CN111583839B - 检测电路及驱动方法、显示面板 - Google Patents

Abstract

本发明涉及显示技术领域，提出一种检测电路，用于实现RGBG像素结构显示面板的功能检测，该检测电路包括：第一检测线、第二检测线、多个第一开关单元、多个第二开关单元、多个第三开关单元、多个第四开关单元。第一开关单元用于响应第一控制信号线的信号将第一检测线的信号传输到第一数据线；第二开关单元用于响应第二控制信号线的信号将第二检测线的信号传输到第一数据线；第三开关单元用于响应第一控制信号线的信号将第二检测线的信号传输到第二数据线；第四开关单元用于响应第二控制信号线的信号将第一检测线的信号传输到第二数据线。该检测电路可以分别对第一G子像素和第二G子像素进行检查。

Description

检测电路及驱动方法、显示面板

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种检测电路及驱动方法、显示面板。

背景技术

RGBG像素结构包括第一像素单元和第二像素单元，其中第一像素单元包括R子像素单元和G子像素单元，第二像素单元包括B子像素单元和G子像素单元，第一像素单元和第二像素单元间隔且阵列分布。在RGBG像素结构中的横方向和列方向上，相邻的G子像素单元具有不同的像素开口形状。

相关技术中，在对RGBG像素结构的显示面板进行色坐标、发光效率、亮点漏检等功能检查时，需要实现显示面板的纯色光显示。相关技术中，对RGBG像素结构的显示面板进行纯绿色显示时，通常通过检测电路实现所有G子像素单元同时发光。

然而，由于两种G子像素单元具有不同的像素开口形状，两种G子像素单元的阳极对其像素驱动电路中的驱动晶体管的栅极具有不同的电容，从而导致两种G子像素单元在相同发光驱动信号下具有不同的发光亮度。在不均匀的纯色显示状态下，会影响显示面板的功能检测。

需要说明的是，在上述背景技术部分发明的信息仅用于加强对本发明的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本发明的目的在于提供一种检测电路及驱动方法、显示面板。该种检测电路可以实现两种G子像素分别纯色显示。

本发明的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本发明的实践而习得。

根据本发明的一方面，提供一种检测电路，用于实现RGBG像素结构的显示面板的功能检测，所述显示面板包括多条第一数据线和多条第二数据线，所述第一数据线上连接有依次交替分布的第一G子像素和第二G子像素，所述第二数据线上连接有依次交替分布的第二G子像素和第一G子像素，且在同一行上，所述第一数据线和所述第二数据线上的G子像素不同种类，包括：第一检测线、第二检测线、多个第一开关单元、多个第二开关单元、多个第三开关单元、多个第四开关单元。第一检测线用于向多条所述第一数据线传输检测信号；第二检测线用于向多条所述第二数据线传输检测信号；多个第一开关单元与所述第一数据线一一对应设置，所述第一开关单元连接第一控制信号线、第一检测线、第一数据线，用于响应所述第一控制信号线的信号将所述第一检测线的信号传输到所述第一数据线；多个第二开关单元与所述第一数据线一一对应设置，所述第二开关单元连接第二控制信号线、第二检测线、第一数据线，用于响应所述第二控制信号线的信号将所述第二检测线的信号传输到所述第一数据线；多个第三开关单元与所述第二数据线一一对应设置，所述第三开关单元连接第一控制信号线、第二检测线、第二数据线，用于响应所述第一控制信号线的信号将所述第二检测线的信号传输到所述第二数据线；多个第四开关单元与所述第二数据线一一对应设置，所述第四开关单元连接第二控制信号线、第一检测线、第二数据线，用于响应所述第二控制信号线的信号将所述第一检测线的信号传输到所述第二数据线。

在本公开的一种示例性实施例中，所述显示面板还包括多条第三数据线和多条第四数据线，所述第三数据线、所述第一数据线、所述第四数据线、所述第二数据线依次交替分布，所述第三数据线上连接有依次交替分布的R子像素和B子像素，所述第四数据线上连接有依次交替分布的B子像素和R子像素，且在同一行上，所述第三数据线与所述第四数据线上的子像素不同种类，所述检测电路还包括：第三检测线、第四检测线、多个第五开关单元、多个第六开关单元、多个第七开关单元、多个第八开关单元。第三检测线用于向所述第三数据线传输检测信号；第四检测线用于向所述第四数据线传输检测信号；多个第五开关单元，与所述第三数据线一一对应设置，所述第五开关单元连接第三控制信号线、第三检测线、第三数据线，用于响应所述第三控制信号线的信号将所述第三检测线的信号传输到所述第三数据线；多个第六开关单元与所述第三数据线一一对应设置，所述第六开关单元连接第四控制信号线、第四检测线、第三数据线，用于响应所述第四控制信号线的信号将所述第四检测线的信号传输到所述第三数据线；多个第七开关单元与所述第四数据线一一对应设置，所述第七开关单元连接第三控制信号线、第四检测线、第四数据线，用于响应所述第三控制信号线的信号将所述第四检测线的信号传输到所述第四数据线；多个第八开关单元与所述第四数据线一一对应设置，所述第八开关单元连接第四控制信号线、第三检测线、第四数据线，用于响应所述第四控制信号线的信号将所述第三检测线的信号传输到所述第四数据线。

