CN108761853A - 一种液晶显示面板的点灯检测装置及方法 - Google Patents
一种液晶显示面板的点灯检测装置及方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN108761853A CN108761853A CN201810307936.7A CN201810307936A CN108761853A CN 108761853 A CN108761853 A CN 108761853A CN 201810307936 A CN201810307936 A CN 201810307936A CN 108761853 A CN108761853 A CN 108761853A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- thin film
- film transistor
- data
- signal output
- line
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 61
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 title claims abstract description 51
- 238000000034 method Methods 0.000 title abstract description 8
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 174
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 3
- 239000010408 film Substances 0.000 abstract 3
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000003698 laser cutting Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
Abstract
本发明提供一种液晶显示面板的点灯检测装置及方法，该装置包括第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管、第一组检测线路；第一组检测线路包括第一控制信号输出线路、第一数据信号输出线路以及第一栅极信号输出线路；第一控制信号输出线路控制第一薄膜晶体管和第二薄膜晶体管导通或关断；第一数据信号输出线路输出数据信号；第一栅极信号输出线路输出栅极驱动信号；第一薄膜晶体管的第二端与数据线绑定至数据集成电路绑定区的一端连接，第二薄膜晶体管与扫描线绑定至所述栅极驱动集成电路绑定区的一端连接。本发明可以检测数据集成电路绑定区上绑定的数据线和栅极驱动集成电路绑定区上绑定的扫描线是否有断开的缺陷，并且不会增加液晶显示面板的制备成本。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种液晶显示面板的点灯检测装置及方法。
背景技术
在液晶显示面板的生产制备过程中，一般都会对液晶显示面板进行点灯测试，即控制液晶显示面板的像素发光显示。现有的点灯测试方案中，一般采用Quick驱动设计，即采用图1中所示的点灯检测装置进行点灯测试，通过控制信号输出线路5’控制图1中所示的薄膜晶体管T1’和T2’导通，栅极信号输出线路7’输出栅极驱动信号至液晶显示面板1’的扫描线9’，数据信号输出线路6’输出数据信号至液晶显示面板的数据线8’，检查液晶显示面板有效显示区2’中的像素是否能够点亮。但是图1中所示的点灯检测装置无法检测出栅极驱动集成电路绑定区3’所绑定的扫描线9’是否出现断开的缺陷，以及数据集成电路绑定区4’所绑定的数据线8’是否出现断开的缺陷。
当然，采用其他的点灯检测方案，例如短路棒(Shorting Bar)驱动设计，虽然可以检测出栅极驱动集成电路绑定区所绑定的扫描线是否出现断开的缺陷，以及数据集成电路绑定区所绑定的数据线是否出现断开的缺陷，但是需要增加一道激光切割的制程，导致成本太高。或者采用全接触(Full contact)点灯驱动设计，虽然也可以检测出上述的缺陷，但是点灯的成本太高。
发明内容
