CN111077711A - 一种短路棒结构、阵列基板及显示装置 - Google Patents

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Abstract

本公开提供了一种短路棒结构，其包括点灯信号线，点灯信号线包括第一金属线和第二金属线；其中，第一金属线的输入端接入点灯信号，第二金属线的输出端通过阵列基板上的数据线连接至子像素，且第一金属线的输出端与第二金属线的输入端通过开关器件控制通断。

Description

一种短路棒结构、阵列基板及显示装置
技术领域
本申请涉及显示技术领域，尤其涉及显示测试技术领域，具体涉及一种短路棒结构、阵列基板及显示装置。
背景技术
液晶显示器或OLED(OrganicLightEmittingDiode，有机发光二极管显示器)显示器中通常包含阵列基板，阵列基板上拥有多条扫描线、数据线、TFT(ThinFilmTransistor，薄膜晶体管)等各类电子元件。为了保证各电子元器件的正常工作，不发生短路、断路、串路等异常，业界通常在制作阵列基板的过程中，在阵列基板的边缘设计短路棒(ShortingBar，短路棒)，于显示器模组化前进行电学性能检测，以初步分辨显示器是否有显示异常的问题；检测完成后，需用激光器(Laser，激光器)或者机械的方式，把短路棒切断，再进行显示器的模组化制程。
但是，上述使用激光器切断短路棒的技术手段与透明有机平坦层结合使用时，因为该有机平坦层与氮化硅层之间的厚度/折射率匹配不好，激光器的激光会发生散射，从而激光能量无法完全作用于需要切割的金属、氮化硅以及有机平坦层上，因此，残留的激光能量容易致使原本应该断开的短路棒线路发生静电击穿，从而导致覆晶薄膜烧伤，以及显示器发生失效。
发明内容
本申请实施例的目的在于提供一种短路棒结构、阵列基板及显示装置，解决的使用激光切割短路棒存在的短路棒线路被静电击穿，导致覆晶薄膜被烧伤的技术问题。
为解决上述技术问题，本申请提供的技术方案如下：
第一方面，本公开提供了一种短路棒结构，其包括点灯信号线，点灯信号线包括第一金属线和第二金属线；其中，第一金属线的输入端接入点灯信号，第二金属线的输出端通过阵列基板上的数据线连接至子像素，且第一金属线的输出端与第二金属线的输入端通过开关器件控制通断。
结合第一方面，在第一方面的第一种实施方式中，开关器件为薄膜晶体管，第一金属线的输出端连接薄膜晶体管的源极，第二金属线的输入端连接薄膜晶体管的漏极，薄膜晶体管的栅极接入控制信号。
结合第一方面的第一种实施方式，在第一方面的第二种实施方式中，短路棒结构还包括控制信号线，控制信号线与点灯信号线异面相交设置，且控制信号线连接薄膜晶体管的栅极。
结合第一方面的第二种实施方式，在第一方面的第三种实施方式中，短路棒结构还包括一组以上的点灯信号线，每组的点灯信号线的数量与被检测显示面板的子像素颜色种类相匹配，每条点灯信号线各对应一种颜色的子像素，且每条点灯信号线各通过一薄膜晶体管独立控制通断。
结合第一方面的第三种实施方式，在第一方面的第四种实施方式中，短路棒结构还包括与单组点灯信号线相同数量的控制信号线，一条点灯信号线对应连接一条控制信号线，且相连接的点灯信号线和控制信号线对应同一颜色的子像素。
结合第一方面，在第一方面的第五种实施方式中，所述开关器件为方型TFT器件。
结合上述的任一种实施方式，在第一方面的第六种实施方式中，所述开关器件为U型或者Y型TFT器件。
第二方面，本公开提供了一种阵列基板，该阵列基板包括上述任一实施方式中的短路棒结构。
结合第二方面，在第二方面的第一种实施方式中，阵列基板还包括设置于阵列基板上的有机膜层。
第三方面，本公开提供了一种显示装置，其包括上述任一实施方式中的阵列基板。
本申请提供的一种短路棒结构，通过第一金属线的输入端接入点灯信号，第一金属线的输出端通过开关器件与第二金属线的输入端连接，第二金属线的输出端通过阵列基板上的数据线连接至子像素，当需要进行点灯测试时，导通的开关器件允许点灯信号通过点灯信号线输出至子像素，即可显示纯色画面用于检查；测试完成后，断开的开关器件阻止了点灯信号传输至子像素，可避免使用传统技术方案中的激光器切割，也不存在激光能量残留引起的短路棒线路发生静电击穿，从而解决了使用激光切割短路棒存在的短路棒线路被静电击穿，导致覆晶薄膜被烧伤的技术问题。
附图说明
