JPH09203687A - 液晶表示装置の検査装置 - Google Patents
液晶表示装置の検査装置Info
- Publication number
- JPH09203687A JPH09203687A JP8011370A JP1137096A JPH09203687A JP H09203687 A JPH09203687 A JP H09203687A JP 8011370 A JP8011370 A JP 8011370A JP 1137096 A JP1137096 A JP 1137096A JP H09203687 A JPH09203687 A JP H09203687A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- liquid crystal
- temperature
- crystal display
- display device
- inspection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 常温下だけでなく、高温下などの所望の温度
下での液晶表示装置の表示検査が可能な液晶表示装置の
検査装置では、流体を介して液晶表示装置の温度を上昇
させるので、それに要する時間が長い。そのため、高温
下での検査時間が長くなり、生産性が低下してしまう。
また、検査装置の構造が複雑であり、そのコストアップ
を招くことになる。 【解決手段】 常温下だけでなく、高温下などの所望の
温度下での液晶表示装置の表示検査が可能な液晶表示装
置の検査装置において、液晶表示装置４に赤外線を照射
する手段２、１２を有することを特徴としている。
下での液晶表示装置の表示検査が可能な液晶表示装置の
検査装置では、流体を介して液晶表示装置の温度を上昇
させるので、それに要する時間が長い。そのため、高温
下での検査時間が長くなり、生産性が低下してしまう。
また、検査装置の構造が複雑であり、そのコストアップ
を招くことになる。 【解決手段】 常温下だけでなく、高温下などの所望の
温度下での液晶表示装置の表示検査が可能な液晶表示装
置の検査装置において、液晶表示装置４に赤外線を照射
する手段２、１２を有することを特徴としている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、透過型または反射
型の液晶表示装置の表示検査を行う液晶表示装置の検査
装置に関するものである。
型の液晶表示装置の表示検査を行う液晶表示装置の検査
装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】液晶表示装置は、対向したガラス基板の
透明電極間に液晶を挟み、この電極間に電気信号を加え
ることにより外部から入射する光を変調して情報を表示
するものである。この液晶表示装置は、ＣＲＴに比べて
消費電力が少ないこと、薄くて軽量であることなどから
次世代の表示装置として注目されており、生産量も年々
増加している状況にある。
透明電極間に液晶を挟み、この電極間に電気信号を加え
ることにより外部から入射する光を変調して情報を表示
するものである。この液晶表示装置は、ＣＲＴに比べて
消費電力が少ないこと、薄くて軽量であることなどから
次世代の表示装置として注目されており、生産量も年々
増加している状況にある。
【０００３】ところで、液晶表示装置の製造歩留まり
は、その製造プロセス上１００％でないため、表示品位
の検査を十分に行う必要がある。欠陥内容としては、例
えばＴＦＴ−ＬＣＤの場合、ＴＦＴ動作不良または異物
が原因の上下電極間のリークによって発生する１絵素単
位の欠陥である「点欠陥」や、バスライン間のリークや
オープンによって発生するライン状の複数絵素の欠陥で
ある「線欠陥」や、輝度ムラが発生する欠陥である「ム
ラ」，「シミ」などが挙げられる。このような欠陥を検
出する従来の液晶表示装置の検査装置を図５に示す。
尚、ここでは、透過型の液晶表示装置であって、駆動ド
ライバ回路を設ける前の液晶表示装置である液晶パネル
の表示検査を行う場合について説明する。同図におい
て、検査対象である液晶パネル４は、図４に示す分光特
性をもつ３波長管を用いた加熱作用のないバックライト
２上の液晶パネル吸着ステージ３にセットされる。この
