CN1996441A - 显示器多角度测量系统与方法 - Google Patents

Abstract

一种显示器多角度测量系统与方法，其多角度测量系统包括有一MURA(云纹)影像撷取单元、一MURA影像处理单元与一数据库单元，即利用一多角度取像机构针对显示器中MURA现象进行撷取，接着以一MURA影像处理程序进行MURA影像分析及辨认分类的处理，提供量化MURA的检测技术，之后建立品质互动处理分析数据库，以提供友善的接口以及互动查询的功能。本发明是应用斜角校正增加景深的光学结构及梯形失真修正程序还原影像，并同时利用「人眼视觉模型」建立将面板上云纹瑕疵量化，加上云纹的影像分析及辨认分类的处理程序，建立品质互动处理分析数据库，以提供一个可应用于生产线、客观且稳定的测量系统。

Description

显示器多角度测量系统与方法

技术领域

一种用于量化显示器面板上MURA现象的多角度测量系统与方法，特别是指通过一多角度取像机构进行所述面板多个视角上的影像拍摄，建立品质互动处理分析的数据库。

背景技术

随着平面显示器的普遍应用，如液晶显示器(LCD)大量使用在电视、计算机监视器、移动电话、各种家电上，液晶显示器面板的品质在大量生产下也越来越需要重视，如色彩、对比、反应时间、亮度等，而关于LCD背景均匀度则观察LCD亮度(luminance)异常而产生的云纹(MURA)状况，MURA是指显示器亮度不均匀造成各种痕迹的现象，可能于LCD贴附彩色滤片时造成的显示瑕疵，另外驱动芯片(Drive IC)、液晶本身都可能成为MURA的成因。

MURA最简单的判断方法就是在切换到黑色画面以及其它灰阶画面，然后从各种不同的角度仔细去看，随着各式各样的制作工艺瑕疵，液晶显示器就有各式各样的MURA，各样瑕疵如横向条纹或四十五度角条纹、方块、圆形块，也可能是某个角落出现一块，此类瑕疵低对比、不规则显示，故MURA的严重程度也是判断液晶显示器面板品质的重要参考。

然而已知技术中，针对MURA的判断是由专业人士直接观察液晶显示器画面的瑕疵，并以其主观意见判断面板瑕疵程度与面板品质，有下列缺点：

1.不易检测、取像。

2.不易对各种情况的MURA分类，且各家厂商定义不一致，而欠缺指标。

3.并无描述MURA严重程度的标准，或是太过粗糙。

然而，国际组织VESA(Video Electronics Standards Association)也针对各类型MURA作了定义(VESA FPDM2 303-8)，但也仅限于简单的定义，并无定义其严重程度与其判断的解决方案。

而已知相关的技术中有部分提出MURA的侦测装置与方法，其中US6,154,561案中定义了MURA类别，如图1A所示一包括有瑕疵的平面显示器10的线条型MURA，其为与邻近相异且不正常的像素(pixel)，产生如直线、曲线c、L型线条a、垂直线条b、细线条e、粗线条f等MURA。又如图1B所示区块型MURA，包括暗点区块i、亮点区块g等MURA，还有面板边界产生的边缘区块h与边缘亮点区块j等MURA。

而如美国专利US5,917,935案则通过设定一门槛值，将MURA瑕疵与背景值作一比较，因而得出MURA瑕疵的程度，作成统计表格，并通过图2所示流程与此统计表格来分类与定义各种不同的MURA瑕疵状态。步骤包括：由显示面板取样一原始画面(步骤201)；由此原始画面产生多个子样本画面(步骤202)；依不同需求过滤每一子样本画面，如依据画面的各样特性图(histogram)作特定的特征过滤(步骤203)；再对每一画面设定一门槛值，藉以产生特征区块(Blob)(步骤204)；并由特征区块的分析，判断该原始画面的MURA瑕疵(步骤205)；并特征化(characterize)其MURA瑕疵(步骤206)；之后，执行最后调整动作，通过消除错误侦测来决定某MURA类别(步骤207)。

已知技术即主要通过上述专利的步骤仅将各种MURA分类，如线条MURA(Line Mura)、斑点MURA(Spot Mura)、填充MURA(Fill Port Mura)、边缘MURA(Panel Edge Mura)、区块MURA(Block Mura)等，然而其并没有针对各样图像(pattern)判断显示面板的品质。

