KR20080012512A - 표시 장치와 표시 장치 검사 시스템 및 이를 이용한 표시장치의 검사 방법 - Google Patents

표시 장치와 표시 장치 검사 시스템 및 이를 이용한 표시장치의 검사 방법 Download PDF

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Abstract

프레임 주파수 가변에 따른 표시 패널의 불량을 테스트할 수 있고, 정상 동작 전압 보다 높은 전압에서도 구동 모듈이 정상 구동 되는지의 여부를 테스트할 수 있는 표시 장치 검사 시스템에 관한 것이다. 본 발명은 복수의 게이트 라인을 구비하는 표시 패널과, 테스트용 수직 동기 시작 신호에 따라 상기 복수의 게이트 라인에 순차적으로 게이트 전원을 공급하는 게이트 구동부를 포함하는 구동 모듈과, 상기 구동 모듈에 테스트용 수직 동기 시작 신호를 공급하는 검사 모듈을 포함하는 표시 장치 검사 시스템 및 이를 이용한 표시 장치의 검사 방법이 개시된다.
검사 모듈, 테스트용 수직 동기 시작 신호, 테스트용 전압, 고전압, 가변 주파수, 신호 생성부

Description

표시 장치와 표시 장치 검사 시스템 및 이를 이용한 표시 장치의 검사 방법{DISPLAY DEVICE AND DISPLAY DEVICE TESTING SYSTEM AND METHOD FOR TESTING DISPLAY DEVICE USING THE SAME}
도 1은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 표시 장치 검사 시스템의 블록 개념도.
도 2는 제 1 실시예에 따른 검사 모듈의 블록 개념도.
도 3 및 도 4는 제 1 실시예에 따른 표시 장치 검사 시스템 동작을 설명하기 위한 파형도.
도 5는 제 1 실시예에 따른 표시 장치 검사 시스템의 평면 개념도.
도 6 및 도 7은 제 1 실시예의 변형예들에 따른 표시 장치 검사 시스템의 블록 개념도.
도 8은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 표시 장치 검사 시스템의 블록 개념도.
도 9는 본 발명의 제 3 실시예에 따른 표시 장치 검사 시스템의 블록 개념도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
100 : 액정 표시 패널 200, 800 : 게이트 구동부
300 : 데이터 구동부 400 : 스위치부
500 : 계조 전압 생성부 600 : 컨버터부
700 : 타이밍 제어부 900 : 제어신호 생성부
1000 : 구동 모듈 2000 : 검사 모듈
본 발명은 표시 장치와 표시 장치 검사 시스템 및 이를 이용한 표시 장치의 검사 방법에 관한 것으로, 특히, 프레임 주파수의 가변에 따른 표시 패널의 불량을 테스트 할 수 있는 표시 장치용 검사 모듈에 관한 것이다.
표시 장치는 소정의 화상을 표시하는 평판 표시 패널과 평판 표시 패널에 동작 신호들을 인가하는 구동 수단으로 구성된다. 상기 평판 표시 패널에 광을 공급하는 백 라이트를 더 포함할 수 있다. 이러한 평판 표시 패널 중 하나인 액정 표시 패널은 화소 전극과 공통 전극 사이에 액정이 마련된 복수의 픽셀을 구비한다. 그리고, 액정 표시 패널은 픽셀의 두 전극 사이의 전계를 변화시켜 액정의 광 투과도를 조절하여 화상을 표시한다.
이러한 표시 장치는 제작 공정 후에 다양한 테스트를 실시하고 있다. 즉, 표시 패널의 동작 유무를 판단하기 위한 테스트와, 픽셀의 불량을 검출하기 위한 테스트를 실시한다.
이 뿐만 아니라, 실제 사용 환경 보다 더 열악한 사용 환경에서 표시 장치를 동작시켜 그 동작 유무를 테스트하기도 한다. 상술한 테스트를 통해 표시 장치의 사용 중 나타날 수 있는 문제들을 사전에 파악할 수 있게 된다.
그러나, 종래에는 프레임 주파수 가변에 따른 표시 패널의 불량을 검출할 수 있는 테스트 수단이 없었다. 이로인해 프레임 주파수의 가변시 발생할 수 있는 문제들을 사전에 파악하기 어려운 문제가 있었다.
따라서, 본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위해 도출된 것으로서, 프레임 주파수 가변에 따른 표시 패널의 불량을 테스트할 수 있고, 동작 전압 보다 높은 전압에서도 구동 모듈이 정상 구동 되는지의 여부를 테스트 할 수 있는 표시 장치와 표시 장치 검사 시스템 및 이를 이용한 표시 장치의 검사 방법을 제공하는 것을 그 목적으로 한다.
본 발명에 따른 복수의 게이트 라인을 구비하는 표시 패널과, 수직 동기 시작 신호 또는 테스트용 수직 동기 시작 신호에 따라 동작하여 상기 게이트 라인에 게이트 전원을 공급하는 게이트 구동부와, 상기 게이트 구동부에 상기 테스트용 수직 동기 시작 신호를 제공하는 핀을 구비하는 커넥터부를 포함하는 표시 장치를 제공한다.
여기서, 상기 수직 동기 시작 신호를 생성하는 타이밍 제어부와, 상기 수직 동기 시작 신호 및 상기 테스트용 수직 동기 시작 신호 중 어느 하나를 상기 게이트 구동부에 공급하는 스위치부를 더 포함하는 것이 바람직하다. 그리고, 상기 수직 동기 시작 신호를 제공하는 핀은 상기 스위치부에 전기적으로 접속되는 것이 효과적이다. 물론 상기 스위치부는 상기 게이트 구동부와 일체로 제작될 수 있다.
이때, 상기 테스트용 수직 동기 시작 신호의 주파수가 가변되는 것이 바람직하다. 즉, 상기의 테스트용 수직 동기 시작 신호의 주파수는 상기 수직 동기 시작 신호의 주파수보다 0 내지 100% 증가 또는 감소된 주파수를 사용하는 것이 효과적이다.
상술한 상기 커넥터부는 외부 제어 신호를 공급받는 제 1 커넥터와, 외부 전원 및 테스트용 외부 전원을 공급받는 제 2 커넥터를 포함하는 것이 바람직하다. 이때, 상기 테스트용 수직 동기 시작 신호를 공급 받는 핀은 상기 제 2 커넥터에 마련되는 것이 효과적이다. 물론 상기 테스트용 외부 전원은 상기 외부 전원 보다 0 내지 100% 증가 또는 감소된 전원을 사용하는 것이 바람직하다.
또한, 본 발명에 따른 복수의 게이트 라인을 구비하는 표시 패널과, 수직 동기 시작 신호 또는 외부의 테스트용 수직 동기 시작 신호에 따라 동작하여 상기 게이트 라인에 순차적으로 게이트 전원을 공급하는 게이트 구동부와, 상기 수직 동기 시작 신호와 상기 외부의 테스트용 수직 동기 시작 신호 중 어느 하나를 상기 게이트 구동부에 공급하는 스위치부를 포함하는 표시 장치를 제공한다.
또한, 본 발명에 따른 복수의 게이트 라인을 구비하는 표시 패널과, 시작 신호에 따라 동작하여 상기 복수의 게이트 라인에 순차적으로 게이트 전원을 공급하는 게이트 구동부와, 수직 동기 시작 신호 또는 외부의 테스트용 수직 동기 시작 신호에 따라 상기 시작 신호를 생성하는 제어 신호 생성부와, 상기 제어 신호 생성부에 상기 테스트용 수직 동기 시작 신호를 공급하는 핀을 구비하는 커넥터부 포함하는 표시 장치를 제공한다.
여기서, 상기 수직 동기 시작 신호를 생성하는 타이밍 제어부와, 상기 수직 동기 시작 신호 및 상기 테스트용 수직 동기 시작 신호 중 어느 하나를 상기 제어 신호 생성부에 공급하는 스위치부를 더 포함하는 것이 바람직하다. 이때, 상기 수직 동기 시작 신호를 제공하는 핀은 상기 스위치부에 전기적으로 접속되는 것이 바람직하다. 물론 상기 스위치부는 상기 제어 신호 생성부와 일체로 제작될 수 있다.
상기 테스트용 수직 동기 시작 신호의 주파수가 가변되는 것이 효과적이다.
또한, 본 발명에 따른 복수의 게이트 라인을 구비하는 표시 패널과, 시작 신호에 따라 동작하여 상기 게이트 라인에 순차적으로 게이트 전원을 공급하는 게이트 구동부와, 수직 동기 시작 신호 또는 외부의 테스트용 수직 동기 시작 신호에 따라 상기 시작 신호를 생성하는 제어 신호 생성부와, 상기 수직 동기 시작 신호와 상기 외부의 테스트용 수직 동기 시작 신호를 상기 제어 신호 생성부에 공급하는 스위치부를 포함하는 표시 장치를 제공한다.
또한, 본 발명에 따른 상부 기판과 하부 기판의 표시 영역에 마련된 복수의 픽셀을 포함하는 표시 패널과, 상기 복수의 픽셀과 접속된 게이트 구동부와, 상기 게이트 구동부에 접속된 스위치부와, 적어도 하나의 핀이 상기 스위치부에 접속된 컨넥터부를 포함하는 표시 장치를 제공한다.
여기서, 상기 핀은 주파수가 가변되는 외부 신호를 공급받는 것이 바람직하다.
그리고, 상기 게이트 구동부는 상기 하부 기판의 주변 영역에 마련되는 것이 효과적이다.
상기의 스위치부 및 상기 커넥터부가 마련된 인쇄 회로 기판과, 상기 인쇄 회로 기판과 상기 하부 기판을 전기적으로 연결하는 연성 인쇄 회로 기판을 포함하는 것이 바람직하다.
물론 상기 게이트 구동부와 상기 스위치부 사이에 제어 신호 생성부가 마련될 수도 있다.
또한, 본 발명에 따른 표시 영역과 주변 영역이 정의된 상부 기판 및 하부 기판과, 상기 상부 및 하부 기판의 상기 표시 영역에 마련된 복수의 픽셀을 구비하는 표시 패널과, 상기 하부 기판의 상기 주변 영역에 마련되어 상기 표시 패널의 픽셀에 접속된 게이트 구동부와, 상기 하부 기판과 전기적으로 접속된 제 1 인쇄 회로 기판과, 상기 인쇄 회로 기판 상에 실장되어 상기 픽셀과 접속된 데이터 구동부와, 상기 인쇄 회로 기판 상에 실장되어 상기 게이트 구동부에 접속된 스위치부 와, 상기 인쇄 회로 기판 상에 실장되어 상기 스위치부와 상기 데이터 구동부에 각기 접속된 타이밍 제어부와, 상기 인쇄 회로 기판 상에 실장되어 상기 데이터 구동부에 접속된 계조 전압 생성부와, 상기 인쇄 회로 기판에 마련되고, 적어도 하나의 핀이 상기 스위치부에 접속된 커넥터부를 포함하는 표시 장치를 제공한다.
여기서, 상기 스위치부는 상기 커넥터부의 핀의 입력 신호에 따라 상기 타이밍 제어부와 상기 게이트 구동부간을 전기적으로 연결시키거나, 상기 핀과 게이트 구동부간을 전기적으로 연결시키는 것이 바람직하다.
