CN220068187U - 一种显示基板及其显示面板、显示装置 - Google Patents

Abstract

本公开实施例提供一种显示基板及其显示面板、显示装置。显示基板具有显示区域和围绕显示区域的边框区域，显示基板包括衬底、设置在衬底一侧的至少两个导电层，相邻两个导电层之间设置有绝缘层，显示基板还包括检测走线，检测走线位于边框区域，检测走线包括间隔排布的第一检测走线和第二检测走线，第二检测走线相对第一检测走线靠近显示区域设置，第一检测走线和第二检测走线电连接，第一检测走线和/或第二检测走线包括多个依次连接的走线段，多个走线段至少位于两个不同的导电层。本公开技术方案可以提高显示基板对裂纹的检测能力，提高产品良率。

Description

一种显示基板及其显示面板、显示装置

技术领域

本公开涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示基板及其显示面板、显示装置。

背景技术

有机发光二极体(OrganicLight-EmittingDiode，OLED)具有高响应、高对比度、可柔性化等优点，在手机、平板、电视等显示领域已经有了广泛的应用。OLED器件具有全固态结构、高亮度、全视角、响应速度快、可柔性显示等优点，已经成为极具竞争力的发展前景的下一代显示技术。

在OLED显示产品制作的过程中存在边缘受损导致裂纹的风险，进而导致屏幕显示异常的问题。相关技术中，OLED显示产品的检测能力还存在不足，导致显示产品的检测效果较差。

发明内容

本公开实施例提供一种显示基板及其显示面板、显示装置，以解决或缓解现有技术中的一项或更多项技术问题。

作为本公开实施例的第一方面，本公开实施例提供一种显示基板，具有显示区域和至少部分围绕显示区域的边框区域，显示基板包括：衬底以及设置在所述衬底一侧的至少两个导电层，相邻两个导电层之间设置有绝缘层；所述显示基板还包括检测走线，所述检测走线位于所述边框区域，所述检测走线包括间隔排布的第一检测走线和第二检测走线，所述第二检测走线相对所述第一检测走线靠近所述显示区域设置，所述第一检测走线和所述第二检测走线电连接，所述第一检测走线和/或所述第二检测走线包括多个依次连接的走线段，多个所述走线段至少位于两个不同的导电层。

在一些可能的实现方式中，各所述导电层均设置有走线段。

在一些可能的实现方式中，所述显示基板包括N个导电层，多个所述走线段中包括依次连接的N条子走线段，所述N条子走线段依次位于N个导电层中不同的导电层，N为大于等于2的正整数。

在一些可能的实现方式中，多个所述导电层包括第一金属层、第二金属层和第一电极层，所述显示基板还包括薄膜晶体管，所述第一金属层包括所述薄膜晶体管的栅电极，所述第二金属层包括所述薄膜晶体管的源电极和漏电极，所述第一电极层包括像素电极。

在一些可能的实现方式中，所述第一检测走线包括第一子检测走线和第二子检测走线，所述第一子检测走线在所述衬底上的正投影沿着第一方向延伸设置，所述第二子检测走线在所述衬底上的正投影沿着第二方向延伸设置，所述第二检测走线包括第三子检测走线和第四子检测走线，所述第三子检测走线在所述衬底上的正投影沿着所述第一方向延伸设置，所述第四子检测走线在所述衬底上的正投影沿着所述第二方向延伸设置，所述第一方向和所述第二方向为平行于所述衬底平面的方向，所述第一方向和所述第二方向相交设置。

在一些可能的实现方式中，位于所述显示区域同一侧的所述第一子检测走线和所述第三子检测走线通过M根第一连接线连接，所述第一子检测走线和所述第三子检测走线沿着所述第一方向被所述第一连接线分隔形成M+1段，M大于等于1；和/或

位于所述显示区域同一侧的所述第二子检测走线和所述第四子检测走线通过K根第二连接线连接，所述第二子检测走线和所述第四子检测走线沿着所述第二方向被所述第二连接线分隔形成K+1段，K大于等于1。

在一些可能的实现方式中，所述第一子检测走线与所述第一连接线连接的部分、所述第三子检测走线与所述第一连接线连接的部分、所述第一连接线位于同一个导电层；和/或，所述第二子检测走线与所述第二连接线连接的部分、所述第四子检测走线与所述第二连接线连接的部分、所述第二连接线位于同一个导电层。

在一些可能的实现方式中，所述检测走线在所述衬底上的正投影呈具有开口的环形，且环绕所述显示区域，所述第一检测走线包括两根第一子检测走线，两根所述第一子检测走线的一端与所述第二子检测走线的两端分别连接，所述第二检测走线包括两根第三子检测走线，两根所述第三子检测走线的一端与所述第四子检测走线的两端分别连接，位于所述显示区域同一侧的所述第一子检测走线和所述第三子检测走线通过第一连接线沿所述第一方向分隔为两个部分，位于所述显示区域同一侧的所述第二子检测走线和所述第四子检测走线通过第二连接线沿所述第二方向分隔为两个部分。