而SEMI国际标准也发表了一种平面显示屏幕画质MURA检查的计量定义(SEMI D31-1102)。但以上针对Mura定义或是分析都限于显示器的面积、对比、背景亮度来考虑，过于简单而不能完整呈现平面显示器的瑕疵。

上述已知技术有下列缺点：

1.采用人工检测，故可信赖度不高，时有争议。

2.仅得到MURA物理上的描述或分类，并无考虑人本身的感知，模型太简单。

3.仅针对MURA的严重性加以描述与分类，并无对显示器品质作判断。

4.多数自动检测技术仰赖分段(segmentation)检测，即针对各种不同MURA的图像检测，有太多参数无法决定，若一旦有新的MURA，则需要新的算法。

而人工检测最大的问题在于人力会有疲劳与个人心情好坏等变量，造成检测错误或遗漏现象，故对于检验品质的一致性与稳定性，影响很大，因此急需发展可以量化的检测技术，以减少误判与争议。

发明内容

已知对于云纹(MURA)现象仅限于辨识与定义各种形态，而利用影像感测装置(Image sensing device)取像检测MURA则已有多个已知系统推出，但仍缺乏相关的人因视觉数据库与MURA现象多样性与变化性的判断，由于技术仍未成熟，难以实用，品质管制的一致性及量化有困难。为了解决已知技术使用人工检测产生不够客观与没有一致的判断法则，本发明即利用一多角度取像机构针对云纹现象进行撷取，再以一MURA影像分析及MURA辨认分类的处理程序结合，提供量化MURA的检测技术，再建立品质互动处理分析数据库提供友善的接口，以及互动查询的功能。

本发明所提供的多角度测量系统包括有一MURA影像撷取单元，以利用一多角度取像机构进行撷取显示器面板的影像，并有一MURA影像处理单元，藉以接收显示器面板的影像，进行影像分析、辨认与分类的处理，再有一数据库单元，是将影像处理后的资料建立一互动处理分析数据库，并提供接口以及互动查询的功能。

而其中多角度取像机构包括有多个影像感测装置，较佳实施例是以CCD(电荷耦合元件)或是CMOS(互补金属氧化物半导体)等感光元件实施该影像感测装置，以由多个视角进行所述显示器面板的拍摄，其中较佳实施例包括有一设置于显示面板正面视角上的中央影像感测装置；有一设置于显示器面板垂直视角上方的上影像感测装置；有一设置于显示器面板垂直视角下方的下影像感测装置；有一设置于显示器面板水平视角左方的左影像感测装置，与一设置于显示器面板水平视角右方的右影像感测装置等。而各影像感测装置(除中央影像感测装置以外)都包括一斜角座连接一镜头与一CCD或CMOS实施的感光元件，使该镜头的主平面与该感光元件表面相互偏斜一角度。

多角度取像机构的另一实施例为一架设于轨道框架上的影像感测装置，该影像感测装置藉轨道框架中所设置的滑轨进行多个方向的移动，以多个视角拍摄所述显示器面板，并且该影像感测装置所包括的镜头的主平面与感光元件表面随着移动位置而改变相互偏斜的角度。

本发明所提供的多角度测量方法的步骤为先以一多角度取像机构进行撷取面板上多个视角上的影像，之后引入一人因视觉模型，并产生一恰辨差值，其中恰辨差值的产生是运用人因工程的方法，对该MURA作定性与定量分析，建立人眼视觉对所述显示器面板检测程度的数据库。接着判断该显示器面板的MURA形态，并标记该MURA。最后产生量化该MURA形态的结果，并储存该量化结果至一数据库。

上述判断MURA形态是判断斑点(Point)、线条(Line)、V形条纹(V-Band)、刷痕(Rubbing)、漏光(Light Leak)等MURA形态。而该恰辨差值的产生是运用一人因工程的方法，对该MURA作定性与定量分析，建立人眼视觉对该显示器面板检测程度的数据库。

本发明是应用斜角校正增加景深的光学结构及梯形失真修正程序还原影像，并同时利用「人眼视觉模型」建立将面板上云纹瑕疵量化，加上云纹的影像分析及辨认分类的处理程序，建立品质互动处理分析数据库，以提供一个可应用于生产线、客观且稳定的测量系统。

