KR20160061541A - 비전 검사 장치 및 이의 감마 및 얼룩 보정 방법 - Google Patents

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Abstract

비전 검사 장치는 표시 장치에 표시된 복수의 기준 계조들에 대응하는 복수의 기준 계조 영상들을 촬상하는 촬상부, 각 기준 계조에 대응하는 제1 휘도 프로파일을 생성하는 제1 휘도 프로파일 생성부, 상기 복수의 기준 계조들에 대응하는 복수의 제1 휘도 프로파일들을 이용하여 상기 표시 장치의 감마 보정값을 산출하는 감마 보정부, 상기 기준 계조의 상기 제1 휘도 프로파일에 상기 감마 보정값을 적용하여 상기 기준 계조의 제2 휘도 프로파일을 생성하는 제2 휘도 프로파일 생성부, 및 상기 제2 휘도 프로파일과 목표 휘도 프로파일을 이용하여 상기 기준 계조에 대응하는 복수의 얼룩 보정값들을 산출하는 얼룩 보정부를 포함한다. 이에 따르면, 표시 장치의 제조 공정에 의해 발생되는 감마 쉬프트를 보상하기 위한 감마 보정과 얼룩을 보상하기 위한 얼룩 보정을 한번 촬상된 복수의 기준 계조 영상들을 이용하여 동시에 진행할 수 있다. 이에 따라서, 상기 표시 장치의 감마 및 얼룩 보정 공정을 단순화할 수 있다.

Description

비전 검사 장치 및 이의 감마 및 얼룩 보정 방법{VISION INSPECTION APPARATUS AND METHOD OF COMPENSATING GAMMA AND MURA DEFECT THEREOF}
본 발명은 비전 검사 장치 및 이의 감마 및 얼룩 보정 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 감마 및 얼룩 보정 공정을 단순화하기 위한 비전 검사 장치 및 이의 감마 및 얼룩 보정 방법에 관한 것이다.
일반적으로 액정표시패널은 하부 기판, 상기 하부 기판과 마주하는 상부 기판, 및 상기 하부 기판과 상기 상부 기판과의 사이에 개재된 액정층으로 이루어진다. 상기 하부 기판은 화소 영역과 상기 화소 영역을 구동하기 위한 구동신호가 인가되는 주변 영역을 갖는다.
상기 화소 영역은 제1 방향으로 연장된 데이터 라인과 제2 방향으로 연장되어 상기 데이터 라인과 직교하는 게이트 라인, 및 상기 게이트 라인과 데이터 라인에 연결되는 화소 전극을 포함하며, 상기 주변 영역에는 데이터 신호를 제공하는 구동 칩이 실장되는 제1 구동 칩 패드와, 상기 게이트 신호를 제공하는 구동 칩이 실장되는 제2 구동 칩 패드를 포함한다.
상기 액정표시패널은 액정주입공정을 수행한 후, 전기적 및 광학적인 동작 상태를 검사하기 위한 비쥬얼 검사 공정을 수행한다. 상기 비쥬얼 검사 공정은 일반적으로 검사자의 육안으로 다양한 패턴 형태의 얼룩을 검사하고, 검사된 결과를 반영하여 얼룩을 보정한다. 이와 같이, 검사자의 수작업에 의해 얼룩을 검사하는 경우 검사 공정 시간의 지연에 따른 생산성 저하 및 불량 정보 편차에 따른 보정 편차 등의 문제점이 있다.
이에, 본 발명의 기술적 과제는 이러한 점에서 착안된 것으로, 본 발명의 목적은 감마 및 얼룩 보정을 동시에 진행하기 위한 비전 검사 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 상기 비전 검사 장치의 감마 및 얼룩 보정 방법을 제공하는 것이다.