在一些可能的实现方式中，所述显示基板还包括第一测试焊盘和第二测试焊盘，所述第一测试焊盘和所述第二测试焊盘均位于所述边框区域，所述第一测试焊盘与所述第一测试走线和第二测试走线的第一端连接，所述第二测试焊盘与所述第一测试走线和第二测试走线的第二端连接，所述第一测试焊盘和所述第二测试焊盘用于与外部检测设备连接。

在一些可能的实现方式中，所述显示基板还包括位于所述衬底一侧的裂缝坝，所述裂缝坝位于所述边框区域且环绕所述显示区域设置，所述第一检测走线和所述第二检测走线在所述衬底上的正投影位于所述裂缝坝在所述衬底上的正投影的两侧。

作为本公开实施例的第二方面，本公开实施例提供一种显示面板，包括本公开实施例任一项的显示基板。

作为本公开实施例的第三方面，本公开实施例提供一种显示装置，包括本公开实施例任一项的显示基板或者本公开实施例任一项的显示面板。

本公开实施例的技术方案可以得到如下有益效果：本公开实施例的显示基板可以提高显示基板对裂纹的检测能力，提高产品良率。

上述概述仅仅是为了说明书的目的，并不意图以任何方式进行限制。除上述描述的示意性的方面、实施方式和特征之外，通过参考附图和以下的详细描述，本公开进一步的方面、实施方式和特征将会是容易明白的。

附图说明

在附图中，除非另外规定，否则贯穿多个附图相同的附图标记表示相同或相似的部件或元素。这些附图不一定是按照比例绘制的。应该理解，这些附图仅描绘了根据本公开的一些实施方式，而不应将其视为是对本公开范围的限制。

图1为本公开实施例的显示基板的平面示意图；

图2为本公开实施例的检测走线的截面示意图；

图3为本公开另一实施例的显示基板截面示意图；

图4为本公开一实施例的显示基板的截面示意图；

图5为本公开一实施例显示基板的平面示意图；

图6为本公开实施例的显示基板截面示意图；

图7为本公开实施例的显示基板的平面示意图；

图8为本公开一实施例显示基板的平面示意图；

图9为本公开裂缝坝和检测走线的局部平面示意图。

具体实施方式

在下文中，仅简单地描述了某些示例性实施例。正如本领域技术人员可认识到的那样，在不脱离本公开的精神或范围的情况下，可通过各种不同方式修改所描述的实施例。因此，附图和描述被认为本质上是示例性的而非限制性的。

有机发光二极管(OrganicLight-EmittingDiode，OLED)显示面板采用有机发光二极管作为像素矩阵以实现显示。但是，因为有机发光二极管使用的有机发光材料是一种对水氧极其敏感的材料，有机发光材料接触水氧后会很快失效，显示面板的局部甚至全局可能出现无法点亮的问题。在OLED显示面板的制备工艺过程中以及后续的模组切割等工艺过程中，显示面板的边框区域容易受到外力冲击而产生裂纹，裂纹会影响显示面板的封装效果，并且裂纹可能扩散进入显示区，进而延伸形成水氧通道，水氧很容易通过水氧通道侵蚀有机发光材料，导致显示面板产生进行性黑斑不良，而且较微弱的裂纹是一种高风险的进行性风险，严重影响产品质量。

需要说明的是，裂纹包括裂缝(Crack)和Peeling(膜层剥离)两种情况，裂缝一般是膜层平面出现裂缝导致，而膜层在垂直于膜层平面方向脱落产生Peeling，Peeling影响信号传输并且也会导致水氧通道形成。

相关技术中，为了监测显示面板周边裂纹的情况，一般通过在显示面板的边缘设置PCD线路(PanelCrackDetection)来监测显示面板周边裂纹。显示基板的边框区域设置有检测走线形成PCD线路，检测走线与显示基板的多个导电层其中的一个同层设置。示例性地，检测走线可以与栅电极层同层设置。在模组阶段(MDL)可以通过测量电阻值检测显示面板的Crack情况，根据测出的电阻值的大小，可以判断显示面板的Crack情况。检测走线围绕显示区域通过同一次图案化工艺形成。这样在显示基板的边缘膜层之间出现膜层剥离的情况下，检测走线未曾发生Crack断裂的情况，这样导致相关技术无法通过阻值测试方式检测显示基板是否出现了膜层剥离，从而导致出现膜层剥离情况的显示基板漏检，膜层剥离导致水氧通道形成从而导致显示面板出现黑斑不良。相关技术的显示基板对于膜层剥离的异常不能通过阻值测试拦截，裂纹的检测能力不足，影响了显示基板的功能和良率。