在本公开的一种示例性实施例中，还包括：第一连接线、第二连接线、第九开关单元、第十开关单元、第十一开关单元、第十二开关单元。第一连接线连接于所述第一开关单元、所述第二开关单元与所述第一数据线之间，以及连接于所述第五开关单元、所述第六开关单元与所述第三数据线之间；第二连接线连接于所述第三开关单元、所述第四开关单元与所述第二数据线之间，以及连接于所述第七开关单元、所述第八开关单元与所述第四数据线之间；第九开关单元连接所述第一连接线、第五控制信号线、第三数据线，用于响应所述第五控制信号线的信号将所述第一连接线上的信号传输到所述第三数据线；第十开关单元连接所述第一连接线、第六控制信号线、第一数据线，用于响应所述第六控制信号线的信号将所述第一连接线上的信号传输到所述第一数据线；第十一开关单元连接所述第二连接线、第五控制信号线、第四数据线，用于响应所述第五控制信号线的信号将所述第二连接线的信号传输到所述第四数据线；第十二开关单元连接第二连接线、第六控制信号线、第二数据线，用于响应所述第六控制信号线的信号将所述第二连接线的信号传输到所述第二数据线。

在本公开的一种示例性实施例中，所述显示面板包括位于显示区周围的边沿走线区，所述第一连接线和所述第二连接线位所述边沿走线区。

在本公开的一种示例性实施例中，所述第一到第四开关单元分别对应包括第一到第四开关晶体管；其中：第一开关晶体管的第一端与所述第一检测线连接，第二端与所述第一数据线连接，控制端与所述第一控制信号线连接；第二开关晶体管的第一端与所述第二检测线连接，第二端与所述第一数据线路连接，控制端与所述第二控制信号线连接；第三开关晶体管的第一端与所述第二检测线连接，第二端与所述第二数据线连接，控制端与所述第一控制信号线连接；第四开关晶体管的第一端与所述第一检测线连接，第二端与所述第二数据线连接，控制端与所述第二控制信号线连接。

在本公开的一种示例性实施例中，所述第五到第八开关单元分别对应包括第五到第八开关晶体管；其中：第五开关晶体管的第一端与所述第三检测线连接，第二端与所述第三数据线连接，控制端与所述第三控制信号线连接；第六开关晶体管的第一端与所述第四检测线连接，第二端与所述第三数据线连接，控制端与所述第四控制信号线连接；第七开关晶体管的第一端与所述第四检测线连接，第二端与所述第四数据线连接，控制端与所述第三控制信号线连接；第八开关晶体管的第一端与所述第三检测线连接，第二端与所述第四数据线连接，控制端与所述第四控制信号线连接。

在本公开的一种示例性实施例中，所述第九到第十二开关单元分别对应包括第九到第十二开关晶体管；其中：第九开关晶体管的第一端与所述第一连接线连接，第二端与所述第三数据线连接，控制端与所述第五控制信号线连接；第十开关晶体管的第一端与所述第一连接线连接，第二端与所述第一数据线连接，控制端与所述第六控制信号线连接；第十一开关晶体管的第一端与所述第二连接线连接，第二端与所述第四数据线连接，控制端与所述第五控制信号线连接；第十二开关晶体管的第一端与所述第二连接线连接，第二端与所述第二数据线连接，控制端与所述第六控制信号线连接。

