CN107421959A - 缺陷像素检测方法和装置、计算机设备和机器可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供了一种缺陷像素检测方法、缺陷像素检测装置以及计算机设备，解决了现有缺陷像素检测方式的检测准确度不高的问题。其中的缺陷像素检测方法包括以下步骤：将显示器件上至少部分像素中每个像素的光强经过光电转换后的电压值与一个与该像素对应的第一平衡系数做差值计算，以获取所述至少部分像素中每个像素对应的第一差值计算结果；以及判断步骤，所述判断步骤包括：判断所述第一差值计算结果的绝对值大于预设阈值的像素的个数是否大于预设个数；如果判断结果为是，则判定为当前显示器件的缺陷像素的个数不在允许范围内；否则，判定为当前显示器件的缺陷像素的个数在允许范围内。

Description

缺陷像素检测方法和装置、计算机设备和机器可读存储介质

技术领域

本发明涉及显示检测技术领域，具体涉及一种缺陷像素检测方法、缺陷像素检测装置、计算机设备和机器可读存储介质。

背景技术

随着显示技术的不断发展，消费者对于显示器产品的良品率要求也越来越高。显示器件作为显示器产品的核心器件，显示器件上是否存在缺陷像素是衡量显示器产品良品率的重要因素；然而现有技术中没有行之有效的缺陷像素检测方法。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种缺陷像素检测方法、缺陷像素检测装置、计算机设备和机器可读存储介质，解决了现有缺陷像素难以检测的技术问题。

本申请实施例的第一方面，提供一种缺陷像素检测方法，包括：将显示器件上至少部分像素中每个像素的光强经过光电转换后的电压值与一个与该像素对应的第一平衡系数做差值计算，以获取所述至少部分像素中每个像素对应的第一差值计算结果；以及判断步骤，所述判断步骤包括：

判断所述第一差值计算结果的绝对值大于预设阈值的像素的个数是否大于预设个数；如果判断结果为是，则判定为当前显示器件的缺陷像素的个数不在允许范围内；否则，判定为当前显示器件的缺陷像素的个数在允许范围内。

上述的像素检测方法中，当判定当前显示器件的缺陷像素的个数在允许范围内时，所述检测方法还包括：

提供第二平衡系数，将第一平衡系数替换为第二平衡系数，循环所述差值计算，得到第二差值计算结果；

将第一差值计算结果替换为第二差值计算结果，循环所述判断步骤。

上述的像素检测方法中，所述第一平衡系数为：待检测像素右侧的第n个像素对应的电压值；当待检测像素右侧仅存在m个像素，且m＜n时，则第一平衡系数为待检测像素所处行的左端起数第n-m个像素对应的电压值；或

所述第一平衡系数为：待检测像素左侧的第n个像素对应的电压值；当待检测像素左侧仅存在m个像素，且m＜n时，则第一平衡系数为待检测像素所处行的右端起数第n-m个像素对应的电压值；或

所述第一平衡系数为：待检测像素上方的第n个像素对应的电压值；当待检测像素上方仅存在m个像素，且m＜n时，则第一平衡系数为待检测像素所处列的下端起数第n-m个像素对应的电压值；或，

所述第一平衡系数为：待检测像素下方的第n个像素对应的电压值；当待检测像素下方仅存在m个像素，且m＜n时，则第一平衡系数为待检测像素所处列的上端起数第n-m个像素对应的电压值；

其中，n和m均为大于等于1的整数。

上述的像素检测方法中，所述第二平衡系数为：待检测像素的上方、下方、左侧或右侧的第p个像素对应的电压值；当待检测像素的上方、下方、左侧或右侧仅存在m个像素，且m<p时，则所述第二平衡系数为待检测像素所处列的下端起数、上端起数、所述行的右端起数、左端起数的第p-m个像素对应的电压值。