液晶パネル４のセットは、通常搬送ロボットなどで液晶
パネル４を運搬して行う。次に、セットされた液晶パネ
ル４にその下方から光を照射するバックライト２を点灯
させ、固定ボード６に取り付けたプローバ５を液晶パネ
ル４に形成されている各電極端子に個別にコンタクトさ
せ、さらに、制御コンピュータ９が点灯パターン発生器
８を駆動させることにより検査に必要な表示パターンが
液晶パネル４に表示される。尚、固定ボード６は、エア
ーシリンダ７により上下動し、液晶パネル４の交換、液
晶パネル４の各電極端子へのプローバ５のコンタクトが
行われる。そして、液晶パネル４に表示された表示パタ
ーンに点欠陥，線欠陥，ムラ，シミ，などの欠陥がない
かを作業者が目視で検査し、良否の判定をする。最近は
コスト低減の市場要求が強く、人件費の増加、新人教育
の負荷増大などによる生産性の低下が問題となってお
り、また、個人差による検査結果のばらつきなどの問題
もあるため、ＣＣＤカメラ１１により画像の取り込みを
行い、制御コンピュータ９の指示により画像処理装置１
０にて欠陥検出を行う自動検査装置も一般的になりつつ
ある。さらに、この結果をもとに良否の判定を行い、ネ
ットワークに登録することも工程管理として有効であ
る。尚、上記検査は、シールドボックス１の中で行わ
れ、周囲環境の光が正確な検査の妨げとならないように
している。
は、その製造プロセス上１００％でないため、表示品位
の検査を十分に行う必要がある。欠陥内容としては、例
えばＴＦＴ−ＬＣＤの場合、ＴＦＴ動作不良または異物
が原因の上下電極間のリークによって発生する１絵素単
位の欠陥である「点欠陥」や、バスライン間のリークや
オープンによって発生するライン状の複数絵素の欠陥で
ある「線欠陥」や、輝度ムラが発生する欠陥である「ム
ラ」，「シミ」などが挙げられる。このような欠陥を検
出する従来の液晶表示装置の検査装置を図５に示す。
尚、ここでは、透過型の液晶表示装置であって、駆動ド
ライバ回路を設ける前の液晶表示装置である液晶パネル
の表示検査を行う場合について説明する。同図におい
て、検査対象である液晶パネル４は、図４に示す分光特
性をもつ３波長管を用いた加熱作用のないバックライト
２上の液晶パネル吸着ステージ３にセットされる。この
液晶パネル４のセットは、通常搬送ロボットなどで液晶
パネル４を運搬して行う。次に、セットされた液晶パネ
ル４にその下方から光を照射するバックライト２を点灯
させ、固定ボード６に取り付けたプローバ５を液晶パネ
ル４に形成されている各電極端子に個別にコンタクトさ
せ、さらに、制御コンピュータ９が点灯パターン発生器
８を駆動させることにより検査に必要な表示パターンが
液晶パネル４に表示される。尚、固定ボード６は、エア
ーシリンダ７により上下動し、液晶パネル４の交換、液
晶パネル４の各電極端子へのプローバ５のコンタクトが
行われる。そして、液晶パネル４に表示された表示パタ
ーンに点欠陥，線欠陥，ムラ，シミ，などの欠陥がない
かを作業者が目視で検査し、良否の判定をする。最近は
コスト低減の市場要求が強く、人件費の増加、新人教育
の負荷増大などによる生産性の低下が問題となってお
り、また、個人差による検査結果のばらつきなどの問題
もあるため、ＣＣＤカメラ１１により画像の取り込みを
行い、制御コンピュータ９の指示により画像処理装置１
０にて欠陥検出を行う自動検査装置も一般的になりつつ
ある。さらに、この結果をもとに良否の判定を行い、ネ
ットワークに登録することも工程管理として有効であ
る。尚、上記検査は、シールドボックス１の中で行わ
れ、周囲環境の光が正確な検査の妨げとならないように
している。
【０００４】ここで、液晶表示装置は、世界中のパソコ
ンのディスプレイや装置モニタとして使用されており、
その使用環境温度も様々である。さらに、昨今は車載用
のディスプレイとして液晶表示装置を使用するケースが
増加しており、その環境上高温での表示品位が重要であ
る。
ンのディスプレイや装置モニタとして使用されており、
その使用環境温度も様々である。さらに、昨今は車載用
のディスプレイとして液晶表示装置を使用するケースが
増加しており、その環境上高温での表示品位が重要であ
る。
【０００５】しかしながら、上記の液晶表示装置の検査
装置では、常温の環境下でしか検査できず、温度依存の
