CN102043292B - 主动元件阵列以及检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种主动元件阵列以及检测方法，所述一种主动元件阵列包括多条扫描线、多条数据线、多个像素结构、一第一检测线路、一第二检测线路、一第三检测线路以及一第四检测线路。各像素结构电连接其中一条扫描线与其中一条数据线。第一检测线路电连接奇数条的扫描线。第二检测线路电连接第4n+1条的扫描线。在此，n为0或正整数。第三检测线路电连接偶数条的扫描线。第四检测线路电连接第4n+2条的扫描线。本发明的主动元件阵列及检测方法可以有效地检测出线路中的缺陷，而有助于提升主动元件阵列的成品率。

Description

主动元件阵列以及检测方法

技术领域

本发明是有关于一种主动元件阵列及检测方法，且特别是有关于一种可有效检出短路缺陷的主动元件阵列及检测方法。

背景技术

一般而言，液晶显示面板包括一主动元件阵列基板、一对向基板及夹于两基板间的液晶层。主动元件阵列基板在制造完成之后必须对其主动元件阵列进行检测，以确定主动式液晶显示面板能正常地进行显示。

目前，主动元件阵列的检测多着眼于像素结构能否正常的进行显示。若主动元件阵列的其他线路出现缺陷，例如是短路或断路，往往会在液晶显示器或液晶显示面板组装完成后才会进一步被检测出来。

换言之，目前的检测方法中，主动元件阵列中某些传输线路上的缺陷是在液晶显示面板组装完成后才被检测出来。因此，这样的缺陷若使得产品无法正常运作则整个液晶显示面板必须报废，而浪费许多成本。特别是，在主动元件阵列的线路布局中，为了节省布线面积，传输线路必须紧密地排列。此时，线路之间的短路缺陷更容易出现而液晶显示面板的报废率以及成本的浪费也可能随之提升。

发明内容

本发明提供一种主动元件阵列，其检测线路设计可有效检测出线路间的缺陷。

本发明提供一种检测方法，可有效检测出主动元件阵列中的短路缺陷。

本发明提供一种主动元件阵列，其包括多条扫描线、多条数据线、多个像素结构、一第一检测线路、一第二检测线路、一第三检测线路以及一第四检测线路。扫描线彼此平行排列，以在扫描线的延伸方向上定义出相对的一第一区以及一第二区。数据线的延伸方向与扫描线的延伸方向相交，且数据线位于第一区以及第二区之间。像素结构位于第一区以及第二区之间，且各像素结构由其中一条扫描线与其中一条数据线驱动。第一检测线路位于第一区，并电连接奇数条的扫描线。第二检测线路位于第一区，并电连接第4n+1条的扫描线，在此，n为0或正整数。第三检测线路位于第二区，并电连接偶数条的扫描线。第四检测线路位于第二区，并电连接第4n+2条的扫描线。

本发明另提出一种检测方法，以检测如前所述的主动元件阵列。检测方法包括有以下步骤。由第一检测线路输入第一检测信号于奇数条的扫描线中，并判断与奇数条的扫描线连接的部分像素结构是否被点亮。由第二检测线路输入第二检测信号于第4n+1条的扫描线中，而与第4n+3条的扫描线连接的部分像素结构被点亮时，视为缺陷产生。由第三检测线路输入第三检测信号于偶数条的扫描线中，并判断与偶数条的扫描线连接的部分像素结构是否被点亮。由第四检测线路输入第四检测信号于第4n+2条的扫描线中，而与第4n+4条的扫描线连接的部分像素结构被点亮时，视为缺陷产生。