在本公开的一种示例性实施例中，所述第一G子像素与所述第二G子像素具有不同的像素开口形状。

根据本公开的一个方面，提供一种检测电路驱动方法，用于驱动上述任意一项所述的检测电路，包括：

在第一检测阶段：

控制第一检测线输出有效发光信号，控制第二检测线输出无效发光信号；

在所述显示面板奇数行像素扫描阶段，利用所述第一控制信号线的信号导通所述第一开关单元，以将所述第一检测线的有效发光信号传输到第一数据线；

在所述显示面板偶数行像素扫描阶段，利用所述第二控制信号线的信号导通所述第四开关单元，以将所述第一检测线的有效发光信号传输到第二数据线；

在第二检测阶段：

控制第一检测线输出无效发光信号，控制第二检测线输出有效发光信号；

在所述显示面板奇数行像素扫描阶段，利用所述第一控制信号线的信号导通所述第三开关单元，以将所述第二检测线的有效发光信号传输到第二数据线；

在所述显示面板偶数行像素扫描阶段，利用所述第二控制信号线的信号导通所述第二开关单元，以将所述第二检测线的有效发光信号传输到第一数据线。

根据本公开的一个方面，提供一种显示面板，包括上述的检测电路。

本发明提出一种检测电路及驱动方法、显示面板。本公开提供的检测电路，在第一检测阶段：控制第一检测线输出有效发光信号，控制第二检测线输出无效发光信号；在所述显示面板奇数行像素扫描阶段，利用所述第一控制信号导通所述第一开关单元，以将所述第一检测线的有效发光信号传输到第一数据线；在所述显示面板偶数行像素扫描阶段，利用所述第二控制信号导通所述第四开关单元，以将所述第一检测线的有效发光信号传输到第二数据线；在第二检测阶段：控制第一检测线输出无效发光信号，控制第二检测线输出有效发光信号；在所述显示面板奇数行像素扫描阶段，利用所述第一控制信号导通所述第三开关单元，以将所述第二检测线的有效发光信号传输到第二数据线；在所述显示面板偶数行像素扫描阶段，利用所述第二控制信号导通所述第二开关单元，以将所述第二检测线的有效发光信号传输到第一数据线。一方面，该检测电路实现了第一G子像素和第二G子像素分别纯色发光；另一方面，该检测电路结构简单、成本较低。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本发明。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本公开检测电路一种示例性实施例的电路图；

图2为本公开检测电路一种示例性实施例的电路图；

图3为本公开检测电路一种示例性实施例中各个信号端的时序图；

图4为本公开检测电路一种示例性实施例中各个信号端的时序图；

图5为本公开检测电路一种示例性实施例的电路图；

图6为本公开检测电路一种示例性实施例的电路图；

图7为本公开检测电路一种示例性实施例中各个信号端的时序图；

图8为本公开检测电路一种示例性实施例的电路图；

图9为本公开检测电路一种示例性实施例中各个信号端的时序图；

图10为本公开检测电路一种示例性实施例中各个信号端的时序图。

具体实施方式

现在将参考附图更全面地描述示例实施例。然而，示例实施例能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；相反，提供这些实施例使得本发明将更加全面和完整，并将示例实施例的构思全面地传达给本领域的技术人员。图中相同的附图标记表示相同或类似的结构，因而将省略它们的详细描述。

虽然本说明书中使用相对性的用语，例如“上”“下”来描述图标的一个组件对于另一组件的相对关系，但是这些术语用于本说明书中仅出于方便，例如根据附图中所述的示例的方向。能理解的是，如果将图标的装置翻转使其上下颠倒，则所叙述在“上”的组件将会成为在“下”的组件。其他相对性的用语，例如“高”“低”“顶”“底”“左”“右”等也作具有类似含义。当某结构在其它结构“上”时，有可能是指某结构一体形成于其它结构上，或指某结构“直接”设置在其它结构上，或指某结构通过另一结构“间接”设置在其它结构上。

用语“一个”、“一”、“所述”用以表示存在一个或多个要素/组成部分/等；用语“包括”和“具有”用以表示开放式的包括在内的意思并且是指除了列出的要素/组成部分/等之外还可存在另外的要素/组成部分/等。

本示例性实施例首先提供一种检测电路，用于实现RGBG像素结构的显示面板的功能检测，如图1所示，为本公开检测电路一种示例性实施例的电路图。所述显示面板包括多条第一数据线data1和多条第二数据线data2，所述第一数据线data1上连接有依次交替分布的第一G子像素G1和第二G子像素G2，所述第二数据线data2上连接有依次交替分布的第二G子像素G2和第一G子像素G1，且在同一行上，所述第一数据线data1和所述第二数据线data2上的G子像素不同种类。该检测电路包括：第一检测线CTD1、第二检测线CTD2、多个第一开关单元1、多个第二开关单元2、多个第三开关单元3、多个第四开关单元4。第一检测线CTD1用于向多条所述第一数据线data1传输检测信号；第二检测线CTD2用于向多条所述第二数据线data2传输检测信号；多个第一开关单元1与所述第一数据线data1一一对应设置，所述第一开关单元1连接第一控制信号线SW1、第一检测线CTD1、第一数据线data1，用于响应所述第一控制信号线SW1的信号将所述第一检测线CTD1的信号传输到所述第一数据线data1；多个第二开关单元2与所述第一数据线data1一一对应设置，所述第二开关单元2连接第二控制信号线SW2、第二检测线CTD2、第一数据线data1，用于响应所述第二控制信号线SW2的信号将所述第二检测线CTD2的信号传输到所述第一数据线data1；多个第三开关单元3与所述第二数据线data2一一对应设置，所述第三开关单元3连接第一控制信号线SW1、第二检测线CTD2、第二数据线data2，用于响应所述第一控制信号线SW1的信号将所述第二检测线CTD2的信号传输到所述第二数据线data2；多个第四开关单元4与所述第二数据线data2一一对应设置，所述第四开关单元4连接第二控制信号线SW2、第一检测线CTD1、第二数据线data2，用于响应所述第二控制信号线SW2的信号将所述第一检测线CTD1的信号传输到所述第二数据线data2。其中，所述第一G子像素G1与所述第二G子像素G2具有不同的像素开口形状。所述第一G子像素G1与所述第二G子像素G2具有不同的像素开口形状可以理解为，所述第一G子像素G1与所述第二G子像素G2具有不同的像素开口轮廓，或所述第一G子像素G1与所述第二G子像素G2具有相同的像素开口轮廓且具有不同的像素开口摆放方位。

