TWI665655B - 應用於顯示面板之光學補償裝置及其運作方法 - Google Patents

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Abstract

一種光學補償裝置，應用於顯示面板。顯示面板包含複數個顯示子畫素，用以顯示一顯示資料。光學補償裝置包含光學量測模組、資料處理模組及光學補償模組。光學量測模組用以量測對應於顯示面板之該複數個顯示子畫素的複數個光學量測值。資料處理模組耦接光學量測模組，用以根據該複數個光學量測值判斷該複數個顯示子畫素是否出現異常。若上述判斷結果為是，資料處理模組根據特定處理規則產生對應於至少一異常顯示子畫素的至少一光學補償值。光學補償模組耦接資料處理模組，用以輸出光學補償值，以對顯示資料進行光學補償。

Description

應用於顯示面板之光學補償裝置及其運作方法
本發明係與顯示面板有關，特別是關於一種應用於顯示面板之光學補償裝置及其運作方法。
目前的有機發光二極體(Organic Light-Emitting Diode,OLED)顯示面板常因為出現色不均瑕疵(Mura)而影響其良率。所謂的色不均瑕疵(Mura)係指顯示面板亮度不均勻所導致之各種痕跡，由於色不均瑕疵通常存在於光源不均的背景上，使得人眼無法有效地分辨正常影像與色不均瑕疵。因此，許多校正色不均瑕疵(Demura)的技術便應運而生。
目前常見的色不均瑕疵校正方法係先量測顯示面板之每一顯示子畫素的亮度，藉以判斷每一顯示子畫素是否出現色不均瑕疵，再藉以改變輸出至顯示面板之每一顯示子畫素的資料訊號，進而達到亮度補償的效果。
然而，由於此種色不均瑕疵校正方法需先量測顯示面板之每一顯示子畫素的亮度，所以對於顯示面板之表面潔淨度 的要求非常高，才能確保亮度量測值的準確性。舉例而言，假設圖1A所示為原始顯示面板1，其各顯示子畫素P1~P11的正常亮度如圖1B所示；一旦如圖2A所示在亮度量測過程中顯示面板1上有灰塵2或其他干擾物存在，則如圖2B所示，從顯示面板1上被灰塵2蓋住的顯示子畫素(例如P3,P4,P9)量測到的亮度會遠低於其正常亮度，因而導致如圖3B所示根據錯誤的亮度量測值對該些顯示子畫素(例如P3,P4,P9)進行錯誤補償ERC後，顯示面板1會如圖3A所示於該些錯誤補償的顯示子畫素(例如P3,P4,P9)出現異常亮點3。
因此，本發明提出一種應用於顯示面板之光學補償裝置及其運作方法，以解決先前技術中所遭遇的問題。
根據本發明之一較佳具體實施例為一種光學補償裝置。於此實施例中，光學補償裝置應用於顯示面板。顯示面板包含複數個顯示子畫素，用以顯示一顯示資料。光學補償裝置包含光學量測模組、資料處理模組及光學補償模組。光學量測模組用以量測對應於顯示面板之該複數個顯示子畫素的複數個光學量測值。資料處理模組耦接光學量測模組，用以根據該複數個光學量測值判斷該複數個顯示子畫素是否出現異常。若上述判斷結果為是，資料處理模組根據一特定處理規則產生對應於該複數個顯示子畫素中出現異常的至少一異常顯示子畫素的至少一光學補償值。光學補償模組耦接資料處理模組，用以輸出該至少一光學補償值，以對顯示資料進行光學補償。
於一實施例中，顯示面板為有機發光二極體顯示面板。
於一實施例中，該複數個光學量測值為該複數個顯示子畫素的亮度值。
於一實施例中，光學量測模組包含控制單元、光學感測單元及資料擷取單元。控制單元用以提供一控制訊號。光學感測單元耦接控制單元，用以根據控制訊號對顯示面板之該複數個顯示子畫素進行光學感測，以測得該複數個光學感測值。資料擷取單元耦接光學感測單元，用以自光學感測單元擷取該複數個光學感測值。