为了解决相关技术中显示基板的裂纹检测能力不足的问题，本公开实施例提供一种显示基板，下面结合附图对显示基板的技术方案进行说明。

图1为本公开实施例的显示基板的平面示意图，图2为本公开实施例的检测走线的截面示意图，图2可以为图1的A-A截面示意图。参照图1和图2所示，本公开一实施例的显示基板10可以包括显示区域10A和至少部分围绕显示区域10A的边框区域10B。显示基板10可以包括有衬底11以及设置在衬底11一侧的至少两个导电层12，相邻两个导电层12之间设置有绝缘层13。

显示基板10还可以包括检测走线14，检测走线14位于边框区域10B，检测走线14包括间隔排布的第一检测走线141和第二检测走线142，第二检测走线142相对第一检测走线141靠近显示区域10A设置，第一检测走线141和第二检测走线142电连接。第一检测走线141和/或第二检测走线142包括多个依次连接的走线段L，多个走线段L至少位于两个不同的导电层12。

通过外部检测设备与第一检测走线141和第二检测走线142的两端连接，检测检测走线14的电阻值，根据检测走线的电阻值确定显示基板10是否存在裂纹，即显示基板10是否存在裂缝以及膜层剥离的等故障。

需要说明的是，导电层12的数量为至少两个。例如导电层12的数量为两个分别为设置在衬底一侧的第一导电层和第二导电层，第一导电层和第二导电层之间设置有绝缘层13。或者导电层12的数量为三个分别为设置在衬底一侧的第一导电层、第二导电层以及第三导电层，第一导电层和第二导电层之间设置有第一绝缘层，第二导电层和第三导电层之间设置有第二绝缘层。导电层12的具体数量在此不做限定，可以根据实际使用情况进行确定。

需要说明的是，不同的导电层的材料可以相同或不相同，两个导电层之间的绝缘层的材料可以相同或者不相同。在图2和图3中，虽然导电层均采用“12”标出，但本领域技术人员可以理解，位于一个绝缘层上下两侧的两个导电层为两个导电膜层；虽然绝缘层均采用“13”标出，但本领域技术人员可以理解，位于一个导电层上下两侧的两个绝缘层为两个膜层。

第一检测走线141和/或第二检测走线142包括多个依次连接的走线段L。例如，第一检测走线141包括多个依次连接的走线段L，或者第二检测走线142包括多个依次连接的走线段L，或者第一检测走线141和第二检测走线142包括多个依次连接的走线段L。例如当导电层12的数量为三个，第一检测走线141包括多个依次连接的走线段L，走线段L至少位于两个不同的导电层12，走线段L可以位于第一导电层和第二导电层，或者走线段L可以位于第一导电层和第三导电层，或者走线段L可以位于第一导电层、第二导电层以及第三导电层。

相关技术中，检测走线14的第一检测走线141和第二检测走线142同层设置，第一检测走线141和第二检测走线142可以通过同一次图案化工艺形成，这样第一检测走线141和第二检测走线142位于同一个膜层的一侧，在显示基板出现膜层剥离的情况下，第一检测走线141和第二检测走线142未发生Crack断裂，从而导致无法通过阻值测试方法进行拦截。

需要说明的是，裂纹包括裂缝(Crack)和Peeling(膜层剥离)两种情况，裂缝一般是膜层平面出现裂缝导致，而膜层在垂直于膜层平面方向脱落产生Peeling，Peeling影响信号传输并且也会导致水氧通道形成。图2所示的显示基板中，当显示基板10产生裂纹时，位于边框区域10B的检测走线14会随着显示基板10的裂纹的而断裂。例如，当显示基板10出现裂缝时，检测走线14也会产生裂缝断开，当显示基板10出现膜层剥离时，检测走线14中位于不同导电层的走线段L也会出现膜层剥离情况，从而导致检测走线14的电阻发生变化，可以根据检测检测走线的电阻值确定显示基板10是否产生裂纹。

图2所示的显示基板中，第一检测走线141的电阻为第一电阻，第二检测走线142的电阻为第二电阻，第一电阻和第二电阻的阻值可以不同，第一检测走线141和第二检测走线142连接。例如第一检测走线141和第二检测走线142通过一连接线电连接，外部检测设备与第一检测走线141和第二检测走线142的端点连接时。当电阻为无穷大时，则第一检测走线141和第二检测走线142均出现了裂纹，则第一检测走线141和第二检测走线142对应的显示基板区域出现了裂纹。当检测电阻为第一电阻时，则第二检测走线142出现了裂纹，第二检测走线142对应的显示基板区域出现了裂纹。当检测电阻为第二电阻时，则第一检测走线142出现了裂纹，第一检测走线141对应的显示基板区域出现了裂纹，当检测电阻为第一检测走线141和第二检测走线142连接后的电阻值，则第一检测走线141和第二检测走线142均未出现裂纹，则显示基板10未出现裂纹情况，图2所示的显示基板既可以检测Crack又可以检测Peeling，从而提高了检测能力。

