TWI512380B - 顯示裝置和其操作方法 - Google Patents

Description

顯示裝置和其操作方法

本發明是有關於一種放電電路，尤其是有關於一種用於顯示裝置中的放電電路。

一般來說，當顯示裝置被不正常關機時，會因為畫素中殘餘的電荷來不及被釋放，而使得顯示裝置的畫面上產生亮點。更甚者，這些殘餘的電荷會使每一畫素中之元件的參數偏移。如此的偏移，會使每一畫素中的液晶在不同的條件下進行操作，而造成畫面閃爍的情況發生。

有鑑於此，本發明提供一種顯示裝置，在關機的狀態下，可以有效地移除殘於在每一畫素中的電荷。

另外，本發明還提供一種顯示裝置的操作方法，可以在顯示裝置電源關閉時移除殘餘在每一畫素中的電荷。

本發明提供一種顯示裝置，包括基板、畫素陣列、源極驅動模組和測試電路。其中，畫素陣列、源極驅動模組和測試電路都配置在基板上。特別的是，測試電路是配置在源極驅動模組和畫素陣列之間，其用來在顯示裝置的製 造過程中測試畫素陣列是否存在有缺陷的畫素。此測試電路具有多個開關，分別耦接至配置於畫素陣列上的資料線，且每一該些開關具有耦接對應之資料線的第一端、耦接至一預設電壓的第二端、以及耦接至一控制訊號的一控制端。當顯示裝置被電源關閉時，上述的控制訊號會被致能，導致每一開關都被導通，並使得每一資料線分別被導通至預設電壓。

從另一觀點來看，本發明更提供另一種顯示裝置，包括基板、畫素陣列、源極驅動模組和放電電路。畫素陣列、源極驅動模組和放電電路都配置在基板上。放電電路具有多個開關，分別耦接至畫素陣列上的資料線，且每一開關具有耦接對應之資料線的第一端、耦接至一預設電壓的第二端、以及耦接一控制訊號的控制端。當顯示裝置被電源關閉時，控制訊號就會被致能，使得每一開關都會被導通，並且使得資料線被導通至預設電壓。

從另一觀點來看，本發明又提供一種顯示裝置的操作方法。顯示裝置具有多個資料線和測試電路。其中，測試電路是用來在測試顯示裝置是否具有缺陷的畫素，並且測試電路具有多個開關，分別耦接上述的資料線。本發明之操作方法是當顯示裝置被電源關閉時，導通測試電路中的開關，以使每一資料線分別耦接一預設電壓。

由於本發明在顯示裝置電源關閉時，可以將每一資料線分別耦接至一預設電壓，因此就可以有效地移除殘餘在每一畫素中的電荷。

100、300‧‧‧顯示裝置

102‧‧‧基板

104‧‧‧畫素陣列

106、108‧‧‧掃描控制模組

110‧‧‧源極驅動模組

112、DL1-DLN‧‧‧資料線

114‧‧‧放電電路

122、124‧‧‧掃描訊號扇出區(Fan-out area)

126‧‧‧資料訊號扇出區

202、204、206、208、312、314、316、318、320、322‧‧‧開關

302‧‧‧測試電路

330‧‧‧測試控制單元

332、334‧‧‧測試資料線

336‧‧‧控制線

Data_Odd、Data_Even‧‧‧測試資料訊號

GND‧‧‧接地電位

SW‧‧‧開關訊號

Vcom‧‧‧共同電壓

Vg‧‧‧控制訊號

S502、S504、S506、S508、S510‧‧‧顯示裝置之操作方法的步驟流程

圖1繪示為依照本發明第一實施例的一種顯示裝置的方塊圖。

圖2繪示為依照本發明第一實施例的一種放電電路的電路圖。

圖3繪示為依照本發明第二實施例的一種顯示裝置的方塊圖。

圖4繪示為依照本發明第二實施例的一種測試電路的電路圖。

圖5繪示為依照本發明之一實施例的一種顯示裝置之操作方法的步驟流程圖。

圖1繪示為依照本發明第一實施例的一種顯示裝置的方塊圖。請參照圖1，本實施例所提供的顯示裝置100，包括基板102。另外，在基板102上，則配置有畫素陣列104。另外，較佳地但不限定地，在基板102上還可以配置有掃描控制模組106和108，以及源極驅動模組110。掃描控制模組106和108分別配置在畫素陣列104的兩側，而源極驅動模組110則配置於畫素陣列104的下側。本領域具有通常知識者應當知道，在此所謂的下側僅是用來表達相對的位置關係。因此，在實際的應用上，無論源極驅動模組110位於畫素陣列104的任一側，都不致影響本發明主要的精神。

