KR102552144B1 - 터치장치 및 그 검사조정방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은, 터치장치 및 그 검사조정방법에 관한 것으로, 활성영역에 배치되는 다수의 송신배선 및 다수의 수신배선과, 상기 다수의 송신배선의 일단과 상기 다수의 수신배선의 일단이 연결되는 터치구동부와, 상기 활성영역을 둘러싸는 비활성영역에 배치되고, 상기 다수의 송신배선의 타단과 상기 다수의 수신배선의 타단 중 적어도 하나에 각각 연결되는 다수의 조정 박막트랜지스터와, 상기 비활성영역에 배치되고, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터에 각각 연결되는 다수의 조정 커패시터를 포함하는 터치장치를 제공하는데, 송신배선 및 수신배선 중 적어도 하나의 일단에 연결되는 조정 박막트랜지스터 및 조정 커패시터를 이용하여 상호 커패시턴스 및 상호 커패시턴스의 변동량을 검출함으로써, 터치상태에서의 단선 및 단락 검사가 가능하고, 수율이 개선되고, 제조비용이 절감된다.

Description

터치장치 및 그 검사조정방법 {Touch Device And Method Of Inspecting And Calibrating The Same}
본 발명은 터치장치에 관한 것으로, 특히 송신배선 및 수신배선 중 적어도 하나의 일단에 연결되는 조정 박막트랜지스터 및 조정 커패시터를 포함하는 터치장치 및 그 검사조정방법에 관한 것이다.
정보화 시대에 발맞추어 디스플레이(display) 분야 또한 급속도로 발전해 왔고, 이에 부응해서 박형화, 경량화, 저소비전력화 장점을 지닌 평판표시장치(flat panel display device: FPD)로서 액정표시장치(liquid crystal display device: LCD), 플라즈마표시장치(plasma display panel device: PDP), 유기발광다이오드 표시장치(organic light emitting diode display device: OLED), 전계방출표시장치(field emission display device: FED) 등이 소개되어 기존의 브라운관(cathode ray tube: CRT)을 빠르게 대체하고 있다.
최근에는, 이러한 표시패널(display panel) 상에 터치패널(touch panel)을 부착한 터치 표시장치(또는 터치 스크린)가 각광받고 있다.
터치 표시장치는, 영상을 표시하는 출력수단으로 사용되는 동시에, 표시된 영상의 특정부위를 터치하여 사용자의 명령을 입력 받는 입력수단으로 사용되는 것으로, 터치 표시장치의 터치패널은 위치정보 검출방식에 따라 감압방식, 정전방식, 적외선방식, 초음파방식 등으로 구분될 수 있다.
즉, 사용자가 표시패널에 표시되는 영상을 보면서 터치패널을 터치하면, 터치패널은 해당 부위의 위치정보를 검출하고 검출된 위치정보를 영상의 위치정보와 비교하여 사용자의 명령을 인식할 수 있다.
이러한 터치 표시장치는, 별도의 터치패널을 표시패널에 부착하거나, 터치패널을 표시패널의 기판에 형성하여 일체화하는 형태로 제조될 수 있다.
한편, 정전용량 방식 터치장치는, 송신배선 및 수신배선을 독립적으로 형성하고 터치에 따른 송신배선 및 수신배선 사이의 커패시턴스의 변화를 검출하는 상호정전용량(mutual capacitance) 방식과, 영역별로 독립된 터치전극에 전압을 인가하고 터치에 따른 터치전극의 커패시턴스의 변화를 검출하는 자기정전용량(self capacitance) 방식으로 구분될 수 있다.
이 중에서 상호정전용량 방식 터치장치는 동작전압, 동작온도, 습도변화, 수막 또는 근접 도전체 등의 사용환경에 민감하게 작동하는데, 예를 들어 배터리로만 사용하는 상태, 충전을 하면서 사용하는 상태, 세계 각국의 다양한 전압 및 주파수로 사용하는 상태 등의 사용환경에 따라 잡음(noise)의 정도가 변화하고, 그 결과 최적의 터치감도를 유지하지 못하는 경우가 발생한다.
이를 방지하고 최적 구동조건을 유지하기 위하여, 터치장치는 주파수 변경에 의한 조정(calibration)을 수행하는데, 이를 도면을 참조하여 설명한다.
도 1은 종래의 터치장치의 조정방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 1에 도시한 바와 같이, 종래의 터치장치(10)는 기판(20) 상부에 배치되는 송신배선(22) 및 수신배선(26)을 포함하는데, 송신배선(22) 및 수신배선(26)의 상부에는 각각 제1 및 제2절연층(24, 28)이 배치된다.
이러한 터치장치(10)를 완성한 후 전자기기에 적용하기 전에, 터치장치(10)에 대한 검사단계 및 조정단계를 진행한다.
터치장치(10)에 대한 검사단계에서는, 송신배선(22)에 송신신호를 인가하고, 수신배선(26)의 수신신호를 검출하고, 송신신호 및 수신신호로부터 송신배선(22) 및 수신배선(26) 사이의 상호 커패시턴스를 산출하여, 송신배선(22) 및 수신배선(26)의 단선 및 단락을 검사한다.
터치장치(10)에 대한 조정단계에서는, 터치장치(10) 상부에 접지된 그라운딩 패드(50)를 배치하고, 송신배선(22)에 송신신호를 인가하고, 수신배선(26)의 수신신호를 검출하고, 송신신호 및 수신신호로부터 송신배선(22) 및 수신배선(26) 사이의 상호 커패시턴스를 산출한다.
그리고, 터치장치(10) 상부에 그라운딩 패드(50)를 배치하지 않은 경우의 상호 커패시턴스와 터치장치(10) 상부에 그라운딩 패드(50)를 배치한 경우의 상호 커패시턴스의 차이를 상호 커패시턴스의 변동량으로 산출하고, 상호 커패시턴스의 변동량이 기준변동량 미만이 되도록 하는 조정값을 산출하고, 산출된 조정값을 터치장치(10)에 적용하여 터치장치(10)를 조정한다.
