KR20090046130A - 액정패널의 점등검사장비 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 특정 레벨의 직류전압을 공급하여 액정패널의 화소전극에 충전 시간을 증가시킨 액정패널의 점등검사장비에 관한 것이다.
본 발명에 액정패널의 점등검사장비는 복수의 게이트 라인 및 복수의 데이터 라인이 교차하여 복수의 화소영역을 정의하는 액정패널과; 상기 액정패널의 일측에서 상기 게이트 라인에 제 1 점등신호를 인가하는 게이트 신호 공급부와; 상기 액정패널의 일측에서 상기 데이터 라인에 제 2 점등신호를 인가하는 데이터 신호 공급부를 포함하여 구성된다.
이러한 구성에 의하여 본 발명은 액정패널의 점등검사시 형성되는 신호 패드에 입력되는 신호를 특정 레벨의 직류전압을 인가함으로써 전원 공급을 위한 채널 수 감소 및 장비 구성을 단순화할 수 있다. 또한, 점등검사시 신호 패드에 공급되는 직류전압은 액정패널의 화소전극에 충분한 화소전압이 공급될 수 있도록 충전시간을 증가시킴으로써 실제 모듈을 제작시 양품이지만 점등검사시 트랜지스터의 충전지연 문제로 인해 액정패널이 불량으로 처리되는 것을 방지할 수 있다.
Figure P1020070112096
점등검사, 충전지연, 직류, 직류전압

Description

액정패널의 점등검사장비{APPARATUS OF PROBING LIGHTING FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL}
본 발명은 액정 표시장치에 관한 것으로, 특히 특정 레벨의 직류전압을 공급하여 액정패널의 화소전극에 충전 시간을 증가시킨 액정패널의 점등검사장비에 관한 것이다.
최근, 음극선관(Cathode Ray Tube)의 단점인 무게와 부피를 줄일 수 있는 각종 평판 표시장치들이 대두되고 있다. 이러한 평판 표시장치로는 액정 표시장치(Liquid Crystal Display), 전계방출 표시장치(Field Emission Display), 플라즈마 표시패널(Plasma Display Panel) 및 발광 표시장치(Light Emitting Display)등이 있다.
이중 액정 표시장치는 전계를 이용하여 액정의 광 투과율을 조절함으로써 화상을 표시하게 된다. 이를 위하여, 액정 표시장치는 액정셀을 가지는 액정패널과, 액정패널에 광을 조사하는 백 라이트 유닛 및 액정셀을 구동하기 위한 구동회로를 포함하여 구성된다.
액정패널은 복수의 게이트 라인 및 복수의 데이터 라인이 교차하여 복수의 화소영역을 정의된 하부기판과 컬러필터 및 공통전극 등이 형성된 상부기판이 대향 합착하여 형성된다. 이때, 액정패널을 이루는 하부기판 및 상부기판 사이에는 두 기판 사이의 간격을 일정하게 유지시키는 스페이서 및 액정층을 포함하여 구성된다.
이렇게 완성된 액정패널은 각 화소영역에 게이트 라인 및 데이터 라인에 쇼트 및 단선 여부를 검사하기 위해 이들 라인에 연장된 게이트 패드, 데이터 패드 및 공통전압 패드를 형성하고, 각 패드를 점등검사를 하기 위한 검사장비에 연결시켜 테스트 게이트 신호(T-GS), 테스트 데이터 신호(T-DS) 및 테스트 공통전압(T-Vcom)을 공급한다.
이때, 게이트 패드는 통상적으로, 도 1에 도시된 바와 같이, 15 ~ 27V 범위의 펄스 전압인 테스트 게이트 신호(T-GS)가 복수의 게이트 라인에 인가된다. 이러한, 게이트 패드를 통해 게이트 라인에 공급되는 테스트 게이트 신호(T-GS)의 레벨(level)은 1 프레임(frame)에서 제 1 레벨의 게이트 오프 신호가 일정 기간(2H) 동안 출력된 후 제 2 레벨의 게이트 온 신호가 1H ~ 2H동안 출력된다. 이때, 1 프레임은 60Hz로 16.67ms마다 테스트 게이트 신호(T-GS)를 게이트 라인에 출력한다.