上述的像素检测方法中，所述第p个像素和所述第n个像素不位于相同的行，也不位于相同的列。

上述的像素检测方法中，所述预设个数为2个。

上述的像素检测方法中，所述第一平衡系数为固定值。

上述的像素检测方法中，所述第二平衡系数为固定值，且所述第二平衡系数不等于第一平衡系数。

上述的像素检测方法中，所述固定值为待检测的所述像素周围预定区域内所有像素对应的电压值的平均值。

本申请实施例的第二方面，提供一种缺陷像素检测装置，包括：

电压获取单元，配置为获取显示器件上至少部分像素中每个像素的光强经过光电转换后的电压值；

差值计算单元，配置为将所述电压值与一个与该像素对应的平衡系数做差值计算，以获取所述至少部分像素中与每个像素对应的差值计算结果；以及

判断单元，配置为判断所述差值计算结果的绝对值大于预设阈值的像素的个数是否大于预设个数；如果判断结果为是，则判定为当前显示器件的缺陷像素的个数不在允许范围内；否则，判定为当前显示器件的缺陷像素的个数在允许范围内。

上述的缺陷像素检测装置中，所述电压获取单元包括以下单元：光发射单元、光束导向单元、液晶调制器和光电转换单元；

其中，所述光发射单元构造为向所述光束导向单元发射光束；所述液晶调制器包括液晶材料和设置于所述液晶材料一侧的反射面；所述光束导向单元构造为将所述光发射单元所发射的光束导向至所述液晶调制器，并将所述液晶调制器中的所述反射面反射回来的光束导向至所述光电转换单元。

本申请实施例的第三方面，提供一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上被所述处理器执行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述的缺陷像素检测方法的步骤。

本申请实施例的第四方面，提供一种非暂时性机器可读存储介质，其上存储有可执行代码，当所述可执行代码被执行时，使所述计算机设备执行上述的缺陷像素检测方法。

附图说明

图1为现有技术提供的一个显示器件对应的电压值矩阵示意图。

图2所示为本发明一实施例提供的一种缺陷像素检测方法的流程示意图。

图3为本发明一实施例提供的一个显示器件经过差值计算后对应的差值矩阵示意图。

图4所示为本发明一实施例提供的一种缺陷像素检测方法的流程示意图。

图5为本发明另一实施例提供的一个显示器件经过差值计算后对应的差值矩阵示意图。

图6所示为本发明一实施例所提供的缺陷像素检测装置的电压获取装置的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

为了对缺陷像素进行有效的检测，发明人构思通过能够表征像素光强的参数来代替对光强的检测，如图1所示为现有技术中一个显示器件对应的电压值矩阵示意图，其中的每个数值为一个像素对应的电压值。由此可见，对于一些与正常像素的电压值差别不太明显的缺陷像素，例如图1中电压值为2.1的缺陷像素A，由于与周围像素的电压值的比值约为0.5左右，采用这种比对方式比较容易漏检，降低了检测过程的准确度。

图2所示为本发明一实施例提供的一种缺陷像素检测方法的流程示意图。如图2所示，该缺陷像素检测方法包括如下步骤：

步骤201：将显示器件上至少部分像素中每个像素的光强经过光电转换后的电压值与一个与该像素对应的第一平衡系数做差值计算，以获取该至少部分像素中每个像素对应的第一差值计算结果；并执行步骤202。

应当理解，这里所述的显示器件意为一种通过多个显示像素起到显示功能的电子器件，例如可以是一种电子显示屏或阵列基板，本发明对该显示器件的具体种类和型号不做限定。

还应当理解，这里所述的至少部分像素可以指的是显示器件上的部分显示区域，也可以指的是显示器件的整个显示区域。具体选取多大的显示区域进行缺陷像素的检测由检测人员根据实际的应用场景而定，本发明对该用于检测缺陷像素的显示区域大小不做限定；当选取若干行或若干列作为像素的检测对象时，可快速准确的获取电压值，提高检测效率。

在本发明一实施例中，该至少部分像素中每个像素对应的第一平衡系数可为该像素右侧的第n个像素对应的电压值；其中，若当前像素右侧仅存在m个像素，且m＜n时，则与当前像素对应的第一平衡系数为当前像素所处行的左端起数第n-m个像素对应的电压值。n和m均为大于等于1的整数。