为解决上述技术问题，本发明提供一种液晶显示面板的点灯检测装置及方法，可以有效检测数据集成电路绑定区上绑定的数据线以及栅极驱动集成电路绑定区上绑定的扫描线是否有断开的缺陷，并且不会增加液晶显示面板的制备成本。
本发明提供的一种液晶显示面板的点灯检测装置，包括第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管、第一组检测线路，所述第一薄膜晶体管位于数据集成电路绑定区，所述第二薄膜晶体管位于栅极驱动集成电路绑定区；其中，
所述第一组检测线路包括第一控制信号输出线路、第一数据信号输出线路以及第一栅极信号输出线路；
所述第一控制信号输出线路分别与所述第一薄膜晶体管以及所述第二薄膜晶体管连接，用于输出控制信号至所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管，控制所述第一薄膜晶体管以及所述第二薄膜晶体管导通或关断；
所述第一数据信号输出线路与所述第一薄膜晶体管的第一端连接，用于输出数据信号；
所述第一栅极信号输出线路与所述第二薄膜晶体管的第一端连接，用于输出栅极驱动信号；
所述第一薄膜晶体管的第二端与数据线上绑定至所述数据集成电路绑定区的一端连接，所述第二薄膜晶体管与扫描线上绑定至所述栅极驱动集成电路绑定区的一端连接；
所述第一端为薄膜晶体管的源极和漏极中的一个，所述第二端为薄膜晶体管的源极和漏极中的另一个。
优选地，所述第一组检测线路位于所述液晶显示面板中且位于所述数据集成电路绑定区以及所述栅极驱动集成电路绑定区之外的空余空间内。
优选地，所述点灯检测装置还包括第二组检测线路，所述第二组检测线路包括第二栅极信号输出线路和第二数据信号输出线路；
所述第二栅极信号输出线路，与所述扫描线连接，用于输出栅极驱动信号至所述扫描线；
所述第二数据信号输出线路，与所述数据线连接，用于输出数据信号至所述数据线；
其中，所述第二栅极信号输出线路与所述扫描线上没有绑定至所述栅极驱动集成电路绑定区的一端连接，所述第二数据信号输出线路与所述数据线上没有绑定至所述数据集成电路绑定区的一端连接。
优选地，所述点灯检测装置还包括第三薄膜晶体管和第四薄膜晶体管，所述第二组检测线路还包括第二控制信号输出线路；
所述第二控制信号输出线路分别与所述第三薄膜晶体管以及所述第四薄膜晶体管连接，用于输出控制信号至所述第三薄膜晶体管和所述第四薄膜晶体管，控制所述第三薄膜晶体管以及所述第四薄膜晶体管导通或关断；
所述第二数据信号输出线路通过所述第三薄膜晶体管与所述数据线连接，所述第二数据信号输出线路与所述第三薄膜晶体管的第一端连接，所述第三薄膜晶体管的第二端与所述数据线连接；
所述第二栅极信号输出线路通过所述第四薄膜晶体管与所述扫描线连接，所述第二栅极信号输出线路与所述第四薄膜晶体管的第一端连接，所述第四薄膜晶体管的第二端与所述扫描线连接。
优选地，所述第三薄膜晶体管和所述第四薄膜晶体管位于所述液晶显示面板的有效显示区。
优选地，当所述数据集成电路绑定区的数量为至少两个时，则每一个数据集成电路绑定区均设置有一个所述第一薄膜晶体管。
优选地，当所述栅极驱动集成电路绑定区的数量为至少两个时，则每一个栅极驱动集成电路绑定区均设有一个所述第二薄膜晶体管。
本发明还提供一种液晶显示面板的点灯检测方法，包括下述步骤：
当液晶显示面板能够正常点亮时，第一控制信号输出线路输出控制信号至第一薄膜晶体管和第二薄膜晶体管，控制所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管导通；
第一数据信号输出线路输出数据信号至所述第一薄膜晶体管的第一端，所述第一薄膜晶体管的第二端通过数据线上绑定至数据集成电路绑定区的一端将数据信号输出至所述数据线；
第一栅极信号输出线路输出栅极驱动信号至第二薄膜晶体管的第一端，所述第二薄膜晶体管的第二端通过扫描线上绑定至栅极驱动集成电路绑定区的一端将栅极驱动信号输出至所述扫描线；
若液晶显示面板正常点亮，则判断数据集成电路绑定区上绑定的数据线以及栅极驱动集成电路绑定区上绑定的扫描线没有断开；
其中，所述第一端为薄膜晶体管的源极和漏极中的一个，所述第二端为薄膜晶体管的源极和漏极中的另一个。
优选地，还包括下述步骤：
第二数据信号输出线路输出数据信号至所述数据线，第二栅极信号输出线路输出栅极驱动信号至所述扫描线，以判断液晶显示面板是否能够正常点亮。
优选地，还包括下述步骤：
