CN113889012A - 显示面板及显示装置 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提供了一种显示面板及显示装置，显示面板包括：数据线；阵列基板测试电路，阵列基板测试电路包括多个第一开关元件，第一开关元件的控制端与第一开关信号输入端电连接，第一开关元件的第一端与第一测试信号输入端电连接；多个辅助开关元件，辅助开关元件的控制端与第二开关信号输入端电连接，辅助开关元件的第一端与第一开关元件的第二端电连接，辅助开关元件的第二端与数据线电连接，辅助开关元件用于在点屏测试过程中响应于第二开关信号输入端输入的截止电平而截止。本申请实施例能够避免显示面板在点屏测试时出现暗线或亮线等异常状况，保证点屏测试的顺利完成。

Description

显示面板及显示装置

技术领域

本申请属于显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及显示装置。

背景技术

随着显示技术的发展，显示面板的应用越来越广泛。一般而言，在显示面板投入使用前，需要对显示面板进行点屏测试(又称面板测试(cell test，CT))，以测试显示面板是否能够正常显示。

然而，经本申请的发明人发现，在点屏测试时，部分显示面板会在显示面板的固定位置出现暗线或亮线等异常状况，致使点屏测试无法顺利完成。

发明内容

本申请实施例提供一种显示面板及显示装置，能够解决显示面板的固定位置出现暗线或亮线等异常状况的问题，保证点屏测试的顺利完成。

第一方面，本申请实施例提供了一种显示面板，显示面板包括：数据线；阵列基板测试电路，阵列基板测试电路包括多个第一开关元件，第一开关元件的控制端与第一开关信号输入端电连接，第一开关元件的第一端与第一测试信号输入端电连接；多个辅助开关元件，辅助开关元件的控制端与第二开关信号输入端电连接，辅助开关元件的第一端与第一开关元件的第二端电连接，辅助开关元件的第二端与数据线电连接，辅助开关元件用于在点屏测试过程中响应于第二开关信号输入端输入的截止电平而截止。

在一些实施例中，显示面板还可以包括：点屏测试电路，点屏测试电路可以包括多个第二开关元件，第二开关元件的控制端与第三开关信号输入端电连接，第二开关元件的第一端与第二测试信号输入端电连接，第二开关元件的第二端与辅助开关元件的第二端及数据线均电连接；第二开关元件的第二端与数据线的连接节点位于辅助开关元件与显示面板的显示区之间。

这样，在点屏测试过程中，由于第二开关元件的第二端与数据线的连接节点位于辅助开关元件与显示面板的显示区之间，所以即便辅助开关元件响应于第二开关信号输入端输入的截止电平而截止，也不会影响第二测试信号输入端输入的第二测试信号通过第二开关元件进入数据线，从而保证点屏测试的顺利完成。

在一些实施例中，显示面板还可以包括：驱动芯片绑定焊盘，驱动芯片绑定焊盘与辅助开关元件的第二端及数据线均电连接；驱动芯片绑定焊盘位于辅助开关元件与显示面板的显示区之间。

这样，由于驱动芯片绑定焊盘位于辅助开关元件与显示面板的显示区之间，所以在显示面板的后续使用过程中由驱动芯片绑定焊盘输入的驱动信号无需经过辅助开关元件便可以进入数据线，从而保证辅助开关元件不会对由驱动芯片绑定焊盘输入的驱动信号的驱动能力产生影响。

在一些实施例中，辅助开关元件与对应连接的第一开关元件之间的走线长度大于辅助开关元件与对应连接的驱动芯片绑定焊盘之间的走线长度。

这样，通过将辅助开关元件设置在靠近驱动芯片绑定焊盘且远离第一开关元件的位置，可以减小阵列基板测试电路中的静电对于辅助开关元件的冲击，尽可能保证辅助开关元件不会被静电所破坏。

在一些实施例中，阵列基板测试电路位于显示面板的非显示区的第一子区域，辅助开关元件位于非显示区的第二子区域，驱动芯片绑定焊盘位于非显示区的第三子区域，第一子区域、第二子区域和第三子区域依次排布；第一子区域与第二子区域之间的直线距离大于第二子区域与第三子区域之间的直线距离。