또한, 본 발명에 따른 테스트용 수직 동기 시작 신호에 따라 표시 패널의 복수의 게이트 라인에 순차적으로 게이트 전원을 공급하는 게이트 구동부를 포함하는 구동 모듈과, 상기 구동 모듈에 테스트용 수직 동기 시작 신호를 공급하는 검사 모듈을 포함하는 표시 장치 검사 시스템을 제공한다.
이때, 상기 테스트용 수직 동기 시작 신호의 주파수가 가변되는 것이 바람직하다. 그리고, 상기 구동 모듈은 수직 동기 시작 신호를 생성하는 타이밍 제어부와, 상기 수직 동기 시작 신호 및 상기 테스트용 수직 동기 시작 신호 중 어느 하나를 상기 게이트 구동부에 공급하는 스위치부를 포함하는 것이 바람직하다.
물론 상기 구동 모듈은 상기 검사 모듈 접속 여부에 따라 상기 게이트 구동부에 게이트 턴온 전압 및 게이트 턴 오프 전압을 공급하는 컨버터부를 포함하고, 상기 검사 모듈은 상기 게이트 구동부에 테스트용 게이트 턴온 전압 및 테스트용 게이트 턴 오프 전압을 공급하는 전압 생성부를 포함하는 것이 효과적이다.
상기의 구동 모듈은 상기 게이트 턴온 전압 및 게이트 턴 오프 전압 또는 상 기 테스트용 게이트 턴온 전압 및 테스트용 게이트 턴 오프 전압에 따라 클럭 신호 및 반전된 클럭 신호를 생성하고, 상기 클럭 신호 및 반전된 클럭 신호를 상기 게이트 구동부에 공급하는 제어신호 생성부를 포함하는 것이 바람직하다.
이때, 상기 구동 모듈과 상기 검사 모듈은 착탈이 가능한 것이 효과적이다.
또한, 본 발명에 따른 표시 패널의 상부 기판과 하부 기판의 표시영역에 마련된 복수의 픽셀에 접속된 게이트 구동부 및 데이터 구동부와, 상기 게이트 구동부에 접속된 스위치부와, 상기 스위치부와 상기 데이터 구동부에 접속된 타이밍 제어부를 구비하는 구동 모듈과, 상기 스위치부에 접속된 신호 생성부를 구비하는 검사 모듈을 포함하는 표시 장치 검사 시스템을 제공한다.
이때, 상기 신호 생성부는 그 주파수가 가변되는 신호를 생성하는 것이 바람직하다.
물론 상기 구동 모듈은, 연성 인쇄 회로 기판을 통해 상기 하부 기판과 전기적으로 접속되고 전원 입력 커넥터와 신호 입력 커넥터를 구비하는 제 1 인쇄 회로 기판을 포함하고, 상기 제 1 인쇄 회로 기판 상에 상기 데이터 구동부, 상기 스위치부 및 상기 타이밍 제어부가 마련되는 것이 바람직하다.
그리고, 상기 검사 모듈은 상기 제 1 인쇄 회로 기판의 상기 전원 입력 커넥터 및 상기 신호 입력 커넥터 중 어느 하나의 커넥터에 전기적으로 접속된 제 2 인쇄 회로 기판을 포함하고, 상기 제 2 인쇄 회로 기판 상에 상기 신호 생성부가 마련되는 것이 효과적이다.
또한, 본 발명에 따른 표시 장치의 검사 방법에 있어서, 외부로부터 주파수 가변이 가능한 테스트용 수직 동기 시작 신호를 상기 표시 장치에 공급하는 단계와, 상기 테스트용 수직 동기 시작 신호에 따라 상기 표시 장치의 복수의 게이트 라인에 순차적으로 게이트 전원을 공급하는 단계를 포함하는 표시 장치 검사 방법을 제공한다.
상기 테스트용 수직 동기 시작 신호의 주파수는 상기 표시 장치의 정상 동작시 사용하는 수직 동기 시작 신호의 주파수 보다 0 내지 100% 증가 또는 감소된 주파수를 사용하는 것이 바람직하다. 또한, 상기 게이트 전원은 상기 표시 장치의 정상 동작시 사용하는 전원 보다 0 내지 100% 증가 또는 감소된 전원을 사용하는 것이 바람직하다.
상기의 표시 장치의 상기 복수의 게이트 라인에 순차적으로 상기 게이트 전원을 공급하는 단계 이후, 상기 테스트용 수직 동기 시작 신호의 주파수를 가변하는 단계와, 가변된 테스트용 수직 동기 시작 신호에 따라 상기 표시 장치의 상기 복수의 게이트 라인에 순차적으로 상기 게이트 전원을 공급하는 단계를 더 포함하는 것이 바람직하다.
그리고, 상기 표시 장치의 상기 복수의 게이트 라인에 순차적으로 상기 게이트 전원을 공급하는 단계에서, 상기 표시 장치의 복수의 데이터 라인에 데이터 신호를 공급하는 것이 바람직하다.
또한, 본 발명에 따른 게이트 구동부를 구비하는 표시 장치의 검사 모듈에 있어서, 상기 게이트 구동부에 주파수 가변이 가능한 테스트용 수직 동기 시작 신호를 공급하는 신호 생성부를 포함하는 검사 모듈을 제공한다.
이때, 상기 신호 생성부는 상기 표시 장치의 정상 동작시 사용하는 수직 동기 시작 신호의 주파수 보다 0 내지 100% 증가 또는 감소된 주파수를 갖는 상기 테스트용 수직 동기 시작 신호를 생성하는 것이 바람직하다.
그리고, 상기 게이트 구동부에 테스트용 게이트 턴온 전압 및 테스트용 게이트 턴 오프 전압을 공급하는 전압 생성부를 더 포함하는 것이 효과적이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 더욱 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다.
도 1은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 표시 장치 검사 시스템의 블록 개념도이다. 도 2는 제 1 실시예에 따른 검사 모듈의 블록 개념도이다. 도 3 및 도 4는 제 1 실시예에 따른 표시 장치 검사 시스템 동작을 설명하기 위한 파형도이다. 도 5는 제 1 실시예에 따른 표시 장치 검사 시스템의 평면 개념도이다.
도 1 내지 도 5를 참조하면, 본 실시예에 따른 표시 장치 검사 시스템은 액정 표시 패널(100)의 구동을 위한 게이트 구동부(200), 데이터 구동부(300), 계조 전압 생성부(500), 컨버터부(600), 타이밍 제어부(700), 수직 동기 시작 신호용 스위치부(400), 제 1 커넥터부(3100)와 제 2 커넥터부(3200)를 포함하는 구동모 듈(1000)과, 상기 구동 모듈(1000)에 복수의 테스트용 전원 및 신호를 공급하는 검사 모듈(2000)을 포함한다. 상기 테스트용 전원 및 신호는 테스트용 기준 전압(HAVDD), 테스트용 게이트 턴온 전압(HVon), 테스트용 게이트 턴 오프 전압(HVoff)과, 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 포함한다.
표시 장치(1001)는 액정 표시 패널(100)과 구동 모듈(1000)을 포함할 수 있다. 먼저, 이러한 표시 장치(1001)에 관해 설명하면 다음과 같다.
액정 표시 패널(100)은 가로 방향을 연장된 복수의 게이트 라인(G1 내지 Gn)과, 세로 방향으로 연장된 복수의 데이터 라인(D1 내지 Dm) 및 게이트 라인(G1 내지 Gn)과 데이터 라인(D1 내지 Dm)의 교차 영역에 마련된 복수의 픽셀을 포함한다. 이때, 상기 복수의 게이트 라인(G1 내지 Gn)은 상기 게이트 구동부(200)에 각기 접속된다. 복수의 데이터 라인(D1 내지 Dm)은 상기 데이터 구동부(300)에 각기 접속된다. 복수의 픽셀 각각은 게이트 라인(G1 내지 Gn)과 데이터 라인(D1 내지 Dm)에 각기 접속된 박막 트랜지스터(T)와, 박막 트랜지스터(T)에 접속된 액정 커패시터(Clc) 및 스토리지 커패시터(Cst)를 포함한다. 액정 커패시터(Clc)는 도시되지 않았지만 박막 트랜지스터(T)에 접속된 화소 전극과, 상기 화소 전극과 소정 거리 이격된 공통 전극과, 화소 전극과 공통 전극의 이격 영역에 마련된 액정층을 포함한다. 스토리지 커패시터(Cst)는 도시되지 않았지만 화소 전극과, 화소 전극과 그 일부가 중첩되는 스토리지 라인을 포함한다.
게이트 구동부(200)는 수직 동기 시작 신호(STV)에 따라 동작하여 상기 컨버터부(600)의 게이트 턴온 전압(Von) 및 게이트 턴 오프 전압(Voff)을 복수의 게이 트 라인(G1 내지 Gn)에 순차적으로 공급하거나, 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)에 따라 동작하여 상기 검사 모듈(2000)의 테스트용 게이트 턴온 전압(HVon) 및 테스트용 게이트 턴 오프 전압(HVoff)을 복수의 게이트 라인(G1 내지 Gn)에 순차적 공급한다. 게이트 구동부(200)는 칩 형태로 제작되어 액정 표시 패널(100)의 일측 영역에 마련되는 것이 바람직하다.
데이터 구동부(300)는 타이밍 제어부(700)의 데이터 제어 신호와 계조 전압 생성부(500)의 계조 전압 또는 테스트용 계조 전압을 이용하여 아날로그 화소 신호를 복수의 데이터 라인(D1 내지 Dm)에 공급한다.
스위치부(400)는 제 1 접속 제어 신호(미도시)에 따라 수직 동기 시작 신호(STV)와 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV) 중 어느 하나의 신호를 게이트 구동부(200)에 공급한다. 여기서, 제 1 접속 제어 신호는 검사 모듈(2000)이 상기 구동 모듈(1000)에 접속할 때 발생하는 신호이다. 즉, 검사 모듈(2000)이 구동 모듈(1000)에 접속할 경우 제 1 접속 제어 신호가 로직 하이가 되어 상기 스위치부(400)는 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 외부로 출력한다. 반면에 검사 모듈(2000)이 구동 모듈(1000)에 접속하지 않을 때는 제 1 접속 제어 신호가 로직 로우가 되어 상기 스위치부(400)는 수직 동기 시작 신호(STV)를 외부로 출력한다. 이때, 제 1 접속 제어 신호는 상기 검사 모듈(2000) 내에서 생성되어 구동 모듈(1000)의 스위치부(400)에 공급될 수 있다. 따라서, 스위치부(400)는 두개의 입력과 하나의 선택 신호를 공급 받고, 선택 신호에 따라 상기 두개의 입력 중 하나를 출력하는 회로로 구성되는 것이 바람직하다.