附图说明

图1A与图1B为已知技术MURA侦测方法中MURA的类别示意图；

图2为已知技术MURA的侦测方法流程图；

图3A为本发明多角度取像机构第一实施例示意图；

图3B为本发明多角度取像机构第二实施例示意图；

图4A为影像感测装置与面板间倾斜角度示意图；

图4B为本发明影像感测装置内部感光元件角度校正示意图；

图5所示为本发明梯形修正的流程；

图6所示为本发明MURA影像处理的软件流程；

图7所示为本发明恰辨差的计算流程；

图8所示为本发明互动处理分析数据库的架构示意图；以及

图9为本发明MURA检测软件运作步骤流程。

主要组件符号说明：

a：L形线条            b：垂直线条

c：曲线               e：细线条

f：粗线条             h：边缘区块

g：亮点区块           i：暗点区块

j：边缘亮点区块

10：平面显示器        30：面板

31：中央影像感测装置  32：上影像感测装置

33：下影像感测装置    34：左影像感测装置

35：右影像感测装置    36：影像感测装置

39：轨道框架    36’，36”：影像感测装置位置

41：镜头        43：影像感光元件

45：镜头光圈    47：斜角座

具体实施方式

云纹(Mura)现象是多样性与变化性，并非单一视角就能全部检出，本发明就是运用一个或多个高分辨率电荷耦合元件摄影机(CCD Camera)或是互补金属氧化物半导体(CMOS)分别由多个不同角度进行显示器面板的取像检测，其多角度测量系统包括(1)MURA影像撷取单元，即利用一多角度取像机构针对云纹现象进行撷取；(2)MURA影像处理单元，是以一MURA影像处理程序进行MURA影像分析及MURA辨认分类的处理，提供量化MURA的检测技术；(3)数据库单元，是建立品质互动处理分析数据库，以提供友善的接口以及互动查询的功能。

因MURA现象是多样性与变化性，并非单一视角就能全部检出，故本发明的MURA影像撷取单元的主要组件包括一多角度取像机构，藉以撷取面板不同视角的影像，除正面视角外，可包括垂直翻转各25度角或其它适当角度，可包括水平翻转各45度角或其它适当角度检视。

本发明的较佳实施例如图3A所示的多角度取像机构示意图，其是运用五个影像感测装置(31，32，33，34，35)进行拍摄一物体，其中较佳实施例是以CCD或CMOS等感光元件实施该影像感测装置，如本发明中藉以取像检测MURA现象，该机构包括一相对于面板30或该物体正面视角上的中央影像感测装置31、一设置于显示器面板或该物体垂直视角上方的上影像感测装置32、一设置于显示器面板或该物体垂直视角下方的下影像感测装置33、一设置于显示器面板或该物体水平视角上左方的左影像感测装置34以及一设置于显示器面板或该物体水平视角上右方的右影像感测装置35。藉图3A所示的多影像感测装置的多角度测量系统，可以撷取该面板30或该物体多个视角的图像，以更精细的判断标准产生MURA的形态，在实际实施时是以两个以上的影像感测装置摄取不同角度的影像为主要发明，并不限于此实施例所示的五部影像感测装置。

为达成本发明多角度测量系统的取像目的，图3B显示另一较佳实施例，是将一影像感测装置36架设于一轨道框架39上，该影像感测装置36可藉轨道框架39中所设置的滑轨进行水平、垂直或其它方向的移动，如图所示，设置于左方的影像感测装置36则拍摄面板30左方视角的影像；可利用轨道框架39移动至下方影像感测装置位置36’，则拍摄面板30下方视角的影像；或是移动至右方影像感测装置位置36”，藉以拍摄面板30右方视角的影像；或是其它位于轨道框架39上的任一位置，藉以拍摄面板30特定需求的视角上的影像。如此，即可仅使用一部或再增加一部设置于中央的影像感测装置(并未显示于图式中)达到多角度拍摄面板30的目的。其中各影像感测装置的镜头主平面与感光元件表面随着移动位置而改变相互偏斜的角度，藉以修正拍摄景深。

上述多角度取像机构中，位于垂直视角与水平视角(或其它视角)上的影像感测装置则需要克服倾斜角取像景深造成测量误差的问题，如由不同视角取像会产生倾斜角度取像景深不足，因在某一角度的影像感测装置所照射的范围因有个倾斜角度导致影像局部失焦、模糊或面板影像亮度改变，如图4A所示，该影像感测装置照射至面板时产生。