데이터 패드 및 공통전압 패드는 테스트 데이터 신호(T-DS) 및 테스트 공통전압(T-Vcom)을 블랙 화면이나 그레이 화면에서 불량 검출이 가능하도록 액정패널에 맞는 전압이 인가한다.
그러나, 점등검사를 위해 상기와 같이 변화하는 신호를 공급받는 액정패널 중 일부는 각 화소영역에 완전한 화소전압이 충전되어 양품 처리가 되지만, 일부에 액정패널은 양품임에도 불구하고 완전한 화소전압이 충전되기 이전에 테스트 게이트 신호(G-TS)의 레벨이 변하게 되어 화소전압이 충전되지 못하여 불량처리가 되는 문제점이 발생한다.
또한, 점등검사 시 이용되는 점등검사 장비는 각 패드에 서로 다른 신호 레벨을 출력하기 위해 신호 레벨이 다른 복수의 채널을 형성함으로써 장비가 복잡해지는 문제점이 발생하게 된다.
상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명은 액정패널의 점등검사시 특정 레벨의 직류전압을 인가함으로써 전원 공급을 위한 채널 수 감소 및 장비 구성을 단순화시키고, 액정패널의 화소전극에 충전 시간을 증가시킨 액정패널의 점등검사장비를 제공하는데 있다.
본 발명에 따른 액정 표시장치의 점등검사장비는 복수의 게이트 라인 및 복수의 데이터 라인이 교차하여 복수의 화소영역을 정의하는 액정패널과; 상기 액정패널의 일측에서 상기 게이트 라인에 제 1 점등신호를 인가하는 게이트 신호 공급부와; 상기 액정패널의 일측에서 상기 데이터 라인에 제 2 점등신호를 인가하는 데이터 신호 공급부를 포함하여 구성된다.
본 발명에 따른 액정패널의 점등검사장비는 액정패널의 점등검사시 형성되는 신호 패드에 입력되는 신호를 특정 레벨의 직류전압을 인가함으로써 전원 공급을 위한 채널 수 감소 및 장비 구성을 단순화할 수 있다.
또한, 점등검사시 신호 패드에 공급되는 직류전압은 액정패널의 화소전극에 충분한 화소전압이 공급될 수 있도록 충전시간을 증가시킴으로써 실제 모듈을 제작시 양품이지만 점등검사시 트랜지스터의 충전지연 문제로 인해 액정패널이 불량으로 처리되는 것을 방지할 수 있다.
이하, 첨부된 도면 및 실시 예를 통해 본 발명의 실시 예를 구체적으로 살펴보면 다음과 같다.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 액정패널의 점등검사장비를 나타낸 도면이다.
도 2을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 액정패널의 점등검사장비는 복수의 게이트 라인(GL1 내지 GLn) 및 복수의 데이터 라인(DL1 내지 DLm)이 교차하여 복수의 화소영역(P)을 정의하는 액정패널(100)과, 액정패널(100)의 일측에서 게이트 라인(GL)에 제 1 점등신호를 인가하는 게이트 신호 공급부(110)와, 액정패널(100)의 일측에서 데이터 라인(DL)에 제 2 점등신호를 인가하는 데이터 신호 공급부(200), 게이트 신호 공급부(110)의 타측에 형성된 게이트 전압 검사부(140) 및 데이터 신호 공급부(200)의 타측에 형성된 데이터 라인 검사부(130)를 포함하여 구성된다.
액정패널(100)은 복수의 게이트 라인(GL1 내지 GLn) 및 복수의 데이터 라 인(DL1 내지 DLm)이 교차하여 복수의 화소영역(P)을 정의한다. 여기서, 액정패널(100)은 서로 대향하여 합착된 하부기판 및 상부기판으로 이루어진다. 이때, 하부기판 및 상부기판 사이에는 두 기판 사이의 간격을 일정하게 유지시키는 스페이서(미도시) 및 액정층(미도시)을 포함하여 구성된다.
