CN113345357B - 一种显示面板的检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示面板的检测方法，包括：向第一子像素组电连接的扫描线提供非使能信号，向第二子像素组电连接的扫描线提供使能信号；向相同发光颜色的子像素电连接的数据线提供相同的数据信号，并获取子像素的发光亮度；根据子像素的发光亮度判断是否存在垂直连接不良的子像素。本发明提供的技术方案可以提高检出沿列方向相邻的两个子像素发生短路问题的概率，避免不良显示面板流出，减少人力和财力的损失。

Description

一种显示面板的检测方法

技术领域

本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板的检测方法。

背景技术

随着显示技术的发展，液晶显示面板、有机发光显示面板等类型的显示面板广泛应用于手机、电脑等显示装置中。由于显示面板的质量直接影响了显示装置的性能，因此，显示面板的检测变得尤其重要。

目前，在对显示面板进行不良检测时，一般同时点亮所有子像素，然后拍摄点灯后的图片，对图片进行处理后，通过图片进行不良的检出和判定。但是，如果上下相邻的两个子像素之间存在短路的现象，即垂直连接不良，现有检查方式不能区分子像素点亮是由于短路导致的，还是它自身也是正常，即无法检查出垂直连接不良问题，最终可能会导致具有垂直连接不良的显示面板大量漏出到模组工程，造成人力和财力的浪费。

发明内容

本发明的目的在于，提供一种显示面板的检测方法，其可以提高检出沿列方向相邻的两个子像素发生短路问题的概率，避免不良显示面板流出，减少人力和财力的损失。

为达上述目的，本发明采用以下技术方案：

提供一种显示面板的检测方法，所述显示面板包括多行多列子像素，沿行方向，位于同一行的所述子像素连接同一条扫描线，沿列方向，位于同一列的所述子像素连接同一条数据线；所述显示面板包括沿所述列方向交替排列的第一子像素组和第二子像素组，所述第一子像素组和所述第二子像素组均包括n行所述子像素；其中，n为正整数；

