CN110648618A - 检测裂纹电路及显示面板 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种检测裂纹电路及显示面板。检测裂纹电路包括相互电连接的环形检测走线、外接信号走线和子像素显示走线；所述环形检测走线呈环形设置；所述子像素显示走线的一端与所述环形检测走线的信号输出端电连接，其另一端与一子像素的漏极扫描线电连接。显示面板包括上述检测裂纹电路。本发明可以电性或者画面检测的方式判定生产过程在开孔区是否产生裂纹而导致的功能不良，防止生产过程中在开孔区产生裂纹的不良产品流入下一道制程工序中，从而有效预防生产不良的发生，提高了产品合格率。

Description

检测裂纹电路及显示面板
技术领域
本发明涉及显示领域，尤其涉及一种检测裂纹电路及显示面板。
背景技术
随着智能手机朝着全面屏的方向快速发展，屏占比要求越来越高，目前出现如iPhone X的刘海屏(Notch)设计方案，仅仅在手机的“前额”预留空间给前置摄像头，其余地方均为显示区域。
为了实现更大的屏占比，智能手机厂商推出了屏下摄像头方案，即有源矩阵有机发光二极管(AMOLED)柔性屏采用圆形开孔设计，在对应前置摄像头的位置处AMOLED屏幕开设圆形孔裸露出摄像头，从而使智能手机的屏占比进一步提升，比刘海屏更接近全面屏。但无论采用何种形式，均需开孔来容置摄像头。
如图1所示，为现有的一种显示面板90，其从下至上依次包括柔性基板91、薄膜晶体管层92、有机发光层93、薄膜封装层94、触控层95及玻璃盖板96。对应所示显示面板的正面开设圆形通孔97贯穿所述显示面板90，通常是通过激光或者机械冲切的方式进行开孔，容易导致通孔97周边产生裂纹，所述通孔97位置即为开孔区，若该位置发生裂纹容易导致开孔区周边显示异常以及触控层95功能失效。
因此，如何检测开孔区是否产生裂纹成为需要解决的问题。
发明内容
本发明的目的在于，提供一种检测裂纹电路及显示面板，其以电性或者画面检测的方式判定生产过程在开孔区是否产生裂纹导致的功能不良，防止生产过程中在开孔区产生裂纹的不良产品流入下一道制程工序中，从而有效预防生产不良的发生，提高了产品合格率。
为了解决上述问题，本发明提供一种检测裂纹电路，其包括环形检测走线、外接信号走线和子像素显示走线。
具体地讲，所述环形检测走线呈环形设置；所述环形检测走线包括信号输入端和信号输出端；所述外接信号走线的一端与所述环形检测走线的信号输入端电连接，其另一端用于接入检测信号；所述子像素显示走线的一端与所述环形检测走线的信号输出端电连接，其另一端与一子像素的漏极扫描线电连接。
进一步地，所述环形检测走线包括内环线、第一外环线和第二外环线。具体地讲，所述内环线环绕一通孔设置；所述第一外环线的一端连接所述内环线的一端；所述第一外环线平行于所述内环线设于所述内环线远离所述通孔的一侧；所述第一外环线的另一端为所述信号输入端；所述第二外环线的一端连接所述内环线的另一端；所述第二外环线平行于所述内环线设于所述内环线远离所述通孔的一侧；所述第二外环线的另一端为所述信号输出端。
进一步地，所述环形检测走线为两个或两个以上，相邻的所述环形检测走线之间串联连接。
进一步地，所述子像素为红色子像素、绿色子像素或蓝色子像素的一种。
进一步地，所述检测裂纹电路还包括次外接信号走线，所述次外接信号走线的一端与所述环形检测走线的信号输入端电连接，其另一端用于接入检测信号；所述次外接信号走线与所述外接信号走线相互连接呈U形设置。
进一步地，所述检测裂纹电路还包括次子像素显示走线，所述次子像素显示走线的一端与所述环形检测走线的信号输出端电连接，其另一端与一子像素的漏极扫描线电连接；所述次子像素显示走线、所述外子像素显示走线及所述子像素的漏极扫描线相互连接形成一闭合回路。
进一步地，所述检测裂纹电路还包括信号检测端，所述信号检测端与所述子像素的漏极扫描线的一端电连接。
进一步地，所述检测裂纹电路还包括次信号检测端，所述次信号检测端与所述子像素的漏极扫描线的一端电连接。
本发明还提供一种显示面板，包括上述检测裂纹电路。
进一步地，所述环形检测走线设于显示面板的触控层内；所述外接信号走线及所述子像素显示走线设于显示面板的薄膜晶体管层内；所述环形检测走线穿过设于所述薄膜晶体管层上的过孔与所述外接信号走线及所述子像素显示走线实现电连接。