상부기판은 적색, 녹색 및 청색을 포함하는 적어도 3개의 컬러필터, 각 컬러필터의 분리함과 아울러 화소셀을 정의하는 블랙 매트릭스 및 공통전압이 공급되는 공통전극 등을 포함하여 구성된다. 여기서, 공통전극은 액정의 모드에 따라 하부기판에 형성될 수 있다.
하부기판은 서로 교차하도록 형성된 복수의 게이트 라인(GL1 내지 GLn) 및 복수의 데이터 라인(DL1 내지 DLm)과, 데이터 라인들(DL)과 게이트 라인(GL)들이 교차되어 정의되는 화소영역(P)마다 형성된 박막 트랜지스터(Thin Film Transistor; T1) 및 박막 트랜지스터(T1)에 접속된 화소전극을 포함하여 구성된다. 박막 트랜지스터(T1)는 게이트 라인(GL)으로부터의 게이트 펄스에 응답하여 데이터 라인(DL)으로부터의 화상신호를 액정셀(Clc)로 공급한다.
액정셀(Clc)은 액정층을 사이에 두고 대면하는 공통전극과 박막 트랜지스터(T1)에 접속된 화소전극으로 구성되므로 등가적으로 액정 커패시터로 표현될 수 있다. 또한, 액정셀(Clc)은 액정 커패시터에 충전된 화상신호를 다음 화상신호가 충전될 때까지 유지시키기 위한 스토리지 커패시터(Cst)를 포함한다.
게이트 신호 공급부(110)는, 도 3에 도시된 바와 같이, 우수번째 게이트 라인(GL2, GL4, GL6 내지 GLn)에 제 1 게이트 전압(Gate Voltage; GV)을 공급하는 제 1 게이트 패드(112)와, 기수번째 게이트 라인(GL1, GL3, GL5 내지 GLn-1)에 제 2 게이트 전압(GV)을 공급하는 제 2 게이트 검사패드(114), 제 1 및 제 2 게이트 패드(112, 114)와 연결된 스위칭소자(T1, T2)에 스위칭 전압(Switching Voltage; SV)을 공급하는 게이트 스위칭 패드(128) 및 액정패널(100)에 공통전원을 공급하는 공통전압 공급패드(118)를 포함하여 구성된다.
제 1 게이트 패드(112)는 제 1 게이트 전압 공급라인(120)과 연결되도록 형성된다. 여기서, 제 1 게이트 패드(112)는 외부로부터 공급된 제 1 게이트 전압(GV)을 제 1 게이트 전압 공급라인(120)에 전달한다. 이때, 제 1 게이트 패드(112)에 공급되는 제 1 게이트 전압(GV)은, 도 4에 도시된 바와 같이, 15 ~ 30V의 직류전압이 공급된다.
제 1 게이트 전압 공급라인(120)은 제 1 게이트 패드(112)와 제 2 스위칭소자(T2)가 연결될 수 있도록 형성된다. 여기서, 제 1 게이트 전압 공급라인(120)은 제 1 게이트 패드(112)를 통해 공급된 제 2 게이트 전압(GV)을 제 2 스위칭 소자(T2)에 공급한다.
제 2 스위칭 소자(T2)는 제 1 게이트 전압 공급라인(120), 우수번째 게이트 라인(GL2, GL4, GL6 내지 GLn) 및 제 1 스위칭 전압라인(124) 사이에 연결된다. 여기서, 제 2 스위칭 소자(T2)는 제 1 게이트 전압 공급라인(120)을 통해 공급된 제 1 게이트 전압(GV)을 제 1 스위칭 전압라인(124)에 공급된 제 1 스위칭 전압(SV)에 따라 우수번째 게이트 라인(GL2, GL4, GL6 내지 GLn)에 공급한다. 이때, 제 2 스위칭 소자(T2)는 N형 또는 P형 박막 트랜지스터로 형성될 수 있다.
제 2 게이트 패드(114)는 제 2 게이트 전압 공급라인(122)과 연결되도록 형성된다. 여기서, 제 2 게이트 패드(114)는 외부로부터 공급된 제 2 게이트 전압(GV)을 제 2 게이트 전압 공급라인(122)에 전달한다. 이때, 제 2 게이트 패드(114)에 공급되는 제 2 게이트 전압(GV)은 15 ~ 30V의 직류전압이 공급된다.