本发明即利用倾斜角度取像的光学机构解决倾斜角度造成的误差，举例来说，如图4A所示的实施例，右影像感测装置35由面板30右方拍摄，而拍摄所涵盖范围的两端(端点a与端点b)会有不同程度的成像状态。本发明是经由光学设计一斜角座，分别可连接镜头与影像感测装置，以此光学机构改变影像感光元件的表面与成像面角度，来修正并解决倾斜角取像景深不足问题，使斜角取像影像清晰，如图4B所示的影像感测装置内部感光元件角度校正示意图，以光学设计使右影像感测装置35的镜头41主平面耦接一斜角座(Oblique optic structure)47，使通过镜头41的光线与影像感光元件43表面相互偏斜一角度，以此可延长景深，使其能达到一致清晰度取像的目的。

较佳实施例如图标中由面板30的拍摄范围两端a，b通过镜头41，聚焦于镜头光圈45，经过斜角座47再投射至影像感光元件43。为使由面板30上所撷取的每一点都有一致清晰度(景深相同)，故影像感光元件43与镜头41倾斜一适当角度，使影像取像时，面板30上各点有相同的景深。因此，在各种相对面板30的各种视角的拍摄都需要相对应具有影像感光元件43能倾斜某一角度能力的影像感测装置。

特别的是，如图4B所示的结构示意图，因为影像拍摄需经由该镜头光圈45或其它光学机构成像于影像感光元件43上，故该影像感光元件43需依照实际形态进行角度倾斜，使面板30上各点都能在成像于影像感光元件43时有相同的景深。

本发明的MURA影像处理单元还使用MURA影像处理程序结合可以量化的检测技术，其中如MURA影像分析(image analysis)及MURA辨认分类(identification & classification)的处理程序结合人因工程的方法，对MURA作定性(qualitative analysis)、定量分析(quantitative analysis)与实验，建立人眼视觉对显示器面板检测程度的数据库，以此数据库作为品管作业标准制定的依据，并期望进而品质管制的一致性及量化。其MURA影像处理单元主要包括：

(1)倾斜角度取像的梯形失真修正程序，其目的是使对应倾斜影像的MURA在面板上的正确位置及方便影像处理程序运作。

(2)MURA影像分析及辨认分类的处理程序，可检出MURA瑕疵的形态，包括斑点(Point)、线条(Line)、V形条纹(V-Band)、刷痕(Rubbing)、漏光(Light Leak)等，然而并不限于此述的形态。

(3)MURA影像处理程序结合可以量化的检测技术互动处理分析量化的人因视觉模型(Vision Model)数据库。即运用人因工程的方法，对MURA作定性、定量分析，建立人眼视觉对显示器面板检测程度的数据库，以此数据库作为品管作业标准制定的依据，并期望进而品质管制的一致性及量化。其技术目标是提供一个可应用于生产线、客观且稳定的方法，将MURA瑕疵量化，并结合取像系统所取得的面板影像，利用人眼视觉模型计算出整个面板的MURA瑕疵的心理强度，其以恰辨差值(Just Noticeable Difference，JND)表示。

(4)互动处理分析数据库，即互动处理分析数据库建立一MURA品质互动处理分析数据库，提供友善的接口，以及互动查询的功能。

上述中梯形修正所使用的手段如图5所示，包括先定义出梯形影像中的坐标(步骤S501)，是由上述多角度测量装置取像后，由软件撷取其中影像各像素位置，并定义坐标位置；之后进行坐标转换(步骤S503)，即由软件将CCD或CMOS实施的感光元件所撷取的像素位置转换为各种坐标数值；接着，进行像素与坐标对应计算(步骤S505)，即可判断梯形失真的状况，最后即利用内插法(Interpolation)进行梯形修正(步骤S507)，校正因为倾斜角度拍摄造成影像失真的问题。

图6所示为本发明MURA影像处理的主要软件流程，是藉此量化的检测技术互动处理分析，产生量化的人因视觉数据库。开始时，在利用上述多角度取像机构进行待测面板拍摄后取像(步骤S601)，取像后进行分析前的前置处理(preprocessing)(步骤S603)，其中包括由后端计算机系统进行记录由各影像感测装置所拍摄的影像像素信息，如像素坐标、亮度、拍摄面积等信息，也包括上述梯形修正步骤。