向所述第一子像素组电连接的所述扫描线提供非使能信号，向所述第二子像素组电连接的所述扫描线提供使能信号；

向相同发光颜色的所述子像素电连接的所述数据线提供相同的数据信号，并获取所述子像素的发光亮度；

根据所述子像素的发光亮度判断是否存在垂直连接不良的子像素。

作为显示面板的检测方法的一种优选方案，所述根据所述子像素的发光亮度判断是否存在垂直连接不良的子像素包括：

判断属于所述第一子像素组的所述子像素的所述发光亮度是否大于第一阈值；

若是，则确定该所述子像素为第一疑似短路子像素；

确定与所述第一疑似短路子像素沿所述列方向相邻且属于所述第二子像素组的所述子像素为第二疑似短路子像素；

判断所述第二疑似短路子像素的所述发光亮度是否小于与其发光颜色相同的其它所述子像素的所述发光亮度；

若是，确定所述第一疑似短路子像素和所述第二疑似短路子像素为所述垂直连接不良的子像素。

作为显示面板的检测方法的一种优选方案，还包括：

若所述第二疑似短路子像素的所述发光亮度等于与其发光颜色相同的其它所述子像素的所述发光亮度，则记录所述第一疑似短路子像素的位置。

作为显示面板的检测方法的一种优选方案，还包括：

记录所述垂直连接不良的子像素的位置。

作为显示面板的检测方法的一种优选方案，n＝1或2。

作为显示面板的检测方法的一种优选方案，所述子像素包括红色子像素、绿色子像素、蓝色子像素和白色子像素；

所述向相同发光颜色的所述子像素电连接的所述数据线提供相同的数据信号，并获取所述子像素的发光亮度包括：

向各所述红色子像素电连接的所述数据线提供相同的数据信号，并获取所述红色子像素的发光亮度；

向各所述绿色子像素电连接的所述数据线提供相同的数据信号，并获取所述绿色子像素的发光亮度；

向各所述蓝色子像素电连接的所述数据线提供相同的数据信号，并获取所述蓝色子像素的发光亮度；

向各所述白色子像素电连接的所述数据线提供相同的数据信号，并获取所述白色子像素的发光亮度。

作为显示面板的检测方法的一种优选方案，所述向所述第一子像素组电连接的所述扫描线提供非使能信号，向所述第二子像素组电连接的所述扫描线提供使能信号之前还包括：

控制同一所述第一子像素组电连接的所述扫描线短接；和/或；

控制同一所述第二子像素组电连接的所述扫描线短接。

作为显示面板的检测方法的一种优选方案，所述向所述第一子像素组电连接的所述扫描线提供非使能信号，向所述第二子像素组电连接的所述扫描线提供使能信号之前还包括：

控制至少两个所述第一子像素组电连接的所述扫描线短接；和/或；

控制至少两个所述第二子像素组电连接的所述扫描线短接。

作为显示面板的检测方法的一种优选方案，控制至少两个所述第一子像素组电连接的所述扫描线短接包括：

沿所述列方向，控制中间间隔一个所述第一子像素组以及两个第二子像素组的两个所述第一子像素组电连接的所述扫描线短接；

所述控制至少两个所述第二子像素组电连接的所述扫描线短接包括：

沿所述列方向，控制中间间隔两个所述第一子像素组以及一个第二子像素组的两个所述第二子像素组电连接的所述扫描线短接。

作为显示面板的检测方法的一种优选方案，所述显示面板的检测方法还包括：

向所述第一子像素组以及所述第二子像素组电连接的所述扫描线提供所述使能信号；

向相同发光颜色的所述子像素电连接的所述数据线提供相同的数据信号，并获取所述子像素的发光亮度；

根据所述子像素的发光亮度判断是否存在坏点子像素。

本发明的有益效果为：通过向第一子像素组电连接的扫描线提供非使能信号，向第二子像素组电连接的扫描线提供使能信号，以使当第一子像素组中的子像素存在垂直连接不良时会点亮，从而检出垂直连接不良，解决现有技术中无法检出垂直连接不良的弊端，实现提高检出垂直连接不良的概率，避免不良显示面板流出，减少人力和财力的损失的效果。

附图说明

图1是本发明实施例提供的一种显示面板的检测方法的流程图；

图2是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；

图3是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图4是本发明实施例提供的一种具有垂直连接不良问题的显示面板的点亮示意图；

图5是本发明实施例提供的另一种显示面板的检测方法的流程图；

图6是本发明实施例提供的一种点亮子像素后拍摄照片的示意图；

图7是本发明实施例提供的一种点亮红色子像素后拍摄照片的示意图；

图8是本发明实施例提供的一种点亮绿色子像素后拍摄照片的示意图；

图9是本发明实施例提供的一种点亮蓝色子像素后拍摄照片的示意图；

图10是本发明实施例提供的一种点亮白色子像素后拍摄照片的示意图；

图11是本发明实施例提供的另一种点亮红色子像素后拍摄照片的示意图；

图12是本发明实施例提供的另一种点亮绿色子像素后拍摄照片的示意图；

图13是本发明实施例提供的另一种点亮蓝色子像素后拍摄照片的示意图；

图14是本发明实施例提供的另一种点亮白色子像素后拍摄照片的示意图；

图2-图4、以及图6-图14中：

SCAN、扫描线；DATA、数据线；PZ1、第一子像素组；PZ2、第二子像素组；P、子像素；R、红色子像素；G、绿色子像素；B、蓝色子像素；W、白色子像素；EN、使能信号；NEN、非使能信号。

具体实施方式

参考下面结合附图详细描述的实施例，本发明的优点和特征以及实现它们的方法将变得显而易见。然而，本发明不限于以下公开的实施例，而是可以以各种不同的形式来实现，提供本实施例仅仅是为了完成本发明的公开并且使本领域技术人员充分地了解本发明的范围，并且本发明仅由权利要求的范围限定。相同的附图标记在整个说明书中表示相同的构成要素。

