TWI576812B - 畫素驅動電路 - Google Patents

Description

畫素驅動電路

本發明係關於一種畫素驅動電路，特別是一種以直流訊源驅動畫素的畫素驅動電路。

隨著顯示面板解析度提升，驅動積體電路的個數或者是輸出也會對應地增加。因此在一種做法中，在面板的電路上會藉由設置多工器電路以減少驅動積體電路的個數，從而方便機構設計或者是電路規劃（layout）的設計，同時也可以降低面板的設計成本。

當多工器電路架構與畫素個數匹配時，cell測試上可以搭配直流測試訊源進行測試。但是，當由於多工器電路架構與畫素結構不匹配，cell測試上就必須搭配交流測試訊源來進行測試。舉例來說，在紅綠藍之畫素結構下，當多工器電路是一對三的架構時，多工器電路架構與畫素結構相匹配，cell測試上可以搭配直流測試訊源進行測試。同樣在紅綠藍之畫素結構下，當多工器電路是一對二的架構時，多工器電路架構與畫素結構不匹配，cell測試上往往必須搭配交流測試訊源來進行測試，以克服這樣的結構不匹配。也就是說當單一畫素的子畫素個數為多工器輸出個數的非整數倍時，必須以交流測試訊源進行cell測試。而就目前的測試方法來看，測試人員必須依據不同的電路架構使用不同的測試電路或測試方法，並無法依照實際測試所需，自由地選擇以交流訊源或直流訊源進行測試。

另一方面，隨著現今顯示面板尺寸變大的情況下，顯示面板相對於測試端的等效阻抗也對應地增加，若以交流測試訊源對大尺寸面板進行測試可能會需要耗費更多的功率，或者是需要更多的時間來讓測試訊號準確地變換電壓準位，因而提升了測試成本。但是，如前述地，目前並沒有一種在畫素結構與多工器電路架構不匹配的時候可以用直流訊源進行測試的電路或方法，而使得測試實務上受到相當大的困擾。

本發明在於提供一種畫素結構與多工器電路架構不匹配時的畫素驅動電路，以克服面板測試受限於畫素結構與多工器電路架構的匹配關係而無法自由選擇使用直流訊源或交流訊源進行測試的問題。

本發明揭露了一種畫素驅動電路，所述的畫素驅動電路適用於顯示面板。且顯示面板包括多個畫素，每一畫素包括第一子畫素、第二子畫素與第三子畫素。畫素驅動電路具有多個多工器與多個測試開關。每一多工器具有輸入端、二輸出端與控制端。所述的二輸出端分別耦接子畫素的其中之二，控制端用以接收多工控制訊號，每一多工器用以依據多工控制訊號選擇性地將輸入端導通到二輸出端的其中之一。每一測試開關的一端耦接多條測試訊號線的其中之一，每一測試開關的另一端耦接其中一多工器的輸入端，每一測試開關的控制端用以接收測試控制訊號。每一測試開關用以依據接收的測試控制訊號選擇性地將耦接的測試訊號線導通至耦接的多工器的輸入端。其中，每一測試訊號線上的測試訊號的電壓準位係為定值，且每一多工器耦接的子畫素被定義為同極性的子畫素。

本發明揭露了一種畫素驅動電路，所述的畫素驅動電路適用於顯示面板。顯示面板具有多個畫素，每一畫素具有M個子畫素。畫素驅動電路具有多個多工器與多個測試開關。每一多工器具有一輸入端、N個輸出端與一控制端。每一輸出端耦接所述的多個子畫素的其中之一，控制端用以接收多工控制訊號，每一多工器用以依據多工控制訊號選擇性地將輸入端導通至耦接的子畫素的其中之一。每一測試開關的一端耦接多條測試訊號線的其中之一，每一測試開關的另一端耦接其中一多工器的輸入端，每一測試開關的控制端用以接收測試控制訊號，每一測試開關用以依據接收的測試控制訊號選擇性地將耦接的測試訊號線導通至耦接的多工器的輸入端。其中，每一測試訊號線上的測試訊號的電壓準位係為定值，每一該多工器耦接的該些子畫素被定義為同極性的子畫素，且每一多工器耦接的子畫素所發出的光為同色溫，M與N為正整數，N小於M，且N不整除M。

