CN111367111B - 显示面板母板及显示面板的制备方法 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种显示面板母板及显示面板的制备方法。该显示面板母板包括衬底基板；衬底基板包括多个显示面板区和至少一个切割区，切割区位于显示面板区外围；显示面板区包括多层膜层结构；至少一个切割区包括待测试膜层，待测试膜层与多层膜层结构中的一层膜层同层设置。本发明实施例提供的显示面板母板可以提高显示面板母板的利用率。

Description

显示面板母板及显示面板的制备方法

技术领域

本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板母板及显示面板的制备方法。

背景技术

在制备显示面板的过程中，先制作出显示面板母板。然后再通过切割工艺将上述显示面板母板中的切割区进行切割，以切割出多个独立的显示面板。

在制备显示面板母板的同时会在制备显示面板的区域仅制备显示面板中的一层膜层，以方便对此膜层的不良分析、追踪和数据收集等，然而，利用制备显示面板的区域制备此膜层，降低了显示面板母板的利用率，尤其当显示面板为大尺寸的车载显示面板时，由于显示面板的区域尺寸较大，显示面板母板的利用率更低。

发明内容

本发明实施例提供一种显示面板母板及显示面板的制备方法，以实现提高显示面板母板利用率的效果。

第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板母板，所述显示面板母板包括：衬底基板；所述衬底基板包括多个显示面板区和至少一个切割区，所述切割区位于所述显示面板区外围；

所述显示面板区包括多层膜层结构；

至少一个所述切割区包括待测试膜层，所述待测试膜层与所述多层膜层结构中的一层膜层同层设置。

第二方面，本发明实施例还提供了一种显示面板的制备方法，所述显示面板的制备方法包括：

提供第一方面所述的显示面板母板；

切割所述切割区，以形成显示面板。

本发明实施例提供的显示面板母板及显示面板的制备方法，通过利用切割区制备待测试膜层，相比于现有技术中的占用制作显示面板的区域制备待测试膜层，提高了显示面板母板的衬底基板利用率，尤其当显示面板为大尺寸的车载显示面板时，提高了显示面板母板利用率；此外，待测试膜层与显示面板区的多层膜层结构中的一层膜层同层设置，即当需要对显示面板中的其中一层膜层进行测试时，在显示面板母板的显示面板区制备此层膜层的同时在切割区仅制备此膜层，无需单独制备，简单工艺步骤；且当测试完成后，直接切割掉此切割区即可，不会对正常的显示面板区中的膜层结构有任何影响。

附图说明

通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显：

图1是现有技术中一种显示面板母板的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的一种显示面板母板的结构示意图；

图3是图2沿Q-Q’方向的截面图；

图4是本发明实施例提供的又一种显示面板母板的结构示意图；

图5是图4沿W-W’方向的截面图；

图6是本发明实施例提供的又一种显示面板母板的结构示意图；

图7是本发明实施例提供的又一种显示面板母板的结构示意图；

图8是本发明实施例提供的又一种显示面板母板的结构示意图；

图9是图8的局部放大图；

图10是本发明实施例提供的又一种显示面板母板的结构示意图；

图11是本发明实施例提供的又一种显示面板母板的结构示意图；

图12是本发明实施例提供的又一种显示面板母板的结构示意图；

图13是本发明实施例提供的又一种显示面板母板的结构示意图；

图14是本发明实施例提供的又一种显示面板母板的结构示意图；

图15是本发明实施例提供的又一种显示面板母板的结构示意图；

图16是图15的局部放大图；

图17是本发明实施例提供的又一种显示面板母板的结构示意图；

图18是本发明实施例提供的又一种显示面板母板的结构示意图；

图19是本发明实施例提供的一种有机发光显示面板的膜层结构示意图；

图20是本发明实施例提供的一种液晶显示面板的膜层结构示意图；

图21是本发明实施例提供的又一种液晶显示面板的膜层结构示意图；

图22是本发明实施例提供的又一种液晶显示面板的膜层结构示意图；

图23是本发明实施例提供的一种显示面板的制备方法的流程图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，以下将结合本发明实施例中的附图，通过具体实施方式，完整地描述本发明的技术方案。显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本发明的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下获得的所有其他实施例，均落入本发明的保护范围之内。

图1是现有技术中的一种显示面板母板的结构示意图，如图1所示，显示面板母板包括衬底基板10’，衬底基板10’包括多个显示面板区20’和至少一个待测试膜层设置区30’。显示面板区20’用于制备显示面板，待测试膜层设置区30’用于制备待测试膜层，当需要对显示面板中的一层膜层进行测试时，则在待测试膜层设置区30’仅制备需要测试的膜层。当需要对显示面板中的多个膜层进行测试时，则显示面板母板包括多个待测试膜层设置区30’，每个待测试膜层设置区30’制备一个待测试膜层。由于待测试膜层设置区30’占用了本应制备显示面板的区域，降低了显示面板母板的利用率，尤其当显示面板为大尺寸的车载显示面板时，由于显示面板区的尺寸较大，显示面板母板利用率更低。

有鉴于此，本发明实施例提供一种显示面板母板，包括：衬底基板；衬底基板包括多个显示面板区和至少一个切割区，切割区位于所述显示面板区外围；显示面板区包括多层膜层结构；至少一个切割区包括待测试膜层，待测试膜层与多层膜层结构中的一层膜层同层设置。