欠陥を検出できない。温度依存の欠陥とは、例えばＴＦ
Ｔ−ＬＣＤの場合、ＴＦＴ基板上パターンにおいて常温
では高抵抗なためリークしていなかった箇所が、高温で
は抵抗が下がりリークすることなどが原因の点欠陥や線
欠陥などである。また、リークしかかっている欠陥は、
後工程や市場で液晶表示装置の使用中に常温であっても
発生することがある。このような欠陥を検査時にあぶり
出すためにも熱などの負荷をかけて検査することが望ま
しい。そこで、例えば特開平７−９８３４８号公報に掲
載の液晶表示装置の検査装置では、図６に示すように、
液晶パネル（液晶表示装置）４を流体６１の中に設置す
るとともに、この流体６１を流通させる流通手段６２を
設け、さらに、この流体６１の温度を制御する温度制御
手段６３を備えている。温度制御手段６３によって、流
体６１の温度を高温に制御すれば、流体６１を介して液
晶パネル（液晶表示装置）４の温度を上昇させることが
できる。以上のようにして、高温下での液晶表示装置の
表示検査が可能となり、温度依存の欠陥やリークしかか
っている欠陥などの常温下では検出できない欠陥を検出
することができる。
装置では、常温の環境下でしか検査できず、温度依存の
欠陥を検出できない。温度依存の欠陥とは、例えばＴＦ
Ｔ−ＬＣＤの場合、ＴＦＴ基板上パターンにおいて常温
では高抵抗なためリークしていなかった箇所が、高温で
は抵抗が下がりリークすることなどが原因の点欠陥や線
欠陥などである。また、リークしかかっている欠陥は、
後工程や市場で液晶表示装置の使用中に常温であっても
発生することがある。このような欠陥を検査時にあぶり
出すためにも熱などの負荷をかけて検査することが望ま
しい。そこで、例えば特開平７−９８３４８号公報に掲
載の液晶表示装置の検査装置では、図６に示すように、
液晶パネル（液晶表示装置）４を流体６１の中に設置す
るとともに、この流体６１を流通させる流通手段６２を
設け、さらに、この流体６１の温度を制御する温度制御
手段６３を備えている。温度制御手段６３によって、流
体６１の温度を高温に制御すれば、流体６１を介して液
晶パネル（液晶表示装置）４の温度を上昇させることが
できる。以上のようにして、高温下での液晶表示装置の
表示検査が可能となり、温度依存の欠陥やリークしかか
っている欠陥などの常温下では検出できない欠陥を検出
することができる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
液晶表示装置の検査装置では、流体６１を介して液晶表
示装置の温度を上昇させるので、それに要する時間が長
い。そのため、高温下での検査時間が長くなり、生産性
が低下してしまう。また、構造が複雑であり、検査装置
自体のコストアップを招くことになる。さらに、高温下
で液晶表示装置の表示検査をするとは言え、何℃で検査
すれば常温下では検出できない欠陥の検出に有効である
か明確にされていなかった。
液晶表示装置の検査装置では、流体６１を介して液晶表
示装置の温度を上昇させるので、それに要する時間が長
い。そのため、高温下での検査時間が長くなり、生産性
が低下してしまう。また、構造が複雑であり、検査装置
自体のコストアップを招くことになる。さらに、高温下
で液晶表示装置の表示検査をするとは言え、何℃で検査
すれば常温下では検出できない欠陥の検出に有効である
か明確にされていなかった。
【０００７】そこで、本発明は、常温下だけでなく、高
温下などの所望の温度下での液晶表示装置の表示検査が
可能な液晶表示装置の検査装置において、高温下での検
査時間を短縮し、生産性を向上させた液晶表示装置の検
査装置を提供することを第１の目的とし、次に、構造を
簡易にし、コストダウンを実現した液晶表示装置の検査
装置を提供することを第２の目的とし、次に、検査温度
を明確にし、常温下では検出できない欠陥をより確実に
検出することができる液晶表示装置の検査装置を提供す
ることを第３の目的とする。
温下などの所望の温度下での液晶表示装置の表示検査が
可能な液晶表示装置の検査装置において、高温下での検
査時間を短縮し、生産性を向上させた液晶表示装置の検
査装置を提供することを第１の目的とし、次に、構造を
簡易にし、コストダウンを実現した液晶表示装置の検査
装置を提供することを第２の目的とし、次に、検査温度
を明確にし、常温下では検出できない欠陥をより確実に