상기한 본 발명의 목적을 실현하기 위한 일 실시예에 따른 비전 검사 장치는 표시 장치에 표시된 복수의 기준 계조들에 대응하는 복수의 기준 계조 영상들을 촬상하는 촬상부, 각 기준 계조에 대응하는 제1 휘도 프로파일을 생성하는 제1 휘도 프로파일 생성부, 상기 복수의 기준 계조들에 대응하는 복수의 제1 휘도 프로파일들을 이용하여 상기 표시 장치의 감마 보정값을 산출하는 감마 보정부, 상기 기준 계조의 상기 제1 휘도 프로파일에 상기 감마 보정값을 적용하여 상기 기준 계조의 제2 휘도 프로파일을 생성하는 제2 휘도 프로파일 생성부, 및 상기 제2 휘도 프로파일과 목표 휘도 프로파일을 이용하여 상기 기준 계조에 대응하는 복수의 얼룩 보정값들을 산출하는 얼룩 보정부를 포함한다.
일 실시예에서, 상기 감마 보정부는 상기 표시 장치의 중앙 영역에 대응하는 측정 감마 곡선을 생성하고, 상기 측정 감마 곡선과 목표 감마 곡선을 이용하여 상기 감마 보정값을 산출할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 기준 계조에 대응하는 상기 제1 휘도 프로파일은 상기 표시 장치의 수평 방향 및 수직 방향 중 적어도 한 방향의 제1 휘도 프로파일을 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 기준 계조에 대응하는 상기 제2 휘도 프로파일은 상기 표시 장치의 수평 방향 및 수직 방향 중 적어도 한 방향의 제2 휘도 프로파일을 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 얼룩 보정부는 상기 기준 계조에 대응하는 상기 수평 방향의 제2 휘도 프로파일과 수평 목표 휘도 프로파일을 이용하여, 복수의 수평 얼룩 보정값들을 생성할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 얼룩 보정부는 상기 기준 계조에 대응하는 상기 수직 방향의 제2 휘도 프로파일과 수직 목표 휘도 프로파일을 이용하여, 복수의 수직 얼룩 보정값들을 생성할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 기준 계조에 대응하는 복수의 얼룩 보정값들을 저장하는 저장부를 더 포함할 수 있다.
상기한 본 발명의 다른 목적을 실현하기 위한 일 실시예에 따른 감마 및 얼룩 보정 방법은 표시 장치에 표시된 복수의 기준 계조들에 대응하는 복수의 기준 계조 영상들을 촬상하는 단계, 각 기준 계조에 대응하는 제1 휘도 프로파일을 생성하는 단계, 상기 복수의 기준 계조들에 대응하는 복수의 제1 휘도 프로파일들을 이용하여 상기 표시 장치의 감마 보정값을 산출하는 단계, 상기 기준 계조의 상기 제1 휘도 프로파일에 상기 감마 보정값을 적용하여 상기 기준 계조의 제2 휘도 프로파일을 생성하는 단계, 및 상기 제2 휘도 프로파일과 목표 휘도 프로파일을 이용하여 상기 기준 계조에 대응하는 복수의 얼룩 보정값들을 산출하는 단계를 포함한다.
일 실시예에서, 상기 감마 보정값을 산출하는 단계는 상기 복수의 기준 계조들에 대응하는 상기 복수의 제1 휘도 프로파일들을 이용하여 상기 표시 장치의 중앙 영역에 대응하는 측정 감마 곡선을 생성하고, 상기 측정 감마 곡선과 목표 감마 곡선을 이용하여 상기 감마 보정값을 산출할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 기준 계조에 대응하는 상기 제1 휘도 프로파일은 상기 표시 장치의 수평 방향 및 수직 방향 중 적어도 한 방향의 제1 휘도 프로파일을 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 기준 계조에 대응하는 상기 제2 휘도 프로파일은 상기 표시 장치의 수평 방향 및 수직 방향 중 적어도 한 방향의 제2 휘도 프로파일을 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 얼룩 보정값을 산출하는 단계는 상기 기준 계조에 대응하는 상기 수평 방향의 제2 휘도 프로파일과 수평 목표 휘도 프로파일을 이용하여, 복수의 수평 얼룩 보정값들을 생성할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 얼룩 보정값을 산출하는 단계는 상기 기준 계조에 대응하는 상기 수직 방향의 제2 휘도 프로파일과 수직 목표 휘도 프로파일을 이용하여, 복수의 수직 얼룩 보정값들을 생성할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 방법은 상기 기준 계조에 대응하는 복수의 얼룩 보정값들을 저장하는 저장부에 저장하는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따르면, 표시 장치의 제조 공정에 의해 발생되는 감마 쉬프트를 보상하기 위한 감마 보정과 얼룩을 보상하기 위한 얼룩 보정을 한번 촬상된 복수의 기준 계조 영상들을 이용하여 동시에 진행할 수 있다. 이에 따라서, 상기 표시 장치의 감마 및 얼룩 보정 공정을 단순화할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 비전 검사 장치의 블록도이다.
