CN107065313B - 一种显示面板的测试电路及测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种显示面板的测试电路及测试方法，测试电路包括：多个开关单元；多条第一测试引线；多个第一测试垫；第二测试垫和第二测试引线；其中，每一显示面板对应一所述开关单元、一所述第一测试引线以及一所述第一测试垫；且每一所述第一测试引线与对应的所述显示面板电连接；每一所述第一测试垫与对应所述开关单元的输出端以及对应的所述第一测试引线电连接；所述第二测试垫和所述第二测试引线均与多个所述开关单元的输入端电连接。本发明提供的显示面板的测试电路及测试方法，实现了在进行阵列测试时分别对每个显示面板进行测试，在进行液晶分子取向时同时对多个显示面板内形成预倾角。

Description

一种显示面板的测试电路及测试方法
技术领域
本发明实施例涉及显示技术，尤其涉及一种显示面板的测试电路及测试方法。
背景技术
制作显示面板的过程中需要对显示面板进行液晶分子取向，其过程可以采用如下步骤：在阵列基板和彩膜基板之间施加一电压或电流信号，阵列基板和/或彩膜基板上具有配向膜，配向膜在上述电压或电流作用下形成聚合物凸起，从而形成预倾角，预倾角能够使位于阵列基板和彩膜基板之间的液晶分子按照特定方向排列，进而提高显示面板的显示品质。在进行液晶分子取向时，每个显示面板都需要一个单独的引线以及与该引线相连接的焊盘。这样就造成线路繁多，现有的一种解决方式是将一条引线连接多个显示面板。
但是采用将一条引连接多个显示面板的方式存在如下问题：在对显示面板进行阵列测试时，多个显示面板之间由于由一条引线相连接因而存在测试信号干扰的问题。
发明内容
本发明实施例提供一种显示面板的测试电路及测试方法，以实现在进行阵列测试时分别对每个显示面板进行测试，在进行液晶分子取向时同时对多个显示面板进行测试。
第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板的测试电路，包括：
多个开关单元；
多条第一测试引线；
多个第一测试垫；
第二测试垫和第二测试引线；
其中，每一显示面板对应一所述开关单元、一所述第一测试引线以及一所述第一测试垫；且每一所述第一测试引线与对应的所述显示面板电连接；每一所述第一测试垫与对应所述开关单元的输出端以及对应的所述第一测试引线电连接；所述第二测试垫和所述第二测试引线均与多个所述开关单元的输入端电连接。
可选地，所述测试电路还包括多个第三测试垫，每一显示面板对应一所述第三测试垫，每一所述第三测试垫与对应的所述开关单元的输入端电连接；
所述第一测试垫和所述第三测试垫相邻设置。
可选地，所述开关单元为三极管；所述三极管的输入端和控制端短接作为所述开关单元的输入端；所述三极管的输出端为所述开关单元的输出端。
可选地，所述开关单元为二极管；所述二极管的输入端为所述开关单元的输入端，所述二极管的输出端为所述开关单元的输出端。
可选地，所述多个第一测试垫沿所述第二测试引线的延伸方向阵列排布。
第二方面，本发明实施例还提供了一种显示面板的测试方法，显示面板的测试电路包括：多个开关单元；
多条第一测试引线；
多个第一测试垫；
第二测试垫和第二测试引线；
其中，每一显示面板对应一所述开关单元、一所述第一测试引线以及一所述第一测试垫；且每一所述第一测试引线与对应的所述显示面板电连接；每一所述第一测试垫与对应所述开关单元的输出端以及对应的所述第一测试引线电连接；所述第二测试垫和所述第二测试引线均与多个所述开关单元的输入端电连接；
所述方法包括：在对所述显示面板进行阵列测试时，控制多个所述开关单元关闭，并通过多个所述第一测试垫施加第一测试信号到与所述第一测试垫相对应的所述显示面板；
在对所述显示面板进行液晶分子取向时，控制所述多个开关单元导通，并通过所述第二测试垫将第二测试信号施加到多个所述显示面板。
可选地，在对所述显示面板进行阵列测试时，通过所述第二测试垫输入控制信号，控制多个所述开关单元关闭，并通过多个所述第一测试垫施加第一测试信号到与所述第一测试垫相对应的所述显示面板；
在对所述显示面板进行液晶分子取向时，通过所述第二测试垫输入所述第二测试信号控制所述多个开关单元导通，并将第二测试信号施加到多个所述显示面板。
可选地，所述测试电路还包括多个第三测试垫，每一显示面板对应一所述第三测试垫，每一所述第三测试垫与对应的所述开关单元的输入端电连接；所述第一测试垫和所述第三测试垫相邻设置；
在对所述显示面板进行阵列测试时，通过所述第三测试垫输入控制信号，控制多个所述开关单元关闭，并通过多个所述第一测试垫施加第一测试信号到与所述第一测试垫相对应的所述显示面板；
在对所述显示面板进行液晶分子取向时，通过所述第二测试垫输入所述第二测试信号控制所述多个开关单元导通，并将第二测试信号施加到多个所述显示面板。