綜合以上所述，本發明揭露了一種畫素驅動電路，所述的畫素驅動電路具有多個多工器與多個驅動開關，多工器用以依據多工控制訊號選擇性地將輸入端導通至兩個輸入端的其中之一，測試開關則用以依據測試控制訊號選擇性地將耦接的測試訊號線導通至耦接的多工器的輸入端。其中，所述的測試訊號的電壓準位係為定值，且每一多工器耦接的子畫素被定義為同極性的子畫素。藉此，得以在多工器架構與畫素結構不匹配的情況下以直流測試訊源對顯示面板進行測試。

以上之關於本揭露內容之說明及以下之實施方式之說明係用以示範與解釋本發明之精神與原理，並且提供本發明之專利申請範圍更進一步之解釋。

以下在實施方式中詳細敘述本發明之詳細特徵以及優點，其內容足以使任何熟習相關技藝者了解本發明之技術內容並據以實施，且根據本說明書所揭露之內容、申請專利範圍及圖式，任何熟習相關技藝者可輕易地理解本發明相關之目的及優點。以下之實施例係進一步詳細說明本發明之觀點，但非以任何觀點限制本發明之範疇。

請參照圖1，圖1係為根據本發明一實施例所繪示之畫素驅動電路的電路示意圖。畫素驅動電路1適用於顯示面板（未繪示），顯示面板包括多個畫素，顯示面板的結構應為所屬技術領域具有通常知識者所能知悉，在此係僅以畫素P1、P2、P3、P4舉例簡要說明，實際上顯示面板的畫素個數並不以此為限。在此實施例中，以畫素P1來說，畫素P1具有第一子畫素PR1、第二子畫素PG1與第三子畫素PB1。在一實施例中，第一子畫素PR1、第二子畫素PG1與第三子畫素PB1例如分別為紅綠藍畫素結構中的紅色子畫素、綠色子畫素與藍色子畫素。畫素P2~P4具有與畫素P1相仿的結構與發光特性，於此不再贅述。

畫素驅動電路1具有多個多工器與多個測試開關TC1~TC6。每一多工器具有多工開關TM11~TM61的其中之一，且每一多工器具有多工開關TM12~TM62的其中之一。於圖1所示的實施例中，多工開關的標號中的左邊第一碼數字相同者係屬同一個多工器。更具體來說，多工開關TM11與多工開關TM12組成其中一個多工器，多工開關TM21與多工開關TM22組成其中另一個多工器，多工開關TM31與多工開關TM32組成其中又另一個多工器，其餘多工器與其餘多工開關的對應關係當可以此類推，不再贅述。由於圖式上標註不易，因此便不於圖式中對各多工器多做標示，然所屬技術領域具有通常知識者由上列敘述應可理解各多工器的初步組成方式，後續係以第一多工器稱呼多工開關TM11與多工開關TM12組成的多工器，以第二多工器稱呼多工開關TM21與多工開關TM22組成的多工器，以第三多工器稱呼多工開關TM31與多工開關TM32組成的多工器，後續係以此類推，不再贅述。

如圖1所示，每一多工器具有一輸入端、二輸出端與一控制端。以第一多工器來說，第一多工器具有輸入端Ni1與輸出端NO11、NO12。其中，第一多工器的多工開關TM11的兩端分別耦接第一多工器的輸入端Ni1與其中一個輸出端NO11，多工開關TM12的兩端分別耦接第一多工器的輸入端Ni1與其中另一個輸出端NO12。更詳細地來說，第一多工器的輸出端NO11耦接畫素P1的第一子畫素PR1，輸出端NO12耦接畫素P3的第一子畫素PR3。其他多工器的輸出端與各畫素的子畫素也有相仿的連接關係。從另一個角度來說，在此實施例中，每一多工器的二輸出端耦接的二子畫素係發出同樣顏色的光。然於另一實施例中，每一多工器的二輸出端耦接的二子畫素係發出不同顏色的光。在此先就每一多工器的二輸出端耦接的二子畫素係發出同樣顏色的光之實施例進行說明。