在一些实施例中，每条数据线与至少一个辅助开关元件电连接；在每条数据线与至少两个辅助开关元件电连接的情况下，至少两个辅助开关元件串联在数据线与第一开关元件的第二端之间。

这样，通过在每条数据线上设置至少两个辅助开关元件，可以保证在每条数据线上一个或其他少数个辅助开关元件发生故障(如被静电破坏)的情况下，该数据线上的其他辅助开关元件依旧能够正常关断，防止阵列基板测试电路中的信号进入数据线，从而较大程度上避免显示面板出现暗线或亮线等异常状况，保证点屏测试的顺利完成。

在一些实施例中，第一开关元件与数据线一一对应电连接，多个第一开关元件的第一端与同一个第一测试信号输入端电连接。

这样，由于多个第一开关元件的第一端共用同一个第一测试信号输入端，所以一方面可以减少显示面板上第一测试信号输入端的数量，减少阵列基板测试过程中的扎针次数；另一方面还可以利用原有空间将第一测试信号输入端的尺寸设计的更大，提高扎针的成功率，便于阵列基板测试的顺利进行。

在一些实施例中，显示面板还可以包括多列子像素，每列子像素与一条数据线对应电连接，每列子像素可以包括至少一种颜色的子像素；一条数据线上同一种颜色的所有子像素均电连接同一个第二开关元件的第二端。

在一些实施例中，奇数列子像素可以包括第一颜色子像素和第二颜色子像素，偶数列子像素可以包括第三颜色子像素，或者，奇数列子像素可以包括第一颜色子像素，偶数列子像素可以包括第二颜色子像素和第三颜色子像素。

在一些实施例中，第一开关元件可以包括第一晶体管，第一晶体管的栅极与第一开关信号输入端电连接，第一晶体管的第一极与第一测试信号输入端电连接；辅助开关元件可以包括第二晶体管，第二晶体管的栅极与第二开关信号输入端电连接，第二晶体管的第一极与第一晶体管的第二极电连接，第二晶体管的第二极与数据线电连接。

在一些实施例中，第二晶体管的栅极与第一晶体管的栅极处于同一膜层，第二晶体管的第一极、第二晶体管的第二极、第一晶体管的第一极和第一晶体管的第二极位于同一膜层。

这样，第二晶体管可以与第一晶体管同一道工艺制备，无需增加额外的工艺流程，有利于制备工艺的简化。

第二方面，本申请实施例提供了一种显示装置，显示装置包括第一方面任一实施例的显示面板。

本申请实施例的显示面板及显示装置，显示面板包括：数据线；阵列基板测试电路，阵列基板测试电路包括多个第一开关元件，第一开关元件的控制端与第一开关信号输入端电连接，第一开关元件的第一端与第一测试信号输入端电连接；多个辅助开关元件，辅助开关元件的控制端与第二开关信号输入端电连接，辅助开关元件的第一端与第一开关元件的第二端电连接，辅助开关元件的第二端与数据线电连接，辅助开关元件用于在点屏测试过程中响应于第二开关信号输入端输入的截止电平而截止。在点屏测试过程中，由于辅助开关元件响应于第二开关信号输入端输入的截止电平而截止，所以可以断开阵列基板测试电路与数据线之间的电连接，这样，即便在阵列基板测试电路中第一开关元件发生故障的情况下，也能保证阵列基板测试电路中的信号不会进入数据线，从而避免显示面板出现暗线或亮线等异常状况，保证点屏测试的顺利完成。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单的介绍，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为相关技术中显示面板的电路示意图；

图2为本申请一实施例提供的显示面板的一种结构示意图；

图3为本申请一实施例提供的显示面板的另一种结构示意图；

图4为本申请一实施例提供的显示面板的又一种结构示意图；

图5为本申请一实施例提供的显示面板的又一种结构示意图；

图6为本申请一实施例提供的显示面板的又一种结构示意图；

图7为本申请一实施例提供的显示面板的又一种结构示意图；

图8为本申请一实施例提供的显示面板的又一种结构示意图；

图9为本申请一实施例提供的显示面板的又一种结构示意图；

图10为本申请一实施例提供的显示面板的一种电路示意图；

图11为本申请一实施例提供的显示装置的结构示意图。

具体实施方式

下面将详细描述本申请的各个方面的特征和示例性实施例，为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例，对本申请进行进一步详细描述。应理解，此处所描述的具体实施例仅意在解释本申请，而不是限定本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本申请的示例来提供对本申请更好的理解。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