可选地，所述开关单元为三极管；所述三极管的输入端和控制端短接作为所述开关单元的输入端；所述三极管的输出端为所述开关单元的输出端。
可选地，所述开关单元为二极管；所述二极管的输入端为所述开关单元的输入端，所述二极管的输出端为所述开关单元的输出端。
本发明实施例提供了一种显示面板的测试电路及测试方法，通过在测试电路中设置多个开关单元、多条第一测试引线、多个第一测试垫、第二测试垫和第二测试引线，且每一个第一测试垫与对应的开关单元的输出端电连接，第二测试垫和第二测试引线均与多个开关单元的输入端电连接，在对显示面板进行阵列测试时开关单元关闭，实现了在进行阵列测试时分别对每个显示面板进行测试，提高了阵列测试的精准度；在对显示面板进行液晶分子取向时开关单元导通，实现了在进行液晶分子取向时同时对多个显示面板内形成预倾角，提高了对显示面板进行液晶分子取向的效率。
附图说明
图1为本发明实施例提供的一种显示面板的检测电路；
图2为本发明实施例提供的另一种显示面板的检测电路；
图3为本发明实施例提供的另一种显示面板的检测电路；
图4为本发明实施例提供的另一种显示面板的检测电路。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
图1为本发明实施例提供的一种显示面板的检测电路，如图1所示，本发明实施例提供的显示面板的检测电路包括：多个开关单元60、多条第一测试引线20、多个第一测试垫30、第二测试垫40和第二测试引线50。其中，多个显示面板10形成在一母基板100上，每一显示面板10对应一开关单元60、一第一测试引线20以及一第一测试垫30，且每一第一测试引线20与对应的显示面板10电连接，每一第一测试垫30与对应开关单元60的输出端以及对应的第一测试引线20电连接，第二测试垫40和第二测试引线50均与多个开关单元60的输入端电连接。
可选地，多个第一测试垫30沿所述第二测试引线50的延伸方向阵列排布。将多个第一测试垫阵列排布，方便使用探针对第一测试垫施加测试信号。
需要说明的是，图1中仅示例性地设置第二测试垫和第二测试引线与三个开关单元的输入端电连接，本发明实施例对与第二测试垫和第二测试引线电连接的开关单元的数量不做限定。
本发明实施例提供了一种显示面板的测试电路，通过在测试电路中设置多个开关单元60、多条第一测试引线20、多个第一测试垫30、第二测试垫40和第二测试引线50，且每一个第一测试垫30与对应的开关单元60的输出端电连接，第二测试垫40和第二测试引线50均与多个开关单元60的输入端电连接，在对显示面板进行阵列测试时开关单元60关闭，避免了多个显示面板10之间由于由一条引线相连接因而存在测试信号干扰的问题,实现了在进行阵列测试时分别对每个显示面板10进行测试，提高了阵列测试的精准度；在对显示面板10进行液晶分子取向时开关单元60导通，实现了在进行液晶分子取向时同时对多个显示面板10内形成预倾角，提高了对显示面板进行液晶分子取向的效率。另外,本发明实施例中仅仅设置一个第二测试垫40和一条第二测试引线50,相对于现有技术中每一显示面板10均需要设置一第二测试引线50和一第二测试垫40的情况来说,简化了线路,节约了成本。其中，对显示面板液晶分子取向，例如可以在液晶中加入化学单体，在配向过程中，化学单体受到紫外线照射聚合形成聚合物凸点，用于固定液晶形成预倾角。具体过程可以为：对显示面板施加配向电压序列，液晶在电场作用下有序倾倒，接着保持电压不变，同时使用紫外线照射显示面板，显示面板中的化学单体在紫外线照射的条件下聚合，形成有序排列的聚合物凸点，从而使显示面板形成预倾角，进一步地使液晶分子在显示面板的预倾角作用下有序排列。
图2为本发明实施例提供的另一种显示面板的检测电路，如图2所示，在上述实施例的基础上，测试电路还包括多个第三测试垫70，每一个显示面板10对应一第三测试垫70，每一第三测试垫70与对应的开关单元60的输入端电连接，第一测试垫30和第三测试垫70相邻设置。由于对显示面板10进行阵列测试时，需要在第一测试垫30上施加测试信号，且需要保证多个显示面板10之间不能有相互的信号干扰，即需要开关单元60处于关闭状态，因此将第一测试垫30和第三测试垫70相邻设置，方便使用探针将信号源发出的信号同时加载在第一测试垫30和第三测试垫70上，通过第三测试垫70控制开关单元60关闭，同时通过第一测试垫30发送测试信号到显示面板10。
图3为本发明实施例提供的另一种显示面板的检测电路，如图3所示，在上述实施例的基础上，开关单元60为三极管，三极管的输入端和控制端短接作为开关单元60的输入端，三极管的输出端为开关单元60的输出端。三极管具体可以采用电子三极管、场效应管、薄膜晶体管等。对于场效应管和薄膜晶体管来说，其输入端可以是源极或漏极，其输出端可以是漏极或源极，其控制端可以是栅极。可以理解的是，本实施方式中，测试电路也可以包括多个第三测试垫，每一显示面板对应一第三测试垫，每一第三测试垫与对应的开关单元(例如本实施例中的三极管)的输入端电连接，第一测试垫和第三测试垫相邻设置。
