CN112908229A - 驱动背板及其检测方法以及显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供了一种驱动背板及其检测方法以及显示装置，涉及显示技术领域，用以解决解决多条信号线通过多个开关器件耦接至同一检测衬垫上时，因其中至少两个开关器件漏电，导致至少两条信号线通过检测衬垫短路的问题。驱动背板包括：衬底基板；设置在衬底基板上的多条信号线；设置在衬底基板上的检测电路，检测电路包括：至少一个检测衬垫和多个开关器件，每个检测衬垫包括至少两个相互绝缘的检测子衬垫；每个检测子衬垫与至少一条信号线耦接，检测子衬垫与至少一条信号线中的每条信号线通过至少一个开关器件耦接，一个开关器件与一条信号线耦接。

Description

驱动背板及其检测方法以及显示装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种驱动背板及其检测方法以及显示装置。

背景技术

在例如有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，简称为OLED)显示装置的制造中，在OLED显示装置的驱动背板制备完成后，为了保证产品的质量，需要进行阵列检测(Array Test，简称为AT)工序对驱动背板上的线路进行检测，以确定线路是否存在短路、断路等问题。

示例性地，为了对数据线(也可称为DATA线)进行阵列检测，驱动背板上设置了检测电路。其中，检测电路包括多个AT衬垫(即AT PAD，也可称为AT焊盘)。出于驱动背板尺寸的考量，AT衬垫的数量是有限的，每个AT衬垫可以通过两个AT开关晶体管(AT Switch TFT，简称为AT SW TFT)分别连接两条DATA线。在检测时，将外接衬垫与AT衬垫电连接，并控制ATSW TFT的通断，从而向AT衬垫连接的每一条DATA线写入检测信号。但是，一旦连接同一AT衬垫的两个AT SW TFT出现漏电，如因静电放电(Electro-Static Discharge，简称为ESD)现象击伤导致AT SW TFT漏电，则会导致连接同一AT衬垫的两条DATA线短路，从而造成在OLED显示装置的显示过程中，DATA线的延伸方向上出现亮线不良。

发明内容

本发明的实施例提供一种驱动背板及其检测方法以及显示装置，用以解决多条信号线通过多个开关器件耦接至同一检测衬垫上时，因其中至少两个开关器件漏电，导致至少两条信号线通过检测衬垫短路的问题。

第一方面提供了一种驱动背板，包括：衬底基板，设置在衬底基板上的多条信号线和设置在衬底基板上的检测电路。检测电路包括：至少一个检测衬垫和多个开关器件，每个检测衬垫包括至少两个相互绝缘的检测子衬垫；每个检测子衬垫与至少一条信号线耦接，检测子衬垫与至少一条信号线中的每条信号线通过至少一个开关器件耦接，一个开关器件与一条信号线耦接。

在一些实施例中，多条信号线的延伸方向相互平行；与检测衬垫耦接的各个开关器件中，至少一个开关器件位于检测衬垫沿第一方向上的一侧，第一方向与信号线的延伸方向平行。

在一些实施例中，多条信号线的延伸方向相互平行；检测衬垫的各个检测子衬垫排成一排且每相邻两个检测子衬垫之间具有间隙，各个检测子衬垫的排列方向与信号线的延伸方向平行。

在一些实施例中，多个开关器件包括：与一个检测衬垫耦接的第一开关器件和第二开关器件；检测衬垫的各个检测子衬垫包括：位于两端的第一检测子衬垫和第二检测子衬垫；第一检测子衬垫通过第一开关器件与一条信号线耦接，第二检测子衬垫通过第二开关器件与另一条信号线耦接；第一开关器件位于第一检测子衬垫远离第二检测子衬垫的一侧，第二开关器件位于第二检测子衬垫远离第一检测子衬垫的一侧。

在一些实施例中，检测衬垫的各个检测子衬垫中，每相邻两个检测子衬垫之间的间隙的宽度为5μm～10μm。

在一些实施例中，检测电路包括：多个检测衬垫；检测电路还包括：至少两条控制信号线，每条控制信号线与至少两个开关器件耦接，被配置为控制至少两个开关器件的通断，由同一控制信号线控制的各个开关器件分别与不同的检测衬垫耦接。