本示例性实施例中，如图2所示，为本公开检测电路一种示例性实施例的电路图。所述第一到第四开关单元可以分别对应包括第一到第四开关晶体管；其中：第一开关晶体管T1的第一端与所述第一检测线CTD1连接，第二端与所述第一数据线data1连接，控制端与所述第一控制信号线SW1连接；第二开关晶体管T2的第一端与所述第二检测线CTD2连接，第二端与所述第一数据线data1路连接，控制端与所述第二控制信号线SW2连接；第三开关晶体管T3的第一端与所述第二检测线CTD2连接，第二端与所述第二数据线data2连接，控制端与所述第一控制信号线SW1连接；第四开关晶体管T4的第一端与所述第一检测线CTD1连接，第二端与所述第二数据线data2连接，控制端与所述第二控制信号线SW2连接。应该理解的是，所述第一到第四开关单元还可以有更多的结构可供选择，这些都属于本公开的保护范围。

需要说明的是，本示例性实施例中，第一数据线data1上的第一G子像素既可以位于像素结构的奇数行也可以位于像素结构的偶数行，本示例性实施例以第一数据线data1上的第一G子像素位于像素结构的奇数行为例进行说明，相应的第二G子像素位于所述第一数据线的偶数像素行；第一G子像素位于第二数据线的偶数像素行，第二G子像素位于所述第二数据线的奇数像素行。本示例性实施例中，第一到第四开关晶体管可以为N型开关晶体管也可以为P型开关晶体管，本示例性实施例以第一到第四开关晶体管为P型开关晶体管为例进行说明。

如图2、3所示，图3为本公开检测电路一种示例性实施例中各个信号端的时序图。图3给出了图2中检测电路在点亮第一G子像素时的时序图。本示例性实施例中，在第一G子像素G1被点亮阶段，第一检测线CTD1输出有效发光信号，第二检测线CTD2输出无效发光信号；图2中显示面板在扫描第一行line1子像素单元时，如图3中ROW1所示，第一控制信号线SW1的低电平信号导通所述第一开关晶体管T1，以将所述第一检测线CTD1的有效发光信号传输到第一数据线data1，从而点亮第一数据线上的第一G子像素；在图2中所述显示面板扫描第二行line2子像素时，如图3中ROW2所示，所述第二控制信号线SW2的低电平信号导通所述第四开关晶体管T4，以将所述第一检测线CTD1的有效发光信号传输到第二数据线data2，从而点亮第二数据线上的第一G子像素。依次类推，在所述显示面板奇数行像素扫描阶段，利用所述第一控制信号线SW1的信号导通所述第一开关晶体管T1，以将所述第一检测线CTD1的有效发光信号传输到第一数据线data1；在所述显示面板偶数行像素扫描阶段，利用所述第二控制信号线SW2的信号导通所述第四开关晶体管T4，以将所述第一检测线CTD1的有效发光信号传输到第二数据线data2，从而实现显示面板中仅仅第一G子像素被点亮。

如图2、4所示，图4为本公开检测电路一种示例性实施例中各个信号端的时序图。图4给出了图2中检测电路在点亮第二G子像素时的时序图。在第二G子像素G2发光阶段，第一检测线CTD1输出无效发光信号，第二检测线CTD2输出有效发光信号；图2中显示面板在扫描第一行line1子像素单元时，如图4中ROW1所示，所述第一控制信号线SW1的低电平信号导通所述第三开关晶体管T3，以将所述第二检测线CTD2的有效发光信号传输到第二数据线data2，从而点亮点亮第二数据线中的第二G子像素；在图2中所述显示面板扫描第二行line2子像素时，如图4中ROW2所示，所述第二控制信号线SW2的低电平信号导通所述第二开关晶体管T2，以将所述第二检测线CTD2的有效发光信号传输到第一数据线data1，从而点亮第一数据线中的第二G子像素。依次类推，在所述显示面板奇数行像素扫描阶段，第一控制信号信的信号导通所述第三开关晶体管T3，以将所述第二检测线CTD2的有效发光信号传输到第二数据线data2；在所述显示面板偶数行像素扫描阶段，所述第二控制信号线SW2的信号导通所述第二开关晶体管T2，以将所述第二检测线CTD2的有效发光信号传输到第一数据线data1。从而实现显示面板中仅仅第二G子像素被点亮。

本示例性实施例提供的检测电路，在第一G子像素检测阶段：控制第一检测线CTD1输出有效发光信号，控制第二检测线CTD2输出无效发光信号；在所述显示面板奇数行像素扫描阶段，利用所述第一控制信号导通所述第一开关单元1，以将所述第一检测线CTD1的有效发光信号传输到第一数据线data1；在所述显示面板偶数行像素扫描阶段，利用所述第二控制信号导通所述第四开关单元4，以将所述第一检测线CTD1的有效发光信号传输到第二数据线data2；在第二G子像素检测阶段：控制第一检测线CTD1输出无效发光信号，控制第二检测线CTD2输出有效发光信号；在所述显示面板奇数行像素扫描阶段，利用所述第一控制信号导通所述第三开关单元3，以将所述第二检测线CTD2的有效发光信号传输到第二数据线data2；在所述显示面板偶数行像素扫描阶段，利用所述第二控制信号导通所述第二开关单元2，以将所述第二检测线CTD2的有效发光信号传输到第一数据线data1。一方面，该检测电路实现了第一G子像素G1和第二G子像素G2分别纯色发光；另一方面，该检测电路结构简单、成本较低。