컨버터부(600)는 외부 전원을 인가 받아 게이트 턴온 전압(Von), 게이트 턴 오프 전압(Voff) 및 기준 전압(AVDD)을 출력한다. 즉, 외부 전원을 통해 게이트 턴온 전압(Von)과 게이트 턴 오프 전압(Voff)을 생성하여 게이트 구동부(200)에 공급하고, 기준 전압(AVDD)을 생성하여 계조 전압 생성부(500)에 공급하다. 본 실시예에서는 상기 검사 모듈(2000)이 구동 모듈(1000)에 접속하게 되면 컨버터부(600)는 동작하지 않는다. 본 실시예의 검사 모듈(2000)은 통상적으로 구동 모듈(1000)에 공급되었던 전원들 보다 높은 전압 레벨의 전원을 공급한다. 따라서, 검사 모듈(2000)이 구동 모듈(1000)에 접속하는 경우 구동 모듈(1000)은 별도의 외부 전원을 인가 받지 않는다. 이로 인해 컨버터부(600)로 공급되던 외부 전원이 차단되어 컨버터부(600)가 동작하지 않게된다. 물론 이에 한정되지 않고, 검사 모듈(2000)이 구동 모듈(1000)에 접속시 생성되는 별도의 제 2 접속 제어 신호(미도시)를 통해 상기 컨버터부(600)의 동작을 제어할 수 있다. 이때, 만일 검사 모듈(2000)이 구동 모듈(1000)에 접속하여 제 2 접속 제어 신호가 로직 하이가 되었을 때는 상기 컨버터부(600)는 동작하지 않게 된다. 반면에 검사 모듈(2000)이 구동 모듈(1000)에 접속하지 않아 제 2 접속 제어 신호가 로직 로우가 되었을 때는 상기 컨버터부(600)는 동작하여 게이트 턴온 전압(Von), 게이트 턴 오프 전압(Voff) 및 기준 전압(AVDD)을 생성한다. 여기서, 상기 제 2 접속 제어 신호는 상기 검사 모듈(2000) 내에서 생성되어 구동 모듈(1000)의 컨버터부(600)에 공급될 수도 있다. 컨버터부(600)로는 DC/DC 컨버터를 사용하는 것이 바람직하다.
계조 전압 생성부(500)는 기준 전압(AVDD)에 따라 계조 전압을 데이터 구동 부(300)에 공급하거나, 테스트용 기준 전압(HAVDD)에 따라 테스트용 계조 전압을 데이터 구동부(300)에 공급한다.
타이밍 제어부(700)는 외부 제어 신호들을 이용하여 데이터 제어 신호와 수직 동기 시작 신호(STV)를 포함하는 출력 신호를 생성한다. 상기의 외부 제어 신호는 수직 및 수평 동기 시작 신호, 외부 클럭 신호 및 영상 데이터 신호를 포함한다.
제 1 커넥터부(3100)는 복수의 핀을 포함한다. 그리고, 상기 핀들을 통해 외부 제어 신호를 인가 받아 타이밍 제어부(700)에 공급한다.
제 2 커넥터부(3200)는 복수의 핀을 포함하되, 본 실시예에서는 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 인가 받는 핀을 더 포함한다. 제 2 커넥터부(3200)에 검사 모듈(2000)이 접속되는 경우 제 2 커넥터부(3200)는 상기 핀들을 통해 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 스위치부(400)에 공급하고, 테스트용 게이트 턴온 전압(HVon) 및 테스트용 게이트 턴 오프 전압(HVoff)을 게이트 구동부(200)에 공급하고, 테스트용 기준 전압(HAVDD)을 계조 전압 생성부(500)에 공급하고, 상기 게이트 구동부(200), 데이터 구동부(300), 계조 전압 생성부(500), 컨버터부(600), 타이밍 제어부(700) 및 수직 동기 시작 신호용 스위치부(400)에 테스트용 전원 전압(HVDD)을 공급한다. 상기 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 인가 받는 핀은 소정의 배선을 통해 상기 스위치부(400)에 접속되는 것이 바람직하다. 상기 테스트용 게이트 턴온 전압(HVon) 및 테스트용 게이트 턴 오프 전압(HVoff)을 인가하는 핀은 배선을 통해 상기 게이트 구동부(200)에 접속된다. 상기 테스트용 기준 전 압(HAVDD)을 인가하는 핀은 배선을 통해 계조 전압 생성부(500)에 접속된다.
상술한 바와 같이 본 실시예의 구동 모듈(1000)은 검사 모듈(2000)의 접속 여부에 따라 기준 전압(AVDD), 게이트 턴온 전압(Von), 게이트 턴 오프 전압(Voff) 및 수직 동기 시작 신호(STV) 등을 이용하여 표시 패널(100)에 화상을 표시하거나. 테스트용 기준 전압(HAVDD), 테스트용 게이트 턴온 전압(HVon), 테스트용 게이트 턴 오프 전압(HVoff) 및 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 이용하여 표시 패널(100)에 화상을 표시한다.
다음으로 검사 모듈(2000)에 관해 설명하면 다음과 같다.
검사 모듈은 도 2에 도시된 바와 같이 테스트용 기준 전압(HAVDD), 테스트용 게이트 턴온 전압(HVon) 및 테스트용 게이트 턴 오프 전압(HVoff) 등을 포함하는 테스트용 전압을 생성하는 전압 생성부(2100)와, 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 생성하는 신호 생성부(2200)와, 상기 테스트용 전압 및 신호를 출력하는 입출력부(2300)를 포함한다.
상기 전압 생성부(2100)는 각기 외부 전압을 공급받아 테스트용 전압을 생성하는 제 1 내지 제 4 전압 생성부(2110, 2120, 2130, 2140)를 포함한다. 제 1 전압 생성부(2110)는 입출력부(2300)을 통해 외부 전압을 공급 받아 테스트용 기준 전압(HAVDD)을 생성한다. 이때, 테스트용 기준 전압(HAVDD)은 구동 모듈의 컨버터부(600)에서 생성하는 기준 전압(AVDD) 보다 0 내지 100% 증가 또는 감소된 전압인 것이 바람직하다. 이때, 0%는 증가 또는 감소 되지 않음을 지칭한다. 테스트용 기준 전압(HAVDD)은 기준 전압(AVDD) 보다 10 내지 50% 정도 증가된 전압인 것이 바 람직하다. 예를 들어 기준 전압(AVDD)의 전압이 10V인 경우 테스트용 기준 전압(HAVDD)은 10 내지 20V인 것이 바람직하다. 제 2 전압 생성부(2120)는 입출력부(2300)를 통해 외부 전원을 공급 받아 테스트용 게이트 턴온 전압(HVon)을 생성한다. 테스트용 게이트 턴온 전압(HVon)은 컨버터부(600)의 게이트용 턴온 전압(Von) 보다 0 내지 100% 증가 또는 감소된 전압인 것이 바람직하다. 제 3 전압 생성부(2130)는 입출력부(2300)를 통해 외부 전원을 공급 받아 테스트용 게이트 턴 오프 전압(HVoff)을 생성한다. 테스트용 게이트 턴 오프 전압(HVoff)은 게이트 턴 오프 전압(Voff)보다 0 내지 100% 증가 또는 감소된 전압인 것이 바람직하다. 제 4 전압 생성부(2140)는 외부 전원을 공급 받아 구동 모듈(1000) 각부의 동작을 위한 테스트용 전원 전압(HVDD)을 생성한다. 이때 테스트용 전원 전압(HVDD)은 일반 동작시 구동 모듈(1000)에 공급되는 전원 전압(VDD)보다 0 내지 100% 증가 또는 감소된 전압을 사용하는 것이 바람직하다. 그러나 이러한 테스트용 전원 전압(HVDD)은 타이밍 제어부(700), 컨버터부(600), 스위치부(400), 데이터 구동부(300) 및 게이트 구동부(200)에 공급된다.
상기 신호 생성부(2200)는 소정의 동작 제어 신호에 따라 다양한 주파수의 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 생성한다. 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)는 타이밍 제어부(700)의 수직 동기 시작 신호(STV)와 동일한 주파수를 갖거나 이보다 높거나 낮은 주파수를 갖는 것이 바람직하다. 수직 동기 시작 신호(STV)의 주파수 보다 0 내지 100% 증가 또는 감소된 주파수를 사용하는 것이 바람직하다. 좀더 바람직하게 상기 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)는 30 내지 100Hz의 주파수를 갖는 것이 효과적이다. 상기 수직 동기 시작 신호(STV)와 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)의 주파수는 프레임 주파수가 된다. 그리고, 상술한 신호 생성부(2200)는 파형은 물론 주파수 변화가 용이한 신호 발생기(function generator)를 사용하는 것이 바람직하다. 여기서, 신호 발생기는 칩 타입인 것이 효과적이다.
이와 같이 본 실시예는 구동 모듈(1000)의 정상 동작시 사용하는 전압들보다 높거나 낮은 테스트용 전압을 공급하는 검사 모듈(2000)을 통해 구동 모듈(1000)의 불량을 검출할 수 있다. 예를 들어 정상 동작 전압 보다 높은 테스트용 전압을 게이트 구동부(200) 및 계조 전압 생성부(500)에 공급하여 액정 표시 패널(100)의 불량을 검출한다. 즉, 고 전압 스트레스(High Voltage Stress; HVS)에 따른 박막 트랜지스터(T)와 액정 커패시터(Clc)의 동작 유무를 테스트 할 수 있다. 또한, 본 실시예는 구동 모듈(1000)의 정상 동작시 사용되는 수직 동기 시작 신호(STV)의 주파수 보다 더 높거나 낮은 주파수의 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 공급하는 검사 모듈(2000)을 통해 구동 모듈(1000)의 불량을 검출할 수 있다. 예를 들어 정상 동작을 위한 프레임 주파수 보다 낮은 프레임 주파수를 갖는 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 게이트 구동부(200)에 인가하여 잔상이나 플리커 발생 유무를 테스트 할 수 있다.
이러한 검사 방법에 관하여 좀더 구체적으로 설명하면 다음과 같다.
먼저, 검사 모듈(2000)이 제 2 커넥터부(3200)에 접속된다. 검사 모듈(2000)의 전압 생성부(2100)를 통해 생성된 테스트용 기준 전압(HAVDD)을 계조 전압 생성 부(500)에 공급하고, 테스트용 게이트 턴온 전압(HVon)과 테스트용 게이트 턴 오프 전압(HVoff)을 게이트 구동부(200)에 공급한다. 이때, 전압 생성부(2100)의 테스트용 전원 전압(HVDD)에 의해 게이트 구동부(200), 데이터 구동부(300) 및 타이밍 제어부(700)가 인에이블된다. 그리고, 앞서 언급한 바와 같이 전압 생성부(2100)를 통해 테스트용 전압들이 인가되면 컨버터부(600)는 디스에이블 된다.
한편, 검사 모듈(2000)의 신호 생성부(2200)를 통해 제 1 주파수 레벨의 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)가 인가되면 스위치부(400)는 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 게이트 구동부(200)에 인가한다. 상기 제 1 주파수 레벨은 구동 모듈의 정상 동작시 사용하는 프레임 주파수와 동일한 것이 바람직하다. 따라서, 제 1 주파수는 60Hz인 것이 효과적이다.