在一些实施例中，每条控制信号线通过至少两个开关器件与各个检测衬垫耦接，每个检测衬垫耦接的不同开关器件与不同的控制信号线耦接。

在一些实施例中，检测衬垫包括两个检测子衬垫，每个检测子衬垫与一条信号线耦接；或者，每个检测子衬垫与至少两条信号线耦接。

第二方面提供了一种显示装置，包括上述任一实施例提供的驱动背板。

第三方面提供了一种驱动背板的检测方法，包括：将一个外接衬垫与驱动背板中的一个检测衬垫中的各个检测子衬垫接触；驱动背板为上述任一实施例提供的驱动背板；通过外接衬垫向各个检测子衬垫写入检测信号，并开启与检测衬垫耦接的至少一个开关器件，使得检测信号通过开启的开关器件写入与开启的开关器件耦接的信号线。

本发明实施例提供的方案通过将检测衬垫分为至少两个相互绝缘的检测子衬垫，每个检测子衬垫与至少一条信号线耦接，每个检测子衬垫与每条信号线通过至少一个开关器件耦接，并且一个开关器件与一条信号线耦接。当开关器件发生漏电现象时，由于子衬垫之间相互绝缘，与不同子衬垫耦接的信号线之间是断路。这样便解决了至少两条信号线通过检测衬垫发生短路的问题。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1A为本发明实施例提供的一种显示装置的结构图；

图1B为图1A示出的显示装置中子像素的结构图；

图1C为图1A示出的显示装置中驱动背板和驱动电路的结构图；

图2为图1A示出的显示装置中驱动背板和源极驱动器的结构图；

图3为图2中一种T部的放大图；

图4为图2中另一种T部的放大图；

图5为图2中又一种T部的放大图；

图6A为图5中相连接的检测衬垫和信号线的结构图；

图6B为图6A中沿ZZ’向的剖视图。

图7为外接衬垫与检测衬垫接触后的结构图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

除非上下文另有要求，否则，在整个说明书和权利要求书中，术语“包括(comprise)”及其其他形式例如第三人称单数形式“包括(comprises)”和现在分词形式“包括(comprising)”被解释为开放、包含的意思，即为“包含，但不限于”。在说明书的描述中，术语“一个实施例(one embodiment)”、“一些实施例(some embodiments)”、“示例性实施例(exemplary embodiments)”、“示例(example)”、“特定示例(specific example)”或“一些示例(some examples)”等旨在表明与该实施例或示例相关的特定特征、结构、材料或特性包括在本公开的至少一个实施例或示例中。上述术语的示意性表示不一定是指同一实施例或示例。此外，所述的特定特征、结构、材料或特点可以以任何适当方式包括在任何一个或多个实施例或示例中。

以下，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本公开实施例的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

在描述一些实施例时，可能使用了“耦接”和“连接”及其衍伸的表达。例如，描述一些实施例时可能使用了术语“连接”以表明两个或两个以上部件彼此间有直接物理接触或电接触。又如，描述一些实施例时可能使用了术语“耦接”以表明两个或两个以上部件有直接物理接触或电接触。然而，术语“耦接”或“通信耦合(communicatively coupled)”也可能指两个或两个以上部件彼此间并无直接接触，但仍彼此协作或相互作用。这里所公开的实施例并不必然限制于本文内容。

“A、B和C中的至少一个”与“A、B或C中的至少一个”具有相同含义，均包括以下A、B和C的组合：仅A，仅B，仅C，A和B的组合，A和C的组合，B和C的组合，及A、B和C的组合。

“A和/或B”，包括以下三种组合：仅A，仅B，及A和B的组合。

“多个”是指至少两个。

本文中“适用于”或“被配置为”的使用意味着开放和包容性的语言，其不排除适用于或被配置为执行额外任务或步骤的设备。

另外，“基于”的使用意味着开放和包容性，因为“基于”一个或多个所述条件或值的过程、步骤、计算或其他动作在实践中可以基于额外条件或超出所述的值。

本文参照作为理想化示例性附图的剖视图和/或平面图描述了示例性实施方式。在附图中，为了清楚，放大了层和区域的厚度。因此，可设想到由于例如制造技术和/或公差引起的相对于附图的形状的变动。因此，示例性实施方式不应解释为局限于本文示出的区域的形状，而是包括因例如制造而引起的形状偏差。例如，示为矩形的蚀刻区域通常将具有弯曲的特征。因此，附图中所示的区域本质上是示意性的，且它们的形状并非旨在示出设备的区域的实际形状，并且并非旨在限制示例性实施方式的范围。