이와 같이, 종래의 터치장치(10)의 검사단계 및 조정단계에서는, 상부에 그라운딩 패드(50)를 접촉하지 않은 상태에서 송신배선(22) 및 수신배선(26)의 단선 및 단락을 검사하고, 상부에 그라운딩 패드(50)를 접촉한 상태에서 터치장치(10)를 조정한다.
그런데, 종래의 터치장치(10)의 검사단계 및 조정단계에서는, 상부에 그라운딩 패드(50)를 접촉하지 않은 상태에서 송신배선(22) 및 수신배선(26)의 단선 및 단락을 검사하므로, 터치상태에서의 송신배선(22) 및 수신배선(26)의 단선 및 단락을 검사할 수 없는 문제가 있다.
그리고, 상부에 그라운딩 패드(50)를 접촉한 상태에서 터치장치(10)를 조정하므로, 그라운딩 패드(50)의 불량여부에 따라 터치장치(10)의 조정이 부족하여 터치장치(10)의 수율이 감소되고, 그라운딩 패드(50)의 유지 보수에 따라 터치장치(10)의 제조비용이 증가하는 문제가 있다.
본 발명은, 이러한 문제점을 해결하기 위하여 제시된 것으로, 송신배선 및 수신배선 중 적어도 하나의 일단에 연결되는 조정 박막트랜지스터 및 조정 커패시터를 이용하여 상호 커패시턴스 및 상호 커패시턴스의 변동량을 검출함으로써, 터치상태에서의 단선 및 단락 검사가 가능한 터치장치 및 그 검사조정방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
그리고, 본 발명은, 그라운딩 패드 대신에 송신배선 및 수신배선 중 적어도 하나의 일단에 연결되는 조정 박막트랜지스터 및 조정 커패시터를 이용하여 상호 커패시턴스 및 상호 커패시턴스의 변동량을 검출함으로써, 수율이 개선되고 제조비용이 절감되는 터치장치 및 그 검사조정방법을 제공하는 것을 다른 목적으로 한다.
위와 같은 과제의 해결을 위해, 본 발명은, 활성영역에 배치되는 다수의 송신배선 및 다수의 수신배선과, 상기 다수의 송신배선의 일단과 상기 다수의 수신배선의 일단이 연결되는 터치구동부와, 상기 활성영역을 둘러싸는 비활성영역에 배치되고, 상기 다수의 송신배선의 타단과 상기 다수의 수신배선의 타단 중 적어도 하나에 각각 연결되는 다수의 조정 박막트랜지스터와, 상기 비활성영역에 배치되고, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터에 각각 연결되는 다수의 조정 커패시터를 포함하는 터치장치를 제공한다.
그리고, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터의 게이트는 각각 조정배선을 통하여 상기 터치구동부에 연결되고, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터의 드레인은 각각 상기 다수의 송신배선의 타단에 연결되고, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터의 소스는 각각 다수의 조정 커패시터의 일단에 연결되고, 상기 다수의 조정 커패시터의 타단은 접지될 수 있다.
또한, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터의 게이트는 각각 조정배선을 통하여 상기 터치구동부에 연결되고, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터의 드레인은 각각 상기 다수의 수신배선의 타단에 연결되고, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터의 소스는 각각 다수의 조정 커패시터의 일단에 연결되고, 상기 다수의 조정 커패시터의 타단은 접지될 수 있다.
그리고, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터는 다수의 제1조정 박막트랜지스터와 다수의 제2조정 박막트랜지스터를 포함하고, 상기 다수의 조정 커패시터는 다수의 제1조정 커패시터와 다수의 제2조정 커패시터를 포함하고, 상기 다수의 제1조정 박막트랜지스터의 게이트는 각각 제1조정배선을 통하여 상기 터치구동부에 연결되고, 상기 다수의 제1조정 박막트랜지스터의 드레인은 각각 상기 다수의 송신배선의 타단에 연결되고, 상기 다수의 제1조정 박막트랜지스터의 소스는 각각 다수의 제1조정 커패시터의 일단에 연결되고, 상기 다수의 제1조정 커패시터의 타단은 접지되고, 상기 다수의 제2조정 박막트랜지스터의 게이트는 각각 제2조정배선을 통하여 상기 터치구동부에 연결되고, 상기 다수의 제2조정 박막트랜지스터의 드레인은 각각 상기 다수의 수신배선의 타단에 연결되고, 상기 다수의 제2조정 박막트랜지스터의 소스는 각각 다수의 제2조정 커패시터의 일단에 연결되고, 상기 다수의 제2조정 커패시터의 타단은 접지될 수 있다.
다른 한편, 본 발명은, 다수의 조정 박막트랜지스터를 턴-오프 하여 다수의 송신배선과 다수의 수신배선 중 적어도 하나로부터 다수의 조정 커패시터를 전기적으로 분리하는 단계와, 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선 사이의 제1상호 커패시턴스를 산출하여 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 1차 판정하는 단계와, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터를 턴-온 하여 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선 중 적어도 하나에 상기 다수의 조정 커패시터를 전기적으로 연결하는 단계와, 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선 사이의 제2상호 커패시턴스를 산출하여 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 2차 판정하는 단계와, 상기 제1 및 제2상호 커패시턴스로부터 상호 커패시턴스의 변동량을 산출하여 터치장치를 조정하는 단계를 포함하는 터치장치의 검사조정방법을 제공한다.
그리고, 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 1차 판정하는 단계에서 양품 판정을 받은 상기 터치장치에 대하여 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 2차 판정하는 단계가 수행되고, 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 2차 판정하는 단계에서 양품 판정을 받은 상기 터치장치에 대하여 상기 터치장치를 조정하는 단계가 수행될 수 있다.
