KR20070110745A

KR20070110745A - Ｏｌｅｄ어레이 기판

Info

Publication number: KR20070110745A
Application number: KR1020060043585A
Authority: KR
Inventors: 이선율
Original assignee: 삼성에스디아이 주식회사
Priority date: 2006-05-15
Filing date: 2006-05-15
Publication date: 2007-11-20
Also published as: KR100782464B1

Abstract

본 발명은 원장 단위 검사가 가능한 OLED 어레이 기판이 개시된다. 상기 OLED 어레이 기판은 다수의 OLED 패널들이 배열된 하부 기판 및 상기 하부 기판과 합착되어 상기 OLED 패널들을 밀봉하는 상부 기판을 포함한다. 상기 하부기판은 상기 OLED 패널들의 이격 공간에 위치하며 상기 OLED 패널들에 전원을 공급하기 위한 제 1 전원전압라인과 제 1 기준전압라인을 포함하는 다수의 배선 그룹을 포함하며, 상기 상부 기판은 상기 제 1 전원전압라인과 상기 제 1 기준전압라인과 대응되는 영역에 각각 위치하는 제 2 전원전압라인과 제 2 기준전압라인을 포함한다. 상기 제 2 전원전압라인과 상기 제 2 기준전압라인은 상기 제 1 전원전압라인 및 상기 제 1 기준전압라인과 전기적으로 연결된다. 양의 전원 전압과 음의 전원 전압이 동시에 공급되는 OLED 패널은 선택되고, 각각의 배선 그룹에 구비된 신호 라인들을 이용하여 선택된 OLED 패널에 대한 검사가 수행된다.

Description

ＯＬＥＤ어레이 기판{Organic Light-Emitting Diode Array Substrate}

도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 OLED 어레이 기판을 도시한 평면도이다.

도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 상기 도 1에서 도시된 OLED 패널 및 배선 그룹들을 도시한 블록도이다.

도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따라, 상기 도 1의 OLED 어레이 기판을 도시한 단면도이다.

도 4a 및 도 4b는 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 점등 검사의 수행을 설명하기 위한 회로도들이다.

도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 점등 검사를 설명하기 위한 다른 회로도이다.

도 6a 내지 도 6f는 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 원장 단위의 검사를 수행하는 방법을 도시한 블록도들이다.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *

100 : 하부 기판 110 : OLED 패널

130 : 제 1 배선 그룹 131 : 제 1 전원전압라인

133 : 주사 발생 라인 135 : 데이터 선택 라인

150 : 제 2 배선 그룹 151 : 제 1 기준전압라인

153 : 점등 검사 라인 160 : 패드

170 : 도전성 스페이서 200 : 상부 기판

231 : 제 2 전원전압라인 235 : 제 2 기준전압라인

310 : 점등 회로부 430 : 데이터 분배기

본 발명은 OLED 어레이 기판에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 원장 단위(sheet unit)로 다수의 OLED 패널들을 검사할 수 있는 OLED 어레이 기판에 관한 것이다.

OLED 패널들은 하나의 하부 기판에 형성된다. 즉, 공통된 하나의 하부 기판 상에 동일한 제조 공정을 통해 다수의 OLED 패널들이 제조되며, 상기 하부 기판은 상기 OLED 패널들을 밀봉하기 위하여 상부 기판과 합착된 다음 각각의 패널별로 스크라이빙 된다. 상기와 같이 제조된 다수의 OLED 패널들의 불량 유무를 검사하는 방법은 크게 2가지로 나누어진다.

첫째는 기판을 스크라이빙(scribing)하여 각각의 OLED 패널들을 분할하고, 분할된 각각의 OLED 패널에 대한 검사를 수행하는 것이다. 즉, 별도의 배선 구조를 가지지 않고, 분할된 OLED 패널에 대한 검사를 수행한다. 상기 방법은 패널 단위의 검사 장비에서 검사가 수행되어야 하므로 만일, 패널의 모델이 변경되어 패널을 구성하는 회로 배선이 변경되거나, 패널의 크기가 변경되는 경우, 검사 장비를 변경하거나, 검사를 위해 요구되는 지그(zig)가 변경되어야 하는 문제가 발생한다.

둘째는 기판을 하나의 칼럼 또는 하나의 로우 단위로 스크라이빙하여 스틱 단위(stick unit)로 검사를 수행하는 것이다. 대한민국 공개특허 제 2002-41674호 및 대한민국 공개특허 제 1999-3277호에는 액정 표시 장치에 대해 스틱 단위로 검사를 수행하는 방법이 개시된다. 상기 공개특허들은 각각의 패널이 액정으로 구성된 것을 전제로 하고 있으며, 스틱 단위의 검사를 수행하기 위해 스틱의 양측면에 검사용 패드를 구비하는 것을 특징으로 하고 있다. 특히, 스틱 단위의 검사 공정은 육안 검사를 수행하기 위해 구비되는 것으로 기술되어 있다.