本发明的有益效果是：本发明提供一种检测裂纹电路及显示面板，可以电性或者画面检测的方式判定生产过程在开孔区是否产生裂纹导致的功能不良，防止生产过程中在开孔区产生裂纹的不良产品流入下一道制程工序中，从而有效预防生产不良的发生，提高了产品合格率。
附图说明
图1为一种现有的一种显示面板的结构示意图；
图2A为本发明第一实施例中一种检测裂纹电路的平面结构示意图；
图2B为本发明第一实施例中另一种检测裂纹电路的平面结构示意图；
图3A为本发明第二实施例中一种检测裂纹电路的平面结构示意图；
图3B为本发明第二实施例中另一种检测裂纹电路的平面结构示意图；
图4A为本发明第三实施例中一种检测裂纹电路的平面结构示意图；
图4B为本发明第三实施例中另一种检测裂纹电路的平面结构示意图；
图5A为本发明第四实施例中一种检测裂纹电路的平面结构示意图；
图5B为本发明第四实施例中另一种检测裂纹电路的平面结构示意图；
图6为本发明实施例中一种显示面板的结构示意图。
图中部件标识如下：
1、环形检测走线，11、信号输入端，12、信号输出端，13、内环线，
14、第一外环线，15、第二外环线；
2、外接信号走线，21、次外接信号走线，201、检测信号接入端；
3、子像素显示走线，31、次子像素显示走线；
4、子像素的漏极扫描线，41、奇数行漏极扫描线，
42、偶数行漏极扫描线；
5、薄膜晶体管，51、有源层，52、栅极绝缘层，53、栅极，
54、层间绝缘层，55、源漏极层，551、漏极，552、源极；
6、栅极扫描线；
7、信号检测端，71、次信号检测端；
10、检测裂纹电路，20、通孔，30、过孔；
100、显示面板，101、柔性基板，102、薄膜晶体管层，
103、有机发光层，104、薄膜封装层，105、触控层，106、玻璃盖板；
1021、平坦有机层，1022、阳极层，1023、像素定义层；
1051、缓冲层，1052、第一金属层，1053、钝化层，1054、第二金属层，
1055、平坦层。
具体实施方式
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
本发明提供一种显示面板，其中设有一种检测裂纹电路。
实施例1
如图2A、图2B所示，在第一实施例中，所述检测裂纹电路10包括环形检测走线1、外接信号走线2和子像素显示走线3。
具体地讲，所述环形检测走线1呈环形设置；所述环形检测走线1包括信号输入端11和信号输出端12；所述外接信号走线2的一端与所述环形检测走线1的信号输入端11电连接，其另一端为检测信号接入端201，其用于接入检测信号；所述子像素显示走线3的一端与所述环形检测走线1的信号输出端12电连接，其另一端与一子像素的漏极扫描线4电连接。
如图2A所示，所述外接信号走线2设于显示面板的左侧，所述子像素的漏极扫描线4也设于显示面板的左侧；如图2B所示，所述外接信号走线2设于显示面板的右侧，所述子像素的漏极扫描线4也设于显示面板的右侧；在其他实施例中，所述外接信号走线2和所述子像素的漏极扫描线4也可分别设于显示面板的左右两侧。
本实施例中，所述子像素的漏极扫描线4与薄膜晶体管5的漏极551电连接，所述薄膜晶体管5的源极552与子像素的数据线(Data line)电连接，所述薄膜晶体管5的栅极53与栅极扫描线6电连接，所述栅极扫描线6接通使能信号，通过电场作用实现所述薄膜晶体管5的有源层51形成沟道导通。
所述检测裂纹电路10用于检测显示面板的开孔区是否存在裂纹，所述检测裂纹电路10的使用方式包括以下两种情形：
当开孔区不存在裂纹情况下，即所述环形检测走线1不产生断路，此时在所述信号输入端11接入高电平的所述检测信号，所述检测信号依次通过所述外接信号走线2、所述环形检测走线1、所述子像素显示走线3进入所述子像素的漏极扫描线4，所述子像素的漏极扫描线4与所述薄膜晶体管5的漏极电连接，所述薄膜晶体管5处于关闭状态，所述子像素显示黑色；
当开孔区存在裂纹情况下，即所述环形检测走线1断路，此时在所述信号输入端11接入高电平的所述检测信号不能与所述子像素的漏极扫描线4导通，高电平的所述检测信号悬空，即所述检测信号处于低电平时，所述薄膜晶体管5处于开启状态，所述子像素显示亮线。
