KR102581763B1

KR102581763B1 - 표시 모듈의 검사 장치, 그것을 포함하는 검사 시스템 및 그것의 검사 방법

Info

Publication number: KR102581763B1
Application number: KR1020180161103A
Authority: KR
Inventors: 이일호; 권상혁; 김영빈; 노찬식; 신은철; 최상민
Original assignee: 삼성디스플레이 주식회사
Priority date: 2018-12-13
Filing date: 2018-12-13
Publication date: 2023-09-25
Also published as: KR20200073342A; US20200192524A1; CN111326089B; CN111326089A; US11409395B2

Abstract

표시 모듈을 검사하기 위한 검사 장치는, 상기 표시 모듈의 터치 패드들과 전기적으로 연결되는 터치 검사 패드들, 상기 표시 모듈의 제1 전원 패드 및 제2 전원 패드와 전기적으로 연결되는 제1 전원 검사 패드 및 제2 전원 검사 패드, 상기 제1 전원 검사 패드 및 제2 전원 검사 패드로 제1 검사 전원 전압 및 제2 검사 전원 전압을 제공하는 전압 발생기 및 상기 제1 전원 검사 패드 및 제2 전원 검사 패드 사이의 정전 용량을 측정하는 정전 용량 측정기를 포함한다.

Description

표시 모듈의 검사 장치, 그것을 포함하는 검사 시스템 및 그것의 검사 방법{TESTING DEVICE OF DISPLAY MODULE, TESTING SYSTEM HAVING THE SAME AND TESTING METHOD OF THE SAME}

본 발명은 표시 모듈을 검사하는 장치에 관한 것으로 좀 더 구체적으로는 터치 감지 유닛을 구비한 표시 모듈을 검사하는 검사 장치에 관한 것이다.

유기 발광 표시 장치는 자발광 소자인 유기 발광 다이오드를 이용하여 영상을 표시하는 것으로, 휘도 및 색순도가 뛰어나 차세대 표시 장치로 주목받고 있다. 이와 같은 유기 발광 표시 장치는 적색 화소들, 녹색 화소들 및 청색 화소들을 이용하여 표시 패널을 구성하며, 이를 통해 다양한 컬러 영상을 표시한다.

유기 발광 표시 장치는 영상을 표시하는 표시 패널과 외부 입력을 감지하여 외부 입력의 위치나 세기 정보를 출력하는 터치 감지 유닛을 포함하는 표시 모듈을 구비한다. 유기 발광 표시 장치를 제조하는 과정에서 유기 발광 표시 장치를 구성하는 표시 모듈이 정상적으로 동작하는 지를 검사하는 단계가 필요하다.

본 발명은 터치 감지 유닛의 검사 단계에서 표시 패널의 정전 용량을 검사할 수 있는 검사 장치 및 검사 시스템을 제공하는데 있다.

이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 특징에 의하면, 검사 장치는: 표시 모듈의 터치 패드들과 전기적으로 연결되는 터치 검사 패드들, 상기 표시 모듈의 제1 전원 패드 및 제2 전원 패드와 전기적으로 연결되는 제1 전원 검사 패드 및 제2 전원 검사 패드, 상기 제1 전원 검사 패드 및 제2 전원 검사 패드로 제1 검사 전원 전압 및 제2 검사 전원 전압을 제공하는 전압 발생기 및 상기 제1 전원 검사 패드 및 제2 전원 검사 패드 사이의 정전 용량을 측정하는 정전 용량 측정기를 포함한다.

이 실시예에 있어서, 상기 전압 발생기는 전압 제어 신호에 응답해서 상기 제1 검사 전원 전압 및 상기 제2 검사 전원 전압 중 적어도 하나의 전압 레벨을 변경할 수 있다.

이 실시예에 있어서, 상기 검사 장치는 상기 터치 패드들과 상기 터치 검사 패드들을 전기적으로 연결하고, 상기 제1 및 제2 전원 패드들과 상기 제1 및 제2 전원 검사 패드들을 전기적으로 연결하기 위한 커넥터 및 외부로부터 수신되는 검사 제어 신호에 응답해서 상기 전압 제어 신호를 출력하는 인터페이스를 더 포함할 수 있다.

이 실시예에 있어서, 상기 정전 용량 측정기는 상기 측정된 정전 용량에 대응하는 감지 정전 용량 신호를 출력할 수 있다.

이 실시예에 있어서, 상기 검사 장치는 상기 터치 검사 패드들로 터치 검사 신호들을 출력하는 터치 검사기를 더 포함할 수 있다.

이 실시예에 있어서, 상기 터치 검사기가 상기 터치 검사 신호들을 출력하는 동작과 상기 전압 발생기가 상기 제1 검사 전원 전압 및 상기 제2 검사 전원 전압을 출력하는 동작은 병렬로 수행도리 수 있다.

이 실시예에 있어서, 상기 터치 검사 패드들, 상기 제1 및 제2 전원 검사 패드들, 상기 전압 발생기 및 상기 정전 용량 측정기는 단일 집적 회로로 구성될 수 있다.

이 실시예에 있어서, 상기 검사 장치는 상기 표시 모듈의 신호 패드들로 패널 검사 신호들을 출력하는 패널 검사 회로를 더 포함할 수 있다.

이 실시예에 있어서, 상기 패널 검사 회로는, 상기 표시 모듈의 상기 신호 패드들과 전기적으로 연결되는 터치 검사 패드들 및 상기 터치 검사 패드들로 상기 패널 검사 신호들을 출력하는 검사 신호 발생기를 포함할 수 있다.

본 발명의 다른 특징에 따른 검사 시스템은: 표시 모듈 및 검사 장치를 포함하며, 상기 표시 모듈은, 표시 영역 및 상기 표시 영역에 인접한 비표시 영역을 포함하는 표시 패널 및 상기 표시 패널 상에 배치되고, 상기 표시 영역에 중첩하는 감지 영역에 인가되는 외부 입력을 감지하는 터치 감지 유닛을 포함한다. 상기 표시 패널은, 상기 비표시 영역에 배치되고, 상기 터치 감지 유닛과 전기적으로 연결된 터치 패드들 및 상기 비표시 영역에 배치되고, 상기 표시 패널과 전기적으로 연결된 제1 전원 패드 및 제2 전원 패드를 포함한다. 상기 검사 장치는, 상기 터치 패드들과 전기적으로 연결되는 터치 검사 패드들, 상기 제1 전원 패드 및 상기 제2 전원 패드와 전기적으로 연결되는 제1 전원 검사 패드 및 제2 전원 검사 패드, 상기 제1 전원 검사 패드 및 제2 전원 검사 패드로 제1 검사 전원 전압 및 제2 검사 전원 전압을 제공하는 전압 발생기 및 상기 제1 전원 검사 패드 및 제2 전원 검사 패드 사이의 정전 용량을 측정하는 정전 용량 측정기를 포함한다.