本公开实施例的显示基板，包括显示区域10A和至少部分围绕显示区域10A的边框区域10B，在显示基板10的衬底11的一侧设置有至少两个导电层12，相邻两个导电层12之间设置有绝缘层13。在边框区域10B设置检测走线14，检测走线14包括间隔排布的第一检测走线141和第二检测走线142，第二检测走线142相对第一检测走线141靠近显示区域，第一检测走线141和/或第二检测走线142包括多个依次连接的走线段L，多个走线段L至少位于两个不同的导电层12。从而，实现了对显示基板10在平面方向的裂缝和膜层剥离的检测，避免了由于显示基板存在裂纹而导致边框区域和显示区域之间形成水氧通道，降低了显示区域的有机发光材料被侵蚀的风险，提高了显示基板的良率，实现了对显示基板10的Peeling情况的检测，提高了显示基板裂纹的检测能力。而且，本公开实施例的显示基板在边框区域10B设置检测走线14可以避免检测走线14影响显示区域。

需要说明的是，显示基板10可以包括显示区域10A和至少部分围绕显示区域10A的边框区域10B。边框区域10B可以完全包围显示区域10A，或者边框区域10B可以部分包围显示区域10A。示例性地，如图1所示，显示区域10A大致呈矩形设置，边框区域10B可以环绕显示区域10A的三个边设置。或者边框区域10B还可以环绕显示区域10A的四个边设置。显示基板10的显示区域10A和边框区域10B可以根据实际情况进行限定。

示例性地，本公开实施例的显示基板10可以是矩形状，比如应用于手机或者平板电脑的显示基板，或者显示基板10还可以是圆形状，例如应用于手表等可穿戴设备的显示基板。本公开实施例的显示基板10的形状还可以是其它形状，本公开实施例并不以此为限。

参照图2所示，示例性地，第一检测走线141包括多个依次连接的走线段L，多个走线段L至少位于两个不同的导电层12，第二检测走线142与各导电层12其中的一个同层设置，第二检测走线142可以与第一检测走线141其中的一个走线段所在的导电层同层设置。第一检测走线141相对第二检测走线142更靠近边缘。

图3为本公开另一实施例的显示基板截面示意图。如图3所示，在一种公开实施例中，各导电层12均设置有走线段L。这样的设置，使得各导电层12的膜层剥离和裂缝的情况均可以通过检测走线检测到，进一步提高了对显示基板的边框区域10B的裂纹的检测能力，降低了显示基板产生黑斑不良的风险。

示例性地，当导电层12的数量为两个的情况时，如第一导电层和第二导电层均设置有走线段L。

示例性地，参照图3所示，当导电层12的数量为三个的情况时，第一导电层、第二导电层以及第三导电层均设置有走线段L，通过在绝缘层设置过孔将各走线段L连接，从而增强了显示基板边框区域的膜层剥离的检测能力。

各导电层12均设置有走线段L，可以为第一检测走线141包括多个走线段L位于各导电层12，或者第二检测走线142包括多个走线段L位于各导电层12，或者第一检测走线141和第二检测走线142包括的走线段L位于各导电层。例如当导电层的数量为三个的情况时，第一导电层、第二导电层以及第三导电层均设置有走线段L。可以为第一检测走线141具有三个走线段位于第一导电层、第二导电层以及第三导电层，或者第二检测走线142具有三个走线段位于第一导电层、第二导电层以及第三导电层。如图4所示，还可以为第一检测走线141具有两个走线段位于第一导电层和第二导电层，第二检测走线142具有两个走线段位于第二导电层和第三导电层。

图4为本公开一实施例的显示基板的截面示意图，参照图4所示，显示基板10的多个导电层12包括第一金属层121、第二金属层122以及第一电极层123，显示基板10还包括薄膜晶体管，第一金属层121包括薄膜晶体管的栅电极，第二金属层122包括薄膜晶体管的源电极和漏电极。第一电极层123包括像素电极。例如，第一检测走线141可以包括多个依次连接的走线段L，第一金属层121、第二金属层122以及第一电极层123均设置有走线段L，第二检测走线142可以与第一电极层123同层设置。

需要说明的是，导电层12的具体数量和结构在此不做限定，可以根据实际使用情况进行设置。

图5为本公开一实施例显示基板的平面示意图，参照图5所示，第一检测走线141包括第一子检测走线141a和第二子检测走线141b，第一子检测走线141a在衬底11上的正投影沿着第一方向X延伸设置，第二子检测走线141b在衬底11上的正投影沿着第二方向Y延伸设置。第二检测走线142包括第三子检测走线142a和第四子检测走线142b，第三子检测走线142a在衬底11上的正投影沿着第一方向X延伸设置，第四子检测走线142b在衬底11上的正投影沿着第二方向Y延伸设置，第一方向X和第二方向Y为平行于衬底11平面的方向，第一方向X和第二方向Y相交设置。这样的方式，使第一检测走线141和第二检测走线142可以从第一方向X和第二方向Y围合在显示区域的外周，第一检测走线141和第二检测走线142可以检测显示基板在第一方向X和第二方向Y形成的裂纹，从而可以进一步提高显示基板对于裂纹的检测能力。