在判断液晶显示面板是否能够正常点亮之前，第二控制信号输出线路输出控制信号至第三薄膜晶体管和第四薄膜晶体管，控制所述第三薄膜晶体管和所述第四薄膜晶体管导通；其中，所述第三薄膜晶体管的第一端和第二端分别与所述第二数据信号输出线路以及所述数据线连接，所述第四薄膜晶体管的第一端和第二端分别与所述第二栅极信号输出线路以及所述扫描线连接。
实施本发明，具有如下有益效果：本发明通过增加第一组检测线路，在液晶显示面板能够正常点亮时，也即是液晶显示面板的驱动能力良好时，可以通过第一控制信号输出线路打开第一薄膜晶体管和第二薄膜晶体管，第一数据信号输出线路通过第一薄膜晶体管输出数据信号至数据线，第一栅极信号输出线路通过第二薄膜晶体管输出栅极驱动信号至扫描线，由于第一薄膜晶体管与数据线绑定在数据集成电路绑定区的一端连接，而且第二薄膜晶体管是与扫描线绑定在栅极驱动集成电路绑定区的一端连接，因此，如果液晶显示面板可以被点亮，则判断数据集成电路绑定区上绑定的数据线以及栅极驱动集成电路绑定区上绑定的扫描线没有出现断开的缺陷。并且，本发明只是增加了第一组检测线路，并不会增加液晶显示面板的制备难度和制备成本。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明提供的背景技术中点灯检测装置的示意图。
图2是本发明提供的点灯检测装置的示意图。
具体实施方式
本发明提供一种液晶显示面板的点灯检测装置，如图2所示，点灯检测装置包括第一薄膜晶体管T1、第二薄膜晶体管T2、第一组检测线路3，第一薄膜晶体管T1位于数据集成电路绑定区(Data IC bonding Pad)4，第二薄膜晶体管T2位于栅极驱动集成电路绑定区(Gate IC bonding Pad)5。
其中，第一组检测线路3包括第一控制信号输出线路31、第一数据信号输出线路32以及第一栅极信号输出线路33。
第一控制信号输出线路31分别与第一薄膜晶体管T1的栅极以及第二薄膜晶体管T2的栅极连接，用于输出控制信号至第一薄膜晶体管T1和第二薄膜晶体管T2，控制第一薄膜晶体管T1以及第二薄膜晶体管T2导通或关断。
第一数据信号输出线路32与第一薄膜晶体管T1的第一端连接，用于输出数据信号至第一薄膜晶体管T1的第一端。
第一栅极信号输出线路33与第二薄膜晶体管T2的第一端连接，用于输出栅极驱动信号至第二薄膜晶体管T2的第一端。
第一薄膜晶体管T1的第二端与数据线7上绑定至数据集成电路绑定区4的一端连接，第二薄膜晶体管T2与扫描线8上绑定至栅极驱动集成电路绑定区5的一端连接。
上述的第一端为薄膜晶体管的源极和漏极中的一个，第二端为薄膜晶体管的源极和漏极中的另一个。
进一步地，第一组检测线路3位于液晶显示面板1中且位于数据集成电路绑定区4以及栅极驱动集成电路绑定区5之外的空余空间内，该空余空间是有效显示区2之外的区域，第一组检测线路3不与数据集成电路输入端41和数据集成电路输出端42重合，也不与栅极驱动集成电路输入端51和栅极驱动集成电路输出端52重合。
进一步地，点灯检测装置还包括第二组检测线路6，第二组检测线路6包括第二栅极信号输出线路63和第二数据信号输出线路62。
第二栅极信号输出线路63与扫描线8连接，用于输出栅极驱动信号至扫描线8。
第二数据信号输出线路62与数据线7连接，用于输出数据信号至数据线7。
扫描线8以及数据线7与液晶显示面板1的像素连接，用于打开像素进行显示。
其中，第二栅极信号输出线路63与扫描线8上没有绑定至栅极驱动集成电路绑定区5的一端连接，第二数据信号输出线路62与数据线7上没有绑定至数据集成电路绑定区4的一端连接。
进一步地，点灯检测装置还包括第三薄膜晶体管T3和第四薄膜晶体管T4，第二组检测线路6还包括第二控制信号输出线路61。
第二控制信号输出线路61分别与第三薄膜晶体管T3的栅极以及第四薄膜晶体管T4的栅极连接，用于输出控制信号至第三薄膜晶体管T3和第四薄膜晶体管T4，控制第三薄膜晶体管T3以及第四薄膜晶体管T4导通或关断。
第二数据信号输出线路62通过第三薄膜晶体管T3与数据线7连接，第二数据信号输出线路62与第三薄膜晶体管T3的第一端连接，第三薄膜晶体管T3的第二端与数据线7连接。
第二栅极信号输出线路63通过第四薄膜晶体管T4与扫描线8连接，第二栅极信号输出线路63与第四薄膜晶体管T4的第一端连接，第四薄膜晶体管T4的第二端与扫描线8连接。
进一步地，第三薄膜晶体管T3和第四薄膜晶体管T4位于液晶显示面板1的有效显示区2。