采用上述技术方案，通过利用切割区制备待测试膜层，相比于现有技术中的占用制作显示面板的区域制备待测试膜层，提高了显示面板母板的衬底基板利用率，尤其当显示面板为大尺寸的车载显示面板时，提高了显示面板母板利用率；此外，待测试膜层与显示面板区的多层膜层结构中的一层膜层同层设置，即当需要对显示面板中的其中一层膜层进行测试时，在显示面板母板的显示面板区制备此层膜层的同时在切割区仅制备此膜层，无需单独制备，简单工艺步骤；且当需要测试时，直接将切割掉的包括待测试膜层的切割区进行测试即可；或者，将包括多层膜层结构的显示面板区以及包括待测试膜层的切割区进行测试，当测试完成后，直接切割掉此切割区即可，不会对正常的显示面板区中的膜层结构有任何影响。

以上是本发明的核心思想，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

图2是本发明实施例提供的一种显示面板母板的结构示意图，图3是图2沿Q-Q’方向的截面图，如图2和图3所示，该显示面板母板，包括：衬底基板10；衬底基板10包括多个显示面板区20和至少一个切割区30，切割区30位于显示面板区20外围；显示面板区20包括多层膜层结构21；至少一个切割区30包括待测试膜层300，待测试膜层300与多层膜层结构21中的一层膜层同层设置。

具体的，本发明实施例提供的显示面板母板中包括至少一个切割区30，由于在制备显示面板的过程中，先制作出显示面板母板。然后再通过切割工艺对上述显示面板母板中的切割区30进行切割，以切割出多个独立的显示面板，而本实施例正是利用切割区30，而非利用显示面板区20，制备待测试膜层300，如此，相比于现有技术中的占用制备显示面板的区域制备待测试膜层，提高了显示面板母板的利用率。

进一步的，由于待测试膜层300与多层膜层结构21中的一层膜层同层设置，即当需要对显示面板中的其中一层膜层进行测试时，在显示面板母板的显示面板区制备的同时在切割区30仅制备此膜层，即为待测试膜层300，无需单独制备待测试膜层300，简化工艺步骤；且当需要测试时，直接将切割掉的包括待测试膜层30的切割区30进行测试；或者，为了防止切割时，对切割区30的待测试膜层300有影响，如，切割不精准，导致切割区30的待测试膜层300的尺寸减小影响测试，可以将包括多层膜层结构21的显示面板区20以及包括待测试膜层300的切割区30进行测试，当测试完成后，直接切割掉此切割区30即可，不会对正常的显示面板区中的膜层结构有任何影响。

示例性的，显示面板区20设置有液晶显示面板，液晶显示面板中的多层膜层结构21中的一层膜层结构包括配向膜，此次的测试项目为对配向膜的厚度进行测量，以方便后续对显示面板母板进行显示测试，出现显示不良的问题时，确定显示不良是否是配向膜的厚度不精确造成的。具体的，制备液晶显示面板的各膜层结构，当制备到配向膜此层结构时，不仅在显示面板区20制备配向膜，同时在切割区30的位置同样制备配向膜，即切割区30仅包括配向膜这一层膜层结构，当显示面板母板制备完成后，通过切割工艺将显示面板母板中的切割区30进行切割，以切割出多个独立的液晶显示面板。其中，切割掉的切割区30包括需要测试的膜层，即配向膜，如需测试时，直接将包括配向膜的切割区测试即可，即利用切割区30，而非利用显示面板区20，制备需要进行测试的配向膜，如此，相比于现有技术中的占用制备显示面板的区域制备需要进行测试的配向膜，提高了显示面板母板的利用率。

需要说明的是，图2仅以位于同一行相邻显示面板区20之间的切割区30设置待测试膜层300为例进行说明，但是本实施例对此不进行具体限定，只要可以在切割区30设置待测试膜层300，且可以对待测试膜层300进行测试即可。

本领域技术人员可以理解，便于说明待测试膜层300的位置关系，图3仅简单示出了待测试膜层300和三层膜层结构21的相对位置关系，下文中同样为了清楚说明待测试膜层300的位置关系，均在图示中仅示出待测试膜层300和膜层结构21，但在实际中显示面板区20还包括其他膜层和结构等，在此均不再示出。

可选的，衬底基板10对显示面板区20中的设置的膜层具有支撑和保护作用。衬底基板10可以为刚性基板或柔性基板，其中，刚性基板的材料可以为玻璃，柔性基板的材料可以为聚酰亚胺，衬底基板10的厚度可以根据工艺需求和产品要求等设置。

可选的，图4是本发明实施例提供的又一种显示面板母板的结构示意图，图5是图4沿W-W’方向的截面图，如图4和图5所示，衬底基板10包括第一切割区31和第二切割区32；多层膜层结构21包括第一膜层结构211和第二膜层结构212；待测试膜层300包括第一待测试膜层301和第二待测试膜层302；第一切割区31包括第一待测试膜层301；第二切割区32包括第二待测试膜层302；第一待测试膜层301与第一膜层结构211同层设置；第二待测试膜层302与第二膜层结构212同层设置；其中，第一膜层结构211和第二膜层结构212位于不同膜层。

具体的，衬底基板10包括第一切割区31和第二切割区32，可在第一切割区31和第二切割区32分别设置不同的待测试膜层300，即无需占用显示面板区20即可完成多层膜层结构21中的两个膜层的测试，提高了显示面板母板的利用率。