本实施例通过监控有无亮线来判断显示面板的开孔区是否发生裂纹情况，既简便又容易操作。
本实施例中，所述环形检测走线1包括内环线13、第一外环线14和第二外环线15。具体地讲，所述内环线13环绕一通孔20设置；所述通孔20所在位置为显示面板的开孔区；所述第一外环线14的一端连接所述内环线13的一端；所述第一外环线14平行于所述内环线13设于所述内环线13远离所述通孔20的一侧；所述第一外环线14的另一端为所述信号输入端11；所述第二外环线15的一端连接所述内环线13的另一端；所述第二外环线15平行于所述内环线13设于所述内环线13远离所述通孔20的一侧；所述第二外环线15的另一端为所述信号输出端12。
本实施例中，所述内环线13为优弧，所述第一外环线14为劣弧，所述第二外环线15为劣弧；所述内环线13、所述第一外环线14和所述第二外环线15的圆心重合，即为同心圆。优选地，所述第一外环线14和所述第二外环线15位于同一圆的圆弧上。
如图3A、图3B所示，本实施例中，所述环形检测走线1为两个或两个以上，相邻的所述环形检测走线1之间是串联连接。即其中一个所述环形检测走线1的信号输出端12与另一个所述环形检测走线1串联的信号输入端11电连接，从而实现相邻的两个所述环形检测走线1之间串联连接。其中串联连接的连接走线可与所述环形检测走线1位于不同膜层，此时需设置过孔贯穿所述连接走线与所述环形检测走线1之间的膜层，所述连接走线穿过所述过孔与所述环形检测走线1实现电连接。
如图2A、图3A所示，所述外接信号走线2设于显示面板的左侧，所述子像素的漏极扫描线4也设于显示面板的左侧；如图2B、图3B所示，所述外接信号走线2设于显示面板的右侧，所述子像素的漏极扫描线4也设于显示面板的右侧；图3A、图3B与图2A、图2B的区别在于所述环形检测走线1为两个或两个以上。在其他实施例中，所述外接信号走线2和所述子像素的漏极扫描线4也可分别设于显示面板的左右两侧。
本实施例中，所述子像素为红色子像素、绿色子像素或蓝色子像素的一种。本实施例优选所述子像素为绿色子像素，即用于检测显示面板的颜色显示为绿色。当开孔区不存在裂纹情况下，即所述环形检测走线1不产生断路，此时在所述信号输入端11接入高电平的所述检测信号后所述子像素显示黑色；当开孔区存在裂纹情况下，即所述环形检测走线1断路，此时在所述信号输入端11接入高电平的所述检测信号后所述子像素显示绿色亮线。通过监控有无绿色亮线画面来判断显示面板的开孔区是否发生裂纹情况，既简便又容易操作，而且绿色不伤眼并容易被人眼观察到。
由于所述红色子像素、所述绿色子像素及所述蓝色子像素通常设置呈三角形的阵列式分布，如图2A、图2B、图3A、图3B所示，因此本发明所述子像素的漏极扫描线4划分为奇数行漏极扫描线41和偶数行漏极扫描线42，所述奇数行漏极扫描线41与所述绿色子像素的漏极551电连接，所述偶数行漏极扫描线42与所述红色子像素及所述蓝色子像素的漏极551电连接；本实施例优选所述子像素显示走线3的另一端与所述奇数行漏极扫描线41电连接，即与所述绿色子像素的扫描线子像素的漏极551电连接，这样相对于所述子像素显示走线3的另一端与所述偶数行漏极扫描线42电连接，即与所述红色子像素及所述蓝色子像素的漏极551电连接更加省电。
实施例2
如图4A、图4B所示，在第二实施例中包括第一实施例中全部的技术特征，其区别在于，第二实施例中的所述检测裂纹电路10还包括次外接信号走线21。
图4A中的所述环形检测走线1为一个，图4B中的所述环形检测走线1为两个或两个以上。
所述次外接信号走线21的一端与所述环形检测走线1的信号输入端11电连接，其另一端为检测信号接入端201用于接入检测信号；所述次外接信号走线21与所述外接信号走线2相互连接呈U形设置。所述次外接信号走线21与所述外接信号走线2大体以所述环形检测走线1的对称轴为对称轴呈镜像设置。
当所述外接信号走线2和所述次外接信号走线21同时存在时，在使用时可在所述外接信号走线2或所述次外接信号走线21中的任一个接入检测信号即可实现检测功能，这样一方面便于操作，另一方面可防止所述外接信号走线2或所述次外接信号走线21中的任一个出现断路影响测试结果，通过分别给所述外接信号走线2和所述次外接信号走线21先后接入检测信号进行检测，只要任意一种方式检测合格即可得知被检测的显示面板为合格，这种检测的方式能够减少误差，提高检测的准确性。