另一方面，多工開關TM11、TM12的控制端則可被視為第一多工器的控制端，多工開關TM11、TM12的控制端則分別接收多工控制訊號SMX1、SMX2。在此實施例中，當多工控制訊號SMX1為高電壓準位時，多工開關TM11被導通而將輸出端NO11導通至輸入端Ni1，而當多工控制訊號SMX2為高電壓準位時，多工開關TM12被導通而將輸出端NO12導通至輸入端Ni1。在另一類的實施例中，多工開關TM11、TM12的控制端相耦接，亦即多工開關TM11、TM12受控於同一個多工控制訊號，惟多工開關TM11、TM12係依據多工控制訊號的不同狀態而選擇性地被導通，亦即多工開關TM11、TM12並不同時導通。例如，當此實施例的多工控制訊號為高電壓準位時，多工開關TM11被導通，而當此實施例的多工控制訊號為低電壓準位時，多工開關TM12被導通。上述僅為舉例示範，實際上並不以此為限

請再參照圖1，在圖1所示的實施例中，測試開關TC1~TC6其中之一的一端耦接多條測試訊號線L1~L6的其中之一，測試開關TC1~TC6其中之一的另一端耦接其中一多工器的輸入端，測試開關TC1~TC6其中之一的控制端用以接收一測試控制訊號SCT，每一測試開關用以依據接收的測試控制訊號選擇性地將所耦接的測試訊號線導通至耦接的多工器的輸入端。以測試開關TC1來說，測試開關TC1的一端耦接測試訊號線L1，測試開關TC1的另一端耦接第一多工器的輸入端Ni1，而測試開關TC1的控制端則接收測試控制訊號SCT。測試開關TC2~TC6與其他元件的連接關係相仿於測試開關TC1，於此不再贅述。在此實施例中，當測試控制訊號SCT為高電壓準位時，測試開關TC1被導通，第一多工器的輸入端Ni1被導通至測試訊號線L1。於另一實施例中，當測試控制訊號SCT為低電壓準位時，測試開關TC1被導通。上述僅為舉例示範，然實際上並不以此為限。

於圖1所示的實施例中，測試訊號線L1~L6上的測試訊號SR1、SG1、SB1、SR2、SG2、SB2的電壓準位係為定值。且每一多工器耦接的子畫素被定義為同極性的子畫素。更詳細地來說，於實務上，各輸入端Ni1~Ni6會分別經由驅動端ND1~ND6耦接至驅動積體電路，以接受驅動積體電路的控制。其中，在驅動端ND1~ND6標示有「+」或「-」，標示有「+」者代表接收有正極性的驅動信號，而標示有「-」者則代表接收有負極性的驅動信號。各子畫素PR1~PB4係對應於耦接的多工器而受控於不同極性的驅動信號。因此，如圖1所示，第一多工器耦接的第一子畫素PR1與第一子畫素PR3都受控於正極性的驅動信號，第二多工器耦接的第二子畫素PG1與第二子畫素PG3都受控於負極性的驅動信號。其餘多工器與所耦接之子畫素的極性關係當可由圖式及以上敘述類推，於此不再贅述。

此外，在此實施例中，其中每一子畫素的極性與相鄰的另一子畫素的極性相反，且每一多工器耦接的該些子畫素的極性與相鄰的另一多工器耦接的該些子畫素的極性相反。以圖1舉例來說，第二子畫素PG1的極性相反於第一子畫素PR1，且第二子畫素PG1的極性相反於第三子畫素PB1。另一方面，第一多工器耦接的第一子畫素PR1與第一子畫素PR3同極性，第二多工器耦接的第二子畫素PG1與第二子畫素PG3同極性，但是第一子畫素PR1的極性與第二子畫素PG1的極性相反，且第一子畫素PR1的極性與第二子畫素PG3的極性相反，第一子畫素PR3的極性與第二子畫素PG1的極性相反，且第一子畫素PR3的極性與第二子畫素PG3的極性相反。然上述僅為舉例示範，在此並不限制各子畫素的相對極性必定相同於上述舉例示範。

從電路作動上來說，畫素驅動電路1具有一顯示模式與一測試模式。於顯示模式時，測試開關TC1~TC6受控於測試控制訊號SCT而不導通。各多工器受控於多工控制訊號SMX1與多工控制訊號SMX2而選擇性地將輸入端導通至其中一個輸出端。在此實施例中，具體地舉第一多工器來說，第一多工器係依據多工控制訊號SMX1與多工控制訊號SMX2的控制時序選擇性地將輸出端NO11導通至輸入端Ni1或者是將輸出端NO12導通至輸入端Ni2。此時，各測試訊號線L1~L6例如被耦接至地，但不以此為限。