示例性的，显示面板区20设置有液晶显示面板，液晶显示面板中的多层膜层结构21包括第二电极和配向膜，此次的测试项目为对第二电极的厚度以及配向膜的电阻率进行测量，以方便后续对显示面板母板进行显示测试，出现显示不良的问题时，确定显示不良是否是第二电极的厚度以及配向膜的电阻率不精确造成的。具体的，制备液晶显示面板的各膜层结构，当制备到配向膜此层结构时，不仅在显示面板区20制备配向膜，同时在第一切割区31的位置同样制备配向膜，即第一切割区31仅包括配向膜这一层膜层结构，当制备到第二电极此层结构时，不仅在显示面板区20制备第二电极，同时在第二切割区32的位置同样制备第二电极，即第二切割区32仅包括第二电极层这一层膜层结构，当显示面板母板制备完成后，通过切割工艺将显示面板母板中的第一切割区31和第二切割区32进行切割，以切割出多个独立的液晶显示面板。其中，切割掉的第一切割区31和第二切割区32包括需要测试的膜层，即位于第一切割区31的配向膜和第二切割区32的第二电极，如需测试时，直接将包括配向膜的第一切割区31以及包括第二电极层的第二切割区32测试即可，即利用第一切割区31和第二切割区32，而非利用显示面板区20，制备需要进行测试的第二电极和配向膜，如此，相比于现有技术中的占用制备显示面板的区域制备需要进行测试的第二电极和配向膜，提高了显示面板母板的利用率。

可选的，图6是本发明实施例提供的又一种显示面板母板的结构示意图，如图6所示，衬底基板10包括多个切割区30，则可在多个切割区30分别设置不同的待测试膜层300，其中每个切割区30设置的待测试膜层300在显示面板中的膜层结构中位于不同的膜层，如此，一个显示面板母板可以完成显示面板中多个膜层的测试。相比于现有技术中，如果需对多个膜层进行测试时，需要占用多个显示面板区20设置待测试膜层，本实施例直接利用不同的切割区30分别设置多个待测试膜层300，进一步提高了显示面板母板的利用率。

可选的，图7是本发明实施例提供的又一种显示面板母板的结构示意图，如图7所示，显示面板区20包括绑定区22；绑定区22设置有引线焊盘221；显示面板母板还包括设置于显示面板区20外围的至少一条引线40；引线40的第一端与待测试膜层300电连接，引线40的第二端与引线焊盘221电连接。

其中，可通过引线40对待测试膜层300的电学性能进行测试。需要说明的是，引线40数量以及测试焊盘221数量的设置可以根据测试项目进行调整，本实施例不进行具体限定，只要可以获得待测试膜层300的电学性能即可。例如当需要对待测膜层300的电阻率进行测试时，需要通过万用表中的两个探针电连接至待测试膜层300的两侧，此时需要设置至少两条引线40以及至少两个测试焊盘221。

示例性的，显示面板区20设置有液晶显示面板，此次的测试项目对液晶显示面板中的第二电极的电阻率进行测试。继续参见图7，相邻显示面板区20之间的切割区30设置有第二电极，同时设置有两条引线40，靠近切割区30中的第二电极两侧的两个显示面板区20中的绑定区22中分别设置有引线焊盘221。其中，一条引线40的第一端与第二电极的其中一侧电连接，引线40的第二端与其中一个引线焊盘221电连接，另一条引线40的第一端与第二电极的另一侧电连接，引线40的第二端与另一个引线焊盘211电连接，例如可以直接将万用表的探针电连接至两个引线焊盘221即可获得位于切割区30的第二电极的电阻，由于ρ＝R(S/L)，其中，R为切割区30的第二电极的电阻；S为切割区30的第二电极的面积，可通过测量获得；L为切割区30的第二电极的长度，可通过测量获得，如此，可计算出第二电极的电阻率，操作简单。

本实施例中，在制备显示面板母板的同时在显示面板区20外围制备至少一条引线40，引线40的第一端与待测试膜层300电连接，引线40的第二端与引线焊盘电221连接，当需要对待测试膜层300进行电学性能测试时，只需要将测试仪器的探针电连接至引线焊盘221即可获得检测信号，操作简单。此外，由于引线焊盘221设置在绑定区22，且引线焊盘221的尺寸较小，所以不会对显示面板区设置的显示面板中的结构有影响；且由于绑定区22本就设置有点亮测试的测试焊盘，所以当设置测试焊盘的同时设置引线焊盘221，即无需单独设置引线焊盘221，如此，既可以获得检测信号，操作简单，同时还不会增加额外的工艺步骤。此外，由于引线40设置在显示面板区20外围，当测试完成后，直接将包括引线40的切割区30切割掉即可，不会对正常的显示面板区中的结构有任何影响。

可选的，图8是本发明实施例提供的又一种显示面板母板的结构示意图，图9是图8的局部放大图，如图8和图9所示，切割区30位于至少两个显示面板区20之间；至少两个显示面板区20至少包括第一显示面板区210和第二显示面板区220；第一显示面板区210包括第一绑定区23，第一绑定区23设置有第一引线焊盘222；第二显示面板区20包括第二绑定区24，第二绑定区24设置有第二引线焊盘223；显示面板母板还包括设置于显示面板区外围的至少两条引线40；至少两个引线40至少包括第一引线41和第二引线42；第一引线41的第一端与待测试膜层300电连接，第一引线41的第二端与第一引线焊盘222电连接；第二引线42的第一端与待测试膜层300电连接，第二引线42的第二端与第二引线焊盘223电连接。