进一步地，当数据集成电路绑定区4的数量为至少两个时，则每一个数据集成电路绑定区4均设置有一个第一薄膜晶体管T1。每一个数据集成电路绑定区4的第一薄膜晶体管T1的栅极均与第一控制信号输出线路31连接，第一薄膜晶体管T1的第一端和第二端分别与第一数据信号输出线路32和数据线7连接。
进一步地，当栅极驱动集成电路绑定区5的数量为至少两个时，则每一个栅极驱动集成电路绑定区5均设有一个第二薄膜晶体管T2。每一个栅极驱动集成电路绑定区5的第二薄膜晶体管T2的栅极均与第一控制信号输出线路31连接，第二薄膜晶体管T2的第一端和第二端分别与第一栅极信号输出线路33和扫描线8连接。
从图2中可以看出，数据集成电路绑定区4包含有对应的数据集成电路输入端41和数据集成电路输出端42，栅极驱动集成电路绑定区5包含有对应的栅极驱动集成电路输入端51和栅极驱动集成电路输出端52。液晶显示面板1的扫描线8绑定在栅极驱动集成电路输出端52上，数据线7绑定在数据集成电路绑定区4的数据集成电路输出端42上。数据集成电路输入端41和栅极驱动集成电路输入端51可以用于接收来自PCB电路板(印刷电路板)和FPC电路板(Flexible Printed Circuit，柔性电路板)的信号。
本发明还提供一种液晶显示面板1的点灯检测方法，该方法包括下述步骤：：
当液晶显示面板1能够正常点亮时，第一控制信号输出线路31输出控制信号至第一薄膜晶体管T1的栅极和第二薄膜晶体管T2的栅极，控制第一薄膜晶体管T1和第二薄膜晶体管T2导通。
第一数据信号输出线路32输出数据信号至第一薄膜晶体管T1的第一端，第一薄膜晶体管T1的第二端通过数据线7上绑定至数据集成电路绑定区4的一端将数据信号输出至数据线7。
第一栅极信号输出线路33输出栅极驱动信号至第二薄膜晶体管T2的第一端，第二薄膜晶体管T2的第二端通过扫描线8上绑定至栅极驱动集成电路绑定区5的一端将栅极驱动信号输出至扫描线8。
若液晶显示面板1正常点亮，则判断数据集成电路绑定区4上绑定的数据线7以及栅极驱动集成电路绑定区5上绑定的扫描线8没有断开。
其中，上述的第一端为薄膜晶体管的源极和漏极中的一个，第二端为薄膜晶体管的源极和漏极中的另一个。
进一步地，点灯检测方法还包括下述步骤：
第二数据信号输出线路62直接输出数据信号至数据线7，第二栅极信号输出线路63直接输出栅极驱动信号至扫描线8，以判断液晶显示面板1是否能够正常点亮。
进一步地，点灯检测方法还包括下述步骤：
在判断液晶显示面板1是否能够正常点亮之前，第二控制信号输出线路61输出控制信号至第三薄膜晶体管T3的栅极和第四薄膜晶体管T4的栅极，控制第三薄膜晶体管T3和第四薄膜晶体管T4导通；其中，第三薄膜晶体管T3的第一端和第二端分别与第二数据信号输出线路62以及数据线7连接，第四薄膜晶体管T4的第一端和第二端分别与第二栅极信号输出线路63以及扫描线8连接。
综上所述，本发明通过增加第一组检测线路3，在液晶显示面板1能够正常点亮时，也即是液晶显示面板1的驱动能力良好时，可以通过第一控制信号输出线路31打开第一薄膜晶体管T1和第二薄膜晶体管T2，第一数据信号输出线路32通过第一薄膜晶体管T1输出数据信号至数据线7，第一栅极信号输出线路33通过第二薄膜晶体管T2输出栅极驱动信号至扫描线8，由于第一薄膜晶体管T1与数据线7绑定在数据集成电路绑定区4的一端连接，而且第二薄膜晶体管T2是与扫描线8绑定在栅极驱动集成电路绑定区5的一端连接，因此，如果液晶显示面板1可以被点亮，则判断数据集成电路绑定区4上绑定的数据线7以及栅极驱动集成电路绑定区5上绑定的扫描线8没有出现断开的缺陷。并且，本发明只是增加了第一组检测线路3，并不会增加液晶显示面板1的制备难度和制备成本。
进一步地，由于第二组检测线路6直接通过第三薄膜晶体管T3和第四薄膜晶体管T4分别与数据线7和扫描线8连接，而不是通过对应的绑定区与数据线7和扫描线8连接，因此可以直接判断液晶显示面板是否能够正常点亮。
如果液晶显示面板1能够正常点亮，则通过第一组检测线路3就可以检查液晶显示面板1的画质，还可以检查数据集成电路绑定区4上绑定的数据线7以及栅极驱动集成电路绑定区5上绑定的扫描线8是否出现断开的缺陷。
如果液晶显示面板1不能正常点亮，也即是液晶显示面板1的驱动能力不足，则可以通过第二组检测线路6检查液晶显示面板1的画质，通过第一组检测线路3检查数据集成电路绑定区4上绑定的数据线7以及栅极驱动集成电路绑定区5上绑定的扫描线8是否出现断开的缺陷。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种液晶显示面板的点灯检测装置，其特征在于，包括第一薄膜晶体管、第二薄膜晶体管、第一组检测线路，所述第一薄膜晶体管位于数据集成电路绑定区，所述第二薄膜晶体管位于栅极驱动集成电路绑定区；其中，