示例性地，衬底11可以为矩形，第一方向X为平行于衬底11的长度方向，第二方向Y为平行于衬底11的宽度方向。第一方向X和第二方向Y可以垂直设置。

图6为本公开实施例的显示基板截面示意图，图6可以为图5的B-B截面示意图，参照图6所示，多个走线段L中包括依次连接的N条子走线段L1，N条子走线段L1依次位于N个导电层12中不同的导电层，显示基板10包括N个导电层，N为大于等于2的正整数。这样可以进一步提高显示基板10沿着第一检测走线141和第二检测走线142延伸方向的检测能力。

示例性地，第一检测走线141和第二检测走线142沿着走线的长度延伸方向包括多个走线段L，并且每个走线段L包括依次连接的N条子走线段，N条子走线段依次位于N个导电层12中不同的导电层，显示基板10可以包括N个导电层。例如，第一检测走线141的第一子检测走线141a沿着第一方向X设置有多个依次连接的走线段L，第一检测走线141的第二子检测走线141b沿着第二方向Y设置有多个依次连接的走线段L。这样可以提高显示基板沿着第一方向和第二方向的裂纹的检测精度，而且每个走线段包括依次连接的N条子走线段，可以进一步使得在第一方向的各导电层区域的膜层剥离和裂缝的情况均可以被检测识别，提高了显示基板的裂纹检测能力，降低了显示基板产生黑斑不良的风险。

如图5所示，在一种公开实施例中，位于显示区域同一侧的第一子检测走线141a和第三子检测走线142a通过M根第一连接线161连接，第一子检测走线141a和第三子检测走线142a沿着第一方向X被第一连接线161分隔形成M+1段，M大于等于1。位于显示区域同一侧的第二子检测走线141b和第四子检测走线142b通过K根第二连接线162连接，第二子检测走线141b和第四子检测走线142b沿着第二方向Y被第二连接线162分隔形成K+1段，K大于等于1。M可以与K值相同，或者M可以与K值不同。这样的方式，可以通过第一连接线161和第二连接线162将第一检测走线和第二检测走线分隔形成多个部分，从而可以根据外部检测设备检测确定的电阻值确定显示基板产生裂纹的精确区域。

在一种公开实施例中，位于显示区域同一侧的第一子检测走线141a和第三子检测走线142a通过M根第一连接线161连接，第一子检测走线141a和第二子检测走线142a沿着第一方向X被第一连接线161分隔形成M+1段，M大于等于1。这样可以将第一子检测走线141a和第三子检测走线142a分隔形成多个部分，从而可以根据检测确定的电阻值更精确定位确定第一子检测走线141a和第三子检测走线142a对应显示基板产生裂纹的区域。

在一种公开实施例中，位于显示区域同一侧的第二子检测走线141b和第四子检测走线142b通过K根第二连接线162连接，第二子检测走线141b和第四子检测走线142b沿着第二方向Y被第二连接线162分隔形成K+1段，K大于等于1。这样可以将第二子检测走线141b和第四子检测走线142b分隔形成多个部分，从而可以根据检测确定的电阻值更精确定位确定第二子检测走线141b和第四子检测走线142b对应显示基板产生裂纹的区域。

在一种公开实施例中，第一子检测走线141a与第一连接线161连接的部分、第三子检测走线142a与第一连接线161连接的部分、第一连接线161位于同一个导电层。第二子检测走线141b与第二连接线162连接的部分、第四子检测走线142b与第二连接线162连接的部分、第二连接线162位于同一个导电层。这样的方式，可以降低第一连接线161和第二连接线12的制备难度。

示例性地，显示基板10的多个导电层12包括第一金属层121、第二金属层122以及第一电极层123，显示基板10还包括薄膜晶体管，第一金属层121包括薄膜晶体管的栅电极，第二金属层122包括薄膜晶体管的源电极和漏电极。第一电极层123包括像素电极，第一检测走线141包括第一走线段、第二走线段以及第三走线段，第一走线段与第一金属层121同层设置，第二走线段与第二金属层122同层设置，第三走线段与第一电极层123同层设置，第二检测走线142与第一电极层123同层设置，第一连接线161和第二连接线162可以与第一电极层123同层设置，并且将第三走线段与第二检测走线142连接。这样的方式，在形成薄膜晶体管的同时可以形成检测走线，不会增加显示基板的制程工艺。