接着进行MURA影像分析，由本发明所提供的软件方法进行各种形态的MURA分析，由分析结果判断该面板中MURA形态，如斑点(Point)、线条(Line)、V形条纹(V-Band)、刷痕(Rubbing)、漏光(Light Leak)等(步骤S605)。此流程可针对一个或多个形态或种类的MURA进行辨识、分析与量化，如若要处理面板中的斑点MURA，则经斑点MURA的演算分析，得出其中的斑点MURA，并予以标记(Labeling)，即标记斑点MURA的坐标、亮度、面积等影像信息(步骤S607)。

由上述分析结果进行量化(步骤S609)，如计算MURA的对比值，并可加入人因参数修正，如恰辨差值(JND value)，产生量化的人因视觉数据库，以实际数据给予客观的MURA判断，再将此数据产生报表或储存于数据库(步骤S611)。其它各种形态的MURA也需经上述辨识、分析等步骤进行量化与产生本发明导入人因视觉参数的互动处理分析数据库。

上述恰辨差值的计算如图7所示的流程。

先引入一参考影像(步骤S701)，并引入经上述分析流程产生的MURA影像(步骤S703)。之后将参考影像与MURA影像进行影像对比比较(步骤S705)，与对比敏感度过滤运算(Contrast Sensitivity Filter，CSF)(步骤S707)，藉以计算人眼视觉差异(步骤S709)，之后计算影像中各像素的差异的平均值，其中较佳实施例是以明可士基合并(Minkowski pooling)平均值方法计算(步骤S7111)，并以此计算恰辨差(JND)(步骤S713)。

上述互动处理分析数据库的运作请参阅图8所示的数据库架构图。为建立一MURA品质互动处理分析数据库，此数据库需包含资料建立的模式与资料显示的模式，如图所示，此互动数据库80包括有资料更新模块81与资料显示模式83，在资料利用前，需建立此数据库，包括资料新增811、资料修改813与资料删除815等功能，建立一个MURA分析与辨识的数据库，便于之后的MURA判断，包括在资料显示模式下引入面板规格(831)，进行MURA辨识，并产生MURA辨识结果(833)与将辨识后的结果以报表显示(835)，藉以提供量化MURA的检测技术，以建立品质互动处理分析数据库提供友善的接口，以及互动查询的功能。

本发明为一种多角度自动化取像装置，其包含以多个影像感测装置(CCD或CMOS等感光元件)于多个不同视角取像，并包括产生影像感光元件的倾斜角度以于取像时能校正景深的光学结构；有一核心MURA检测软件，其中MURA影像处理程序包括倾斜角度取像的梯形失真修正程序、MURA影像分析及MURA辨认分类的处理程序、符合人因视觉判定并给予数学量化的视觉模型，并搭配检测数据互动处理数据库等，结合上述取像装置达成本发明的目的。

图9显示的流程为本发明MURA检测软件运作步骤，其中包括MURA影像撷取步骤(MURA影像撷取单元)、MURA影像处理步骤(MURA影像处理单元)与互动处理分析数据库(数据库单元)查询等三个部分。

开始时，需将本发明所提供的多角度测量系统相关装置设置完毕，如备置一待测面板、备置多角度取像机构与完成数据库连结等工作。

接着，由多角度取像机构进行多个视角上的面板影像撷取(步骤S901)，面板影像撷取步骤的较佳实施例是运用图3A所示的五个影像感测装置(31，32，33，34，35)取像MURA，如图标相对于面板的五个视角上的影像感测装置，另一实施例则运用图3B以一部架设于轨道框架上的影像感测装置进行各视角方向的拍摄。撷取到多个视角上的影像之后，一方面引入人因视觉模型(Vision model)(步骤S903)，而产生JND值(步骤S905)；另一方面，因为数据库包括MURA量化的互动处理分析数据库，并且提供接口与互动查询的功能，故可藉数据库接口对比所撷取的面板影像与数据库中资料，以判断面板上影像多样性的MURA形态(步骤S907)，并于判断出某一特定MURA之后，进行标记(labeling)该MURA的步骤(步骤S909)。此述的特定MURA是藉重复判断步骤来同时或分别判断斑点(Point)、线条(Line)、V形条纹(V-Band)、刷痕(Rubbing)、漏光(Light Leak)等MURA形态，且并不限于在此举例的形态。