例如，以图1所示的显示器件的电压值矩阵为例，如果该至少部分像素中每个像素对应的平衡系数为该像素右侧的第1个像素对应的电压值，即，相当于将该至少部分像素中每个像素对应的电压值都与右侧的像素对应的电压值做了差值运算，最右侧像素的电压值与当前行最左端起数的第1个像素对应的电压值做差值计算。这样所得到的差值矩阵可如图3所示。由图3不难看出，原来电压值为2.1的缺陷像素A对应的差值为-2.5，与周围像素对应的差值的比值已经扩大到了约6～+∞。由此可见，基于图3所示的差值矩阵，缺陷像素A在周围像素中更为明显，可更加有效的被检测到。

步骤202：判断第一差值计算结果的绝对值大于预设阈值的像素的个数是否大于预设个数；如果判断结果为是，执行步骤203；如果判断结果为否，执行步骤204。

步骤203：判定为当前显示器件的缺陷像素的个数不在允许范围内。

步骤204：判定为当前显示器件的缺陷像素的个数在允许范围内。

需要理解的是，对于不同尺寸、不同类别的显示器件采用不同的合格标准，因此判定为合格的显示器件仍允许有一定程度的像素缺陷，即为上述的显示器件缺陷像素的个数在允许范围内的情况。

仍以图3所示的差值矩阵为例，此时可取预设阈值为2，差值矩阵中的A、B、D和E四个像素则会被判断为缺陷像素。此时，当检测人员所设置的可接受的缺陷像素的预设个数低于4时，该当前显示器件便会被判断为存在缺陷像素。但应当理解，该预设个数的大小可由检测人员根据实际的场景需求而定。例如，当该预设个数为零时，则意味着只要存在差值计算结果的绝对值大于预设阈值的像素就判定为当前显示器件存在缺陷像素。然而，本发明对该预设个数的大小并不做严格限定。同样地，该预设阈值的大小也可由检测人员根据实际需求而调整，本发明对该预设阈值的大小同样不做限定。

应当理解，由于缺陷像素A左侧的电压值为4.4的正常像素B在图3所示的差值矩阵中的差值的绝对值也达到了2.3，因此像素B会被误判为缺陷像素，但这仍然证明了该显示器件上至少存在缺陷像素A。在实际的应用中，对于显示器件是否存在缺陷像素的检测比缺陷的数量更重要。只要基于本发明实施例所提供的阵列检测方法检测出存在缺陷像素，就意味着差值矩阵中被判断为缺陷像素的位置附近真的存在缺陷像素。即，当前显示器件存在缺陷像素，而存在缺陷像素就意味着当前显示器件还需要进一步的检测或返修，因此关于像素B的误判对于显示器件检测的实际应用也属于合理的范围内。

另外还应当理解，如图1所示的显示器件的电压值矩阵，其中缺陷像素C和缺陷像素D之间其实还存在4个缺陷像素，6个缺陷像素构成一条线缺陷。但当通过上述差值计算转换为图3所示的差值矩阵后，原来的正常像素E会被误判为缺陷像素，缺陷像素C会被误判为正常像素，缺陷像素D会被判断为缺陷像素，而缺陷像素C和缺陷像素D之间的像素则会被误判为正常像素。由此可见，线缺陷在通过图3所示的差值运算后，线缺陷的两端附近至少还是会被判断为存在缺陷像素的。因此，为了进一步避免这种情况所可能带来的显示器件检测的误判，在本发明一实施例中，将可接受的缺陷像素的预设个数设置为2个。这样只要基于差值矩阵判断出了2个或2个以上的缺陷像素，就意味着当前显示器件可能至少存在了1个缺陷像素，甚至可能已经存在了线缺陷。即，当前显示器件肯定是存在缺陷像素的，还需要进一步的检测或返修。