이 실시예에 있어서, 상기 검사 시스템은, 상기 터치 패드들과 상기 터치 검사 패드들을 전기적으로 연결하고, 상기 표시 패널의 상기 제1 및 제2 전원 패드들과 상기 제1 및 제2 전원 검사 패드들을 전기적으로 연결하기 위한 커넥터 및 외부로부터 수신되는 검사 제어 신호에 응답해서 상기 전압 제어 신호를 출력하는 인터페이스를 더 포함할 수 있다.

이 실시예에 있어서, 상기 검사 시스템은 상기 터치 검사 패드들로 터치 검사 신호들을 출력하는 터치 검사기를 더 포함할 수 있다.

이 실시예에 있어서, 상기 표시 패널은 상기 표시 영역에 배열되고, 복수의 데이터 라인들 및 복수의 스캔 라인들에 각각 연결되는 복수의 화소들을 포함한다. 상기 복수의 화소들 중 적어도 하나는, 애노드 및 캐소드를 포함하는 발광 다이오드, 제1 전원 전압을 수신하는 제1 전극, 상기 발광 다이오드의 상기 애노드에 전기적으로 연결되는 제2 전극 및 게이트 전극을 포함하는 제1 트랜지스터, 상기 제1 트랜지스터의 상기 제1 전극과 연결된 제1 전극 및 상기 제1 트랜지스터의 상기 게이트 전극과 연결된 제2 전극을 포함하는 커패시터 및 상기 복수의 데이터 라인들 중 대응하는 데이터 라인과 연결된 제1 전극, 상기 커패시터의 상기 제2 전극과 연결된 제2 전극 및 제1 스캔 신호를 수신하는 게이트 전극을 포함하는 제2 트랜지스터를 포함한다.

이 실시예에 있어서, 상기 제1 트랜지스터의 상기 제1 전극은 상기 제1 전원 패드와 전기적으로 연결되고, 그리고 상기 발광 다이오드의 상기 캐소드는 상기 제2 전원 패드와 전기적으로 연결된다.

이 실시예에 있어서, 상기 정전 용량 측정기는 상기 제1 트랜지스터의 상기 제1 전극과 상기 발광 다이오드의 상기 캐소드 사이의 정전 용량에 대응하는 감지 정전 용량 신호를 출력한다.

본 발명의 다른 특징에 따른 터치 감지 유닛의 터치 패드들과 전기적으로 연결되는 터치 검사 패드들, 표시 패널의 제1 전원 패드 및 제2 전원 패드와 전기적으로 연결되는 제1 전원 검사 패드 및 제2 전원 검사 패드를 포함하는 검사 장치의 검사 방법은: 상기 제1 전원 검사 패드 및 상기 제2 전원 검사 패드로 제1 검사 전원 전압 및 제2 검사 전원 전압을 제공하는 단계 및 상기 제1 전원 검사 패드 및 제2 전원 검사 패드 사이의 정전 용량을 측정하는 단계를 포함한다.

이 실시예에 있어서, 상기 터치 검사 패드들로 터치 검사 신호들을 출력하는 단계를 더 포함한다.

이 실시예에 있어서, 상기 측정된 정전 용량에 대응하는 감지 정전 용량 신호를 출력하는 단계를 더 포함한다.

이와 같은 구성을 갖는 검사 장치는 표시 모듈의 터치 감지 유닛의 검사 단계에서 표시 패널의 정전 용량을 검사할 수 있다. 따라서 표시 패널의 정전 용량 검사를 위한 별도의 검사 장치가 불필요하다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 모듈의 사시도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 모듈의 단면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널의 평면도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 화소의 등가 회로도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 감지 유닛의 평면도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 검사 장치를 보여주는 블록도이다.
도 7은 도 3에 도시된 표시 패널과 터치 검사 장치의 연결을 예시적으로 보여주는 도면이다.
도 8a 내지 도 8c는 도 7에 도시된 제1 전원 패드와 제2 전원 패드 사이의 전압 차에 따른 정전 용량 변화를 예시적으로 보여주는 도면이다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 터치 검사 장치를 보여주는 블록도이다.
도 10은 도 9에 도시된 터치 검사 회로의 구성을 예시적으로 보여주는 도면이다.
도 11은 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 모듈의 사시도이다.
도 12는 도 11에 도시된 표시 패널과 터치 검사 장치의 연결을 예시적으로 보여주는 도면이다.

본 명세서에서, 어떤 구성요소(또는 영역, 층, 부분 등)가 다른 구성요소 "상에 있다", "연결된다", 또는 "결합된다"고 언급되는 경우에 그것은 다른 구성요소 상에 직접 배치/연결/결합될 수 있거나 또는 그들 사이에 제3의 구성요소가 배치될 수도 있다는 것을 의미한다.

동일한 도면부호는 동일한 구성요소를 지칭한다. 또한, 도면들에 있어서, 구성요소들의 두께, 비율, 및 치수는 기술적 내용의 효과적인 설명을 위해 과장된 것이다.

"및/또는"은 연관된 구성들이 정의할 수 있는 하나 이상의 조합을 모두 포함한다.

제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.

또한, "아래에", "하측에", "위에", "상측에" 등의 용어는 도면에 도시된 구성들의 연관관계를 설명하기 위해 사용된다. 상기 용어들은 상대적인 개념으로, 도면에 표시된 방향을 기준으로 설명된다.

다르게 정의되지 않는 한, 본 명세서에서 사용된 모든 용어 (기술 용어 및 과학 용어 포함)는 본 발명이 속하는 기술 분야의 당업자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 갖는다. 또한, 일반적으로 사용되는 사전에서 정의된 용어와 같은 용어는 관련 기술의 맥락에서 의미와 일치하는 의미를 갖는 것으로 해석되어야 하고, 이상적인 또는 지나치게 형식적인 의미로 해석되지 않는 한, 명시적으로 여기에서 정의된다.

"포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.

이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명한다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 모듈의 사시도이다. 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 모듈의 단면도이다.

도 1에 도시된 것과 같이, 영상(IM)가 표시되는 표시면(IS)은 제1 방향축(DR1) 및 제2 방향축(DR2)이 정의하는 면과 평행한다. 표시면(IS)의 법선 방향, 즉 표시 모듈(DM)의 두께 방향은 제3 방향축(DR3)이 지시한다. 각 부재들의 전면(또는 상면)과 배면(또는 하면)은 제3 방향축(DR3)에 의해 구분된다. 그러나, 제1 내지 제3 방향축들(DR1, DR2, DR3)이 지시하는 방향은 상대적인 개념으로서 다른 방향으로 변환될 수 있다. 이하, 제1 내지 제3 방향들은 제1 내지 제3 방향축들(DR1, DR2, DR3)이 각각 지시하는 방향으로 동일한 도면 부호를 참조한다.