本实施例中，在制备显示面板母板的同时在显示面板区20外围制备至少两条引线40，至少两条引线40的第一端同时与待测试膜层300电连接，至少两条引线40的第二端分别与不同的引线焊盘223电连接，当需要对待测试膜层300进行电学性能测试时，可通过不同的引线40和引线焊盘223分别获得待测试膜层300的电学性能，进而可基于分别获得的待测试膜层300的电学性能确认待测试膜层300的电学性能，提高了测试的准确性。此外，将分别对待测试膜层300进行测试的引线焊盘221设置在不同的显示面板区20的绑定区22，如此，可减小绑定区22设置引线焊盘221的面积，进而减小绑定区22的面积。需要说明的是，引线40数量以及测试焊盘221数量的设置可以根据测试项目以及测试精度进行调整，本实施例不进行具体限定。

可选的，显示面板区包括异形显示面板区，当显示面板区包括异形显示面板区时，可依据测试项目、显示面板区的大小、显示面板母板中显示面板区的排布方式以及对待测试膜层进行测试时所需的尺寸等，来选择合适的切割区设置待测试膜层。下面就以具体典型示例性进行详细介绍，但不构成对本申请的限定。

可选的，图10是本发明实施例提供的又一种显示面板母板的结构示意图，如图10所示，显示面板区20包括异形显示面板区240；切割区30包括第三切割区33；至少一个第三切割区33位于每个异形显示面板区240的外围；至少一个第三切割区33包括待测试膜层300。

其中，当显示面板区20包括异形显示面板区240时，可利用一个异形显示面板区240的外围设置待测试膜层300，具体的，参见图10，可以用异形显示面板区240倒角的位置设置待测试膜层300，由于此位置面积较大，如果测试的项目要求待测试膜层300的尺寸较大，可将待测试膜层300设置在异形显示面板区240倒角的位置，进一步提高显示面板母板的利用率。此外，既可以在倒角的位置设置待测试膜层300，同时也可以在相邻的显示面板区20之间设置待测试膜层300，如此，进一步增加了测试的区域，即可完成多个膜层的测试。

可选的，图11是本发明实施例提供的又一种显示面板母板的结构示意图，如图11所示，切割区30包括第四切割区34；显示面板区20包括异形显示面板区240；多个异形显示面板区240阵列排布，每个异形显示面板区240包括倒角241；同一行相邻的两个异形显示面板区240的倒角241之间围绕形成第四切割区34；或者，图12是本发明实施例提供的又一种显示面板母板的结构示意图，如图12所示，同一列相邻的两个异形显示面板区240的倒角241之间围绕形成第四切割区34；至少一个第四切割区34包括待测试膜层300。

其中，当显示面板区20包括异形显示面板区240时，可利用相邻的两个异形显示面板区240的倒角241之间围绕形成的区域设置待测试膜层300，例如参见图11，可以是同一行相邻的两个异形显示面板区240的倒角241之间围绕的区域设置待测试膜层300；或者，参见图12，同一列相邻的两个异形显示面板区240的倒角241之间围绕的区域设置待测试膜层300，如此，不仅可以提高显示面板母板的利用率；同时，设置的待测试膜层300的尺寸可以较大，方便测试。

可选的，图13是本发明实施例提供的又一种显示面板母板的结构示意图，如图13所示，切割区30包括第五切割区35；显示面板区20包括异形显示面板区240；异形显示面板区240包括倒角241；至少三个异形显示面板区240的倒角围绕成形成第五切割区35；至少一个第五切割区35包括所述待测试膜层300。

其中，当显示面板区20包括异形显示面板区240时，可利用至少三个异形显示面板区240的倒角围绕成形成的区域设置待测试膜层300，如此，不仅可以提高显示面板母板的利用率；同时，设置的待测试膜层300的尺寸可以较大，方便测试。

可选的，图14是本发明实施例提供的又一种显示面板母板的结构示意图，如图14所示，显示面板区20包括异形显示面板区240；切割区30包括第五切割区35；异形显示面板区240包括倒角241；至少三个异形显示面板区240的倒角围绕成形成第五切割区35；显示面板母板包括多个第五切割区35，则可在多个第五切割区35分别设置不同的待测试膜层300，其中每个第五切割区35设置的待测试膜层300在显示面板中的膜层结构中位于不同的膜层，如此，一个显示面板母板可以完成显示面板中多个膜层的测试。相比于现有技术中，如果需对多个膜层进行测试时，需要占用多个显示面板区20设置待测试膜层，本实施例直接利用第五切割区35设置待测试膜层300，提高了显示面板母板的利用率；同时由于至少三个异形显示面板区240的倒角围绕成形成的第五切割区35的尺寸较大，所以设置的待测试膜层300的尺寸可以较大，方便测试。