而於測試模式中，多工開關TM11~TM62與測試開關TC1~TC6都被導通。此時，各子畫素PR1~PB4分別依據測試訊號線L1~L6上的測試訊號SR1~SB2而對應發光。舉例來說，當測試訊號SR1~SB2都被設為相對高準位以寫入灰階值255於各子畫素，此時畫素驅動電路1所屬的顯示面板提供一白畫面。又例如，當測試訊號SR1、SR2被設為相對高準位以寫入灰階值255於第一子畫素PR1、PR3，而其餘測試訊號則被設為相對低準位以寫入灰階值0於其他的子畫素。此時畫素驅動電路1所屬的顯示面板提供一紅色畫面。換句話說，由於同一個多工器耦接至同顏色的子畫素，因此在測試過程中得以藉由分別設定測試訊號SR1~SB2的電壓準位，而經由對應的多工器寫入所欲的灰階值於對應的子畫素，從而讓顯示面板提供所欲的畫面，以供測試人員具以判斷顯示面板是否有異常。而至於設定測試訊號於何電壓準位以寫入何灰階值於對應的子畫素係為所屬技術領域具有通常知識者所能自由設計定義，並不僅以上述舉例為限制。

在一實施例中，各測試訊號線L1~L6係為同一條線，也就是說各測試開關接收到的是同一個測試訊號，各子畫素被寫入同一個灰階值。或者，在另一種做法中，各測試訊號線L1~L6會分別被定義為不同的群組，不同群組中的測試訊號線L1~L6會接收到不同的測試訊號。舉例來說，測試訊號線L1~L3可被定義成同一群組，測試訊號線L4~L6可被定義成另一群組，此時測試訊號線L1~L3被提供同一測試訊號，測試訊號線L4~L6被提另一測試訊號。而於實務上，測試訊號線L1~L6可耦接至相同或不同的短路棒（shorting bar），以使耦接至相同短路棒的測試訊號線接收得相同的訊號。上述僅為舉例示範，實際上並不以此為限制。

請接著參照圖2，圖2係為根據本發明另一實施例所繪示之畫素驅動電路的電路示意圖。與圖1所示的實施例不同的是，在圖2所示的實施例中，畫素驅動電路1’具有較多的測試開關，也就是測試開關TC1’~TC12’。此外，測試開關TC1’~TC12’與多工開關TM11’~TM62’的連接關係相較於圖1所示的實施例也有所不同。在圖2所示的實施例中，測試開關TC1’~TC12’係分別耦接各多工器的輸出端NO1’~NO12’。

此外，在圖2所示的實施例中，各多工器的組成方式也異於圖1所示的實施例。在圖2所示的實施例中，多工開關TM11’與TM12’組成第一多工器，多工開關TM21’與TM22’組成第一多工器，後續則以此類推，不再贅述。其中，多工開關TM11’耦接於輸入端Ni1’與輸出端NO11’之間，且多工開關TM12’耦接於輸入端Ni1’與輸出端NO12’之間。但更確切地來說，多工開關TM11’係經由輸出端NO11’耦接畫素P1的第一子畫素PR1，多工開關TM12’係經由輸出端NO12’耦接畫素P1的第三子畫素PB1。而以第二多工器來說，多工開關TM21’係經由輸出端NO21’耦接畫素P1的第二子畫素PG1，多工開關TM22’係經由輸出端NO22’耦接畫素P2的第一子畫素PR1。換句話說，在圖2所對應的實施例中，各多工器的二輸出端所耦接的子畫素的顏色並不相同。

在圖2所示的實施例中，畫素驅動電路1’同樣具有顯示模式與測試模式。在顯示模式與測試模式中，畫素驅動電路1’的作動方式係相仿於畫素驅動電路1的作動方式。於顯示模式中，測試開關TC1’~TC12’受控於測試控制訊號SCT’而不導通。各多工器受控於多工控制訊號SMX1’與多工控制訊號SMX2’而選擇性地將輸入端導通至其中一個輸出端。在此實施例中，具體地舉第一多工器來說，第一多工器係依據多工控制訊號SMX1’與多工控制訊號SMX2’的控制時序選擇性地將輸出端NO11’導通至輸入端Ni1’或者是將輸出端NO12’導通至輸入端Ni2’。此時，各測試訊號線L1’~L6’例如被耦接至地，但不以此為限。