또한, 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 1차 판정하는 단계는, 상기 다수의 송신배선에 제1송신신호를 인가하는 단계와, 상기 다수의 수신배선으로부터 제1수신신호를 검출하는 단계와, 상기 제1수신신호로부터 상기 제1상호 커패시턴스을 산출하는 단계를 포함하고, 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 2차 판정하는 단계는, 상기 다수의 송신배선에 제2송신신호를 인가하는 단계와, 상기 다수의 수신배선으로부터 제2수신신호를 검출하는 단계와, 상기 제2수신신호로부터 상기 제2상호 커패시턴스을 산출하는 단계를 포함할 수 있다.
그리고, 상기 터치장치를 조정하는 단계는, 상기 상호 커패시턴스의 변동량이 기준변동량 미만이 되도록 하는 조정값을 산출하는 단계와, 상기 조정값을 상기 터치장치에 적용하여 조정하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명은, 송신배선 및 수신배선 중 적어도 하나의 일단에 연결되는 조정 박막트랜지스터 및 조정 커패시터를 이용하여 상호 커패시턴스 및 상호 커패시턴스의 변동량을 검출함으로써, 터치상태에서의 단선 및 단락 검사가 가능한 효과를 갖는다.
그리고, 본 발명은, 그라운딩 패드 대신에 송신배선 및 수신배선 중 적어도 하나의 일단에 연결되는 조정 박막트랜지스터 및 조정 커패시터를 이용하여 상호 커패시턴스 및 상호 커패시턴스의 변동량을 검출함으로써, 수율이 개선되고 제조비용이 절감되는 효과를 갖는다.
도 1은 종래의 터치장치의 조정방법을 설명하기 위한 도면.
도 2는 본 발명의 제1실시예에 따른 터치장치를 도시한 도면.
도 3은 본 발명의 제1실시예에 따른 터치장치의 검사조정방법을 설명하는 흐름도.
도 4는 본 발명의 제2실시예에 따른 터치장치를 도시한 도면.
도 5는 본 발명의 제3실시예에 따른 터치장치를 도시한 도면.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 따른 터치장치 및 그 검사조정방법을 설명한다.
도 2는 본 발명의 제1실시예에 따른 터치장치를 도시한 도면이다.
도 2에 도시한 바와 같이, 본 발명의 제1실시예에 따른 터치장치(110)는, 활성영역(AA)과, 활성영역(AA)을 둘러싸는 비활성영역(NAA)을 포함한다.
활성영역(AA)에는 다수의 송신배선(TL)과 다수의 수신배선(RL)이 배치되는데, 다수의 송신배선(TL)과 다수의 수신배선(RL)은 서로 전기적으로 절연된 상태로 교차하여 상호 커패시턴스(Cm)를 구성한다.
비활성영역(NAA)의 1측에는 터치구동부(130)가 배치되고, 비활성영역(NAA)의 나머지 3측에는 정전방지부(132)가 배치되고, 비활성영역(NAA)의 터치구동부(130)와 마주보는 정전방지부(132) 외측에는 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)와 다수의 조정 커패시터(Cc)가 배치된다.
이때, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc) 및 다수의 조정 커패시터(Cc)가 차지하는 면적은 정전방지부(132)가 차지하는 면적보다 매우 작으므로, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc) 및 다수의 조정 커패시터(Cc)를 정전방지부(132)의 여유 공간에 배치할 수도 있으며, 제1실시예의 터치장치(110)의 비활성영역(MAA)은 종래의 터치장치의 비활성영역과 동일한 면적을 가질 수 있다.
다수의 송신배선(TL)의 일단은 각각 터치구동부(130)에 연결되고, 다수의 송신배선(TL)의 타단은 각각 정전방지부(132)에 연결된다.
그리고, 다수의 송신배선(TL)의 타단은 정전방지부(132)를 통과하여 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)에 각각 연결되고, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)는 각각 다수의 조정 커패시터(Cc)에 연결된다.
다수의 수신배선(RL)의 양단은, 각각 다수의 연결배선(134)을 통하여 터치구동부(130)에 연결된다.
그리고, 다수의 수신배선(RL)의 양단은, 각각 정전방지부(132)에 연결된다.
정전방지부(132)는 다수의 송신배선(TL) 및 다수의 수신배선(RL) 각각에 연결되는 2개의 다이오드를 포함할 수 있다.
다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)의 게이트는 각각 조정배선(136)을 통하여 터치구동부(130)에 연결되고, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)의 드레인은 각각 다수의 송신배선(TL)의 타단에 연결되고, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)의 소스는 각각 다수의 조정 커패시터(Cc)의 일단에 연결된다.
다수의 조정 커패시터(Cc)의 일단은 각각 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)에 연결되고, 다수의 조정 커패시터(Cc)의 타단은 각각 접지되는데, 다수의 조정 커패시터(Cc) 각각의 정전용량은 각각 터치장치(110)에 접촉되는 손가락의 정전용량에 대응될 수 있다.
다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)는 각각 조정신호(CS)에 따라 턴-오프(turn-off) 또는 턴-온(turn-on) 되는데, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)가 턴-오프 되면 다수의 조정 커패시터(Cc)가 다수의 송신배선(TL)으로부터 분리되어 그라운딩 패드(도 1의 50)를 터치장치(110)에 접촉시키지 않은 상태와 유사한 상태가 되고, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)가 턴-온 되면 다수의 조정 커패시터(Cc)가 다수의 송신배선(TL)에 연결되어 그라운딩 패드(도 1의 50)를 터치장치(110)에 접촉시킨 상태와 유사한 상태가 된다.
이러한 터치장치(110)는, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)가 턴-오프 및 턴-온 된 상태에서 터치장치(110)를 검사하고, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)가 턴-온 된 상태에서 터치장치(110)를 조정하는데, 이를 도면을 참조하여 설명한다.
도 3은 본 발명의 제1실시예에 따른 터치장치의 검사조정방법을 설명하는 흐름도로서, 도 2를 함께 참조하여 설명한다.
도 3에 도시한 바와 같이, 터치구동부(130)는 조정신호(CS)를 통하여 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)를 턴-오프 하여(st10) 다수의 송신배선(TL)으로부터 다수의 조정 커패시터(Cc)를 전기적으로 분리한다.