需要说明的是，本申请实施例中的晶体管以P型晶体管为例进行说明，但不限于P型晶体管，也可以替换为N型晶体管。对于P型晶体管来说，导通电平为低电平，截止电平为高电平。即，P型晶体管的控制极为低电平时，其第一极和第二极之间导通，P型晶体管的控制端为高电平时，其第一极和第二极之间关断。对于N型晶体管来说，导通电平为高电平，截止电平为低电平。即，N型晶体管的栅极为高电平时，其第一极和第二极之间导通，N型晶体管的栅极为低电平时，其第一极和第二极之间关断。在具体实施时，上述各晶体管的栅极作为其控制极，并且，根据各晶体管的栅极的信号以及其类型，可以将其第一极作为源极，第二极作为漏极，或者将其第一极作为漏极，第二极作为源极，在此不做区分，另外本发明实施例中的导通电平和截止电平均为泛指，导通电平是指任何能够使晶体管导通的电平，截止电平是指任何能够使晶体管截止/关断的电平。

在本申请实施例中，术语“电连接”可以是指两个组件直接电连接，也可以是指两个组件之间经由一个或多个其它组件电连接。

在本申请实施例中，第一节点、第二节点和第三节点只是为了便于描述电路结构而定义的，第一节点、第二节点和第三节点并不是一个实际的电路单元。

在阐述本申请实施例所提供的技术方案之前，为了便于对本申请实施例理解，本申请首先对现有技术中存在的问题进行具体说明：

如前所述，经本申请的发明人发现，在点屏测试时，部分显示面板会在其固定位置出现暗线或亮线等异常状况，致使点屏测试无法顺利完成。为了解决显示面板的固定位置出现暗线或亮线等异常状况的问题，本申请的发明人首先对于导致上述技术问题的根因进行了研究和分析，具体的研究和分析过程如下：

经本申请的发明人发现，显示面板在生产制造过程中极易产生静电。如图1所示，静电会通过测试信号输入端11进入阵列基板测试电路12，由于因布线空间的限制，阵列基板测试电路12未连接静电防护电路，所以静电极易击穿或烧伤阵列基板测试电路12中的晶体管M1，导致晶体管M1失效，致使晶体管M1无法在点屏测试时关断。这样，在点屏测试时，阵列基板测试电路12中的信号就会通过某一个或某多个失效的晶体管M1(如图1所示的用圆圈“O”标记的晶体管)进入数据线Data，从而驱动与数据线Data连接的子像素PX发光或保持黑态，致使显示面板会在固定位置出现暗线或亮线等异常状况，进而导致点屏测试无法顺利完成。

需要说明的是，上述提及的阵列基板测试电路12中的信号包括不限于测试信号输入端11输入的测试信号、由失效的晶体管M1的栅极进入的开关信号等。

鉴于发明人的上述研究发现，本申请实施例提供了一种显示面板及显示装置，能够解决相关技术中存在的在点屏测试时，显示面板会在其固定位置出现暗线或亮线等异常状况的技术问题。

本申请实施例的技术构思在于：在阵列基板测试电路与数据线之间增设辅助开关元件。在点屏测试过程中，辅助开关元件响应于截止电平而截止，从而断开阵列基板测试电路与数据线之间的电连接。这样，即便在阵列基板测试电路中第一开关元件发生故障的情况下，也能保证阵列基板测试电路中的信号不会进入数据线，从而避免显示面板出现暗线或亮线等异常状况，保证点屏测试的顺利完成。