在本发明一实施例中，该至少部分像素中每个像素对应的第一平衡系数还可为该像素左侧的第n个像素对应的电压值；其中，若当前像素左侧仅存在m个像素，且m＜n时，则与当前像素对应的第一平衡系数为当前像素所处行的右端起数第n-m个像素对应的电压值。或，该至少部分像素中每个像素对应的第一平衡系数为该像素上方的第n个像素对应的电压值；其中，若当前像素上方仅存在m个像素，且m＜n时，则与当前像素对应的第一平衡系数为当前像素所处列的下端起数第n-m个像素对应的电压值。或，该至少部分像素中每个像素对应的第一平衡系数为该像素下方的第n个像素对应的电压值；其中，若当前像素下方仅存在m个像素，且m＜n时，则与当前像素对应的第一平衡系数为当前像素所处列的上端起数第n-m个像素对应的电压值。由于选取该至少部分像素中每个像素的上方、下方或左侧的像素的电压值进行差值计算的过程与图3所示的选取右侧的像素的电压值的差值计算过程相类似，在此就不再赘述。

在本发明一实施例中，当以第一平衡系数判定当前显示器件的缺陷像素的个数在允许范围内时，还可进一步提供第二平衡系数，然后将第一平衡系数替换为第二平衡系数，循环上述差值计算，以得到第二差值计算结果。然后将第一差值计算结果替换为第二差值计算结果，循环上述判断步骤，以通过第二平衡系数的检测流程来验证以第一平衡系数得到的判断结果。例如，该第二平衡系数可为待检测像素的上方、下方、左侧或右侧的第p个像素对应的电压值；当待检测像素的上方、下方、左侧或右侧仅存在m个像素，且m<p时，则第二平衡系数为待检测像素所处列的下端起数、上端起数、所述行的右端起数、左端起数的第p-m个像素对应的电压值。

在本发明一进一步实施例中，考虑到对于当前显示器件的某一行或某一列全是线缺陷的情况，当单纯的选取上方、下方、左侧或右侧中的一个方向上的像素的电压值进行差值计算时，若所选择的方向与线缺陷的方向平行，线缺陷所在行/列所计算出的差值可能会都趋于零，这样有可能反而判断不出该线缺陷的存在。因此，当基于以上四个方向中的一个方向进行差值计算判断为当前显示器件不存在缺陷像素时，还要选择与当前判断过程所对应的方向相垂直的另一个方向再进行一次差值计算过程，以避免对于整行或整列线缺陷的漏判，进一步提高对于显示器件检测的准确度。即，第二平衡系数的选取方向可与第一平衡系数的选取方向垂直。用于确定第二平衡系数的第p个像素和之前用于确定第一平衡系数的第n个像素不位于相同的行，也不位于相同的列。

具体而言，若该至少部分像素中每个像素对应的平衡系数为该像素右侧或左侧的第n个像素对应的电压值，则将该至少部分像素中每个像素对应的平衡系数更新为该像素上方或下方的第p个像素对应的电压值，并再次进行该差值计算；或，若该至少部分像素中每个像素对应的平衡系数为该像素上方或下方的第n个像素对应的电压值，则将该至少部分像素中每个像素对应的平衡系数更新为该像素右侧或左侧的第p个像素对应的电压值，并再次进行该差值计算。以及，当该再次进行的差值计算的差值计算结果的绝对值大于预设阈值的像素的个数大于预设个数时，判断为当前显示器件存在缺陷像素的个数不在允许范围内；否则，仍然判断为当前显示器件缺陷像素的个数在允许范围内。

但应当理解，虽然在上面的描述中第二平衡系数的选取方向可与第一平衡系数的选取方向垂直，但其实该第二平衡系数的选取方向可与第一平衡系数的选取方向相同，本发明对该第二平衡系数的选取方向并不做严格限定。

图4所示为本发明一实施例提供的一种缺陷像素检测方法的流程示意图。如图4所示，在步骤204：判定为当前显示器件的缺陷像素的个数在允许范围内后，还可以对当前的显示器件做进一步的缺陷像素检测，该缺陷像素检测方法包括如下步骤：