本发明的实施例提供了一种显示装置。显示装置为具有图像显示功能的产品，例如可以是：显示器，电视，广告牌，数码相框，具有显示功能的激光打印机，电话，手机，个人数字助理(Personal Digital Assistant，PDA)，数码相机，便携式摄录机，取景器，导航仪，车辆，大面积墙壁、家电、信息查询设备(如电子政务、银行、医院、电力等部门的业务查询设备、监视器等。

图1A示出了一种显示装置的结构图。如图1A所示，显示装置可以包括显示面板(Display Panel，简称为DP)，显示装置还可以包括与显示面板耦接的驱动电路，驱动电路被配置为向显示面板提供电信号。示例性地，驱动电路可以包括：源极驱动器(SourceDriver IC)，源极驱动器被配置为向显示面板提供数据驱动信号(也称为数据信号)。驱动电路还可以包括与源极驱动器耦接的时序控制器(Timer Control Register，简称为TCON)等。

示例性地，显示面板可以是OLED(Organic Light Emitting Diode，有机发光二极管)显示面板、QLED(Quantum Dot Light Emitting Diodes，量子点发光二极管)显示面板、LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)显示面板、微LED(包括：miniLED或microLED，LED为发光二极管)显示面板等。

参见图1A，显示面板具有显示区(Active Area，AA)和周边区S。其中，周边区S至少位于AA区外一侧。其中，显示面板包括设置于AA区中的多个子像素P。示例性地，多个子像素P可以呈阵列排布。例如，沿图1A中Y方向排列成一排的子像素称为同一行子像素，沿图1A中X方向排列成一排的子像素称为同一列子像素。

示例性地，多个子像素P包括第一颜色子像素、第二颜色子像素和第三颜色子像素；例如，第一颜色、第二颜色和第三颜色为三基色；例如，第一颜色、第二颜色和第三颜色分别为红色、绿色和蓝色；即，多个子像素包括红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素。

继续参见图1A和图1B，在一些实施例中，显示面板可以包括驱动背板11和至少一个(例如，多个)发光器件P1，每个发光器件P1设置于驱动背板11上。图1B为显示面板中一个子像素P结构图。如图1B所示，显示面板中至少一个(例如，每个)子像素P可以包括发光器件P1和像素电路P2，其中，像素电路P2与发光器件P1耦接。像素电路P2被配置为向发光器件P1提供驱动信号(例如，驱动电流)，以驱动发光器件P1发光。

示例性地，发光器件P1可以采用包括LED、OLED或QLED等。

参见图1C，在一些实施例中，驱动背板11包括：衬底基板21，设置在衬底基板21上的多个像素电路P2，和设置在衬底基板21上的多条信号线。

衬底基板21可以是刚性衬底基板；该刚性衬底基板例如可以为玻璃衬底基板或PMMA(Polymethyl methacrylate，聚甲基丙烯酸甲酯)衬底基板等。又如，衬底基板可以为柔性衬底基板；该柔性衬底基板例如可以为PET(Polyethylene terephthalate，聚对苯二甲酸乙二醇酯)衬底基板、PEN(Polyethylene naphthalate two formic acid glycolester，聚萘二甲酸乙二醇酯)衬底基板或PI(Polyimide，聚酰亚胺)衬底基板等。

示例性地，多个像素电路P2呈阵列排布。

本公开的实施例对像素电路P2的具体结构不作限定，可以根据实际情况进行设计。示例性地，像素电路由薄膜晶体管(Thin Film Transistor，简称TFT)、电容器(Capacitance，简称C)等电子器件组成。例如，像素电路可以包括两个薄膜晶体管(一个开关晶体管和一个驱动晶体管)和一个电容器，构成2T1C结构；当然，像素电路还可以包括两个以上的薄膜晶体管(多个开关晶体管和一个驱动晶体管)和至少一个电容器，例如像素电路还可以是7T1C结构。