下面首先对本申请实施例所提供的显示面板进行介绍。

图2为本申请一实施例提供的显示面板的一种结构示意图。如图2所示，本申请实施例提供的显示面板20包括数据线21、阵列基板测试电路22和多个辅助开关元件23。其中，阵列基板测试电路22包括多个第一开关元件22a，第一开关元件22a的控制端与第一开关信号输入端SWi电连接，第一开关元件22a的第一端与第一测试信号输入端P1电连接。SWi为SW1～SWn中的任意一个，i和n均为正整数。第一测试信号输入端P1可以包括焊盘(PAD)，为了便于区分，该焊盘可以称作AT焊盘。

在阵列基板测试(下文称AT测试)时，第一开关信号输入端SW1～SWn可以依次输入导通电平，多个第一开关元件22a可以响应于第一开关信号输入端SW1～SWn的导通电平而依次导通，将第一测试信号输入端P1依次传输至各条数据线21，以实现AT测试。

继续参见图2，为了避免点屏测试时显示面板在其固定位置出现暗线或亮线等问题，显示面板20中增设有辅助开关元件23。辅助开关元件23的控制端与第二开关信号输入端S2电连接，辅助开关元件23的第一端与第一开关元件22a的第二端电连接，辅助开关元件23的第二端与数据线21电连接。辅助开关元件23用于在点屏测试过程中响应于第二开关信号输入端S2输入的截止电平而截止。

如此一来，由于辅助开关元件23响应于第二开关信号输入端S2输入的截止电平而截止，所以可以断开阵列基板测试电路22与数据线21之间的电连接，这样，即便在阵列基板测试电路22中第一开关元件22a发生故障(如被静电破坏)的情况下，也能保证阵列基板测试电路22中的信号不会进入数据线21，从而避免显示面板出现暗线或亮线等异常状况，保证点屏测试的顺利完成。

为了便于理解，下面结合图3对于点屏测试过程进行详细说明。

如图3所示，显示面板20还包括点屏测试电路24。点屏测试电路24可以包括多个第二开关元件24a，第二开关元件24a的控制端与第三开关信号输入端SHi电连接，SHi为SH1～SHn中的任意一个，i为正整数，第二开关元件24a的第一端与第二测试信号输入端Dx电连接，第二开关元件24a的第二端与辅助开关元件23的第二端及数据线21均电连接。第二开关元件24a的第二端与数据线21的连接节点N1可以位于辅助开关元件23和显示面板20的显示区AA之间。第二测试信号输入端Dx可以包括焊盘(PAD)，为了便于区分，该焊盘可以称作CT焊盘。

在点屏测试时，第三开关信号输入端SH1～SHn可以依次输入导通电平，多个第二开关元件24a可以响应于第三开关信号输入端SH1～SHn的导通电平而依次导通，将第二测试信号输入端Dx依次传输至各条数据线21，以点亮与各条数据线21连接的子像素，实现点屏测试。

在点屏测试时，辅助开关元件23响应于第二开关信号输入端S2输入的截止电平而截止，断开阵列基板测试电路22与数据线21之间的电连接，保证阵列基板测试电路22中的信号不会进入数据线21，从而避免显示面板出现暗线或亮线等异常状况，保证点屏测试的顺利完成。此外，由于第二开关元件24a的第二端与数据线21的连接节点N1位于辅助开关元件23与显示区AA之间，所以即便辅助开关元件23响应于第二开关信号输入端S2输入的截止电平而截止，也不会影响第二测试信号输入端Dx输入的第二测试信号通过第二开关元件24a进入数据线21，从而保证点屏测试的顺利完成。

如图4所示，根据本申请的一些实施例，可选地，显示面板20还可以包括驱动芯片绑定焊盘25，驱动芯片绑定焊盘25与辅助开关元件23的第二端及数据线21均电连接，驱动芯片绑定焊盘25可以位于辅助开关元件23与显示面板20的显示区AA之间。