基于上述，本发明的主动元件阵列及检测方法可以有效地检测出线路中的缺陷，而有助于提升主动元件阵列的成品率。

附图说明

图1所示为本发明的一实施例的主动元件阵列。

附图标号

100：主动元件阵列          110：扫描线

120：数据线                122：第一数据线检测线路

124：第二数据线检测线路    130：像素结构

132：主动元件            134：像素电极

140：第一检测线路        142：第一检测线

144：第一检测垫          146：第一检测开关

150：第二检测线路        152：第二检测线

154：第二检测垫          156：第二检测开关

160：第三检测线路        162：第三检测线

164：第三检测垫          166：第三检测开关

170：第四检测线路        172：第四检测线

174：第四检测垫          176：第四检测开关

180：第一传输线路        190：第二传输线路

com：共用线路            Cs：储存电容

Ge：第三检测信号         Geh：第四检测信号

Go：第一检测信号         Goh：第二检测信号

R1：第一区               R2：第二区

SW：开关线路

具体实施方式

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附附图作详细说明如下。

图1所示为本发明的一实施例的主动元件阵列。请参照图1，主动元件阵列100包括多条扫描线110、多条数据线120、多个像素结构130、一第一检测线路140、一第二检测线路150、一第三检测线路160以及一第四检测线路170。扫描线110彼此平行排列，以在扫描线110的延伸方向上定义出相对的一第一区R1以及一第二区R2。换言之，第一区R1与第二区R2分别地位于扫描线110延伸方向上相对的两端。数据线120的延伸方向与扫描线110的延伸方向相交，且数据线120位于第一区R1以及第二区R2之间。像素结构130也是位于第一区R1以及第二区R2之间，且各像素结构130由其中一条扫描线110与其中一条数据线120驱动。

当主动元件阵列100应用于显示面板时，像素结构130是进行显示的主要元件。所以，像素结构130所在区域例如为显示区(未标示)，而第一区R1以及第二区R2则为不显示画面的非显示区(未标示)。实际上，像素结构130例如包括有主动元件132以及像素电极134。

第一检测线路140位于第一区R1，并电连接奇数条的扫描线110。第二检测线路150位于第一区R1，并电连接第4n+1条的扫描线110。第三检测线路160位于第二区R2，并电连接偶数条的扫描线110。第四检测线路170位于第二区R2，并电连接第4n+2条的扫描线110。在此，n为0或正整数。

在本实施例中，第一检测线路140与第三检测线路160例如由相似的构件所组成。第一检测线路140包括一第一检测线142、一第一检测垫144以及多个第一检测开关146。第一检测垫144位于第一检测线142的一端。第一检测开关146连接于奇数条的扫描线110与第一检测线142之间，以使第一检测信号Go由第一检测垫144经由第一检测线142以及第一检测开关146传送至奇数条的扫描线110。

第三检测线路160则包括一第三检测线162、一第三检测垫164以及多个第三检测开关166。第三检测线路160的各构件的连接关系与第一检测线路140相似，不过第三检测线路160是与偶数条的扫描线110电连接。也就是说，第三检测信号Ge是由第三检测垫164经由第三检测线162以及第三检测开关166传送至偶数条的扫描线110。

在本实施例中，第一检测开关146与第三检测开关166可以控制第一检测信号Go与第三检测信号Ge传送至对应的扫描线110与否。第一检测开关146与第三检测开关166例如都是由多个晶体管元件所组成。当然，在其他的实施例中，第一检测开关146与第三检测开关166也可以由其他可提供开关作用的元件所组成。

另外，第二检测线路150与第四检测线路170则例如是相似的设计。详言之，第二检测线路150包括一第二检测线152、一第二检测垫154以及多个第二检测开关156。第二检测垫154位于第二检测线152的一端。第二检测开关156连接于第4n+1条的扫描线110与第二检测线152之间，以使第二检测信号Goh由第二检测垫154经由第二检测线152以及第二检测开关156传送至第4n+1条的扫描线110。

相似地，第四检测线路170包括一第四检测线172、一第四检测垫174以及多个第四检测开关176，且这些元件的连接关系近似于第二检测线路150的设计。不过，第四检测线路170的设计使得第四检测信号Geh由第四检测垫174经由第四检测线172以及第四检测开关176传送至第4n+2条的扫描线110。在此，第二检测开关156以及第四检测开关176例如为多个二极管元件，但本发明不限于此。

第一检测线路140与第三检测线路160例如可以传送适当的检测信号(Go与Ge)来分别地检测连接奇数行的像素结构130与偶数行的像素结构130。一但奇数行的像素结构130中发生断线缺陷时，可以利用第一检测线路140检测出来。偶数行的像素结构130若发生断线缺陷也可以利用第二检测线路160检测出来。另外，当相邻两行像素结构130间发生短路缺陷时，也可以利用第一检测线路140与第三检测线路160检测出来。

