CN101303462A - 液晶显示面板的检测电路与方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种液晶显示面板的检测电路与方法。其中，液晶显示面板的检测电路用以检测具有多个驱动单元与多条信号线的液晶显示面板，该检测电路包含：多个第一接合垫分别对应耦接信号线；多个第二接合垫耦接于至少一个测试垫；多个控制开关电连接于对应的第一接合垫与第二接合垫之间，用来传送由测试垫提供的测试信号至液晶显示面板内；连接模块配置在控制开关周围，当控制开关其中之一发生异常时，用来传送测试信号。

Description

液晶显示面板的检测电路与方法

技术领域

本发明是有关一种检测电路与方法，特别是一种液晶显示面板的检测电路与方法。

背景技术

液晶显示面板(LCD panel)于出厂之前，所需经过的检测过程，会随着使用不同的检测设备而需设计不同的检测电路的布线。传统上，不论是哪一种检测电路的布线，在一般面板检测完毕后，皆需采用激光切割的工艺，用以切断检测电路与面板走线，使后续IC在贴附后，不至于产生信号错误的问题。

然而，增加激光切割的工艺除了容易降低产品的产出率之外，在切割时所产生的微粒也容易污染产品。再者，还须多增加激光切割机台的采购成本。因此，已知技术中提出在检测电路中包含控制开关，于短路布线与扫描线、数据线之间加入控制开关，而在测试时让控制开关导通，待测试结束后则让控制开关断路。如此，便可以省去传统上使用激光切割的步骤，可得到更为简化的工艺与降低成本的功效。

利用控制开关虽可省略检测完毕后的激光切割工艺，然而由于液晶显示面板中具有多条扫描线与数据线，而每一条条扫描线与数据线便需连接一个控制开关，因此检测电路中需具有多个控制开关。由于检测信号是透过控制开关然后到达液晶显示面板内的条扫描线与数据线，透过检测信号而测试扫描线与数据线交集之处，用以控制各个像素(pixel)显示的薄膜晶体管(thin filmtransistor，TFT)的运作是否正常。而在控制开关为庞大的数目之下，当其中某一个或少数几个控制开关发生异常时，将使得某几个像素无法正常显示检测信号，如此容易让检测人员或检测设备判断为扫描线、数据线或TFT开关发生异常，而造成误判报废实际上功能正常的显示面板。

因此，如何改善已知技术中液晶显示面板的检测电路所衍生的问题，为一亟待解决的议题。

发明内容

有鉴于此本发明提出一种液晶显示面板的检测电路与方法。当控制开关中有某一个发生异常时，通过本发明所提出的检测电路或方法，仍可轻易完成正常的检测步骤，不会因为误判而报废功能正常的显示面板，进而提升液晶显示面板的检测效率以及产出良率。

本发明提出一种液晶显示面板的检测电路，用以检测具有多个驱动单元与多条信号线的液晶显示面板，该检测电路包含多个第一接合垫、多个第二接合垫、多个控制开关以及一连接模块。多个第一接合垫分别对应耦接信号线；多个第二接合垫耦接于至少一个测试垫；多个控制开关电连接于对应的第一接合垫与第二接合垫之间，用来传送由测试垫提供的测试信号至液晶显示面板内；连接模块配置在控制开关周围，当控制开关其中之一发生异常时，用来传送测试信号。

本发明亦提出一种液晶显示面板的检测方法，用以检测具有多条信号线的液晶显示面板，该检测方法包含下列步骤：提供多个第一接合垫，并对应耦接所述多条信号线至所述多个第一接合垫；提供多个第二接合垫，并耦接于至少一个测试垫；提供多个控制开关，并通过所述多个控制开关电连接对应的所述多个第一接合垫与所述多个第二接合垫，传送由测试垫提供的测试信号至该液晶显示面板内；以及当所述多个控制开关其中的一控制开关发生异常时，提供一连接模块取代异常的控制开关以传送该测试信号。

可见，应用本发明所述方案后，当控制开关中有某一个发生异常时，通过本发明所提出的检测电路或方法，仍可轻易完成正常的检测步骤，不会因为误判而报废功能正常的显示面板，进而提升液晶显示面板的检测效率以及产出良率。