驱动背板11包括的多条信号线与多个像素电路P2耦接，被配置向多个像素电路P2传输驱动信号，驱动信号可以包括数据驱动信号、扫描驱动信号、第一电源电压信号(例如，VDD信号)和第二电源电压信号(例如，VSS信号)，还可以包括：发光控制信号(例如，EM信号)和初始化信号(例如,Vint信号)等中的至少一者。示例性地，这些驱动信号中的至少一部分可以由上述的驱动电路直接提供，例如，数据驱动信号由驱动电路中的源极驱动器直接提供。这些驱动信号中其他部分可以是驱动背板11响应于驱动电路的电信号而生成的，例如，驱动背板11可以包括扫描驱动电路(Gate Driver on Array，GOA电路)，扫描驱动电路被配置为响应于驱动电路中TCON提供的电信号，生成扫描驱动信号。相应的，如图1C所示，多条信号线包括：用于传输扫描驱动信号的多条栅线231，用于传输数据驱动信号的多条数据线232。此外，多条信号线还可以包括：用于传输第一电源电压信号的第一电源线233，用于传输第二电源电压信号的第二电源线，用于传输EM信号的发光控制线234和用于传输初始化信号的初始化信号线235等多种信号线中的至少一者。每一者均可以具有延伸方向相互平行的多条信号线。例如，驱动背板可以包括沿Y方向延伸的多条栅线231，沿X方向延伸的多条数据线232等。

参见图2，驱动背板11还可以包括设置在衬底基板21上的至少一个检测电路。每个检测电路用于在驱动背板的制作过程中或者制作完成后，向驱动背板11上的多种信号线中的一者输入检测信号，以确定该信号线是否存在短路、断路等问题。

一检测电路可以位于显示面板的周边区S内，例如可以设置于显示区AA的一侧。示例性地，驱动背板11中的一检测电路被配置为向多条数据线232传输检测信号，其可以位于显示区AA沿数据线232延伸方向的一侧。此外，周边区S还可以包括绑定区，驱动背板11包括位于该绑定区内的多个绑定衬垫(绑定PAD)，每个绑定衬垫与一条数据线耦接。在驱动背板11与驱动电路中的源极驱动器耦接的情况下，源极驱动器通过多个绑定衬垫分别向多条数据线232写入数据驱动信号。检测电路与该绑定区内的多个绑定衬垫可以位于显示区AA的同一侧，可以分别位于显示区AA相对的两侧。

在另一些实施例中，驱动背板11还可以包括用于向多条栅线231传输检测信号的检测电路。

参见图2和图3，其中图2示出了检测电路的示例性位置，图3为图2中T部的放大图。如图3所示，检测电路包括：至少一个检测衬垫31(例如，多个检测衬垫)和多个开关器件。每个检测衬垫31包括至少两个相互绝缘的检测子衬垫，例如，检测子衬垫311a和311b。

在一些实施例中，每个检测衬垫包含的各个检测子衬垫可以同层设置，多个检测衬垫也可以同层设置。同层设置是指多个图案在同一图案层上。图案层是指通过一次构图工艺形成的膜层。构图工艺是指能够形成至少一个具有一定形状的图案的工艺。例如，在衬底基板上通过沉积、涂敷、溅射等多种成膜工艺中的任一种形成薄膜，然后将该薄膜图案化以形成包含至少一个图案的膜层，称之为图案层。图案化的步骤包括：涂覆光刻胶、曝光、显影、刻蚀和剥离光刻胶等。本实施例中，将属于同一图案层的多个图案的位置关系称为同层设置。此时，至少两个相互绝缘的检测子衬垫间隔分布，即每相邻两个检测子衬垫之间具有间隙。由于在检测过程中，一个检测衬垫与一个外接衬垫对应连接，通过该外接衬垫向该检测衬垫上的所有检测子衬垫输入检测信号。那么每相邻两个检测子衬垫之间的距离不宜过远。例如，每相邻两个检测子衬垫之间的间隙的最大宽度为10μm。示例性地，该间隙是等宽的，例如，如图3所示，该间隙为m，其宽度范围是5μm～10μm。

在一些实施例中，参见图3，每个检测衬垫31包含的各个检测子衬垫(例如包括311a和311b)构成的整体，其轮廓线(图3中的虚线框)的形状为矩形或类矩形。其中，类矩形可以包括四个角中的至少一个角为圆角的矩形，圆角是指用一段与角的两边相切的圆弧替换原来的直角，圆角的大小用圆弧的半径表示。示例性地，该轮廓线的形状为四个角中的一个角为圆角的类矩形。示例性地，该轮廓线的形状为四个角中的至少两个角为圆角的类矩形，各个圆角的大小可以相同，也可以不同。示例性地，该轮廓线的形状为四个角均为圆角的类矩形，并且该四个圆角的大小相同。