본 실시예에 따른 표시 모듈(DM)은 플랫한 리지드 표시 모듈일 수 있다. 그러나 이에 제한되지 않고, 본 발명에 따른 표시 모듈은 플렉서블 표시 모듈(DM)일 수도 있다. 본 실시예에 따른 표시 모듈(DM)은 텔레비전, 모니터 등과 같은 대형 전자 장치를 비롯하여, 휴대 전화, 태블릿, 자동차 네비게이션, 게임기, 스마트 와치 등과 같은 중소형 전자장치 등에 적용될 수 있다.

도 1에 도시된 것과 같이, 표시 모듈(DM)은 영상(IM)이 표시되는 표시 영역(DM-DA) 및 표시 영역(DM-DA)에 인접한 비표시 영역(DM-NDA)을 포함한다. 비표시 영역(DM-NDA)은 영상이 표시되지 않는 영역이다. 도 1에는 영상(IM)의 일 예로 화병을 도시하였다. 일 예로써, 표시 영역(DM-DA)은 사각 형상일 수 있다. 비표시 영역(DM-NDA)은 표시 영역(DM-DA)을 에워 쌀 수 있다. 다만, 이에 제한되지 않고, 표시 영역(DM-DA)의 형상과 비표시 영역(DM-NDA)의 형상은 상대적으로 디자인될 수 있다.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 모듈(DM)의 단면도이다. 도 2는 제1 방향축(DR1)과 제3 방향축(DR3)이 정의하는 단면을 도시하였다.

도 2에 도시된 것과 같이, 표시 모듈(DM)은 표시 패널(DP)과 터치 감지 유닛(TS, 또는 터치감지층)을 포함한다. 별도로 도시하지 않았으나, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 모듈(DM)은 표시 패널(DP)의 하면에 배치된 보호부재, 터치 감지 유닛(TS)의 상면 상에 배치된 반사방지부재 및/또는 윈도우 부재를 더 포함할 수 있다.

표시 패널(DP)은 발광형 표시 패널일 수 있으나, 특별히 제한되지 않는다. 예컨대, 표시 패널(DP)은 유기 발광 표시 패널 또는 퀀텀닷 발광 표시 패널일 수 있다. 유기 발광 표시 패널은 발광층이 유기 발광 물질을 포함한다. 퀀텀닷 발광 표시 패널은 발광층이 퀀텀닷 및 퀀텀 로드를 포함한다. 이하, 표시 패널(DP)은 유기발광 표시 패널로 설명된다.

표시 패널(DP)은 베이스층(SUB), 베이스층(SUB) 상에 배치된 회로 소자층(DP-CL), 표시 소자층(DP-OLED), 및 박막 봉지층(TFE)을 포함한다. 별도로 도시되지 않았으나, 표시 패널(DP)은 반사방지층, 굴절률 조절층 등과 같은 기능성층들을 더 포함할 수 있다.

베이스층(SUB)은 적어도 하나의 플라스틱 필름을 포함할 수 있다. 베이스층(SUB)은 플렉서블한 기판으로 플라스틱 기판, 유리 기판, 메탈 기판, 또는 유/무기 복합재료 기판 등을 포함할 수 있다. 도 1을 참조하여 설명한 표시 영역(DM-DA)과 비표시 영역(DM-NDA)은 베이스층(SUB)에 동일하게 정의될 수 있다.

회로 소자층(DP-CL)은 적어도 하나의 중간 절연층과 회로 소자를 포함한다. 중간 절연층은 적어도 하나의 중간 무기막과 적어도 하나의 중간 유기막을 포함한다. 상기 회로 소자는 신호 라인들, 화소의 구동 회로 등을 포함한다. 이에 대한 상세한 설명은 후술한다.

표시 소자층(DP-OLED)은 적어도 유기발광 다이오드들을 포함한다. 표시 소자층(DP-OLED)은 화소 정의막과 같은 유기막을 더 포함할 수 있다.

박막 봉지층(TFE)은 표시 소자층(DP-OLED)을 밀봉한다. 박막 봉지층(TFE)은 적어도 하나의 무기막(이하, 봉지 무기막)을 포함한다. 박막 봉지층(TFE)은 적어도 하나의 유기막(이하, 봉지 유기막)을 더 포함할 수 있다. 봉지 무기막은 수분/산소로부터 표시 소자층(DP-OLED)을 보호하고, 봉지 유기막은 먼지 입자와 같은 이물질로부터 표시 소자층(DP-OLED)을 보호한다. 봉지 무기막은 실리콘 나이트라이드층, 실리콘 옥시 나이트라이드층 및 실리콘 옥사이드층, 티타늄옥사이드층, 또는 알루미늄옥사이드층 등을 포함할 수 있다. 봉지 유기막은 아크릴 계열 유기층을 포함할 수 있고, 이에 제한되지 않는다.

터치 감지 유닛(TS)은 외부입력의 좌표정보를 획득한다. 터치 감지 유닛(TS)은 표시 패널(DP) 상에 직접 배치된다. 본 명세서에서 "직접 배치된다"는 것은 별도의 접착층을 이용하여 부착하는 것을 제외하며, 연속공정에 의해 형성된 것을 의미한다.

터치 감지 유닛(TS)은 다층구조를 가질 수 있다. 터치 감지 유닛(TS)은 단층 또는 다층의 도전층을 포함할 수 있다. 터치 감지 유닛(TS)은 단층 또는 다층의 절연층을 포함할 수 있다.

터치 감지 유닛(TS)은 예컨대, 정전 용량 방식으로 외부 입력을 감지할 수 있다. 본 발명에서 터치 감지 유닛(TS)의 동작방식은 특별히 제한되지 않고, 본 발명의 일 실시예에서 터치 감지 유닛(TS)은 전자기 유도방식 또는 압력 감지방식으로 외부 입력을 감지할 수도 있다.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널의 평면도이다.

도 3에 도시된 것과 같이, 표시 패널(DP)은 평면상에서 표시 영역(DP-DA)과 비표시 영역(DP-NDA)을 포함한다. 본 실시예에서 비표시 영역(DP-NDA)은 표시 영역(DP-DA)의 테두리를 따라 정의될 수 있다. 표시 패널(DP)의 표시 영역(DP-DA) 및 비표시 영역(DP-NDA)은 도 1에 도시된 표시 모듈(DM)의 표시 영역(DM-DA) 및 비표시 영역(DM-NDA)에 각각 대응한다. 표시 패널(DP)의 표시 영역(DP-DA) 및 비표시 영역(DP-NDA)은 표시 모듈(DM)의 표시 영역(DM-DA) 및 비표시 영역(DM-NDA)과 반드시 동일할 필요는 없고, 표시 패널(DP)의 구조/디자인에 따라 변경될 수 있다.