步骤401：判断显示器件上至少部分像素中的当前像素左侧存在的像素个数m是否小于p，p和m均为大于等于1的整数。如果判断结果为是，执行步骤402；如果判断结果为否，执行步骤403。

步骤402：将当前像素所处行的右端起数第p-m个像素对应的电压值作为当前像素对应的第二平衡系数。

步骤403：将当前像素左侧的第p个像素对应的电压值作为当前像素对应的第二平衡系数。

步骤404：将当前像素的光强经过光电转换后的电压值与当前像素对应的第二平衡系数做差值计算，以获取与当前像素对应的第二差值计算结果。

步骤405：判断第二差值计算结果的绝对值大于预设阈值的像素的个数是否大于预设个数。如果判断结果为是，执行步骤406；如果判断结果为否，执行步骤407。

步骤406：判定为当前显示器件的缺陷像素的个数不在允许范围内。

步骤407：判断当前像素是否为该至少部分像素中的最后一个像素。如果判断结果为是，则执行步骤408；如果判断结果为否，则执行步骤409。例如，当以从左至右逐行扫描的方式对该显示器件中的至少部分像素进行检测时，最后一个像素即为该至少部分像素右下角的像素。

步骤408：判定为当前显示器件的缺陷像素的个数在允许范围内。

步骤409：将该至少部分像素中的下一个像素作为当前像素，返回步骤401。由此开始对该至少部分像素中的下一个像素进行检测。例如，当以从左至右逐行扫描的方式对该显示器件中的至少部分像素进行检测时，就是将右侧的下一个像素作为下一个循环的当前像素。

应当理解，由于选取该至少部分像素中每个像素的上方、下方或右侧的像素的电压值进行差值计算的过程可与图4所示的选取左侧的像素的电压值的差值计算过程相类似，在此也就不再赘述。

在本发明一实施例中，第p个像素和第n个像素不位于相同的行，也不位于相同的列，由此避免在某一方向上取第p个像素和第n个像素，避免当第n个像素和第p个像素为同一像素，两次检测结果完全相同的情况；也能够避免第n个像素和第p个像素的位置过于靠近，使第p个像素和第n个像素的周围区域电压值相同或相近，不能起到两次检测缺陷像素的情况。

在本发明另一实施例中，该至少部分像素中每个像素对应的第一平衡系数还可为一固定值。例如，该固定值可为该至少部分像素中每个像素周围预定区域内所有像素对应的电压值的平均值。然而应当理解，该预定区域的大小也可由检测人员自行设定，本发明对此不做限定。例如，以图1所示的显示器件的电压值矩阵为例，当该固定值为显示器件内所有像素的电压值的平均值时，进行差值计算所得到的差值矩阵可如图5所示。在本发明一进一步实施例中，第二平衡系数也可为一固定值，但第二平衡系数并不等于第一平衡系数。

由此可见，虽然采用这种差值计算方式需要首先计算该固定值的大小，但并不会对正常像素产生误判。如图5所示，缺陷像素A、C和D各自的差值与周围像素的差值的比值也是相当明显的。在本发明一实施例中，考虑到图5所示的差值计算方式不会对正常像素产生误判，因此可将差值计算结果的绝对值大于预设阈值的像素直接判断为缺陷像素。例如，当将该预设阈值选为2时，便可将直接判断出图5中的缺陷像素A、缺陷像素C、缺陷像素D以及C和D之间的4个缺陷像素。

本发明一实施例还提供一种缺陷像素检测装置包括：

电压获取单元，配置为获取显示器件上至少部分像素中每个像素的光强经过光电转换后的电压值；

差值计算单元，配置为将显示器件上该至少部分像素中每个像素的光强经过光电转换后的电压值与一个与该像素对应的平衡系数做差值计算，以获取该至少部分像素中每个像素对应的差值计算结果；以及

判断单元，配置为判断所述差值计算结果的绝对值大于预设阈值的像素的个数是否大于预设个数；如果判断结果为是，则判定为当前显示器件的缺陷像素的个数不在允许范围内；否则，判定为当前显示器件的缺陷像素的个数在允许范围内。