제 2 게이트 전압 공급라인(122)은 제 2 게이트 패드(114)와 제 3 스위칭소자(T3)가 연결될 수 있도록 형성된다. 여기서, 제 2 게이트 전압 공급라인(122)은 제 2 게이트 패드(114)를 통해 공급된 제 2 게이트 전압(GV)을 제 3 스위칭 소자(T3)에 공급한다.
제 3 스위칭 소자(T3)는 제 2 게이트 전압 공급라인(122), 기수번째 게이트 라인(GL1, GL2, GL3 내지 GLn-1) 및 제 1 스위칭 전압라인(124) 사이에 연결된다. 여기서, 제 3 스위칭 소자(T3)는 제 2 게이트 전압 공급라인(122)을 통해 공급된 제 2 게이트 전압(GV)을 제 1 스위칭 전압라인(124)에 공급된 제 1 스위칭 전압(SV)에 따라 기수번째 게이트 라인(GL1, GL3, GL5 내지 GLn)에 공급한다. 이때, 제 3 스위칭 소자(T3)는 N형 또는 P형 박막 트랜지스터로 형성될 수 있다.
게이트 스위칭 패드(128)는 제 1 스위칭 전압라인(124)과 연결되도록 형성된다. 여기서, 게이트 스위칭 패드(128)는 외부로부터 공급된 스위칭 전압(SV)을 제 2 및 제 3 스위칭 소자(T2, T3)가 스위칭 할 수 있도록 공급한다. 이때, 게이트 스위칭 패드(128)에 공급되는 제 1 스위칭 전압(SV)은 15 ~ 30V의 직류전압이 공급된다.
공통전압 공급패드(118)는 공통전압 공급라인(118)과 연결되도록 형성된다. 여기서, 공통전압 공급패드(118)는 공통전압 공급라인(118)을 통해 액정패널(100)에 공통전압을 공급한다.
데이터 신호 공급부(200)는 우수번째 데이터 라인(DL2, DL4, DL6 내지 DLm)에 제 1 데이터 전압(Data Voltage; DV)을 공급하는 제 1 데이터 패드(136)와, 기수번째 데이터 라인(DL1, DL3, DL5 내지 DLm-1)에 제 2 데이터 전압(DV)을 공급하는 제 2 데이터 패드(134) 및 제 1 및 제 2 데이터 패드(134, 136)와 연결된 스위칭소자(T4, T5)에 제 2 스위칭 전압(SV)를 공급하는 데이터 스위칭 신호 패드(132)를 포함하여 구성된다.
제 1 데이터 패드(136)는, 도 4에 도시된 바와 같이, 제 1 데이터 전압 공급라인(142)과 연결되도록 형성된다. 여기서, 제 1 데이터 패드(136)는 외부로부터 공급된 제 1 데이터 전압(DV)을 제 1 데이터 전압 공급라인(142)에 공급한다. 이때, 제 1 데이터 패드(136)에 공급되는 제 1 데이터 전압(DV)은 1 ~ 8V인 직류전압이 공급된다.
제 1 데이터 전압 공급라인(142)은 제 1 데이터 패드(136)와 제 4 스위칭 소자(T4)가 연결될 수 있도록 형성된다. 여기서 제 1 데이터 전압 공급라인(142)은 제 1 데이터 패드(136)로부터 공급된 제 1 데이터 전압(DV)을 제 4 스위칭 소자(T4)에 공급한다.
제 4 스위칭 소자(T3)는 제 1 데이터 전압 공급라인(142), 우수번째 데이터 라인(DL2, DL4, DL6 내지 DLm)과 및 제 2 스위칭 전압라인(138) 사이에 연결된다. 여기서, 제 4 스위칭 소자(T4)는 제 1 게이트 전압 공급라인(142)을 통해 공급된 제 1 데이터 전압(DV)을 제 2 스위칭 전압라인(138)에 제 2 스위칭 전압(SV)에 따라 우수번째 데이터 라인(DL2, DL4, DL6 내지 DLm)에 공급한다. 이때, 제 4 스위칭 소자(T4)는 N형 또는 P형 박막 트랜지스터로 형성될 수 있다.