可选的，图15是本发明实施例提供的又一种显示面板母板的结构示意图，图16是图15的局部放大图，如图15和图16所示，显示面板区20包括异形显示面板区240；异形显示面板区240包括倒角241；至少三个异形显示面板区240的倒角围绕成形成的切割区30设置有待测试膜层300；显示面板母板还包括四条引线40，分别为引线45、引线46、引线47和引线48；引线45、引线46、引线47和引线48的第一端同时与待测试膜层300电连接，引线45、引线46、引线47和引线48的第二端分别与不同的引线焊盘221电连接。示例性的，当需要测试待测试膜层300的电阻率时，可以将万用表的两个探针分别电连接至与引线45电连接的引线焊盘以及与引线46电连接的引线焊盘，得到待测试膜层300的电阻，进而根据已知的待测试膜层的面积以及距离计算得到待测试膜层300的电阻率。此外，还可通过将万用表的两个探针分别电连接至与引线45电连接的引线焊盘以及与引线46电连接的引线焊盘，得到待测试膜层300的电阻之后，将万用表的两个探针分别电连接至与引线47电连接的引线焊盘以及与引线48电连接的引线焊盘，再一次得到待测试膜层300的电阻，基于两次的测量结构求平均值，进而得到待测试膜层300的电阻率，如此，可以提高测试精度。需要说明的是，本实施例仅以一个待测试膜层300同时电连接4个引线40为例，但是不构成对本申请的限定，本领域技术人员可以根据测试项目以及需求的测试精度对引线40的数量进行调整。

以上实施例是对当显示面板区包括异形显示面板区时，可依据测试项目、显示面板区的大小、显示面板母板中显示面板区的排布方式以及对待测试膜层进行测试时所需的尺寸，选择切割区设置待测试膜层，以提高显示面板母板的利用率。

可选的，当显示面板区包括异形显示面板区，且异形显示面板区包括缺口区时，可在缺口区设置待测试膜层，也可在相邻两个显示面板区的缺口区围成成的区域设置待测试膜层，还可在相邻两个显示面板区的缺口区围成的区域以及异形显示面板区的倒角围绕成的区域设置待测试膜层，具体可依据异形显示面板区的大小、显示面板母板中异形显示面板区的排布方式以及对待测试膜层进行测试时所需的尺寸等，选择切割区设置待测试膜层。下面就以具体典型示例性进行详细介绍，但不构成对本申请的限定。

可选的，图17是本发明实施例提供的又一种显示面板母板的结构示意图，如图17所示，显示面板区20包括异形显示面板区240，异形显示面板区240的缺口区242位于切割区30；相邻两个显示面板区240的缺口区242相邻设置，相邻设置的两个缺口区242形成公共缺口区243；公共缺口区243包括待测试膜层300。

本实施中，可利用相邻两个显示面板区240的相邻设置的两个缺口区242围绕成的区域设置待测试膜层300，由于此位置面积较大，如果测试的项目要求待测试膜层300的尺寸较大，可将待测试膜层300设置在相邻设置的两个缺口区242围绕成的区域，进一步提高显示面板母板的利用率。此外，既可以在倒角的位置设置待测试膜层300，同时也可以在相邻的显示面板区20之间设置待测试膜层300，又可以在相邻设置的两个缺口区242围绕成的区域设置待测试膜层300，如此，进一步增加了测试的区域，即可完成较多膜层的测试，同时还不会占用显示面板区20。

可选的，图18是本发明实施例提供的又一种显示面板母板的结构示意图，如图18所示，显示面板区20包括异形显示面板区240，异形显示面板区240的缺口区242位于切割区30；相邻两个显示面板区240的缺口区242相邻设置，相邻设置的两个缺口区242形成公共缺口区243；异形显示面板区240包括倒角241；至少三个异形显示面板区240的倒角围绕成形成第五切割区35；显示面板母板包括多个第五切割区35和多个公共缺口区243，则可在多个第五切割区35和多个公共缺口区243分别设置不同的待测试膜层300，其中每个第五切割区35以及公共缺口区243设置的待测试膜层300在显示面板中的膜层结构中位于不同的膜层，如此，一个显示面板母板可以完成显示面板中多个膜层的测试。相比于现有技术中，如果需对多个膜层进行测试时，需要占用多个显示面板区20设置待测试膜层，本实施例直接利用第五切割区35和公共缺口区243设置待测试膜层300，提高了显示面板母板的利用率；同时由于至少三个异形显示面板区240的倒角围绕成形成的第五切割区35以及相邻设置的两个缺口区242形成公共缺口区243的尺寸较大，所以设置的待测试膜层300的尺寸可以较大，方便测试。

可选的，图19是本发明实施例提供的一种有机发光显示面板的膜层结构示意图，如图19所示，显示面板区20设置有有机发光显示面板400，有机发光显示面板400包括位于衬底基板10一侧的第一像素单元410；第一像素单元410包括第一驱动电路411和有机发光元件412，第一驱动电路411用于驱动有机发光元件412发光；第一驱动电路411包括至少一个第一薄膜晶体管413；第一薄膜晶体管413包括第一栅极G1、第一源极S1和第一漏极D1；有机发光元件412包括阳极414、发光层415和阴极416；多层膜层结构21包括第一栅极G1、第一源极S1、第一漏极D1、阳极414以及阴极416；待测试膜层300包括第一栅极G1、第一源极S1、第一漏极D1、阳极414以及阴极416中的其中一层；或者，图20是本发明实施例提供的一种液晶显示面板的膜层结构示意图，如图20所示，显示面板区20设置有液晶显示面板500，液晶显示面板500包括阵列基板510、彩膜基板520、位于阵列基板510和彩膜基板520之间的液晶层530；阵列基板510包括第二驱动电路511、位于第二驱动电路511朝向彩膜基板520一侧的第二电极515、第二电极515朝向彩膜基板520一侧的第一电极512和位于第一电极512朝向彩膜基板520的第一配向膜513；第二驱动电路511包括至少一个第二薄膜晶体管514；第二薄膜晶体管514包括第二栅极G2、第二源极S2和第二漏极D2；彩膜基板520包括黑矩阵521、色阻层522、色阻层522朝向阵列基板510一侧的平坦层523、平坦层523朝向阵列基板510一侧的第二配向膜524；多层膜层结构21包括第二栅极G2、第二源极S2、第二漏极D2、第二电极515、第一电极512、第一配向膜513、第二配向膜525、液晶层530、黑矩阵521、色阻层522以及平坦层523，待测试膜层300包括第二栅极G2、第二源极S2、第二漏极D2、第二电极515、第一电极512、第一配向膜513、第二配向膜525、液晶层530、黑矩阵521、色阻层522以及平坦层523中的其中一层。