而在畫素驅動電路1’的測試模式當中，多工開關TM11’~TM62’與測試開關TC1’~TC12’都被導通。此時，各子畫素PR1~PB4分別依據測試訊號線L1~L6上的測試訊號SR1~SB2而對應發光。相仿於圖1所示的實施例，當測試訊號SR1~SB2都被設為相對高準位以寫入灰階值255於各子畫素時，此時畫素驅動電路1’所屬的顯示面板提供一白畫面。又例如，當測試訊號SR1、SR2被設為相對高準位，而其餘測試訊號則被設為相對低準位，此時畫素驅動電路1’所屬的顯示面板提供一紅色畫面。換句話說，由於同一測試訊號線經由對應的測試開關而耦接至同顏色的子畫素，因此在測試過程中得以藉由分別設定測試訊號SR1~SB2的電壓準位，而寫入所欲的灰階值於對應的子畫素，從而讓顯示面板提供所欲的畫面。在此同樣不限制如何設定測試訊號於何電壓準位以寫入何灰階值於對應的子畫素。

延續以上發想，於另一種實施方式，本發明還提供了一種畫素驅動電路，此畫素驅動電路適用於顯示面板。顯示面板具有多個畫素，每一畫素具有M個子畫素。畫素驅動電路具有多個多工器與多個測試開關。每一多工器具有一輸入端、N個輸出端與一控制端。每一輸出端耦接所述的多個子畫素的其中之一，控制端用以接收多工控制訊號，每一多工器用以依據多工控制訊號選擇性地將輸入端導通至耦接的子畫素的其中之一。每一測試開關的一端耦接多條測試訊號線的其中之一，每一測試開關的另一端耦接其中一多工器的輸入端，每一測試開關的控制端用以接收測試控制訊號，每一測試開關用以依據接收的測試控制訊號選擇性地將耦接的測試訊號線導通至耦接的多工器的輸入端。其中，每一測試訊號線上的測試訊號的電壓準位係為定值，每一該多工器耦接的該些子畫素被定義為同極性的子畫素，且每一多工器耦接的子畫素所發出的光為同色溫，M與N為正整數，N小於M，且N不整除M。

綜合以上所述，本發明揭露了一種畫素驅動電路，所述的畫素驅動電路具有多個多工器與多個驅動開關，多工器用以依據多工控制訊號選擇性地將輸入端導通至兩個輸入端的其中之一，測試開關則用以依據測試控制訊號選擇性地將耦接的測試訊號線導通至耦接的多工器的輸入端。其中，所述的測試訊號的電壓準位係為定值，且每一多工器耦接的子畫素被定義為同極性的子畫素。由於同一測試訊號線經由對應的測試開關或多工開關而耦接至同顏色的子畫素，因此在測試過程中得以藉由分別設定測試訊號的電壓準位，而寫入所欲的灰階值於對應的子畫素，從而讓顯示面板提供所欲的畫面。藉此，得以在多工器架構與畫素結構不匹配的情況下以直流測試訊源對顯示面板進行測試。

雖然本發明以前述之實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明。在不脫離本發明之精神和範圍內，所為之更動與潤飾，均屬本發明之專利保護範圍。關於本發明所界定之保護範圍請參考所附之申請專利範圍。