附图说明

图1：液晶显示面板的检测电路的一实施例示意图；

图2A：连接模块电连接控制开关的第一实施例示意图；

图2B：连接模块电连接控制开关的第二实施例示意图；

图2C：连接模块电连接控制开关的第三实施例示意图；

图3：液晶显示面板的检测方法的流程图。

附图标号：

10、10’：第一接合垫

20、20’：第二接合垫

30、30’、30a、30b、30c：测试垫

40、40’、40a、40b、40c、40d、40e、40f：控制开关

42：第三端

50、50’：连接模块

52：短路线

54：备用开关

60：液晶显示面板

62：信号线

622：数据线

624：扫描线

64：驱动单元

70：控制信号垫

80：激光焊接点

具体实施方式

有关本发明的较佳实施例及其功效，现配合图式说明如后。

请参照图1，该图所示为液晶显示面板的检测电路的一实施例示意图。本发明所提出的液晶显示面板的检测电路，用以检测具有多个驱动单元64与多条信号线62的液晶显示面板60，其中该检测电路包含：第一接合垫10、10’、第二接合垫20、20’、测试垫30、30’、控制开关40、40’及连接模块50、50’。

由图1所示可知，信号线62包含多条数据线622和多条扫描线624。多个第一接合垫10对应耦接于多条扫描线624，多个第二接合垫20耦接于测试垫30，第一接合垫10与第二接合垫20是用来在后续工艺中，与例如扫描线驱动电路芯片(gate driving IC)耦接用的接合垫。其中，测试垫30用来传送测试信号至液晶显示面板60的扫描线624。在本实施例中，是包含两个测试垫30传送测试信号至扫描线624，且所述多个第二接合垫20是以间隔方式耦接于两个测试垫30.换句话说，由上而下的奇数个接合垫20与偶数个接合垫20是分别耦接于不同的测试垫30)。当然，在本发明的其他实施例中，也可以仅利用一个测试垫30传送测试信号至扫描线624，此时所有的第二接合垫20是耦接于同一测试垫30。

相同地，多个第一接合垫10’对应耦接于多条数据线622，多个第二接合垫20’耦接于测试垫30’，第一接合垫10’与第二接合垫20’是用来在后续工艺中，与例如数据线驱动电路芯片(data driving IC)耦接用的接合垫。其中，测试垫30’用来传送测试信号至液晶显示面板60的数据线622。在本实施例中，是包含三个测试垫30’传送测试信号至数据线622，且所述多个第二接合垫20’是以每三个为一个循环方式耦接于三个测试垫30’(换句话说，由左而右的第一个、第四个、第七个...接合垫20’耦接于其中的一个测试垫30’，第二个、第五个、第八个...接合垫20’耦接于另一个测试垫30’，而第三个、第六个、第九个...接合垫20’耦接于剩下的一个测试垫30’)。当然，在本发明的其他实施例中，也可以仅利用一个测试垫30’传送测试信号至数据线622，此时所有的第二接合垫20’是耦接于同一测试垫30’。

多个控制开关40电连接于第一接合垫10与第二接合垫20之间，用来传送由测试垫30所提供的测试信号至液晶显示面板60的扫描线624，多个控制开关40’电连接于第一接合垫10’与第二接合垫20’之间，用来传送由测试垫30’所提供的测试信号至液晶显示面板60的数据线622，通过测试信号可检测液晶显示面板60的运作是否正常。其中，控制开关40、40’可为晶体管，且具有源极电极、漏极电极与栅极电极。由图1所示可知，控制开关40、40’包含第三端42，亦即晶体管中的栅极电极，而第三端42耦接于控制信号垫70，控制信号垫70用来传送控制信号以开启(turn on)或关闭(turn off)控制开关40、40’。也就是说，当液晶显示面板60于检测状态时，控制信号开启控制开关40、40’，此时测试信号可顺利进入液晶显示面板60内，而执行检测的动作。而当液晶显示面板60检测完毕后，即可透过控制信号来关闭控制开关40、40’。因此，本发明所提出的液晶显示面板的检测电路于检测完毕后，不需多增加激光切割的工艺。在本实施例中，扫描线端的控制开关40与数据线端的控制开关40’是耦接至相同控制信号垫70，在本发明的其他实施例中，亦可提供例如两个控制信号垫，此时可将扫描线端的控制开关40与数据线端的控制开关40’分别耦接在不同的控制信号垫。

连接模块50、50’包含短路线50与备用开关(dummy switch)54，且配置在控制开关40、40’的周围，当控制开关40、40’其中之一发生异常时，即可通过连接模块50、50’的短路线50或是短路线50与备用开关54来传送测试信号，此点于后将有更详尽的说明。其中，控制开关40、40’的异常情形，可为断路或饱和电压(saturation voltage)过高，而导致控制开关40、40’无法正常导通(turn on)等多种状况。