举例来说，使用第一检测线路140进行检测时，第一检测信号Go应该只会传送至奇数条的扫描线110。也就是说，奇数行的像素结构130会被点亮。此时，奇数行的像素结构130若有任何一者未被点亮则表示断线缺陷发生。若有任何一个偶数行的像素结构130也被点亮，则表示有短路缺陷发生。同样的，使用第三检测线路160进行检测时，第三检测信号Gh应该只会使偶数行的像素结构130被点亮，而不会使奇数行的像素结构130被点亮。若有奇数行的像素结构130被点亮则表示有短路缺陷。

不过，第一检测线路140会同时将第一检测信号Go传送至第一条与第三条扫描线110。所以第一条与第三条扫描线110之间，也就是奇数条的扫描线110之间，发生短路情形，利用第一检测线路140无法被检测出来。同样地，偶数条的扫描线110之间所发生短路，也无法由第三检测线路160检测出来。

因此，主动元件阵列100中，第二检测线路150与第四检测线路170分别地连接每隔四条(every other four)的扫描线110。如此一来，奇数条的扫描线100之间若发生短路的情形或是偶数条的扫描现110之间发生短路的情形，则可通过第二检测线路150与第四检测线路170来进行检测。

举例而言，利用第二检测线路150进行检测时，第二检测信号Goh会被传送至第一、五……4n+1条扫描线110。因此，第一、五……4n+1行的像素结构130会被点亮。此时，若第一条与第三条扫描线110之间发生短路情形，则第三行的像素结构130也会被点亮。因此，奇数条扫描线110之间的短路缺陷可以有效率的被检测出来。相同地，偶数条扫描线110之间的缺陷也可以有效地利用第四检测线路170进行检测而检测出来。在本实施例中，第一检测信号Go与第三检测信号Ge可以相同，而第二检测信号Goh与第四检测信号Geh可以相同。

值得一提的是，受限于实际结构的设计，奇数条扫描线110之间的短路与偶数条扫描线110之间的短路往往不容易避免。主要是因为在结构设计上，主动元件阵列100更包括多条第一传输线路180以及多条第二传输线路190。第一传输线路180位于第一区R1中且连接奇数条的扫描线110。同时，第二传输线路190位于第二区R2中且连接偶数条的扫描线110。

第一传输线路180以及第二传输线路190会分别地连接至驱动主动元件阵列100用的驱动芯片(未绘示)，并将驱动芯片所提供的驱动信号传送至对应的扫描线110中。因此，各第一传输线路180应该为彼此电性独立的线路，且各第二传输线路190应该为彼此电性独立的线路以使主动元件阵列110可以正常地运作。

然而，第一区R1以及第二区R2不提供显示之用。在结构设计上，第一区R1以及第二区R2的宽度会尽可能的被压缩以减小非显示区所占面积并增加显示区的面积。因此，第一传输线路180以及第二传输线路190必需紧密地排列，而使得第一传输线路180以及第二传输线路190容易因为工艺上的误差而产生短路缺陷。

相邻第一传输线路180之间发生短路表示奇数条扫描线110之间发生短路，而相邻第二输线路190之间发生短路则表示偶数条扫描线110之间发生短路。这样的短路缺陷无法由第一检测线路140与第三检测线路160检出。因此，本实施例的第二检测线路150与第四检测线路170可以有效地将这样的短路缺陷检出而有助于提高主动元件阵列100的工艺效率。

除上述元件外，主动元件阵列100可以更包括有一第一数据线检测线路122以及一第二数据线检测线路124，其分别地连接奇数条数据线120以及偶数条数据线120。第一数据线检测线路122以及第二数据线检测线路124用以传送对应的检测信号于数据线120中。另外，主动元件阵列100还设有共用线路com，其与像素电极134共同构成储存电容Cs。此外，为了驱动这些检测线路的检测开关，主动元件阵列100还设有开关线路SW，以控制这些检测开关的开启与关闭。

综上所述，本发明的主动元件阵列中设有第二检测线路及第四检测线路，以分别检测奇数条的扫描线间、传输线间以及偶数条的扫描线间、传输线间是否有短路缺陷。因此，本发明的主动元件阵列及检测方法有助于降低因组装后才检测出线路缺陷而造成的成本负担。也因此，本发明的主动元件阵列具有相当不错的成品率。