於一實施例中，資料處理模組包含資料分析單元、異常點判斷單元及資料運算單元。資料分析單元耦接光學量測模組，用以接收並分析該複數個光學感測值。異常點判斷單元耦接資料分析單元，用以根據該複數個光學感測值判斷該複數個顯示子畫素是否出現異常。資料運算單元耦接異常點判斷單元。若異常點判斷單元之判斷結果為是，資料運算單元根據特定處理規則產生對應於出現異常的該至少一異常顯示子畫素的該至少一光學補償值。
於一實施例中，光學補償模組與顯示面板均耦接一顯示驅動裝置。顯示驅動裝置分別接收顯示資料及該至少一光學補償值並根據該至少一光學補償值對顯示資料進行光學補償後輸出至顯示面板。
於一實施例中，當該複數個顯示子畫素中之一顯示子畫素的光學量測值係低於一門檻值時，顯示子畫素被判定為異常顯示子畫素。
於一實施例中，當該複數個顯示子畫素中之一顯示子畫素的光學量測值並未隨灰階值之增加而變大時，顯示子畫素被判定為異常顯示子畫素。
於一實施例中，特定處理規則為該至少一異常顯示子畫素所對應的顯示資料不予補償。
於一實施例中，特定處理規則為以該至少一異常顯示子畫素相鄰的顯示子畫素所對應的光學補償值來對該至少一異常顯示子畫素所對應的顯示資料進行光學補償。
根據本發明之另一較佳具體實施例為一種光學補償裝置運作方法。於此實施例中，光學補償裝置運作方法用以運作應用於一顯示面板之一光學補償裝置。顯示面板包含複數個顯示子畫素，用以顯示一顯示資料。光學補償裝置運作方法包含下列步驟：(a)量測對應於顯示面板之該複數個顯示子畫素的複數個光學量測值；(b)根據該複數個光學量測值判斷該複數個顯示子畫素是否出現異常；以及(c)若步驟(b)之判斷結果為是，根據一特定處理規則產生對應於該複數個顯示子畫素中出現異常的至少一異常顯示子畫素的至少一光學補償值，以對顯示資料進行光學補償。
相較於先前技術，即使在量測顯示面板之所有顯示子畫素之亮度的過程中，顯示面板上有灰塵或其他干擾物存在， 根據本發明之光學補償裝置及其運作方法會先自動偵測出這些異常的顯示子畫素並予以適當的處理，而不會如同先前技術一樣直接根據錯誤的亮度量測值去對這些異常的顯示子畫素進行錯誤的光學補償。
因此，根據本發明之光學補償裝置及其運作方法能夠達到校正色不均瑕疵(Demura)的效果，並可有效避免顯示面板由於錯誤的光學補償而導致其部分的顯示子畫素出現異常的亮點，藉以增進顯示面板之顯示畫面的品質，並提升使用者觀看時之視覺感受。
關於本發明之優點與精神可以藉由以下的發明詳述及所附圖式得到進一步的瞭解。
S10~S16‧‧‧步驟
1‧‧‧顯示面板
P1~P11‧‧‧顯示子畫素
2‧‧‧灰塵
3‧‧‧異常亮點
TL‧‧‧目標亮度
ERC‧‧‧錯誤補償
4‧‧‧光學補償裝置
42‧‧‧光學量測模組
44‧‧‧資料處理模組
46‧‧‧光學補償模組
PL‧‧‧顯示面板
P1~Pn‧‧‧顯示子畫素
DR‧‧‧顯示驅動裝置
420‧‧‧控制單元
422‧‧‧資料擷取單元
424‧‧‧光學感測單元
440‧‧‧資料分析單元
442‧‧‧異常點判斷單元
444‧‧‧資料運算單元
CTL‧‧‧控制訊號
V1~Vn‧‧‧光學感測值
COMP‧‧‧光學補償值
DAT‧‧‧顯示資料
DAT’‧‧‧經光學補償後的顯示資料
SPR‧‧‧特定處理規則
SL‧‧‧門檻亮度
G1~G11‧‧‧灰階值
圖1A及圖1B係分別繪示原始顯示面板及其各顯示子畫素的正常亮度之示意圖。
圖2A及圖2B係分別繪示顯示面板上有灰塵存在及從顯示面板上被灰塵蓋住的顯示子畫素量測到的亮度遠低於其正常亮度之示意圖。
圖3A及圖3B係分別繪示顯示面板出現異常的亮點以及根據錯誤的亮度量測值對該些顯示子畫素進行錯誤的光學補償之示意圖。
圖4係繪示根據本發明之一較佳具體實施例中之光學補償裝置 應用於顯示面板的示意圖。
圖5係繪示將量測亮度未達門檻亮度的顯示子畫素判定為異常顯示子畫素的示意圖。