下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。
图1为本申请实施例提供的一种短路棒结构的第一种结构示意图。
图2为本申请实施例提供的一种短路棒结构的第二种结构示意图。
图3为本申请实施例提供的一种短路棒结构的第三种结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
下文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本申请的不同结构。为了简化本申请的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本申请。此外，本申请可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外，本申请提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。
请参阅图1，图1为本申请实施例提供的一种短路棒结构的结构示意图。如图1所示，本实施例提供的一种短路棒结构，其包括点灯信号线100，点灯信号线100包括第一金属线110和第二金属线120；其中，第一金属线110的输入端接入点灯信号300，第二金属线120的输出端通过阵列基板上的数据线连接至子像素400，且第一金属线110的输出端与第二金属线120的输入端通过开关器件控制通断。
具体地，点灯信号300依次通过第一金属线110、开关器件、第二金属线120以及数据线连接至子像素400，当需要进行测试时，开关器件处于导通状态，导通的开关器件允许点灯信号300通过点灯信号300线100输出至子像素400，即可显示纯色画面用于检查，此时，相当于传统技术方案中的短路棒作用，仅仅用于将点灯信号300传输至子像素400；当测试完成后，传统技术方案中需要使用激光器对短路棒进行切割，激光切割会残留激光能量，其容易导致本应断开的短路棒发生静电击穿，而本实施例中，采用断开开关器件，相当于激光切割的作用，即断开了短路棒的连接，又不会产生激光残留的问题，很好地解决了传统技术方案中的技术问题。
如图2所示，在其中一个实施例中，开关器件为薄膜晶体管130，第一金属线110的输出端连接薄膜晶体管130的源极，第二金属线120的输入端连接薄膜晶体管130的漏极，薄膜晶体管130的栅极接入控制信号。
具体地，开关器件为P沟道型薄膜晶体管130时，该薄膜晶体管130的源极连接第一金属线110的输出端，该薄膜晶体管130的漏极连接第二金属线120的输入端，控制信号用于该薄膜晶体管130的通断控制。
如图2所示，在其中一个实施例中，短路棒结构还包括控制信号线200，控制信号线200与点灯信号线100异面相交设置，且控制信号线200连接薄膜晶体管130的栅极。
具体地，控制信号线200与点灯信号线100设置于不同的平面或者层中，控制信号线200用于接入并传输控制信号，控制信号线200与薄膜晶体管130的栅极连接。
如图2所示，在其中一个实施例中，短路棒结构还包括一组以上的点灯信号线100，每组的点灯信号线100的数量与被检测显示面板的子像素400颜色种类相匹配，每条点灯信号线100各对应一种颜色的子像素400，且每条点灯信号线100各通过一薄膜晶体管130独立控制通断。
具体地，每组点灯信号线100的数量与子像素400的颜色种类相同，例如，当子像素400的颜色种类为RGB三基色时，每组点灯信号线100的数量为三，每组点灯信号线100中的各单条点灯信号线100分别与各颜色的子像素400连接，且各单条点灯信号线100各通过一薄膜晶体管130单独控制该单条信号线的通断；当子像素400的颜色种类为N基色时，则每组点灯信号线100的数量也为N，其中，N为大于三的正整数。
如图2所示，在其中一个实施例中，短路棒结构还包括与单组点灯信号线100相同数量的控制信号线200，一条点灯信号线100对应连接一条控制信号线200，且相连接的点灯信号线100和控制信号线200对应同一颜色的子像素400。
具体地，控制信号线200的数量与单组点灯信号线100的数量相同，例如，当单组点灯信号线100的数量为三时，控制信号线200的数量也为三，并且一条控制信号线200对应连接至单组中的一条点灯信号线100；当有多组点灯信号线100时，控制信号线200的数量仍为单组点灯信号线100的数量。