驱动芯片绑定焊盘25又可称作IC绑定焊盘，驱动芯片可以通过驱动芯片绑定焊盘25与显示面板20绑定，从而为显示面板20提供驱动信号。

在图4所示的实施例中，驱动芯片绑定焊盘25之所以位于辅助开关元件23与显示面板20的显示区AA之间，原因在于：经本申请的发明人发现，辅助开关元件23存在一定的阻抗，而驱动芯片提供的驱动信号的电流/电压本身就偏小，若驱动信号再经过辅助开关元件23进入数据线21的话，受辅助开关元件23分压的影响，进入数据线21的驱动信号的驱动能力就会变得很弱，可能无法驱动子像素正常发光。因此，可以将驱动芯片绑定焊盘25设置在辅助开关元件23和显示面板20的显示区AA之间。这样，由于驱动芯片绑定焊盘25位于辅助开关元件23与显示区AA之间，所以在显示面板的后续使用过程中由驱动芯片绑定焊盘25输入的驱动信号无需经过辅助开关元件23便可以进入数据线，从而保证辅助开关元件23不会对由驱动芯片绑定焊盘25输入的驱动信号的驱动能力产生影响。

根据本申请的一些实施例，可选地，辅助开关元件23与对应连接的第一开关元件22a之间的走线长度大于辅助开关元件23与对应连接的驱动芯片绑定焊盘25之间的走线长度。这样设置的好处在于：如前所述，静电会进入阵列基板测试电路22，所以将辅助开关元件23设置在靠近驱动芯片绑定焊盘25且远离第一开关元件22a的位置，可以减小阵列基板测试电路22中的静电对于辅助开关元件23的冲击，尽可能保证辅助开关元件23不会被静电所破坏。

如图5所示，在一些具体的实施例中，阵列基板测试电路22位于显示面板20的非显示区NA的第一子区域NA1，辅助开关元件23位于非显示区NA的第二子区域NA2，驱动芯片绑定焊盘25位于非显示区NA的第三子区域NA3，第一子区域NA1、第二子区域NA2和第三子区域NA3依次排布。可选地，第一子区域NA1与第二子区域NA2之间的直线距离s1大于第二子区域NA2与第三子区域NA3之间的直线距离s2。通过将辅助开关元件23设置在尽可能远离阵列基板测试电路22的位置，可以减小阵列基板测试电路22中的静电对于辅助开关元件23的冲击。例如在实际应用中，可以将辅助开关元件23设置在与对应的驱动芯片绑定焊盘25距离最近(显示面板能够允许的最近距离)的位置处，以及将辅助开关元件23设置在与对应的第一开关元件22a距离最远(显示面板能够允许的最远距离)的位置处。需要说明的是，辅助开关元件23及其对应的驱动芯片绑定焊盘25指的是同一条数据线连接的辅助开关元件23和驱动芯片绑定焊盘25，同理，辅助开关元件23及其对应的第一开关元件22a指的是同一条数据线连接的辅助开关元件23和第一开关元件22a。

如图6所示，根据本申请的一些实施例，可选地，每条数据线21与至少一个辅助开关元件23电连接，例如每条数据线21可以与一个、两个或两个以上的辅助开关元件23电连接。在每条数据线21与至少两个辅助开关元件23电连接的情况下，至少两个辅助开关元件23串联在数据线21与第一开关元件22a的第二端之间。

这样，通过在每条数据线21上设置至少两个辅助开关元件23，可以保证在每条数据线21上一个或其他少数个辅助开关元件23发生故障(如被静电破坏)的情况下，该数据线21上的其他辅助开关元件23在点屏测试时依旧能够正常关断，防止阵列基板测试电路22中的信号进入数据线21，从而较大程度上避免显示面板出现暗线或亮线等异常状况，保证点屏测试的顺利完成。

如图7所示，根据本申请的一些实施例，可选地，第一开关元件22a与数据线21一一对应电连接，即一个第一开关元件22a与一条数据线21对应电连接。多个第一开关元件22a的第一端与同一个第一测试信号输入端P1电连接。例如，4个第一开关元件22a的第一端与同一个第一测试信号输入端P1电连接。

这样，由于多个第一开关元件22a的第一端共用同一个第一测试信号输入端P1，所以一方面可以减少显示面板20上第一测试信号输入端P1的数量，减少阵列基板测试过程中的扎针次数；另一方面还可以利用原有空间将第一测试信号输入端P1的尺寸设计的更大，提高扎针的成功率，便于阵列基板测试的顺利进行。