虽然本发明已以实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何所属技术领域中的技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，故本发明的保护范围当以权利要求所界定范围为准。

Claims (10)

1.一种主动元件阵列，其特征在于，所述主动元件阵列包括：

多条扫描线，彼此平行排列，以在所述这些扫描线的延伸方向上定义出相对的一第一区以及一第二区；

多条数据线，所述这些数据线的延伸方向与所述这些扫描线的延伸方向相交，且所述这些数据线位于所述第一区以及所述第二区之间；

多个像素结构，位于所述第一区以及所述第二区之间，且各所述像素结构由其中一所述扫描线与其中一所述数据线驱动，其中所述多个像素结构依照其所连接的所述扫描线分为多群像素结构；

一第一检测线路，位于所述第一区，并电连接奇数条的所述这些扫描线，且奇数条的所述扫描线连接奇数群所述像素结构；

一第二检测线路，位于所述第一区，并电连接第4n+1条的所述这些扫描线，其中n为0或正整数，且第4n+1条的所述这些扫描线连接第4n+1群所述像素结构；

一第三检测线路，位于所述第二区，并电连接偶数条的所述这些扫描线，且偶数条的所述这些扫描线连接偶数群所述像素结构；以及

一第四检测线路，位于所述第二区，并电连接第4n+2条的所述这些扫描线，且第4n+2条的所述这些扫描线连接第4n+2群所述像素结构。

2.如权利要求1所述的主动元件阵列，其特征在于，所述第一检测线路包括：

一第一检测线；

一第一检测垫，所述第一检测垫位于所述第一检测线的一端；以及

多个第一检测开关，连接于奇数条的所述这些扫描线与所述第一检测线之间。

3.如权利要求2所述的主动元件阵列，其特征在于，所述这些第一检测开关为多个晶体管元件。

4.如权利要求1所述的主动元件阵列，其特征在于，所述第二检测线路包括：

一第二检测线；

一第二检测垫，所述第二检测垫位于所述第二检测线的一端；以及

多个第二检测开关，连接于第4n+1条的所述这些扫描线与所述第二检测线之间。

5.如权利要求4所述的主动元件阵列，其特征在于，所述这些第二检测开关为多个二极管元件。

6.如权利要求1所述的主动元件阵列，其特征在于，所述第三检测线路包括：

一第三检测线；

一第三检测垫，所述第三检测垫位于所述第三检测线的一端；以及

多个第三检测开关，连接于偶数条的所述这些扫描线与所述第三检测线之间。

7.如权利要求6所述的主动元件阵列，其特征在于，所述这些第三检测开关为多个晶体管元件。

8.如权利要求1所述的主动元件阵列，其特征在于，所述第四检测线路包括：

一第四检测线；

一第四检测垫，所述第四检测垫位于所述第四检测线的一端；以及

多个第四检测开关，连接于第4n+2条的所述这些扫描线与所述第四检测线之间。

9.如权利要求8所述的主动元件阵列，其特征在于，所述这些第四检测开关为多个二极管元件。

10.一种检测方法，其特征在于，所述检测方法检测如权利要求1所述的主动元件阵列，所述检测方法包括：

由所述第一检测线路输入第一检测信号于奇数条的所述这些扫描线中，并判断与奇数条的所述这些扫描线连接的奇数群所述像素结构是否被点亮；

由所述第二检测线路输入第二检测信号于第4n+1条的所述这些扫描线中，而与第4n+3条的所述这些扫描线连接的第4n+3群所述像素结构被点亮时，视为第4n+1条的所述这些扫描线与第4n+3条的所述这些扫描线之间发生短路；

由所述第三检测线路输入第三检测信号于偶数条的所述这些扫描线中，并判断与偶数条的所述这些扫描线连接的偶数群所述像素结构是否被点亮；以及

由所述第四检测线路输入第四检测信号于第4n+2条的所述这些扫描线中，而与第4n+4条的所述这些扫描线连接的第4n+4群所述像素结构被点亮时，视为第4n+2条的所述这些扫描线与第4n+4条的所述这些扫描线之间发生短路。

Images