圖6係繪示當顯示子畫素的光學量測值隨灰階值之增加而變大時，顯示子畫素被判定為正常顯示子畫素的示意圖。
圖7係繪示當顯示子畫素的光學量測值未隨灰階值之增加而變大時，顯示子畫素被判定為異常顯示子畫素的示意圖。
圖8係繪示顯示面板之各顯示子畫素的量測亮度的示意圖。
圖9係繪示對於圖8中之異常顯示子畫素不予補償的示意圖。
圖10係繪示顯示面板之各顯示子畫素的量測亮度的示意圖。
圖11係繪示對於圖10中之異常顯示子畫素以其相鄰的顯示子畫素所對應的光學補償值進行補償的示意圖。
圖12係繪示根據本發明之另一較佳具體實施例中之光學補償裝置運作方法的流程圖。
本發明係揭露一種光學補償裝置及其運作方法，在量測顯示面板之所有顯示子畫素之亮度的過程中，即使顯示面板上有灰塵或其他干擾物存在，本發明之光學補償裝置及其運作方法會先自動偵測出這些異常的顯示子畫素並予以適當的處理，藉以達到色不均瑕疵校正(Demura)的效果，並能有效避免顯示面板由於錯誤的光學補償而導致其部分的顯示子畫素出現異常的亮點。
根據本發明之一較佳具體實施例為一種光學補償裝 置。於此實施例中，光學補償裝置應用於顯示面板，例如有機發光二極體(OLED)顯示面板，但不以此為限。顯示面板包含複數個顯示子畫素，用以顯示一顯示資料。
請參照圖4，圖4係繪示此實施例中之光學補償裝置應用於顯示面板的示意圖。
如圖4所示，光學補償裝置4對應於顯示面板PL而設置，且光學補償裝置4與顯示面板PL均耦接顯示驅動裝置DR。顯示驅動裝置DR用以接收顯示資料DAT並將顯示資料DAT輸出至顯示面板PL之該複數個顯示子畫素P1~Pn進行顯示，其中n為大於1之正整數。
光學補償裝置4包含光學量測模組42、資料處理模組44及光學補償模組46。資料處理模組44耦接光學量測模組42；光學補償模組46耦接資料處理模組44且光學補償模組46亦耦接顯示驅動裝置DR。
光學量測模組42對應於顯示面板PL而設置，用以量測分別對應於顯示面板PL之該複數個顯示子畫素P1~Pn的複數個光學量測值(例如亮度，但不以此為限)V1~Vn。
於此實施例中，光學量測模組42可包含控制單元420、資料擷取單元422及光學感測單元424。控制單元420及資料擷取單元422均耦接光學感測單元424。
當控制單元420提供控制訊號CTL至光學感測單元424時，光學感測單元424根據控制訊號CTL對顯示面板PL之該複數 個顯示子畫素P1~Pn進行光學感測，以測得對應於該複數個顯示子畫素P1~Pn的該複數個光學感測值V1~Vn。接著，再由資料擷取單元422自光學感測單元424擷取該複數個光學感測值V1~Vn並將該複數個光學感測值V1~Vn傳送至資料處理模組44。於實際應用中，光學感測單元424可以是光學鏡頭或其他具有光學感測功能的裝置，但不以此為限。
當資料處理模組44接收到該複數個光學感測值V1~Vn時，資料處理模組44根據該複數個光學量測值V1~Vn判斷該複數個顯示子畫素P1~Pn是否出現異常。至於資料處理模組44如何去判斷該複數個顯示子畫素P1~Pn為正常或異常，留待後面詳細說明。
若上述判斷結果為是，代表該複數個顯示子畫素P1~Pn中之至少一顯示子畫素(亦即一個或多個顯示子畫素)出現異常，則資料處理模組44判定出現異常的該至少一顯示子畫素為至少一異常顯示子畫素。接著，資料處理模組44會根據特定處理規則SPR產生對應於該至少一異常顯示子畫素的至少一光學補償值COMP並將其輸出至光學補償模組46。至於資料處理模組44所採用的特定處理規則SPR為何，亦留待後面詳細說明。
若上述判斷結果為否，代表該複數個顯示子畫素P1~Pn均未出現異常，則資料處理模組44判定該複數個顯示子畫素P1~Pn均為正常顯示子畫素並產生對應於正常的該複數個顯示子畫素P1~Pn的複數個光學補償值，例如可將該複數個顯示子畫素 P1~Pn之亮度均補償至目標亮度，但不以此為限。