以上的實施例是揭露雙邊掃描的架構。然而，本發明並不限定在雙邊掃描架構的顯示裝置。因此，若是以單邊掃描的架構來看，掃描控制模組106和108其中之一可以被省略。以下的實施例的是以雙邊掃描架構為例敘述，本領 域的技術人員當可自行推得單邊掃描架構的應用方式，以下將不再贅述。

請繼續參照圖1，在畫素陣列104上，沿一預設方向配置有多條資料線112。特別的是，在畫素陣列104相對於源極驅動模組110的上側配置有一放電電路114，其會分別耦接每一資料線112。

圖2繪示為依照本發明第一實施例的一種放電電路的電路圖。請參照圖2，放電電路114具有多個開關，例如202、204、206和208。其中，每一開關都具有一第一端耦接資料線DL1-DLN其中之一、一第二端耦接至一預設電壓、以及一控制端耦接一控制訊號Vg。在本實施例中，上述的開關可以利用NMOS電晶體來實現。當然，在另外的實施例中，上述的開關也可以用PMOS電晶體來實現，本發明並不限制。

當顯示裝置100為電源開啟而正常運作時，控制訊號Vg為一第一準位，例如是低電位。此時，放電電路114中的開關皆不導通。相對地，本實施例若是偵測到顯示裝置100被電源關閉，則會將控制訊號Vg的電位切換至第二準位，例如是高電位。此時，放電電路114中所有的開關都被導通，使得資料線DL1~DLN都被耦接至預設電壓，例如是接地電位。此時，每一畫素中所殘餘的電荷就可以透過對應的資料線而被釋放。

請再參照圖1，掃描控制模組106和108與畫素陣列104之間，以及源極驅動模組110與畫素陣列104之間，分別有掃描訊號扇出區(Fan-out area)122和124、以及資料訊號扇出區126。由於放電電路114是位於畫素陣列104的上側，因此不會與掃描訊號扇出區122和124，以及資料訊號扇 出區126重疊。如此一來，本實施例所提供的架構可以避免放電電路114與掃描訊號扇出區122和124，以及資料訊號扇出區126中的繞線跨線，而造成線路布局的複雜度上升。

雖然在上述實施例所提供的架構中，放電電路114可以避免與掃描訊號扇出區122和124，以及資料訊號扇出區126中的繞線跨線，然而由於放電電路114是位於畫素陣列104的上側，就造成基板102需要多出一個空間來容納放電電路114。如此一來，就會造成硬體成本的上升，並且導致顯示裝置100的尺寸較沒有彈性。

圖3繪示為依照本發明第二實施例的一種顯示裝置的方塊圖。請參照圖3，本實施例所提供的顯示裝置300，同樣也包括基板102、畫素陣列104、掃描控制模組106和108以及源極驅動模組110。此外，一般在源極驅動模組110和畫素陣列104之間，都會配置一測試電路302，其可以耦接配置在畫素陣列104上的資料線112，以用來檢測畫素陣列104是否存在具有缺線的畫素。

圖4繪示為依照本發明第二實施例的一種測試電路的電路圖。請參照圖4，測試電路302具有多個開關，例如312、314、316、318、320和322。如上所述，這些開關312、314、316、318、320和322可以利用NMOS電晶體或PMOS電晶體來實現。在本實施例中，這些開關312、314、316、318、320和322是採用NMOS電晶體來實現。其中，每一開關312、314、316、318、320和322都具有一第一端耦接資料線DL1-DL6其中之一、一第二端分別透過測試資料線332或334耦接至一測試控制單元330、以及一控制端透過一控制線336耦接至測試控制單元330。

在顯示裝置300的製造過程中，測試電路302是用來測試畫素陣列104是否存在有缺陷的畫素。例如，當對畫素陣列104進行測試時，測試控制單元330可以透過控制線336傳送一具有第一準位的開關訊號SW給所有的開關312、314、316、318、320和322，而導通每一開關。另一方面，測試控制單元330會透過測試資料線332和334傳送測試資料訊號Data_Odd以及Data_Even到各開關所耦接的資料線。若是測試資料Data_Odd和Data_Even是要讓顯示裝置300顯示黑畫面，則若是檢測發現畫素陣列104有顯示白色的畫素時，就代表畫素陣列104存在具有缺陷的畫素。