以下，参照附图来详细描述本发明。

图1是本发明实施例提供的一种显示面板的检测方法的流程图。参见图1，该显示面板的检测方法具体包括如下步骤：

S110、向第一子像素组电连接的扫描线提供非使能信号，向第二子像素组电连接的扫描线提供使能信号。

具体的，该显示面板的检测方法可以用于检测液晶显示面板、有机发光显示面板、或者其它本领域技术人员可知类型的显示面板，此处不作限定。

示例性的，图2是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图。图3是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图。参见图2和图3，显示面板包括多行多列子像素P，沿行方向，位于同一行的子像素P连接同一条扫描线SCAN，沿列方向，位于同一列的子像素P连接同一条数据线DATA；显示面板包括沿列方向交替排列的第一子像素组PZ1和第二子像素组PZ2，第一子像素组PZ1和第二子像素组PZ2均包括n行子像素P；其中，n为正整数。需要说明的是，图2中仅示例性示出了n＝1，图3中仅示例性示出了n＝2，但并不限于此，本领域技术人员可根据实际情况设置n的具体值，只要n小于等于显示面板包含的子像素P的行数的一半即可。还需要说明的是，图2和图3中仅示例性示出了子像素P包括红色子像素R、绿色子像素G、蓝色子像素B以及白色子像素W，但并不限于此，本领域技术人员可根据实际情况设置子像素P的发光颜色。还需要说明的是，图2和图3中仅示例性示出了，位于图中最上方的是第一子像素组PZ1，但并不限于此，还可以设置位于图中最上方的是第二子像素组PZ2。

具体的，子像素P通常包括驱动电路，当子像素P无不良问题时，使能信号EN使得驱动电路工作，从而驱动子像素P发光，非使能信号NEN使得驱动电路不工作，从而使得子像素P不发光。

S120、向相同发光颜色的子像素电连接的数据线提供相同的数据信号，并获取子像素的发光亮度。

具体的，当驱动电路正常工作时，其可根据数据信号控制子像素P的发光亮度。理论上，对于无不良问题的相同发光颜色的子像素P而言，若它们接收的数据信号相同，则它们的发光亮度相同。

S130、根据子像素的发光亮度判断是否存在垂直连接不良的子像素。

可以理解的是，由于第一子像素组PZ1中的子像素P接收非使能信号NEN，因此，若第一子像素组PZ1中的子像素P不存在垂直连接不良问题，则第一子像素组PZ1中的子像素P应当不发光；若第一子像素组PZ1中的子像素P存在垂直连接不良问题，则第一子像素组PZ1中的子像素P会发光。如此，可检测出垂直连接不良问题。还可以理解的是，检测只需点亮第一子像素组PZ1和第二子像素组PZ2中的一组，检测方式更简单。

示例性的，图4是本发明实施例提供的一种具有垂直连接不良问题的显示面板的点亮示意图。其中，为清楚示意发光和不发光的子像素P，采用点状填充图案代表发光的子像素P，采用斜线填充图案代表不发光的子像素P。参见图4，位于第五行第三列的子像素P(发光的蓝色子像素B)属于第一子像素组PZ1，当其不具有垂直连接不良时应当不发光，然而，其呈发光状态，因此，可以判定该子像素P垂直连接不良，即该子像素P与第四行第三列的子像素P存在垂直连接不良问题。

本发明实施例提供的显示面板的检测方法，通过向第一子像素组PZ1电连接的扫描线SCAN提供非使能信号NEN，向第二子像素组PZ2电连接的扫描线SCAN提供使能信号EN，以使当第一子像素组PZ1中的子像素P存在垂直连接不良时会点亮，从而检出垂直连接不良，解决现有技术中无法检出垂直连接不良的现象，实现提高检出垂直连接不良的概率，避免不良显示面板流出，减少人力和财力的损失的效果。