於此實施例中，資料處理模組44可包含資料分析單元440、異常點判斷單元442及資料運算單元444。資料分析單元440耦接光學量測模組42；異常點判斷單元442耦接資料分析單元440；資料運算單元444耦接異常點判斷單元442及光學補償模組46。
當資料分析單元440接收到來自光學量測模組42的該複數個光學感測值V1~Vn時，資料分析單元440會先對該複數個光學感測值V1~Vn進行分析後傳送至異常點判斷單元442。
接著，異常點判斷單元442會根據該複數個光學感測值V1~Vn判斷該複數個顯示子畫素P1~Pn是否出現異常。至於異常點判斷單元442如何去判斷該複數個顯示子畫素P1~Pn為正常或異常，留待後面詳細說明。
若異常點判斷單元442之判斷結果為是，代表該複數個顯示子畫素P1~Pn中之至少一顯示子畫素(亦即一個或多個顯示子畫素)出現異常，因此，資料運算單元444會根據特定處理規則SPR產生對應於出現異常的該至少一異常顯示子畫素的該至少一光學補償值COMP並將其傳送至光學補償模組46。
若異常點判斷單元442之判斷結果為否，代表該複數個顯示子畫素P1~Pn均未出現異常，亦即該複數個顯示子畫素P1~Pn均為正常顯示子畫素，則資料運算單元444產生對應於正常的該複數個顯示子畫素P1~Pn的複數個光學補償值，例如將該複數個顯示子畫素P1~Pn之亮度均補償至目標亮度，但不以此為限。
光學補償模組46用以將該至少一光學補償值COMP輸出至顯示驅動裝置DR，使得顯示驅動裝置DR可根據該至少一光學補償值COMP對顯示資料DAT進行光學補償後產生經光學補償後的顯示資料DAT’，再將經光學補償後的顯示資料DAT’輸出至顯示面板PL進行顯示。
需說明的是，當資料處理模組44的異常點判斷單元442根據該複數個光學感測值V1~Vn判斷該複數個顯示子畫素P1~Pn是否出現異常時，異常點判斷單元442可根據該複數個顯示子畫素P1~Pn的該複數個光學感測值V1~Vn是否低於一門檻值來判斷該複數個顯示子畫素P1~Pn中之每一個顯示子畫素分別為正常顯示子畫素或異常顯示子畫素。
舉例而言，如圖5所示，由於該複數個顯示子畫素P1~P11中之顯示子畫素P3、P4及P9的亮度量測值低於門檻亮度SL，因此，異常點判斷單元442會判定顯示子畫素P3、P4及P9為異常顯示子畫素，至於其餘的顯示子畫素P1~P2、P5~P8及P10~P11則會被判定為正常顯示子畫素。後續再由資料運算單元444分別對於異常顯示子畫素與正常顯示子畫素產生不同的光學補償值。
於另一實施例中，異常點判斷單元442亦可根據該複數個顯示子畫素P1~Pn中之每一個顯示子畫素的光學量測值是否隨灰階值之增加而變大來判斷該顯示子畫素為正常顯示子畫素或異常顯示子畫素。
舉例而言，如圖6所示，由於單一顯示子畫素P1的光 學量測值會隨灰階值G1~G11之增加而變大，因此，異常點判斷單元442會判定顯示子畫素P1為正常顯示子畫素；如圖7所示，由於單一顯示子畫素P3的光學量測值並未隨灰階值G1~G11之增加而變大，因此，異常點判斷單元442會判定顯示子畫素P1為異常顯示子畫素。後續再由資料運算單元444分別對於異常顯示子畫素與正常顯示子畫素產生不同的光學補償值。
需說明的是，當資料運算單元444根據特定處理規則SPR產生對應於出現異常的該至少一異常顯示子畫素的該至少一光學補償值COMP時，資料運算單元444所採用的特定處理規則SPR可以是該至少一異常顯示子畫素所對應的顯示資料不予補償，或是以該至少一異常顯示子畫素相鄰的顯示子畫素所對應的光學補償值來對該至少一異常顯示子畫素所對應的顯示資料進行光學補償。