액정 표시 장치의 경우, 액정이 상부 기판과 하부 기판 사이에 주입되는 공정이 필수적으로 개재되고, 특성 검사의 항목이 육안 검사에 집중되므로 스틱 단위로 검사가 수행되어도 검사시간(Turn Around Time; TAT)이 길어지는 문제는 발생하지 않는다. 그러나 OLED 패널의 경우, 유기발광층이 포함된 유기막층이 이미 형성된 상태에서 육안 검사 외에 다수의 검사 항목이 요구되므로, 스틱 단위의 검사가 이루어지는 경우 검사시간이 길어지는 문제점을 가진다.

따라서, 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 원장 단위의 검사가 가능하며, 상기 검사시 각 OLED 패널에 공급되는 전압의 강하를 감소시켜, 검사의 신뢰성을 향상시킬 수 있는 OLED 어레이 기판을 제공하는데 있다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 하부 기판 상에 위치하는 다수의 OLED 패널들; 인접하는 상기 OLED 패널들 사이의 이격 공간 상에 위치하고, 상기 제 1 방향으로 배열된 OLED 패널들에 양의 전원 전압을 인가하기 위한 제 1 전원전압라인을 포함하는 제 1 배선 그룹; 상기 이격 공간에 위치하고, 상기 제 1 방향과 교차되는 제 2 방향으로 배열된 OLED 패널들에 음의 전원 전압을 인가하기 위한 제 1 기준전압라인을 포함하는 제 2 배선 그룹; 및 상기 하부 기판의 제 1 전원전압라인 또는 제 1 기준전압라인과 대응되는 영역에 위치하는 제 2 전원전압라인 또는 제 2 기준전압라인을 포함하고, 상기 하부 기판과 합착되어 상기 OLED 패널들을 밀봉하기 위한 상부 기판을 포함하며, 상기 제 2 전원전압라인 또는 제 2 기준전압라인은 상기 제 1 전원전압라인 또는 제 1 기준전압라인과 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 OLED 어레이 기판을 제공한다.

이하, 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.

(실시예)

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 OLED 어레이 기판을 도시한 평면도이며, 도 2는 본 발명의 실시예에 따라 상기 도 1에서 도시된 하나의 OLED 패널 및 배선 그룹들을 도시한 블록도이고, 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 OLED 어레이 기판을 도시한 단면도이다.

도 1, 도 2 및 도 3을 참조하면, 유기전계발광소자가 구비된 OLED 패널(110)들이 하부 기판 상에 배치된다. 상기 유기전계발광소자는 적어도 제 1 전극, 제 2 전극 및 상기 제 1 전극과 제 2 전극 사이에 개재된 유기발광층을 구비한 단위화소들을 구비한다. 또한, 하나의 단위 화소는 적어도 적색, 녹색 및 청색 부화소를 가진다. 각각의 부화소는 유기전계발광소자 및 상기 유기전계발광소자의 발광 동작을 제어하기 위한 능동 회로를 구비한다. 또한, 실시의 형태에 따라 각각의 화소는 백색 부화소를 더 포함할 수 있다.

상기 OLED 패널(110)들은 상기 하부 기판(100) 상에 규칙적인 패턴으로 반복하여 배치된다. 즉, 제 1 방향인 수직 방향으로 일정한 이격 공간을 가지며 배열되며, 제 2 방향인 수평 방향으로도 일정한 이격 공간을 가지고 배열된다. 상기 하부 기판(100)에 배열되는 OLED 패널(110)들의 수는 하부 기판(100)의 크기 및 OLED 패널(110)의 크기에 따라 변경이 가능하다.

OLED 패널(110)들 사이의 이격 공간에는 다수의 라인들이 배치된다. 제 1 배선 그룹(130)은 수직 방향으로 배치된다. 상기 제 1 배선 그룹(130)은 양의 전압을 공급하기 위한 제 1 전원전압라인 (131), 주사 발생 라인(133) 또는 데이터 선택 라인(135) 등을 포함할 수 있다.

상기 제 1 전원전압라인(131)은 상기 제 1 방향으로 배열된 OLED 패널(110)들에 양의 전원전압 ELVDD를 공급한다.