도 2는 도 1의 제1 휘도 프로파일 생성부를 설명하기 위한 개념도이다.
도 3은 도 1의 제1 휘도 프로파일 생성부에서 생성된 복수의 제1 휘도 프로파일들을 설명하기 위한 개념도이다.
도 4는 도 1의 감마 보정부를 설명하기 위한 개념도이다.
도 5는 도 1의 제2 휘도 프로파일 생성부를 설명하기 위해 개념도이다.
도 6a 및 도 6b는 도 1의 얼룩 보정부를 설명하기 위한 개념도이다.
도 7은 도 1의 비전 검사 장치의 구동 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
이하, 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 보다 상세하게 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 비전 검사 장치의 블록도이다.
도 1을 참조하면, 상기 비전 검사 장치(200)는 표시 장치(100)의 감마 및 얼룩을 보상하기 위한 보정값을 산출한다. 상기 보정값은 표시 장치의 화소 데이터를 보정하기 위한 보정 데이터이다.
상기 비전 검사 장치(200)는 검사 제어부(210), 촬상부(220), 제1 휘도 프로파일 생성부(230), 감마 보정부(240), 제2 휘도 프로파일 생성부(250), 얼룩 보정부(260) 및 저장부(270)를 포함한다.
상기 검사 제어부(210)는 상기 비전 검사 장치(200)의 전반적인 구동을 제어한다. 예를 들면, 상기 검사 제어부(210)는 상기 표시 장치(100)에 전체 계조에 대해서 샘플링된 복수의 기준 계조들에 대응하는 복수의 기준 계조 영상들을 표시한다. 상기 복수의 기준 계조들은, 예를 들어, 총 255 계조들 중 샘플링된 0 계조, 16 계조, 24 계조, 32 계조, 64 계조, 96 계조, 128 계조, 192 계조 및 255 계조를 포함할 수 있다. 상기 기준 계조들은 다양하게 설정될 수 있다.
상기 촬상부(220)는 상기 표시 장치(100)에 표시된 상기 복수의 기준 계조 영상들을 취득한다. 상기 촬상부(220)는 CCD 카메라 또는 CMOS 카메라를 포함할 수 있다.
상기 제1 휘도 프로파일 생성부(230)는 상기 복수의 기준 계조 영상들을 분석하여 상기 복수의 기준 계조들에 대응하는 복수의 제1 휘도 프로파일들을 생성한다. 상기 제1 휘도 프로파일들은 상기 표시 장치(100)의 수평 방향 및 수직 방향 중 적어도 한 방향에 대해서 상기 복수의 기준 계조들에 대응하는 복수의 휘도 프로파일들을 포함할 수 있다. 예를 들면, 상기 표시 장치(100)의 세로줄 얼룩을 보정하기 위해서 상기 수평 방향의 휘도 프로파일은 생성할 수 있고, 상기 표시 장치(100)의 가로줄 얼룩을 보정하기 위해서 상기 수직 방향의 휘도 프로파일을 생성할 수 있다.
상기 감마 보정부(240)는 상기 기준 계조들에 대응하는 상기 복수의 제1 휘도 프로파일들을 이용하여 상기 표시 장치(100)의 특정 영역에 대응하는 측정 감마 곡선을 생성한다. 예를 들면, 상기 감마 보정부(240)는 상기 표시 장치(100)의 중앙 영역(CA)에 대응하는 측정 감마 곡선을 생성한다.
상기 감마 보정부(240)는 상기 측정 감마 곡선과 기설정된 목표 감마 곡선을 이용하여 상기 표시 장치(100)의 감마 보정값을 산출한다.