图7为本公开实施例的显示基板的平面示意图，参照图7所示，在一种公开实施例中，检测走线14在衬底11上的正投影呈具有开口的环形，检测走线14在衬底11上的正投影环绕显示区域10A。第一检测走线141包括两根第一子检测走线141a和一根第二子检测走线141b，两根第一子检测走线141a的一端与第二子检测走线141b的两端分别连接，第二检测走线142包括两根第三子检测走线142a和一根第四子检测走线142b，两根第三子检测走线142a的一端与第四子检测走线142b的两端分别连接，位于显示区域同一侧地第一子检测走线141a和第三子检测走线142a通过第一连接线161沿第一方向X分隔为两个部分，第二子检测走线141b和第四子检测走线142b通过第二连接线162沿第二方向Y分隔为两个部分，第一连接线161和第二连接线162的电阻可以不同。

示例性地，检测走线14在衬底11上的正投影呈具有开口的环形，检测走线14在衬底11上的正投影环绕显示区域10A。检测走线14可以为具有开口的圆弧状或者一侧开口的矩形状。

如图7所示，第一子检测走线141a和第三子检测走线142a位于显示基板10的左右两侧的边框区域，第二子检测走线141b和第四子检测走线142b位于显示基板上端的边框区域，位于左右两侧的第一子检测走线141a和第三子检测走线142a被第一连接线161分隔，位于上端的第二子检测走线141b和第四子检测走线142b被第二连接线162分隔。示例性地，第一检测走线141被第一连接线161和第二连接线162分隔形成的各部分电阻为R1、R2、R3以及R4，第二检测走线142被第一连接线161和第二连接线162分隔形成的各部分电阻为R5、R6、R7以及R8。这样显示基板10可以被划分为左下、左上、右下以及右上四个区域。

当显示基板10无裂缝和膜层剥离的情况，检测走线14各部分均导通，测得阻值为R11。当显示基板10出现裂纹的情况，裂纹会导致检测走线14的部分发生断裂，裂纹出现在第一检测走线141和第二检测走线142不同的部分，会导致电阻值测试设备得到的电阻值不同。例如当第一子检测走线141a的左下的走线出现裂纹的情况，则R1处断开，测出阻值为R12，当第一子检测走线141a的左下和左上的走线出现裂纹的情况，则R1和R2处断开，测出阻值为R13。当第一检测走线141和第二检测走线142同时出现裂纹，则测出的阻值为无穷大。从而，不同区域或者多个区域的检测走线出现断裂会测出不同的电阻值，通过不同的电阻值可以判断显示基板出现裂纹的区域。

本公开实施例的显示基板可以根据检测获得的阻值进一步确定裂纹在显示基板上的区域位置，从而可以提高检测的精度。

需要说明的是，图7中示意性地示出了第一连接线和第二连接线的数量。可以理解的是，第一连接线和第二连接线的数量并不限于图中示出的数量，还可以为其它数量。

图8为本公开一实施例显示基板的平面示意图，如图8所示，在一种公开实施例中，显示基板10还包括第一测试焊盘151和第二测试焊盘152，第一测试焊盘151和第二测试焊盘152均位于边框区域10B，第一测试焊盘151与第一测试走线141和第二测试走线142的第一端连接，第二测试焊盘152与第一测试走线131和第二测试走线142的第二端连接，第一测试焊盘151和第二测试焊盘152用于与外部检测设备连接。第一测试焊盘151和第二测试焊盘152可以与其中一个导电层同层设置。例如，第一检测走线包括多个走线段，第二检测走线与其中的一个走线段同层设置，第一测试焊盘151和第二测试焊盘152可以与第二检测走线同层设置。这样的方式，可以在形成第二检测走线的同时形成第一测试焊盘151和第二测试焊盘152，简化了显示基板的制程。

示例性地，第一测试焊盘151和第二测试焊盘152用于与外部检测设备连接的结构，可以为片状的一层或者多层金属层。

图9为本公开裂缝坝和检测走线的局部平面示意图，图9可以为图8的虚线框部分的局部放大示意图，参照图9所示，在一种公开实施例中，显示基板10还可以包括位于衬底11一侧的裂缝坝17，裂缝坝17位于边框区域10B且环绕显示区域10A设置，第一检测走线141和第二检测走线142在衬底11上的正投影位于裂缝坝17在衬底11上的正投影的两侧。

裂缝坝17位于衬底11的一侧，裂缝坝17位于边框区域10B，裂缝坝17可以对显示基板10的边框区域10B出现的裂纹起到阻挡作用，避免裂纹向显示区域内延伸，进而可以进一步阻挡外界水氧经过裂纹侵入显示区域10A，实现对显示区域10A中发光像素的保护。示例性地，裂缝坝17的材料可以为无机材料以实现阻挡效果。