제 2 데이터 패드(134)는 제 2 데이터 전압 공급라인(144)과 연결되도록 형성된다. 여기서, 제 2 데이터 패드(134)는 외부로부터 공급된 제 2 데이터 전압을 제 2 데이터 전압 공급라인(144)에 공급한다. 이때, 제 2 데이터 패드(134)에 공급되는 제 2 데이터 전압(DV)은 1 ~ 8V인 직류전압이 공급된다.
제 2 데이터 전압 공급라인(144)은 제 2 데이터 패드(134)와 제 5 스위칭 소자(T5)가 연결될 수 있도록 형성된다. 여기서 제 2 데이터 전압 공급라인(144)은 제 2 데이터 패드(134)로부터 공급된 제 2 데이터 전압(DV)을 제 5 스위칭 소자(T5)에 공급한다.
제 5 스위칭 소자(T5)는 제 2 데이터 전압 공급라인(144), 기수번째 데이터 라인(DL1, DL3, DL5 내지 DLm-1)과 및 제 2 스위칭 전압라인(138) 사이에 연결된다. 여기서, 제 5 스위칭 소자(T5)는 제 2 데이터 전압 공급라인(144)을 통해 공급된 제 2 데이터 전압(DV)을 제 2 스위칭 전압라인(138)에 공급된 제 2 스위칭 전업에 따라 기수번째 데이터 라인(DL1, DL3, DL5 내지 DLm-1)에 공급한다. 이때, 제 5 스위칭 소자(T5)는 N형 또는 P형 박막 트랜지스터로 형성될 수 있다.
데이터 스위칭 패드(132)는 제 2 스위칭 전압라인(138)과 연결되도록 형성된다. 여기서, 데이터 스위칭 패드(132)는 외부로부터 공급된 제 2 스위칭 전압(SV)을 제 4 및 제 5 스위칭 소자(T4, T5)가 스위칭 할 수 있도록 공급한다. 이때, 데 이터 스위칭 패드(132)에 공급되는 제 2 스위칭 전압(SV)은 15 ~ 30V의 직류전압이 공급된다.
게이트 전압 검사부(140)는 게이트 신호 공급부(110)의 타측에 형성된다. 여기서, 게이트 전압 검사부(140)는 액정패널(100)에 형성된 각 게이트 라인(GL1 내지 GLn)과 대응되는 복수의 게이트 전압 검사패드(140a 내지 140n)를 포함하여 구성된다. 이러한, 게이트 전압 검사부(140)는 각 게이트 라인(GL1 내지 GLn)에 공급된 게이트 전압을 측정할 수 있도록 형성된다.
데이터 전압 검사부(130)는 데이터 신호 공급부(200)의 타측에 형성된다. 여기서, 데이터 전압 검사부(130)는 액정패널(100)에 형성된 각 데이터 라인(DL1 내지 DLn)과 대응되는 복수의 데이터 전압 검사패드(130a 내지 130n)를 포함하여 구성된다. 이러한, 데이터 전압 검사부(130)는 각 데이터 라인(GL1 내지 GLn)에 공급된 데이터 전압을 측정할 수 있도록 형성된다.
이러한, 액정패널의 점등검사장비는 액정패널의 점등검사시 형성되는 신호 패드에 입력되는 신호를 특정 레벨의 직류전압을 인가함으로써 전원 공급을 위한 채널 수 감소 및 장비 구성을 단순화할 수 있다.
또한, 점등검사시 신호 패드에 공급되는 직류전압은 액정패널의 화소전극에 충분한 화소전압이 공급될 수 있도록 충전시간을 증가시킴으로써 실제 모듈을 제작시 양품이지만 점등검사시 트랜지스터의 충전지연 문제로 인해 액정패널이 불량으로 처리되는 것을 방지할 수 있다.
이상에서 설명한 본 발명은 상술한 실시 예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술분야에서 종래의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.
