基板」の一例であるＴＦＴアレイ基板１０と対向基板２０とが対向配置されている。ＴＦＴアレイ基板１０と対向基板２０との間に液晶層５０が封入されており、ＴＦＴアレイ基板１０と対向基板２０とは、本発明の「表示領域」の一例である画像表示領域１０ａの周囲に位置するシール領域に設けられたシール材５２により相互に接着されている。

シール材５２は、両基板を貼り合わせるための、例えば紫外線硬化樹脂、熱硬化樹脂等からなり、製造プロセスにおいてＴＦＴアレイ基板１０上に塗布された後、紫外線照射、加熱等により硬化させられたものである。シール材５２中には、ＴＦＴアレイ基板１０と対向基板２０との間隔（基板間ギャップ）を所定値とするためのグラスファイバ或いはガラスビーズ等のギャップ材が散布されている。

シール材５２が配置されたシール領域の内側に並行して、画像表示領域１０ａの額縁領域を規定する遮光性の額縁遮光膜５３が、対向基板２０側に設けられている。但し、このような額縁遮光膜５３の一部又は全部は、ＴＦＴアレイ基板１０側に内蔵遮光膜として設けられてもよい。

画像表示領域１０ａの周辺に位置する周辺領域のうち、シール材５２が配置されたシール領域の外側に位置する領域には、データ線駆動回路１０１及び外部回路接続端子１０２がＴＦＴアレイ基板１０の一辺に沿って設けられている。走査線駆動回路１０４は、この一辺に隣接する２辺のいずれかに沿い、且つ、額縁遮光膜５３に覆われるようにして設けられている。尚、走査線駆動回路１０４を、データ線駆動回路１０１及び外部回路接続端子１０２が設けられたＴＦＴアレイ基板１０の一辺に隣接する２辺に沿って設けるようにしてもよい。この場合、ＴＦＴアレイ基板１０の残る一辺に沿って設けられた複数の配線によって、二つの走査線駆動回路１０４は互いに接続されるようにする。

尚、データ線駆動回路１０１及び走査線駆動回路１０４は、液晶パネル１００の動作時において、電源回路７００（図３参照。）から供給される電源ＶＤＤ、及びＶＳＳ、並びに共通電位ＬＣＣＯＭによって駆動される。

対向基板２０の４つのコーナー部には、両基板間の上下導通端子として機能する上下導通材１０６が配置されている。他方、ＴＦＴアレイ基板１０にはこれらのコーナー部に対向する領域において上下導通端子が設けられている。これらにより、ＴＦＴアレイ基板１０と対向基板２０との間で電気的な導通をとることができる。

図２において、ＴＦＴアレイ基板１０上には、画素電極９ａが、画素スイッチング用のＴＦＴや走査線、データ線等の配線が形成された後に形成されており、その上に配向膜が形成されている。他方、対向基板２０上には、対向電極２１の他、格子状又はストライプ状の遮光膜２３、更には最上層部分に配向膜が形成されている。液晶層５０は、例えば一種又は数種類のネマティック液晶を混合した液晶からなり、これら一対の配向膜間で所定の配向状態をとる。

尚、図１及び図２には図示しないが、ＴＦＴアレイ基板１０上には、データ線駆動回路１０１や走査線駆動回路１０４等に加えて、後述するように画像信号をサンプリングしてデータ線に供給するサンプリング回路が設けられている。

＜１−２：液晶装置の電気的な構成＞
次に、図３乃至図６を参照しながら、液晶パネル１００を含む表示装置５００の電気的な構成を説明する。図３は、液晶パネルを含んで構成される表示装置５００の全体構成を示すブロック図であり、図４は、液晶パネル１００の電気的な構成を詳細に示したブロック図である。図５は、ビットチェック回路の一部の電気的な構成を示したブロック図である。

図３に示すように、表示装置５００は、液晶パネル１００を備えると共に、外部回路として設けられた画像信号供給回路３００、タイミング制御回路４００、及び電源回路７００を備えている。

タイミング制御回路４００は、各部で使用される各種タイミング信号を出力するように構成されている。タイミング制御回路４００の一部であるタイミング信号出力手段により、最小単位のクロックであり各画素を走査するためのドットクロックが作成され、このドットクロックに基づいて、Ｙクロック信号ＣＬＹ、反転Ｙクロック信号ＣＬＹｉｎｖ、Ｘクロック信号ＣＬＸ、反転Ｘクロック信号ＣＬＸｉｎｖ、ＹスタートパルスＤＹ及びＸスタートパルスＤＸが生成される。