在一些实施例中，检测电路中，每个检测衬垫包含的各个检测子衬垫可以排成一排，排列方向与信号线的延伸方向平行。并且，每相邻两个检测子衬垫之间具有间隙。例如，如图3所示，信号线(例如，数据线)的延伸方向平行于X方向，每个检测衬垫31包括两个检测子衬垫311a和311b，这两个检测子衬垫沿X方向排成一排。示例性地，每相邻两个检测子衬垫之间具有间隙，间隙的最大宽度为10μm。示例性地，该间隙是等宽的，例如，如图3所示，该间隙为m，其宽度范围是5μm～10μm。

参见图3，检测电路中，为使一检测衬垫31能够向至少两条信号线(例如，数据线)提供检测信号，该检测衬垫31包含的每个检测子衬垫与至少一条信号线耦接，检测子衬垫与至少一条信号线中的每条信号线通过至少一个开关器件耦接。开关器件的作用被配置为控制检测子衬垫与信号线之间的通断。例如，如图3所示，开关器件32a开启(或关闭)，则与该开关器件32a耦接的检测子衬垫311a和信号线33a之间是通路(或断路)，开关器件32b开启(或关闭)，则与该开关器件32b耦接的检测子衬垫311b和信号线33b之间是通路(或断路)。此外，一个开关器件与一条信号线耦接。也即，同一条信号线可以耦接一个或多个开关器件，并且，任意两条信号线不与同一开关器件耦接。例如，信号线33a与开关器件32a耦接，信号线33b与开关器件32b耦接。这样，每一条信号线均设置有开关器件独立控制该信号线与检测子衬垫的通断，并且，任意两条信号线分别与不同开关器件耦接，在开关器件关闭时，该两条信号线之间不会发生短路。

在一些实施例中，每个检测子衬垫与一条信号线耦接，每个检测子衬垫与该条信号线通过至少一个开关器件耦接。例如，参见图3，每个检测子衬垫通过一个开关器件与一条信号线耦接。示例性地，每个检测衬垫31包括两个检测子衬垫311a和311b，每个检测子衬垫通过一个开关器件与一条信号线耦接。在这种情况下，若驱动背板包括K条信号线，则相应地，检测电路上包括N(K＝2N)个检测衬垫31，H(H＝K)个检测子衬垫。H个检测子衬垫中的每个检测子衬垫通过一个开关器件与一条信号线耦接，即包括R(R＝K)个开关器件。例如，其检测过程为向检测衬垫31输入检测信号，并且，开启开关器件32a，则检测信号写入信号线33a；向检测衬垫31输入检测信号，并且，开启开关器件32b，则检测信号写入信号线33b。例如，其检测过程为向检测衬垫31输入检测信号，并且，开启开关器件32a，同时关闭开关器件32b，则检测信号单独写入信号线33a；向检测衬垫31输入检测信号，并且，关闭开关器件32a，同时开启开关器件32b，则检测信号写入信号线33b。

在一些实施例中，每个检测子衬垫与至少两条信号线耦接，每个检测子衬垫与至少两条信号线中的每一条通过至少一个开关器件耦接。例如，每个检测子衬垫与至少两条信号线中的每一条通过一个开关器件耦接。例如，每个检测子衬垫与两条信号线耦接，每个检测子衬垫与两条信号线中的每一条通过一个开关器件耦接。示例性地，如图4所示，每个检测衬垫41包括两个检测子衬垫411a和411b。检测子衬垫411a通过开关器件42a与信号线43a耦接，并且通过开关器件42b与信号线43b耦接。检测子衬垫411b通过开关器件42c与信号线43c耦接，并且通过开关器件42d与信号线43d耦接。在这种情况下，若驱动背板包括K条信号线，则相应地，检测电路上包括N(K＝4N)个检测衬垫41，H(K＝2H)个检测子衬垫。H个检测子衬垫中的每个检测子衬垫通过一个开关器件与一条信号线耦接，即包括R(R＝K)个开关器件。例如，其检测过程为向检测衬垫41输入检测信号，并且，开启开关器件42a，则检测信号写入信号线43a；开启开关器件42b，则检测信号写入信号线43b；开启开关器件42c，则检测信号写入信号线43c；开启开关器件42d，则检测信号写入信号线43d。例如，其检测过程为向检测衬垫41输入检测信号，并且，开启开关器件42a，同时关闭开关器件42b、42c以及42d，则检测信号单独写入信号线43a；开启开关器件42b，同时关闭开关器件42a、42c以及42d，则检测信号单独写入信号线43b；开启开关器件42c，同时关闭开关器件42a、42b以及42d，则检测信号单独写入信号线43c；开启开关器件42d，同时关闭开关器件42a、42b以及42c，则检测信号单独写入信号线43d。