도 1은 종래의 점등검사시 액정패널의 검사부에 인가된 전압을 나타낸 파형도.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 액정패널의 점등검사장비를 개략적으로 나타낸 도면.
도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 액정패널의 점등검사장비에 점등검사부를 구체적으로 나타낸 도면.
도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 액정패널의 점등검사장비에 신호패드에 공급되는 전압을 나타낸 파형도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
100 : 액정패널 112 : 제 1 게이트 패드
114 : 제 2 게이트 패드 116 : 게이트 스위칭 패드
118 : 공통 전압 공급패드 120 : 제 1 게이트 전압 공급라인
122 : 제 2 게이트 전압 공급라인 124 : 공통전압 공급라인
126 : 제 1 스위칭 전압라인 128 : 게이트 스위칭 패드
130 : 데이터 전압 검사부 132 : 데이터 스위칭 패드
134 : 제 2 데이터 패드 136 : 제 1 데이터 패드
138 : 제 2 스위칭 전압라인 140 : 게이트 전압 검사부
142 : 제 1 데이터 전압 공급라인 144 : 제 2 데이터 전압 공급라인

Claims (12)

  1. 복수의 게이트 라인 및 복수의 데이터 라인이 교차하여 복수의 화소영역을 정의하는 액정패널과;
    상기 액정패널의 일측에서 상기 게이트 라인에 제 1 점등신호를 인가하는 게이트 신호 공급부와;
    상기 액정패널의 일측에서 상기 데이터 라인에 제 2 점등신호를 인가하는 데이터 신호 공급부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 액정패널의 점등검사장비.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 게이트 신호 공급부의 타측에 형성된 게이트 라인 검사부와;
    상기 데이터 신호 공급부의 타측에 형성된 데이터 라인 검사부를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 액정패널의 점등검사장비.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 및 제 2 점등신호는 직류전압인 것을 특징으로 하는 액정패널의 점등검사장비.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 게이트 신호 공급부는,
    상기 우수번째 게이트 라인에 제 1 게이트 전압을 공급하는 제 1 게이트 패드와;
    상기 기수번째 게이트 라인에 제 2 게이트 전압을 공급하는 제 2 게이트 패드; 및
    상기 제 1 및 제 2 게이트 신호 패드와 연결된 점등검사용 스위칭소자에 제 1 스위칭 전압을 공급하는 게이트 스위칭 신호 패드를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 액정패널의 점등검사장비.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 제 1 스위칭 전압, 제 1 및 제 2 게이트 전압은 같은 레벨의 직류전압인 것을 특징으로 하는 액정패널의 점등검사장비.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 제 1 스위칭 전압, 제 1 및 제 2 게이트 전압은 15 ~30V인 것을 특징으로 하는 액정패널의 점등검사장비.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 데이터 신호 공급부는,
    상기 우수번째 데이터 라인에 제 1 데이터 신호를 공급하는 제 1 데이터 패 드와;
    상기 기수번째 데이터 라인에 제 2 데이터 신호를 공급하는 제 2 데이터 패드; 및
    상기 제 1 및 제 2 데이터 패드와 연결된 점등검사용 스위칭소자에 제 2 스위칭 전압을 공급하는 데이터 스위칭 패드를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 액정패널의 점등검사장비.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 제 2 스위칭 전압, 제 1 및 제 2 데이터 전압은 직류 전원인 것을 특징으로 하는 액정패널의 점등검사장비.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 제 1 및 제 2 데이터 전압은 동일한 레벨의 직류전압인 것을 특징으로 하는 액정패널의 점등검사장비.
  10. 제 8 항에 있어서,
    상기 제 2 스위칭 전압은 15 ~30V인 것을 특징으로 하는 액정패널의 점등거사장비.
  11. 제 8 항에 있어서,
    상기 제 1 및 제 2 데이터 전압은 1 ~ 8V인 것을 특징으로 하는 액정패널의 점등검사장비.
  12. 제 4 항 또는 제 7 항에 있어서,
    상기 게이트 신호 공급부 또는 데이터 신호 공급부는 상기 액정패널에 공통전압을 공급하는 공통전압 공급패드를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 액정패널의 점등검사장비.
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