표시 패널(DP)은 스캔 구동 회로(SDC), 복수 개의 신호 라인들(DL, CSL, SL, PL) 및 복수 개의 화소들(PX)을 포함할 수 있다. 복수 개의 화소들(PX)은 표시 영역(DA)에 배치된다. 화소들(PX) 각각은 유기 발광 다이오드와 그에 연결된 화소 구동 회로를 포함한다. 스캔 구동 회로(SDC), 복수 개의 신호 라인들(DL, CSL, SL, PL), 및 화소 구동 회로는 도 2에 도시된 회로 소자층(DP-CL)에 포함될 수 있다.

스캔 구동 회로(SDC)는 복수 개의 스캔 신호들을 생성하고, 복수 개의 스캔 신호들을 후술하는 복수 개의 스캔 라인들(SL)에 순차적으로 출력한다.　스캔 구동 회로(SDC)는 화소들(PX)의 구동 회로에 또 다른 제어 신호를 더 출력할 수 있다.

스캔 구동 회로(SDC)는 화소들(PX)의 구동 회로와 동일한 공정, 예컨대 LTPS(Low Temperature Polycrystaline Silicon) 공정 또는 LTPO(Low Temperature Polycrystalline Oxide) 공정을 통해 형성된 복수 개의 박막 트랜지스터들을 포함할 수 있다.

스캔 라인들(SL)은 복수 개의 화소들(PX) 중 대응하는 화소(PX)에 각각 연결되고, 데이터 라인들(DL)은 복수 개의 화소들(PX) 중 대응하는 화소(PX)에 각각 연결된다. 전원 라인(PL)은 복수 개의 화소들(PX)에 연결된다. 제어 신호 라인(CSL)은 스캔 구동 회로(SDC)에 제어 신호들을 제공할 수 있다.

표시 패널(DP)은 신호 라인들(SL)의 말단에 연결된 신호 패드들(DP-PD)을 포함한다. 신호 패드들(DP-PD)은 일종의 회로 소자일 수 있다. 비표시 영역(DP-NDA) 중 신호 패드들(DP-PD)이 배치된 영역은 패드 영역(NDA-PD)으로 정의된다. 패드영역(NDA-PD)에는 후술하는 터치 신호 라인들에 연결되는 터치 패드들(TS-PD)도 배치될 수 있다.

제1 전원 패턴(PP1) 및 제2 전원 패턴(PP2)은 비표시 영역(DP-NDA)에 배치된다. 제1 전원 패턴(PP1)은 제2 방향축(DR2)을 따라 연장된다. 제2 전원 패턴(PP2)은 제1 방향축(DR1)을 따라 연장된 제1 변 및 제2 방향축(D2)을 따라 연장된 제2 변을 가진 사각 형상을 가질 수 있다. 제1 전원 패턴(PP1)과 제2 전원 패턴(PP2)은 평면상에서 서로 이격되어 배치될 수 있다. 제1 전원 패턴(PP1) 및 제2 전원 패턴(PP2)의 형상 및 배치 위치는 도 5에 한정되지 않고 다양하게 변경될 수 있다.

제1 전원 패턴(PP1)은 신호 패드들(DP-PD) 중 제1 전원 패드(PDD)와 전기적으로 연결되고, 제2 전원 패턴(PP2)은 신호 패드들(DP-PD) 중 제2 전원 패드(PDS)와 전기적으로 연결된다. 이 실시예에서, 제1 전원 패턴(PP1) 및 제2 전원 패턴(PP2) 각각은 하나의 패드에 연결되나, 이에 한정되지 않는다. 예를 들어, 1 전원 패턴(PP1) 및 제2 전원 패턴(PP2) 각각은 2개 이상의 패드들에 전기적으로 연결될 수 있다.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 화소의 등가 회로도이다.

도 4에는 어느 하나의 스캔 라인(SL)과 어느 하나의 데이터 라인(DL), 및 전원 라인(PL)에 연결된 화소(PX)를 예시적으로 도시하였다. 화소(PX)의 구성은 이에 제한되지 않고 변형되어 실시될 수 있다.

유기 발광 다이오드(OLED)는 전면 발광형 다이오드이거나, 배면 발광형 다이오드일 수 있다. 화소(PX)는 유기 발광 다이오드(OLED)를 구동하기 위한 화소 구동 회로로써 제1 트랜지스터(T1, 또는 스위칭 트랜지스터), 제2 트랜지스터(T2, 또는 구동 트랜지스터), 및 커패시터(Cst)를 포함한다. 제1 전원 전압(ELVDD)은 제2 트랜지스터(T2)에 제공되고, 제2 전원 전압(ELVSS)은 유기 발광 다이오드(OLED)에 제공된다. 제2 전원 전압(ELVSS)은 제1 전원 전압(ELVDD) 보다 낮은 전압일 수 있다.

제1 전원 전압(ELVDD)은 도 3에 도시된 제1 전원 패드(PDD) 및 제1 전원 패턴(PP1)을 통해 수신될 수 있다. 제2 전원 전압(ELVSS)은 도 3에 도시된 제2 전원 패드(PDS) 및 제2 전원 패턴(PP2)을 통해 수신될 수 있다.

제1 트랜지스터(T1)는 스캔 라인(SL)에 인가된 스캔 신호에 응답하여 데이터 라인(DL)에 인가된 데이터 신호를 출력한다. 커패시터(Cst)는 제1 트랜지스터(T1)로부터 수신한 데이터 신호에 대응하는 전압을 충전한다.

제2 트랜지스터(T2)는 유기발광 다이오드(OLED)에 연결된다. 제2 트랜지스터(T2)는 커패시터(Cst)에 저장된 전하량에 대응하여 유기발광 다이오드(OLED)에 흐르는 구동 전류를 제어한다. 유기발광 다이오드(OLED)는 제2 트랜지스터(T2)의 턴-온 구간 동안 발광한다.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 감지 유닛의 평면도이다.

도 5에서, 제1 터치 전극들(TE1-1 내지 TE1-5) 및 제2 터치 전극들(TE2-1 내지 TE2-4)의 일단에 연결된 제1 터치 신호 라인들(SL1-1 내지 SL1-5) 및 제2 터치 신호 라인들(SL2-1 내지 SL2-4)을 도시하였으나, 신호 라인들은 더 배치될 수 있다. 예컨대, 제2 터치 전극들(TE2-1 내지 TE2-4)의 타단에 연결된 제3 터치 신호 라인들이 더 배치될 수 있다. 제3 터치 신호 라인들에 연결된 터치 패드들 역시 도 5에 도시된 터치 패드들(TS-PD)과 나란히 배치될 수 있다. 그 밖에 제1 터치 신호 라인들(SL1-1 내지 SL1-5) 및 제2 터치 신호 라인들(SL2-1 내지 SL2-4)의 배치 역시 변경될 수 있다. 제1 터치 전극들(TE1-1 내지 TE1-5) 각각은 복수 개의 터치 개구부들이 정의된 메쉬 형상을 가질 수 있다. 제1 터치 전극들(TE1-1 내지 TE1-5) 각각은 복수 개의 제1 터치 센서부들(SP1)과 복수 개의 제1 연결부들(CP1)를 포함한다. 제1 터치 센서부들(SP1)은 제2 방향축(DR2)을 따라 나열된다. 제1 연결부들(CP1) 각각은 제1 터치 센서부들(SP1)은 중 인접하는 2개의 제1 터치 센서부들(SP1)을 연결한다. 구체적으로 도시하지 않았으나, 제1 터치 신호 라인들(SL1-1 내지 SL1-5) 역시 메쉬 형상을 가질 수 있다.