在一些实施例中，设置在驱动背板上的与一控制电路耦接的多条信号线的延伸方向相互平行。示例性地，如图3所示，设置在驱动背板上的多条信号线沿X方向延伸。并且，与检测衬垫31耦接的各个开关器件中，至少一个开关器件位于检测衬垫31沿X方向的一侧。示例性地，与检测衬垫31耦接的所有开关器件均位于检测衬垫31沿X方向的同一侧。示例性地，与检测衬垫31耦接的各个开关器件位于检测衬垫31沿X方向的相对两侧。示例性地，与检测衬垫31耦接的多个开关器件包括第一开关器件和第二开关器件，该检测衬垫31的各个检测子衬垫沿X方向排成一排，并且包括位于两端的第一检测子衬垫和第二检测子衬垫。第一检测子衬垫通过第一开关器件与一条信号线耦接，第二检测子衬垫通过第二开关器件与另一条信号线耦接，第一开关器件位于第一检测子衬垫远离第二检测子衬垫的一侧，第二开关器件位于第二检测子衬垫远离第一检测子衬垫的一侧。即，第一开关器件和第二开关器件分别位于检测衬垫31沿X方向的相对两侧。例如，如图3所示，与检测衬垫31耦接的多个开关器件包括第一开关器件32a和第二开关器件32b，该检测衬垫31的各个子衬垫311a和311b沿X方向排成一排，并且包括位于两端的第一检测子衬垫311a和第二检测子衬垫311b。第一检测子衬垫311a通过第一开关器件32a与一条信号线33a耦接，第二检测子衬垫311b通过第二开关器件32b与另一条信号线33b耦接，第一开关器件32a位于第一检测子衬垫311a远离第二检测子衬垫311b的一侧，第二开关器件32b位于第二检测子衬垫311b远离第一检测子衬垫311a的一侧。即，第一开关器件32a和第二开关器件32b分别位于检测衬垫31沿X方向的相对两侧。通过把开关器件设置在检测衬垫31沿X方向的一侧，相比于将其设置在检测衬垫31沿Y方向的一侧，可以减小检测电路在Y方向上的尺寸。

在一些实施例中，如图5所示，检测电路包括多个检测衬垫51。检测电路还包括至少两条控制信号线，每条控制信号线与至少两个开关器件耦接，被配置为控制开关器件的通断，并且，由同一控制信号线控制的各个开关器件分别与不同的检测衬垫51耦接。例如，检测电路包括N个检测衬垫51，R个开关器件，K条控制信号线。其中该K条控制信号线中的任意一条控制信号线控制R1个开关器件，R1小于等于R。该R1个开关器件分别与N个检测衬垫51中的N1个检测衬垫耦接，N1小于等于N。即，同一控制信号线51控制的该R1个开关器件中的任意两个开关器件不与同一检测衬垫51耦接，使得同一检测衬垫51耦接的不同开关器件可以被不同控制信号线独立控制，以便在向检测衬垫51输入检测信号时，可以实现单独向每条信号线输入检测信号。