接着针对连接模块50、50’电连接控制开关40、40’的实施例举例说明，底下的实施例，仅撷取图1中的部分区块，重新绘制以作说明。首先，请先参照图2A为连接模块电连接控制开关的第一实施例示意图。于此实施例中，说明利用激光焊接而电连接的控制开关40是为相邻的控制开关40。如图2A中所示，假设三个控制开关40a、40b、40c分别传送由测试垫30所提供的测试信号到液晶显示面板60中的信号线62。此时，如果控制开关40b发生异常时，与控制开关40b连接的信号线62会因所对应的控制开关40b异常，而无法传送测试信号，使得该条信号线62无法正常操作导致液晶显示面板60显示异常。此时，可以利用激光焊接的方式，透过本发明所提出的连接模块50中的短路线52，将异常的控制开关40b与邻近的控制开关40a或40c电连接，如图中所示，因为短路线52透过激光焊接点80与控制开关40a、40b耦接，通过此电连接控制开关40a与控制开关40b。如此，测试信号即可通过控制开关40a而传送至原本与控制开关40b连接的信号线。在本实施例中，激光焊接点80较佳是位在第一接合垫10与控制开关40a、40b之间，这样不但可以使测试信号正常传送至每一条信号线，且在后续工艺中，并不会影响扫描线驱动电路芯片或是数据线驱动电路芯片的信号传输。

于此须说明，由于短路线52与控制开关40、第一接合垫10与第二接合垫20等元件，可配置于电路板中的不同层(layer)，因此在图中短路线52以虚线表示。也由于短路线52与控制开关40是配置于不同层，因此在未经过激光焊接时，是无法导通的。当控制开关40发生异常时，才适时由例如激光焊接的方式透过连接模块50电性导通特定的控制开关40，而由其他正常的控制开关40(如：40a、40c)来取代异常控制开关(如：40b)的功能。

请参照图2B为连接模块电连接控制开关的第二实施例示意图。于第二实施例中，说明利用激光焊接而电连接的控制开关40是为传送相同测试信号的控制开关40。如图2B中所示，具有三个测试垫30a、30b、30c，此三个测试垫可将外部提供的测试信号经由对应的控制开关40a～f传送至对应的信号线62。更进一步地说，测试垫30a与控制开关40a、40d耦接，测试垫30b与控制开关40b、40e耦接，测试垫30c与控制开关40c、40f耦接，于是数据线62会对应接收不同测试垫30a～c所传送的测试信号。假设，控制开关40e发生异常，此时，连接模块50通过短路线52将异常的控制开关40e与同样传送测试信号的控制开关40b电连接。如图中所示，因为短路线52透过激光焊接点80会与控制开关40b、40e耦接，通过此电连接控制开关40b与控制开关40e。如此，由测试垫30b所传送的测试信号即可通过控制开关40b而传送至原本与控制开关40e连接的信号线。

请参照图2C为连接模块电连接控制开关的第三实施例示意图。于第三实施例中，连接模块52中还包含备用开关54。而于该实施例中，即说明利用激光焊接而电连接的控制开关40是为备用开关54。如图2C中所示，假设三个控制开关40a、40b、40c分别传送由测试垫30所提供的测试信号到信号线62。此时，如果控制开关40a发生异常，测试信号将无法传送至与控制开关40a耦接的信号线。此时，短路线52透过激光焊接点80会与控制开关40a、备用开关54耦接，通过此电连接控制开关40a与备用开关54。如此，由测试垫30所传送的测试信号即可通过备用开关54而传送至原本与控制开关40a连接的信号线。在本实施例中，激光焊接点80较佳是位在第一接合垫10与控制开关40a、第一接合垫10与备用开关54、第二接合垫10与控制开关40a、第二接合垫20与备用开关54之间，这样不但可以使测试信号正常传送至每一条信号线，且在后续工艺中，并不会影响扫描线驱动电路芯片或是数据线驱动电路芯片的信号传输。其中，备用开关54的数目可依需求而增设，并不以单一个备用开关54为限。

于此须说明，由于短路线52与控制开关40a、40b、40c、备用开关54等元件，可配置于电路板中的不同层(layer)，因此在图中短路线52以虚线表示。也由于短路线52与控制开关40a、40b、40c、备用开关54是配置于不同层，因此在未经过激光焊接时，是无法导通的。当然，若是短路线52与备用开关54于设计上电性耦接，当控制开关40a发生异常时，仅需要将控制开关40a两端透过激光焊接与短路线52耦接即可。

此外，上述所举的实施例，请参照图1，备用开关54是设置于驱动单元64的对侧。类似的情况，备用开关54也可设置于驱动单元64的同侧，而为了配合备用开关54的配置，本发明所提出的检测电路，亦即包含：第一接合垫10、第二接合垫20、测试垫30、控制开关40及连接模块50，也可同样随着备用开关54而设置于驱动单元64的同侧，甚至可设置于驱动单元64之内，而与驱动单元64整合为一体。