상기 제2 휘도 프로파일 생성부(250)는 상기 기준 계조들에 대응하는 상기 복수의 제1 휘도 프로파일들에 상기 감마 보정값을 각각 적용하여 복수의 제2 휘도 프로파일들을 생성한다. 따라서, 상기 복수의 제2 휘도 프로파일들은 감마가 보정된 상기 표시 장치(100)에 상기 복수의 기준 계조들을 표시하고 이로부터 획득된 상기 복수의 기준 계조 영상들에 각각 대응하는 복수의 휘도 프로파일들과 실질적으로 동일하다.
상기 제2 휘도 프로파일들은 상기 제1 휘도 프로파일 생성부(230)에서 생성된 상기 제1 휘도 프로파일들에 기초하여 상기 표시 장치(100)의 수평 방향 및 수직 방향 중 적어도 한 방향에 대해서 상기 복수의 기준 계조들에 대응하는 복수의 휘도 프로파일들을 포함할 수 있다.
상기 얼룩 보정부(260)는 상기 복수의 제2 휘도 프로파일들과 기설정된 복수의 목표 휘도 프로파일들을 이용하여 상기 복수의 기준 계조들 각각에 대응하는 복수의 얼룩 보정값들을 산출한다.
예를 들면, 상기 얼룩 보정부(260)는 세로줄 얼룩을 보상하기 위해서, 수평 방향의 제2 휘도 프로파일과 목표 휘도 프로파일을 이용하여 복수의 화소 열들에 각각 대응하는 복수의 수평 얼룩 보정값들을 산출한다. 상기 얼룩 보정부(260)는 가로줄 얼룩을 보상하기 위해서 수직 방향의 제2 휘도 프로파일과 목표 휘도 프로파일을 이용하여 복수의 화소 행들에 각각 대응하는 복수의 수직 얼룩 보정값들을 산출한다.
상기 저장부(270)는 상기 얼룩 보정부(260)에서 상기 복수의 기준 계조들 각각에 대응하는 상기 복수의 얼룩 보정값들이 저장된다.
도 2는 도 1의 제1 휘도 프로파일 생성부를 설명하기 위한 개념도이다. 도 3은 도 1의 제1 휘도 프로파일 생성부에서 생성된 복수의 제1 휘도 프로파일들을 설명하기 위한 개념도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 상기 제1 휘도 프로파일 생성부(220)는 상기 촬상부(210)로부터 촬상된 복수의 기준 계조 영상들에 대응하는 복수의 제1 휘도 프로파일들을 생성한다. 각 기준 계조 영상은 상기 표시 장치(100)에 대응하는 (N X M) 해상도를 가진다 (N 및 M은 자연수임).
예를 들면, 상기 제1 휘도 프로파일 생성부(220)는 기준 계조인 24 계조의 기준 계조 영상을 분석하여 상기 24 계조에 대응하는 수평 방향의 휘도 프로파일(HP_24G)을 생성하고, 수직 방향의 휘도 프로파일(VP_24G)을 생성한다. 상기 수평 방향의 휘도 프로파일(HP_24G)은 상기 표시 장치(100)의 복수의 화소 열들(N개의 화소 열들) 각각에 포함된 M개 화소들의 평균 휘도 레벨에 대한 프로파일이다. 상기 수직 방향의 휘도 프로파일(VP_24G)은 복수의 화소 행들(M개 화소 행들) 각각에 포함된 N개의 화소들의 평균 휘도 레벨에 대한 프로파일이다. 상기 수평 방향의 휘도 프로파일(HP_24G)은 24 계조 영상에 포함된 세로줄 얼룩을 보상하기 위해 사용되고, 상기 수직 방향의 휘도 프로파일(VP_24G)은 24 계조 영상에 포함된 가로줄 얼룩을 보상하기 위해 사용된다.