상기 OLED 패널(110)이 주사 신호를 발생하는 주사 구동부를 내장하는 경우, 주사 발생 라인(131)은 주사 구동부에 주사 발생 신호를 공급한다. 상기 주사 발생 신호로는 주사 구동부의 전원 전압, 개시펄스 및 클럭 신호들이 있다.

주사 구동부의 동작에 필요한 전원 전압이 인가되고, 개시 펄스 및 클럭 신호가 인가되면, 주사 구동부는 상기 클럭 신호에 동기되어 주사 신호를 발생한다. 발생된 주사 신호는 OLED 패널(110)에 구비된 화소를 선택하는데 사용된다. 또한, 주사 구동부의 전원 전압, 개시펄스 및 클럭 신호의 전송을 위해 상기 주사 발생 라인(133)은 다수개로 구비됨이 바람직하다. 따라서, 주사 구동부가 OLED 패널(110)에 내장되는 경우, 주사 발생 라인(133)은 하나의 라인이 아니며, 다수의 라인으로 구성된다.

데이터 선택 라인(135)은 상기 OLED 패널(110)에 구비된 데이터 분배기를 제어하는 데이터 선택 신호를 공급한다. 상기 데이터 분배기가 OLED 패널에 구비되지 않는 경우, 상기 데이터 선택 라인(135)은 배치되지 않을 수도 있다.

또한, 상기 주사 발생 라인(133)과 데이터 선택 라인(135)은 제 2 배선 그룹(150)에 배치될 수도 있다. 주사 발생 라인(133) 또는 데이터 선택 라인(135)이 제 1 배선 그룹(130) 또는 제 2 배선 그룹(150)에 속하는 지의 여부는 이격 공간의 크기에 따라 적절히 결정된다.

제 2 배선 그룹(150)은 수평 방향으로 배치된다. 상기 제 2 배선 그룹(150)은 제 1 기준전압라인(151) 및 점등 검사 라인(153) 등을 포함할 수 있다. 상기 도 1 및 도 2에서 제 2 배선 그룹(150)은 OLED 패널(110)의 하부 이격 공간에 배치되는 것으로 도시되었으나, 상기 제 2 배선 그룹(150)은 OLED 패널(110)의 상부 이격 공간 및 OLED 패널(110)의 상하에 분리되어 배치될 수 있다.

상기 제 1 기준전압라인(151)은 OLED 패널(110)에 음의 전원 전압 ELVSS를 공급한다.

또한, 점등 검사 라인(153)은 OLED 패널(110)의 점등 검사에 사용되는 점등 신호들을 공급한다. 즉, 점등 검사 라인(153)을 통해 점등 제어 신호 TEST_GATE 및 점등 검사 신호 TEST_DATA가 공급된다. 상기 도 1 및 도 2에서 점등 검사 라인(153)은 하나의 라인으로 구성된 것으로 도시되었으나, 이는 용이한 이해를 위한 것이며, 점등 검사에 요구되는 신호의 종류에 따라 다수개로 구비될 수 있다.

상기 제 1 배선 그룹(130)에 속하는 제 1 전원전압라인(131) 및 제 2 배선 그룹(150)에 속하는 제 1 기준전압라인(151)은 이격 공간에서 서로 교차된다. 또한, 제 1 전원전압라인(131)은 수직방향으로 배치되고, 상기 제 1 전원전압라인(131)에 인접하고 수직 방향으로 배열된 다수의 OLED 패널(110)에 양의 전원 전압 ELVDD를 공급한다. 제 1 기준전압라인(151)은 수평 방향으로 배치되고, 상기 제 1 기준전압라인(151)에 인접하고 수평 방향으로 배열된 다수의 OLED 패널(110)들에 음의 전원 전압 ELVSS를 공급한다.

상기 제 1 배선 그룹(130)의 제 1 전원전압라인(131)은 패드(160)를 통해 하부 기판의 외부와 전기적으로 연결될 수 있으며, 제 2 배선 그룹(150)의 제 1 기준전압라인(151)도 패드(160)를 통해 하부 기판의 외부와 전기적으로 연결될 수 있다. 따라서, 제 1 배선 그룹(130) 및 제 2 배선 그룹(150)의 라인들은 하부 기판의 외곽에 형성된 다수의 패드(160)들을 통해 하부 기판 외부와 전기적으로 연결될 수 있다.

상기 하부 기판(100)에 배열된 다수의 OLED 패널(110)들을 밀봉하기 위하여, 상기 하부 기판(100)에 대향되도록 상부 기판(200)이 위치한다. 상기 상부 기판(200)은 상기 제 1 전원전압라인(131) 또는 제 1 기준전압라인(151)에 대응하는 영역에 위치하는 제 2 전원전압라인(231) 또는 제 2 기준전압라인(251)을 포함한다.