图6所示为本发明一实施例所提供的缺陷像素检测装置的电压获取单元的结构示意图。如图6所示，该电压获取单元包括：光发射单元61、光束导向单元62、液晶调制器63和光电转换单元64。光发射单元61构造为向光束导向单元62发射光束；液晶调制器63包括液晶材料和设置于液晶材料一侧的反射面；光束导向单元62构造为将光发射单元61所发射的光束导向至液晶调制器63，并将液晶调制器63中的反射面反射回来的光束导向至光电转换单元64。在本发明一实施例中，光束导向单元62可采用分光镜实现。

由此可见，图6所示的电压获取单元其实是利用液晶材料的透光强度经过光电转换后的电压值来模拟显示器件上像素的电压值。具体而言，将显示器件放置在液晶调制器63的下方，并对显示器件进行通电后，便会在显示器件与液晶调制器63之间形成电场。液晶调制器63中的液晶材料根据电场强度的大小而发生不同的偏转，液晶材料偏转方向的不同使得液晶材料的透光强度不同，反射面反射回去的反射光强度也就不同。将反射面反射回去的反射光强度进行光电转换所得到的电压值即可模拟显示器件上该至少部分像素中每个像素的光强经过光电转换后的电压值。

应当理解，上述实施例所提供的缺陷像素检测装置中记载的差值计算模块和判断模块都与前述的一个方法步骤相对应。由此，前述的方法步骤描述的操作和特征同样适用于差值计算模块和判断模块，重复的内容在此不再赘述。

本发明一实施例还提供一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上被所述处理器执行的计算机程序。该处理器执行该计算机程序时实现如前任一所述的缺陷像素检测方法的步骤。存储器可以为任何有形媒介，例如软盘、CD-ROM、DVD、硬盘驱动器、甚至网络介质等。

本发明的上述技术构思还可以被实施为一种非暂时性机器可读存储介质，其上存储有可执行代码，当所述可执行代码被计算机设备等执行时，能够使所述计算机设备执行本实施例记载的缺陷像素检测方法的部分或全部步骤。

应当理解，本发明的实施方式的方法或设备可以被依软件、硬件、或者软件和硬件的结合来实现。硬件部分可以利用专用逻辑来实现；软件部分可以存储在存储器中，由适当的指令执行系统，例如微处理器或者专用设计硬件来执行。本领域的普通技术人员可以理解上述的方法和设备可以使用计算机可执行指令和/或包含在处理器控制代码中来实现，例如在诸如磁盘、CD或DVD-ROM的载体介质、诸如只读存储器(固件)的可编程的存储器或者诸如光学或电子信号载体的数据载体上提供了这样的代码。本发明的方法和装置可以由诸如超大规模集成电路或门阵列、诸如逻辑芯片、晶体管等的半导体、或者诸如现场可编程门阵列、可编程逻辑设备等的可编程硬件设备的硬件电路实现，也可以用由各种类型的处理器执行的软件实现，也可以由上述硬件电路和软件的结合例如固件来实现。

应当理解，尽管在上文的详细描述中提及了设备的若干模块或装置，但是这种划分仅仅是示例性而非强制性的。实际上，根据本发明的示例性实施方式，上文描述的两个或更多模块/装置的特征和功能可以在一个模块/装置中实现，反之，上文描述的一个模块/装置的特征和功能可以进一步划分为由多个模块/装置来实现。此外，上文描述的某些模块/装置在某些应用场景下可被省略。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (13)

1.一种缺陷像素检测方法，其特征在于，包括：

将显示器件上至少部分像素中每个像素的光强经过光电转换后的电压值与一个与该像素对应的第一平衡系数做差值计算，以获取所述至少部分像素中每个像素对应的第一差值计算结果；以及判断步骤，所述判断步骤包括：

判断所述第一差值计算结果的绝对值大于预设阈值的像素的个数是否大于预设个数；如果判断结果为是，则判定为当前显示器件的缺陷像素的个数不在允许范围内；否则，判定为当前显示器件的缺陷像素的个数在允许范围内。