도 3에 도시된 바와 같이 제 1 주파수 레벨의 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)가 게이트 구동부(200)에 인가되면, 게이트 구동부(200)는 상기 주파수의 대략 한주기 범위 내에서 액정 표시 패널(100)의 제 1 내지 제 n 게이트 라인(G1 내지 Gn)에 순차적으로 테스트용 게이트 턴온 전압(HVon)을 인가한다. 이로 인해 각 게이트 라인에 접속된 복수의 박막 트랜지스터(T)가 턴온된다. 이때, 데이터 구동부(200)는 테스트용 기준 전압(HVDD)을 이용하여 생성된 테스트용 계조 전압과 데이터 제어 신호를 이용하여 아날로그 화소 신호를 액정 표시 패널(100)의 데이터 라인(D1 내지 Dm)에 공급한다. 데이터 라인(D1 내지 Dm)의 아날로그 화소 신호는 턴온된 박막 트랜지스터(T)를 통해 화소 커패시터(Clc)의 화소 전극에 충전된다. 화소 전극에 충전된 아날로그 화소 신호에 의해 화소 커패시터(Clc) 양단의 전계가 변화되어 화소 커패시터(Clc) 내부의 액정 배열이 변화된다. 액정 배열의 변화로 인해 구동 모듈(1000) 하단에 마련된 광원의 광 투과량이 변화하게 되고, 이로써, R, G 및 B 색상의 컬러 필터를 투과하는 광량을 조절하여 목표로 하는 화상을 표시하게 된다.
이와 같이 본 실시예에서는 액정 표시 패널(100)의 박막 트랜지스터(T)와 화소 커패시터(Clc)에 고 전압 레벨의 테스트용 전압을 인가하여 발생하는 불량을 검사할 수 있다. 즉, 상기 고 전압 레벨의 테스트용 전압을 인가할 경우, 고 전압 스트레스에 의해 정상적인 동작을 하지 못하는 박막 트랜지스터(T)와 화소 커패시터(Clc)가 존재할 수 있다. 이때, 정상적으로 동작하지 못하는 박막 트랜지스터(T)와 화소 커패시터(Clc)를 포함하는 픽셀은 목표로 하는 화상을 표시하지 못하게 된다. 따라서, 본 실시예에 따른 검사 모듈(200)을 통해 이러한 박막 트랜지스터(T)의 불량을 검사할 수 있다.
또한, 본 실시예에서는 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)의 주파수를 가변 시켰을 경우 액정 표시 패널(100)에 발생하는 불량을 검사할 수 있다.
이는 일 게이트 라인에 게이트 턴온 전압(Von/HVon)이 인가되는 일 수평 클럭 주기(1H)가 동일할 때, 정상 동작의 경우 이 프레임 시간(1F; 수직 동기 시작 신호(STV)의 한 주기)과 모든 게이트 라인(G1 내지 Gn)에 게이트 턴온 전압(Von/HVon)을 공급하는 시간이 동일하게 된다. 그러나 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)의 주기를 가변시켜 한 프레임을 표시하는 시간을 늘릴거나 줄일 경우에는 프레임 시간(1F)과 모든 게이트 라인(G1 내지 Gn)에 게이트 턴온 전 압(Von/HVon)을 공급하는 시간이 일치되지 않게 된다.
즉, 상기 도 3에서는 60Hz인 제 1 주파수 레벨의 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)가 인가된다. 따라서, 1/60초 동안 제 1 내지 제 n 게이트 라인(G1 내지 Gn)에 순차적으로 테스트용 게이트 턴온 전압(HVon)을 인가하게 된다. 이때, 각 게이트 라인(G1 내지 Gn)에는 일 수평 클럭 주기(1H) 기간 동안 테스트용 게이트 턴온 전압(HVon)이 인가되고, 상기 1H 동안 각 박막 트랜지스터(T)가 턴온되어 화소 커패시터(Clc)에 화소 신호가 충전된다. 반면에, 도 4에서와 같이 제 1 주파수 레벨 보다 낮은 제 2 주파수 레벨(예를 들어 50Hz)의 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 인가한 경우 1/50초 동안 제 1 내지 제 n 게이트 라인(G1 내지 Gn)에 순차적으로 테스트용 게이트 턴온 전압(HVon)을 인가하게 된다. 그러나 이때, 각 게이트 라인(G1 내지 Gn)에는 앞선 60Hz 때와 동일한 1H 기간동안 테스트용 게이트 턴온 전압(HVon)이 인가된다. 따라서, 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)의 주파수 레벨을 낮출 경우 도 4와 같이 모든 게이트 라인(G1 내지 Gn)에 각기 테스트용 게이트 턴온 전압(HVon)을 공급한 다음 일정 시간 게이트 라인에 신호가 공급되지 않는 구간(도 4의 A 구간 참조)이 발생하다. 즉, 픽셀의 액정 커패시터(Clc)에 소정의 화소 신호가 충전되어 일정 기간 유지되고, 이로인해 잔상 및 플리커 현상 등이 발생할 수 있다. 따라서, 본 실시예에 따른 검사 모듈(2000)을 통해 이러한 잔상 및 플리커 현상 등의 불량을 검사할 수 있다.
상기 도 3 및 도 4에서는 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)의 하강 에지에서 첫번째 게이트 라인(G1)에 테스트용 게이트 전원(HVon)을 인가하였다. 이에 한정되지 않고, 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)의 상승 에지에서 첫번째 게이트 라인(G1)에 테스트용 게이트 전원(HVon)을 인가할 수도 있다.
그리고, 본 실시예에 따른 검사 모듈(2000)은 구동 모듈(1000)의 제 2 커넥터부(3200)와의 착탈이 용이한 구조를 갖는 것이 바람직하다.
하기에서는 본 실시예에 따른 액정 표시 패널(100), 구동 모듈(1000)과 검사 모듈(2000)의 구조에 관해 설명한다.
액정 표시 패널(100)은 도 5에 도시된 바와 같이 표시 영역(D)과 주변 영역(P)으로 정의된 하부 기판(110)과 상부 기판(120)이 밀착 결합된다. 하부 기판(110)의 표시 영역(D)에는 수평 방향으로 연장된 복수의 게이트 라인(G1 내지 Gn)과, 수직 방향으로 연장된 복수의 데이터 라인(D1 내지 Dm)과, 게이트 라인(G1 내지 Gn)과 데이터 라인(D1 내지 Dm)의 교차 영역에 마련된 박막 트랜지스터(T)와 화소 전극이 마련된다. 하부 기판(110)의 주변 영역(P)에는 게이트 라인(G1 내지 Gn)과 접속된 게이트 패드(미도시)와 데이터 라인(D1 내지 Dm)과 접속된 데이터 패드(미도시)가 마련된다. 상부 기판(120)의 표시 영역(D)에는 공통 전극(미도시)과 컬러 필터(미도시) 및 빛샘 방지를 위한 블랙 매트릭스(미도시)가 마련된다. 상부 기판(120)의 주변 영역(P)에는 블랙 매트릭스가 마련된다. 하부 기판(110)과 상부 기판(120) 사이에는 액정층이 마련된다.
액정 표시 패널(100)의 하부 기판(110)의 주변 영역(P)에 구동 모듈(1000)의 게이트 구동부(200)가 마련된다. 본 실시예에서는 IC 칩 형태의 게이트 구동부(200)를 사용하고, 이를 하부 기판(110)의 주변 영역(P) 일측에 실장하는 것이 바람직하다. 이때, 게이트 구동부(200)가 하부 기판(110)의 주변 영역(P)에 마련된 상기 게이트 패드와 전기적으로 접속되도록 한다. 따라서, 게이트 구동부(200)는 상기 게이트 패드를 통해 표시 영역(D)에 마련된 게이트 라인(G1 내지 Gn)과 전기적으로 접속된다. 상기 도 5에서는 게이트 구동부(200)를 단일 칩 형태로 도시하였지만 이에 한정되지 않고 게이트 구동부(200)는 복수의 칩으로 구성될 수도 있다.
구동 모듈(1000)의 데이터 구동부(300), 계조 전압 생성부(500), 컨버터부(600), 타이밍 제어부(700) 및 스위치부(400)는 제 1 인쇄 회로 기판(3000) 상에 마련된다. 상기 제 1 인쇄 회로 기판(3000)은 외부의 제어신호를 입력 받는 제 1 커넥터부(3100)와, 외부 전원을 입력 받는 제 2 커넥터부(3200)를 포함한다. 도 5에서는 2개의 커넥터부로 분리 도시하였다. 하지만 이에 한정되지 않고, 입력되는 신호와 전압의 특성에 따라 복수의 커넥터부로 분리하여 마련될 수도 있고, 단일의 커넥터로 마련될 수도 있다. 제 1 커넥터부(3100)와 제 2 커넥터부(3200)를 통해 인가된 복수의 제어 신호와 외부 전원을 이용하여 제 1 인쇄 회로 기판(3000)은 화상을 표시하기 위한 복수의 신호들과 전압들을 액정 표시 패널(100)에 공급한다. 제 1 인쇄 회로 기판(3000)은 액정 표시 패널(100)과 물리적으로 이격되어 있다. 따라서, 제 1 인쇄 회로 기판(3000)은 연성 인쇄 회로 기판(3300)을 통해 상기 액정 표시 패널(100)과 전기적으로 접속되는 것이 바람직하다. 이러한 연성 인쇄 회로 기판(3300)을 절곡시켜 제 1 인쇄 회로 기판(3000)을 액정 표시 패널(100)의 뒷면에 배치시킬 수 있다. 이를 통해 구동 모듈(1000)의 사이즈를 줄일 수 있다.
상기의 데이터 구동부(300), 계조 전압 생성부(500), 컨버터부(600), 타이밍 제어부(700) 및 스위치부(400) 각각은 칩 형태로 제작되어 제 1 인쇄 회로 기판(3000)의 소정 영역에 실장되는 것이 바람직하다.
데이터 구동부(300)는 연성 인쇄 회로 기판(3300)을 통해 액정 표시 패널(100)의 하부 기판(110)의 주변 영역(P)에 마련된 상기 데이터 패드와 전기적으로 접속된다. 이때, 데이터 구동부(300)는 복수의 칩으로 구성될 수 있다. 데이터 구동부(300)는 제 1 인쇄 회로 기판(3000)내에서 계조 전압 생성부(500)에 전기적으로 접속된다.
상기의 계조 전압 생성부(500)는 컨버터부(600)에 전기적으로 접속된다. 그리고 컨버터부(600)는 연성 인쇄 회로 기판(3300)을 통해 액정 표시 패널(100) 상에 실장된 게이트 구동부(200)에 전기적으로 접속된다. 또한, 컨버터부(600)는 제 2 커넥터부(3200)에 전기적으로 접속된다. 이를 통해 컨버터부(600)는 외부 전원을 인가 받아 기준 전압(AVDD)을 계조 전압 생성부(500)에 공급하고, 게이트 턴온 전압(Von) 및 게이트 턴 오프 전압(Voff)을 게이트 구동부(200)에 공급한다. 이때, 계조 전압 생성부(500)와 게이트 구동부(200)는 제 2 커넥터(3200)에 전기적으로 직접 접속될 수 있다. 이를 통해 후술되는 검사 모듈(2000)이 제 2 커넥터부(3200)의 적어도 일부에 접속되는 경우, 제 2 커넥터부(3200)를 통해 계조 전압 생성부(500)에 테스트용 기준 전압(HAVDD)을 직접 공급하고, 게이트 구동부(200)에 테스트용 게이트 턴온 전압(HVon) 및 테스트용 게이트 턴 오프 전압(HVoff)을 직접 공급할 수 있다. 컨버터부(600)는 타이밍 제어부(700) 및 제 2 커넥터부(3200)에 접속된다. 이를 통해 컨버터부(600)의 동작이 제어될 수 있다.