本示例性实施例中，如图5所示，为本公开检测电路一种示例性实施例的电路图。所述显示面板还可以包括多条第三数据线data3和多条第四数据线data4，所述第三数据线data3、所述第一数据线data1、所述第四数据线data4、所述第二数据线data2依次交替分布，所述第三数据线data3上连接有依次交替分布的R子像素和B子像素，所述第四数据线data4上连接有依次交替分布的B子像素和R子像素，且在同一行上，所述第三数据线data3与所述第四数据线data4上的子像素不同种类，所述检测电路还可以包括：第三检测线CTD3、第四检测线CTD4、多个第五开关单元5、多个第六开关单元6、多个第七开关单元7、多个第八开关单元8。第三检测线CTD3用于向所述第三数据线data3传输检测信号；第四检测线CTD4用于向所述第四数据线data4传输检测信号；多个第五开关单元5，与所述第三数据线data3一一对应设置，所述第五开关单元5连接第三控制信号线SW3、第三检测线CTD3、第三数据线data3，用于响应所述第三控制信号线SW3的信号将所述第三检测线CTD3的信号传输到所述第三数据线data3；多个第六开关单元6与所述第三数据线data3一一对应设置，所述第六开关单元6连接第四控制信号线SW4、第四检测线CTD4、第三数据线data3，用于响应所述第四控制信号线SW4的信号将所述第四检测线CTD4的信号传输到所述第三数据线data3；多个第七开关单元7与所述第四数据线data4一一对应设置，所述第七开关单元7连接第三控制信号线SW3、第四检测线CTD4、第四数据线data4，用于响应所述第三控制信号线SW3的信号将所述第四检测线CTD4的信号传输到所述第四数据线data4；多个第八开关单元8与所述第四数据线data4一一对应设置，所述第八开关单元8连接第四控制信号线SW4、第三检测线CTD3、第四数据线data4，用于响应所述第四控制信号线SW4的信号将所述第三检测线CTD3的信号传输到所述第四数据线data4。

本示例性实施例中，如图6所示，为本公开检测电路一种示例性实施例的电路图。所述第五到第八开关单元可以分别对应包括第五到第八开关晶体管；其中：第五开关晶体管T5的第一端与所述第三检测线CTD3连接，第二端与所述第三数据线data3连接，控制端与所述第三控制信号线SW3连接；第六开关晶体管T6的第一端与所述第四检测线CTD4连接，第二端与所述第三数据线data3连接，控制端与所述第四控制信号线SW4连接；第七开关晶体管T7的第一端与所述第四检测线CTD4连接，第二端与所述第四数据线data4连接，控制端与所述第三控制信号线SW3连接；第八开关晶体管T8的第一端与所述第三检测线CTD3连接，第二端与所述第四数据线data4连接，控制端与所述第四控制信号线SW4连接。应该理解的是，所述第一到第四开关单元还可以有更多的结构可供选择，这些都属于本公开的保护范围。

本示例性实施例提供的检测电路还可以对R子像素和B子像素进行纯色显示。如图7所示，为本公开检测电路一种示例性实施例中各个信号端的时序图。图7给出了图6中检测电路点亮红色子像素时的时序图。需要说明的是，本示例性实施例中，第五到第八开关晶体管可以为N型开关晶体管也可以为P型开关晶体管，本示例性实施例以第五到第八开关晶体管为P型开关晶体管为例进行说明。如图7所示，在检测电路点亮R子像素阶段，第一检测线CTD1、第二检测线CTD2、第四检测线CTD4输出无效发光信号，第三检测线CTD3输出有效发光信号，在显示面板扫描图6中第一行line1子像素时，如图7中ROW1所示，第三控制信号线SW3输出低电平信号，第五开关晶体管T5导通，从而将第三检测线上的有效发光信号传输到第三数据线上，进而实现了第三数据线上R子像素发光，在显示面板扫描图6中第二行line2子像素时，如图7中ROW2所示，第四控制信号线SW4输出低电平信号，第八开关晶体管T8导通，从而将第三检测线上的有效发光信号传输到第四数据线上，进而实现了第四数据线上R子像素发光。因而，本示例性实施例提供的检测电路可以实现R子像素纯色显示。同理，本示例性实施例提供的检测电路还可以实现B子像素的纯色显示。