제2 터치 전극들(TE2-1 내지 TE2-4)은 제1 터치 전극들(TE1-1 내지 TE1-5)과 절연 교차한다. 제2 터치 전극들(TE2-1 내지 TE2-4) 각각은 복수 개의 터치 개구부들이 정의된 메쉬 형상을 가질 수 있다. 제2 터치 전극들(TE2-1 내지 TE2-4) 각각은 복수 개의 제2 터치 센서부들(SP2)과 복수 개의 제2 연결부들(CP2)를 포함한다. 제2 터치 센서부들(SP2)은 제1 방향축(DR1)을 따라 나열된다. 제2 연결부들(CP2) 각각은 제2 터치 센서부들(SP2)은 중 인접하는 2개의 제2 터치 센서부들(SP2)을 연결한다. 제2 터치 신호 라인들(SL2-1 내지 SL2-4) 역시 메쉬 형상을 가질 수 있다.

제1 터치 전극들(TE1-1 내지 TE1-5)과 제2 터치 전극들(TE2-1 내지 TE2-4)은 정전 결합된다. 제1 터치 전극들(TE1-1 내지 TE1-5)에 터치 감지 신호들이 인가됨에 따라 제1 터치 센서부들(SP1)과 제2 터치 센서부들(SP2) 사이에 커패시터들이 형성된다.

도 5에는 복수 개의 제1 연결부들(CP1)과 복수 개의 제2 연결부들(CP2)이 서로 교차하는 터치 감지 유닛(TS)을 예시적으로 도시하였으나, 이에 제한되지 않는다. 예컨대, 제2 연결부들(CP2) 각각은 복수 개의 제1 연결부들(CP1)에 비중첩하도록 V자 형태로 변형될 수 있다. V자 형태의 제2 연결부들(CP2)은 제1 터치 센서부들(SP1)에 중첩할 수 있다. 본 실시예에서 마름모 또는 세모 형상의 제1 터치 센서부들(SP1)과 제2 터치 센서부들(SP2)를 예시적으로 도시하였으나, 이에 제한되지 않는다.

도 5에 도시된 것과 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 감지 유닛(TS)은 도전층(TS-CL) 및 절연층(TS-IL, 터치 절연층)을 포함하는 단층형 터치 감지 유닛일 수 있다. 단층형 터치 감지 유닛은 셀프 캡 방식으로 좌표 정보를 획득할 수 있다.

도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 검사 장치를 보여주는 블록도이다.

도 6을 참조하면, 터치 검사 장치(100)는 도 5에 도시된 터치 감지 유닛(TS)의 동작을 테스트하기 위한 장치이다. 터치 검사 장치(100)는 외부의 호스트 예를 들면, 컴퓨터 시스템(105)으로부터의 검사 제어 신호(TEST_CTRL)에 응답해서 터치 감지 유닛(TS)을 검사하고, 검사 피드백 신호(TEST_FB)를 컴퓨터 시스템(105)으로 제공한다.

본 발명의 예시적인 실시예에서, 터치 검사 장치(100)는 도 3에 도시된 표시 패널(DP)의 제1 전원 패드(PDD)와 제2 전원 패드(PDS) 사이의 정전 용량을 측정하고, 측정된 정전 용량 정보를 검사 피드백 신호(TEST_FB)로서 출력할 수 있다.

커넥터(110)는 도 3에 도시된 터치 패드들(TS-PD) 및 신호 패드들(DP-PD) 중 제1 전원 패드(PDD) 및 제2 전원 패드(PDS)와 전기적으로 연결될 수 있다.

터치 검사 장치(100)는 커넥터(110), 터치 검사 회로(120) 및 인터페이스(130)를 포함한다. 인터페이스(130)는 컴퓨터 시스템(105)으로부터의 검사 제어 신호(TEST_CTRL)에 응답해서 표시 패널(DP)을 검사하기 위한 전압 제어 신호(CTRL_V)를 터치 검사 회로(120)로 제공한다.

터치 검사 회로(120)는 전압 제어 신호(CTRL_V)에 응답해서 커넥터(110)를 통해 표시 패널(DP)의 정전 용량을 감지하고, 감지된 정전 용량에 대응하는 감지 정전 용량 신호(S_CAP)를 인터페이스(130)로 출력한다. 인터페이스(130)는 감지 정전 용량 신호(S_CAP)를 검사 피드백 신호(TEST_FB)로서 컴퓨터 시스템(105)으로 제공한다.

예시적인 실시예에서, 터치 검사 회로(120)는 단일 집적 회로(integrated circuit, IC)로 구현될 수 있다.

예시적인 실시예에서, 커넥터(110)는 도 1에 도시된 표시 모듈(DM)을 검사하기 위한 핀 보드(pin board) 상에 구비될 수 있다. 다른 실시예에서, 커넥터(110)는 FPCB(flexible printed circuit board) 상의 패드들을 포함하고, 터치 검사 회로(120)는 FPCB 상에 실장될 수 있다. 도 1에 도시된 표시 모듈(DM)과 터치 검사 회로(120)를 전기적으로 연결하기 위한 커넥터(110)는 본 명세서에 설명된 방식에 제한되지 않으며 다양한 방식으로 실시될 수 있다.

도 7은 도 3에 도시된 표시 패널과 터치 검사 장치의 연결을 예시적으로 보여주는 도면이다.

도 7을 참조하면, 커넥터(110)는 표시 패널(DP)의 터치 패드들(TS-PD)과 연결되는 터치 검사 패드들(TPD), 그리고 표시 패널(DP)의 제1 전원 패드(PDD) 및 제2 전원 패드(PDS)와 전기적으로 연결되는 제1 전원 검사 패드(TDD) 및 제2 전원 검사 패드(TDS)를 포함한다.

터치 검사 회로(120)는 터치 검사기(210), 정전 용량 측정기(220) 및 전압 발생기(230)를 포함한다. 터치 검사기(210)는 도 5에 도시된 터치 감지 유닛(TS)을 검사하기 위한 터치 검사 신호(TTS)를 생성한다. 터치 검사 신호(TTS)는 터치 검사 패드들(TPD)을 통해 표시 패널(DP)의 터치 패드들(TS-PD)로 제공될 수 있다. 터치 패드들(TS-PD)은 도 5에 도시된 제1 터치 신호 라인들(SL1-1 내지 SL1-5) 및 제2 터치 신호 라인들(SL2-1 내지 SL2-4)과 연결되므로, 터치 검사 신호(TTS)를 이용하여 터치 감지 유닛(TS)을 검사할 수 있다.