图4为本发明实施例提供的另一种显示面板的检测电路，如图4所示，在上述实施例的基础上，开关单元60为二极管，二极管的输入端为开关单元60的输入端，二极管的输出端为开关单元60的输出端。可以理解的是，本实施方式中，测试电路也可以包括多个第三测试垫，每一显示面板对应一第三测试垫，每一第三测试垫与对应的开关单元(例如本实施例中的二极管)的输入端电连接，第一测试垫和第三测试垫相邻设置。
在某些实施例中，显示面板可例如为液晶显示面板、量子点液晶显示面板或其他显示面板，显示面板可以应用在例如手机、平板电脑或电视上。
需要说明的是，图1-图4中所示母基板100可以采用玻璃基板来制作，在同一母基板100上同时制作多个显示面板10，相对于一次只制作单个显示面板10提高了显示面板10的制作效率，在对母基板100上的多个显示面板10进行阵列测试和液晶分子取向后，将母基板100进行切割以便得到独立的显示面板10，上述测试电路在对母基板100进行切割的过程中可以被切割去除，即切割完成后独立的显示面板10中可以不包含上述测试电路。
本发明实施例还提供了一种显示面板的测试方法，请参照图1、图2、图3、图4，显示面板的测试电路包括：多个开关单元60、多条第一测试引线20、多个第一测试垫30、第二测试垫40和第二测试引线50。其中，每一显示面板10对应一开关单元60、一第一测试引线20以及一第一测试垫30，且每一第一测试引线20与对应的显示面板10电连接，每一第一测试垫30与对应开关单元60的输出端以及对应的第一测试引线20电连接，第二测试垫40和第二测试引线50均与多个开关单元60的输入端电连接。
本发明实施例提供的显示面板的测试方法包括：在对显示面板10进行阵列测试时，控制多个开关单元60关闭，并通过多个第一测试垫40施加第一测试信号到与第一测试垫30相对应的显示面板10；在对显示面板10进行液晶分子取向时，控制多个开关单元60导通，并通过第二测试垫50将第二测试信号施加到多个显示面板10。
在一实施方式中，在对显示面板10进行阵列测试时，通过第二测试垫40输入控制信号，控制多个开关单元60关闭，并通过多个第一测试垫20施加第一测试信号到与第一测试垫20相对应的显示面板10；在对显示面板10进行液晶分子取向时，通过第二测试垫40输入第二测试信号控制多个开关单元60导通，并将第二测试信号施加到多个显示面板10。
在另一实施方式中，测试电路还包括多个第三测试垫70，每一显示面板10对应一第三测试垫70，每一第三测试垫70与对应的开关单元60的输入端电连接，第一测试垫30和第三测试垫70相邻设置，在对显示面板10进行阵列测试时，通过第三测试垫70输入控制信号，控制多个开关单元60关闭，并通过多个第一测试垫30施加第一测试信号到与第一测试垫30相对应的显示面板10，在对显示面板10进行液晶分子取向时，通过第二测试垫40输入第二测试信号控制多个开关单元60导通，并将第二测试信号施加到多个显示面板10。
可选地，开关单元60为三极管，三极管的输入端和控制端短接作为开关单元60的输入端，三极管的输出端为开关单元60的输出端。三极管具体可以采用电子三极管、场效应管、薄膜晶体管等。对于场效应管和薄膜晶体管来说，其输入端可以是源极或漏极，其输出端可以是漏极或源极，其控制端可以是栅极。在对显示面板10进行阵列测试时，控制多个三极管关闭，例如施加一低电平信号控制多个三极管关闭，并通过多个第一测试垫30施加第一测试信号到与第一测试垫30相对应的显示面板10；在对显示面板10进行液晶分子取向时，通过第二测试垫40输入第二测试信号控制多个三极管导通，并将第二测试信号施加到多个显示面板10。在其他实施方式中还可以为，在对显示面板10进行阵列测试时，并没有在三极管的栅极施加控制信号，此时三极管的栅极是关闭的，通过第一测试垫30施加第一测试信号到与第一测试垫30相对应的显示面板。需要说明的是，在对显示面板10进行阵列测试时，可以通过第二测试垫40或第三测试垫70输入控制信号，控制多个三极管关闭。
可选地，开关单元60为二极管，二极管的输入端为开关单元60的输入端，二极管的输出端为开关单元60的输出端。在对显示面板10进行阵列测试时，控制多个二极管关闭，例如二极管的PN结加反向电压，二极管的PN结截止，呈现出高电阻，并通过多个第一测试垫30施加第一测试信号到与第一测试垫30相对应的显示面板10；在对显示面板10进行液晶分子取向时，通过第二测试垫40输入第二测试信号控制多个二极管导通，例如二极管的PN结加正向电压，二极管的PN结导通，呈现出低电阻，并将第二测试信号施加到多个显示面板10。