所述第一组检测线路包括第一控制信号输出线路、第一数据信号输出线路以及第一栅极信号输出线路；
所述第一控制信号输出线路分别与所述第一薄膜晶体管以及所述第二薄膜晶体管连接，用于输出控制信号至所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管，控制所述第一薄膜晶体管以及所述第二薄膜晶体管导通或关断；
所述第一数据信号输出线路与所述第一薄膜晶体管的第一端连接，用于输出数据信号；
所述第一栅极信号输出线路与所述第二薄膜晶体管的第一端连接，用于输出栅极驱动信号；
所述第一薄膜晶体管的第二端与数据线上绑定至所述数据集成电路绑定区的一端连接，所述第二薄膜晶体管与扫描线上绑定至所述栅极驱动集成电路绑定区的一端连接；
所述第一端为薄膜晶体管的源极和漏极中的一个，所述第二端为薄膜晶体管的源极和漏极中的另一个。
2.根据权利要求1所述的液晶显示面板的点灯检测装置，其特征在于，所述第一组检测线路位于所述液晶显示面板中且位于所述数据集成电路绑定区以及所述栅极驱动集成电路绑定区之外的空余空间内。
3.根据权利要求1所述的液晶显示面板的点灯检测装置，其特征在于，所述点灯检测装置还包括第二组检测线路，所述第二组检测线路包括第二栅极信号输出线路和第二数据信号输出线路；
所述第二栅极信号输出线路，与所述扫描线连接，用于输出栅极驱动信号至所述扫描线；
所述第二数据信号输出线路，与所述数据线连接，用于输出数据信号至所述数据线；
其中，所述第二栅极信号输出线路与所述扫描线上没有绑定至所述栅极驱动集成电路绑定区的一端连接，所述第二数据信号输出线路与所述数据线上没有绑定至所述数据集成电路绑定区的一端连接。
4.根据权利要求3所述的液晶显示面板的点灯检测装置，其特征在于，所述点灯检测装置还包括第三薄膜晶体管和第四薄膜晶体管，所述第二组检测线路还包括第二控制信号输出线路；
所述第二控制信号输出线路分别与所述第三薄膜晶体管以及所述第四薄膜晶体管连接，用于输出控制信号至所述第三薄膜晶体管和所述第四薄膜晶体管，控制所述第三薄膜晶体管以及所述第四薄膜晶体管导通或关断；
所述第二数据信号输出线路通过所述第三薄膜晶体管与所述数据线连接，所述第二数据信号输出线路与所述第三薄膜晶体管的第一端连接，所述第三薄膜晶体管的第二端与所述数据线连接；
所述第二栅极信号输出线路通过所述第四薄膜晶体管与所述扫描线连接，所述第二栅极信号输出线路与所述第四薄膜晶体管的第一端连接，所述第四薄膜晶体管的第二端与所述扫描线连接。
5.根据权利要求4所述的液晶显示面板的点灯检测装置，其特征在于，所述第三薄膜晶体管和所述第四薄膜晶体管位于所述液晶显示面板的有效显示区。
6.根据权利要求1所述的液晶显示面板的点灯检测装置，其特征在于，当所述数据集成电路绑定区的数量为至少两个时，则每一个数据集成电路绑定区均设置有一个所述第一薄膜晶体管。
7.根据权利要求1所述的液晶显示面板的点灯检测装置，其特征在于，当所述栅极驱动集成电路绑定区的数量为至少两个时，则每一个栅极驱动集成电路绑定区均设有一个所述第二薄膜晶体管。
8.一种液晶显示面板的点灯检测方法，其特征在于，包括下述步骤：
当液晶显示面板能够正常点亮时，第一控制信号输出线路输出控制信号至第一薄膜晶体管和第二薄膜晶体管，控制所述第一薄膜晶体管和所述第二薄膜晶体管导通；
第一数据信号输出线路输出数据信号至所述第一薄膜晶体管的第一端，所述第一薄膜晶体管的第二端通过数据线上绑定至数据集成电路绑定区的一端将数据信号输出至所述数据线；
第一栅极信号输出线路输出栅极驱动信号至第二薄膜晶体管的第一端，所述第二薄膜晶体管的第二端通过扫描线上绑定至栅极驱动集成电路绑定区的一端将栅极驱动信号输出至所述扫描线；
若液晶显示面板正常点亮，则判断数据集成电路绑定区上绑定的数据线以及栅极驱动集成电路绑定区上绑定的扫描线没有断开；
其中，所述第一端为薄膜晶体管的源极和漏极中的一个，所述第二端为薄膜晶体管的源极和漏极中的另一个。
9.根据权利要求8所述的液晶显示面板的点灯检测方法，其特征在于，还包括下述步骤：
第二数据信号输出线路输出数据信号至所述数据线，第二栅极信号输出线路输出栅极驱动信号至所述扫描线，以判断液晶显示面板是否能够正常点亮。