图5是本发明实施例提供的另一种显示面板的检测方法的流程图。参见图5，该显示面板的检测方法具体包括如下步骤：

S210、向第一子像素组电连接的扫描线提供非使能信号，向第二子像素组电连接的扫描线提供使能信号。

S220、向相同发光颜色的子像素电连接的数据线提供相同的数据信号，并获取子像素的发光亮度。

具体的，S220的具体实施方式，本领域技术人员可根据实际情况设置，此处不作限定。下面将就典型示例进行说明。

可选的，子像素P包括红色子像素R、绿色子像素G、蓝色子像素B和白色子像素W；S220具体包括：

S2211、向各数据线DATA提供相同的数据信号。

S2212、获取红色子像素R、绿色子像素G、蓝色子像素B、以及白色子像素W的发光亮度。

具体的，将显示面板中的各发光颜色的子像素P点亮之后，拍摄图片，对图片进行处理后即可得到各子像素P的发光亮度。示例性的，图6是本发明实施例提供的一种点亮子像素后拍摄照片的示意图。其中，图6以及后文将要描述的图7-图10中为清楚示意发光和不发光的子像素P，采用点状填充图案、白色填充图案代表发光的子像素P，并且白色填充图案的子像素P的发光亮度小于点状填充图案的子像素P的发光亮度，采用斜线填充图案代表不发光的子像素P。参见图6，位于第二行第一列以及位于第六行第八列且属于第一子像素组PZ1中的子像素P发光，其它属于第一子像素组PZ1中的子像素P不发光，属于第二子像素组PZ2中的子像素P发光。

可以理解的是，同时点亮红色子像素R、绿色子像素G、蓝色子像素B以及白色子像素W，有利于缩短获得各发光颜色的子像素P的发光亮度所用总时长，有利于缩减显示面板检测时间，提高检测效率。

可选的，子像素P包括红色子像素R、绿色子像素G、蓝色子像素B和白色子像素W；S220具体包括：

S2221、向各红色子像素R电连接的数据线DATA提供相同的数据信号，并获取红色子像素R的发光亮度。

具体的，将显示面板中的红色子像素R点亮之后，拍摄图片，对图片进行处理后即可得到红色子像素R的发光亮度。示例性的，图7是本发明实施例提供的一种点亮红色子像素后拍摄照片的示意图。参见图7，绿色子像素G、蓝色子像素B、以及白色子像素W不发光，属于第一子像素组PZ1中的红色子像素R不发光，属于第二子像素组PZ2中的红色子像素R发光。

S2222、向各绿色子像素G电连接的数据线DATA提供相同的数据信号，并获取绿色子像素G的发光亮度。

具体的，将显示面板中的绿色子像素G点亮之后，拍摄图片，对图片进行处理后即可得到绿色子像素G的发光亮度。示例性的，图8是本发明实施例提供的一种点亮绿色子像素后拍摄照片的示意图。参见图8，红色子像素R、蓝色子像素B、以及白色子像素W不发光，位于第五行第二列且属于第一子像素组PZ1中的绿色子像素G发光，其它属于第一子像素组PZ1中的绿色子像素G不发光，属于第二子像素组PZ2中的绿色子像素G发光。

S2223、向各蓝色子像素B电连接的数据线DATA提供相同的数据信号，并获取蓝色子像素B的发光亮度。

具体的，将显示面板中的蓝色子像素B点亮之后，拍摄图片，对图片进行处理后即可得到蓝色子像素B的发光亮度。示例性的，图9是本发明实施例提供的一种点亮蓝色子像素后拍摄照片的示意图。参见图9，红色子像素R、绿色子像素G、以及白色子像素W不发光，属于第一子像素组PZ1中的蓝色子像素B不发光，属于第二子像素组PZ2中的蓝色子像素B发光。