画像信号供給回路３００には、液晶装置５００の動作時、即ち、液晶パネル１００の動作時に、外部から１系統の入力画像データＶＩＤが入力される。画像信号供給回路３００は、１系統の入力画像データＶＩＤをシリアル−パラレル変換して、Ｎ相、本実施形態では６相（Ｎ＝６）の画像信号ＶＩＤ１〜ＶＩＤ６を生成する。更に、画像信号供給回路３００において、画像信号ＶＩＤ１〜ＶＩＤ６の各々の電圧が、所定の基準電位に対して正極性及び負極性に反転され、このように極性反転された画像信号ＶＩＤ１〜ＶＩＤ６が出力される。

電源回路７００は、共通電位線１３１（図４参照。）を介して所定の共通電位ＬＣＣＯＭを図２に示す対向電極２１に供給すると共に、液晶パネル１００中の各駆動回路に電源ＶＤＤ及びＶＳＳを供給する。本実施形態において、対向電極２１は、図２に示す対向基板２０の下側に、複数の画素電極９ａと対向するように形成されている。

図４に示すように、液晶パネル１００は、そのＴＦＴアレイ基板１０の周辺領域に、走査線駆動回路１０４、データ線駆動回路１０１、サンプリング回路２００、及びビットチェック回路８００を備えている。

走査線駆動回路１０４には、液晶パネル１００の動作時において、Ｙクロック信号ＣＬＹ、反転Ｙクロック信号ＣＬＹｉｎｖ、及びＹスタートパルスＤＹが供給される。走査線駆動回路１０４は、液晶パネル１００の動作時において、ＹスタートパルスＤＹが入力されると、Ｙクロック信号ＣＬＹ及び反転Ｙクロック信号ＣＬＹｉｎｖに基づくタイミングで、走査信号Ｙ１、・・・、Ｙｍを順次生成して出力する。

データ線駆動回路１０１には、Ｘクロック信号ＣＬＸ、反転Ｘクロック信号ＣＬＸｉｎｖ、及びＸスタートパルスＤＸが供給される。データ線駆動回路１０１は、ＸスタートパルスＤＸが入力されると、Ｘクロック信号ＣＬＸ及び反転Ｘクロック信号ＸＣＬＸｉｎｖに基づくタイミングで、サンプリング信号Ｓ１、・・・、Ｓｎを順次生成し、配線１１６を介して各サンプリングスイッチ２０２にサンプリング信号Ｓ１、・・・、Ｓｎを出力する。

サンプリング回路２００は、Ｐチャネル型又はＮチャネル型の片チャネル型ＴＦＴ、若しくは相補型のＴＦＴから夫々構成された複数のサンプリングスイッチ２０２を備えている。

ここで、図５を参照しながら、ビットチェック回路８００の電気的な構成を説明する。図５に示すように、ビットチェック回路８００の一部である回路部８００Ａは、ＴＦＴ３１を備えて構成されている。回路部８００Ａは、各データ線１１４に対応して設けられており、複数のデータ線１１４の夫々に電気的に接続されている。

ＴＦＴ３１は、そのソース領域３１Ｓがデータ線部１１４に電気的に接続されている。ＴＦＴ３１のゲート３１Ｇは、配線１２７を介して電源回路７００に電気的に接続されている。ＴＦＴ３１は、液晶パネル１００の非動作時において、ソース領域３１Ｓ及びドレイン領域３１Ｄ間が非導通状態に設定されているように動作する。より具体的には、ソース領域３１Ｓ及びドレイン領域３１Ｄ間の導通及び非導通は、ゲート３１Ｇに対する電源ＶＤＤあるいはＶＳＳの供給及び非供給に応じて相互に切り換えられる。したがって、液晶パネル１００によれば、ＴＦＴ３１の動作を制御する制御回路を設けることなく、簡便な回路構成でＴＦＴ３２の導通及び非導通を相互に切り替えることが可能である。したがって、後述する液晶パネルの検査方法による画素部の検査に加えて、当該導通及び非導通に応じて画素部７０の良否を判別することも可能である。