이와 같은 방식으로, 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 제1 휘도 프로파일 생성부(220)는 상기 복수의 기준 계조 영상들을 각각 분석하여, 복수의 기준 계조들에 대응하는 수평 방향에 대응하는 복수의 제1 휘도 프로파일들(HP_255G, .., HP_128G,.., HP_64G, HP_24G, HP_16G)을 생성한다. 도시되지 않았으나, 수직 방향에 대응하는 복수의 제1 휘도 프로파일들을 생성할 수 있다.
도 4는 도 1의 감마 보정부를 설명하기 위한 개념도이다.
도 1 및 도 4를 참조하면, 상기 감마 보정부(240)는 상기 복수의 기준 계조들에 대응하는 상기 복수의 제1 휘도 프로파일들을 이용하여 상기 표시 장치(100)의 중앙 영역(CA)에 대응하는 측정 감마 곡선(MEAS_GI)을 생성한다.
상기 측정 감마 곡선(MEAS_GI)은 상기 표시 장치(100)의 중앙 영역(CA)에 대응하는 상기 복수의 기준 계조들, 예컨대, 계조, 16 계조, 24 계조, 32 계조, 64 계조, 96 계조, 128 계조, 192 계조 및 255 계조의 상기 제1 휘도 프로파일들의 중앙 휘도 레벨들을 이용하여 생성되고, 상기 기준 계조들 이외의 나머지 계조들은 보간 알고리즘을 통해 생성될 수 있다.
상기 감마 보정부(240)는 상기 측정 감마 곡선(MEAS_GI)과 기설정된 목표 감마 곡선(TARG_GI)을 비교하여 상기 감마 보정값(△G)을 산출한다.
도 4에 도시된 바와 같이, 임의의 계조(GM)는 상기 측정 감마 곡선(MEAS_GI)에 따르면 제1 휘도 레벨(I1)을 갖고, 상기 목표 감마 곡선(TARG_GI)에 따르면 상기 제1 휘도 레벨(I1) 보다 휘도 차(△I)만큼 증가한 제2 휘도 레벨(I2)을 갖는다. 따라서, 상기 임의의 계조(GM)가 상기 목표 감마 곡선(TARG_GI)에 대응하는 상기 제2 휘도 레벨(I2)을 갖기 위해서 상기 임의의 계조(GM)는 감마 차(△G) 만큼 증가된 목표 계조(GT)로 보상된다.
이에 따라서, 상기 감마 보정부(240)는 상기 표시 장치(100)의 상기 감마 보정값을 상기 감마 차(△G)로 결정된다.
도 5는 도 1의 제2 휘도 프로파일 생성부를 설명하기 위해 개념도이다.
도 1 및 도 5를 참조하면, 상기 제2 휘도 프로파일 생성부(250)는 상기 제1 휘도 프로파일 생성부(230)에서 생성된 상기 제1 휘도 프로파일들에 상기 감마 보정부(240)에서 산출된 상기 감마 보정값(△G)을 가산하여 상기 복수의 제2 휘도 프로파일들을 생성한다. 따라서, 상기 복수의 제2 휘도 프로파일들은 감마가 보정된 상기 표시 장치(100)에 상기 복수의 기준 계조들을 표시하고 이로부터 획득된 상기 복수의 기준 계조 영상들에 각각 대응하는 복수의 휘도 프로파일들과 실질적으로 동일하다.
예를 들면, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 제2 휘도 프로파일 생성부(250)는 기준 계조인 24 계조의 상기 제1 휘도 프로파일(HP_24G)에 상기 감마 보정값(△G)을 가산하여 상기 24 계조에 대응하는 제2 휘도 프로파일(HP_24G_1)을 생성한다.
이와 같은 방식으로, 상기 제2 휘도 프로파일 생성부(250)는 상기 복수의 기준 계조들에 대응하는 복수의 제2 휘도 프로파일들을 생성한다. 도시되지 않았으나, 수직 방향에 대응하는 복수의 제1 휘도 프로파일들에 상기 감마 보정값(△G)을 각각 적용하여 수직 방향에 대응하는 복수의 제2 휘도 프로파일들을 생성할 수 있다.