상기 제 2 전원전압라인(232) 또는 제 2 기준전압라인(251)은 상기 하부기판(100)과 상부 기판(200)의 합착시, 도전성 스페이서(170)에 의하여 상기 제 1 전원전압라인(131) 또는 제 1 기준전압라인(151)과 전기적으로 연결될 수 있다.

상기 하부 기판(100)에 배열된 OLED 패널(110)들을 검사하기 위하여, 상기 OLED 패널(110)들에는 상기 하부 기판의 외부에 위치한 패드(160)들로부터 전원이 인가된다. 상기 전원은 제 1 전원전압라인(131) 또는 제 1 기준전압라인(151)을 통하여 상기 OLED 패널(110)들에 공급되며, 이때 상기 제 1 전원전압라인(131) 또는 제 1 기준전압라인(151)의 길이에 따른 전압 강하가 발생하여, 상기 패드들(160)와 가까이 위치한 OLED 패널(110)보다 상기 패드(160)와 멀리 위치한 OLED 패널(110)에 더 낮은 전압이 인가된다. 따라서, 각각의 OLED 패널(110)들에 흐르는 전류량이 달라지게 되므로, 상기 OLED 패널(110)들에 불량 유무를 판단하기 위하여 동일한 기준을 적용하는 것이 어렵게 된다.

따라서, 상기와 같은 전압 강하를 감소시키기 위하여, 따라서, 본 발명의 실시예에서는 상기 상부 기판(200)에 높은 전류가 흐르는 배선, 즉 상기 제 1 전원전압라인(131) 또는 제 1 기준전압라인(151)과 대응되는 위치에 상기 제 2 전원전 압라인(232) 또는 제 2 기준전압라인(251)을 형성하고, 상기 상부 기판(200)과 하부 기판(100)의 합착시 이들을 전기적으로 연결하여 상기 OLED 패널(110)들에 양의 전원 또는 음의 전원을 공급하는 배선의 폭을 넓혀준다. 따라서, 상기 배선의 길이에 따른 전압의 강하를 감소시킴으로써, 상기 OLED 패널(110)들에 보다 균일한 전압을 공급할 수 있어 검사의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.

다수개의 제 1 전원전압라인(131)들 중 특정의 제 1 전원전압라인에 양의 전원 전압 ELVDD가 공급되고, 다수개의 제 1 기준전압라인(151)들 중 특정의 제 1 기준전압라인에 음의 전원 전압 ELVSS가 공급되는 경우, 상기 양의 전원 전압 ELVDD 및 음의 전원 전압 ELVSS가 함께 인가되는 특정의 OLED 패널만이 선택되고, 선택된 EL 패널(110)에 대한 검사가 수행될 수 있다.

또한, 점등 검사 라인(153)은 제 1 기준전압라인(151)과 수평으로 형성될 수도 있으며, 이외에도, 제 1 전원전압라인(131)과 수평으로 형성될 수도 있다. 즉, 점등 검사 라인(153)은 제 1 배선 그룹(130)에 속할 수도 있다.

또한, 상기 도 1 및 도 2에서 도시된 OLED 패널(110)들의 크기, 제 1 배선 그룹(130) 및 제 2 배선 그룹(150)의 위치와 라인의 수는 본 발명의 용이한 이해를 위해 다소 과장되어 표현된 것이며, 상기 도 1 및 도 2에 도시된 바와 달리 OLED 패널들의 검사에 사용되는 다수의 라인들이 배치될 수 있다.

도 4a를 참조하면, 점등 회로부(310) 및 상기 점등 회로부에 연결된 다수의 데이터 라인(315)이 도시된다. 상기 점등 회로부(310)는 OLED 패널에 내장됨이 바람직하다.

점등 회로부(310)는 병렬 연결된 다수의 스위칭 소자들로 구성된다. 스위칭 소자는 상기 도 4a에서 도시된 바와 같은 트랜지스터일 수도 있으며, 실시의 형태에 따라 전송 게이트일 수도 있다. 따라서, 다수의 스위칭 소자는 점등 제어 신호 TEST_GATE에 따라 점등 검사 신호 TEST_DATA를 데이터 라인(315)에 전달하는 기능을 수행한다면, 어느 것이라도 사용 가능하다. 다만, 상기 도 4a에서는 스위칭 소자가 PMOS인 것으로 도시하였으므로, PMOS의 동작에 따라 수행되는 점등 검사에 관하여 설명하기로 한다.

먼저, 점등 검사가 수행되는 OLED 패널에 양의 전원 전압 ELVDD 및 음의 전원 전압 ELVSS가 공급된다.