스위치부(400)는 제 1 인쇄 회로 기판(3000) 내에서 타이밍 제어부(700)와 제 2 커넥터부(3200)에 접속되고, 연성 인쇄 회로 기판(3300)을 통해 게이트 구동부(200)에 전기적으로 접속된다. 상기 전기적 접속을 위해서는 소정의 배선을 사용하는 것이 바람직하다. 이때, 배선은 상기 제 1 인쇄 회로 기판(3000) 및 연성 인쇄 회로 기판(330) 그리고, 상기 액정 표시 패널(100)에 형성된 도전성의 배선일 수 있다.
스위치부(400)는 제 2 커넥터부(3200)를 통해 검사 모듈(2000)의 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 게이트 구동부(200)에 공급하거나, 타이밍 제어부(700)의 수직 동기 시작 신호(STV)를 게이트 구동부(700)에 공급할 수 있다. 이때, 스위치부(400)의 동작은 제 2 커넥터부(3200) 또는 제 1 커넥터부(3100)의 신호에 따라 제어될 수 있다. 또한, 타이밍 제어부(700)는 제 1 커넥터부(3100)와 데이터 구동부(300)에 전기적으로 접속된다. 타이밍 제어부(700)는 외부 제어신호를 인가 받아 데이터 제어 신호를 데이터 구동부(300)에 공급한다.
본 실시예에 따른 검사 모듈(2000)의 신호 생성부(2200), 전압 생성부(2100) 및 입출력부(2300)가 제 2 인쇄 회로 기판(4000)에 마련된다.
입출력부(2300)는 제 2 인쇄 회로 기판(4000) 상에 제 2 커넥터부(3200)에 대응되는 형태로 마련된다. 이를 통해 입출력부(2300)는 입력 전원 및 제어 신호를 인가 받아 신호 생성부(2200) 및 전압 생성부(2100)의 동작을 제어한다. 또한, 입출력부(2300)의 일부는 제 1 인쇄 회로 기판(3000)의 제 2 커넥터부(3200)의 적어도 일부에 접속된다. 이를 통해 입출력부(2300)는 신호 생성부(2200)와 전압 생성 부(2100)의 출력을 제 1 인쇄 회로 기판(3000)으로 공급한다. 이때, 상기 입출력부(2300)는 제 2 커넥터부(3100)에 접속될 수도 있다. 신호 생성부(2200)는 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 생성하되, 외부의 제어 신호에 따라 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)의 주파수를 가변시킬 수 있다. 전압 생성부(2100)는 제 1 내지 제 4 전압 생성부(2110, 2120, 2130, 2140)를 통해 입력 전원을 가변시켜 테스트용 기준 전압(HAVDD), 테스트용 게이트 턴온 전압(HVon), 테스트용 게이트 턴 오프 전압(HVoff) 및 테스트용 전원 전압(HVDD)을 생성한다.
본 실시예에서는 도 5에 도시된 바와 같이 제 1 인쇄 회로 기판(3000)의 전원 입력 커넥터(3200)에 제 2 인쇄 회로 기판(4000)의 입출력부(2300)를 결합 장착시켜 구동 모듈(1000)에 접속된 액정 표시 패널(100)의 동작을 검사할 수 있다. 이때, 도 5에 도시된 바와 같이 제 1 인쇄 회로 기판(3000)의 제 1 커넥터부(3100)에는 테스트용 제어 신호를 인가하는 별도의 신호 공급부(5000)가 장착되는 것이 바람직하다.
이를 이용한 동작 검사를 간략히 설명하면 다음과 같다.
제 2 인쇄 회로 기판(4000)의 입출력부(2300)를 제 1 인쇄 회로 기판(3000)의 제 2 커넥터부(3200)에 장착시키고, 신호 공급부(5000)를 제 1 인쇄 회로 기판(3000)의 제 2 커넥터부(3100)에 장착시킨다. 제 2 인쇄 회로 기판(4000)의 신호 생성부(2200)와 전압 생성부(2100)를 동작시킨다. 신호 생성부(2200)는 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 생성하여 제 1 인쇄 회로 기판(3000)의 제 2 커넥터부(3200)를 통해 스위치부(400)에 공급한다. 전압 생성부(2100)는 테스트용 기준 전압(HAVDD)을 생성하여 계조 전압 생성부(500)에 공급하고, 테스트용 게이트 턴온 전압(HVon) 및 테스트용 게이트 턴 오프 전압(HVoff)을 생성하여 게이트 구동부(200)에 공급한다. 전압 생성부(2100)는 테스트용 전원 전압(HVDD)을 생성하여 구동 모듈(1000)의 각부에 공급한다. 한편, 신호 공급부(5000)를 통해 제어 신호가 타이밍 제어부(700)에 인가된다. 타이밍 제어부(700)는 수직 동기 시작 신호(STV)를 스위치부(400)에 공급하고, 데이터 제어 신호를 데이터 구동부(300)에 공급한다. 이때, 입출력부(2300)가 제 2 커넥터부(3200)에 전기적으로 접속될 때, 상기 제 2 커넥터부(3200)에서 컨버터부(600)를 디스에이블 시키고, 스위치부(400)의 동작을 제어하는 동작 제어 신호가 생성된다. 물론 본 실시예에서는 이에 한정되지 않고, 상기 제 2 인쇄 회로 기판(4000) 상에 상기 동작 제어 신호를 생성하는 별도의 동작 신호 생성 부재가 마련될 수도 있다. 스위치부(400)는 동작 제어신호에 따라 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 게이트 구동부(200)에 인가한다. 이를 통해 게이트 구동부(200)는 테스트용 게이트 턴온 전압(HVon) 및 테스트용 게이트 턴 오프 전압(HVoff)을 순차적으로 게이트 라인(G1 내지 Gn)에 공급한다. 한편 계조 전압 생성부(500)는 테스트용 기준 전압(HAVDD)을 공급 받아 테스트용 계조 전압을 생성하고, 이를 데이터 구동부(300)에 공급한다. 테이터 구동부(300)는 테스트용 계조 전압과 데이터 제어 신호에 따라 데이터 라인(D1 내지 Dm)에 데이터 신호를 공급한다. 이를 통해 액정 표시 패널(100)을 구동시켜 그 불량을 검사한다. 그리고, 액정 표시 패널(100)의 동작 검사를 수행한 다음 상기 제 2 인쇄 회로 기판(4000)은 제 1 인쇄 회로 기판(3000)으로부터 분리된다.
상술한 설명에서는 게이트 구동부(200)가 액정 표시 패널(100)의 하부 기판(110)에 실장됨에 관해 설명하였다. 하지만 본 발명은 이에 한정되지 않고, 상기 게이트 구동부(200)가 별도의 제 3 인쇄 회로 기판(미도시)에 실장되고, 제 3 인쇄 회로 기판이 연성 인쇄 회로 기판을 통해 액정 표시 패널(100)과 접속될 수도 있다. 이때, 스위치부(400)가 상기 제 3 인쇄 회로 기판에 마련될 수도 있다.
본 실시예는 이에 한정되지 않고, 다양한 변형예가 가능한다.
도 6에 도시된 바와 같이 상기 스위치부(400)가 상기 게이트 구동부(200) 내측에 마련될 수도 있다. 즉, 복수의 회로가 집적된 칩 형상의 게이트 구동부(200)의 내측에 소정의 회로모듈로 스위치부(400)가 마련될 수 있다. 이때, 상기 스위치부(400)는 게이트 구동부(200)로 수직 동기 시작 신호(STV)가 인가될 경우에는 수직 동기 시작 신호(STV)를 게이트 구동부(200) 내부 회로에 전송한다. 반면에 게이트 구동부(200)로 수직 동기 시작 신호(STV)와 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)가 인가될 경우 스위치부(400)는 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 게이트 구동부(200)의 내부 회로에 전송한다. 즉, 정상 모드 시에는 타이밍 제어부(700)의 출력인 수직 동기 시작 신호(STV)만이 게이트 구동부에 인가된다. 그러나 검사 모듈(2000)이 접속된 검사 모드 시에는 검사 모듈(2000)의 출력인 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)도 함께 게이트 구동부(200)에 인가 된다. 따라서, 두 신호 즉, 수직 동기 시작 신호(STV)와 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)가 인가될 경우에는 수직 동기 시작 신호(STV)의 전송을 차단하고, 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 인가한다. 따라서, 게이트 구동부(200)의 스위치부(400)는 타이밍 제어부(700)의 수직 동기 시작 신호(STV) 출력단에 전기적으로 접속된다. 그리고, 검사 모듈(2000)과 접속되는 제 2 커넥터부(3200)의 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 인가 받는 핀에 전기적으로 접속된다.
또한, 도 7에 도시된 바와 같이 검사 모듈(2000)은 제 1 및 제 2 테스트용 제어 신호(CS1, CS2)를 생성하여 컨버터부(600)와 타이밍 제어부(700)의 동작을 제어할 수도 있다. 이때, 구동 모듈(1000)은 단일의 커넥터부(3400)을 포함하고, 상기 커넥터부(34000)에 검사 모듈(2000)이 접속한다. 이를 통해 제 1 테스트용 제어 신호(CS1)를 통해 컨버터부(600)의 전체 동작을 디스에이블 시키고, 제 2 테스트용 제어 신호(CS2)를 통해 타이밍 제어부(700)의 일부 동작을 디스에이블 시킨다.
즉, 타이밍 제어부(700)의 수직 동기 시작 신호(STV) 생성에 관련된 회로의 동작을 디스에이블 시킨다. 물론 이를 위해 상기 타이밍 제어부(700)의 각 회로들은 각기 분리 동작되는 것이 바람직하다. 그리고, 상기 커넥터부(3400)에 접속된 검사 모듈(2000)을 통해 상기 타이밍 제어부(700)에 데이터 신호 관련 제어 신호를 공급할 수도 있다.
이를 통해 구동 모듈(1000)의 수직 동기 시작 신호(STV), 게이트 턴온 전압(Von), 게이트 턴 오프 전압(Voff) 및 기준 전압(AVDD)의 생성이 차단된다. 그리고, 검사 모듈(2000)의 출력인 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV), 테스트용 게이트 턴온 전압(HVon) 및 테스트용 게이트 턴 오프 전압(HVoff)을 게이트 구동부(200)에 제공하고, 테스트용 기준 전압(HAVDD)을 계조 전압 생성부(500)에 공급한다. 이를 통해 별도의 수직 동기 시작 신호(STV) 및 테스트용 수직 동기 시작 신 호(HSTV)를 스위칭하기 위한 스위치부(400)를 생략할 수 있다.