본 실시예에 따르면, 상기 복수의 기준 계조들에 대응하는 상기 복수의 제2 휘도 프로파일들을 촬상부를 통해 획득된 복수의 기준 계조 영상들을 분석하여 산출된 상기 제1 휘도 프로파일들을 이용하여 생성할 수 있다. 종래의 얼룩 보정 공정과 비교하여, 감마 보상이 적용된 복수의 기준 계조 영상들을 상기 표시 장치에 재표시하고, 표시된 상기 기준 계조 영상들을 재촬상하는 공정을 생략할 수 있으므로 얼룩 보정 공정을 단순화할 수 있다.
도 6a 및 도 6b는 도 1의 얼룩 보정부를 설명하기 위한 개념도이다.
도 1 및 도 6a를 참조하면, 상기 얼룩 보정부(260)는 얼룩 보상을 위한 목표 휘도 프로파일을 생성한다. 상기 얼룩은 세로줄 얼룩과 가로줄 얼룩을 포함할 수 있다. 상기 목표 휘도 프로파일은 상기 복수의 기준 계조들에 대응하는 복수의 수평 목표 휘도 프로파일들과 복수의 수직 목표 휘도 프로파일들을 포함할 수 있다.
상기 얼룩 보정부(260)는 수평 방향의 상기 복수의 제2 휘도 프로파일들과 상기 수평 목표 휘도 프로파일들을 이용하여 상기 복수의 기준 계조들 각각에 대응하는 복수의 수평 얼룩 보정값들을 산출한다.
예를 들면, 도 6a에 도시된 바와 같이, 기준 계조, 24 계조의 제2 수평 휘도 프로파일(HP_24G_1)과 24 계조에 대응하는 수평 목표 휘도 프로파일(HP_24G_T)을 이용하여 수평 방향으로 배열된 복수의 화소 열들에 대응하는 복수의 수평 얼룩 보정값들을 산출한다. 이에 따라, 24 계조에 대응하는 복수의 수평 얼룩 보정값들이 산출된다.
이와 같은 방식으로, 상기 얼룩 보정부(260)는 상기 복수의 기준 계조들 각각에 대응하는 복수의 수평 얼룩 보정값들을 산출한다.
또한, 예를 들면, 도 6b에 도시된 바와 같이, 기준 계조, 24 계조의 제2 수직 휘도 프로파일(VP_24G_1)과 24 계조에 대응하는 수직 목표 휘도 프로파일(VP_24G_T)을 이용하여 수직 방향으로 배열된 복수의 화소 행들에 대응하는 복수의 수직 얼룩 보정값들을 산출한다. 이에 따라, 24 계조에 대응하는 복수의 수직 얼룩 보정값들이 산출된다.
이와 같은 방식으로, 상기 얼룩 보정부(260)는 상기 복수의 기준 계조들 각각에 대응하는 복수의 수직 얼룩 보정값들을 산출한다.
이상의 본 실시예에 따르면, 표시 장치의 제조 공정에 의해 발생되는 감마 쉬프트를 보상하기 위한 감마 보정과 얼룩을 보상하기 위한 얼룩 보정을 한번 촬상된 복수의 기준 계조 영상들을 이용하여 동시에 진행할 수 있다. 이에 따라서, 상기 표시 장치의 감마 및 얼룩 보정 공정을 단순화할 수 있다.
도 7은 도 1의 비전 검사 장치의 구동 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 1 및 도 7을 참조하면, 상기 검사 제어부(210)는 상기 표시 장치(100)에 전체 계조에 대해서 샘플링된 복수의 기준 계조들에 대응하는 복수의 기준 계조 영상들을 표시한다. 상기 복수의 기준 계조들은, 예를 들어, 총 255 계조들 중 샘플링된 0 계조, 16 계조, 24 계조, 32 계조, 64 계조, 96 계조, 128 계조, 192 계조 및 255 계조를 포함할 수 있다.
상기 촬상부(220)는 상기 표시 장치(100)에 표시된 상기 복수의 기준 계조 영상들을 각각 취득한다(단계 S110).