需要说明的是，扎针可以理解为点灯机PG的探针接触第一测试信号输入端P1，即点灯机PG的探针与第一测试信号输入端P1之间建立电性连接。

如图8所示，根据本申请的一些实施例，可选地，显示面板还可以包括多列子像素PX，每列子像素PX与一条数据线21对应电连接。每列子像素PX可以包括至少一种颜色的子像素PX，即每列子像素PX可以包括一种颜色的子像素，也可以包括两种或两种以上的子像素。其中，一条数据线21上同一种颜色的所有子像素可以均电连接同一个第二开关元件24a的第二端。相应地，一条数据线21上不同颜色的子像素可以电连接不同的第二开关元件24a的第二端。作为一种示例，奇数列子像素可以包括第一颜色子像素和第二颜色子像素，偶数列子像素可以包括第三颜色子像素。例如，奇数列子像素可以包括红色子像素R和蓝色子像素B，偶数列子像素可以包括绿色子像素G。再例如，奇数列子像素可以包括红色子像素R和绿色子像素G，偶数列子像素可以包括蓝色子像素B。再例如，奇数列子像素可以包括绿色子像素G和蓝色子像素B，偶数列子像素可以包括红色子像素R。

举例而言，奇数列子像素可以包括第1列子像素、第3列子像素、第5列子像素以及其他排列序号为奇数的多列子像素，偶数列子像素可以包括第2列子像素、第4列子像素、第6列子像素以及其他排列序号为偶数的多列子像素。相应地，奇数列子像素中的每列子像素可以与两个第二开关元件24a的第二端电连接，偶数列子像素中的每列子像素可以与一个第二开关元件24a的第二端电连接。

以第一颜色子像素为红色子像素R、第二颜色子像素为蓝色子像素B、第三颜色子像素为绿色子像素G为例，第二测试信号输入端Dx可以包括第一子测试信号输入端DR、第二子测试信号输入端DB和第三子测试信号输入端DG。在奇数列子像素中的每列子像素连接的两个第二开关元件24a中，其中一个第二开关元件24a的第一端与第一子测试信号输入端DR电连接，另一个第二开关元件24a的第一端与第二子测试信号输入端DB电连接，两个第二开关元件24a的第二端均通过数据线21与奇数列的一列子像素电连接。第一子测试信号输入端DR可以为奇数列子像素中的红色子像素R提供测试信号，实现红色子像素R的点屏测试。第二子测试信号输入端DB可以为奇数列子像素中的蓝色子像素B提供测试信号，实现蓝色子像素B的点屏测试。对于偶数列子像素连接的第二开关元件24a而言，第二开关元件24a的第一端可以与第三子测试信号输入端DG电连接，第二开关元件24a的第二端可以通过数据线21与偶数列子像素电连接。第三子测试信号输入端DG可以为偶数列子像素中的绿色子像素G提供测试信号，实现绿色子像素G的点屏测试。

如图9所示，作为另一种示例，奇数列子像素可以包括第一颜色子像素，偶数列子像素可以包括第二颜色子像素和第三颜色子像素。例如，奇数列子像素可以包括绿色子像素G，偶数列子像素可以包括红色子像素R和蓝色子像素B。再例如，奇数列子像素可以包括红色子像素R，偶数列子像素可以包括蓝色子像素B和绿色子像素G。再例如，奇数列子像素可以包括蓝色子像素B，偶数列子像素可以包括绿色子像素G和红色子像素R。相应地，奇数列子像素中的每列子像素可以与一个第二开关元件24a的第二端电连接，偶数列子像素中的每列子像素可以与两个第二开关元件24a的第二端电连接。