请参照图3，该图所示为液晶显示面板的检测方法的流程图，可用以检测具有多条信号线的液晶显示面板，该检测方法包含下列步骤。

步骤S10：提供多个第一接合垫，并对应耦接信号线至所述多个第一接合垫。

步骤S20：提供多个第二接合垫，并耦接于至少一个测试垫。

步骤S30：提供多个控制开关，并通过控制开关电连接对应的第一接合垫与第二接合垫，传送由测试垫提供的测试信号至液晶显示面板内。

步骤S40：当控制开关其中之一发生异常时，提供连接模块取代异常的控制开关以传送测试信号。

于步骤S40中可包含下列步骤：以激光焊接(laser welding)一短路线，使所述多个控制开关的其中一异常开关与所述多个控制开关中的其他控制开关电连接(如图2A、图2B所示)。亦或是，提供至少一个备用开关；以激光焊接方式使备用开关与异常的控制开关并联(如图2C所示)。

上述的液晶显示面板的检测方法，还可包含下列步骤：耦接控制开关的第三端与备用开关(当连接模块包含备用开关时)的第三端以接收一控制信号；依据控制信号，开启(turn on)或关闭(turn off)控制开关与备用开关。

虽然本发明的技术内容已经以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟悉本领域的相关技术人员，在不脱离本发明的精神所作些许的更动与润饰，皆应涵盖于本发明的范畴内，因此本发明的保护范围当视附的权利要求所界定者为准。

Claims (12)

1、一种液晶显示面板的检测电路，用以检测具有多个驱动单元与多条信号线的一液晶显示面板，其特征在于，所述检测电路包含：

多个第一接合垫，分别对应耦接所述多条信号线；

多个第二接合垫，耦接于至少一测试垫；

多个控制开关，电连接于对应的所述多个第一接合垫与所述多个第二接合垫之间，用来传送由所述测试垫提供的一测试信号至所述液晶显示面板内；及

一连接模块，配置在所述多个控制开关周围，当所述多个控制开关其中之一发生异常时，用来传送所述测试信号。

2、如权利要求1所述的液晶显示面板的检测电路，其特征在于，所述连接模块是包含至少一短路线，所述多个控制开关的其中两控制开关是与所述短路线电连接。

3、如权利要求2所述的液晶显示面板的检测电路，其特征在于，所述短路线是以激光焊接方式短路电连接于所述两控制开关的第一接合垫之间以及短路电连接于所述两控制开关的第二接合垫之间。

4、如权利要求2所述的液晶显示面板的检测电路，其特征在于，所述测试垫的数目是为多个，用以传送多个测试信号，其中与所述短路线电连接的所述两控制开关是为传送相同测试信号。

5、如权利要求2所述的液晶显示面板的检测电路，其特征在于，所述连接模块还包含：

至少一备用开关，与所述多个控制开关并联。

6、如权利要求5所述的液晶显示面板的检测电路，其特征在于，所述备用开关是设置于所述驱动单元的对侧。

7、如权利要求5所述的液晶显示面板的检测电路，其特征在于，所述备用开关是设置于所述驱动单元的同侧。

8、如权利要求2所述的液晶显示面板的检测电路，其特征在于，所述控制开关包含一第三端，且所述第三端耦接于一控制信号。

9、一种液晶显示面板的检测方法，用以检测具有多条信号线的一液晶显示面板，其特征在于，所述检测方法包含下列步骤：

提供多个第一接合垫，并对应耦接所述多条信号线至所述多个第一接合垫；

提供多个第二接合垫，并耦接于至少一测试垫；

提供多个控制开关，并通过所述多个控制开关电连接对应的所述多个第一接合垫与所述多个第二接合垫，传送由所述测试垫提供的一测试信号至所述液晶显示面板内；及

当所述多个控制开关其中的一所述控制开关发生异常时，提供一连接模块取代异常的所述控制开关以传送所述测试信号。

10、如权利要求9所述的液晶显示面板的检测方法，其特征在于，提供所述连接模块取代异常的所述控制开关的步骤，包含下列步骤：

以激光焊接一短路线，使所述多个控制开关的其中一异常开关与所述多个控制开关中的其他控制开关电连接。

11、如权利要求10所述的液晶显示面板的检测方法，其特征在于，提供所述连接模块取代异常的控制开关的步骤，包含下列步骤：

提供至少一备用开关；

以激光焊接方式，使所述备用开关与所述多个控制开关中的所述异常开关电性并联。

12、如权利要求11所述的液晶显示面板的检测方法，其特征在于，所述方法还包含下列步骤：

耦接所述多个控制开关的一第三端与至少一所述备用开关的一第三端于一控制信号；及

依据所述控制信号，开启或关闭所述多个控制开关与至少一所述备用开关。

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