상기 제1 휘도 프로파일 생성부(230)는 상기 복수의 기준 계조 영상들을 분석하여 상기 복수의 기준 계조들에 대응하는 복수의 제1 휘도 프로파일들을 생성한다(단계 S120). 상기 제1 휘도 프로파일들은 상기 표시 장치(100)의 수평 방향 및 수직 방향 중 적어도 한 방향에 대해서 상기 복수의 기준 계조들에 대응하는 복수의 휘도 프로파일들을 포함할 수 있다.
상기 감마 보정부(240)는 상기 기준 계조들에 대응하는 상기 복수의 제1 휘도 프로파일들을 이용하여 상기 표시 장치(100)의 특정 영역, 예컨대, 중앙 영역(CA)에 대응하는 측정 감마 곡선을 생성한다. 상기 감마 보정부(240)는 상기 측정 감마 곡선과 기설정된 목표 감마 곡선을 이용하여 상기 표시 장치(100)의 감마 보정값을 산출한다(단계S130).
상기 제2 휘도 프로파일 생성부(250)는 상기 기준 계조들에 대응하는 상기 복수의 제1 휘도 프로파일들에 상기 감마 보정값을 각각 적용하여 복수의 제2 휘도 프로파일들을 생성한다(단계 S140). 따라서, 상기 복수의 제2 휘도 프로파일들은 감마가 보정된 상기 표시 장치(100)에 상기 복수의 기준 계조들을 표시하고 이로부터 획득된 상기 복수의 기준 계조 영상들에 각각 대응하는 복수의 휘도 프로파일들과 실질적으로 동일하다.
상기 얼룩 보정부(260)는 상기 복수의 제2 휘도 프로파일들과 기설정된 복수의 목표 휘도 프로파일들을 이용하여 상기 복수의 기준 계조들 각각에 대응하는 복수의 얼룩 보정값들을 산출한다(단계 S150).
상기 저장부(270)는 상기 얼룩 보정부(260)에서 상기 복수의 기준 계조들 각각에 대응하는 상기 복수의 얼룩 보정값들을 저장한다(단계 S160).
이상의 본 실시예들에 따르면, 표시 장치의 제조 공정에 의해 발생되는 감마 쉬프트를 보상하기 위한 감마 보정과 얼룩을 보상하기 위한 얼룩 보정을 한번 촬상된 복수의 기준 계조 영상들을 이용하여 동시에 진행할 수 있다. 이에 따라서, 상기 표시 장치의 감마 및 얼룩 보정 공정을 단순화할 수 있다.
이상 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
100 : 표시 장치 200 : 비전 검사 장치
210 : 검사 제어부 220 : 촬상부
230 : 제1 휘도 프로파일 생성부 240 : 감마 보정부
250 : 제2 휘도 프로파일 생성부 260 : 얼룩 보정부
270 : 저장부

Claims (14)

  1. 표시 장치에 표시된 복수의 기준 계조들에 대응하는 복수의 기준 계조 영상들을 촬상하는 촬상부;
    각 기준 계조에 대응하는 제1 휘도 프로파일을 생성하는 제1 휘도 프로파일 생성부;
    상기 복수의 기준 계조들에 대응하는 복수의 제1 휘도 프로파일들을 이용하여 상기 표시 장치의 감마 보정값을 산출하는 감마 보정부;
    상기 기준 계조의 상기 제1 휘도 프로파일에 상기 감마 보정값을 적용하여 상기 기준 계조의 제2 휘도 프로파일을 생성하는 제2 휘도 프로파일 생성부; 및
    상기 제2 휘도 프로파일과 목표 휘도 프로파일을 이용하여 상기 기준 계조에 대응하는 복수의 얼룩 보정값들을 산출하는 얼룩 보정부를 포함하는 비전 검사 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 감마 보정부는 상기 표시 장치의 중앙 영역에 대응하는 측정 감마 곡선을 생성하고, 상기 측정 감마 곡선과 목표 감마 곡선을 이용하여 상기 감마 보정값을 산출하는 것을 특징으로 하는 비전 검사 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 기준 계조에 대응하는 상기 제1 휘도 프로파일은
    상기 표시 장치의 수평 방향 및 수직 방향 중 적어도 한 방향의 제1 휘도 프로파일을 포함하는 것을 특징으로 하는 비전 검사 장치.