图9所示的显示基板第一子检测走线141a与第一连接线161连接的部分、第三子检测走线142a与第一连接线161连接的部分、第一连接线161位于同一个导电层，图9中右侧的部分可以示意为第一子检测走线141a与第一连接线161连接的部分，图9中左侧的部分可以示意为第三子检测走线142a与第一连接线161连接的部分，即右侧部分、第一连接线161以及左侧部分可以通过一次图案化工艺形成。

第一检测走线141和第二检测走线142在衬底11上的正投影位于裂缝坝17在衬底11上的正投影两侧，可以通过第一检测走线141和第二检测走线142检测裂缝坝17两侧的显示基板区域是否出现了裂纹，可以进一步提高裂纹检测能力。

在一个公开实施例中，第一检测走线141和第二检测走线142在衬底11上的正投影位于裂缝坝17在衬底11上的正投影的两侧，第一检测走线141相对第二检测走线142背离显示区域10A设置，第一检测走线141包括多个依次连接的走线段L，多个走线段L至少位于两个不同的导电层12，第二检测走线142可以于导电层12其中的一个同层设置。即裂缝坝17额外侧的第一检测走线141采用多个走线段L不同层设置，裂缝坝17的内侧的第二检测走线142可以与一个导电层同层设置。这样可以减少检测走线的工艺制备步骤，而且不会降低显示基板对裂纹的检测能力。

本公开实施例显示基板应用于裂纹检测，显示基板10包括显示区域10A和至少部分包围显示区域10A的边框区域10B，在边框区域10B设置有检测走线14，方法包括：获取检测走线14的测量电阻，根据检测走线14的测量电阻确定显示基板10的裂纹位置信息。

本公开实施例的方法通过检测检测走线14的电阻，实现了对显示基板的裂缝和膜层剥离的检测，避免了相关技术对于膜层剥离漏检而导致的黑斑不良，提高了显示基板的良品率。

显示基板10的裂纹位置信息可以包括裂纹对应的导电层(即裂纹产生在哪个导电层)以及裂纹所在的区域。

在一个公开实施例中，根据检测走线的测量电阻确定显示基板的裂纹位置信息，可以包括：根据电阻与裂纹位置关系表确定与测量电阻对应的裂纹位置信息，电阻与裂纹位置关系表包括电阻与裂纹位置信息的对应关系。

示例性地，电阻与裂纹位置关系表可以为预先设置的表格，电阻与裂纹位置关系表可以包括多个不同的电阻值和裂纹位置信息，电阻值与裂纹位置信息存在对应的关系。电阻值可以为一个电阻值范围，裂纹位置信息可以包括产生裂纹的导电层以及裂纹所在的区域。例如，电阻为R1时，裂纹位置信息为X1导电层Y1区域；电阻为R2时，裂纹位置信息为X2导电层Y2区域。当测量电阻为R1时，可以根据电阻与裂纹位置关系表确定出裂纹产生在X1导电层Y1区域，从而，可以根据预先设置的电阻与裂纹位置关系表查询确定裂缝的位置信息。

示例性地，当第一连接线和第二连接线数量为一根或者多根的时，第一检测走线和第二检测走线被分隔为多个部分，可以预先确定各部分分别存在裂纹时的电阻形成电阻与裂纹位置关系表，再根据测量电阻查询电阻与裂纹位置关系表，从而确定裂纹在显示基板更精确的位置。

在一种实施方式中，第一检测走线和第二检测走线通过连接线分隔形成的各部分还可以分别设置有至少一个测试焊盘，这样可以在确定裂纹位置信息后，再通过外部检测设备与测试焊盘连接进一步定位裂纹具体位置。

示例性地，可以在显示基板的多个不同位置分别设置用于检测电阻的测试焊盘，测试焊盘可以与导电层和区域相对应。当两个测试焊盘之间的测量电阻与预设值不相同时，可以确定对应的导电层和区域产生裂纹。

本公开实施例还提供一种显示面板，包括本公开任一实施例所述的显示基板。示例性地，显示面板可以为有机发光二极管显示面板，显示基板可以为有机发光二极管显示面板的阵列显示基板，这样可以极大提升裂纹检测能力，降低显示面板产生黑斑不良的风险。

本公开又一实施例提供一种显示装置，包括本公开任一实施例所述的显示基板或者本公开任一实施例所述的显示面板，提高了显示基板的裂纹检测能力，降低了显示面板产生黑斑不良的风险，提升产品性能和竞争力。

本公开实施例提供的显示装置可以是例如智能手机、可穿戴式智能手表、智能眼镜、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪、车载显示器、电子书、生物识别设备例如智能皮肤设备、软机器人和生物医学设备等任何具有显示和触控功能的产品或部件。