検出することができる液晶表示装置の検査装置を提供す
ることを第３の目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、請求項１に記載の液晶表示装置の検査装置では、液
晶表示装置に赤外線を照射する手段を有することを特徴
としている。
め、請求項１に記載の液晶表示装置の検査装置では、液
晶表示装置に赤外線を照射する手段を有することを特徴
としている。
【０００９】また、請求項２に記載の液晶表示装置の検
査装置では、前記赤外線を照射する手段として、赤外線
ヒータを有することを特徴としている。
査装置では、前記赤外線を照射する手段として、赤外線
ヒータを有することを特徴としている。
【００１０】また、請求項３に記載の液晶表示装置の検
査装置では、前記赤外線を照射する手段として、バック
ライトが赤外線の波長域を有することを特徴としてい
る。
査装置では、前記赤外線を照射する手段として、バック
ライトが赤外線の波長域を有することを特徴としてい
る。
【００１１】以上のようにすることによって、液晶表示
装置に赤外線が直接照射されるので、その温度を効率良
く、より短時間で上昇させることができ、さらに、検査
装置の構造も簡易なものとなる。
装置に赤外線が直接照射されるので、その温度を効率良
く、より短時間で上昇させることができ、さらに、検査
装置の構造も簡易なものとなる。
【００１２】また、請求項４に記載の液晶表示装置の検
査装置では、５０℃〜９０℃の温度下で表示検査を行う
ことを特徴としている。
査装置では、５０℃〜９０℃の温度下で表示検査を行う
ことを特徴としている。
【００１３】発明の実施の形態の中で示す実験結果か
ら、常温下では検出できない欠陥の検出に有効な温度は
５０℃〜９０℃であると言えるので、以上のようにする
ことによって、常温下では検出できない欠陥をより確実
に検出することができる。
ら、常温下では検出できない欠陥の検出に有効な温度は
５０℃〜９０℃であると言えるので、以上のようにする
ことによって、常温下では検出できない欠陥をより確実
に検出することができる。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下に本発明の実施形態を図面を
参照しながら説明する。本発明の一実施形態である液晶
表示装置の検査装置を図１に示す。同図において、図
５，６の従来例と同一部分には同一の符号を付して説明
を省略する。１２は、赤外線ヒータであって、液晶パネ
ル４にその上方（表面）から赤外線が照射される。バッ
クライト２には、図３に示すような分光特性をもつもの
を使用している、つまり、バックライト２は赤外線の波
長域を有しており、液晶パネル４にその下方（裏面）か
ら赤外線が照射される。このようにして、液晶パネル４
の温度をその表裏から効率良く、より短時間で所望の温
度まで上昇させることができ、さらに、検査装置の構造
も簡易なものとなる。制御コンピュータ９は液晶パネル
４付近に設けられた図示しない温度センサから送られて
くる温度情報に基づいて、赤外線ヒータ１２及びバック
ライト２の動作状態を制御して検査温度を調節し、所望
の温度下で検査を行うことができる。
参照しながら説明する。本発明の一実施形態である液晶
表示装置の検査装置を図１に示す。同図において、図
５，６の従来例と同一部分には同一の符号を付して説明
を省略する。１２は、赤外線ヒータであって、液晶パネ
ル４にその上方（表面）から赤外線が照射される。バッ
クライト２には、図３に示すような分光特性をもつもの
を使用している、つまり、バックライト２は赤外線の波
長域を有しており、液晶パネル４にその下方（裏面）か
ら赤外線が照射される。このようにして、液晶パネル４
の温度をその表裏から効率良く、より短時間で所望の温
度まで上昇させることができ、さらに、検査装置の構造
も簡易なものとなる。制御コンピュータ９は液晶パネル
４付近に設けられた図示しない温度センサから送られて
くる温度情報に基づいて、赤外線ヒータ１２及びバック
ライト２の動作状態を制御して検査温度を調節し、所望
の温度下で検査を行うことができる。
【００１５】次に、常温下では検出できない欠陥の検出
に有効な検査温度を求めるために行った実験の結果を図
２に示す。同図において、横軸は検査中の温度、縦軸は