舉例而言，異常點判斷單元442可根據圖8所繪示的顯示面板PL之各顯示子畫素P1~P11的量測亮度判定顯示子畫素P3~P4及P9為異常顯示子畫素以及其餘的顯示子畫素P1~P2、P5~P8及P10~P11為正常顯示子畫素，再由資料運算單元444根據特定處理規則SPR產生對應於異常顯示子畫素(亦即顯示子畫素P3~P4及P9)的光學補償值COMP。
至於各顯示子畫素P1~P11經光學補償後之亮度如圖9所示，由圖9可知：於此例中，資料運算單元444所採用的特定處理規則SPR為對於異常顯示子畫素(亦即顯示子畫素P3~P4及P9)不 予補償而維持原來的亮度，而正常顯示子畫素(亦即顯示子畫素P1~P2、P5~P8及P10~P11)則會被補償至目標亮度TL，藉以有效避免顯示面板PL的異常顯示子畫素(亦即顯示子畫素P3~P4及P9)由於錯誤的光學補償而出現異常的亮點。
於另一實施例中，異常點判斷單元442亦可根據圖10所繪示的顯示面板PL之各顯示子畫素P1~P11的量測亮度判定顯示子畫素P3~P4及P9為異常顯示子畫素以及其餘的顯示子畫素P1~P2、P5~P8及P10~P11為正常顯示子畫素，再由資料運算單元444根據特定處理規則SPR產生對應於異常顯示子畫素(亦即顯示子畫素P3~P4及P9)的光學補償值COMP。
至於各顯示子畫素P1~P11經光學補償後之亮度如圖11所示，由圖11可知：於此例中，正常顯示子畫素(亦即顯示子畫素P1~P2、P5~P8及P10~P11)會被補償至目標亮度TL，而資料運算單元444所採用的特定處理規則SPR為以異常顯示子畫素(亦即顯示子畫素P3~P4及P9)相鄰的正常顯示子畫素(亦即與顯示子畫素P3相鄰的顯示子畫素P2、與顯示子畫素P4相鄰的P5以及與顯示子畫素P9相鄰的P8或P10)所對應的光學補償值來對異常顯示子畫素(亦即顯示子畫素P3~P4及P9)進行光學補償，使得異常顯示子畫素的亮度與相鄰的正常顯示子畫素的亮度差異不至於太大，藉以有效避免顯示面板PL的異常顯示子畫素(亦即顯示子畫素P3~P4及P9)由於錯誤的光學補償而出現異常的亮點。
根據本發明之另一較佳具體實施例為一種光學補償 裝置運作方法。於此實施例中，光學補償裝置運作方法用以運作應用於顯示面板之光學補償裝置。顯示面板包含複數個顯示子畫素，用以顯示一顯示資料。
請參照圖12，圖12係繪示此實施例中之光學補償裝置運作方法的流程圖。如圖12所示，光學補償裝置運作方法包含下列步驟：步驟S10：量測對應於顯示面板之該複數個顯示子畫素的複數個光學量測值(例如該複數個顯示子畫素的亮度值，但不以此為限)；步驟S12：根據該複數個光學量測值判斷該複數個顯示子畫素是否出現異常；步驟S14：若步驟S12之判斷結果為是，根據一特定處理規則產生對應於該複數個顯示子畫素中出現異常的至少一異常顯示子畫素的至少一光學補償值，以對顯示資料進行光學補償；以及步驟S16：若步驟S12之判斷結果為否，產生對應於該複數個顯示子畫素中之正常顯示子畫素的光學補償值，以對顯示資料進行光學補償。
於步驟S12中，當該複數個顯示子畫素中之一顯示子畫素的光學量測值低於一門檻值時，該方法可判定該顯示子畫素為異常顯示子畫素，但不以此為限；當該複數個顯示子畫素中之一顯示子畫素的光學量測值並未隨灰階值之增加而變大時，該方 法可判定該顯示子畫素為異常顯示子畫素，但不以此為限。
於步驟S14中，特定處理規則可以是該至少一異常顯示子畫素所對應的該顯示資料不予補償，或是以該至少一異常顯示子畫素相鄰的顯示子畫素所對應的光學補償值來對該至少一異常顯示子畫素所對應的該顯示資料進行光學補償，但不以此為限。
於步驟S16中，該方法可以將正常顯示子畫素的亮度均補償至目標亮度，但不以此為限。
相較於先前技術，即使在量測顯示面板之所有顯示子畫素之亮度的過程中，顯示面板上有灰塵或其他干擾物存在，根據本發明之光學補償裝置及其運作方法會先自動偵測出這些異常的顯示子畫素並予以適當的處理，而不會如同先前技術一樣直接根據錯誤的亮度量測值去對這些異常的顯示子畫素進行錯誤的光學補償。