점등 제어 신호 TEST_GATE가 로우 레벨인 경우, 트랜지스터들은 턴-온된다. 턴-온된 트랜지스터들을 통해 점등 검사 신호 TEST_DATA는 데이터 라인들(315)로 인가된다. 점등 검사 신호 TEST_DATA의 인가에 따라 OLED 패널은 발광 동작을 개시한다. OLED 패널을 구성하는 다수의 화소들 중 특성 불량을 가지는 화소가 존재하는 경우, 점등 검사 신호 TEST_DATA의 인가에도 불구하고, 특성 불량을 가지는 화소는 발광 동작을 수행하지 않는다. 따라서, 점등 검사 신호 TEST_DATA의 인가에 의해 불량 화소의 존재 여부를 알 수 있다.

또한, 점등 검사시에는 동일 레벨의 점등 검사 신호 TEST_DATA가 OLED 패널을 구성하는 다수의 화소들에 공급되므로, 화소들의 백색 밸런싱을 알 수 있으며, 진행성 불량도 감지될 수 있다.

도 4b를 참조하면, 상기 도 4a에서 도시된 점등 회로부(330)는 데이터 라인의 종류에 따라 다수개의 점등 회로부들로 나누어진다. 즉, 적색 점등 회로부(331), 녹색 점등 회로부(333), 청색 점등 회로부(335) 및 상기 3개의 점등 회로부들(331,333,335)에 연결된 다수의 데이터 라인들(332,334,336)이 도시된다.

적색 점등 회로부(331)는 다수의 트랜지스터들로 구성되며, 상기 트랜지스터들은 적색 점등 제어 신호 TEST_GATE_R에 의해 온/오프 동작을 수행한다. 또한, 적색 점등 회로부(331)의 트랜지스터의 일단에는 점등 검사 신호 TEST_DATA가 인가되며, 타단은 적색 데이터 라인(332)에 연결된다. 상기 적색 데이터 라인(332)은 적색 부화소에 점등 검사 신호 TEST_DATA를 전송한다. 예컨대 적색 점등 제어 신호 TEST_GATE_R이 로우 레벨인 경우, 적색 점등 회로부(331)의 트랜지스터들은 턴-온되고, 적색 점등 검사 신호 TEST_DATA는 다수의 적색 데이터 라인(332)들에 인가된다.

또한, 녹색 점등 회로부(333)는 다수의 트랜지스터들로 구성되며, 상기 트랜지스터들은 녹색 점등 제어 신호 TEST_GATE_G에 의해 동시에 온/오프된다. 따라서, 녹색 점등 제어 신호 TEST_GATE_G가 로우 레벨인 경우, 녹색 데이터 라인(334)들에는 점등 검사 신호 TEST_DATA가 인가된다.

또한, 청색 점등 회로부(335)는 다수의 트랜지스터들로 구성되며, 상기 트랜지스터들은 청색 점등 제어 신호 TEST_GATE_B에 의해 동시에 온/오프된다. 따라서, 청색 점등 제어 신호 TEST_GATE_B가 로우 레벨인 경우, 청색 데이터 라인(336)들에 는 점등 검사 신호 TEST_DATA가 인가된다.

상기 적색 점등 제어 신호 TEST_GATE_R, 녹색 점등 제어 신호 TEST_GATE_G 및 청색 점등 제어 신호 TEST_GATE_B는 동시에 인가될 수 있으며, 순차적으로 인가될 수 있다.

또한, 상기 도 4b에서 도시되지 아니하였지만, 각각의 화소는 적색, 녹색, 청색 부화소들 외에 백색 부화소를 가질 수 있다. 따라서, 적색, 녹색, 청색 점등 회로부외에 백색 점등 회로부가 더 포함될 수도 있다.

또한, 상기 도 4a 및 도 4b에 도시된 회로도는 OLED 패널의 점등 검사를 설명하기 위해 도시된 것이나, 상기 도 4a 및 상기 도 4b에 도시된 회로도는 다양한 검사에 사용될 수 있다.

예컨대, 유기전계발광소자에 높은 바이어스 전압 또는 바이어스 전류를 인가하여, 유기전계발광소자가 가지는 진행성 불량을 검출하는 에이징 검사(Aging Test) 및 열처리 검사 등에 사용될 수 있다. 상기 열처리 검사는 급속으로 온도 변화가 가해지는 상태에서 유기전계발광소자의 정상 동작 여부를 검출하는 것이다. 또한, 상기 열처리 검사는 저온 또는 고온에서 유기전계발광소자의 정상 동작 여부를 검출하는 형태일 수도 있다.