S2224、向各白色子像素W电连接的数据线DATA提供相同的数据信号，并获取白色子像素W的发光亮度。

具体的，将显示面板中的白色子像素W点亮之后，拍摄图片，对图片进行处理后即可得到白色子像素W的发光亮度。示例性的，图10是本发明实施例提供的一种点亮白色子像素后拍摄照片的示意图。参见图10，红色子像素R、绿色子像素G、以及蓝色子像素B不发光，位于第二行第八列且属于第一子像素组PZ1中的白色子像素W发光，其它属于第一子像素组PZ1中的白色子像素W不发光，属于第二子像素组PZ2中的白色子像素W发光。

可以理解的是，分时点亮红色子像素R、绿色子像素G、蓝色子像素B和白色子像素W，可更准确地获取各种发光颜色的子像素P的发光亮度。

需要说明的是，S2221、S2222、S2223、S2224的执行顺序本领域技术人员可根据实际情况设置，此处不作限定。示例性的，按照S2221、S2222、S2223、S2224顺序依次执行，或者，按照S2222、S2221、S2223、S2224顺序依次执行等。还需要说明的是，当显示面板中的子像素P的发光颜色为其它设置方式时，获取子像素P的发光亮度的具体实施方式可参照显示面板中的子像素P的发光颜色为红色子像素R、绿色子像素G、蓝色子像素B和白色子像素W时示例的两种获取方式，此处不再赘述。

S230、判断属于第一子像素组的子像素的发光亮度是否大于第一阈值。

具体的，第一阈值的具体值本领域技术人员可根据实际情况设置，此处不作限定。示例性的，第一阈值为0。

S240、若是，则确定该子像素为第一疑似短路子像素。

具体的，属于第一子像素组PZ1的任一子像素P，若其发光亮度大于第一阈值，则可确定其为第一疑似短路子像素。

S250、确定与第一疑似短路子像素沿列方向相邻且属于第二子像素组的子像素为第二疑似短路子像素。

S260、判断第二疑似短路子像素的发光亮度是否小于与其发光颜色相同的其它子像素的发光亮度。

具体的，这里所述的其它子像素P指的是，第二子像素组PZ2中除第二疑似短路子像素P之外、与该第二疑似短路子像素发光颜色相同的子像素P，可以称之为参考子像素。需要说明的是，将第二疑似短路子像素的发光亮度与哪个参考子像素的发光亮度相比较，本领域技术人员可根据实际情况设置，此处不作限定。可选的，S260具体包括，确定与该第二疑似短路子像素位于同一行且发光颜色相同的参考子像素为第一参考子像素；判断第二疑似短路子像素的发光亮度是否小于第一参考子像素的发光亮度。可以理解的是，第二疑似短路子像素与第一参考子像素理论上接收相同的使能信号EN以及相同的数据信号，若第二疑似短路子像素与第一疑似短路子像素未发生短路，相比于其它参考子像素，第二疑似短路子像素的发光亮度与第一参考子像素的发光亮度最接近，因此，将第一参考子像素作为比对对象，可使检测精度更高。

可选的，若第二疑似短路子像素的发光亮度小于与其发光颜色相同的其它子像素P的发光亮度，则进一步判断第二疑似短路子像素的发光亮度与参考子像素的发光亮度之差是否大于第二阈值，若是，再执行S270。可以理解的是，在实际发光亮度检测过程中，由于发光亮度检测精度不足或者检测误差等因素，可能会导致两良性且发光颜色相同的子像素P的发光亮度存在微小误差，进而误判第二疑似短路子像素的发光亮度和与其发光颜色相同的其它子像素P的发光亮度存在差异，然而，通过设置第二阈值，可避免该误判现象，进而避免过检问题。需要说明的是，本领域技术人员可根据实际实际情况设置第二阈值的具体值。

S270、若是，确定第一疑似短路子像素和第二疑似短路子像素为垂直连接不良的子像素。

具体的，在实际检测过程中，第一疑似短路子像素发光有可能是垂直连接不良导致的，也有可能是噪声、或者其它扫描线SCAN对与第一疑似短路子像素电连接的扫描线SCAN干扰导致的。然而，本申请中经研究发现，当第一疑似短路子像素和第二疑似短路子像素垂直连接不良(即短路)时，会导致第二疑似短路子像素的发光亮度下降。因此，当同时满足第一子像素组PZ1中出现第一疑似短路子像素，以及第二疑似短路子像素的发光亮度偏低时，再确定第一疑似短路子像素和第二疑似短路子像素为垂直连接不良的子像素，可避免过检问题。