如图2所示，在其中一个实施例中，开关器件为N沟道型薄膜晶体管130，第一金属线110的输出端连接薄膜晶体管130的漏极，第二金属线120的输入端连接薄膜晶体管130的源极，薄膜晶体管130的栅极接入控制信号。
具体地，该开关器件为N沟道型薄膜晶体管130时，点灯信号300通过第一金属线110，经由薄膜晶体管130的漏极输入，从薄膜晶体管130的源极输出至第二金属线120，控制信号通过薄膜晶体管130的栅极控制点灯信号线100的通断。
如图2所示，在其中一个实施例中，所述开关器件为方型TFT器件。
如图3所示，在其中一个实施例中，所述开关器件为U型或者Y型TFT器件。
具体地，所述开关器件根据薄膜晶体管130所采用的形状进行构造的，两者可以但不限于为本实施例提供的构造形状。
如图2所示，在其中一个实施例中，一种阵列基板，该阵列基板包括上述任一实施方式中的短路棒结构。
具体地，该短路棒结构设置于阵列基板上，测试时，控制信号通过控制信号线200控制所有的薄膜晶体管130处于导通状态，此时，点灯信号300通过点灯信号300线100连接至各子像素400，即可显示颜色画面，用于检查是否存在显示问题；当测试完成时，撤掉控制信号，则所有的薄膜晶体管130处于断开状态，此时点灯信号300与子像素400的连接也断开，可以进行后续的模组化制程。
在其中一个实施例中，阵列基板还包括设置于阵列基板上的有机膜层。
具体地，有机膜层是导致传统技术方案中的激光能量残留的一个重要因素，本实施例提供的阵列基板可以针对性的解决使用激光切割所引起的技术问题。
在其中一个实施例中，一种显示装置，其包括上述任一实施方式中的阵列基板。
具体地，该显示装置包括了上述的任一种阵列基板和/或短路棒结构，与传统的显示装置制作过程相比，很明显地，其能够节省激光切割这一工序，并且降低了由此引发的静电击穿以及显示失效，有效提高了显示装置的制作效率和产品良率。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。以上对本申请实施例所提供的一种电子装置进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例的技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种短路棒结构，其特征在于，包括：
点灯信号线，所述点灯信号线包括第一金属线和第二金属线；
其中，所述第一金属线的输入端接入点灯信号，所述第二金属线的输出端通过阵列基板上的数据线连接至子像素，且所述第一金属线的输出端与所述第二金属线的输入端通过开关器件控制通断。
2.根据权利要求1所述的短路棒结构，其特征在于，所述开关器件为薄膜晶体管，所述第一金属线的输出端连接所述薄膜晶体管的源极，所述第二金属线的输入端连接所述薄膜晶体管的漏极，所述薄膜晶体管的栅极接入控制信号。
3.根据权利要求2所述的短路棒结构，其特征在于，所述短路棒结构还包括控制信号线，所述控制信号线与所述点灯信号线异面相交设置，且所述控制信号线连接所述薄膜晶体管的栅极。
4.根据权利要求3所述的短路棒结构，其特征在于，所述短路棒结构还包括一组以上的所述点灯信号线，每组的所述点灯信号线的数量与被检测显示面板的子像素颜色种类相匹配，每条所述点灯信号线各对应一种颜色的子像素，且每条点灯信号线各通过一所述薄膜晶体管独立控制通断。
5.根据权利要求4所述的短路棒结构，其特征在于，所述短路棒结构还包括与单组点灯信号线相同数量的控制信号线，一条所述点灯信号线对应连接一条所述控制信号线，且相连接的所述点灯信号线和所述控制信号线对应同一颜色的子像素。
6.根据权利要求1所述的短路棒结构，其特征在于，所述开关器件为方型TFT器件。
7.根据权利要求1任一项所述的短路棒结构，其特征在于，所述开关器件为U型或者Y型TFT器件。
8.一种阵列基板，其特征在于，所述阵列基板包括如权利要求1-7任一项所述的短路棒结构。
9.如权利要求8所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板还包括设置于所述阵列基板上的有机膜层。
10.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求8-9任一项所述的阵列基板。
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