전압 발생기(230)는 제1 전원 전압(ELVDD) 및 제2 전원 전압(ELVSS)을 발생한다. 이 실시예에서 전압 발생기(230)는 2가지 전압들(ELVDD, ELVSS)만을 발생하는 것을 예시로 도시하고 설명하나, 이에 제한되지 않는다. 예를 들어, 전압 발생기(230)는 도 5에 도시된 터치 감지 유닛(TS)을 검사하기 위해 필요한 다양한 전압들을 더 발생할 수 있다. 전압 발생기(230)는 전압 제어 신호(CTRL_V)에 응답해서 제1 전원 전압(ELVDD) 및 제2 전원 전압(ELVSS) 각각의 전압 레벨을 조절할 수 있다.

전압 발생기(230)에 의해서 발생된 제1 전원 전압(ELVDD) 및 제2 전원 전압(ELVSS)은 제1 전원 검사 패드(TDD) 및 제2 전원 검사 패드(TDS)를 통해 제1 전원 패드(PDD) 제2 전원 패드(PDS)로 각각 제공된다.

정전 용량 측정기(220)는 제1 전원 검사 패드(TDD) 및 제2 전원 검사 패드(TDS) 사이의 정전 용량을 측정한다. 정전 용량 측정기(220)는 측정된 정전 용량에 대응하는 감지 정전 용량 신호(S_CAP)를 출력한다.

예시적인 실시예에서, 정전 용량 측정기(220)는 제1 전원 검사 패드(TDD) 및 제2 전원 검사 패드(TDS) 사이의 정전 용량을 측정하나, 이에 한정되지 않는다. 정전 용량 측정기(220)는 터치 감지 유닛(TS)의 특성 검사를 위해 구비된 소자일 수 있다. 즉, 터치 감지 유닛(TS)의 특성 검사를 위해 구비된 정전 용량 측정기(220)를 이용하여 표시 패널(DP)의 정전 용량을 측정할 수 있으므로, 표시 패널(DP) 전용의 별도의 정전 용량 측정기를 구비하지 않아도 된다.

도 4 및 도 7을 참조하면, 제1 전원 전압(ELVDD)은 전원 라인(PL)을 통해 제2 트랜지스터(T2)에 전달되고, 제2 전원 전압(ELVSS)은 유기 발광 다이오드(OLED)의 캐소드 단자로 제공된다.

유기 발광 다이오드(OLED)의 열화 여부를 판별하는 방법 가운데 하나는 유기 발광 다이오드(OLED)의 애노드와 캐소드 단자 사이의 정전 용량을 측정하는 것이다. 유기 발광 다이오드(OLED)의 애노드는 제2 트랜지스터(T2)를 통해 제1 전원 전압(ELVDD)을 공급받고 유기 발광 다이오드(OLED)의 캐소드는 제2 전원 전압(ELVSS)을 공급받으므로, 제1 전원 패드(PDD)와 제2 전원 패드(PDS) 사이의 정전 용량을 측정함으로써 유기 발광 다이오드(OLED)의 열화 여부를 판별할 수 있다.

도 8a 내지 도 8c는 도 7에 도시된 제1 전원 패드와 제2 전원 패드 사이의 전압 차에 따른 정전 용량 변화를 예시적으로 보여주는 도면이다. 도 8a 내지 도 8c에서 실선은 노말 상태의 정전 용량을 보여주고, 점선은 비정상 상태의 정전 용량을 보여준다.

도 8a는 유기 발광 다이오드가 블루 색상일 때 정전 용량 특성을 보여주고, 도 8b는 유기 발광 다이오드가 그린 색상일 때 정전 용량 특성을 보여주고, 그리고 도 8c는 유기 발광 다이오드가 레드 색상일 때 정전 용량 특성을 보여준다.

도 8a 내지 도 8c에 도시된 바와 같이, 유기 발광 다이오드의 정전 용량 특성은 도 7에 도시된 제1 전원 검사 패드(TDD)로 제공되는 제1 전원 전압(ELVDD)과 제2 전원 검사 패드(TDS)로 제공되는 제2 전원 전압(ELVSS)의 전압 차에 따라 변화한다.

또한 유기 발광 다이오드가 정상 상태인 경우와 비정상 상태(예를 들면, 열화된 상태)에 따라 유기 발광 다이오드의 정전 용량 특성은 달라질 수 있다. 도 8a 내지 도 8c에서, 블루, 그린 및 레드 색상의 유기 발광 다이오드들 모두는 정상 상태일 때보다 비정상 상태일 때 정전 용량이 증가함을 알 수 있다.

도 7에 도시된 전압 발생기(230)는 전압 제어 신호(CTRL_V)에 응답해서 제1 전원 전압(ELVDD) 및 제2 전원 전압(ELVSS) 각각의 전압 레벨을 조절할 수 있다. 예를 들어, 전압 발생기(230)는 제1 전원 전압(ELVDD) 및 제2 전원 전압(ELVSS) 중 어느 하나의 전압 레벨은 고정하고, 다른 하나의 전압 레벨을 변경할 수 있다. 다른 예에서, 전압 발생기(230)는 제1 전원 전압(ELVDD) 및 제2 전원 전압(ELVSS)을 동시에 변경할 수 있다. 예를 들어, 제1 전원 전압(ELVDD) 및 제2 전원 전압(ELVSS)의 전압 차는 도 8a 내지 도 8c에 도시된 바와 같이, -5V 내지 6V 사이로 변화될 수 있다.

터치 감지 유닛(TS)을 위해 준비된 정전 용량 측정기(220)를 이용하여 표시 패널(DP)의 유기 발광 다이오드(OLED)의 정전 용량을 검사할 수 있다. 따라서, 표시 패널(DP) 전용의 별도의 정전 용량 측정기를 구비하지 않아도 된다.

도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 터치 검사 장치를 보여주는 블록도이다. 도 10은 도 9에 도시된 터치 검사 회로의 구성을 예시적으로 보여주는 도면이다.

도 9에 도시된 터치 검사 장치(300)는 커넥터(310), 터치 검사 회로(320), 검사 신호 발생 회로(330) 및 인터페이스(340를 포함한다. 도 9에 도시된 터치 검사 회로(320) 및 인터페이스(34)의 회로 구성 및 동작은 도 6에 도시된 터치 검사 회로(120) 및 인터페이스(130)와 동일할 수 있다.