本实施例中，显示面板区30设置有有机发光显示面板400，有机发光显示面板400包括第一栅极G1、第一源极S1、第一漏极D1、阳极414以及阴极416等膜层结构，如需对第一栅极G1、第一源极S1、第一漏极D1、阳极414以及阴极416等膜层结构中的一种膜层进行测试，则只需在制备显示面板中的此层结构的同时，在切割区30同样制备此膜层结构即可；如需对第一栅极G1、第一源极S1、第一漏极D1、阳极414以及阴极416等膜层结构都进行测试，则可在不同的切割区30分别制备第一栅极G1、第一源极S1、第一漏极D1、阳极414以及阴极416，即无需占用显示面板区20即可完成多层膜层结构21的测试，提高了显示面板母板的利用率；显示面板区30设置有液晶显示面板500，液晶显示面板500包括第二栅极G2、第二源极S2、第二漏极D2、第二电极515、第一电极512、第一配向膜513、第二配向膜525、液晶层530、黑矩阵521、色阻层522以及平坦层523等膜层结构，如需对第二栅极G2、第二源极S2、第二漏极D2、第二电极515、第一电极512、第一配向膜513、第二配向膜525、液晶层530、黑矩阵521、色阻层522以及平坦层523等膜层结构中的一种膜层进行测试，则只需在制备显示面板中的此层结构的同时，在切割区30同样制备此膜层结构即可；如需对第二栅极G2、第二源极S2、第二漏极D2、第二电极515、第一电极512、第一配向膜513、第二配向膜525、液晶层530、黑矩阵521、色阻层522以及平坦层523等膜层结构都进行测试，则可在不同的切割区30分别制备第二栅极G2、第二源极S2、第二漏极D2、第二电极515、第一电极512、第一配向膜513、第二配向膜525、液晶层530、黑矩阵521、色阻层522以及平坦层523，即无需占用显示面板区20即可完成多层膜层结构21的测试，提高了显示面板母板的利用率。需要说明的是，在实际设置时，不管是有机发光显示面板，还是液晶显示面板，具体结构可以有多种。不同类型的显示面板，其工作原理略有不同，对应的膜层结构的位置设置同样也略有差异。例如，图20中是以第一电极512和第二电极515均位于阵列基板510，且第一电极512位于第二电极515靠近彩膜基板520一侧的方式为例进行说明，也可以是第一电极512和第二电极515均位于阵列基板510，且第一电极512位于第二电极515靠近彩膜基板520的一侧，或者第一电极512和第二电极515位于同一膜层；还可以是第一电极512位于阵列基板510，第二电极515位于彩膜基板520，本申请对此不进行具体限定。上述示例仅是典型示例，但不构成对本申请的限定，本领域技术人员可以根据实际情况设置，只要可以利用切割区完成对待测试膜层的测试，无需占用显示面板区即可。

在上述方案的基础上，可选的，图21是本发明实施例提供的又一种液晶显示面板的膜层结构示意图，如图21所示，显示面板区设置有液晶显示面板500；多层膜层结构21还包括触控走线60和触控电极61；多层膜层结构21还包括触控走线60和触控电极61；待测试膜层300包括第二栅极G2、第二源极S2、第二漏极D2、第二电极515、第一电极512、第一配向膜513、第二配向膜525、液晶层530、黑矩阵521、色阻层522、平坦层523、触控走线60和触控电极61中的其中一层。

其中，当显示面板区20设置有液晶发光显示面板500时，触控走线60和触控电极61电连接，触控电极61用来检测用户的触摸位置，并通过触控走线60将检测的位置信号发送至芯片。触控电极61可以为自容式触控电极，也可以为互容式触控电极，本实施例不进行具体限定，本领域技术人员根据可根据实际情况进行设置即可，相应的，触控走线60和触控电极61在膜层中的位置也会不同。当多层膜层结构21还包括触控走线60和触控电极61时，如需对第二栅极G2、第二源极S2、第二漏极D2、第二电极515、第一电极512、第一配向膜513、第二配向膜525、液晶层530、黑矩阵521、色阻层522、平坦层523、触控走线60和触控电极61等膜层结构中的一种膜层进行测试，则只需在制备显示面板中的此层结构的同时，在切割区30同样制备此膜层结构即可；如需对第二栅极G2、第二源极S2、第二漏极D2、第二电极515、第一电极512、第一配向膜513、第二配向膜525、液晶层530、黑矩阵521、色阻层522、平坦层523、触控走线60和触控电极61等膜层结构都进行测试，则可在不同的切割区30分别制备第二栅极G2、第二源极S2、第二漏极D2、第二电极515、第一电极512、第一配向膜513、第二配向膜525、液晶层530、黑矩阵521、色阻层522、平坦层523、触控走线60和触控电极61，即无需占用显示面板区20即可完成多层膜层结构21的测试，提高了显示面板母板的利用率。