在本實施例中，當顯示裝置300的檢測結束後，測試控制單元330會被禁能。此時，測試控制線332和334可以被耦接至一預設電壓的接點，例如是基板102上的接地接點，或是共同電壓Vcom的接點。另外，控制線336則被耦接至控制訊號Vg，並且此控制訊號Vg可以由源極驅動模組110所提供。當顯示裝置300被電壓啟動運作時，控制訊號Vg被維持在禁能的電位。此時，每一開關都會被禁能。相對地，當顯示裝置300的電源被關閉時，控制訊號Vg就會被切換至致能的電位，而將開關312、314、316、318、320和322導通，且測試控制線332和334被耦接至一預設電壓，該預設電壓，舉例而言，可以是一地電壓。如此一來，資料線DL1-DL6可以透過對應的開關而耦接至預設電壓，並且使得畫素陣列104中每一畫素所殘餘的電荷能夠被釋放出來。

雖然在以上的實施例中，測試資料線332和334是被耦接至基板102上的預設電壓接點，然而在其它實施例中，測試電壓線332和334也可以耦接至源極驅動模組110 上的預設電壓接點。此外，在一些實施例中，開關312、314、316、318、320和322可以分為第一組開關和第二組開關。例如，開關312、314和316被分為第一組開關，而開關318、320和322則被分為第二組開關。其中，第一組開關中之開關的第二端可以耦接至基板102左側的預設電壓接點，而第二組開關中之開關的第二端則可以耦接至基板102右側的預設電壓接點。

圖5繪示為依照本發明之一實施例的一種顯示裝置之操作方法的步驟流程圖。請參照圖5，本實施例所提供的操作方法可以適用於上述圖1或圖3所揭露的顯示裝置100或300。首先，如步驟S502所述，判斷顯示裝置是否電源關閉。若是顯示裝置為電源開啟而正常運作時(就是步驟S502所標示的”否”)，則進行步驟S504，就是使上述的控制訊號Vg維持在禁能的電位，而使得放電電路或測試電路中的開關被禁能。在一些實施例中，當步驟S504執行後，還可以如步驟S506所述，將預設電壓，例如是接地電壓或共同電壓，下拉至更低的電位。

相對地，若是在步驟S502進行時，判斷顯示裝置被電源關閉，無論是正常關閉或是不正常關閉，此時都會進行步驟S508，就是將控制訊號Vg切換至致能的電位，而導通放電電路或測試電路中的每一開關。如此一來，每一資料線都會被導通至預設電壓，以釋放每一畫素中的殘餘電荷。另外，在一些實施例中，還可以進行步驟S510，就是使源極驅動模組110輸出預設電壓到每一資料線，以進一步對各畫素進行放電。

102‧‧‧基板

104‧‧‧畫素陣列

106、108‧‧‧掃描控制模組

110‧‧‧源極驅動模組

112‧‧‧資料線

300‧‧‧顯示裝置

302‧‧‧測試電路

Claims (4)

1. 一種顯示裝置，包括：一基板；一畫素陣列，形成在該基板上，並配置有多個資料線；一源極驅動模組，配置在該基板上，並耦接該些資料線；以及一測試電路，配置在該基板上，並配置在該源極驅動模組和該畫素陣列之間，用以在該顯示裝置的製造過程中測試該畫素陣列中的每一畫素是否有缺陷，而該測試電路具有多個開關，分別耦接至該些資料線，且每一該些開關具有一第一端耦接對應之資料線、一第二端耦接至一預設電壓、以及一控制端耦接一控制訊號，其中當該顯示裝置被電源關閉時，該控制訊號會被致能，導致每一開關都被導通，並使得該些資料線被導通至該預設電壓，該些開關的第二端被耦接至該基板的一共同電壓端點。
2. 如申請專利範圍第1項所述之顯示裝置，其中該些開關之部分的第二端耦接至該基板之第一側的共同電壓端點，而該些開關之其餘的部分之第二端耦接至該基板之第二側的共同電壓端點。
3. 如申請專利範圍第1項所述之顯示裝置，其中對應於奇數條資料線之開關的第二端耦接至該基板的一第一共同電壓端點，而對應於偶數條資料線之開關的第二端耦接至該基 板的一第二共同電壓端點。
4. 一種顯示裝置，包括：一基板；一畫素陣列，形成在該基板上，並配置有多個資料線；一源極驅動模組，配置在該基板上，並耦接該些資料線；以及一放電電路，配置在該基板上，位於該源極驅動模組和該畫素陣列之間，並具有多個開關，分別耦接至該些資料線，且每一該些開關具有一第一端耦接對應之資料線、一第二端耦接至一預設電壓、以及一控制端耦接一控制訊號，其中當該顯示裝置被電源關閉時，該控制訊號會被致能，導致每一開關都被導通，並使得該些資料線被導通至該預設電壓，該些開關的第二端被耦接至該基板的一共同電壓端點。