示例性的，如图6所示，位于第二行第一列且属于第一子像素组PZ1中的子像素P发光，且其发光亮度大于第一阈值，同时，位于第三行第一列且属于第二子像素组PZ2中的子像素P的发光亮度小于与其发光颜色相同的其它子像素P的发光亮度，则可确定该两个子像素P垂直连接不良。同理，可确定图6中位于第六行第八列的子像素P和位于第七行第八列的子像素P垂直连接不良。可确定图8中位于第四行第二列的子像素P和位于第五行第二列的子像素P垂直连接不良。可确定图10中位于第二行第八列的子像素P和位于第三行第八列的子像素P垂直连接不良。图7和图9中不存在垂直连接不良的子像素P。

可选的，该显示面板的检测方法还包括：若第二疑似短路子像素P的发光亮度等于与其发光颜色相同的其它子像素P的发光亮度，则记录第一疑似短路子像素P的位置。

可选的，若第二疑似短路子像素的发光亮度小于等于与其发光颜色相同的其它子像素P的发光亮度，则进一步判断第二疑似短路子像素的发光亮度与参考子像素的发光亮度之差是否小于等于第二阈值，若是，则记录第一疑似短路子像素P的位置。

可以理解的是，记录下第一疑似短路子像素P的位置之后，本领域技术人员可对第一疑似短路子像素P的结构重点进行分析，以免其具有其它不良问题，进而降低漏检的概率。

可选的，该显示面板的检测方法还包括：记录垂直连接不良的子像素P的位置。

可以理解的是，记录下垂直连接不良的子像素P的位置之后，本领域技术人员可对垂直连接不良的子像素P的结构重点进行分析，对找出产生垂直连接不良的子像素P的原因、以及改进方法的提出有重要指导意义，并且还可通过激光或者其它本领域技术人员可知的方式修复垂直连接不良的子像素P。

在上述技术方案的基础上，可选的，n＝1或2。

可以理解的是，当n＝2时，第一子像素组PZ1中的任意子像素P与第二子像素组PZ2中的子像素P连接不良的问题均可被检出，当n＝1时，任意两沿列方向相邻的子像素P垂直连接不良的问题均可被检出，如此，有利于降低不良显示面板漏出的概率。

在上述技术方案的基础上，可选的，向第一子像素组PZ1电连接的扫描线SCAN提供非使能信号NEN，向第二子像素组PZ2电连接的扫描线SCAN提供使能信号EN之前还包括：控制同一第一子像素组PZ1电连接的扫描线SCAN短接；和/或；控制同一第二子像素组PZ2电连接的扫描线SCAN短接，如图4所示。

其中，n≥2。具体的，控制同一第一子像素组PZ1(第二子像素组PZ2)电连接的扫描线SCAN短接的具体实现方式本领域技术人员可根据实际情况设置，此处不作限定。

可以理解的是，相比于扫描线SCAN与用于向显示面板提供非使能信号NEN的第一信号端子一一对应设置，控制同一第一子像素组PZ1电连接的扫描线SCAN短接，可使第一信号端子的数量减少，有利于简化第一信号端子和扫描线SCAN之间的连接线路，从而减少检测显示面板之前的准备工作的工作量。同理，相比于扫描线SCAN与用于向显示面板提供使能信号EN的第二信号端子一一对应设置，控制同一第二子像素组PZ2电连接的扫描线SCAN短接，可使第二信号端子的数量减少，有利于简化第二信号端子和扫描线SCAN之间的连接线路，从而减少检测显示面板之前的准备工作的工作量。

