KR20080064565A - 액정 패널의 테스트 장치, 액정 패널의 테스트 방법 및액정 패널의 테스트 시스템 - Google Patents

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KR20080064565A
KR20080064565A KR1020070001609A KR20070001609A KR20080064565A KR 20080064565 A KR20080064565 A KR 20080064565A KR 1020070001609 A KR1020070001609 A KR 1020070001609A KR 20070001609 A KR20070001609 A KR 20070001609A KR 20080064565 A KR20080064565 A KR 20080064565A
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Abstract

액정 패널의 불량 여부를 정확히 테스트할 수 있는 액정 패널의 테스트 장치, 액정 패널의 테스트 방법 및 액정 패널의 테스트 시스템이 제공된다. 액정 패널의 테스트 장치는, 외부 제어 신호에 따라 전압 레벨이 조절되는 테스트 신호를 생성하는 테스트 신호 생성부 및 액정 패널의 각 게이트 라인과 각 데이터 라인에 직접적으로 접촉하여 테스트 신호를 제공하는 탐침 유닛을 포함한다.
Figure P1020070001609
액정 패널, 그로스 테스트

Description

액정 패널의 테스트 장치, 액정 패널의 테스트 방법 및 액정 패널의 테스트 시스템{Test device of liquid crystal pannel, test method thereof and test system thereof}
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 액정 패널의 테스트 장치, 액정 패널의 테스트 방법 및 액정 패널의 테스트 시스템을 설명하기 위한 개략적인 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 패널의 테스트 장치 및 그의 테스트 시스템의 테스트 신호 생성부를 설명하기 위한 블록도이다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 패널의 테스트 장치 및 그의 테스트 시스템의 테스트 신호 생성부를 설명하기 위한 블록도이다.
(도면의 주요부분에 대한 부호의 설명)
10: 액정 패널의 테스트 시스템
100: 액정 패널
200: 액정 패널의 테스트 장치
300, 301, 302: 테스트 신호 생성부
311, 312: 테스트용 영상 데이터 전압 생성부
321: 테스트용 게이트 온 전압 생성부
331: 테스트용 게이트 오프 전압 생성부
341: 테스트용 공통 전압 생성부
352: 스위칭부
400: 탐침 유닛
500: 백라이트 유닛
본 발명은 액정 패널의 테스트 장치, 액정 패널의 테스트 방법 및 액정 패널의 테스트 시스템에 관한 것으로, 보다 상세하게는 액정 패널의 불량 여부를 정확히 테스트할 수 있는 박막 트랜지스터 기판의 테스트 방법에 관한 것이다.
액정 표시 장치는 박막 트랜지스터가 형성되어 있는 제1 기판과 컬러필터층이 형성되어 있는 제2 기판, 이들 사이에 개재된 액정층을 구비하는 액정 패널을 포함한다. 제1 표시판은 다수의 게이트 라인과 다수의 데이터 라인, 이들이 교차하는 영역마다 형성된 박막 트랜지스터를 포함한다.
액정 패널의 제조 공정에는, 각 단계에서 제조 중인 기판 또는 액정 패널의 불량여부를 확인하기 위한 다양한 테스트가 요구된다. 이러한 테스트는 어레이 테스트(array test), 비쥬얼 인스펙션(visual inspection, VI), 그로스 테스트(gross test, G/T), 파이널 테스트(final test) 등을 포함한다.
이중 그로스 테스트는 액정 패널에 다수의 드라이브 IC를 실장하기 전에 각각 개별 게이트 라인 및 데이터 라인에 탐침 유닛을 접촉시킨 후, 탐침을 통해 테 스트 신호를 인가하여 게이트 라인 및 데이터 라인의 불량 및 각 화소의 불량 여부를 테스트하는 방법이다.
그러나 그로스 테스트과정에서 제공되는 테스트 신호는 일정한 전압 레벨의 신호들이므로, 액정 패널의 불량을 정확히 측정할 수 없다는 문제가 있다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 액정 패널의 불량 여부를 정확히 테스트할 수 있는 액정 패널의 테스트 장치를 제공하고자 하는 것이다.