또한, 상기 도 4a 및 상기 도 4b에 도시된 회로도는 누설 전류 검사에도 사용될 수 있다. 즉, 양의 전원 전압 ELVDD 및 음의 전원 전압 ELVSS가 인가된 상황에서 제 1 및 제 2 전원전압라인 또는 제 1 및 제 2 기준전압라인에 흐르는 전류를 감지하여 OLED 패널에 누설전류의 존재 여부를 검사할 수 있다. 상기 누설 전류 검 사시, 양의 전원 전압 ELVDD 및 음의 전원 전압 ELVSS가 인가된 상태에서, 점등 회로부는 전체적으로 오프된 상태에서 제 1 및 제 2 전원전압라인 또는 제 1 및 제 2 기준전압라인에 흐르는 전류를 감지할 수 있다.

도 5를 참조하면, 점등 회로부(410), 데이터 분배기(430) 및 데이터 라인들(451,453,455)이 도시된다. 또한, 상기 도 5에 도시된 회로는 OLED 패널에 내장됨이 바람직하다.

점등 회로부(410)는 상기 도 4a에서 도시된 바와 동일한 구성을 가진다.

또한, 데이터 분배기(430)는 상기 점등 회로부(410)와 데이터 라인들(451,453,455) 사이에 연결된다. 데이터 분배기(430)는 데이터 선택 신호들 SLR, SLG, SLB의 제어에 따라 데이터 분배기(430)에 입력되는 신호를 적색 데이터 라인(451), 녹색 데이터 라인(453) 또는 청색 데이터 라인(455)에 공급한다. 상기 데이터 선택 신호들은 적색 데이터 선택 신호 SLR, 녹색 데이터 선택 신호 SLG 및 청색 데이터 선택 신호 SLB로 나누어진다.

예컨대, 적색 데이터 선택 신호 SLR이 로우 레벨이고, 점등 제어 신호 TEST_GATE가 로우 레벨인 경우, 상기 적색 데이터 선택 신호 SLR에 연결된 트랜지스터들은 턴-온되고, 턴-온된 트랜지스터를 통해 점등 검사 신호 TEST_DATA는 적색 데이터 라인(451)에 인가된다. 적색 데이터 라인(451)에 인가되는 점등 검사 신호 TEST_DATA는 OLED 패널의 적색 부화소들을 점등한다.

또한, 녹색 데이터 선택 신호 SLG가 로우 레벨이고, 점등 제어 신호 TEST_GATE가 로우 레벨인 경우, 상기 녹색 데이터 선택 신호 SLG에 연결된 트랜지스터들은 턴-온된다. 턴-온된 트랜지스터들은 통해 점등 검사 신호 TEST_DATA는 녹색 데이터 라인(453)에 인가된다. 녹색 데이터 라인(453)에 인가되는 점등 검사 신호 TEST_DATA는 OLED 패널의 녹색 부화소들을 점등한다.

청색 데이터 선택 신호 SLB가 로우 레벨이고, 점등 제어 신호 TEST_GATE가 로우 레벨인 경우, 점등 검사 신호 TEST_DATA는 청색 데이터 라인(455)에 인가되며, 상기 점등 검사 신호 TEST_DATA는 OLED 패널의 청색 부화소들을 점등한다.

또한, 상기 도 5에 도시되지 아니하였으나, 상기 데이터 선택 신호는 백색 데이터 선택 신호를 더 가질 수 있다. 즉, 백색 데이터 선택 신호에 의해 점등 검사 신호 TEST_DATA는 백색 데이터 라인을 통해 백색 부화소들을 점등할 수 있다.

또한, 상기 도 5에 도시된 회로도는 OLED 패널의 다양한 검사에 사용될 수 있다. 즉, 유기전계발광소자에 높은 바이어스 전압 또는 바이어스 전류를 인가하여, 유기전계발광소자가 가지는 진행성 불량을 검출하는 에이징 검사(Aging Test) 및 열처리 검사 등에 사용될 수 있다. 상기 열처리 검사는 급속으로 온도 변화가 가해지는 상태에서 유기전계발광소자의 정상 동작 여부를 검출하는 것이다. 또한, 상기 열처리 검사는 저온 또는 고온에서 유기전계발광소자의 정상 동작 여부를 검출하는 형태일 수도 있다.

또한, 상기 도 5에 도시된 회로도는 누설 전류 검사에도 사용될 수 있다. 즉, 양의 전원 전압 ELVDD 및 음의 전원 전압 ELVSS가 인가된 상황에서 제 1 및 제 2 전원전압라인 또는 제 1 및 제 2 기준전압라인에 흐르는 전류를 감지하여 OLED 패널에 누설전류의 존재 여부를 검사할 수 있다.