  4. 제3항에 있어서, 상기 기준 계조에 대응하는 상기 제2 휘도 프로파일은
    상기 표시 장치의 수평 방향 및 수직 방향 중 적어도 한 방향의 제2 휘도 프로파일을 포함하는 것을 특징으로 하는 비전 검사 장치.
  5. 제3항에 있어서, 상기 얼룩 보정부는
    상기 기준 계조에 대응하는 상기 수평 방향의 제2 휘도 프로파일과 수평 목표 휘도 프로파일을 이용하여, 복수의 수평 얼룩 보정값들을 생성하는 것을 특징으로 하는 비전 검사 장치.
  6. 제3항에 있어서, 상기 얼룩 보정부는
    상기 기준 계조에 대응하는 상기 수직 방향의 제2 휘도 프로파일과 수직 목표 휘도 프로파일을 이용하여, 복수의 수직 얼룩 보정값들을 생성하는 것을 특징으로 하는 비전 검사 장치.
  7. 제1항에 있어서, 상기 기준 계조에 대응하는 복수의 얼룩 보정값들을 저장하는 저장부를 더 포함하는 비전 검사 장치.
  8. 표시 장치에 표시된 복수의 기준 계조들에 대응하는 복수의 기준 계조 영상들을 촬상하는 단계;
    각 기준 계조에 대응하는 제1 휘도 프로파일을 생성하는 단계;
    상기 복수의 기준 계조들에 대응하는 복수의 제1 휘도 프로파일들을 이용하여 상기 표시 장치의 감마 보정값을 산출하는 단계;
    상기 기준 계조의 상기 제1 휘도 프로파일에 상기 감마 보정값을 적용하여 상기 기준 계조의 제2 휘도 프로파일을 생성하는 단계; 및
    상기 제2 휘도 프로파일과 목표 휘도 프로파일을 이용하여 상기 기준 계조에 대응하는 복수의 얼룩 보정값들을 산출하는 단계를 포함하는 감마 및 얼룩 보정 방법.
  9. 제8항에 있어서, 상기 감마 보정값을 산출하는 단계는
    상기 복수의 기준 계조들에 대응하는 상기 복수의 제1 휘도 프로파일들을 이용하여 상기 표시 장치의 중앙 영역에 대응하는 측정 감마 곡선을 생성하고,
    상기 측정 감마 곡선과 목표 감마 곡선을 이용하여 상기 감마 보정값을 산출하는 것을 특징으로 하는 감마 및 얼룩 보정 방법.
  10. 제8항에 있어서, 상기 기준 계조에 대응하는 상기 제1 휘도 프로파일은
    상기 표시 장치의 수평 방향 및 수직 방향 중 적어도 한 방향의 제1 휘도 프로파일을 포함하는 것을 특징으로 하는 감마 및 얼룩 보정 방법.
  11. 제10항에 있어서, 상기 기준 계조에 대응하는 상기 제2 휘도 프로파일은
    상기 표시 장치의 수평 방향 및 수직 방향 중 적어도 한 방향의 제2 휘도 프로파일을 포함하는 것을 특징으로 하는 감마 및 얼룩 보정 방법.
  12. 제10항에 있어서, 상기 얼룩 보정값을 산출하는 단계는
    상기 기준 계조에 대응하는 상기 수평 방향의 제2 휘도 프로파일과 수평 목표 휘도 프로파일을 이용하여, 복수의 수평 얼룩 보정값들을 생성하는 것을 특징으로 하는 감마 및 얼룩 보정 방법.
  13. 제10항에 있어서, 상기 얼룩 보정값을 산출하는 단계는
    상기 기준 계조에 대응하는 상기 수직 방향의 제2 휘도 프로파일과 수직 목표 휘도 프로파일을 이용하여, 복수의 수직 얼룩 보정값들을 생성하는 것을 특징으로 하는 감마 및 얼룩 보정 방법.
  14. 제8항에 있어서, 상기 기준 계조에 대응하는 복수의 얼룩 보정값들을 저장하는 저장부에 저장하는 단계를 더 포함하는 감마 및 얼룩 보정 방법.
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