도 9 및 도 10을 참조하면, 커넥터(310)는 도 3에 도시된 터치 패드들(TS-PD) 및 신호 패드들(DP-PD)에 전기적으로 연결될 수 있는 터치 검사 패드들(TPD) 및 표시 패널 검사 패드들(DPD)을 포함한다. 표시 패널 검사 패드들(DPD)은 제1 전원 검사 패드(TDD) 및 제2 전원 검사 패드(TDS)를 포함한다.

전압 발생기(430)는 전압 제어 신호(CTRL_V)에 응답해서 제1 전원 전압(ELVDD) 및 제2 전원 전압(ELVSS)을 발생한다. 제1 전원 전압(ELVDD) 및 제2 전원 전압(ELVSS)은 제1 전원 검사 패드(TDD) 및 제2 전원 검사 패드(TDS)로 각각 제공된다.

정전 용량 측정기(420)는 제1 전원 검사 패드(TDD) 및 제2 전원 검사 패드(TDS) 사이의 정전 용량을 측정한다. 정전 용량 측정기(420)는 측정된 정전 용량에 대응하는 감지 정전 용량 신호(S_CAP)를 출력한다.

검사 신호 발생 회로(330)는 표시 패널 검사 패드들(DPD)로 제공될 검사 신호들을 발생한다. 검사 신호들은 예를 들면, 도 3에 도시된 표시 패널(DP)의 스캔 구동 회로(SDC)로 제공될 클럭 신호 및 데이터 라인들(DL)로 제공될 데이터 신호일 수 있다.

터치 검사 장치(300)의 검사 신호 발생 회로(330)는 클럭 신호 및 데이터 신호를 표시 패널(DP)로 제공하고, 전압 발생기(430)는 제1 전원 전압(ELVDD) 및 제2 전원 전압(ELVSS)을 표시 패널(DP)로 제공할 수 있다.

따라서, 제1 전원 전압(ELVDD), 제2 전원 전압(ELVSS), 클럭 신호 및 데이터 신호에 응답해서 표시 패널(DP)이 동작하는 동안, 정전 용량 측정기(420)는 제1 전원 검사 패드(TDD) 및 제2 전원 검사 패드(TDS) 사이의 정전 용량을 측정할 수 있다.

도 11은 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 모듈의 사시도이다.

도 11을 참조하면, 표시 모듈(DM2)은 표시 패널(DP2), 터치 감지 유닛(TS2, 또는 터치감지층), 제1 회로 기판(CF1), 제2 회로 기판(CF2) 및 커넥터(CNT)를 포함한다.

제1 회로 기판(CF1)은 표시 패널(DP2)과 전기적으로 연결된다. 제1 회로 기판(CF1)은 표시 패널(DP2)과 커넥터(CNT)를 연결할 수 있다. 본 실시예에서, 제1 회로 기판(CF1)은 연성 회로 필름으로 도시되었다. 다만, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 제1 회로 기판(CF1)은 리지드한 기판일 수도 있다.

제2 회로 기판(CF2)은 터치 감지 유닛(TS2)과 전기적으로 연결된다. 제2 회로 기판(CF2)은 터치 감지 유닛(TS2)과 커넥터(CNT)를 연결할 수 있다. 본 실시예에서, 제2 회로 기판(CF2)은 연성 회로 필름으로 도시되었으나 이에 한정되지 않는다. 제2 회로 기판(CF2)은 리지드한 기판일 수도 있다.

도 12는 도 11에 도시된 표시 패널과 터치 검사 장치의 연결을 예시적으로 보여주는 도면이다.

도 12에 도시된 표시 패널(DP2) 및 터치 검사 회로(120)의 구성 요소들 중 도 7에 도시된 표시 패널(DP) 및 터치 검사 회로(120)와 동일한 구성 요소들은 도 3에 도시된 구성 요소들과 동일한 인출 부호로 표기된다.

도 7에 도시된 표시 패널(DP)은 패드 영역(NDA-PD)에 신호 패드들(DP-PD) 뿐만 아니라 터치 패드들(TS-PD)을 포함한다. 도 12에 도시된 표시 모듈(DM2)의 패드 영역(NDA-PD2)에는 신호 패드들(DP-PD)만 포함된다.

커넥터(CNT)는 표시 패널(DP2)의 제1 전원 패드(PDD) 및 제2 전원 패드(PDS)와 전기적으로 연결되는 제1 전원 검사 패드(TDD) 및 제2 전원 검사 패드(TDS)를 포함한다. 커넥터(CNT)는 도 11에 도시된 터치 감지 유닛(TS2)과 전기적으로 연결될 수 있는 터치 검사 패드들(TPD)을 더 포함한다.

도 11에 도시된 표시 패널(DP2) 및 터치 감지 유닛(TS2)과 터치 검사 회로(120)를 전기적으로 연결하기 위한 커넥터(CNT)는 본 명세서에 설명된 방식에 제한되지 않으며 다양한 방식으로 실시될 수 있다.

터치 검사 회로(120)는 전압 제어 신호(CTRL_V)에 응답해서 커넥터(CNT)를 통해 표시 패널(DP2)의 정전 용량을 감지하고, 감지된 정전 용량에 대응하는 감지 정전 용량 신호(S_CAP)를 출력한다.

도 11 및 도 12에 도시된 바와 같이, 표시 패널(DP2)의 신호 패드들(DP-PD)과 터치 감지 유닛(TS2)의 터치 패드들(미 도시됨)이 다른 층에 배열되더라도 터치 검사 장치를 이용하여 표시 패널(DP2)의 유기 발광 다이오드의 정전 용량을 검사할 수 있다. 따라서, 표시 패널(DP) 전용의 별도의 정전 용량 측정기를 구비하지 않아도 된다.

이상 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. 또한 본 발명에 개시된 실시예는 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니고, 하기의 특허 청구의 범위 및 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.

DM: 표시 모듈
100: 터치 검사 장치
110: 커넥터
120: 터치 검사 회로
130: 인터페이스
210: 터치 검사기
220: 정전 용량 측정기
230: 전압 발생기