10.根据权利要求9所述的液晶显示面板的点灯检测方法，其特征在于，还包括下述步骤：
在判断液晶显示面板是否能够正常点亮之前，第二控制信号输出线路输出控制信号至第三薄膜晶体管和第四薄膜晶体管，控制所述第三薄膜晶体管和所述第四薄膜晶体管导通；其中，所述第三薄膜晶体管的第一端和第二端分别与所述第二数据信号输出线路以及所述数据线连接，所述第四薄膜晶体管的第一端和第二端分别与所述第二栅极信号输出线路以及所述扫描线连接。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201810307936.7A CN108761853A (zh) | 2018-04-08 | 2018-04-08 | 一种液晶显示面板的点灯检测装置及方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201810307936.7A CN108761853A (zh) | 2018-04-08 | 2018-04-08 | 一种液晶显示面板的点灯检测装置及方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN108761853A true CN108761853A (zh) | 2018-11-06 |
Family
ID=63981211
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201810307936.7A Pending CN108761853A (zh) | 2018-04-08 | 2018-04-08 | 一种液晶显示面板的点灯检测装置及方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN108761853A (zh) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109243349A (zh) * | 2018-11-09 | 2019-01-18 | 惠科股份有限公司 | 量测讯号电路及其量测方法 |
| CN110767131A (zh) * | 2019-10-15 | 2020-02-07 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 液晶显示面板的点灯检测方法、点灯治具 |
| CN110910804A (zh) * | 2019-12-26 | 2020-03-24 | 厦门天马微电子有限公司 | 一种显示面板及显示装置 |
| WO2020093607A1 (zh) * | 2018-11-09 | 2020-05-14 | 惠科股份有限公司 | 量测信号电路及其量测方法 |
| CN112331115A (zh) * | 2020-11-05 | 2021-02-05 | 北海惠科光电技术有限公司 | 液晶面板和液晶面板goa电路检测方法 |
| CN113448131A (zh) * | 2021-06-23 | 2021-09-28 | 惠科股份有限公司 | 显示面板及其测试方法 |
| WO2022068653A1 (zh) * | 2020-09-30 | 2022-04-07 | 荣耀终端有限公司 | 一种显示装置、驱动芯片及电子设备 |
| CN114994991A (zh) * | 2022-06-20 | 2022-09-02 | 苏州华星光电技术有限公司 | 覆晶薄膜及显示装置 |
| WO2024114337A1 (zh) * | 2022-12-01 | 2024-06-06 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示基板及显示装置 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1900802A (zh) * | 2005-07-19 | 2007-01-24 | 三星电子株式会社 | 液晶显示面板及其测试与制造方法 |
| CN101303462A (zh) * | 2008-07-04 | 2008-11-12 | 友达光电股份有限公司 | 液晶显示面板的检测电路与方法 |