本发明实施例提供了一种显示面板的测试方法，通过控制多个开关单元60在对显示面板10进行阵列测试时关闭，避免了多个显示面板10之间由于由一条引线相连接因而存在测试信号干扰的问题,实现了在进行阵列测试时分别对每个显示面板10进行测试，提高了阵列测试的精准度；通过控制多个开关单元60在对显示面板10进行液晶分子取向时导通，实现了在进行液晶分子取向时同时对多个显示面板10进行测试，提高了对显示面板进行液晶分子取向的效率。
注意，上述仅为本发明的实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种显示面板的测试电路，其特征在于，包括：
多个开关单元；
多条第一测试引线；
多个第一测试垫；
第二测试垫和第二测试引线；
其中，每一显示面板对应一所述开关单元、一所述第一测试引线以及一所述第一测试垫；且每一所述第一测试引线与对应的所述显示面板电连接；每一所述第一测试垫与对应所述开关单元的输出端以及对应的所述第一测试引线电连接；所述第二测试垫和所述第二测试引线均与多个所述开关单元的输入端电连接。
2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括多个第三测试垫，每一显示面板对应一所述第三测试垫，每一所述第三测试垫与对应的所述开关单元的输入端电连接；
所述第一测试垫和所述第三测试垫相邻设置。
3.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述开关单元为三极管；所述三极管的输入端和控制端短接作为所述开关单元的输入端；所述三极管的输出端为所述开关单元的输出端。
4.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述开关单元为二极管；所述二极管的输入端为所述开关单元的输入端，所述二极管的输出端为所述开关单元的输出端。
5.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述多个第一测试垫沿所述第二测试引线的延伸方向阵列排布。
6.一种显示面板的测试方法，其特征在于，所述显示面板的测试电路包括：
多个开关单元；
多条第一测试引线；
多个第一测试垫；
第二测试垫和第二测试引线；
其中，每一显示面板对应一所述开关单元、一所述第一测试引线以及一所述第一测试垫；且每一所述第一测试引线与对应的所述显示面板电连接；每一所述第一测试垫与对应所述开关单元的输出端以及对应的所述第一测试引线电连接；所述第二测试垫和所述第二测试引线均与多个所述开关单元的输入端电连接；
所述方法包括：在对所述显示面板进行阵列测试时，控制多个所述开关单元关闭，并通过多个所述第一测试垫施加第一测试信号到与所述第一测试垫相对应的所述显示面板；
在对所述显示面板进行液晶分子取向时，控制所述多个开关单元导通，并通过所述第二测试垫将第二测试信号施加到多个所述显示面板。
7.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，在对所述显示面板进行阵列测试时，通过所述第二测试垫输入控制信号，控制多个所述开关单元关闭，并通过多个所述第一测试垫施加第一测试信号到与所述第一测试垫相对应的所述显示面板；
在对所述显示面板进行液晶分子取向时，通过所述第二测试垫输入所述第二测试信号控制所述多个开关单元导通，并将第二测试信号施加到多个所述显示面板。
8.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述测试电路还包括多个第三测试垫，每一显示面板对应一所述第三测试垫，每一所述第三测试垫与对应的所述开关单元的输入端电连接；所述第一测试垫和所述第三测试垫相邻设置；
在对所述显示面板进行阵列测试时，通过所述第三测试垫输入控制信号，控制多个所述开关单元关闭，并通过多个所述第一测试垫施加第一测试信号到与所述第一测试垫相对应的所述显示面板；
在对所述显示面板进行液晶分子取向时，通过所述第二测试垫输入所述第二测试信号控制所述多个开关单元导通，并将第二测试信号施加到多个所述显示面板。
9.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述开关单元为三极管；所述三极管的输入端和控制端短接作为所述开关单元的输入端；所述三极管的输出端为所述开关单元的输出端。
10.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述开关单元为二极管；所述二极管的输入端为所述开关单元的输入端，所述二极管的输出端为所述开关单元的输出端。
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