示例性地，每条控制信号线通过至少两个开关器件与各个检测衬垫51耦接，并且，每个检测衬垫51耦接的不同开关器件与不同的控制信号线耦接。例如，检测电路包括N个检测衬垫51，R个开关器件，K条控制信号线。其中该K条控制信号线中的任意一条控制信号线控制R1个开关器件，R1小于等于R。该R1个开关器件分别与N个检测衬垫51中的每一个检测衬垫耦接，并且，N个检测衬垫51中的每一个检测衬垫耦接的不同开关器件与不同的控制信号线耦接。即，R1＝N，R1个开关器件中的任意两个开关器件不与同一检测衬垫51耦接，并且任意一条控制信号线通过与其耦接的R1个开关器件与N个检测衬垫51中的每一个检测衬垫耦接。例如，如图5所示，检测电路包括N个检测衬垫51，R个开关器件，两条控制信号线54a和54b。其中控制信号线54a和54b中的任意一条控制信号线控制R1(R＝2R1)个开关器件。该R1个开关器件分别与N个检测衬垫51中的每一个检测衬垫耦接，并且，N个检测衬垫51中的每一个检测衬垫耦接的不同开关器件与不同的控制信号线耦接，例如，检测衬垫51耦接的开关器件52a与控制信号线54a耦接，检测衬垫51耦接的开关器件52b与控制信号线54b耦接。即，R1＝N，控制信号线控制的开关器件的个数R1等于检测衬垫51的个数N。同一控制信号线控制的R1个开关器件中的任意两个开关器件，例如控制信号线54b控制的开关器件52b和开关器件52c，不与同一检测衬垫51耦接。并且，控制信号线通过与其耦接的R1个开关器件与N个检测衬垫51中的每一个检测衬垫耦接。这样，可以通过更少的控制信号线控制所有开关器件，可以进一步控制驱动背板的尺寸。

在一些实施例中，如图6A和图6B所示，驱动背板11包括：在衬底基板21上依次设置的有源图案层66，第一绝缘层67、第一导电图案层68、第二绝缘层69、第二导电图案层70、第三绝缘层71、第三导电图案层72。示例性地，在衬底基板上还可以设置有缓冲层73。

其中，有源图案层66包括：半导体图案和导体化图案。示例性地，在衬底基板21上形成半导体材料(例如，P-Si)薄膜，对半导体材料薄膜中的一部分进行导体化，例如离子掺杂，得到导体化图案，半导体材料薄膜中未进行导体化的部分即为半导体图案。

示例性地，像素电路中的薄膜晶体管和用作开关器件的薄膜晶体管中，每个薄膜晶体管包括有源层66，有源层66包括沟道区74、第一极区75和第二极区76，第一极区75和第二极区76分别位于沟道区74的两侧；例如，第一极区75和第二极区76中的其中一者为源极区，另一者为漏极区。可以理解的是，半导体图案包括有源层66中的沟道区74，导体化图案包括有源层66中的第一极区75和第二极区76。

第一绝缘层67、第二绝缘层69和第三绝缘层71可以是无机绝缘层，其材料例如可以是氮化硅、氧化硅等；还可以是有机绝缘层。

第一导电图案层68包括：控制信号线63，控制信号线63与有源层66中的沟道区74正对的部分作为薄膜晶体管(即开关器件)的栅极。

第二导电图案层70包括：多条信号线(例如，数据线)；例如信号线65贯穿第一绝缘层67和第二绝缘层69，与有源层66中的第二极区76耦接。

第三导电图案层72包括：检测衬垫，检测衬垫例如包括检测子衬垫61a和61b。例如检测子衬垫61a贯穿第一绝缘层67、第二绝缘层69和第三绝缘层71，与一个薄膜晶体管的有源层66中第一极区75耦接。例如，检测子衬垫61b贯穿第一绝缘层67、第二绝缘层69和第三绝缘层71，与另一个薄膜晶体管的有源层中第一极区耦接。

在制造该驱动背板时，只需改变第三导电图案层72中检测衬垫的形状，其他各层，例如有源图案层66，第一绝缘层67、第一导电图案层68、第二绝缘层69、第二导电图案层70、以及第三绝缘层71的工艺无需改变，即可得到上述实施例中的驱动背板。这样，在制造本发明的实施例提供的驱动背板时，在原有驱动背板制作工艺的基础上进行最少的改动，从而节约成本。

本发明的实施例还提供了一种驱动背板的检测方法，包括：将一个外接衬垫与驱动背板中的一个检测衬垫中的各个检测子衬垫接触；通过外接衬垫向各个检测子衬垫写入检测信号，并开启与检测衬垫耦接的至少一个开关器件，使得检测信号通过所述开启的开关器件写入与开启的开关器件耦接的信号线。