如图4A、图4B所示，本实施例中，所述检测裂纹电路10还包括次子像素显示走线31，所述次子像素显示走线31的一端与所述环形检测走线1的信号输出端12电连接，其另一端与一子像素的漏极扫描线4电连接；所述次子像素显示走线31、所述外子像素显示走线3及所述子像素的漏极扫描线4相互连接形成一闭合回路。同时存在所述子像素显示走线3和所述次子像素显示走线31可以避免所述子像素显示走线3和所述次子像素显示走线31的任一个出现断路影响测试结果。
实施例3
如图5A、图5B所示，在第三实施例中包括第一实施例、第二实施例中全部的技术特征，其区别在于，第三实施例中的所述检测裂纹电路10还包括信号检测端7，所述信号检测端7与所述子像素的漏极扫描线4的一端电连接。
本实施例优选在第二实施例的图4基础上增加所述信号检测端7，其结构具体如图5A、图5B所示，由于所述子像素的漏极扫描线4与所述子像素显示走线3电连接、所述子像素显示走线3与所述环形检测走线1电连接，因此无论所述信号检测端7与所述子像素的漏极扫描线4的任意一端电连接即可实现所述信号检测端7接收输入的检测信号。
在进行测试时，只需使用一个信号检测设备(未图示)即可实现对被检测的显示面板的检测，而且操作十分简便；所述信号检测设备的一端与所述检测信号接入端201电连接，所述信号检测设备的另一端与所述信号检测端7电连接，从而使得所述检测信号接入端201、所述外接信号走线2或所述次外接信号走线21、所述环形检测走线1、所述信号检测端7以及所述信号检测设备形成一闭合回路；在所述检测信号接入端201或者所述信号检测端7输入一检测信号，若所述信号检测设备能够顺利接收到所述检测信号即可判断被检测的显示面板为合格，若所述信号检测设备不能接收到所述检测信号即可判断被检测的显示面板为不合格。
本实施例所述信号检测设备优选采用驱动控制芯片(Driver IC)的一组。本实施例可以电性检测的方式判定生产过程在开孔区是否产生裂纹导致的功能不良。
如图5A、图5B所示，所述检测裂纹电路10还包括次信号检测端71，所述次信号检测端71与所述子像素的漏极扫描线4的一端电连接。
图5A中的所述环形检测走线1为一个，图5B中的所述环形检测走线1为两个或两个以上。
由于所述子像素的漏极扫描线4与所述次子像素显示走线31电连接、所述次子像素显示走线31与所述环形检测走线1电连接，因此无论所述次信号检测端71与所述子像素的漏极扫描线4的任意一端电连接即可实现所述次信号检测端71接收来自所述环形检测走线1的信号输入端11的信号。因此本实施例的所述信号检测端7与所述次信号检测端71的位置可以互换。
本发明还提供一种显示面板100，包括上述检测裂纹电路10。
如图6所示，所述显示面板100从下至上依次包括柔性基板101、薄膜晶体管层102、有机发光层103、薄膜封装层104、触控层105及玻璃盖板106。
所述薄膜晶体管层102包括设于所述柔性基板101上的多个薄膜晶体管5、覆盖所述薄膜晶体管5的平坦有机层1021、位于所述平坦有机层1021上的阳极层1022、位于所述阳极层1022上的像素定义层1023。每一薄膜晶体管5均包括从下至上依次层叠设置的有源层51、栅极绝缘层52、栅极53、层间绝缘层54和源漏极层55。所述薄膜晶体管5的漏极551和源极552位于所述源漏极层55上。
所述触控层105包括缓冲层1051、第一金属层1052、钝化层1053、第二金属层1054和平坦层1055。具体地讲，所述缓冲层1051设于所述薄膜封装层104上；所述第一金属层1052设于所述缓冲层1051上；所述钝化层1053设于所述第一金属层1052上；所述第二金属层1054设于所述钝化层1053上；所述平坦层1055设于所述第二金属层1054上。其中，所述第一金属层1052包括多个电极跨桥，所述第二金属层1054包括多个触控电极。所述触控层105的具体结构为现有技术，在此不做赘述。