본 발명이 이루고자 하는 다른 기술적 과제는, 액정 패널의 불량 여부를 정확히 테스트할 수 있는 액정 패널의 테스트 방법을 제공하고자 하는 것이다.
본 발명이 이루고자 하는 또 다른 기술적 과제는, 액정 패널의 불량 여부를 정확히 테스트할 수 있는 액정 패널의 테스트 시스템을 제공하고자 하는 것이다.
본 발명의 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일 태양에 따른 액정 패널의 테스트 장치는, 외부 제어 신호에 따라 전압 레벨이 조절되는 테스트 신호를 생성하는 테스트 신호 생성부 및 액정 패널의 각 게이트 라인과 각 데이터 라인에 직접적으로 접촉하여 상기 테스트 신호를 제공하는 탐침 유닛을 포함한다.
상기 다른 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일 태양에 따른 액정 패 널의 테스트 방법은, 다수의 게이트 라인과 다수의 데이터 라인이 형성된 피테스트 액정 패널을 제공하는 단계와, 상기 각 게이트 라인과 상기 각 데이터 라인에 탐침 유닛을 직접적으로 접촉시키는 단계 및 상기 탐침 유닛을 통하여 전압 레벨이 조절되는 테스트 신호를 인가하는 단계를 포함한다.
상기 또 다른 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일 태양에 따른 액정 패널의 테스트 시스템은, 다수의 게이트 라인과 다수의 데이터 라인을 포함하는 액정 패널 및 외부 제어 신호에 따라 전압 레벨이 조절되는 테스트 신호를 생성하는 테스트 신호 생성부와, 상기 각 게이트 라인과 각 데이터 라인에 직접적으로 접촉하여 상기 테스트 신호를 제공하는 탐침 유닛과, 상기 액정 패널의 배면에서 광을 공급하는 테스트용 백라이트 유닛을 포함한다.
기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
먼저 도 1을 참조하여 본 발명의 실시예들에 따른 액정 패널의 테스트 장치, 액정 패널의 테스트 방법 및 액정 패널의 테스트 시스템을 설명한다. 도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 액정 패널의 테스트 장치, 액정 패널의 테스트 방법 및 액정 패널의 테스트 시스템을 설명하기 위한 개략적인 블록도이다.
도 1을 참조하면, 액정 패널의 테스트 시스템(10)은 테스트 장치(200)와 액정 패널(100)을 포함한다.
액정 패널(100)은 다수의 게이트 라인(G1~Gn)과 다수의 데이터 라인(D1~Dm) 및 이들이 교차하는 영역마다 형성된 다수의 화소(미도시)를 포함한다. 이러한 액정 패널(100)이 테스트 장치(200)로 제공된다.
액정 패널의 테스트 장치(200)는 테스트 신호 생성부(300)와 탐침 유닛(400)과 백라이트 유닛(500)을 포함한다.
테스트 신호 생성부(300)는 외부의 제어 신호(CONT)에 따라 전압 레벨이 조절되는 테스트 신호(Tdata, TVon, TVoff, TVcom)를 출력한다. 여기서 테스트 신호(Tdata, TVon, TVoff, TVcom)는 테스트용 게이트 온 전압(TVon), 테스트용 게이트 오프 전압(TVoff), 테스트용 공통 전압(TVcom) 및 테스트용 영상 데이터 전압(Tdata)을 포함할 수 있다.
다수의 테스트 신호(Tdata, TVon, TVoff, TVcom)는 탐침 유닛(400)을 통해 출력된다. 즉, 탐침 유닛(400)은 제공된 액정 패널(100)의 각 게이트 라인(G1~Gn) 및 각 데이터 라인(D1~Dm)과 직접적으로 접촉되어 테스트 신호 생성부(300)로부터 제공된 다수의 테스트 신호(Tdata, TVon, TVoff, TVcom)를 각각 제공한다.
백라이트 유닛(500)은 액정 패널(100)의 배면에 구비되어 액정 패널(100)로 광을 제공한다.