任意の同一液晶パネルにおける点欠陥の個数である。こ
の結果によれば、検査温度が４０℃までは発生する欠陥
の個数に変化は見られないが、検査温度が５０℃を越え
るとそれが増加していることがわかる。この増加分の欠
陥は、温度依存の欠陥、リークしかかっている欠陥など
の常温下の検査では検出できない欠陥であると考えられ
る。ところで、液晶は転移温度を越えると液体に変化
し、液晶表示装置としての機能を果たさなくなる。この
転移温度は液晶材料によって異なるがおおよそ１００℃
前後である。今回の実験に使用した液晶の転移温度は１
００℃であり、この温度以上は実験不可能である。以上
の理由から、５０℃〜９０℃が常温下では検出できない
欠陥の検出に有効な検査温度であると言える。したがっ
て、５０℃〜９０℃の温度下で表示検査を行えば、常温
下では検出できない欠陥をより確実に検出することがで
きる。
に有効な検査温度を求めるために行った実験の結果を図
２に示す。同図において、横軸は検査中の温度、縦軸は
任意の同一液晶パネルにおける点欠陥の個数である。こ
の結果によれば、検査温度が４０℃までは発生する欠陥
の個数に変化は見られないが、検査温度が５０℃を越え
るとそれが増加していることがわかる。この増加分の欠
陥は、温度依存の欠陥、リークしかかっている欠陥など
の常温下の検査では検出できない欠陥であると考えられ
る。ところで、液晶は転移温度を越えると液体に変化
し、液晶表示装置としての機能を果たさなくなる。この
転移温度は液晶材料によって異なるがおおよそ１００℃
前後である。今回の実験に使用した液晶の転移温度は１
００℃であり、この温度以上は実験不可能である。以上
の理由から、５０℃〜９０℃が常温下では検出できない
欠陥の検出に有効な検査温度であると言える。したがっ
て、５０℃〜９０℃の温度下で表示検査を行えば、常温
下では検出できない欠陥をより確実に検出することがで
きる。
【００１６】尚、本実施形態は、透過型の液晶表示装置
であって、駆動ドライバ回路を設ける前の液晶表示装置
である液晶パネルを検査対象とした液晶表示装置の検査
装置に本発明を実施したものであるが、透過型または反
射型の液晶表示装置の検査装置であれば本発明を実施す
ることができ、また、検査装置の構成も本実施形態に限
定されるものではなく、本発明を逸脱するものでなけれ
ば種々の構成を取り得ることは勿論である。
であって、駆動ドライバ回路を設ける前の液晶表示装置
である液晶パネルを検査対象とした液晶表示装置の検査
装置に本発明を実施したものであるが、透過型または反
射型の液晶表示装置の検査装置であれば本発明を実施す
ることができ、また、検査装置の構成も本実施形態に限
定されるものではなく、本発明を逸脱するものでなけれ
ば種々の構成を取り得ることは勿論である。
【００１７】
【発明の効果】請求項１，２，３に記載の液晶表示装置
の検査装置によれば、液晶表示装置に赤外線が直接照射
されるので、その温度を効率良く、より短時間で上昇さ
せることができ、したがって、高温下での検査時間を短
縮し、生産性を向上させることができる。さらに、検査
装置の構造も簡易なものとなるので、そのコストダウン
を実現することができる。
の検査装置によれば、液晶表示装置に赤外線が直接照射
されるので、その温度を効率良く、より短時間で上昇さ
せることができ、したがって、高温下での検査時間を短
縮し、生産性を向上させることができる。さらに、検査
装置の構造も簡易なものとなるので、そのコストダウン
を実現することができる。
【００１８】請求項４に記載の液晶表示装置の検査装置
によれば、検査温度を常温下では検出できない欠陥の検
出に有効な温度である５０℃〜９０℃に制御するので、
常温下では検出できない欠陥をより確実に検出すること
ができる。
によれば、検査温度を常温下では検出できない欠陥の検
出に有効な温度である５０℃〜９０℃に制御するので、
常温下では検出できない欠陥をより確実に検出すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態である液晶表示装置の検査
装置の構成図。
装置の構成図。
【図２】任意の同一液晶パネルにおける検査温度と欠陥
発生数の関係を示す図。
発生数の関係を示す図。
【図３】本実施形態でのバックライトの分光特性を示す
図。
図。
【図４】従来のバックライトの分光特性を示す図。