本示例性实施例中，显示面板包括位于显示区周围的边沿走线区，检测电路一般设置在边沿走线区，因而每一条数据线都需要引入边沿走线区，从而导致边沿走线区的宽度要求较大。本示例性实施例中，如图8所示，为本公开检测电路一种示例性实施例的电路图。检测电路还可以包括：第一连接线cl1、第二连接线cl2、第九开关单元、第十开关单元、第十一开关单元、第十二开关单元。第一连接线cl1连接于所述第一开关单元1、所述第二开关单元2与所述第一数据线data1之间，以及连接于所述第五开关单元5、所述第六开关单元6与所述第三数据线data3之间；第二连接线cl2连接于所述第三开关单元3、所述第四开关单元4与所述第二数据线data2之间，以及连接于所述第七开关单元7、所述第八开关单元8与所述第四数据线data4之间；第九开关单元连接所述第一连接线cl1、第五控制信号线、第三数据线data3，用于响应所述第五控制信号线的信号将所述第一连接线cl1上的信号传输到所述第三数据线data3；第十开关单元连接所述第一连接线cl1、第六控制信号线、第一数据线data1，用于响应所述第六控制信号线的信号将所述第一连接线cl1上的信号传输到所述第一数据线data1；第十一开关单元连接所述第二连接线cl2、第五控制信号线、第四数据线data4，用于响应所述第五控制信号线的信号将所述第二连接线cl2的信号传输到所述第四数据线data4；第十二开关单元连接第二连接线cl2、第六控制信号线、第二数据线data2，用于响应所述第六控制信号线的信号将所述第二连接线cl2的信号传输到所述第二数据线data2。所述第一连接线cl1和所述第二连接线cl2位所述边沿走线区。本示例性实施例中，两条数据线共用一条连接线，从而减少了边沿走线区的走线数量，进而可以减小边沿走线区的宽度。

如图8所示，本示例性实施例中，所述第九到第十二开关单元分别对应包括第九到第十二开关晶体管；其中：第九开关晶体管T9的第一端与所述第一连接线cl1连接，第二端与所述第三数据线data3连接，控制端与所述第五控制信号线连接；第十开关晶体管T10的第一端与所述第一连接线cl1连接，第二端与所述第一数据线data1连接，控制端与所述第六控制信号线连接；第十一开关晶体管T11的第一端与所述第二连接线cl2连接，第二端与所述第四数据线data4连接，控制端与所述第五控制信号线连接；第十二开关晶体管T12的第一端与所述第二连接线cl2连接，第二端与所述第二数据线data2连接，控制端与所述第六控制信号线连接。

本示例性实施例中，检测电路在实现第一G子像素和第二G子像素纯色显示时，在进行上述的时序控制时，还需要通过第五控制信号线SW5关断第九开关晶体管T9和第十一开关晶体管T11，同时通过第六控制信号线SW6导通第十开关晶体管T10和第十二开关晶体管T12。

例如，如图9所示，为本公开检测电路一种示例性实施例中各个信号端的时序图，在第一G子像素G1被点亮阶段，第五控制信号线SW5可以输出无效电平信号以关断第九开关晶体管T9和第十一开关晶体管T11，第六控制信号线SW6可以输出有效电平以导通第十开关晶体管T10和第十二开关晶体管T12。第一检测线CTD1输出有效发光信号，第二检测线CTD2输出无效发光信号；图8中显示面板在扫描第一行line1子像素单元时，如图9中ROW1所示，第一控制信号线SW1的低电平信号导通所述第一开关晶体管T1，以将所述第一检测线CTD1的有效发光信号通过第一连接线cl1传输到第一数据线data1，从而点亮第一数据线上的第一G子像素；在图8中所述显示面板扫描第二行line2子像素时，如图9中ROW2所示，所述第二控制信号线SW2的低电平信号导通所述第四开关晶体管T4，以将所述第一检测线CTD1的有效发光信号通过第二连接线cl2传输到第二数据线data2，从而点亮第二数据线上的第一G子像素。依次类推，在所述显示面板奇数行像素扫描阶段，利用所述第一控制信号线SW1的信号导通所述第一开关晶体管T1，以将所述第一检测线CTD1的有效发光信号传输到第一数据线data1；在所述显示面板偶数行像素扫描阶段，利用所述第二控制信号线SW2的信号导通所述第四开关晶体管T4，以将所述第一检测线CTD1的有效发光信号传输到第二数据线data2，从而实现显示面板中仅仅第一G子像素被点亮。同理，图8所示检测电路还可以实现第二G子像素G2纯显示。