액정 패널(100)은, 테스트용 게이트 온 전압(TVon) 및 테스트용 게이트 오프 전압(TVoff)에 따라 인에이블 또는 디스에이블되어, 테스트용 영상 데이터 전압(Tdata)의 전압 레벨에 대응하는 소정의 영상을 표시하게 된다. 이 때, 게이트 라인(G1~Gn)의 불량, 데이터 라인(D1~Dm)의 불량 또는 화소(미도시)의 불량 등을 검출하게 된다. 즉, 각 게이트 라인(G1~Gn) 및 각 데이터 라인(D1~Dm)마다 개별적으로 전압 레벨이 조절되는 테스트 신호(Tdata, TVon, TVoff, TVcom)를 인가하여 액정 패널(100)의 불량좌표를 검출한다.
이러한 액정 패널의 테스트 장치(200), 액정 패널의 테스트 방법 및 액정 패널의 테스트 시스템(10)에 의하면, 각 게이트 라인(G1~Gn) 및 각 데이터 라인(D1~Dm)에 인가되는 테스트 신호(Tdata, TVon, TVoff, TVcom)의 전압 레벨이 개별적으로 조절되므로, 게이트 라인(G1~Gn)의 불량, 데이터 라인(D1~Dm)의 불량 또는 화소의 불량 등을 정확하게 검출할 수 있다.
도 2를 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 패널의 테스트 장치 및 그의 테스트 시스템을 설명한다. 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 패널의 테스트 장치 및 그의 테스트 시스템의 테스트 신호 생성부를 설명하기 위한 블록도이다.
도 2를 참조하면, 테스트 신호 생성부(300)는, 예컨데 테스트용 영상 데이터 전압 생성부(311), 테스트용 게이트 온 전압 생성부(321), 테스트용 게이트 오프 전압 생성부(331) 및 테스트용 공통 전압 생성부(341)를 포함한다.
테스트용 영상 데이터 전압 생성부(311), 테스트용 게이트 온 전압 생성부(321), 테스트용 게이트 오프 전압 생성부(331) 및 테스트용 공통 전압 생성부(341)는 각각 외부로부터 제어 신호(CONT_data, CONT_Von, CONT_Voff, CONT_Vcom)를 제공받아 전압 레벨이 조절되는 테스트 신호(Tdata, TVon, TVoff, TVcom)를 출력한다.
예를 들어, 테스트용 영상 데이터 전압 생성부(311)는 제어 신호(CONT_data)를 제공받아 전압 레벨이 개별적으로 조절되는 m개의 테스트용 영상 데이터 전압(Tdata)을 생성하여 m개의 각 데이터 라인(도 1의 D1~Dm 참조)에 제공한다. 테스트용 게이트 온 전압 생성부(321)는 제어 신호(CONT_Von 를 제공받아 전압 레벨이 개별적으로 조절되는 n개의 테스트용 게이트 온 전압(TVon)을 생성하여 n개의 각 게이트 라인(도 1의 G1~Gn 참조)에 제공한다. 또한, 테스트용 게이트 오프 전압 생성부(331)는 제어 신호 (CONT_Vcom)를 제공받아 전압 레벨이 개별적으로 조절되는 n개의 테스트용 게이트 오프 전압(TVoff)을 생성하여 n개의 각 게이트 라인(도 1의 G1~Gn 참조)에 제공한다. 또한, 테스트용 공통 전압 생성부(341)는 제어 신호(CONT_Vcom)를 제공받아 전압 레벨이 개별적으로 조절되는 테스트용 공통 전압(TVcom)을 생성하여 액정 패널(도 1의 100 참조)로 제공한다.
이러한 테스트용 신호 생성부(301)를 포함하는 액정 패널의 테스트 장치 및 그의 테스트 시스템에 의하면, 각 게이트 라인 및 각 데이터 라인에 인가되는 테스트 신호(Tdata, TVon, TVoff, TVcom)의 전압 레벨이 개별적으로 조절되므로, 게이트 라인의 불량, 데이터 라인의 불량 또는 화소의 불량 등을 정확하게 검출할 수 있다.