可选的，继续参见图21，显示面板区20中设置的液晶显示面板500的第二电极515复用为触控电极61。如此可简化工艺步骤。可以理解的是，当第二电极515复用为触控电极61时，当需要对此膜层进行测试时，待测试膜层300包括触控电极61或第二电极515。

可选的，继续参见图21，触控电极61与触控走线60通过连接结构62电连接，其中，连接结构62与第一电极512同层设置，如此，可利用第一电极512与第二薄膜晶体管514中的第二漏极D2实现电连接所采用的打孔工艺，实现触控电极61和触控走线60的电连接，无需单独打孔，简化工艺。

需要说明的是，在实际设置时，液晶显示面板，触控走线60和触控电极61的具体结构可以有多种。图21仅是一种典型示例，但不构成对本申请的限定，本领域技术人员可以根据实际情况设置，只要可以利用切割区完成对待测试膜层的测试，无需占用显示面板区即可。

还需要说明的是，本实施例仅对当显示面板区20设置有液晶显示面板时的触控电极和触控走线进行示例性说明。但是不构成对本申请的限定。当显示面板区20设置有机发光显示面板时，且触控电极和触控电极集成在有机发光显示面板内时，多层膜层结构不仅包括上述实施例中的有机发光显示面板中的膜层结构，例如，参见图19，第一栅极G1、第一源极S1、第一漏极D1、阳极414以及阴极416，还包括触控电极和触控走线(图中未示出)，待测试膜层300包括上述实施例有机发光显示面板中的膜层结构、触控走线和触控电极中的其中一种。

可选的，继续参见图19，当显示面板区20设置有有机发光显示面板时，引线40与第一栅极G1、第一源极S1、第一漏极D1、阳极414以及阴极416中的一种同层设置；继续参见图20，当显示面板区设置有液晶显示面板500时，引线40与第二栅极G2、第二源极S2、第二漏极D2、第一电极512以及第二电极524中的一种同层设置。

本实施例通过在切割区30设置引线40，其中，引线40与显示面板中的膜层同层设置，既可以方便对待测试膜层300进行电学性能测试，同时通过引线40与显示面板中的膜层采用同种材料在同一工艺中形成，即在形成显示面板中的膜层的同时形成引线40，结构简单，无需额外增加一道工艺制程，减少了工艺流程，降低显示面板的制作成本。此外，当显示面板区20设置有有机发光显示面板时，引线40可以与第一栅极G1、第一源极S1、第一漏极D1、阳极414以及阴极416中的任意一种同层设置；或者，当显示面板区设置有液晶显示面板500时，引线40与第二栅极G2、第二源极S2、第二漏极D2、第一电极512以及第二电极524中的任意一种同层设置，本领域技术人员可以根据实际情况进行选择，只要可以实现对待测试膜层300的测试即可，这样设置的好处在于使得引线40的设置更加的灵活，且可以对其他膜层的影响较小。

可选的，图22是本发明实施例提供的又一种液晶显示面板的膜层结构示意图，如图22所示，当待测试膜层300为液晶层530时，切割区30还包括围绕待测试膜层300设置的第一框胶532。

当需要对液晶的性能进行测试时，例如对液晶的杂离子浓度进行测试，在显示面板区20制备液晶层530的同时，在切割区30同样设置液晶层，无需占用显示面板区20即可完成对液晶层530的测试，提高了显示面板母板的利用率。通过设置第一框胶532防止液晶的流出，方便测试。

可选的，继续参见图22，液晶显示面板500还包括位于阵列基板510和彩膜基板520之间，且围绕液晶层530设置的第二框胶531；第二框胶531和第一框胶同层设置。

当第二框胶531和第一框胶532同层设置，无需在切割区30单独制备框胶以防止切割区30的液晶的流出，简化工艺步骤。

基于同样的发明构思，本发明实施例还提供了一种显示面板的制备方法。图23是本发明实施例提供的一种显示面板的制备方法的流程图，如图23所示，该显示面板的制备方法包括：

S110、提供显示面板母板。

其中，显示面板母板包括衬底基板，衬底基板包括切割区和显示面板区。在衬底基板对应显示面板区可制备显示面板中的膜层结构，在阵列基板对应切割区可制备待测试膜层，多个显示面板可通过切割一个显示面板母板获得，提高生产效率；同时，利用获得显示面板时切割掉的切割区设置待测试膜层，即无需占用显示面板区即可完成对待测试膜层的测试，提高了显示面板母板的利用率。

S120、切割切割区，以形成显示面板。

其中，由于设置有待测试膜层的切割区可以直接切割掉，不会对显示面板有任何影响。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种显示面板母板，其特征在于，包括：衬底基板；所述衬底基板包括多个显示面板区和至少一个切割区，所述切割区位于所述显示面板区外围；