【図５】従来の液晶表示装置の検査装置の構成図。
【図６】常温下だけでなく、高温下などの所望の温度下
での液晶表示装置の表示検査が可能な従来の液晶表示装
置の検査装置の構成図。
での液晶表示装置の表示検査が可能な従来の液晶表示装
置の検査装置の構成図。
１ シールドボックス ２ バックライト ３ 液晶パネル吸着ステージ ４ 液晶パネル ５ プローバ ６ 固定ボード ７ エアーシリンダ ８ 点灯パターン発生器 ９ 制御コンピュータ １０ 画像処理装置 １１ ＣＣＤカメラ １２ 赤外線ヒータ ６１ 流体 ６２ ファン（流体６１を流通させる手段） ６３ ヒータ（流体６１の温度を制御する温度制御手
段）
段）
Claims (4)
- 【請求項１】 常温下だけでなく、高温下などの所望の
温度下での液晶表示装置の表示検査が可能な液晶表示装
置の検査装置において、液晶表示装置に赤外線を照射す
る手段を有することを特徴とする液晶表示装置の検査装
置。 - 【請求項２】 前記赤外線を照射する手段として、赤外
線ヒータを有することを特徴とする請求項１に記載の液
晶表示装置の検査装置。 - 【請求項３】 前記赤外線を照射する手段として、バッ
クライトが赤外線の波長域を有することを特徴とする請
求項１に記載の液晶表示装置の検査装置。 - 【請求項４】 常温下だけでなく、高温下などの所望の
温度下での液晶表示装置の表示検査が可能な液晶表示装
置の検査装置において、５０℃〜９０℃の温度下で表示
検査を行うことを特徴とする液晶表示装置の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8011370A JPH09203687A (ja) | 1996-01-26 | 1996-01-26 | 液晶表示装置の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8011370A JPH09203687A (ja) | 1996-01-26 | 1996-01-26 | 液晶表示装置の検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09203687A true JPH09203687A (ja) | 1997-08-05 |
Family
ID=11776137
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8011370A Pending JPH09203687A (ja) | 1996-01-26 | 1996-01-26 | 液晶表示装置の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09203687A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6133979A (en) * | 1996-09-23 | 2000-10-17 | Lg Electronics Inc. | Liquid crystal display device with internal heating element |
| DE10134458A1 (de) * | 2001-07-16 | 2003-02-06 | Autronic Melchers Gmbh | Messsystem zum Messen der optischen Eigenschaften eines Objekts und insbesondere dafür vorgesehener Messkopf |
| JP2012145283A (ja) * | 2011-01-13 | 2012-08-02 | Takaoka Electric Mfg Co Ltd | 加熱装置 |
| KR20170062606A (ko) * | 2015-11-27 | 2017-06-08 | 삼성디스플레이 주식회사 | 디스플레이 장치용 광보정 시스템 |
-
1996
- 1996-01-26 JP JP8011370A patent/JPH09203687A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6133979A (en) * | 1996-09-23 | 2000-10-17 | Lg Electronics Inc. | Liquid crystal display device with internal heating element |