도 3을 참조하여, 본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 패널의 테스트 장치 및 그의 테스트 시스템을 설명한다. 도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 패널의 테스트 장치 및 그의 테스트 시스템의 테스트 신호 생성부를 설명하기 위한 블록도이다. 설명의 편의상, 테스트용 영상 데이터 전압을 생성하는 경우를 예로 들어 설명한다.
도 3을 참조하면, 테스트 신호 생성부(302)는, 테스트용 영상 데이터 전압 생성부(312)와 스위칭부(352)를 포함한다.
테스트용 영상 데이터 전압 생성부(312)는, 이전 실시예와 달리, 전압 레벨이 서로 다른 제1 내지 제n 테스트용 영상 데이터 전압(Tdata_1, Tdata_2, Tdata_3, Tdata_4)을 생성한다. 도 3에서는 n=4인 경우를 예로 들어 도시하였다.
스위칭부(352)는 서로 다른 전압 레벨의 제1 내지 제4 테스트용 영상 데이터 전압(Tdata_1, Tdata_2, Tdata_3, Tdata_4) 중에서 제어 신호(CONT_data)에 따라 어느 하나를 선택하여 각 데이터 라인(D1~Dm)에 제공한다. 예를 들면, 스위칭부(352)의 첫번째 스위칭 소자는 제어 신호(CONT_data)가 00이면 제1 테스트용 영상 데이터 전압(Tdata_1)을 제1 데이터 라인(D1)에 제공하고, 제어 신호(CONT_data)가 01이면 제2 테스트용 영상 데이터 전압(Tdata_2)을 제1 데이터 라인(D1)에 제공하고, 제어 신호(CONT_data)가 10이면 제3 테스트용 영상 데이터 전압(Tdata_3)을 제1 데이터 라인(D1)에 제공하고, 제어 신호(CONT_data)가 11이면 제4 테스트용 영상 데이터 전압(Tdata_4)을 제1 데이터 라인(D1~Dm)에 제공한다. 즉, 테스트 신호 생성부(302)는 제어 신호(CONT_data)에 따라 전압 레벨이 조절되는 테스트용 영상 데이터 전압(Tdata_1, Tdata_2, Tdata_3, Tdata_4)을 각 데이터 라인(D1~Dm)에 출력한다.
이러한 테스트용 신호 생성부를 포함하는 액정 패널의 테스트 장치 및 그의 테스트 시스템에 의하면, 각 게이트 라인 및 각 데이터 라인에 인가되는 테스트 신호의 전압 레벨이 개별적으로 조절되므로, 게이트 라인의 불량, 데이터 라인의 불량 또는 화소의 불량 등을 정확하게 검출할 수 있다.
이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.
상술한 바와 같이 본 발명에 따른 액정 패널의 테스트 장치, 그의 테스트 방법 및 그의 테스트 시스템에 의하면, 각 게이트 라인 및 각 데이터 라인에 인가되는 테스트 신호의 전압 레벨이 개별적으로 조절되므로, 게이트 라인의 불량, 데이터 라인의 불량 또는 화소의 불량 등을 정확하게 검출할 수 있다.

Claims (14)

  1. 외부 제어 신호에 따라 전압 레벨이 조절되는 테스트 신호를 생성하는 테스트 신호 생성부; 및
    액정 패널의 각 게이트 라인과 각 데이터 라인에 직접적으로 접촉하여 상기 테스트 신호를 제공하는 탐침 유닛을 포함하는 액정 패널의 테스트 장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 테스트 신호는 테스트용 게이트 온 전압, 테스트용 게이트 오프 전압, 테스트용 공통 전압, 테스트용 영상 데이터 전압을 포함하고,
    상기 테스트 신호 생성부는 상기 외부 제어 신호에 따라 상기 테스트용 게이트 온 전압, 상기 테스트용 게이트 오프 전압, 상기 테스트용 공통 전압, 상기 테스트용 영상 데이터 전압의 전압 레벨을 조절하는 액정 패널의 테스트 장치.