该检测电路在实现R或B子像素纯色显示时，还需要通过第五控制信号线SW5导通第九开关晶体管T9和第十一开关晶体管T11，同时通过第六控制信号线SW6关断第十开关晶体管T10和第十二开关晶体管T12。如图10所示，为本公开检测电路一种示例性实施例中各个信号端的时序图，在检测电路点亮R子像素阶段，第五控制信号线SW5可以输出有效电平信号以导通第九开关晶体管T9和第十一开关晶体管T11，第六控制信号线SW6可以输出无效电平以关断第十开关晶体管T10和第十二开关晶体管T12。第一检测线CTD1、第二检测线CTD2、第四检测线CTD4输出无效发光信号，第三检测线CTD3输出有效发光信号，在显示面板扫描图8中第一行line1子像素时，如图10中ROW1所示，第三控制信号线SW3输出低电平信号，第五开关晶体管T5导通，从而将第三检测线上的有效发光信号通过第一连接线cl1传输到第三数据线上，进而实现了第三数据线上R子像素发光，在显示面板扫描图8中第二行line2子像素时，如图10中ROW2所示，第四控制信号线SW4输出低电平信号，第八开关晶体管T8导通，从而将第三检测线上的有效发光信号通过第二连接线cl2传输到第四数据线上，进而实现了第四数据线上R子像素发光。因而，本示例性实施例提供的检测电路可以实现R子像素纯色显示。同理，本示例性实施例提供的检测电路还可以实现B子像素的纯色显示。

本示例性实施例还提供一种检测电路驱动方法，用于驱动上述任意一项所述的检测电路，包括：

在第一检测阶段：

控制第一检测线输出有效发光信号，控制第二检测线输出无效发光信号；

在所述显示面板奇数行像素扫描阶段，利用所述第一控制信号线的信号导通所述第一开关单元，以将所述第一检测线的有效发光信号传输到第一数据线；

在所述显示面板偶数行像素扫描阶段，利用所述第二控制信号线的信号导通所述第四开关单元，以将所述第一检测线的有效发光信号传输到第二数据线；

在第二检测阶段：

控制第一检测线输出无效发光信号，控制第二检测线输出有效发光信号；

在所述显示面板奇数行像素扫描阶段，利用所述第一控制信号线的信号导通所述第三开关单元，以将所述第二检测线的有效发光信号传输到第二数据线；

在所述显示面板偶数行像素扫描阶段，利用所述第二控制信号线的信号导通所述第二开关单元，以将所述第二检测线的有效发光信号传输到第一数据线。

本公开提供的检测电路驱动方法与上述的检测电路具有相同的技术特征和工作原理，上述内容已经做出详细说明，此处不再赘述。

本示例性实施例还提供一种显示面板，包括上述的检测电路。

本公开提供的显示面板与上述的检测电路具有相同的技术特征和工作原理，上述内容已经做出详细说明，此处不再赘述。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本公开的其他实施例。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由权利要求指出。

应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限。

Claims (10)

1.一种检测电路，用于实现RGBG像素结构的显示面板的功能检测，所述显示面板包括多条第一数据线和多条第二数据线，所述第一数据线上连接有依次交替分布的第一G子像素和第二G子像素，所述第二数据线上连接有依次交替分布的第二G子像素和第一G子像素，且在同一行上，所述第一数据线和所述第二数据线上的G子像素不同种类，其特征在于，该检测电路包括：

第一检测线，用于在第一检测阶段输出有效发光信号，以及用于在第二检测阶段输出无效发光信号；

第二检测线，用于在所述第一检测阶段输出无效发光信号，以及用于在所述第二检测阶段输出有效发光信号；

多个第一开关单元，与所述第一数据线一一对应设置，所述第一开关单元连接第一控制信号线、第一检测线、第一数据线，用于在所述显示面板奇数行像素扫描阶段响应所述第一控制信号线的信号将所述第一检测线的信号传输到所述第一数据线；

多个第二开关单元，与所述第一数据线一一对应设置，所述第二开关单元连接第二控制信号线、第二检测线、第一数据线，用于在所述显示面板偶数行像素扫描阶段响应所述第二控制信号线的信号将所述第二检测线的信号传输到所述第一数据线；

多个第三开关单元，与所述第二数据线一一对应设置，所述第三开关单元连接第一控制信号线、第二检测线、第二数据线，用于在所述显示面板奇数行像素扫描阶段响应所述第一控制信号线的信号将所述第二检测线的信号传输到所述第二数据线；

多个第四开关单元，与所述第二数据线一一对应设置，所述第四开关单元连接第二控制信号线、第一检测线、第二数据线，用于在所述显示面板偶数行像素扫描阶段响应所述第二控制信号线的信号将所述第一检测线的信号传输到所述第二数据线。

2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述显示面板还包括多条第三数据线和多条第四数据线，所述第三数据线、所述第一数据线、所述第四数据线、所述第二数据线依次交替分布，所述第三数据线上连接有依次交替分布的R子像素和B子像素，所述第四数据线上连接有依次交替分布的B子像素和R子像素，且在同一行上，所述第三数据线与所述第四数据线上的子像素不同种类，所述检测电路还包括：

第三检测线，用于向所述第三数据线传输检测信号；

第四检测线，用于向所述第四数据线传输检测信号；

多个第五开关单元，与所述第三数据线一一对应设置，所述第五开关单元连接第三控制信号线、第三检测线、第三数据线，用于响应所述第三控制信号线的信号将所述第三检测线的信号传输到所述第三数据线；

多个第六开关单元，与所述第三数据线一一对应设置，所述第六开关单元连接第四控制信号线、第四检测线、第三数据线，用于响应所述第四控制信号线的信号将所述第四检测线的信号传输到所述第三数据线；