또한, 본 실시예는 이에 한정되지 않고, 상기 제 1 및 제 2 테스트용 제어 신호(CS1, CS2)를 이용하여 컨버터부(600) 및 타이밍 제어부(700)의 동작을 디스에이블 시킬 수도 있다. 이때, 제 2 테스트용 동작 제어 신호(CS2)로 타이밍 제어부(700)를 디스에이블 시키기 때문에 검사 모듈(2000)에서 화상 정보와 관련된 테스트용 영상 데이터 신호를 데이터 구동부(300)에 공급할 수도 있다. 검사 모듈(2000)은 타이밍 제어부(700) 역할을 하는 별도의 검사부(미도시)를 더 포함하는 것이 바람직하다. 이때, 상기 검사부에 앞서 설명한 신호 생성부(2200)가 더 포함되어 있는 것이 바람직하다. 검사 모듈(2000)은 테스트용 영상 데이터 신호를 데이터 구동부(3000)에 공급하고, 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 게이트 구동부(200)에 공급한다. 이를 통해 검사 모듈(2000)은 테스트용 신호 및 전압들을 이용하여 액정 표시 패널(100)의 불량을 검사할 수 있다.
상술한 실시예에서는 게이트 구동부가 칩 형태로 하부 기판 상에 실장됨을 설명하였다. 하지만 본 발명은 이에 한정되지 않고, 하부 기판의 표시 영역의 박막 트랜지스터 형성시 주변 영역의 일측에 게이트 구동부를 함께 형성할 수도 있다. 그리고, 이러한 게이트 구동부를 구동시키기 위한 별도의 제어 신호 생성부를 포함할 수도 있다. 하기에서는 게이트 구동부가 액정 표시 패널의 하부 기판에 형성된 구동 모듈을 검사할 수 있는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 표시 장치 검사 시스템과 이의 검사 방법을 설명한다. 후술되는 설명 중 상술한 실시예와 중복되는 설명은 생략한다. 후술되는 설명의 기술은 상술한 실시예에 적용될 수도 있다.
도 8은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 표시 장치 검사 시스템의 블록 개념도이다.
도 8을 참조하면, 본 실시예에 따른 표시 장치 검사 시스템은 구동 모듈(1000)과 검사 모듈(2000)을 포함한다. 상기 구동 모듈(1000)은 액정 표시 패널(100)의 구동을 위한 게이트 구동부(800), 데이터 구동부(300), 계조 전압 생성부(500), 컨버터부(600), 타이밍 제어부(700), 스위치부(400), 제어신호 생성부(900), 제 1 컨버터부(3100) 및 제 2 컨버터부(3200)를 포함한다. 검사 모듈(2000)은 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 생성하는 신호 생성부(2200)와, 복수의 테스트 전압을 생성하는 전압 생성부(2100)를 포함한다. 상기 검사 모듈(2000)은 상지 제 2 컨버터부(3200)의 일부에 접속된다.
상기의 액정 표시 패널(100)은 표시 영역(D)과 주변영역(P)으로 정의되고, 상기 표시 영역(D)에는 복수의 게이트 라인(G1 내지 Gn)과 데이터 라인(D1 내지 Dm) 및 복수의 픽셀을 포함한다. 복수의 게이트 라인(G1 내지 Gn)과 복수의 데이터 라인(D1 내지 Dm)은 물론 픽셀의 박막 트랜지스터(T)와 화소 전극은 하부 기판의 표시 영역(D)에 마련되고, 화소 전극에 대응하는 공통 전극과 컬러 필터는 상부 기판의 표시 영역(D)에 마련된다. 그리고, 상부 기판과 하부 기판의 표시 영역(D) 사이에는 액정층이 마련된다.
게이트 구동부(800)는 클럭 신호(CKV), 반전된 클럭 신호(CKVB) 및 시작 신호(STVP)에 따라 표시 영역(D)의 복수의 게이트 라인(G1 내지 Gn)에 게이트 턴온 전압(Von) 및 게이트 턴 오프 전압(Voff)을 공급한다. 또한, 테스트용 클럭 신 호(HCKV), 테스트용 반전된 클럭 신호(HCKVB) 및 테스트용 시작 신호(HSTVP)에 따라 표시 영역의 복수의 게이트 라인(G1 내지 Gn)에 테스트용 게이트 턴온 전압(HVon) 및 테스트용 게이트 턴 오프 전압(HVoff)을 공급한다.
게이트 구동부(800)는 복수의 게이트 라인(G1 내지 Gn)에 각기 접속된 복수의 스테이지부(미도시)를 포함한다. 각 스테이지부는 각기 클럭 신호(CKV) 및 반전된 클럭 신호(CKVB) 또는 테스트용 클럭 신호(HCKV) 및 테스트용 반전된 클럭 신호(HCKVB)를 공급받아 게이트 전원을 공급한다.
첫번째 스테이지부는 시작 신호(STVP) 및 테스트용 시작 신호(HSTVP)에 따라 클럭 신호(CKV) 또는 테스트용 클럭 신호(HCKV)를 첫번째 게이트 라인(G1)에 게이트 전원으로 공급한다. 나머지 스테이지부는 전단 스테이지부의 출력인 게이트 전원에 따라 클럭 신호(CKV) 또는 테스트용 클럭 신호(HCKV)를 게이트 라인(G2 내지 Gn)의 게이트 전원으로 공급한다. 그리고, 스테이지부는 후단 스테이지부의 출력에 따라 리셋되는 것이 바람직하다. 또한, 마지막 단의 스테이지부는 별도의 시작 신호를 공급받아 리셋될 수도 있다. 본 실시예에 따른 게이트 구동부(800)는 하부 기판의 주변 영역(P)에 형성되는 것이 바람직하다.
이때, 게이트 구동부(800)는 액정 표시 패널(100)의 주변 영역(P)에 마련되는 것이 바람직하다. 또한, 게이트 구동부(800)의 복수의 스테이지부는 하부 기판의 주변 영역(P)에 마련되는 것이 바람직하다. 그리고, 상기 복수의 스테이지부는 픽셀의 박막 트랜지스터(T)와 동시에 형성되는 것이 효과적이다.
본 실시예에서는 컨버터부(600)의 게이트 턴온 전압(Von) 및 게이트 턴 오프 전압(Voff)을 공급 받아 클럭 신호(CKV) 및 반전된 클럭 신호(CKVB)를 생성하거나, 검사 모듈(2000)의 테스트용 게이트 턴온 전압(HVon) 및 테스트용 게이트 턴 오프 전압(HVoff)을 공급 받아 테스트용 클럭 신호(HCKV) 및 테스트용 반전된 클럭 신호(HCKVB)를 생성하는 제어 신호 생성부(900)를 포함한다. 그리고, 제어 신호 생성부(900)는 스위치부(400)의 수직 동기 시작 신호(STV) 또는 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 공급받아 시작 신호(STVP) 및 테스트용 시작 신호(HSTVP)를 생성한다. 이때, 스위치부(400)는 제어 신호 생성부(900)와 일체로 제작될 수 있다.
본 실시예에 따른 표시 장치의 검사 시스템은 검사 모듈(2000)이 동작하여 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 스위치부(400)에 공급한다. 이를 통해 스위치부(400)는 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 출력한다. 스위치부(400)의 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)는 제어 신호 생성부(900)에 공급된다. 제어 신호 생성부(900)는 상기 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)는 물론 검사 모듈(2000)의 테스트용 게이트 턴온 전압(HVon) 및 테스트용 게이트 턴 오프 전압(HVoff)을 공급 받는다. 이를 통해 제어 신호 생성부(900)는 테스트용 클럭 신호(HCKV) 및 테스트용 반전된 클럭 신호(HCKVB)를 생성하여 게이트 구동부(800)의 복수의 스테이지부에 공급하고, 첫번째 스테이지부에 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 공급한다.
첫번째 스테이지부는 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)와, 테스트용 클럭 신호(HCKV) 및 테스트용 반전된 클럭 신호(HCKVB)를 공급 받아, 첫번째 스테이지부에 접속된 첫번째 게이트 라인(G1)에 게이트 전원을 공급한다. 이후, 상기 게이트 전원은 다음 단의 두번째 스테이지부에 공급된다. 다음 단의 두번째 스테이지부는 첫번째 게이트 라인(G1)에 공급되었던 게이트 전원과, 테스트용 클럭 신호(HCKV) 및 테스트용 반전된 클럭 신호(HCKVB)를 공급 받아, 두번째 스테이지부에 접속된 두번째 게이트 라인(G2)에 게이트 전원을 공급한다. 이후, 상기 두번째 게이트 라인(G2)에 공급된 게이트 전원은 첫번째 스테이지부에 공급되어 이를 리셋시킨다. 그리고, 두번째 게이트 라인(G2)에 공급된 게이트 전원은 다음 단의 세번째 스테이지부에 공급된다. 이를 통해 복수의 게이트 라인(G4 내지 Gn)에 순차적으로 게이트 전원을 공급한다. 이때, 복수의 게이트 라인(G1 내지 Gn)이 순차적으로 턴온될 때 데이터 구동부(300)는 복수의 데이터 라인(D1 내지 Dm)에 순차적으로 테스트용 데이터 신호를 공급한다. 이를 통해 테스트용 게이트 전원과 테스트용 데이터 신호에 따라 복수의 픽셀을 구동시켜 액정 표시 패널(100)의 동작 유무를 검사한다. 그리고, 상기 테스트용 시작 신호(HSTV)의 주파수를 변경시켜 프레임 주파수에 따른 액정 표시 패널(100)의 불량 유무를 검사할 수 있다.
상술한 실시예에서는 검사 모듈을 통해 테스트용 전압과 신호를 생성하고, 이 전압과 신호를 통해 과전압과 프레임 주파수의 변화에 따른 액정 표시 패널의 불량 유무를 검사하였다. 하지만 본 발명은 이에 한정되지 않고, 검사 모듈은 테스트용 수직 동기 시작 신호만을 생성하고, 이를 통해 프레임 주파수의 변화에 따른 액정 표시 패널의 불량 유무를 검사할 수 있다. 하기에서는 수직 동기 시작 신호를 이용하여 구동 모듈을 검사할 수 있는 본 발명의 제 3 실시예에 따른 표시 장치 검사 시스템과 이의 검사 방법을 설명한다. 후술되는 설명 중 상술한 실시예들과 중 복되는 설명은 생략한다. 후술되는 설명의 기술은 상술한 실시예들에 적용될 수도 있다.
도 9는 본 발명의 제 3 실시예에 따른 표시 장치 검사 시스템의 블록 개념도이다.
도 9를 참조하면, 본 실시예에 따른 표시 장치 검사 시스템은 구동 모듈(1000)과 검사 모듈(2000)을 포함한다.
상기 구동 모듈(1000)은 액정 표시 패널(100)의 구동을 위한 게이트 구동부(200), 데이터 구동부(300), 스위치부(400), 계조 전압 생성부(500), 컨버터부(600), 타이밍 제어부(700), 제 3 커넥터부(3500) 및 제 4 커넥터부(3600)를 포함한다. 상기 검사 모듈(2000)은 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 공급하는 신호 생성부를 포함한다.