所述显示面板区包括多层膜层结构；

至少一个所述切割区包括待测试膜层，所述待测试膜层与所述多层膜层结构中的一层膜层同层设置；

所述显示面板区包括异形显示面板区，所述异形显示面板区的缺口区位于所述切割区；相邻两个所述显示面板区的所述缺口区相邻设置，相邻设置的两个所述缺口区形成公共缺口区；

所述公共缺口区包括所述待测试膜层。

2.根据权利要求1所述的显示面板母板，其特征在于，所述衬底基板包括第一切割区和第二切割区；

所述多层膜层结构包括第一膜层结构和第二膜层结构；

所述待测试膜层包括第一待测试膜层和第二待测试膜层；

所述第一切割区包括所述第一待测试膜层；

所述第二切割区包括所述第二待测试膜层；

所述第一待测试膜层与所述第一膜层结构同层设置；

所述第二待测试膜层与所述第二膜层结构同层设置；

其中，所述第一膜层结构和所述第二膜层结构位于不同膜层。

3.根据权利要求1所述的显示面板母板，其特征在于，所述显示面板区包括绑定区；所述绑定区设置有引线焊盘；

所述显示面板母板还包括设置于所述显示面板区外围的至少一条引线；

所述引线的第一端与所述待测试膜层电连接，所述引线的第二端与所述引线焊盘电连接。

4.根据权利要求3所述的显示面板母板，其特征在于，所述切割区位于至少两个所述显示面板区之间；至少两个所述显示面板区至少包括第一显示面板区和第二显示面板区；所述第一显示面板区包括第一绑定区，所述第一绑定区设置有第一引线焊盘；所述第二显示面板区包括第二绑定区，所述第二绑定区设置有第二引线焊盘；

所述显示面板母板还包括设置于所述显示面板区外围的至少两条所述引线；至少两个所述引线至少包括第一引线和第二引线；

所述第一引线的第一端与所述待测试膜层电连接，所述第一引线的第二端与所述第一引线焊盘电连接；所述第二引线的第一端与所述待测试膜层电连接，所述第二引线的第二端与所述第二引线焊盘电连接。

5.根据权利要求3所述的显示面板母板，其特征在于，所述显示面板区设置有有机发光显示面板，所述有机发光显示面板包括位于所述衬底基板一侧的第一像素单元；所述第一像素单元包括第一驱动电路和有机发光元件，所述第一驱动电路用于驱动所述有机发光元件发光；

所述第一驱动电路包括至少一个第一薄膜晶体管；所述第一薄膜晶体管包括第一栅极、第一源极和第一漏极；所述有机发光元件包括阳极、发光层和阴极；

所述多层膜层结构包括所述第一栅极、所述第一源极、所述第一漏极、所述阳极以及所述阴极；所述待测试膜层包括所述第一栅极、所述第一源极、所述第一漏极、所述阳极以及所述阴极中的其中一层；

或者，所述显示面板区设置有液晶显示面板，所述液晶显示面板包括阵列基板、彩膜基板、位于所述阵列基板和所述彩膜基板之间的液晶层；

所述阵列基板包括第二驱动电路、位于所述第二驱动电路朝向所述彩膜基板一侧的第二电极、位于所述第二电极朝向所述彩膜基板一侧的第一电极和位于所述第一电极朝向所述彩膜基板的第一配向膜；所述第二驱动电路包括至少一个第二薄膜晶体管；所述第二薄膜晶体管包括第二栅极、第二源极和第二漏极；所述彩膜基板包括黑矩阵、色阻层、色阻层朝向所述阵列基板一侧的平坦层、所述平坦层朝向所述阵列基板一侧的第二配向膜；

所述多层膜层结构包括所述第二栅极、所述第二源极、所述第二漏极、所述第二电极、所述第一电极、所述第一配向膜、所述第二配向膜、所述液晶层、所述黑矩阵、所述色阻层以及所述平坦层，所述待测试膜层包括所述第二栅极、所述第二源极、所述第二漏极、所述第二电极、所述第一电极、所述第一配向膜、所述第二配向膜、所述液晶层、所述黑矩阵、所述色阻层以及所述平坦层中的其中一层。

6.根据权利要求5所述的显示面板母板，其特征在于，

所述显示面板区设置有液晶显示面板；所述液晶显示面板还包括触控走线和触控电极；

所述多层膜层结构还包括所述触控走线和所述触控电极；

所述待测试膜层包括所述第二栅极、所述第二源极、所述第二漏极、所述第二电极、所述第一电极、所述第一配向膜、所述第二配向膜、所述液晶层、所述黑矩阵、所述色阻层、所述平坦层、所述触控走线和所述触控电极中的其中一层。

7.根据权利要求5所述的显示面板母板，其特征在于，当所述显示面板区设置有有机发光显示面板时，所述引线与所述第一栅极、所述第一源极、所述第一漏极、所述阳极以及所述阴极中的一种同层设置；

当所述显示面板区设置有液晶显示面板时，所述引线与所述第二栅极、所述第二源极、所述第二漏极、所述第一电极以及所述第二电极中的一种同层设置。

8.根据权利要求5所述的显示面板母板，其特征在于，当所述待测试膜层为所述液晶层时，所述切割区还包括围绕所述待测试膜层设置的第一框胶。

9.根据权利要求8所述的显示面板母板，其特征在于，所述液晶显示面板还包括位于所述阵列基板和所述彩膜基板之间，且围绕所述液晶层设置的第二框胶；

所述第二框胶和所述第一框胶同层设置。

10.一种显示面板的制备方法，其特征在于，包括：

提供权利要求1-9任一项所述的显示面板母板；

切割所述切割区，以形成显示面板。

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