| CN103217844A (zh) * | 2013-04-01 | 2013-07-24 | 合肥京东方光电科技有限公司 | 一种显示面板和显示装置 |
| CN103927963A (zh) * | 2013-01-10 | 2014-07-16 | 三菱电机株式会社 | 显示装置及其检查方法 |
| US20150015820A1 (en) * | 2013-07-12 | 2015-01-15 | Mitsubishi Electric Corporation | Array substrate, method of disconnection inspecting gate lead wire and source lead wire in the array substrate, method of inspecting the array substrate, and liquid crystal display device |
-
2018
- 2018-04-08 CN CN201810307936.7A patent/CN108761853A/zh active Pending
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1900802A (zh) * | 2005-07-19 | 2007-01-24 | 三星电子株式会社 | 液晶显示面板及其测试与制造方法 |
| CN101303462A (zh) * | 2008-07-04 | 2008-11-12 | 友达光电股份有限公司 | 液晶显示面板的检测电路与方法 |
| CN103927963A (zh) * | 2013-01-10 | 2014-07-16 | 三菱电机株式会社 | 显示装置及其检查方法 |
| CN103217844A (zh) * | 2013-04-01 | 2013-07-24 | 合肥京东方光电科技有限公司 | 一种显示面板和显示装置 |
| US20150015820A1 (en) * | 2013-07-12 | 2015-01-15 | Mitsubishi Electric Corporation | Array substrate, method of disconnection inspecting gate lead wire and source lead wire in the array substrate, method of inspecting the array substrate, and liquid crystal display device |
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2020093605A1 (zh) * | 2018-11-09 | 2020-05-14 | 惠科股份有限公司 | 量测信号电路及其量测方法 |
| WO2020093607A1 (zh) * | 2018-11-09 | 2020-05-14 | 惠科股份有限公司 | 量测信号电路及其量测方法 |
| CN109243349A (zh) * | 2018-11-09 | 2019-01-18 | 惠科股份有限公司 | 量测讯号电路及其量测方法 |
| CN110767131A (zh) * | 2019-10-15 | 2020-02-07 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 液晶显示面板的点灯检测方法、点灯治具 |
| CN110910804A (zh) * | 2019-12-26 | 2020-03-24 | 厦门天马微电子有限公司 | 一种显示面板及显示装置 |
| CN110910804B (zh) * | 2019-12-26 | 2022-08-12 | 厦门天马微电子有限公司 | 一种显示面板及显示装置 |
| US11935498B2 (en) | 2020-09-30 | 2024-03-19 | Honor Device Co., Ltd. | Display apparatus with signal repair circuit, drive chip therefor, and related electronic device |