再び図４において、液晶パネル１００は、更に、そのＴＦＴアレイ基板１０の中央を占める画像表示領域１０ａに、縦横に配線されたデータ線１１４及び走査線１１２を備え、それらの交点に対応して設けられた複数の画素部７０を備えている。尚、本実施形態では特に、走査線１１２の総本数をｍ本（但し、ｍは２以上の自然数）とし、データ線１１４の総本数をｎ本（但し、ｎは２以上の自然数）として説明する。

６相にシリアル−パラレル展開された画像信号ＶＩＤ１〜ＶＩＤ６は、Ｎ本（本実施形態では６本）の画像信号線１７１を介して液晶パネル１００に供給される。ｎ本のデータ線１１４は、以下に説明するように、画像信号線１７１の本数に対応する６本のデータ線１１４を１群とするデータ線群毎に、順次駆動される。

データ線駆動回路１０１から、各データ線群に対応するサンプリングスイッチ２０２毎にサンプリング信号Ｓｉ（ｉ＝１、２、・・・、ｎ）が順次供給され、サンプリング信号Ｓｉに応じて各サンプリングスイッチ２０２はオン状態となる。各サンプリングスイッチ２０２は、中継配線を介して画像信号線１７１に接続されている。

よって、サンプリングスイッチ２０２がオン状態となった際に、即ち、サンプリングスイッチ２０２が非選択状態から選択状態に切り換った際に、６本の画像信号線１７１から画像信号ＶＩＤ１〜ＶＩＤ６が、データ線群に属するデータ線１１４に同時に、且つデータ線群毎に順次供給される。よって、データ線群に属するデータ線１１４は互いに同時に駆動されることとなる。従って、本実施形態では、ｎ本のデータ線１１４をデータ線群毎に駆動できるため、相展開しない場合に比べて液晶パネル１００の駆動周波数を抑制できる。

＜１−３：画素部の電気的な構成＞
次に、図６を参照しながら、画素部７０の電気的な構成を説明する。図６は、本実施形態に係る画素部７０の回路構成を示した回路図である。

図６に示すように、画素部７０は、液晶素子１１８、ＴＦＴ３０、及び、本発明の「保持容量」の一例である保持容量１１９を備えている。

液晶素子１１８は、液晶パネル１００の動作時に、画素電極９ａと、画素電極９ａに対向する対向電極２１との間に生じる電圧によって液晶の配向状態が制御され、当該配向状態に応じて液晶パネル１００の表示面に光を出射する。液晶パネル１００は、表示方式としてノーマリーブラック方式を採用しているため、画素部７０の非動作時、言い換えれば、画素電極９ａに画像信号が供給されていない状態では、当該画素部７０は黒表示を行う。一方、画素部７０の動作時に、言い換えれば、画素電極９ａに画像信号が供給された状態では、画素電極９ａ及び対向電極２１の夫々の電位の差である電圧が液晶素子１１８に印加され、当該電圧に応じた輝度で画素部７０が表示を行う。

ＴＦＴ３０は、画素スイッチング素子であり、ゲート３０ｃに印加されたゲート電圧に応じて、ソース３０ａ及びドレイン３０ｂ間の電気的な導通及び非導通を相互に切り替える。液晶パネル１００が画像を表示する際には、走査線１１２を介して走査信号Ｙｊがゲート３０ｃに供給され、データ線１１４から画素電極９ａに画像信号が供給される。一方、液晶パネル１００の検査時には、選択信号ＳＥが走査線１１２を介してゲート３０ｃに供給され、ＴＦＴ３０を介して電圧を一対の容量電極１１９ａ及び１１９ｂ間に印加される。

保持容量１１９は、一対の容量電極１１９ａ及び１１９ｂ間に誘電体膜を含んで構成されている。容量電極１１９ａ及び１１９ｂの夫々は、ドレイン３０ｂ及び共通電位線１３１の夫々に電気的に接続されている。

ここで、液晶パネル１００の動作時において、本来画像信号に応じた輝度で表示を行うべき画素部７０が、保持容量１１９の不具合を一因として、本来表示すべき黒表示と異なる白表示又は中間調表示を行った場合、当該白表示又は中間調表示を行う画素部７０は、黒色を表示する場合に比べて画像全体の中で目立ってしまい、画像の表示品位を低下させてしまう。そこで、後述する、本実施形態に係る液晶パネルの検査方法を含む液晶パネルの製造方法を用いて液晶パネル１００を製造することによって、本来表示すべきではない白表示又は中間調表示を行う画素部７０が動作しないように保持容量１１９を破壊しておく。