在上述产生JND值与判断MURA形态与标记之后，人因视觉模型即运用人因工程的方法，对MURA作定性、定量分析与实验，建立人眼视觉对显示器面板检测程度的数据库，产生量化结果(步骤S911)，其中的一MURA影像处理程序结合可以量化的检测技术互动处理分析量化的人因视觉模型资料，以建立品质互动处理分析数据库，以提供友善的接口以及互动查询的功能(步骤S913)。最后，以此作为品管作业标准制定的依据，达到一致性及量化的MURA测量目的。

上述所附图式仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。

综上所述，本发明是应用斜角校正增加景深的光学结构及梯形失真修正程序还原影像，并同时利用「人眼视觉模型」建立将面板上云纹瑕疵量化，加上云纹的影像分析及辨认分类的处理程序，建立品质互动处理分析数据库，以提供一个可应用于生产线、客观且稳定的测量系统。

以上所述仅为本发明的较佳可行实施例，非因此即拘限本发明的专利范围，故凡运用本发明说明书及图标内容所做的等效结构变化，均同理包含于本发明的范围内。

Claims (49)

1.一种显示器多角度测量系统，其特征在于该系统包括有：

一云纹影像撷取单元，利用一多角度取像机构进行撷取一显示器面板的影像；

一云纹影像处理单元，接收所述显示器面板的影像，进行影像分析、辨认与分类的处理；

一数据库单元，将影像处理后的资料建立一互动处理分析数据库，并提供接口以及互动查询的功能。

2.如权利要求1所述的显示器多角度测量系统，其特征在于所述的多角度取像机构包括有多个影像感测装置，藉以由多个视角进行所述显示器面板的拍摄。

3.如权利要求2所述的显示器多角度测量系统，其特征在于所述的多个影像感测装置包括有：

一中央影像感测装置，设置于所述显示面板正面视角上；

一上影像感测装置，设置于所述显示器面板垂直视角上的上方；

一下影像感测装置，设置于所述显示器面板垂直视角上的下方；

一左影像感测装置，设置于所述显示器面板水平视角上的左方；以及

一右影像感测装置，设置于所述显示器面板水平视角上的右方。

4.如权利要求2所述的显示器多角度测量系统，其特征在于所述的上影像感测装置、下影像感测装置、左影像感测装置与右影像感测装置都分别包括一镜头与一影像感光元件，其中所述镜头的主平面与所述感光元件表面相互偏斜一角度。

5.如权利要求4所述的显示器多角度测量系统，其特征在于藉一斜角座使所述镜头的主平面与所述感光元件表面呈所述角度的偏斜。

6.如权利要求4所述的显示器多角度测量系统，其特征在于所述的影像感测装置是以一电荷耦合感光元件实施。

7.如权利要求4所述的显示器多角度测量系统，其特征在于所述的影像感测装置是以一互补金属氧化物半导体感光元件实施。

8.如权利要求1所述的显示器多角度测量系统，其特征在于所述的多角度取像机构包括一架设于一轨道框架上的影像感测装置，该影像感测装置藉轨道框架中所设置的滑轨进行多个方向的移动，以多个视角拍摄所述显示器面板。

9.如权利要求8所述的显示器多角度测量系统，其特征在于所述的影像感测装置包括一镜头与一影像感光元件，其中所述镜头的主平面与所述感光元件表面随着移动位置而改变相互偏斜的角度。