| DE10134458A1 (de) * | 2001-07-16 | 2003-02-06 | Autronic Melchers Gmbh | Messsystem zum Messen der optischen Eigenschaften eines Objekts und insbesondere dafür vorgesehener Messkopf |
| DE10134458B4 (de) * | 2001-07-16 | 2006-10-19 | Autronic-Melchers Gmbh | Messsystem und Messkopf zum Messen der Optischen Eigenschaften eines Displays |
| JP2012145283A (ja) * | 2011-01-13 | 2012-08-02 | Takaoka Electric Mfg Co Ltd | 加熱装置 |
| KR20170062606A (ko) * | 2015-11-27 | 2017-06-08 | 삼성디스플레이 주식회사 | 디스플레이 장치용 광보정 시스템 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5624743B2 (ja) | スイッチ制御ユニット、液晶セル組立後検査装置と方法 | |
| KR101286534B1 (ko) | 액정표시장치의 검사장치 및 검사방법 | |
| KR101068364B1 (ko) | 액정표시장치 검사장비 및 그 검사방법 | |
| JP5709457B2 (ja) | 液晶表示装置および液晶表示装置の検査方法 | |
| US7046030B2 (en) | Method and apparatus for testing liquid crystal display device | |
| US6396299B1 (en) | Method and apparatus for substrate defect testing by surface illumination | |
| JPH09203687A (ja) | 液晶表示装置の検査装置 | |
| KR100487429B1 (ko) | 액정표시소자의 결함수리방법 및 액정표시소자 | |
| JP3010568B2 (ja) | 液晶画像表示装置の検査機、検査方法、及び製造方法 | |
| JP2004219706A (ja) | 表示素子及び表示素子の駆動電圧検出方法 | |
| JP3287872B2 (ja) | カラーフィルターの検査方法 | |
| KR20020063371A (ko) | 액정표시 패널 검사장치 | |
| JP3439038B2 (ja) | 液晶ディスプレイ基板の検査方法及び装置 | |
| JP2004045763A (ja) | 液晶表示パネル検査方法及びその検査装置 | |
| JPH0510999A (ja) | 液晶デイスプレイ基板の検査方法及びそのシステム | |
| JP3239644B2 (ja) | 液晶表示素子の欠陥補正方法およびその装置 | |
| JP3272642B2 (ja) | 液晶表示装置の検査装置 | |
| JP2007156127A (ja) | 電気光学装置の検査方法 | |
| KR101414273B1 (ko) | 반사 및 투과 효율을 향상시켜 기판을 검사하는 방법 및장치 | |
| JP3898037B2 (ja) | 液晶表示パネルの点灯表示検査方法及び点灯表示検査装置 | |
| KR20080060027A (ko) | 액정 표시장치용 검사 장치 | |
| KR101073330B1 (ko) | 액정 패널의 오토 프로브 검사 장치 및 검사 방법 | |
| JP2000214423A (ja) | 液晶表示装置の検査方法および検査装置 | |
| JP3618302B2 (ja) | 液晶パネルの検査法及び検査装置 | |
| JPH022947A (ja) | 検査・リペア装置 |