또한, 데이터 분배기와 점등 회로부 사이에는 다수의 패드(460)가 개재될 수 있다. 상기 패드(460)는 점등 회로부(410)와 데이터 분배기(430)를 연결하는 라인 사이에 배치된다. 상기 패드(460)는 OLED 패널의 다양한 화질 검사를 위해 사용될 수 있다. 즉, 패드(460)에 프로브 팁(probe tip)이나 스프링 핀(spring pin) 등을 이용하여 데이터 분배기(430)에 다양한 신호가 인가될 수 있다.

도 6a를 참조하면, 기판 상의 제 1 행에 배치된 OLED 패널에 양의 전원 전압 ELVDD가 공급된다. 또한, 기판 상의 제 1 열에 배치된 OLED 패널에는 음의 전원 전압 ELVSS가 공급된다. 따라서, 기판 상의 제 1 행 및 제 1 열에 배치된 OLED 패널에 양의 전원 전압 ELVDD 및 음의 전원 전압 ELVSS가 공급되어 다수의 검사가 수행된다. 선택된 OLED 패널에 대해 에이징 검사, 누설 전류 검사 및 점등 화질 검사가 순차적으로 수행된다. 이외에도, 선택된 OLED 패널에 대해 검사의 순서는 변경될 수 있으며, OLED 패널의 정상 동작 여부를 확인하기 위한 다양한 검사가 실시될 수 있음은 당업자에게 자명한 사실이다.

도 6b를 참조하면, 기판 상의 제 2 행에는 양의 전원 전압 ELVDD가 인가되고, 제 1 열에는 상기 도 6a와 동일하게 음의 전원 전압 ELVSS가 인가된다. 따라서, 제 2 행 및 제 1 열에 배치된 OLED 패널이 선택되고, 선택된 OLED 패널에 대한 검사가 수행된다. 제 2 행 1 열에 배치된 OLED 패널에 대해 에이징 검사, 누설 전류 검사 및 점등 화질 검사가 순차적으로 수행된다.

도 6c를 참조하면, 기판 상의 제 3 행에는 양의 전원 전압 ELVDD가 인가되고, 제 1 열에는 음의 전원 전압 ELVSS가 인가된다. 즉, 제 3 행 및 제 1 열에 배치된 OLED 패널이 선택되고, 선택된 OLED 패널에 대한 검사가 수행된다.

상기 도 6a 내지 도 6c에 도시된 바대로 수평 방향으로 OLED 패널들은 순차적으로 선택되고, 선택된 OLED 패널에 대한 검사가 진행된다.

도 6d 내지 도 6f를 참조하면, 제 2 행에 배치된 OLED 패널들에 대한 선택 및 검사 동작이 순차적으로 수행된다. 제 2 행에 배치된 OLED 패널들을 순차적으로 선택하기 위해 제 2 행에 위치한 제 1 기준전압라인에 음의 전원 전압 ELVSS를 공급한다. 또한, 제 1 열에 양의 전원 전압 ELVDD를 인가하고, 수평 방향으로 순차적으로 양의 전원 전압 ELVDD를 공급한다.

상술한 상기 도 6a 내지 도 6f에 개시된 검사 방법은 검사의 진행 방향을 달리하여 진행될 수 있다. 즉, 먼저 수직 방향으로 양의 전원 전압 ELVDD를 인가하고, 수평 방향으로 인가되는 음의 전원 전압 ELVSS를 순차적으로 행을 바꾸어가며 인가할 수도 있다.

상기 도 6a 내지 도 6f에 도시된 검사 방법은 본 실시예에 개시된 다수의 OLED 패널들 및 상기 OLED 패널들에 전기적 검사를 수행하기 위한 다수의 배선 그룹들을 이용하는 방법을 예시한 것이다.

즉, 하나의 기판 상에 형성된 다수의 OLED 패널을 검사하기 위해 별도의 스 크라이빙이 수행되지 않고 원장 단위(sheet unit)로 검사가 수행될 수 있음을 예시한 것이다.

따라서, 각각의 OLED 패널을 스크라이빙하여 분리하고, 분리된 OLED 패널에 대해 수행되는 전기적 검사보다 검사 시간을 단축할 수 있으며, 상기 각각의 OLED 패널에 보다 균등한 전압을 인가하여 검사의 신뢰성을 향상시킬 수 있다. 또한, 검사에 요구되는 지그 등의 장비의 소모를 줄일 수 있다.