10.如权利要求9所述的显示器多角度测量系统，其特征在于藉一斜角座使所述镜头的主平面与所述感光元件表面呈所述角度的偏斜。

11.如权利要求9所述的显示器多角度测量系统，其特征在于所述的影像感测装置是以一电荷耦合感光元件实施。

12.如权利要求9所述的显示器多角度测量系统，其特征在于所述的影像感测装置是以一互补金属氧化物半导体感光元件实施。

13.如权利要求1所述的显示器多角度测量系统，其特征在于所述的云纹影像处理单元包括：

一梯形失真修正程序，将所述以倾斜视角取像后的显示器面板影像进行梯形失真修正；

一云纹影像分析及辨认分类的处理程序，藉以检测出多个云纹瑕疵的形态，包括斑点、线条、V形条纹、刷痕、漏光形态；

一云纹影像处理程序，结合一可以量化的人因视觉模型数据库，对所述检测出的云纹作定性、定量分析，建立人眼视觉对该显示器面板检测程度的数据库；

一互动处理分析数据库，即为所述云纹的品质互动处理分析数据库，包括一接口以及互动查询的功能。

14.如权利要求13所述的显示器多角度测量系统，其特征在于所述的梯形失真修正程序的手段包括：

一定义影像坐标手段，以定义所述梯形影像的坐标；

一坐标转换手段，以转换所述影像像素位置为坐标值；

一坐标对应计算手段，藉以对应所述坐标与所述像素；以及

一内插手段，以校正所述失真影像。

15.如权利要求13所述的显示器多角度测量系统，其特征在于所述的云纹影像分析及辨认分类的处理程序的手段包括：

一云纹形态分析手段，以分析所摄取的云纹形态；

一云纹标记手段，以标记所述云纹影像的影像信息；

一云纹量化手段，以产生所述云纹影像的量化值；以及

一数据库储存手段，将该量化值储存至一人因视觉数据库。

16.如权利要求15所述的显示器多角度测量系统，其特征在于所述的云纹标记手段包括标记多个云纹的坐标、亮度与面积。

17.如权利要求15所述的显示器多角度测量系统，其特征在于所述的云纹量化手段包括整合所述云纹的对比值与人因参数产生所述人因视觉数据库。

18.如权利要求13所述的显示器多角度测量系统，其特征在于所述的人因视觉模型是以一恰辨差值表示。

19.如权利要求18所述的显示器多角度测量系统，其特征在于所述的恰辨差值的计算手段包括：

一参考影像引入手段，引入一参考影像；

一云纹影像引入手段，引入所述云纹影像；

一影像对比比较手段，比对所述参考影像与所述云纹影像；

一对比敏感度过滤运算，将所述参考影像与所述云纹影像进行一对比敏感度过滤运算；

一人眼视觉差异计算手段，藉所述影像对比比较手段与所述对比敏感度过滤运算计算出人眼视觉差异；

一平均值计算手段，计算所述影像中各像素的差异的一平均值；以及

一恰辨差计算手段，藉所述平均值计算一恰辨差。

20.如权利要求19所述的显示器多角度测量系统，其特征在于所述的平均值计算手段是使用一明可士基合并平均值方法。

21.如权利要求13所述的显示器多角度测量系统，其特征在于所述的互动处理分析数据库包括：

一资料更新模块，其中包括一资料新增手段、一资料修改手段与一资料删除手段；以及

一资料显示模式，其中包括一面板引入手段、一云纹辨识手段与一结果报告手段。

22.一种显示器多角度测量方法，其特征在于该测量方法是用于一显示器面板上云纹现象的测量与量化，包括有：

撷取所述显示器面板影像，是以一多角度取像机构进行撷取所述面板上多个视角上的影像；

引入一人因视觉模型；

产生一恰辨差值；

判断所述显示器面板的云纹形态；

标记所述云纹；

量化所述云纹形态；以及

储存所述量化结果至一数据库。

23.如权利要求22所述的显示器多角度测量方法，其特征在于所述的撷取所述显示器面板影像的步骤是以一多角度取像机构以所述显示器面板的不同视角进行拍摄而成。

24.如权利要求22所述的显示器多角度测量方法，其特征在于所述的撷取所述显示器面板影像的步骤是以多个影像感测装置由多个视角拍摄所述显示器面板。

25.如权利要求22所述的显示器多角度测量方法，其特征在于所述的撷取所述显示器面板影像的步骤是以一设置于所述显示面板正面视角上的中央影像感测装置、一设置于所述显示器面板垂直视角上方的上影像感测装置、一设置于所述显示器面板垂直视角下方的下影像感测装置、一设置于所述显示器面板水平视角左方的左影像感测装置与一设置于所述显示器面板水平视角右方的右影像感测装置进行拍摄所述显示器面板。

26.如权利要求25所述的显示器多角度测量方法，其特征在于所述的上影像感测装置、下影像感测装置、左影像感测装置与右影像感测装置都分别包括一镜头与一影像感光元件，并使其中所述镜头的主平面与所述感光元件表面相互偏斜一角度进行拍摄。

27.如权利要求26所述的显示器多角度测量方法，其特征在于藉一斜角座使所述镜头的主平面与所述感光元件表面呈所述角度的偏斜。

28.如权利要求26所述的显示器多角度测量方法，其特征在于所述的影像感测装置是以一电荷耦合感光元件实施。

29.如权利要求26所述的显示器多角度测量方法，其特征在于所述的影像感测装置是以一互补金属氧化物半导体感光元件实施。

30.如权利要求22所述的显示器多角度测量方法，其特征在于所述的撷取所述显示器面板影像的步骤是由一架设于一轨道框架上的影像感测装置藉其中滑轨进行多个方向的移动，以进行由多个视角拍摄所述显示器面板。