1、1’‧‧‧畫素驅動電路

L1~L6、L1’~L6’‧‧‧測試訊號線

ND1~ND6、ND1’~ND6’‧‧‧驅動端

Ni1~Ni6、Ni1’~Ni6’‧‧‧輸入端

NO11~NO61、NO12~NO62、NO11’~NO61’、NO12’~NO62’‧‧‧輸出端

P1~P4‧‧‧畫素

PR1~PR4‧‧‧第一子畫素

PG1~PG4‧‧‧第二子畫素

PB1~PB4‧‧‧第三子畫素

TC1~TC6、TC1’~TC12’‧‧‧控制開關

TM11~TM61、TM12~TM62、TM11~TM61’、TM12~TM62’‧‧‧多工開關

SCT、SCT’‧‧‧測試控制訊號

SR1、SR2、SG1、SG2、SB1、SB2、SR1’、SR2’、SG1’、SG2’、SB1’、SB2’‧‧‧測試訊號

SMX1、SMX2、SMX1’、SMX2’‧‧‧多工控制訊號

圖1係為根據本發明一實施例所繪示之畫素驅動電路的電路示意圖。 圖2係為根據本發明另一實施例所繪示之畫素驅動電路的電路示意圖。

1‧‧‧畫素驅動電路

L1~L6‧‧‧測試訊號線

ND1~ND6‧‧‧驅動端

Ni1~Ni6‧‧‧輸入端

NO11~NO16、NO12~NO62‧‧‧輸出端

P1~P4‧‧‧畫素

PR1~PR4‧‧‧第一子畫素

PG1~PG4‧‧‧第二子畫素

PB1~PB4‧‧‧第三子畫素

TC1~TC6‧‧‧測試開關

TM11~TM61、TM12~TM62‧‧‧多工開關

SCT‧‧‧測試控制訊號

SR1、SR2、SG1、SG2、SB1、SB2‧‧‧測試訊號

SMX1、SMX2‧‧‧多工控制訊號

Claims (10)

1. 一種畫素驅動電路，適用於一顯示面板，且該顯示面板包括多個畫素，每一該畫素包括一第一子畫素、一第二子畫素與一第三子畫素，該畫素驅動電路包括：多個多工器，每一該多工器具有一輸入端、二輸出端與一控制端，該輸入端電性連接該顯示面板的多個驅動端的其中之一，該二輸出端分別耦接該些子畫素的其中之二，該控制端用以接收一多工控制訊號，每一該多工器用以依據該多工控制訊號選擇性地將該輸入端導通到該二輸出端的其中之一；以及多個測試開關，每一該測試開關的一端耦接多條測試訊號線的其中之一，每一該測試開關的另一端耦接其中一該多工器的該輸入端，每一該測試開關的控制端用以接收一測試控制訊號，該些測試開關用以依據該測試控制訊號選擇性地將耦接的該測試訊號線導通至耦接的該多工器的該輸入端；其中，每一該測試訊號線上的測試訊號的電壓準位係為定值，且每一該多工器耦接的子畫素被定義為同極性的子畫素。
2. 如請求項1所述之畫素驅動電路，其中每一該子畫素的極性與相鄰的另一該子畫素的極性相反，且每一該多工器耦接的該些子畫素的極性與相鄰的另一該多工器耦接的該些子畫素的極性相反。
3. 如請求項1所述之畫素驅動電路，其中經由該些多工器耦接至同一該畫素的該些測試開關耦接相同的測試訊號線。
4. 如請求項1所述之畫素驅動電路，其中該些多工器的其中之一耦接的該二子畫素發出的光具有相同的顏色。
5. 如請求項1所述之畫素驅動電路，其中該些多工器的其中之一耦接的該二子畫素發出的光具有不同的顏色。
6. 一種畫素驅動電路，適用於一顯示面板，該顯示面板係以低溫多晶矽製程製成，且該顯示面板包括多個畫素，每一該畫素具有M個子畫素，該畫素驅動電路包括：多個多工器，每一該多工器具有一輸入端、N個輸出端與一控制端，每一該輸出端耦接該些子畫素的其中之一，該控制端用以接收一多工控制訊號，每一該多工器用以依據該多工控制訊號選擇性地將該輸入端導通至耦接的該些子畫素的其中之一；以及多個測試開關，每一該測試開關的一端耦接多條測試訊號線的其中之一，每一該測試開關的另一端耦接其中一該多工器的該輸入端，每一該測試開關的控制端用以接收一測試控制訊號，每一該測試開關用以依據接收的該測試控制訊號選擇性地將耦接的該測試訊號線導通至耦接的該多工器的該輸入端；其中，每一該測試訊號線上的測試訊號的電壓準位係為定值，每一該多工器耦接的該些子畫素被定義為同極性的子畫素，M與N為正整數，N小於M，且N不整除M。
7. 如請求項6所述之畫素驅動電路，其中每一該子畫素的極性與相鄰的另一該子畫素的極性相反，且每一該多工器耦接的該些子畫素的極性與相鄰的另一該多工器耦接的該些子畫素的極性相反。
8. 如請求項6所述之畫素驅動電路，其中經由該些多工器耦接至同一該畫素的該些測試開關耦接相同的測試訊號線。
9. 如請求項6所述之畫素驅動電路，其中該些多工器的其中之一耦接的該二子畫素發出的光具有相同的顏色。
10. 如請求項6所述之畫素驅動電路，其中該些多工器的其中之一耦接的該二子畫素發出的光具有不同的顏色。