이후, 터치구동부(130)는, 다수의 송신배선(TL)으로 제1송신신호를 인가하고, 다수의 수신배선(RL)으로부터 제1수신신호를 검출한다(st12).
이후, 터치구동부(130)는, 제1수신신호로부터 제1상호 커패시턴스(Cm1)를 산출하고(st14), 산출된 제1상호 커패시턴스(Cm1)로부터 다수의 송신배선(TL) 및 다수의 수신배선(RL)의 단선 및 단락을 1차로 판정한다(st16).
여기서, 불량품으로 판정 받은 터치장치(110)는 재작업 하거나 폐기하고, 양품으로 판정 받은 터치장치(110)에 대하여 선택적으로 2차 판정단계를 진행하여, 완성된 터치장치(110)의 수율을 개선할 수 있다.
이후, 터치구동부(130)는 조정신호(CS)를 통하여 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)를 턴-온 하여(st18) 다수의 송신배선(TL)에 다수의 조정 커패시터(Cc)를 전기적으로 연결한다.
이후, 터치구동부(130)는, 다수의 송신배선(TL)으로 제2송신신호를 인가하고, 다수의 수신배선(RL)으로부터 제2수신신호를 검출한다(st20).
이후, 터치구동부(130)는, 제2수신신호로부터 제2상호 커패시턴스(Cm2)를 산출하고(st22), 산출된 제2상호 커패시턴스(Cm2)로부터 다수의 송신배선(TL) 및 다수의 수신배선(RL)의 단선 및 단락을 2차로 판정한다(st24).
여기서, 불량품으로 판정 받은 터치장치(110)는 재작업 하거나 폐기하고, 양품으로 판정 받은 터치장치(110)에 대하여 선택적으로 조정단계를 진행하여, 완성된 터치장치(110)의 수율을 개선할 수 있다.
이후, 터치구동부(130)는 제1 및 제2상호 커패시턴스(Cm1, Cm2)의 차이로부터 상호 커패시턴스의 변동량(ΔCm)을 산출하고(st26), 산출된 상호 커패시턴스의 변동량(ΔCm)이 기준변동량 미만이 되도록 하는 조정값을 산출하고(st28), 산출된 조정값을 터치장치(110)에 적용하여 터치장치(110)를 조정한다.
예를 들어, 터치구동부(130)는 구동주파수를 조정값으로 이용할 수 있는데, 구동주파수를 변경하면서 상호 커패시턴스의 변동량(ΔCm)을 산출한 후, 산출된 상호 커패시턴스의 변동량(ΔCm)이 기준변동량 미만인 구동주파수를 조정값으로 결정하여 터치구동부(130)에 적용시킬 수 있으며, 이에 따라 완성된 터치장치(110)는 조정값으로 결정된 구동주파수로 구동될 수 있다.
여기서, 검사단계 및 조정단계가 수행된 터치장치(110)를 전자기기에 적용한 후 터치장치(110)의 특성이 변경될 수 있는데, 이 경우 전자기기에 결합된 상태에서 터치장치(110)의 검사단계 및 조정단계를 수행하여 터치장치(110)의 단선 및 단락을 판정하고 새로운 조정값을 산출하여 터치장치(110)에 적용할 수도 있다.
이상과 같이, 본 발명의 제1실시예에 따른 터치장치(110) 및 그 검사조정방법에서는, 조정 박막트랜지스터(Tc)를 턴-오프 하여 조정 커패시터(Cc)를 송신배선(TL)으로부터 분리한 상태의 제1상호 커패시턴스(Cm1)를 이용하여 송신배선(TL) 및 수신배선(RL)의 단선 및 단락을 판정하여 1차로 터치장치(110)를 검사하고, 조정 박막트랜지스터(Tc)를 턴-온 하여 조정 커패시터(Cc)를 송신배선(TL)에 연결한 상태의 제2상호 커패시턴스(Cm2)를 이용하여 송신배선(TL) 및 수신배선(RL)의 단선 및 단락을 판정하여 2차로 터치장치(110)를 검사함으로써, 미터치상태는 물론 터치상태에서의 단선 및 단락 검사가 가능하다.
그리고, 그라운딩 패드와 같은 외부의 수단을 터치장치(110)에 접촉하는 대신 조정 커패시터(Cc)와 같은 집적된 수단을 이용하여 터치상태를 구현하여 터치장치(110)를 조정함으로써, 터치장치(110)를 보다 정확히 조정하여 수율이 개선되고, 그라운딩 패드의 유지 보수 생략에 따라 제조비용이 절감된다.
또한, 터치장치(110)가 전자기기에 결합된 상태에서 터치장치(110)의 특성이 변경된 경우, 전자기기에 결합된 상태에서 터치장치(110)를 검사 및 조정함으로써, 터치장치(110)의 특성이 개선되고 수명이 증가한다.
제1실시예에서는 조정 박막트랜지스터 및 조정 커패시터가 송신배선에 연결되는 것을 예로 들었으나, 다른 실시예에서는 조정 박막트랜지스터 및 조정 커패시터가 수신배선에 연결될 수도 있는데, 이를 도면을 참조하여 설명한다.
도 4는 본 발명의 제2실시예에 따른 터치장치를 도시한 도면으로, 제1실시예와 동일한 부분에 대한 설명은 생략한다.
도 4에 도시한 바와 같이, 본 발명의 제2실시예에 따른 터치장치(210)는, 활성영역(AA)과, 활성영역(AA)을 둘러싸는 비활성영역(NAA)을 포함한다.
비활성영역(NAA)의 1측에는 터치구동부(230)가 배치되고, 비활성영역(NAA)의 나머지 3측에는 정전방지부(232)가 배치되고, 비활성영역(NAA)의 터치구동부(230)와 마주보는 정전방지부(232) 외측에는 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)와 다수의 조정 커패시터(Cc)가 배치된다.