상기와 같은 본 발명에 따르면, 다수의 OLED 패널들을 하나의 기판인 원장 단위로 검사할 수 있다. 즉, 양의 전원 전압 및 음의 전원 전압을 선택적으로 공급하여 특정의 OLED 패널을 선택할 수 있으며, 선택된 OLED 패널에 검사에 사용되는 신호들을 공급할 수 있다. 또한, 전류구동에 따른 전압의 강하를 감소시켜, 각 OLED 패널에 유사한 크기의 전압을 인가할 수 있어 검사의 신뢰성을 높일 수 있다. 따라서, 본 발명은, OLED 패널들을 검사하는데 소요되는 시간이 단축되며, 검사의 신뢰성을 높일 수 있음과 아울러, 검사를 위해 사용되는 검사 장비를 준비하는데 용이하다. 또한, 원장 단위의 검사이므로, 검사 장비의 대형화 및 표준화를 꾀할 수도 있다.

상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

Claims

하부 기판 상에 위치하는 다수의 OLED 패널들;

인접하는 상기 OLED 패널들 사이의 이격 공간 상에 위치하고, 상기 제 1 방향으로 배열된 OLED 패널들에 양의 전원 전압을 인가하기 위한 제 1 전원전압라인을 포함하는 제 1 배선 그룹;

상기 이격 공간에 위치하고, 상기 제 1 방향과 교차되는 제 2 방향으로 배열된 OLED 패널들에 음의 전원 전압을 인가하기 위한 제 1 기준전압라인을 포함하는 제 2 배선 그룹; 및

상기 하부 기판의 제 1 전원전압라인 또는 제 1 기준전압라인과 대응되는 영역에 위치하는 제 2 전원전압라인 또는 제 2 기준전압라인을 포함하고, 상기 하부기판과 합착되어 상기 OLED 패널들을 밀봉하기 위한 상부 기판을 포함하며,

상기 제 2 전원전압라인 또는 제 2 기준전압라인은 상기 제 1 전원전압라인 또는 제 1 기준전압라인과 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 OLED 어레이 기판.
제 1 항에 있어서,

상기 제 2 전원전압라인 또는 제 2 기준전압라인은 상기 상부 기판과 상기 하부 기판의 합착시 도전성 스페이서에 의하여 상기 제 1 전원전압라인 또는 제 1 기준전압라인과 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 OLED 어레이 기판.
제 1 항에 있어서,

상기 제 1 배선 그룹 또는 상기 제 2 배선 그룹은 주사 발생 신호를 공급하기 위한 주사 발생 라인을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 어레이 기판.
제 3 항에 있어서,

상기 주사 발생 라인은 상기 주사 구동부의 전원 전압, 개시 펄스 및 클럭 신호를 전달하는 것을 특징으로 하는 OLED 어레이 기판.
제 3 항에 있어서,

상기 각각의 OLED 패널은 주사 신호를 발생하기 위한 주사 구동부 및 발광 제어 신호를 구동하기 위한 발광 구동부를 포함하며, 상기 주사 발생 신호는 상기 주사 구동부의 입력 신호들인 것을 특징으로 하는 OLED 어레이 기판.
제 1 항에 있어서,

상기 제 1 배선 그룹 또는 제 2 배선 그룹은 점등 신호를 공급하기 위한 점등 검사 라인을 더 포함하는 OLED 어레이 기판.
제 6 항에 있어서,

상기 각각의 OLED 패널은,

상기 점등 신호 중 점등 제어 신호에 따라 데이터 라인을 선택하고, 상기 점등 신호 중 점등 검사 신호를 데이터 라인에 인가하기 위한 점등 회로부; 및

상기 각각의 데이터 라인에 연결된 화소를 가지는 것을 특징으로 하는 OLED 어레이 기판.
제 7 항에 있어서,

상기 점등 회로부는 다수의 트랜지스터들을 가지고,

적색 점등 제어 신호에 따라 적색 데이터 라인을 선택하기 위한 적색 점등 회로부;

녹색 점등 제어 신호에 따라 녹색 데이터 라인을 선택하기 위한 녹색 점등 회로부; 및

청색 점등 제어 신호에 따라 청색 데이터 라인을 선택하기 위한 녹색 점등 회로부를 가지는 것을 특징으로 하는 OLED 어레이 기판.
제 7 항에 있어서,

상기 제 1 배선 그룹 또는 제 2 배선 그룹은 데이터 선택 신호를 전달하기 위한 데이터 선택 라인을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 어레이 기판.
제 9 항에 있어서,

상기 OLED 패널은,

상기 점등 회로부와 상기 데이터 라인 사이에 상기 데이터 선택 신호에 따라 데이터 라인을 선택하기 위한 데이터 분배기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 OLED 어레이 기판.