以第一颜色子像素为绿色子像素G、第二颜色子像素为红色子像素R、第三颜色子像素为蓝色子像素B为例，对于奇数列子像素连接的第二开关元件24a而言，第二开关元件24a的第一端可以与第三子测试信号输入端DG电连接，第二开关元件24a的第二端可以通过数据线21与奇数列子像素电连接。第三子测试信号输入端DG可以为奇数列子像素中的绿色子像素G提供测试信号，实现绿色子像素G的点屏测试。在偶数列子像素中的每列子像素连接的两个第二开关元件24a中，其中一个第二开关元件24a的第一端与第一子测试信号输入端DR电连接，另一个第二开关元件24a的第一端与第二子测试信号输入端DB电连接，两个第二开关元件24a的第二端均通过数据线21与偶数列的一列子像素电连接。第一子测试信号输入端DR可以为偶数列子像素中的红色子像素R提供测试信号，实现红色子像素R的点屏测试。第二子测试信号输入端DB可以为偶数列子像素中的蓝色子像素B提供测试信号，实现蓝色子像素B的点屏测试。下面结合图10所示的具体示例对于本申请实施例进行具体说明。

如图10所示，根据本申请的一些实施例，可选地，第一开关元件22a可以包括第一晶体管T1，第一晶体管T1的栅极与第一开关信号输入端SWi电连接，第一晶体管T1的第一极与第一测试信号输入端P1电连接。辅助开关元件23可以包括第二晶体管T2，第二晶体管T2的栅极与第二开关信号输入端S2电连接，第二晶体管T2的第一极与第一晶体管T1的第二极电连接，第二晶体管T2的第二极与数据线21电连接。

在点屏测试过程中，第二晶体管T2响应于第二开关信号输入端S2输入的截止电平而截止，以断开第一晶体管T1与数据线21之间的电连接，这样，即便在阵列基板测试电路22中第一晶体管T1发生故障(如被静电破坏)的情况下，也能保证阵列基板测试电路22中的信号不会进入数据线21，从而避免显示面板出现暗线或亮线等异常状况，保证点屏测试的顺利完成。

继续参见图10，根据本申请的一些实施例，可选地，第二开关元件24a可以包括第三晶体管T3，第三晶体管T3的栅极与第三开关信号输入端SHi电连接，第三晶体管T3的第一极与第二测试信号输入端Dx电连接，第三晶体管T3的第二极与第二晶体管T2的第二极及数据线21均电连接。

在图10所示的具体示例中，奇数列子像素可以包括红色子像素R和蓝色子像素B，偶数列子像素可以包括绿色子像素G。奇数列子像素中的每列子像素与两个第三晶体管T3的第二极电连接，其中一个第三晶体管T3的第一极与第一子测试信号输入端DR电连接，另一个第三晶体管T3的第一极与第二子测试信号输入端DB电连接。偶数列子像素中的每列子像素与一个第三晶体管T3的第二极电连接，该第三晶体管T3的第一极与第三子测试信号输入端DG电连接。

根据本申请的一些实施例，可选地，第二晶体管T2的栅极与第一晶体管T1的栅极处于同一膜层，第二晶体管T2的第一极、第二晶体管T2的第二极、第一晶体管T1的第一极和第一晶体管T1的第二极位于同一膜层。

举例而言，显示面板20可以包括依次层叠的衬底、有源层、栅极金属层、栅极绝缘层、电容电极金属层、层间绝缘层和源漏极金属层。第二晶体管T2的栅极与第一晶体管T1的栅极可以位于栅极金属层，第二晶体管T2的第一极、第二晶体管T2的第二极、第一晶体管T1的第一极和第一晶体管T1的第二极可以位于有源层。

这样，第二晶体管T2可以与第一晶体管T1同一道工艺制备，无需增加额外的工艺流程，有利于制备工艺的简化。

基于上述实施例提供的显示面板，相应地，本申请还提供了一种显示装置。如图11所示，该显示装置200可包括设备本体10以及上述实施例中的显示面板20，该显示面板20覆盖在设备本体10上。设备本体10中可设置有各类器件，如传感器件、处理器件等，在此并不限定。显示装置200具体可以为手机、计算机、平板电脑、数码相机、电视机、电子纸等具有显示功能的装置，在此并不限定。

需要明确的是，本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同或相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。对于显示面板实施例和显示装置实施例而言，相关之处可以参见像素驱动电路实施例和阵列基板实施例的说明部分。本申请并不局限于上文所描述并在图中示出的特定结构。本领域的技术人员可以在领会本申请的精神之后，作出各种改变、修改和添加。并且，为了简明起见，这里省略对已知技术的详细描述。