이때, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc) 및 다수의 조정 커패시터(Cc)가 차지하는 면적은 정전방지부(232)가 차지하는 면적보다 매우 작으므로, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc) 및 다수의 조정 커패시터(Cc)를 정전방지부(132)의 여유 공간에 배치할 수도 있으며, 제2실시예의 터치장치(210)의 비활성영역(MAA)은 종래의 터치장치의 비활성영역과 동일한 면적을 가질 수 있다.
다수의 송신배선(TL)의 일단은 각각 터치구동부(230)에 연결되고, 다수의 송신배선(TL)의 타단은 정전방지부(232)에 연결된다.
다수의 수신배선(RL)의 양단은, 각각 다수의 연결배선(234)을 통하여 터치구동부(230)에 연결된다.
그리고, 다수의 수신배선(RL)의 일단은 정전방지부(232)에 연결되고, 다수의 수신배선(RL)의 타단은 정전방지부(232)를 통과하여 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)에 각각 연결되고, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)는 각각 다수의 조정 커패시터(Cc)에 연결된다.
정전방지부(232)는 다수의 송신배선(TL) 및 다수의 수신배선(RL) 각각에 연결되는 2개의 다이오드를 포함할 수 있다.
다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)의 게이트는 각각 조정배선(236)을 통하여 터치구동부(230)에 연결되고, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)의 드레인은 각각 다수의 수신배선(RL)의 타단에 연결되고, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)의 소스는 각각 다수의 조정 커패시터(Cc)의 일단에 연결된다.
다수의 조정 커패시터(Cc)의 일단은 각각 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)에 연결되고, 다수의 조정 커패시터(Cc)의 타단은 각각 접지되는데, 다수의 조정 커패시터(Cc) 각각의 정전용량은 각각 터치장치(210)에 접촉되는 손가락의 정전용량에 대응될 수 있다.
다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)는 각각 조정신호(CS)에 따라 턴-오프(turn-off) 또는 턴-온(turn-on) 되는데, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)가 턴-오프 되면 다수의 조정 커패시터(Cc)가 다수의 송신배선(TL)으로부터 분리되어 그라운딩 패드(도 1의 50)를 터치장치(210)에 접촉시키지 않은 상태와 유사한 상태가 되고, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)가 턴-온 되면 다수의 조정 커패시터(Cc)가 다수의 송신배선(TL)에 연결되어 그라운딩 패드(도 1의 50)를 터치장치(210)에 접촉시킨 상태와 유사한 상태가 된다.
이러한 터치장치(210)는, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)가 턴-오프 및 턴-오프 된 상태에서 터치장치(210)를 검사하고, 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)가 턴-온 된 상태에서 터치장치(210)를 조정한다.
이를 위하여, 터치구동부(230)는, 조정신호(CS)를 통하여 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)를 턴-오프 하여 다수의 수신배선(RL)으로부터 다수의 조정 커패시터(Cc)를 전기적으로 분리한 상태에서, 다수의 송신배선(TL)으로 제1송신신호를 인가하고, 다수의 수신배선(RL)으로부터 제1수신신호를 검출하여 제1상호 커패시턴스(Cm1)를 산출하고, 산출된 제1상호 커패시턴스(Cm1)로부터 다수의 송신배선(TL) 및 다수의 수신배선(RL)의 단선 및 단락을 1차로 판정한다.
여기서, 불량품으로 판정 받은 터치장치(210)는 재작업 하거나 폐기하고, 양품으로 판정 받은 터치장치(210)에 대하여 선택적으로 2차 판정단계를 진행하여, 완성된 터치장치(210)의 수율을 개선할 수 있다.
그리고, 터치구동부(230)는, 조정신호(CS)를 통하여 다수의 조정 박막트랜지스터(Tc)를 턴-온 하여 다수의 수신배선(RL)에 다수의 조정 커패시터(Cc)를 전기적으로 연결한 상태에서, 다수의 송신배선(TL)으로 제2송신신호를 인가하고, 다수의 수신배선(RL)으로부터 제2수신신호를 검출하여 제2상호 커패시턴스(Cm2)를 산출하고, 산출된 제2상호 커패시턴스(Cm2)로부터 다수의 송신배선(TL) 및 다수의 수신배선(RL)의 단선 및 단락을 2차로 판정한다.
여기서, 불량품으로 판정 받은 터치장치(210)는 재작업 하거나 폐기하고, 양품으로 판정 받은 터치장치(110)에 대하여 선택적으로 2차 판정단계를 진행하여, 완성된 터치장치(210)의 수율을 개선할 수 있다.
그리고, 터치구동부(230)는 제1 및 제2상호 커패시턴스(Cm1, Cm2)의 차이로부터 상호 커패시턴스의 변동량(ΔCm)을 산출하고, 산출된 상호 커패시턴스의 변동량(ΔCm)이 기준변동량 미만이 되도록 하는 조정값을 산출하고, 산출된 조정값을 터치장치(210)에 적용하여 터치장치(210)를 조정한다.
여기서, 검사단계 및 조정단계가 수행된 터치장치(210)를 전자기기에 적용한 후 터치장치(210)의 특성이 변경될 수 있는데, 이 경우 전자기기에 결합된 상태에서 터치장치(210)의 검사단계 및 조정단계를 수행하여 터치장치(210)의 단선 및 단락을 판정하고 새로운 조정값을 산출하여 터치장치(210)에 적용할 수도 있다.
이상과 같이, 본 발명의 제2실시예에 따른 터치장치(210) 및 그 검사조정방법에서는, 조정 박막트랜지스터(Tc)를 턴-오프 하여 조정 커패시터(Cc)를 수신배선(RL)으로부터 분리한 상태의 제1상호 커패시턴스(Cm1)를 이용하여 송신배선(TL) 및 수신배선(RL)의 단선 및 단락을 판정하여 1차로 터치장치(210)를 검사하고, 조정 박막트랜지스터(Tc)를 턴-온 하여 조정 커패시터(Cc)를 수신배선(RL)에 연결한 상태의 제2상호 커패시턴스(Cm2)를 이용하여 송신배선(TL) 및 수신배선(RL)의 단선 및 단락을 판정하여 2차로 터치장치(210)를 검사함으로써, 미터치상태는 물론 터치상태에서의 단선 및 단락 검사가 가능하다.