2.根据权利要求1所述的像素检测方法，其特征在于：当判定当前显示器件的缺陷像素的个数在允许范围内时，所述检测方法还包括：

提供第二平衡系数，将第一平衡系数替换为第二平衡系数，循环所述差值计算，得到第二差值计算结果；

将第一差值计算结果替换为第二差值计算结果，循环所述判断步骤。

3.根据权利要求1所述的缺陷像素检测方法，其特征在于，所述第一平衡系数为：待检测像素右侧的第n个像素对应的电压值；当待检测像素右侧仅存在m个像素，且m＜n时，则第一平衡系数为待检测像素所处行的左端起数第n-m个像素对应的电压值；或

所述第一平衡系数为：待检测像素左侧的第n个像素对应的电压值；当待检测像素左侧仅存在m个像素，且m＜n时，则第一平衡系数为待检测像素所处行的右端起数第n-m个像素对应的电压值；或

所述第一平衡系数为：待检测像素上方的第n个像素对应的电压值；当待检测像素上方仅存在m个像素，且m＜n时，则第一平衡系数为待检测像素所处列的下端起数第n-m个像素对应的电压值；或，

所述第一平衡系数为：待检测像素下方的第n个像素对应的电压值；当待检测像素下方仅存在m个像素，且m＜n时，则第一平衡系数为待检测像素所处列的上端起数第n-m个像素对应的电压值；

其中，n和m均为大于等于1的整数。

4.根据权利要求2所述的缺陷像素的检测方法，其特征在于：

所述第二平衡系数为：待检测像素的上方、下方、左侧或右侧的第p个像素对应的电压值；当待检测像素的上方、下方、左侧或右侧仅存在m个像素，且m<p时，则所述第二平衡系数为待检测像素所处列的下端起数、上端起数、所述行的右端起数、左端起数的第p-m个像素对应的电压值。

5.根据权利要求4所述的缺陷像素的检测方法，其特征在于：

所述第p个像素和所述第n个像素不位于相同的行，也不位于相同的列。

6.根据权利要求1所述的缺陷像素检测方法，其特征在于，所述预设个数为2个。

7.根据权利要求1所述的缺陷像素检测方法，其特征在于，所述第一平衡系数为固定值。

8.根据权利要求2所述的缺陷像素检测方法，其特征在于：所述第二平衡系数为固定值，且所述第二平衡系数不等于第一平衡系数。

9.根据权利要求7或8所述的缺陷像素检测方法，其特征在于，所述固定值为待检测的所述像素周围预定区域内所有像素对应的电压值的平均值。

10.一种缺陷像素检测装置，其特征在于，包括：

电压获取单元，配置为获取显示器件上至少部分像素中每个像素的光强经过光电转换后的电压值；

差值计算单元，配置为将所述电压值与一个与该像素对应的平衡系数做差值计算，以获取所述至少部分像素中与每个像素对应的差值计算结果；以及

判断单元，配置为判断所述差值计算结果的绝对值大于预设阈值的像素的个数是否大于预设个数；如果判断结果为是，则判定为当前显示器件的缺陷像素的个数不在允许范围内；否则，判定为当前显示器件的缺陷像素的个数在允许范围内。

11.根据权利要求10所述的缺陷像素检测装置，其特征在于，所述电压获取单元包括以下单元：光发射单元、光束导向单元、液晶调制器和光电转换单元；

其中，所述光发射单元构造为向所述光束导向单元发射光束；所述液晶调制器包括液晶材料和设置于所述液晶材料一侧的反射面；所述光束导向单元构造为将所述光发射单元所发射的光束导向至所述液晶调制器，并将所述液晶调制器中的所述反射面反射回来的光束导向至所述光电转换单元。

12.一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上被所述处理器执行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-9中任一所述的缺陷像素检测方法的步骤。

13.一种机器可读存储介质，其上存储有可执行代码，其特征在于，当所述可执行代码被执行时，使所述机器执行权利要求1-9中任一所述的缺陷像素检测方法。