31.如权利要求30所述的显示器多角度测量方法，其特征在于所述的影像感测装置包括一镜头与一影像感光元件，并使所述镜头的主平面与所述感光元件表面随着移动位置而改变相互偏斜的角度进行拍摄。

32.如权利要求31所述的显示器多角度测量方法，其特征在于藉一斜角座使所述镜头的主平面与所述感光元件表面呈所述角度的偏斜。

33.如权利要求31所述的显示器多角度测量方法，其特征在于所述的影像感测装置是以一电荷耦合感光元件实施。

34.如权利要求31所述的显示器多角度测量方法，其特征在于所述的影像感测装置是以一互补金属氧化物半导体感光元件实施。

35.如权利要求22所述的显示器多角度测量方法，其特征在于所述的判断云纹形态是判断斑点、线条、V形条纹、刷痕、漏光云纹形态。

36.如权利要求22所述的显示器多角度测量方法，其特征在于所述的恰辨差值的产生是运用一人因工程的方法，对所述云纹作定性与定量分析，建立人眼视觉对所述显示器面板检测程度的数据库。

37.如权利要求22所述的显示器多角度测量方法，其特征在于所述的撷取所述显示器面板影像的步骤更包括一云纹影像处理步骤，该云纹影像处理步骤包括：

修正一梯形失真，是进行所述以倾斜视角取像的面板影像的梯形失真修正。

38.如权利要求37所述的显示器多角度测量方法，其特征在于所述的梯形失真修正步骤包括：

定义一影像坐标；

进行该影像坐标的转换；

计算该影像坐标手段；以及

进行该影像坐标的内插。

39.如权利要求22所述的显示器多角度测量方法，其特征在于所述的标记所述云纹的步骤包括标记多个云纹的坐标、亮度与面积。

40.如权利要求22所述的显示器多角度测量方法，其特征在于所述的恰辨差值的计算步骤包括：

引入一参考影像；

引入所述显示面板中云纹影像；

比较所述参考影像与所述显示面板的云纹影像的对比；

进行一对比敏感度过滤运算；

进行一人眼视觉差异计算；以及

计算一平均值以计算所述恰辨差。

41.如权利要求40所述的显示器多角度测量方法，其特征在于所述的平均值计算步骤是使用一明可士基合并平均值方法。

42.一种多角度取像机构，其特征在于该机构包括有：

一个或多个影像感测装置，藉以由多个视角进行拍摄一物体；

一镜头，设置于所述影像感测装置内；以及

一影像感光元件，设置于所述影像感测装置内；

其中所述镜头的主平面与所述感光元件表面相互偏斜一角度。

43.如权利要求42所述的多角度取像机构，其特征在于所述的多个影像感测装置包括：

一中央影像感测装置，设置于所述物体正面视角上；

一上影像感测装置，设置于所所述物体垂直视角上的上方；

一下影像感测装置，设置于所述物体垂直视角上的下方；

一左影像感测装置，设置于所述物体水平视角上的左方；以及

一右影像感测装置，设置于所述物体水平视角上的右方。

44.如权利要求43所述的多角度取像机构，其特征在于所述的上影像感测装置、下影像感测装置、左影像感测装置与右影像感测装置中的镜头的主平面与所述感光元件表面相互偏斜一角度。

45.如权利要求42所述的多角度取像机构，其特征在于所述的影像感测装置为一架设于一轨道框架上的影像感测装置，该影像感测装置藉轨道框架中所设置的滑轨进行多个方向的移动，以多个视角拍摄所述物体。

46.如权利要求45所述的多角度取像机构，其特征在于所述的影像感测装置的镜头的主平面与所述感光元件表面随着移动位置而改变相互偏斜的角度。

47.如权利要求46所述的多角度取像机构，其特征在于藉一斜角座使所述镜头的主平面与所述感光元件表面呈该角度的偏斜。

48.如权利要求46所述的多角度取像机构，其特征在于所述的影像感测装置是以一电荷耦合感光元件实施。

49.如权利要求46所述的多角度取像机构，其特征在于所述的影像感测装置是以一互补金属氧化物半导体感光元件实施。

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