＜２：液晶パネルの製造方法＞
次に、図７及び図８を参照しながら、本実施形態に係る液晶パネルの製造方法を説明する。図７は、本実施形態に係る液晶パネルの製造方法の主要な工程を順に示したフローチャートである。図８は、本実施形態に係る液晶パネル１００における画素部７０について、保持容量１１９を破壊する際に当該保持容量１１９に印加される電圧を回路図中に示した回路図である。尚、本実施形態に係る液晶パネルの製造方法では、複数の画素部７０のうち不具合が生じている画素部の特定した後、当該不具合が生じている画素部に含まれる保持容量１１９を選択的に破壊できることを特徴とする液晶パネルの検査方法に特徴があるため、当該検査方法を詳細に説明する。

図７に示すように、本実施形態に係る液晶パネルの製造方法では、少なくともＴＦＴアレイ基板１０上に保持容量１１９が形成された状態で、複数の画素部７０のうち不具合が有する不良画素部７０Ａを特定する。言い換えれば、複数の画素部７０の夫々が有する複数の保持容量１１９のうち不具合が生じている不良保持容量１１９Ａを有する画素部７０Ａを特定する（ステップＳ１０）。

不良画素部７０Ａを特定する際には、画像表示領域１０ａに画像を表示させた状態で不良画素部７０Ａを特定し、不良画素部７０Ａに含まれる保持容量１１９を不良保持容量１１９Ａとして特定することができる。画像を表示させた状態で、言い換えれば、液晶パネル１００を組み上げた後、液晶パネル１００の画像表示領域１０ａに画像を表示させた状態で不良画素部７０Ａを特定する場合には、例えば、液晶パネル１００を動作させた状態で各画素部７０の輝度が画像信号に対応した輝度に設定されているか否かを画像から判別することによって、不良画素部７０Ａを特定できる。より具体的には、画像表示領域１０ａに画像を表示させた状態における不良画素部７０Ａの不良モードは、黒表示より目立つ白表示又は中間調表示を行う白点欠陥又は中間調欠陥である。これら白表示又は中間調表示を行う不良画素部７０Ａを特定することによって、間接的に不良保持容量１１９Ａを特定できる。

また、不良画素部７０Ａを特定するためには、画像表示領域１０ａに画像を表示させなくてもよい。より具体的には、ＴＦＴアレイ基板１０上に不良保持容量１１９Ａが形成されたタイミングから、液晶パネル１００が組み上がるタイミングまでの期間において、複数の保持容量１１９の夫々が有する一対の容量電極１１９ａ及び１１９ｂ間の電気抵抗をテスタ等の測定装置によって測定することによって取得された抵抗値に基づいて、複数の保持容量１１９のなかから不良保持容量１１９Ａを特定することも可能である。

液晶パネル１００が組み上がるまでの段階で、言い換えれば、液晶パネル１００の製造プロセスの早い段階で不良保持容量１１９Ａを特定することによって、液晶パネル１００の製造プロセスの早い段階で不良保持容量１１９Ａを破壊しておくことができる。したがって、液晶パネル１００を組み上げた後に液晶パネル１００に画像を表示させるまでもなく、不良保持容量１１９Ａの存在を一因とする表示品位の低下を抑制可能である。

次に、図７及び図８に示すように、不良保持容量１１９Ａが電圧破壊されるように、不良保持容量１１９Ａが有する一対の容量電極１１９ａＡ及び１１９ｂＡ間に電圧Ｖを印加する（ステップＳ２０）。

より具体的には、例えば、不良保持容量１１９Ａを含む不良画素部７０Ａは、複数の走査線１１２に含まれる一の走査線１１２Ａと、複数のデータ線１１４に含まれる一のデータ線１１４Ａとの夫々に電気的に接続されており、不良保持容量１１９Ａを破壊する際に、走査線１１２Ａを介して不良画素部７０Ａに供給された選択信号ＳＥによって非導通状態から導通状態に切り替えられるＴＴＦ３０Ａを介してデータ線１１４Ａ及び不良保持容量１１９Ａが相互に電気的に接続された後、データ線１１４Ａを介して不良保持容量１１９Ａに電圧Ｖを印加される。