可选的，向第一子像素组PZ1电连接的扫描线SCAN提供非使能信号NEN，向第二子像素组PZ2电连接的扫描线SCAN提供使能信号EN之前还包括：控制至少两个第一子像素组PZ1电连接的扫描线SCAN短接；和/或；控制至少两个第二子像素组PZ2电连接的扫描线SCAN短接，如图3和图4所示。

具体的，控制至少两个第一子像素组PZ1(第二子像素组PZ2)电连接的扫描线SCAN短接的具体实现方式、以及哪几个第一子像素组PZ1(第二子像素组PZ2)电连接的扫描线SCAN短接，本领域技术人员均可根据实际情况设置，此处不作限定。

可以理解的是，控制至少两个第一子像素组PZ1电连接的扫描线SCAN短接可进一步减少第一信号端子的数量，从而进一步简化第一信号端子和扫描线SCAN之间的连接线路。同理，控制至少两个第二子像素组PZ2电连接的扫描线SCAN短接可进一步减少第二信号端子的数量，从而进一步简化第二信号端子和扫描线SCAN之间的连接线路。

可选的，控制至少两个第一子像素组PZ1电连接的扫描线SCAN短接包括：沿列方向，控制中间间隔一个第一子像素组PZ1以及两个第二子像素组PZ2的两个第一子像素组PZ1电连接的扫描线SCAN短接；控制至少两个第二子像素组PZ2电连接的扫描线SCAN短接包括：沿列方向，控制中间间隔两个第一子像素组PZ1以及一个第二子像素组PZ2的两个第二子像素组PZ2电连接的扫描线SCAN短接，如图4所示。

可以理解的是，上述设置方式可使连接同一第一信号端子(第二信号端子)的两个第一子像素组PZ1(第二子像素组PZ2)的距离较近，有利于缩短将该两个子像素P组的扫描线SCAN短接的线路的长度，从而降低非使能信号NEN(使能信号EN)的损耗。

在上述技术方案的基础上，可选的，显示面板的检测方法还包括：向第一子像素组PZ1以及第二子像素组PZ2电连接的扫描线SCAN提供使能信号EN；向相同发光颜色的子像素P电连接的数据线DATA提供相同的数据信号，并获取子像素P的发光亮度；根据子像素P的发光亮度判断是否存在坏点子像素P。

示例性的，子像素P包括红色子像素R、绿色子像素G、蓝色子像素B和白色子像素W；向第一子像素组PZ1以及第二子像素组PZ2电连接的扫描线SCAN提供使能信号EN；向各红色子像素R电连接的数据线DATA提供相同的数据信号，并获取红色子像素R的发光亮度；向各绿色子像素G电连接的数据线DATA提供相同的数据信号，并获取绿色子像素G的发光亮度；向各蓝色子像素B电连接的数据线DATA提供相同的数据信号，并获取蓝色子像素B的发光亮度；向各白色子像素W电连接的数据线DATA提供相同的数据信号，并获取白色子像素W的发光亮度。

具体的，将显示面板中的红色子像素R点亮之后，拍摄图片，对图片进行处理后即可得到红色子像素R的发光亮度。获取绿色子像素G的发光亮度、蓝色子像素B的发光亮度、以及白色子像素W的发光亮度的方式可参照该获取红色子像素R的发光亮度的具体方式，此处不再赘述。示例性的，图11是本发明实施例提供的另一种点亮红色子像素R后拍摄照片的示意图。图12是本发明实施例提供的另一种点亮绿色子像素G后拍摄照片的示意图。

图13是本发明实施例提供的另一种点亮蓝色子像素B后拍摄照片的示意图。图14是本发明实施例提供的另一种点亮白色子像素W后拍摄照片的示意图。后续根据图11-图14检测坏点子像素P的具体实施方式本领域技术人员可个根据实际情况设置，此处不作限定。

尽管上面已经参考附图描述了本发明的实施例，但是本发明不限于以上实施例，而是可以以各种形式制造，并且本领域技术人员将理解，在不改变本发明的技术精神或基本特征的情况下，可以以其他特定形式来实施本发明。因此，应该理解，上述实施例在所有方面都是示例性的而不是限制性的。