本领域技术人员应能理解，上述实施例均是示例性而非限制性的。在不同实施例中出现的不同技术特征可以进行组合，以取得有益效果。本领域技术人员在研究附图、说明书及权利要求书的基础上，应能理解并实现所揭示的实施例的其他变化的实施例。在权利要求书中，术语“包括”并不排除其他结构；数量涉及“一个”但不排除多个；术语“第一”、“第二”用于标示名称而非用于表示任何特定的顺序。权利要求中的任何附图标记均不应被理解为对保护范围的限制。某些技术特征出现在不同的从属权利要求中并不意味着不能将这些技术特征进行组合以取得有益效果。

Claims (10)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：

数据线；

阵列基板测试电路，所述阵列基板测试电路包括多个第一开关元件，所述第一开关元件的控制端与第一开关信号输入端电连接，所述第一开关元件的第一端与第一测试信号输入端电连接；

多个辅助开关元件，所述辅助开关元件的控制端与第二开关信号输入端电连接，所述辅助开关元件的第一端与所述第一开关元件的第二端电连接，所述辅助开关元件的第二端与所述数据线电连接，所述辅助开关元件用于在点屏测试过程中响应于所述第二开关信号输入端输入的截止电平而截止。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括：

点屏测试电路，所述点屏测试电路包括多个第二开关元件，所述第二开关元件的控制端与第三开关信号输入端电连接，所述第二开关元件的第一端与第二测试信号输入端电连接，所述第二开关元件的第二端与所述辅助开关元件的第二端及所述数据线均电连接；

所述第二开关元件的第二端与所述数据线的连接节点位于所述辅助开关元件与所述显示面板的显示区之间。

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括：

驱动芯片绑定焊盘，所述驱动芯片绑定焊盘与所述辅助开关元件的第二端及所述数据线均电连接；

所述驱动芯片绑定焊盘位于所述辅助开关元件与所述显示面板的显示区之间。

4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述辅助开关元件与对应连接的所述第一开关元件之间的走线长度大于所述辅助开关元件与对应连接的所述驱动芯片绑定焊盘之间的走线长度；

优选地，所述阵列基板测试电路位于所述显示面板的非显示区的第一子区域，所述辅助开关元件位于所述非显示区的第二子区域，所述驱动芯片绑定焊盘位于所述非显示区的第三子区域，所述第一子区域、所述第二子区域和所述第三子区域依次排布；所述第一子区域与所述第二子区域之间的直线距离大于所述第二子区域与所述第三子区域之间的直线距离。

5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，每条所述数据线与至少一个所述辅助开关元件电连接；

在每条所述数据线与至少两个所述辅助开关元件电连接的情况下，至少两个所述辅助开关元件串联在所述数据线与所述第一开关元件的第二端之间。

6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一开关元件与所述数据线一一对应电连接，多个所述第一开关元件的第一端与同一个所述第一测试信号输入端电连接。

7.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括多列子像素，每列子像素与一条所述数据线对应电连接，每列子像素包括至少一种颜色的子像素；

一条所述数据线上同一种颜色的所有子像素均电连接同一个所述第二开关元件的第二端；

优选地，奇数列子像素包括第一颜色子像素和第二颜色子像素，偶数列子像素包括第三颜色子像素，或者，奇数列子像素包括第一颜色子像素，偶数列子像素包括第二颜色子像素和第三颜色子像素。

8.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，

所述第一开关元件包括第一晶体管，所述第一晶体管的栅极与所述第一开关信号输入端电连接，所述第一晶体管的第一极与所述第一测试信号输入端电连接；

所述辅助开关元件包括第二晶体管，所述第二晶体管的栅极与所述第二开关信号输入端电连接，所述第二晶体管的第一极与所述第一晶体管的第二极电连接，所述第二晶体管的第二极与所述数据线电连接。

9.根据权利要求8所述的显示面板，其特征在于，

所述第二晶体管的栅极与所述第一晶体管的栅极处于同一膜层，所述第二晶体管的第一极、所述第二晶体管的第二极、所述第一晶体管的第一极和所述第一晶体管的第二极位于同一膜层。

10.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1-9中任一项所述的显示面板。

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