Claims

표시 모듈의 터치 패드들과 전기적으로 연결되어서 상기 표시 모듈의 터치 감지 유닛의 터치 신호 라인들과 전기적으로 연결되는 터치 검사 패드들;
상기 표시 모듈의 제1 전원 패드 및 제2 전원 패드와 전기적으로 연결되는 제1 전원 검사 패드 및 제2 전원 검사 패드;
상기 제1 전원 검사 패드 및 상기 제2 전원 검사 패드로 제1 검사 전원 전압 및 제2 검사 전원 전압을 제공하는 전압 발생기;
상기 제1 전원 검사 패드 및 상기 제2 전원 검사 패드 사이의 정전 용량을 측정하는 정전 용량 측정기; 및
상기 터치 감지 유닛을 검사하기 위한 터치 검사 신호들을 상기 터치 검사 패드들로 출력하는 터치 검사기를 포함하는 검사 장치.
제 1 항에 있어서,
상기 전압 발생기는 전압 제어 신호에 응답해서 상기 제1 검사 전원 전압 및 상기 제2 검사 전원 전압 중 적어도 하나의 전압 레벨을 변경하는 검사 장치.
제 2 항에 있어서,
상기 터치 패드들과 상기 터치 검사 패드들을 전기적으로 연결하고, 상기 제1 및 제2 전원 패드들과 상기 제1 및 제2 전원 검사 패드들을 전기적으로 연결하기 위한 커넥터; 및
외부로부터 수신되는 검사 제어 신호에 응답해서 상기 전압 제어 신호를 출력하는 인터페이스를 더 포함하는 검사 장치.
제 1 항에 있어서,
상기 정전 용량 측정기는 상기 측정된 정전 용량에 대응하는 감지 정전 용량 신호를 출력하는 검사 장치.
삭제
제 1 항에 있어서,
상기 터치 검사기가 상기 터치 검사 신호들을 출력하는 동작과 상기 전압 발생기가 상기 제1 검사 전원 전압 및 상기 제2 검사 전원 전압을 출력하는 동작은 병렬로 수행되는 검사 장치.
제 6 항에 있어서,
상기 터치 검사 패드들, 상기 제1 및 제2 전원 검사 패드들, 상기 전압 발생기 및 상기 정전 용량 측정기는 단일 집적 회로로 구성되는 것을 특징으로 하는 검사 장치.
제 1 항에 있어서,
상기 표시 모듈의 신호 패드들로 패널 검사 신호들을 출력하는 패널 검사 회로를 더 포함하는 검사 장치.
제 8 항에 있어서,
상기 패널 검사 회로는,
상기 표시 모듈의 상기 신호 패드들과 전기적으로 연결되는 터치 검사 패드들; 및
상기 터치 검사 패드들로 상기 패널 검사 신호들을 출력하는 검사 신호 발생기를 포함하는 검사 장치.
표시 모듈; 및
검사 장치를 포함하며,
상기 표시 모듈은,
표시 영역 및 상기 표시 영역에 인접한 비표시 영역을 포함하는 표시 패널; 및
상기 표시 패널 상에 배치되고, 상기 표시 영역에 중첩하는 감지 영역에 인가되는 외부 입력을 감지하는 터치 감지 유닛을 포함하되,
상기 표시 패널은,
상기 비표시 영역에 배치되고, 상기 터치 감지 유닛과 전기적으로 연결된 터치 패드들; 및
상기 비표시 영역에 배치되고, 상기 표시 패널과 전기적으로 연결된 제1 전원 패드 및 제2 전원 패드를 포함하며;
상기 검사 장치는,
상기 터치 패드들과 전기적으로 연결되는 터치 검사 패드들;
상기 제1 전원 패드 및 상기 제2 전원 패드와 전기적으로 연결되는 제1 전원 검사 패드 및 제2 전원 검사 패드;
상기 제1 전원 검사 패드 및 상기 제2 전원 검사 패드로 제1 검사 전원 전압 및 제2 검사 전원 전압을 제공하는 전압 발생기;
상기 제1 전원 검사 패드 및 상기 제2 전원 검사 패드 사이의 정전 용량을 측정하는 정전 용량 측정기; 및
상기 터치 감지 유닛을 검사하기 위한 터치 검사 신호들을 상기 터치 검사 패드들로 출력하는 터치 검사기를 포함하는 검사 시스템.
제 10 항에 있어서,
상기 전압 발생기는 전압 제어 신호에 응답해서 상기 제1 검사 전원 전압 및 상기 제2 검사 전원 전압 중 적어도 하나의 전압 레벨을 변경하는 검사 시스템.
제 11 항에 있어서,
상기 터치 패드들과 상기 터치 검사 패드들을 전기적으로 연결하고, 상기 표시 패널의 상기 제1 및 제2 전원 패드들과 상기 제1 및 제2 전원 검사 패드들을 전기적으로 연결하기 위한 커넥터; 및
외부로부터 수신되는 검사 제어 신호에 응답해서 상기 전압 제어 신호를 출력하는 인터페이스를 더 포함하는 검사 시스템.
제 11 항에 있어서,
상기 정전 용량 측정기는 상기 측정된 정전 용량에 대응하는 감지 정전 용량 신호를 출력하는 검사 시스템.
삭제
제 11 항에 있어서,
상기 표시 패널은 상기 표시 영역에 배열되고, 복수의 데이터 라인들 및 복수의 스캔 라인들에 각각 연결되는 복수의 화소들을 포함하되,
상기 복수의 화소들 중 적어도 하나는,
애노드 및 캐소드를 포함하는 발광 다이오드;
제1 전원 전압을 수신하는 제1 전극, 상기 발광 다이오드의 상기 애노드에 전기적으로 연결되는 제2 전극 및 게이트 전극을 포함하는 제1 트랜지스터;
상기 제1 트랜지스터의 상기 제1 전극과 연결된 제1 전극 및 상기 제1 트랜지스터의 상기 게이트 전극과 연결된 제2 전극을 포함하는 커패시터; 및
상기 복수의 데이터 라인들 중 대응하는 데이터 라인과 연결된 제1 전극, 상기 커패시터의 상기 제2 전극과 연결된 제2 전극 및 제1 스캔 신호를 수신하는 게이트 전극을 포함하는 제2 트랜지스터를 포함하는 검사 시스템.
제 15 항에 있어서,
상기 제1 트랜지스터의 상기 제1 전극은 상기 제1 전원 패드와 전기적으로 연결되고, 그리고
상기 발광 다이오드의 상기 캐소드는 상기 제2 전원 패드와 전기적으로 연결되는 검사 시스템.
제 16 항에 있어서,
상기 정전 용량 측정기는 상기 제1 트랜지스터의 상기 제1 전극과 상기 발광 다이오드의 상기 캐소드 사이의 정전 용량에 대응하는 감지 정전 용량 신호를 출력하는 검사 시스템.
터치 감지 유닛의 터치 패드들과 전기적으로 연결되는 터치 검사 패드들, 표시 패널의 제1 전원 패드 및 제2 전원 패드와 전기적으로 연결되는 제1 전원 검사 패드 및 제2 전원 검사 패드를 포함하는 검사 장치의 검사 방법에 있어서:
상기 제1 전원 검사 패드 및 상기 제2 전원 검사 패드로 제1 검사 전원 전압 및 제2 검사 전원 전압을 제공하는 단계;
상기 제1 전원 검사 패드 및 상기 제2 전원 검사 패드 사이의 정전 용량을 측정하는 단계; 및
상기 터치 감지 유닛을 검사하기 위한 터치 검사 신호들을 상기 터치 검사 패드들로 출력하는 단계를 포함하는 검사 장치의 검사 방법.
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제 18 항에 있어서,
상기 측정된 정전 용량에 대응하는 감지 정전 용량 신호를 출력하는 단계를 더 포함하는 검사 장치의 검사 방법.