したがって、画像表示領域１０ａにマトリクス状に設けられた複数の画素部７０のうち不良保持容量１１９Ａを含む不良画素部７０Ａのみに、不良保持容量１１９Ａを破壊するための電圧Ｖを印加される。

よって、本実施形態に係る液晶パネルの製造方法によれば、レーザ光を正確に不良保持容量１１９Ａに照射することなく、電圧Ｖを印加するという電気的な方法によって、不良保持容量１１９Ａを破壊できる。したがって、本実施形態に係る液晶パネルの製造方法によれば、例えば、画素ピッチが微細化された液晶装パネルでも、不良保持容量１１９Ａを正確に破壊できる。

このように、本実施形態に係る液晶パネルの製造方法によれば、液晶パネル１００の製造プロセスの段階で不良保持容量１１９Ａが形成された場合でも不良保持容量１１９Ａを正確に破壊できるため、液晶パネル１００の動作時において、当該破壊された不良保持容量１１９Ａを含む不良画素部７０Ａに、白表示或いは中間調表示より表示品位を低下させない黒表示を行わせることが可能になり、画像の表示品位が低下することが抑制された液晶パネル１００を製造できる。

９ａ・・・画素電極、３０・・・ＴＦＴ、１００・・・液晶パネル、１０１・・・データ線駆動回路、１０４・・・走査線駆動回路、１１２・・・走査線、１１４・・・データ線、１１９・・・保持容量、２００・・・サンプリング回路、５００・・・表示装置

Claims (6)

1. 基板と、前記基板上の表示領域で互いに交差する複数の走査線及び複数のデータ線と、前記複数の走査線及び前記複数のデータ線の夫々の交差に対応して各々設けられた複数の画素電極と、前記複数の画素電極の夫々に電気的に接続された複数の保持容量とを備え、ノーマリーブラック方式で駆動される液晶装置を製造するための液晶装置の製造方法であって、
   前記複数の保持容量のうち不具合が生じている不良保持容量を特定する第１工程と、
   前記不良保持容量が電圧破壊されるように、前記不良保持容量が有する一対の容量電極間に電圧を印加する第２工程と
   を備えたことを特徴とする液晶装置の製造方法。
2. 前記不良保持容量を含む不良画素部は、前記複数の走査線に含まれる一の走査線と、前記複数のデータ線に含まれる一のデータ線との夫々に電気的に接続されており、
   前記第２工程において、前記一の走査線を介して前記不良画素部に供給された選択信号によって非導通状態から導通状態に切り替えられるスイッチング素子を介して前記一のデータ線及び前記不良保持容量が相互に電気的に接続された後、前記一のデータ線を介して前記不良保持容量に前記電圧を印加すること
   を特徴とする請求項１に記載の液晶装置の製造方法。
3. 前記第１工程において、前記表示領域に画像を表示させた状態で前記不良画素部を特定し、前記不良画素部に含まれる保持容量を前記不良保持容量として特定すること
   を特徴とする請求項２に記載の液晶装置の製造方法。
4. 前記不良画素部の不良モードは、白点欠陥又は中間調欠陥であること
   を特徴とする請求項３に記載の液晶装置の製造方法。
5. 前記第１工程及び前記第２工程のうち少なくとも前記第１工程は、前記基板上に前記不良保持容量が形成されたタイミングから、前記液晶装置が組み上がるタイミングまでの期間に実行され、該期間中に実行される第１工程では、前記複数の保持容量の夫々が有する一対の容量電極間の電気抵抗を測定することによって取得された抵抗値に基づいて、前記複数の保持容量のなかから前記不良保持容量を特定すること
   を特徴とする請求項１又は２に記載の液晶装置の製造方法。
6. 基板と、前記基板上の表示領域で互いに交差する複数の走査線及び複数のデータ線と、前記複数の走査線及び前記複数のデータ線の夫々の交差に対応して各々設けられた複数の画素電極と、前記複数の画素電極の夫々に電気的に接続された複数の保持容量とを備え、ノーマリーブラック方式で駆動される液晶装置を検査するための液晶装置の検査方法であって、
   前記複数の保持容量のうち不具合が生じている不良保持容量を特定する第１工程と、
   前記不良保持容量が電圧破壊されるように、前記不良保持容量が有する一対の容量電極間に電圧を印加する第２工程と
   を備えたことを特徴とする液晶装置の検査方法。

Images