구동 모듈(1000)의 스위치부(400)는 검사 모듈(2000)의 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV) 또는 타이밍 제어부(700)의 수직 동기 시작 신호(STV)를 게이트 구동부(200)에 공급한다. 게이트 구동부(200)는 스위치부(400)의 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV) 또는 수직 동기 시작 신호(STV)에 따라 컨버터부(600)의 게이트 턴온 전압(Von)을 액정 표시 패널(100)의 복수의 게이트 라인(G1 내지 Gn)에 공급한다. 상기 컨버터부(600)는 외부의 전원을 공급 받아 게이트 턴온 전압(Von) 및 게이트 턴 오프 전압(Voff)을 게이트 구동부(200)에 공급하거나, 기준 전압(AVDD)을 계조 전압 생성부(500)에 공급한다. 계조 전압 생성부(500)는 기준 전압(AVDD)을 공급 받아 계조 전압(즉, 감마 전압)을 데이터 구동부(300)에 공급한 다. 데이터 구동부(300)는 계조 전압과 타이밍 제어부(700)의 데이터 영상 신호에 따라 데이터 신호를 액정 표시 패널(100)의 복수의 데이터 라인(D1 내지 Dm)에 공급한다. 본 실시예에 따른 제 3 커넥터부(3500)는 복수의 핀을 포함하여, 상기 핀들을 통해 인가된 외부의 제어 신호와 외부 전원을 각기 타이밍 제어부(700)와 컨버터부(600)에 공급한다. 제 4 커넥터부(3600)는 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 인가 받는 핀을 포함하고, 상기 핀을 통해 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 스위치부(400)에 제공하다.
본 실시예에 따른 검사 모듈(2000)은 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 구동 모듈(1000)에 공급하여 액정 표시 패널(100)의 프레임 주파수를 변환시킨다. 즉, 검사 모듈(2000)은 구동 모듈(1000)의 제 4 커넥터부(3600)에 접속하여 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 스위치부(400)에 공급한다. 스위치부(400)는 공급된 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)를 게이트 구동부(200)에 공급한다. 상기 검사 모듈(2000)은 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)만을 공급한다. 그리고, 상기 제 3 커넥터부(3500)를 통해 정상 동작시 사용되는 외부 제어 신호와 외부 전원이 타이밍 제어부(700)와 컨버터부(600)에 공급되는 것이 바람직하다.
이를 통해 컨버터부(600)가 동작하여 정상 동작시 사용되는 게이트 턴온 전압(Von) 및 게이트 턴 오프 전압(Voff)을 게이트 구동부(200)에 공급하고, 기준 전압(AVDD)을 계조 전압 생성부(500)에 공급한다. 게이트 구동부(200)는 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)에 따라 복수의 게이트 라인(G1 내지 Gn)에 순차적으로 게이트 턴온 전압(Von)을 인가한다. 그리고, 계조 전압 생성부(500)는 계조 전압을 데이터 구동부(300)에 공급한다. 데이터 구동부(300)는 계조 전압과, 타이밍 제어부(700)의 데이터 영상 신호를 이용하여 복수의 데이터 라인(D1 내지 Dm)에 데이터 신호를 공급한다. 이를 통해 액정 표시 패널(100)의 픽셀이 구동하여 화상을 표시하게 된다. 앞선 실시예에서 설명한 바와 같이 테스트용 수직 동기 시작 신호(HSTV)의 주파수를 변화시켜 액정 표시 패널(100)의 프레임 주파수를 가변시켜 이때, 발생하는 불량을 검사할 수 있다.
본 실시예에서는 별도의 커넥터를 통해 상기 검사 모듈이 표시 패널에 접속됨을 설명하였다. 하지만 본 발명은 이에 한정되지 않고, 상기 검사 모듈이 표시 패널 내에 마련되어 타이밍 제어부의 제어 신호에 따라 구동할 수도 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명은 프레임 주파수 가변에 따른 표시 패널의 불량을 테스트할 수 있다.
또한, 프레임 주파수에 따른 불량과 동시에 동작 전압 보다 높은 전압에서도 구동 모듈이 정상 구동 되는지의 여부를 테스트 할 수 있다.
또한, 표시 패널은 별도의 스위치부를 구비하여 외부 신호에 따라 수직 동기 시작 신호 또는 테스트용 수직 동기 시작 신호 중 어느 하나의 신호를 게이트 구동부에 공급할 수 있다.
본 발명을 첨부 도면과 전술된 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였으나, 본 발명은 그에 한정되지 않으며, 후술되는 특허청구범위에 의해 한정된다. 따라 서, 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 후술되는 특허청구범위의 기술적 사상에서 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 변형 및 수정할 수 있다.

Claims (34)

  1. 복수의 게이트 라인을 구비하는 표시 패널;
    수직 동기 시작 신호 또는 테스트용 수직 동기 시작 신호에 따라 동작하여 상기 게이트 라인에 게이트 전원을 공급하는 게이트 구동부; 및
    상기 게이트 구동부에 상기 테스트용 수직 동기 시작 신호를 제공하는 핀을 구비하는 커넥터부를 포함하는 표시 장치.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 수직 동기 시작 신호를 생성하는 타이밍 제어부; 및
    상기 수직 동기 시작 신호 및 상기 테스트용 수직 동기 시작 신호 중 어느 하나를 상기 게이트 구동부에 공급하는 스위치부를 더 포함하는 표시 장치.
  3. 청구항 2에 있어서,
    상기 수직 동기 시작 신호를 제공하는 핀은 상기 스위치부에 전기적으로 접속된 표시 장치.
  4. 청구항 2에 있어서,
    상기 스위치부는 상기 게이트 구동부와 일체로 제작된 표시 장치.
  5. 청구항 1에 있어서,
    상기 테스트용 수직 동기 시작 신호의 주파수가 가변되는 표시 장치.
  6. 청구항 1에 있어서,
    상기 테스트용 수직 동기 시작 신호의 주파수는 상기 수직 동기 시작 신호의 주파수보다 0 내지 100% 증가 또는 감소된 주파수를 사용하는 표시 장치.
  7. 청구항 1에 있어서,
    상기 커넥터부는 외부 제어 신호를 공급받는 제 1 커넥터와, 외부 전원 및 테스트용 외부 전원을 공급받는 제 2 커넥터를 포함하는 표시 장치.
  8. 청구항 7에 있어서,
    상기 테스트용 수직 동기 시작 신호를 공급 받는 핀은 상기 제 2 커넥터에 마련된 표시 장치.
  9. 청구항 7에 있어서,
    상기 테스트용 외부 전원은 상기 외부 전원 보다 0 내지 100% 증가 또는 감소된 전원을 사용하는 표시 장치.
  10. 복수의 게이트 라인을 구비하는 표시 패널;
    수직 동기 시작 신호 또는 외부의 테스트용 수직 동기 시작 신호에 따라 동작하여 상기 게이트 라인에 순차적으로 게이트 전원을 공급하는 게이트 구동부; 및
    상기 수직 동기 시작 신호와 상기 외부의 테스트용 수직 동기 시작 신호 중 어느 하나를 상기 게이트 구동부에 공급하는 스위치부를 포함하는 표시 장치.
  11. 복수의 게이트 라인을 구비하는 표시 패널;
    시작 신호에 따라 동작하여 상기 복수의 게이트 라인에 순차적으로 게이트 전원을 공급하는 게이트 구동부;
    수직 동기 시작 신호 또는 외부의 테스트용 수직 동기 시작 신호에 따라 상기 시작 신호를 생성하는 제어 신호 생성부; 및
    상기 제어 신호 생성부에 상기 테스트용 수직 동기 시작 신호를 공급하는 핀을 구비하는 커넥터부 포함하는 표시 장치.
  12. 청구항 11에 있어서,
    상기 수직 동기 시작 신호를 생성하는 타이밍 제어부; 및
    상기 수직 동기 시작 신호 및 상기 테스트용 수직 동기 시작 신호 중 어느 하나를 상기 제어 신호 생성부에 공급하는 스위치부를 더 포함하는 표시 장치.
  13. 청구항 12에 있어서,
    상기 스위치부는 상기 제어 신호 생성부와 일체로 제작된 표시 장치.
  14. 청구항 11에 있어서,
    상기 테스트용 수직 동기 시작 신호의 주파수가 가변되는 표시 장치.
  15. 복수의 게이트 라인을 구비하는 표시 패널;
    시작 신호에 따라 동작하여 상기 게이트 라인에 순차적으로 게이트 전원을 공급하는 게이트 구동부;
    수직 동기 시작 신호 또는 외부의 테스트용 수직 동기 시작 신호에 따라 상기 시작 신호를 생성하는 제어 신호 생성부; 및
    상기 수직 동기 시작 신호와 상기 외부의 테스트용 수직 동기 시작 신호를 상기 제어 신호 생성부에 공급하는 스위치부를 포함하는 표시 장치.
  16. 상부 기판과 하부 기판의 표시 영역에 마련된 복수의 픽셀을 포함하는 표시 패널;
    상기 복수의 픽셀과 접속된 게이트 구동부;
    상기 게이트 구동부에 접속된 스위치부; 및
    적어도 하나의 핀이 상기 스위치부에 접속된 컨넥터부를 포함하는 표시 장치.
  17. 청구항 16에 있어서,
    상기 핀은 주파수가 가변되는 외부 신호를 공급받는 표시 장치.
  18. 청구항 16에 있어서,
    상기 게이트 구동부는 상기 하부 기판의 주변 영역에 마련된 표시 장치.
  19. 청구항 16에 있어서,
    상기 스위치부 및 상기 커넥터부가 마련된 인쇄 회로 기판과,
    상기 인쇄 회로 기판과 상기 하부 기판을 전기적으로 연결하는 연성 인쇄 회로 기판을 포함하는 표시 장치.
  20. 청구항 16에 있어서,
    상기 게이트 구동부와 상기 스위치부 사이에 제어 신호 생성부가 마련된 표시 장치.
  21. 표시 영역과 주변 영역이 정의된 상부 기판 및 하부 기판과, 상기 상부 및 하부 기판의 상기 표시 영역에 마련된 복수의 픽셀을 구비하는 표시 패널;
    상기 하부 기판의 상기 주변 영역에 마련되어 상기 표시 패널의 픽셀에 접속된 게이트 구동부;
    상기 하부 기판과 전기적으로 접속된 제 1 인쇄 회로 기판;
    상기 인쇄 회로 기판 상에 실장되어 상기 픽셀과 접속된 데이터 구동부;
    상기 인쇄 회로 기판 상에 실장되어 상기 게이트 구동부에 접속된 스위치부;
    상기 인쇄 회로 기판 상에 실장되어 상기 스위치부와 상기 데이터 구동부에 각기 접속된 타이밍 제어부;
    상기 인쇄 회로 기판 상에 실장되어 상기 데이터 구동부에 접속된 계조 전압 생성부; 및
    상기 인쇄 회로 기판에 마련되고, 적어도 하나의 핀이 상기 스위치부에 접속된 커넥터부를 포함하는 표시 장치.
  22. 청구항 21에 있어서,
    상기 스위치부는 상기 커넥터부의 핀의 입력 신호에 따라 상기 타이밍 제어부와 상기 게이트 구동부간을 전기적으로 연결시키거나, 상기 핀과 게이트 구동부간을 전기적으로 연결시키는 표시 장치.