多个第七开关单元，与所述第四数据线一一对应设置，所述第七开关单元连接第三控制信号线、第四检测线、第四数据线，用于响应所述第三控制信号线的信号将所述第四检测线的信号传输到所述第四数据线；

多个第八开关单元，与所述第四数据线一一对应设置，所述第八开关单元连接第四控制信号线、第三检测线、第四数据线，用于响应所述第四控制信号线的信号将所述第三检测线的信号传输到所述第四数据线。

3.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，还包括：

第一连接线，连接于所述第一开关单元、所述第二开关单元与所述第一数据线之间，以及连接于所述第五开关单元、所述第六开关单元与所述第三数据线之间；

第二连接线，连接于所述第三开关单元、所述第四开关单元与所述第二数据线之间，以及连接于所述第七开关单元、所述第八开关单元与所述第四数据线之间；

第九开关单元，连接所述第一连接线、第五控制信号线、第三数据线，用于响应所述第五控制信号线的信号将所述第一连接线上的信号传输到所述第三数据线；

第十开关单元，连接所述第一连接线、第六控制信号线、第一数据线，用于响应所述第六控制信号线的信号将所述第一连接线上的信号传输到所述第一数据线；

第十一开关单元，连接所述第二连接线、第五控制信号线、第四数据线，用于响应所述第五控制信号线的信号将所述第二连接线的信号传输到所述第四数据线；

第十二开关单元，连接第二连接线、第六控制信号线、第二数据线，用于响应所述第六控制信号线的信号将所述第二连接线的信号传输到所述第二数据线。

4.根据权利要求3所述的检测电路，其特征在于，所述显示面板包括位于显示区周围的边沿走线区，所述第一连接线和所述第二连接线位所述边沿走线区。

5.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述第一到第四开关单元分别对应包括第一到第四开关晶体管；其中：

第一开关晶体管，第一端与所述第一检测线连接，第二端与所述第一数据线连接，控制端与所述第一控制信号线连接；

第二开关晶体管，第一端与所述第二检测线连接，第二端与所述第一数据线路连接，控制端与所述第二控制信号线连接；

第三开关晶体管，第一端与所述第二检测线连接，第二端与所述第二数据线连接，控制端与所述第一控制信号线连接；

第四开关晶体管，第一端与所述第一检测线连接，第二端与所述第二数据线连接，控制端与所述第二控制信号线连接。

6.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述第五到第八开关单元分别对应包括第五到第八开关晶体管；其中：

第五开关晶体管，第一端与所述第三检测线连接，第二端与所述第三数据线连接，控制端与所述第三控制信号线连接；

第六开关晶体管，第一端与所述第四检测线连接，第二端与所述第三数据线连接，控制端与所述第四控制信号线连接；

第七开关晶体管，第一端与所述第四检测线连接，第二端与所述第四数据线连接，控制端与所述第三控制信号线连接；

第八开关晶体管，第一端与所述第三检测线连接，第二端与所述第四数据线连接，控制端与所述第四控制信号线连接。

7.根据权利要求3所述的检测电路，其特征在于，所述第九到第十二开关单元分别对应包括第九到第十二开关晶体管；其中：

第九开关晶体管，第一端与所述第一连接线连接，第二端与所述第三数据线连接，控制端与所述第五控制信号线连接；

第十开关晶体管，第一端与所述第一连接线连接，第二端与所述第一数据线连接，控制端与所述第六控制信号线连接；

第十一开关晶体管，第一端与所述第二连接线连接，第二端与所述第四数据线连接，控制端与所述第五控制信号线连接；

第十二开关晶体管，第一端与所述第二连接线连接，第二端与所述第二数据线连接，控制端与所述第六控制信号线连接。

8.根据权利要求1-7任一项所述的检测电路，其特征在于，所述第一G子像素与所述第二G子像素具有不同的像素开口形状。

9.一种检测电路驱动方法，用于驱动权利要求1-8任一项所述的检测电路，其特征在于，包括：

在第一检测阶段：

控制第一检测线输出有效发光信号，控制第二检测线输出无效发光信号；

在所述显示面板奇数行像素扫描阶段，利用所述第一控制信号线的信号导通所述第一开关单元，以将所述第一检测线的有效发光信号传输到第一数据线；

在所述显示面板偶数行像素扫描阶段，利用所述第二控制信号线的信号导通所述第四开关单元，以将所述第一检测线的有效发光信号传输到第二数据线；

在第二检测阶段：

控制第一检测线输出无效发光信号，控制第二检测线输出有效发光信号；

在所述显示面板奇数行像素扫描阶段，利用所述第一控制信号线的信号导通所述第三开关单元，以将所述第二检测线的有效发光信号传输到第二数据线；

在所述显示面板偶数行像素扫描阶段，利用所述第二控制信号线的信号导通所述第二开关单元，以将所述第二检测线的有效发光信号传输到第一数据线。

10.一种显示面板，其特征在于，包括权利要求1-8任一项所述的检测电路。

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