因此，根據本發明之光學補償裝置及其運作方法能夠達到校正色不均瑕疵(Demura)的效果，並可有效避免顯示面板由於錯誤的光學補償而導致其部分的顯示子畫素出現異常的亮點，藉以增進顯示面板之顯示畫面的品質，並提升使用者觀看時之視覺感受。
藉由以上較佳具體實施例之詳述，係希望能更加清楚描述本發明之特徵與精神，而並非以上述所揭露的較佳具體實施例來對本發明之範疇加以限制。相反地，其目的是希望能涵蓋各種改變及具相等性的安排於本發明所欲申請之專利範圍的範疇 內。

Claims (15)

  1. 一種光學補償裝置，應用於一顯示面板，該顯示面板包含複數個顯示子畫素，用以顯示一顯示資料，該光學補償裝置包含：一光學量測模組，用以量測對應於該顯示面板之該複數個顯示子畫素的複數個光學量測值；一資料處理模組，耦接該光學量測模組，用以根據該複數個光學量測值判斷該複數個顯示子畫素是否出現異常，若上述判斷結果為是，該資料處理模組根據一特定處理規則產生對應於該複數個顯示子畫素中出現異常的至少一異常顯示子畫素的至少一光學補償值；以及一光學補償模組，耦接該資料處理模組，用以輸出該至少一光學補償值，以對該顯示資料進行光學補償；其中當該複數個顯示子畫素中之一顯示子畫素的光學量測值並未隨灰階值之增加而變大時，該顯示子畫素被判定為該異常顯示子畫素。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之光學補償裝置，其中該顯示面板為有機發光二極體(Organic Light-Emitting Diode,OLED)顯示面板。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之光學補償裝置，其中該複數個光學量測值為該複數個顯示子畫素的亮度值。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之光學補償裝置，其中該光學量測模組包含：一控制單元，用以提供一控制訊號；一光學感測單元，耦接該控制單元，用以根據該控制訊號對該顯示面板之該複數個顯示子畫素進行光學感測，以測得該複數個光學感測值；以及一資料擷取單元，耦接該光學感測單元，用以自該光學感測單元擷取該複數個光學感測值。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之光學補償裝置，其中該資料處理模組包含：一資料分析單元，耦接該光學量測模組，用以接收並分析該複數個光學感測值；一異常點判斷單元，耦接該資料分析單元，用以根據該複數個光學感測值判斷該複數個顯示子畫素是否出現異常；一資料運算單元，耦接該異常點判斷單元，若該異常點判斷單元之判斷結果為是，該資料運算單元根據該特定處理規則產生對應於出現異常的該至少一異常顯示子畫素的該至少一光學補償值。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之光學補償裝置，其中該光學補償模組與該顯示面板均耦接一顯示驅動裝置，該顯示驅動裝置分別接收該顯示資料及該至少一光學補償值並根據該至少一光學補償值對該顯示資料進行光學補償後輸出至該顯示面板。
  7. 如申請專利範圍第1項所述之光學補償裝置，其中當該複數個顯示子畫素中之一顯示子畫素的光學量測值係低於一門檻值時，該顯示子畫素被判定為該異常顯示子畫素。