그리고, 그라운딩 패드와 같은 외부의 수단을 터치장치(210)에 접촉하는 대신 조정 커패시터(Cc)와 같은 집적된 수단을 이용하여 터치상태를 구현하여 터치장치(210)를 조정함으로써, 터치장치(210)를 보다 정확히 조정하여 수율이 개선되고, 그라운딩 패드의 유지 보수 생략에 따라 제조비용이 절감된다.
또한, 터치장치(210)가 전자기기에 결합된 상태에서 터치장치(210)의 특성이 변경된 경우, 전자기기에 결합된 상태에서 터치장치(210)를 검사 및 조정함으로써, 터치장치(210)의 특성이 개선되고 수명이 증가한다.
제1 및 제2실시예에서는 각각 조정 박막트랜지스터 및 조정 커패시터가 송신배선 및 수신배선에 연결되는 것을 예로 들었으나, 다른 실시예에서는 조정 박막트랜지스터 및 조정 커패시터가 송신배선 및 수신배선에 연결될 수도 있는데, 이를 도면을 참조하여 설명한다.
도 5는 본 발명의 제3실시예에 따른 터치장치를 도시한 도면으로, 제1 및 제2실시예와 동일한 부분에 대한 설명은 생략한다.
도 5에 도시한 바와 같이, 본 발명의 제3실시예에 따른 터치장치(310)는, 활성영역(AA)과, 활성영역(AA)을 둘러싸는 비활성영역(NAA)을 포함한다.
비활성영역(NAA)의 1측에는 터치구동부(330)가 배치되고, 비활성영역(NAA)의 나머지 3측에는 정전방지부(332)가 배치되고, 비활성영역(NAA)의 터치구동부(330)와 마주보는 정전방지부(332) 외측에는 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1), 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2), 다수의 제1조정 커패시터(Cc1) 및 다수의 제2조정 커패시터(Cc2)가 배치된다.
이때, 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1), 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2), 다수의 제1조정 커패시터(Cc1) 및 다수의 제2조정 커패시터(Cc2)가 차지하는 면적은 정전방지부(332)가 차지하는 면적보다 매우 작으므로, 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1), 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2), 다수의 제1조정 커패시터(Cc1) 및 다수의 제2조정 커패시터(Cc2)를 정전방지부(332)의 여유 공간에 배치할 수도 있으며, 제3실시예의 터치장치(310)의 비활성영역(MAA)은 종래의 터치장치의 비활성영역과 동일한 면적을 가질 수 있다.
다수의 송신배선(TL)의 일단은 각각 터치구동부(230)에 연결되고, 다수의 송신배선(TL)의 타단은 정전방지부(232)에 연결된다.
그리고, 다수의 송신배선(TL)의 타단은 정전방지부(332)를 통과하여 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1)에 각각 연결되고, 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1)는 각각 다수의 제1조정 커패시터(Cc1)에 연결된다.
다수의 수신배선(RL)의 양단은, 각각 다수의 연결배선(334)을 통하여 터치구동부(230)에 연결된다.
그리고, 다수의 수신배선(RL)의 일단은 정전방지부(332)에 연결되고, 다수의 수신배선(RL)의 타단은 정전방지부(332)를 통과하여 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2)에 각각 연결되고, 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2)는 각각 다수의 제2조정 커패시터(Cc2)에 연결된다.
정전방지부(332)는 다수의 송신배선(TL) 및 다수의 수신배선(RL) 각각에 연결되는 2개의 다이오드를 포함할 수 있다.
다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1)의 게이트는 각각 제1조정배선(336)을 통하여 터치구동부(330)에 연결되고, 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1)의 드레인은 각각 다수의 송신배선(TL)의 타단에 연결되고, 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1)의 소스는 각각 다수의 제1조정 커패시터(Cc1)의 일단에 연결된다.
다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2)의 게이트는 각각 제2조정배선(338)을 통하여 터치구동부(330)에 연결되고, 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2)의 드레인은 각각 다수의 수신배선(RL)의 타단에 연결되고, 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2)의 소스는 각각 다수의 제2조정 커패시터(Cc2)의 일단에 연결된다.
다수의 제1조정 커패시터(Cc1)의 일단은 각각 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1)에 연결되고, 다수의 제1조정 커패시터(Cc1)의 타단은 각각 접지되고, 다수의 제2조정 커패시터(Cc2)의 일단은 각각 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2)에 연결되고, 다수의 제2조정 커패시터(Cc2)의 타단은 각각 접지되는데, 다수의 제1조정 커패시터(Cc1)와 다수의 제2조정 커패시터(Cc2) 각각의 정전용량은 각각 터치장치(310)에 접촉되는 손가락의 정전용량에 대응될 수 있다.
다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1)는 각각 제1조정신호(CS1)에 따라 턴-오프(turn-off) 또는 턴-온(turn-on) 되고, 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2)는 각각 제2조정신호(CS2)에 따라 턴-오프 또는 턴-온 되는데, 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1)가 턴-오프 되면 다수의 제1조정 커패시터(Cc1)가 다수의 송신배선(TL)으로부터 분리되고, 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2)가 턴-오프 되면 다수의 제2조정 커패시터(Cc2)가 다수의 수신배선(RL)으로부터 분리되어, 그라운딩 패드(도 1의 50)를 터치장치(310)에 접촉시키지 않은 상태와 유사한 상태가 된다.
그리고, 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1)가 턴-온 되면 다수의 제1조정 커패시터(Cc1)가 다수의 송신배선(TL)에 연결되고, 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2)가 턴-온 되면 다수의 제2조정 커패시터(Cc2)가 다수의 수신배선(RL)에 연결되어, 그라운딩 패드(도 1의 50)를 터치장치(310)에 접촉시킨 상태와 유사한 상태가 된다.