上述实施例的显示基板、显示面板以及显示装置的其他构成可以采用于本领域普通技术人员现在和未来知悉的各种技术方案，这里不再详细描述。

在本说明书的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本公开和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本公开的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者多个该特征。在本公开的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本公开中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接，还可以是通信；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本公开中的具体含义。

在本公开中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

上文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本公开的不同结构。为了简化本公开，上文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本公开。此外，本公开可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。

以上，仅为本公开的具体实施方式，但本公开的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本公开揭露的技术范围内，可轻易想到其各种变化或替换，这些都应涵盖在本公开的保护范围之内。因此，本公开的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (12)

1.一种显示基板，具有显示区域和至少部分围绕所述显示区域的边框区域，其特征在于，包括：

衬底；

设置在所述衬底一侧的至少两个导电层，相邻两个导电层之间设置有绝缘层；

所述显示基板还包括检测走线，所述检测走线位于所述边框区域，所述检测走线包括间隔排布的第一检测走线和第二检测走线，所述第二检测走线相对所述第一检测走线靠近所述显示区域设置，所述第一检测走线和所述第二检测走线电连接，所述第一检测走线和/或所述第二检测走线包括多个依次连接的走线段，多个所述走线段至少位于两个不同的导电层。

2.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，各所述导电层均设置有走线段。

3.根据权利要求2所述的显示基板，其特征在于，所述显示基板包括N个导电层，多个所述走线段中包括依次连接的N条子走线段，所述N条子走线段依次位于所述N个导电层中不同的导电层，N为大于等于2的正整数。

4.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，多个所述导电层包括第一金属层、第二金属层和第一电极层，所述显示基板还包括薄膜晶体管，所述第一金属层包括所述薄膜晶体管的栅电极，所述第二金属层包括所述薄膜晶体管的源电极和漏电极，所述第一电极层包括像素电极。

5.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述第一检测走线包括第一子检测走线和第二子检测走线，所述第一子检测走线在所述衬底上的正投影沿着第一方向延伸设置，所述第二子检测走线在所述衬底上的正投影沿着第二方向延伸设置，所述第二检测走线包括第三子检测走线和第四子检测走线，所述第三子检测走线在所述衬底上的正投影沿着所述第一方向延伸设置，所述第四子检测走线在所述衬底上的正投影沿着所述第二方向延伸设置，所述第一方向和所述第二方向为平行于所述衬底平面的方向，所述第一方向和所述第二方向相交设置。

6.根据权利要求5所述的显示基板，其特征在于，

位于所述显示区域同一侧的所述第一子检测走线和所述第三子检测走线通过M根第一连接线连接，所述第一子检测走线和所述第三子检测走线沿着所述第一方向被所述第一连接线分隔形成M+1段，M大于等于1；和/或

位于所述显示区域同一侧的所述第二子检测走线和所述第四子检测走线通过K根第二连接线连接，所述第二子检测走线和所述第四子检测走线沿着所述第二方向被所述第二连接线分隔形成K+1段，K大于等于1。

7.根据权利要求6所述的显示基板，其特征在于，所述第一子检测走线与所述第一连接线连接的部分、所述第三子检测走线与所述第一连接线连接的部分、所述第一连接线位于同一个导电层；和/或，

所述第二子检测走线与所述第二连接线连接的部分、所述第四子检测走线与所述第二连接线连接的部分、所述第二连接线位于同一个导电层。

8.根据权利要求5所述的显示基板，其特征在于，所述检测走线在所述衬底上的正投影呈具有开口的环形，且环绕所述显示区域，所述第一检测走线包括两根第一子检测走线，两根所述第一子检测走线的一端与所述第二子检测走线的两端分别连接，所述第二检测走线包括两根第三子检测走线，两根所述第三子检测走线的一端与所述第四子检测走线的两端分别连接，位于所述显示区域同一侧的所述第一子检测走线和所述第三子检测走线通过第一连接线沿所述第一方向分隔为两个部分，位于所述显示区域同一侧的所述第二子检测走线和所述第四子检测走线通过第二连接线沿所述第二方向分隔为两个部分。

9.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述显示基板还包括第一测试焊盘和第二测试焊盘，所述第一测试焊盘和所述第二测试焊盘均位于所述边框区域，所述第一测试焊盘与第一测试走线和第二测试走线的第一端连接，所述第二测试焊盘与所述第一测试走线和第二测试走线的第二端连接，所述第一测试焊盘和所述第二测试焊盘用于与外部检测设备连接。

10.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述显示基板还包括位于所述衬底一侧的裂缝坝，所述裂缝坝位于所述边框区域且环绕所述显示区域设置，所述第一检测走线和所述第二检测走线在所述衬底上的正投影位于所述裂缝坝在所述衬底上的正投影的两侧。

11.一种显示面板，其特征在于，包括权利要求1至10任一项所述的显示基板。

12.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1至10中任一项所述的显示基板或权利要求11所述的显示面板。