  8. 一種光學補償裝置，應用於一顯示面板，該顯示面板包含複數個顯示子畫素，用以顯示一顯示資料，該光學補償裝置包含：一光學量測模組，用以量測對應於該顯示面板之該複數個顯示子畫素的複數個光學量測值；一資料處理模組，耦接該光學量測模組，用以根據該複數個光學量測值判斷該複數個顯示子畫素是否出現異常，若上述判斷結果為是，該資料處理模組根據一特定處理規則產生對應於該複數個顯示子畫素中出現異常的至少一異常顯示子畫素的至少一光學補償值；以及一光學補償模組，耦接該資料處理模組，用以輸出該至少一光學補償值，以對該顯示資料進行光學補償；其中該特定處理規則為該至少一異常顯示子畫素所對應的該顯示資料不予補償。
  9. 一種光學補償裝置，應用於一顯示面板，該顯示面板包含複數個顯示子畫素，用以顯示一顯示資料，該光學補償裝置包含：一光學量測模組，用以量測對應於該顯示面板之該複數個顯示子畫素的複數個光學量測值；一資料處理模組，耦接該光學量測模組，用以根據該複數個光學量測值判斷該複數個顯示子畫素是否出現異常，若上述判斷結果為是，該資料處理模組根據一特定處理規則產生對應於該複數個顯示子畫素中出現異常的至少一異常顯示子畫素的至少一光學補償值；以及一光學補償模組，耦接該資料處理模組，用以輸出該至少一光學補償值，以對該顯示資料進行光學補償；其中該特定處理規則為以該至少一異常顯示子畫素相鄰的顯示子畫素所對應的光學補償值來對該至少一異常顯示子畫素所對應的該顯示資料進行光學補償。
  10. 一種光學補償裝置運作方法，用以運作應用於一顯示面板之一光學補償裝置，該顯示面板包含複數個顯示子畫素，用以顯示一顯示資料，該光學補償裝置運作方法包含下列步驟：(a)量測對應於該顯示面板之該複數個顯示子畫素的複數個光學量測值；(b)根據該複數個光學量測值判斷該複數個顯示子畫素是否出現異常；以及(c)若步驟(b)之判斷結果為是，根據一特定處理規則產生對應於該複數個顯示子畫素中出現異常的至少一異常顯示子畫素的至少一光學補償值，以對該顯示資料進行光學補償；其中當該複數個顯示子畫素中之一顯示子畫素的光學量測值並未隨灰階值之增加而變大時，該顯示子畫素被判定為該異常顯示子畫素。
  11. 如申請專利範圍第10項所述之光學補償裝置運作方法，其中該顯示面板為有機發光二極體顯示面板。
  12. 如申請專利範圍第10項所述之光學補償裝置運作方法，其中該複數個光學量測值為該複數個顯示子畫素的亮度值。
  13. 如申請專利範圍第10項所述之光學補償裝置運作方法，其中當該複數個顯示子畫素中之一顯示子畫素的光學量測值係低於一門檻值時，該顯示子畫素被判定為該異常顯示子畫素。
  14. 一種光學補償裝置運作方法，用以運作應用於一顯示面板之一光學補償裝置，該顯示面板包含複數個顯示子畫素，用以顯示一顯示資料，該光學補償裝置運作方法包含下列步驟：(a)量測對應於該顯示面板之該複數個顯示子畫素的複數個光學量測值；(b)根據該複數個光學量測值判斷該複數個顯示子畫素是否出現異常；以及(c)若步驟(b)之判斷結果為是，根據一特定處理規則產生對應於該複數個顯示子畫素中出現異常的至少一異常顯示子畫素的至少一光學補償值，以對該顯示資料進行光學補償；其中該特定處理規則為該至少一異常顯示子畫素所對應的該顯示資料不予補償。
  15. 一種光學補償裝置運作方法，用以運作應用於一顯示面板之一光學補償裝置，該顯示面板包含複數個顯示子畫素，用以顯示一顯示資料，該光學補償裝置運作方法包含下列步驟：(a)量測對應於該顯示面板之該複數個顯示子畫素的複數個光學量測值；(b)根據該複數個光學量測值判斷該複數個顯示子畫素是否出現異常；以及(c)若步驟(b)之判斷結果為是，根據一特定處理規則產生對應於該複數個顯示子畫素中出現異常的至少一異常顯示子畫素的至少一光學補償值，以對該顯示資料進行光學補償；其中該特定處理規則為以該至少一異常顯示子畫素相鄰的顯示子畫素所對應的光學補償值來對該至少一異常顯示子畫素所對應的該顯示資料進行光學補償。
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