이러한 터치장치(310)는, 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1)와 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2)가 턴-오프 및 턴-온 된 상태에서 터치장치(310)를 검사하고, 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1) 및 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2)가 턴-온 된 상태에서 터치장치(310)를 조정한다.
이를 위하여, 터치구동부(330)는, 제1 및 제2조정신호(CS1, CS2)를 통하여 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1) 및 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2)를 턴-오프 하여 다수의 송신배선(TL) 및 다수의 수신배선(RL)으로부터 다수의 제1조정 커패시터(Cc1) 및 다수의 제2조정 커패시터(Cc2)를 각각 전기적으로 분리한 상태에서, 다수의 송신배선(TL)으로 제1송신신호를 인가하고, 다수의 수신배선(RL)으로부터 제1수신신호를 검출하여 제1상호 커패시턴스(Cm1)를 산출하고, 산출된 제1상호 커패시턴스(Cm1)로부터 다수의 송신배선(TL) 및 다수의 수신배선(RL)의 단선 및 단락을 1차로 판정한다.
여기서, 불량품으로 판정 받은 터치장치(310)는 재작업 하거나 폐기하고, 양품으로 판정 받은 터치장치(110)에 대하여 선택적으로 2차 판정단계를 진행하여, 완성된 터치장치(310)의 수율을 개선할 수 있다.
그리고, 터치구동부(330)는, 제1 및 제2조정신호(CS1, CS2)를 통하여 다수의 제1조정 박막트랜지스터(Tc1) 및 다수의 제2조정 박막트랜지스터(Tc2)를 턴-온 하여 다수의 송신배선(TL) 및 다수의 수신배선(RL)에 다수의 제1조정 커패시터(Cc1) 및 다수의 제2조정 커패시터(Cc2)를 각각 전기적으로 연결한 상태에서, 다수의 송신배선(TL)으로 제2송신신호를 인가하고, 다수의 수신배선(RL)으로부터 제2수신신호를 검출하여 제2상호 커패시턴스(Cm2)를 산출하고, 산출된 제2상호 커패시턴스(Cm2)로부터 다수의 송신배선(TL) 및 다수의 수신배선(RL)의 단선 및 단락을 2차로 판정한다.
여기서, 불량품으로 판정 받은 터치장치(310)는 재작업 하거나 폐기하고, 양품으로 판정 받은 터치장치(110)에 대하여 선택적으로 2차 판정단계를 진행하여, 완성된 터치장치(310)의 수율을 개선할 수 있다.
그리고, 터치구동부(330)는 제1 및 제2상호 커패시턴스(Cm1, Cm2)의 차이로부터 상호 커패시턴스의 변동량(ΔCm)을 산출하고, 산출된 상호 커패시턴스의 변동량(ΔCm)이 기준변동량 미만이 되도록 하는 조정값을 산출하고, 산출된 조정값을 터치장치(310)에 적용하여 터치장치(310)를 조정한다.
여기서, 검사단계 및 조정단계가 수행된 터치장치(310)를 전자기기에 적용한 후 터치장치(310)의 특성이 변경될 수 있는데, 이 경우 전자기기에 결합된 상태에서 터치장치(310)의 검사단계 및 조정단계를 수행하여 터치장치(310)의 단선 및 단락을 판정하고 새로운 조정값을 산출하여 터치장치(310)에 적용할 수도 있다.
이상과 같이, 본 발명의 제3실시예에 따른 터치장치(310) 및 그 검사조정방법에서는, 제1 및 제2조정 박막트랜지스터(Tc1, Tc2)를 턴-오프 하여 제1 및 제2조정 커패시터(Cc1, Cc2)를 송신배선(TL) 및 수신배선(RL)으로부터 분리한 상태의 제1상호 커패시턴스(Cm1)를 이용하여 송신배선(TL) 및 수신배선(RL)의 단선 및 단락을 판정하여 1차로 터치장치(310)를 검사하고, 제1 및 제2조정 박막트랜지스터(Tc1, Tc2)를 턴-온 하여 제1 및 제2조정 커패시터(Cc1, Cc2)를 수신배선(RL)에 연결한 상태의 제2상호 커패시턴스(Cm2)를 이용하여 송신배선(TL) 및 수신배선(RL)의 단선 및 단락을 판정하여 2차로 터치장치(310)를 검사함으로써, 미터치상태는 물론 터치상태에서의 단선 및 단락 검사가 가능하다.
그리고, 그라운딩 패드와 같은 외부의 수단을 터치장치(310)에 접촉하는 대신 제1 및 제2조정 커패시터(Cc1, Cc2)와 같은 집적된 수단을 이용하여 터치상태를 구현하여 터치장치(310)를 조정함으로써, 터치장치(310)를 보다 정확히 조정하여 수율이 개선되고, 그라운딩 패드의 유지 보수 생략에 따라 제조비용이 절감된다.
또한, 터치장치(310)가 전자기기에 결합된 상태에서 터치장치(310)의 특성이 변경된 경우, 전자기기에 결합된 상태에서 터치장치(310)를 검사 및 조정함으로써, 터치장치(310)의 특성이 개선되고 수명이 증가한다.