Claims (9)

1.一种显示面板的检测方法，所述显示面板包括多行多列子像素，沿行方向，位于同一行的所述子像素连接同一条扫描线，沿列方向，位于同一列的所述子像素连接同一条数据线；

所述显示面板包括沿所述列方向交替排列的第一子像素组和第二子像素组，所述第一子像素组和所述第二子像素组均包括n行所述子像素；其中，n为正整数；其特征在于，

向所述第一子像素组电连接的所述扫描线提供非使能信号，向所述第二子像素组电连接的所述扫描线提供使能信号；

向相同发光颜色的所述子像素电连接的所述数据线提供相同的数据信号，并获取所述子像素的发光亮度；

根据所述子像素的发光亮度判断是否存在垂直连接不良的子像素；

所述根据所述子像素的发光亮度判断是否存在垂直连接不良的子像素包括：

判断属于所述第一子像素组的所述子像素的所述发光亮度是否大于第一阈值；

若是，则确定该所述子像素为第一疑似短路子像素；

确定与所述第一疑似短路子像素沿所述列方向相邻且属于所述第二子像素组的所述子像素为第二疑似短路子像素；

判断所述第二疑似短路子像素的所述发光亮度是否小于与其发光颜色相同的其它所述子像素的所述发光亮度；

若是，确定所述第一疑似短路子像素和所述第二疑似短路子像素为所述垂直连接不良的子像素。

2.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，还包括：

若所述第二疑似短路子像素的所述发光亮度等于与其发光颜色相同的其它所述子像素的所述发光亮度，则记录所述第一疑似短路子像素的位置。

3.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，还包括：

记录所述垂直连接不良的子像素的位置。

4.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，n＝1或2。

5.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述子像素包括红色子像素、绿色子像素、蓝色子像素和白色子像素；

所述向相同发光颜色的所述子像素电连接的所述数据线提供相同的数据信号，并获取所述子像素的发光亮度包括：

向各所述红色子像素电连接的所述数据线提供相同的数据信号，并获取所述红色子像素的发光亮度；

向各所述绿色子像素电连接的所述数据线提供相同的数据信号，并获取所述绿色子像素的发光亮度；

向各所述蓝色子像素电连接的所述数据线提供相同的数据信号，并获取所述蓝色子像素的发光亮度；

向各所述白色子像素电连接的所述数据线提供相同的数据信号，并获取所述白色子像素的发光亮度。

6.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述向所述第一子像素组电连接的所述扫描线提供非使能信号，向所述第二子像素组电连接的所述扫描线提供使能信号之前还包括：

控制同一所述第一子像素组电连接的所述扫描线短接；和/或；

控制同一所述第二子像素组电连接的所述扫描线短接。

7.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述向所述第一子像素组电连接的所述扫描线提供非使能信号，向所述第二子像素组电连接的所述扫描线提供使能信号之前还包括：

控制至少两个所述第一子像素组电连接的所述扫描线短接；和/或；

控制至少两个所述第二子像素组电连接的所述扫描线短接。

8.根据权利要求7所述的显示面板的检测方法，其特征在于，控制至少两个所述第一子像素组电连接的所述扫描线短接包括：

沿所述列方向，控制中间间隔一个所述第一子像素组以及两个第二子像素组的两个所述第一子像素组电连接的所述扫描线短接；

所述控制至少两个所述第二子像素组电连接的所述扫描线短接包括：

沿所述列方向，控制中间间隔两个所述第一子像素组以及一个第二子像素组的两个所述第二子像素组电连接的所述扫描线短接。

9.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述显示面板的检测方法还包括：

向所述第一子像素组以及所述第二子像素组电连接的所述扫描线提供所述使能信号；

向相同发光颜色的所述子像素电连接的所述数据线提供相同的数据信号，并获取所述子像素的发光亮度；

根据所述子像素的发光亮度判断是否存在坏点子像素。

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