  3. 제 2항에 있어서,
    상기 각 게이트 라인에 제공되는 상기 테스트용 게이트 온 전압 및 상기 테스트용 게이트 오프 전압은 각각 개별적으로 상기 전압 레벨이 조절되는 액정 패널의 테스트 장치.
  4. 제 2항에 있어서,
    상기 각 데이터 라인에 제공되는 상기 테스트용 영상 데이터 전압은 각각 개별적으로 상기 전압 레벨이 조절되는 액정 패널의 테스트 장치.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 액정 패널의 배면에서 광을 공급하는 테스트용 백라이트 유닛을 더 포함하는 액정 패널의 테스트 장치.
  6. 다수의 게이트 라인과 다수의 데이터 라인이 형성된 피테스트 액정 패널을 제공하는 단계;
    상기 각 게이트 라인과 상기 각 데이터 라인에 탐침 유닛을 직접적으로 접촉시키는 단계; 및
    상기 탐침 유닛을 통하여 전압 레벨이 조절되는 테스트 신호를 인가하는 단계를 포함하는 액정 패널의 테스트 방법.
  7. 제 6항에 있어서,
    상기 테스트 신호는 테스트용 게이트 온 전압, 테스트용 게이트 오프 전압, 테스트용 공통 전압, 테스트용 영상 데이터 전압을 포함하는 액정 패널의 테스트 방법.
  8. 제 7항에 있어서,
    상기 테스트 신호를 인가하는 단계는 상기 각 게이트 라인에 제공되는 상기 테스트용 게이트 온 전압 및 상기 테스트용 게이트 오프 전압을 각각 개별적으로 조절하는 단계를 포함하는 액정 패널의 테스트 방법.
  9. 제 7항에 있어서,
    상기 테스트 신호를 인가하는 단계는 상기 각 데이터 라인에 제공되는 상기 테스트용 영상 데이터 전압을 각각 개별적으로 조절하는 단계를 포함하는 액정 패널의 테스트 방법.
  10. 다수의 게이트 라인과 다수의 데이터 라인을 포함하는 액정 패널; 및
    외부 제어 신호에 따라 전압 레벨이 조절되는 테스트 신호를 생성하는 테스트 신호 생성부와, 상기 각 게이트 라인과 각 데이터 라인에 직접적으로 접촉하여 상기 테스트 신호를 제공하는 탐침 유닛과, 상기 액정 패널의 배면에서 광을 공급하는 테스트용 백라이트 유닛을 포함하는 액정 패널의 테스트 시스템.
  11. 제 10항에 있어서,
    상기 테스트 신호는 테스트용 게이트 온 전압, 테스트용 게이트 오프 전압, 테스트용 공통 전압, 테스트용 영상 데이터 전압을 포함하고,
    상기 테스트 신호 생성부는 상기 외부 제어 신호에 따라 상기 테스트용 게이트 온 전압, 상기 테스트용 게이트 오프 전압, 상기 테스트용 공통 전압, 상기 테 스트용 영상 데이터 전압의 전압 레벨을 조절하는 액정 패널의 테스트 시스템.
  12. 제 11항에 있어서,
    상기 각 게이트 라인에 제공되는 상기 테스트용 게이트 온 전압 및 상기 테스트용 게이트 오프 전압은 각각 개별적으로 상기 전압 레벨이 조절되는 액정 패널의 테스트 시스템.
  13. 제 11항에 있어서,
    상기 각 데이터 라인에 제공되는 상기 테스트용 영상 데이터 전압은 각각 개별적으로 상기 전압 레벨이 조절되는 액정 패널의 테스트 시스템.
  14. 제 10항에 있어서,
    상기 테스트 신호 생성부는 서로 다른 전압 레벨의 제1 내지 제n 원시 테스트 전압을 출력하는 전압 생성부와, 상기 외부 제어 신호에 따라 상기 제1 내지 제n 테스트 전압 중에서 어느 하나를 선택하여 상기 테스트 신호로 출력하는 스위칭부를 포함하는 액정 패널의 테스트 시스템.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN104849882A (zh) * 2015-05-05 2015-08-19 深圳市华星光电技术有限公司 一种用于液晶显示面板的检测装置

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