示例性地，如图5和图7所示，将一个外接衬垫81与检测衬垫51接触，通过外接衬垫81向检测衬垫51的两个检测子衬垫511a和511b写入检测信号，并开启与检测衬垫51耦接的开关器件中的至少一个，例如，当开启开关器件52a时，向信号线53a写入检测信号，当开启开关器件52b时，向信号线53b写入检测信号。并且，当开启开关器件52a，同时关闭开关器件52b时，可以实现单独向信号线53a写入检测信号；当开启开关器件52b，同时关闭开关器件52a时，可以实现单独向信号线53b写入检测信号。

示例性地，在实际检测过程中，可以通过多个外接衬垫81同时接触多个检测衬垫51，并且可以同时或分时向不同检测衬垫51写入检测信号。这样，当检测该检测衬垫51的多个检测子衬垫时，可以使用适配原有检测衬垫51的检测工艺以及检测设备实现对应的多个检测子衬垫的检测，无需使用另外的检测设备，节约了成本。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种驱动背板，其特征在于，包括：

衬底基板；

设置在所述衬底基板上的多条信号线；

设置在所述衬底基板上的检测电路，所述检测电路包括：至少一个检测衬垫和多个开关器件，每个检测衬垫包括至少两个相互绝缘的检测子衬垫；

每个检测子衬垫与至少一条信号线耦接，所述检测子衬垫与所述至少一条信号线中的每条信号线通过至少一个开关器件耦接，一个开关器件与一条所述信号线耦接。

2.根据权利要求1所述的驱动背板，其特征在于，多条所述信号线的延伸方向相互平行；与所述检测衬垫耦接的各个开关器件中，至少一个开关器件位于所述检测衬垫沿第一方向上的一侧，所述第一方向与所述信号线的延伸方向平行。

3.根据权利要求1所述的驱动背板，其特征在于，多条所述信号线的延伸方向相互平行；

所述检测衬垫的各个检测子衬垫排成一排且每相邻两个检测子衬垫之间具有间隙，所述各个检测子衬垫的排列方向与所述信号线的延伸方向平行。

4.根据权利要求3所述的驱动背板，其特征在于，所述多个开关器件包括：与一个所述检测衬垫耦接的第一开关器件和第二开关器件；

所述检测衬垫的各个检测子衬垫包括：位于两端的第一检测子衬垫和第二检测子衬垫；

所述第一检测子衬垫通过所述第一开关器件与一条信号线耦接，所述第二检测子衬垫通过所述第二开关器件与另一条信号线耦接；所述第一开关器件位于所述第一检测子衬垫远离所述第二检测子衬垫的一侧，所述第二开关器件位于所述第二检测子衬垫远离所述第一检测子衬垫的一侧。

5.根据权利要求3所述的驱动背板，其特征在于，所述检测衬垫的各个检测子衬垫中，每相邻两个检测子衬垫之间的间隙的宽度为5μm～10μm。

6.根据权利要求1所述的驱动背板，其特征在于，所述检测电路包括：多个所述检测衬垫；

所述检测电路还包括：至少两条控制信号线，每条控制信号线与至少两个开关器件耦接，被配置为控制所述至少两个开关器件的通断，由同一所述控制信号线控制的各个开关器件分别与不同的所述检测衬垫耦接。

7.根据权利要求6所述的驱动背板，其特征在于，每条所述控制信号线通过所述至少两个开关器件与各个所述检测衬垫耦接，每个所述检测衬垫耦接的不同开关器件与不同的所述控制信号线耦接。

8.根据权利要求1～7任一项所述的驱动背板，其特征在于，所述检测衬垫包括两个检测子衬垫，每个检测子衬垫与一条信号线耦接；或者，每个检测子衬垫与至少两条信号线耦接。

9.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1～8任一项所述的驱动背板。

10.一种驱动背板的检测方法，其特征在于，包括：

将一个外接衬垫与驱动背板中的一个检测衬垫中的各个检测子衬垫接触；所述驱动背板为权利要求1～8任一项所述的驱动背板；

通过外接衬垫向所述各个检测子衬垫写入检测信号，并开启与所述检测衬垫耦接的至少一个开关器件，使得所述检测信号通过所述开启的开关器件写入与所述开启的开关器件耦接的信号线。

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