제1 내지 제3실시예에서는 터치장치를 예로 들어 설명하였으나, 다른 실시예에서는 터치장치가 표시장치에 일체화 된 인-셀(in-cell) 타입의 터치표시장치에도 조정 박막트랜지스터 및 조정 커패시터를 적용할 수 있으며, 이 경우 조정 박막트랜지스터 및 조정 커패시터는 표시장치의 어레이기판에 화소 박막트랜지스터와 동일한 공정을 통하여 형성될 수 있다.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
110: 터치장치 130: 터치구동부
132: 정전방지부 Tc: 조정 박막트랜지스터
Cc: 조정 커패시터 CS: 조정신호

Claims (11)

  1. 활성영역에 배치되는 다수의 송신배선 및 다수의 수신배선과;
    상기 다수의 송신배선의 일단과 상기 다수의 수신배선의 일단이 연결되는 터치구동부와;
    상기 활성영역을 둘러싸는 비활성영역에 배치되고, 상기 다수의 송신배선의 타단과 상기 다수의 수신배선의 타단 중 적어도 하나에 각각 연결되는 다수의 조정 박막트랜지스터와;
    상기 비활성영역에 배치되고, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터에 각각 연결되는 다수의 조정 커패시터
    를 포함하고,
    상기 다수의 조정 커패시터의 일단은 각각 상기 다수의 조정 박막트랜지스터에 직접 연결되고, 상기 다수의 조정 커패시터의 타단은 각각 접지단자에 직접 연결되는 터치장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 다수의 조정 박막트랜지스터의 게이트는 각각 조정배선을 통하여 상기 터치구동부에 연결되고, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터의 드레인은 각각 상기 다수의 송신배선의 타단에 연결되고, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터의 소스는 각각 다수의 조정 커패시터의 일단에 연결되고, 상기 다수의 조정 커패시터의 타단은 접지되는 터치장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 다수의 조정 박막트랜지스터의 게이트는 각각 조정배선을 통하여 상기 터치구동부에 연결되고, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터의 드레인은 각각 상기 다수의 수신배선의 타단에 연결되고, 상기 다수의 조정 박막트랜지스터의 소스는 각각 다수의 조정 커패시터의 일단에 연결되고, 상기 다수의 조정 커패시터의 타단은 접지되는 터치장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 다수의 조정 박막트랜지스터는 다수의 제1조정 박막트랜지스터와 다수의 제2조정 박막트랜지스터를 포함하고,
    상기 다수의 조정 커패시터는 다수의 제1조정 커패시터와 다수의 제2조정 커패시터를 포함하고,
    상기 다수의 제1조정 박막트랜지스터의 게이트는 각각 제1조정배선을 통하여 상기 터치구동부에 연결되고, 상기 다수의 제1조정 박막트랜지스터의 드레인은 각각 상기 다수의 송신배선의 타단에 연결되고, 상기 다수의 제1조정 박막트랜지스터의 소스는 각각 다수의 제1조정 커패시터의 일단에 연결되고, 상기 다수의 제1조정 커패시터의 타단은 접지되고,
    상기 다수의 제2조정 박막트랜지스터의 게이트는 각각 제2조정배선을 통하여 상기 터치구동부에 연결되고, 상기 다수의 제2조정 박막트랜지스터의 드레인은 각각 상기 다수의 수신배선의 타단에 연결되고, 상기 다수의 제2조정 박막트랜지스터의 소스는 각각 다수의 제2조정 커패시터의 일단에 연결되고, 상기 다수의 제2조정 커패시터의 타단은 접지되는 터치장치.
  5. 다수의 조정 박막트랜지스터를 턴-오프 하여 다수의 송신배선과 다수의 수신배선 중 적어도 하나로부터 다수의 조정 커패시터를 전기적으로 분리하는 단계와;
    상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선 사이의 제1상호 커패시턴스를 산출하여 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 1차 판정하는 단계와;
    상기 다수의 조정 박막트랜지스터를 턴-온 하여 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선 중 적어도 하나에 상기 다수의 조정 커패시터를 전기적으로 연결하는 단계와;
    상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선 사이의 제2상호 커패시턴스를 산출하여 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 2차 판정하는 단계와;
    상기 제1 및 제2상호 커패시턴스로부터 상호 커패시턴스의 변동량을 산출하여 터치장치를 조정하는 단계
    를 포함하고,
    상기 터치장치를 조정하는 단계는,
    상기 상호 커패시턴스의 변동량이 기준변동량 미만이 되도록 하는 조정값을 산출하는 단계와;
    상기 조정값을 상기 터치장치에 적용하여 조정하는 단계
    를 포함하는 터치장치의 검사조정방법.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 1차 판정하는 단계에서 양품 판정을 받은 상기 터치장치에 대하여 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 2차 판정하는 단계가 수행되고,
    상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 2차 판정하는 단계에서 양품 판정을 받은 상기 터치장치에 대하여 상기 터치장치를 조정하는 단계가 수행되는 터치장치의 검사조정방법.
  7. 제 5 항에 있어서,
    상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 1차 판정하는 단계는,
    상기 다수의 송신배선에 제1송신신호를 인가하는 단계와;
    상기 다수의 수신배선으로부터 제1수신신호를 검출하는 단계와;
    상기 제1수신신호로부터 상기 제1상호 커패시턴스을 산출하는 단계
    를 포함하고,
    상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선의 단선 및 단락을 2차 판정하는 단계는,
    상기 다수의 송신배선에 제2송신신호를 인가하는 단계와;
    상기 다수의 수신배선으로부터 제2수신신호를 검출하는 단계와;
    상기 제2수신신호로부터 상기 제2상호 커패시턴스을 산출하는 단계
    를 포함하는 터치장치의 검사조정방법.
  8. 삭제
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 다수의 조정 박막트랜지스터는 조정신호에 따라 동시에 턴-오프 또는 턴-온 되는 터치장치.
  10. 제 1 항에 있어서,
    상기 터치구동부는,
    상기 다수의 조정 박막트랜지스터를 턴-오프 하여 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선 사이의 제1상호 커패시턴스를 산출하고,
    상기 다수의 조정 박막트랜지스터를 턴-온 하여 상기 다수의 송신배선과 상기 다수의 수신배선 사이의 제2상호 커패시턴스를 산출하고,
    상기 제1 및 제2상호 커패시턴스로부터 상호 커패시턴스의 변동량을 산출하고,
    상기 상호 커패시턴스의 변동량이 기준변동량 미만이 되도록 조정값을 산출하고,
    상기 조정값을 상기 터치장치에 적용하여 조정하는 터치장치.
  11. 제 10 항에 있어서,
    상기 터치구동부는, 구동주파수를 변경하면서 상기 상호 커패시턴스의 변동량을 산출하고, 상기 상호 커패시턴스의 변동량이 상기 기준변동량 미만인 상기 구동주파수를 상기 조정값으로 결정하는 터치장치.

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