本实施例中，所述环形检测走线1设于所述显示面板100的触控层105内，所述环形检测走线1优选与所述触控层105的第二金属层同层设置，即在制作所述第二金属层时通过图形化形成所述环形检测走线1。所述外接信号走线2及所述子像素显示走线3设于所述显示面板100的薄膜晶体管层102内，优选所述外接信号走线2及所述子像素显示走线3与所述薄膜晶体管层102的源漏极层55同层设置，即在制作所述源漏极层55时通过图形化形成所述外接信号走线2及所述子像素显示走线3；所述环形检测走线1穿过设于所述薄膜晶体管层102上的过孔30与所述外接信号走线2及所述子像素显示走线3实现电连接。所述过孔30贯穿所述环形检测走线1与所述外接信号走线2及所述子像素显示走线3之间的膜层，即所述过孔30的孔底为所述薄膜晶体管层102的源漏极层55，所述过孔30从下至上依次贯穿所述薄膜晶体管层102的所述平坦有机层1021、所述薄膜晶体管层102的所述阳极层1022、所述薄膜晶体管层102的所述像素定义层1023、所述有机发光层103、所述薄膜封装层104、所述触控层105的所述缓冲层1051、所述触控层105的所述第一金属层1052、所述触控层105的所述钝化层1053。
所述外接信号走线2及所述子像素显示走线3均环绕所述显示面板100的显示区设置，所述次外接信号走线21及所述次子像素显示走线31也均环绕所述显示面板100的显示区设置；所述外接信号走线2和所述次外接信号走线21可一体成型，所述子像素显示走线3和所述次子像素显示走线31也可一体成型。
本发明的有益效果是：本发明提供一种检测裂纹电路及显示面板，可以电性或者画面检测的方式判定生产过程在开孔区是否产生裂纹导致的功能不良，防止生产过程中在开孔区产生裂纹的不良产品流入下一道制程工序中，从而有效预防生产不良的发生，提高了产品合格率。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种检测裂纹电路，其特征在于，包括：
环形检测走线，呈环形设置；所述环形检测走线包括信号输入端和信号输出端；
外接信号走线，其一端与所述环形检测走线的信号输入端电连接，其另一端用于接入检测信号；以及
子像素显示走线，其一端与所述环形检测走线的信号输出端电连接，其另一端与一子像素的漏极扫描线电连接。
2.根据权利要求1所述的检测裂纹电路，其特征在于，所述环形检测走线包括：
内环线，环绕一通孔设置；
第一外环线，其一端连接所述内环线的一端；所述第一外环线平行于所述内环线设于所述内环线远离所述通孔的一侧；所述第一外环线的另一端为所述信号输入端；以及
第二外环线，其一端连接所述内环线的另一端；所述第二外环线平行于所述内环线设于所述内环线远离所述通孔的一侧；所述第二外环线的另一端为所述信号输出端。
3.根据权利要求1所述的检测裂纹电路，其特征在于，所述环形检测走线为两个或两个以上，相邻的所述环形检测走线之间串联连接。
4.根据权利要求1所述的检测裂纹电路，其特征在于，所述子像素为红色子像素、绿色子像素或蓝色子像素的一种。
5.根据权利要求1所述的检测裂纹电路，其特征在于，还包括
次外接信号走线，其一端与所述环形检测走线的信号输入端电连接，其另一端用于接入检测信号；
所述次外接信号走线与所述外接信号走线相互连接呈U形设置。
6.根据权利要求1所述的检测裂纹电路，其特征在于，还包括
次子像素显示走线，其一端与所述环形检测走线的信号输出端电连接，其另一端与一子像素的漏极扫描线电连接；
所述次子像素显示走线、所述外子像素显示走线及所述子像素的漏极扫描线相互连接形成一闭合回路。
7.根据权利要求1所述的检测裂纹电路，其特征在于，还包括信号检测端，所述信号检测端与所述子像素的漏极扫描线的一端电连接。
8.根据权利要求6所述的检测裂纹电路，其特征在于，还包括次信号检测端，所述次信号检测端与所述子像素的漏极扫描线的一端电连接。
9.一种显示面板，包括如权利要求1-8中任一项所述的检测裂纹电路。
10.根据权利要求9所述的显示面板，其特征在于，所述环形检测走线设于显示面板的触控层内；所述外接信号走线及所述子像素显示走线设于显示面板的薄膜晶体管层内；所述环形检测走线穿过设于所述薄膜晶体管层上的过孔与所述外接信号走线及所述子像素显示走线实现电连接。
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