| WO2022068653A1 (zh) * | 2020-09-30 | 2022-04-07 | 荣耀终端有限公司 | 一种显示装置、驱动芯片及电子设备 |
| CN112331115A (zh) * | 2020-11-05 | 2021-02-05 | 北海惠科光电技术有限公司 | 液晶面板和液晶面板goa电路检测方法 |
| CN113448131A (zh) * | 2021-06-23 | 2021-09-28 | 惠科股份有限公司 | 显示面板及其测试方法 |
| CN114994991B (zh) * | 2022-06-20 | 2023-08-22 | 苏州华星光电技术有限公司 | 覆晶薄膜及显示装置 |
| CN114994991A (zh) * | 2022-06-20 | 2022-09-02 | 苏州华星光电技术有限公司 | 覆晶薄膜及显示装置 |
| WO2024114337A1 (zh) * | 2022-12-01 | 2024-06-06 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示基板及显示装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN108761853A (zh) | 一种液晶显示面板的点灯检测装置及方法 | |
| KR100242943B1 (ko) | 수리선이 형성된 액정표시장치 | |
| KR101129438B1 (ko) | 표시 기판, 이를 구비한 표시 패널의 검사 장치 및 방법 | |
| US6943374B1 (en) | Thin film transistor array substrate for a liquid crystal display having repair lines | |
| KR100494685B1 (ko) | 액정표시장치의 패널내 배선의 결함 테스트 방법 | |
| US20070040794A1 (en) | Liquid crystal display device repair system and method thereof | |
| US7532271B2 (en) | Liquid crystal display comprising at least one repair line and at least one internal repair line | |
| KR101238337B1 (ko) | 어레이 기판 및 이를 갖는 액정표시장치 | |
| JP2004310024A (ja) | 液晶表示装置及びその検査方法 | |
| JP2004310024A5 (zh) | ||
| KR20080054620A (ko) | 박막 트랜지스터 기판, 이를 갖는 액정표시장치 | |
| TWI512380B (zh) | 顯示裝置和其操作方法 | |
| KR20100089146A (ko) | 표시 패널의 테스트 방법 및 이를 수행하기 위한 테스트 장치 | |
| JP4490802B2 (ja) | 薄膜トランジスタ表示板 | |
| CN102138173A (zh) | 显示面板和显示面板的检查方法 | |
| WO2015096238A1 (zh) | 一种液晶显示阵列基板、源极驱动电路及断线修复方法 | |
| CN101726943B (zh) | 主动元件阵列基板、液晶显示面板及两者的检测方法 | |
| JP2004109969A (ja) | 液晶表示装置 | |
| KR100692691B1 (ko) | 액정표시장치 | |
| WO2013078721A1 (zh) | 一种液晶显示装置及断线修补方法 | |
| KR100929678B1 (ko) | 액정 표시 장치 및 그 수리 방법 | |
| KR101946061B1 (ko) | 액정표시장치 어레이 기판 | |
| KR100911467B1 (ko) | 액정표시장치의 검사 장치 | |
| KR101129440B1 (ko) | 표시 기판 및 이를 구비한 표시 패널의 검사 방법 | |
| JP2007293054A (ja) | 平面表示装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20181106 |