JP4341364B2 - Tftアレイ検査装置 - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 45
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 30
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 230000008033 biological extinction Effects 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
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- TFTを備え、垂直線駆動回路および水平線駆動回路を構成するシフトレジスタによって外部からの表示信号が入力されることにより点灯し、その点灯状態が保持される画素からなるパネルのTFTアレイを検査するTFTアレイ検査装置であって、
TFTアレイを駆動するためのクロック信号を供給する駆動部と、
各画素のTFTに前記表示信号を入力する表示信号形成部と、
前記TFTを流れる電流を測定する測定部とを備え、
前記シフトレジスタは前記クロック信号と同期して1画素毎にTFTアレイを順次駆動し、
前記表示信号形成部は、
前記シフトレジスタで駆動される1画素に対して、1クロック信号の時間内において1画素毎にTFTアレイをオンオフさせる電圧変化を有する表示信号を供給し、
前記測定部は、前記シフトレジスタで駆動され、前記表示信号形成部の表示信号の印加によって流れる1画素毎の電流変化をパネル電流として測定することを特徴とするTFTアレイ検査装置。 - 前記表示信号は、1画素の駆動中に所定電圧と零電圧との間の電圧変化を少なくとも1回含む信号形態であることを特徴とする請求項1に記載のTFTアレイ検査装置。
- 前記表示信号は、1画素の駆動中に零電圧以外の少なくとも2つの異なる電圧間の電圧変化を少なくとも1回含む信号形態であることを特徴とする請求項1に記載のTFTアレイ検査装置。
- 前記画素は、液晶又は有機ELによりなることを特徴とする請求項1から3の何れか一つに記載のTFTアレイ検査装置。
- TFTを備え、垂直線駆動回路および水平線駆動回路を構成するシフトレジスタによって外部からの表示信号が入力されることにより点灯し、その点灯状態が保持される画素からなるパネルのTFTアレイを検査するTFTアレイ検査方法であって、
前記シフトレジスタにより駆動部からのクロック信号と同期して1画素毎にTFTアレイを順次駆動し、
1クロック信号の時間内において1画素毎にTFTアレイをオンオフさせる電圧変化を有する表示信号を各画素のTFTに入力し、
前記表示信号のTFTへの印加によってTFTに流れる1画素毎の電流変化をパネル電流として測定することを特徴とするTFTアレイ検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003360143A JP4341364B2 (ja) | 2003-10-21 | 2003-10-21 | Tftアレイ検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003360143A JP4341364B2 (ja) | 2003-10-21 | 2003-10-21 | Tftアレイ検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005128041A JP2005128041A (ja) | 2005-05-19 |
JP4341364B2 true JP4341364B2 (ja) | 2009-10-07 |
Family
ID=34640541
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003360143A Expired - Fee Related JP4341364B2 (ja) | 2003-10-21 | 2003-10-21 | Tftアレイ検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4341364B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113514480A (zh) * | 2021-03-29 | 2021-10-19 | 深圳市艾比森光电股份有限公司 | Led芯片的检测方法、装置、系统及终端设备 |
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- 2003-10-21 JP JP2003360143A patent/JP4341364B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2005128041A (ja) | 2005-05-19 |
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