  23. 테스트용 수직 동기 시작 신호에 따라 표시 패널의 복수의 게이트 라인에 순차적으로 게이트 전원을 공급하는 게이트 구동부를 포함하는 구동 모듈; 및
    상기 구동 모듈에 테스트용 수직 동기 시작 신호를 공급하는 검사 모듈을 포함하는 표시 장치 검사 시스템.
  24. 청구항 23에 있어서,
    상기 테스트용 수직 동기 시작 신호의 주파수가 가변되는 표시 장치 검사 시스템.
  25. 청구항 23에 있어서,
    상기 구동 모듈은 수직 동기 시작 신호를 생성하는 타이밍 제어부와, 상기 수직 동기 시작 신호 및 상기 테스트용 수직 동기 시작 신호 중 어느 하나를 상기 게이트 구동부에 공급하는 스위치부와, 상기 검사 모듈 접속 여부에 따라 상기 게이트 구동부에 게이트 턴온 전압 및 게이트 턴 오프 전압을 공급하는 컨버터부를 구비하고,
    상기 검사 모듈은 상기 게이트 구동부에 테스트용 게이트 턴온 전압 및 테스트용 게이트 턴 오프 전압을 공급하는 전압 생성부를 포함하는 표시 장치 검사 시스템.
  26. 청구항 23에 있어서,
    상기 구동 모듈은 상기 게이트 턴온 전압 및 게이트 턴 오프 전압 또는 상기 테스트용 게이트 턴온 전압 및 테스트용 게이트 턴 오프 전압에 따라 클럭 신호 및 반전된 클럭 신호를 생성하고, 상기 클럭 신호 및 반전된 클럭 신호를 상기 게이트 구동부에 공급하는 제어신호 생성부를 포함하는 표시 장치 검사 시스템.
  27. 표시 패널의 상부 기판과 하부 기판의 표시영역에 마련된 복수의 픽셀에 접속된 게이트 구동부 및 데이터 구동부와, 상기 게이트 구동부에 접속된 스위치부와, 상기 스위치부와 상기 데이터 구동부에 접속된 타이밍 제어부를 구비하는 구동 모듈;
    상기 스위치부에 접속된 신호 생성부를 구비하는 검사 모듈을 포함하는 표시 장치 검사 시스템.
  28. 청구항 27에 있어서,
    상기 구동 모듈은, 연성 인쇄 회로 기판을 통해 상기 하부 기판과 전기적으로 접속되고 전원 입력 커넥터와 신호 입력 커넥터를 구비하는 제 1 인쇄 회로 기판을 포함하고,
    상기 검사 모듈은 상기 제 1 인쇄 회로 기판의 상기 전원 입력 커넥터 및 상기 신호 입력 커넥터 중 어느 하나의 커넥터에 전기적으로 접속된 제 2 인쇄 회로 기판을 포함하고,
    상기 제 1 인쇄 회로 기판 상에 상기 데이터 구동부, 상기 스위치부 및 상기 타이밍 제어부가 마련되고, 상기 제 2 인쇄 회로 기판 상에 상기 신호 생성부가 마련된 표시 장치 검사 시스템.
  29. 표시 장치의 검사 방법에 있어서,
    외부로부터 주파수 가변이 가능한 테스트용 수직 동기 시작 신호를 상기 표시 장치에 공급하는 단계;
    상기 테스트용 수직 동기 시작 신호에 따라 상기 표시 장치의 복수의 게이트 라인에 순차적으로 게이트 전원을 공급하는 단계를 포함하는 표시 장치 검사 방법.
  30. 청구항 29에 있어서,
    상기 테스트용 수직 동기 시작 신호의 주파수는 상기 표시 장치의 정상 동작시 사용하는 수직 동기 시작 신호의 주파수 보다 0 내지 100% 증가 또는 감소된 주파수를 사용하고, 상기 게이트 전원은 상기 표시 장치의 정상 동작시 사용하는 전원 보다 0 내지 100% 증가 또는 감소된 전원을 사용하는 표시 장치 검사 방법.
  31. 청구항 29에 있어서, 상기 표시 장치의 상기 복수의 게이트 라인에 순차적으로 상기 게이트 전원을 공급하는 단계 이후,
    상기 테스트용 수직 동기 시작 신호의 주파수를 가변하는 단계;
    가변된 테스트용 수직 동기 시작 신호에 따라 상기 표시 장치의 상기 복수의 게이트 라인에 순차적으로 상기 게이트 전원을 공급하는 단계를 더 포함하는 표시 장치 검사 방법.
  32. 게이트 구동부를 구비하는 표시 장치의 검사 모듈에 있어서,
    상기 게이트 구동부에 주파수 가변이 가능한 테스트용 수직 동기 시작 신호를 공급하는 신호 생성부를 포함하는 검사 모듈.
  33. 청구항 32에 있어서,
    상기 신호 생성부는 상기 표시 장치의 정상 동작시 사용하는 수직 동기 시작 신호의 주파수 보다 0 내지 100% 증가 또는 감소된 주파수를 갖는 상기 테스트용 수직 동기 시작 신호를 생성하는 검사 모듈.
  34. 청구항 32에 있어서,
    상기 게이트 구동부에 테스트용 게이트 턴온 전압 및 테스트용 게이트 턴 오프 전압을 공급하는 전압 생성부를 더 포함하는 검사 모듈.
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102062790A (zh) * 2010-11-02 2011-05-18 友达光电股份有限公司 显示面板测试系统及其微探针装置
KR101226532B1 (ko) * 2008-10-09 2013-01-25 베이징 비오이 옵토일렉트로닉스 테크놀로지 컴퍼니 리미티드 스위치 제어 유닛, 액정 셀 조립 후 검사 장치와 방법
KR20150034939A (ko) * 2013-09-27 2015-04-06 엘지디스플레이 주식회사 표시장치와 그 구동방법
CN107886908A (zh) * 2016-09-30 2018-04-06 深圳深微创芯科技有限公司 触摸显示装置和电子设备
CN110288931A (zh) * 2019-06-12 2019-09-27 北海惠科光电技术有限公司 栅线不良的检测方法、显示面板及可读存储介质
CN114019342A (zh) * 2022-01-05 2022-02-08 深圳佑驾创新科技有限公司 一种无源晶振测试电路

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7944438B2 (en) * 2007-04-13 2011-05-17 Omnivision Technologies, Inc. System and method for improving image quality by synchronizing display modulation with light source pulses
KR101394891B1 (ko) * 2007-05-22 2014-05-14 삼성디스플레이 주식회사 소스 드라이버 및 이를 포함하는 표시 장치
KR101485584B1 (ko) * 2008-08-06 2015-01-28 삼성디스플레이 주식회사 액정 표시 장치 및 그것의 구동 방법
KR101696475B1 (ko) * 2010-07-19 2017-01-13 엘지디스플레이 주식회사 표시장치와 이의 제조방법
US20120120129A1 (en) * 2010-11-11 2012-05-17 Novatek Microelectronics Corp. Display controller driver and method for testing the same
KR101844431B1 (ko) * 2011-06-24 2018-04-03 삼성디스플레이 주식회사 검사패드부를 포함하는 표시패널 및 평판표시장치
TW201345151A (zh) * 2012-04-25 2013-11-01 Novatek Microelectronics Corp 橋接積體電路
KR20140064036A (ko) * 2012-11-19 2014-05-28 삼성디스플레이 주식회사 패드부, 이를 구비하는 표시 패널 및 평판 표시 장치
US9311860B2 (en) * 2013-09-06 2016-04-12 Lenovo Enterprise Solutions (Singapore) Pte. Ltd. Liquid crystal display using backlight intensity to compensate for pixel damage
CN104715703A (zh) * 2015-03-05 2015-06-17 深圳市摩西尔电子有限公司 显示屏模组点亮测试设备
CN106875877A (zh) * 2017-02-24 2017-06-20 京东方科技集团股份有限公司 栅极驱动电路的检测装置和方法
CN106842651A (zh) * 2017-04-11 2017-06-13 惠科股份有限公司 显示装置及显示面板的测试方法
CN107038984B (zh) * 2017-05-19 2020-07-31 武汉华星光电技术有限公司 一种阵列基板检测线路以及检测方法和制作方法
CN107564446A (zh) * 2017-09-30 2018-01-09 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 一种面板点灯机、面板点灯测试系统及测试方法
KR102535803B1 (ko) * 2018-08-13 2023-05-24 삼성디스플레이 주식회사 얼룩 보정을 수행하는 표시 장치 및 표시 장치의 구동 방법
CN109410850B (zh) * 2018-12-24 2021-02-12 惠科股份有限公司 一种过驱动亮度值查找表的调试方法、使用方法和显示面板
TWI727593B (zh) * 2020-01-02 2021-05-11 瑞昱半導體股份有限公司 應用於動態更新率的控制晶片與相關的驅動方法
KR20210158458A (ko) * 2020-06-23 2021-12-31 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 이를 포함하는 영상 표시 시스템

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB9219836D0 (en) * 1992-09-18 1992-10-28 Philips Electronics Uk Ltd Electronic drive circuits for active matrix devices,and a method of self-tasting and programming such circuits
KR100951357B1 (ko) * 2003-08-19 2010-04-08 삼성전자주식회사 액정 표시 장치
KR100963033B1 (ko) * 2003-12-26 2010-06-14 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치용 검사 장치 및 검사방법
KR101090255B1 (ko) * 2004-11-16 2011-12-06 삼성전자주식회사 표시 장치용 표시판 및 표시 장치의 검사 방법
JP2006154496A (ja) * 2004-11-30 2006-06-15 Sharp Corp アクティブマトリクス型液晶表示装置
KR101129618B1 (ko) * 2005-07-19 2012-03-27 삼성전자주식회사 액정 표시 패널 및 이의 검사 방법과 이의 제조방법

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101226532B1 (ko) * 2008-10-09 2013-01-25 베이징 비오이 옵토일렉트로닉스 테크놀로지 컴퍼니 리미티드 스위치 제어 유닛, 액정 셀 조립 후 검사 장치와 방법
US8525540B2 (en) 2008-10-09 2013-09-03 Beijing Boe Optoelectronics Technology Co., Ltd. Switch control unit, test apparatus and method for liquid crystal cell
CN102062790A (zh) * 2010-11-02 2011-05-18 友达光电股份有限公司 显示面板测试系统及其微探针装置
KR20150034939A (ko) * 2013-09-27 2015-04-06 엘지디스플레이 주식회사 표시장치와 그 구동방법
CN107886908A (zh) * 2016-09-30 2018-04-06 深圳深微创芯科技有限公司 触摸显示装置和电子设备
CN107886908B (zh) * 2016-09-30 2021-05-04 珠海中科锐博医疗科技有限公司 触摸显示装置和电子设备
CN110288931A (zh) * 2019-06-12 2019-09-27 北海惠科光电技术有限公司 栅线不良的检测方法、显示面板及可读存储介质
US11705027B2 (en) 2019-06-12 2023-07-18 Beihai Hkc Optoelectronics Technology Co., Ltd. Method for detecting gate line defects, display panel and readable storage medium
CN114019342A (zh) * 2022-01-05 2022-02-08 深圳佑驾创新科技有限公司 一种无源晶振测试电路
CN114019342B (zh) * 2022-01-05 2022-04-05 深圳佑驾创新科技有限公司 一种无源晶振测试电路

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