CN110992861B - 显示面板以及显示装置 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种显示面板和显示装置，其中，显示面板包括显示单元；视觉测试组件，视觉测试组件包括多个测试信号输入端；驱动芯片，所述驱动芯片包括多个显示信号输入端；多条信号线，多条信号线用于为显示单元生成驱动信号，在视觉测试阶段，视觉测试组件通过多个测试信号输入端为各信号线提供信号；在显示阶段，驱动芯片通过多个显示信号输入端为各信号线提供信号；其中，视觉测试组件包括与至少一条信号线连接的至少一个第一开关，第一开关的控制端同时连接至视觉测试组件与驱动芯片；在视觉测试阶段，第一开关在视觉测试组件的控制下导通；在显示阶段，第一开关在驱动芯片的控制下断开。本申请能够避免视觉测试组件在显示阶段受到腐蚀。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种显示面板以及包含该显示面板的显示装置。
背景技术
随着显示技术的不断发展，消费者对于显示面板的要求不断提升，各类显示面板层出不群，并得到了飞速的发展，如液晶显示面板、有机发光显示屏等显示面板，在此基础上，3D显示、触控显示技术、曲面显示、超高分辨率显示以及防窥显示等显示技术不断涌现，以满足消费者的需求。
有机发光显示面板因其具有质量轻薄、易于弯折、对比度高、功耗低等优点，而受到消费者的广泛青睐，其在显示领域的市场占有率逐年攀升，是目前显示领域研究的热点。在有机发光显示面板出厂后以及绑定驱动芯片(Integrated Circuit，简称IC)之前，为保证产品质量，一般会进行视觉测试(Visual Test，简称VT)，即通过VT信号端输入信号，使得面板显示纯色画面或者棋盘格画面，进行检测。然而，当显示面板绑定IC后，进入正常显示阶段，VT信号端即进入闲置状态，但是，此时当IC输入信号后，VT信号端也会接收到信号，在产品高温高湿环境下实验时，VT信号端容易与环境中的水或者氧气形成电化学腐蚀，从而影响显示面板的可靠性，因此，如何避免VT信号端的电化学腐蚀，保证显示面板的可靠性，是本领域亟待解决的问题。
发明内容
有鉴于此，本发明提供一种显示面板，以及包含该显示面板的显示装置，用以避免VT信号端的电化学腐蚀，保证显示面板的可靠性。
本发明实施例的一方面提供一种显示面板，包括
显示单元；
视觉测试组件，所述视觉测试组件包括多个测试信号输入端；
驱动芯片，所述驱动芯片包括多个显示信号输入端；
多条信号线，所述多条信号线用于为所述显示单元生成驱动信号，其中，在视觉测试阶段，所述视觉测试组件通过所述多个测试信号输入端为各所述多条信号线提供信号；在显示阶段，所述驱动芯片通过所述多个显示信号输入端为各所述多条信号线提供信号；其中，
所述视觉测试组件包括与至少一条所述信号线连接的至少一个第一开关，所述第一开关的控制端同时连接至所述视觉测试组件与所述驱动芯片；
在视觉测试阶段，所述第一开关在所述视觉测试组件的控制下导通；
在显示阶段，所述第一开关在所述驱动芯片的控制下断开。
本发明实施例的另一方面提供一种显示面板，包括
显示单元；
视觉测试组件，所述视觉测试组件包括多个测试信号输入端；
驱动芯片，所述驱动芯片包括多个显示信号输入端；
多条信号线，所述多条信号线用于为所述显示单元生成驱动信号，其中，在视觉测试阶段，所述视觉测试组件通过所述多个测试信号输入端为各所述多条信号线提供信号；在显示阶段，所述驱动芯片通过所述多个显示信号输入端为各所述多条信号线提供信号；其中，
所述视觉测试组件包括视觉测试单元和静电释放单元，以及与至少一条所述信号线连接的至少一个第一开关，所述视觉测试单元包括所述多个测试信号输入端，所述静电释放单元通过所述多条信号线中的至少部分所述信号线与所述视觉测试单元连接，所述第一开关的控制端同时连接至所述视觉测试组件与所述驱动芯片；
在显示阶段，所述第一开关在所述驱动芯片的控制下断开。
本发明实施例的又一方面提供一种显示装置，包括上述的显示面板。
通过上述描述可知，本发明实施例提供的显示面板和显示装置，包括显示面板用于视觉测试阶段的视觉测试组件和用于正常显示阶段的驱动芯片，以及为显示面板中的显示单元生成驱动信号的多条信号线，多条信号线分别连接至视觉测试组件和驱动芯片，且视觉测试组件包括与多条信号线中的至少一条信号线连接的第一开关，在显示阶段，第一开关在驱动芯片的控制下断开，从而避免在显示阶段，驱动芯片提供于多条信号线上的信号传输至视觉测试组件，而导致视觉测试组件在显示面板的高温高湿环境下实验时，容易因其上信号产生的电势与环境中的水或者氧气发生电化学腐蚀，保证显示面板的可靠性。
附图说明
图1是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；
图2是图1中A1区域的局部放大示意图；
图3是本发明实施例提供的另一种显示面板的局部放大示意图；
图4是本发明实施例提供的再一种显示面板的局部放大示意图；
图5是本发明实施例提供的又一种显示面板的局部放大示意图；
图6是本发明实施例提供的再一种显示面板的局部放大示意图；
图7是本发明实施例提供的又一种显示面板的局部放大示意图；
图8是本发明实施例提供的再一种显示面板的局部放大示意图；
图9是本发明实施例提供的又一种显示面板的局部放大示意图；
图10是本发明实施例提供的再一种显示面板的局部放大示意图；
图11是本发明实施例提供的一种静电释放单元的示意图；
图12是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；
图13是图12中A2区域的局部放大示意图；
图14是本发明实施例提供的一种显示装置的示意图。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面将结合附图和实施例对本发明做进一步说明。
需要说明的是，在以下描述中阐述了具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以多种不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似推广。因此本发明不受下面公开的具体实施方式的限制。
本发明实施例的一方面提供一种显示面板，如下所示：
参考图1和图2，图1是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图，图2是图1中A1区域的局部放大示意图，其中，显示面板10包括显示单元100；视觉测试组件200，视觉测试组件200包括多个测试信号输入端201；驱动芯片300，驱动芯片300包括多个显示信号输入端301；多条信号线400，多条信号线400用于为显示单元100生成驱动信号，其中，在视觉测试阶段，视觉测试组件200通过多个测试信号输入端201为各信号线400提供信号；在显示阶段，驱动芯片300通过多个显示信号输入端301为各信号线400提供信号；其中，视觉测试组件200包括与至少一条信号线400连接的至少一个第一开关211，第一开关211的控制端同时连接至视觉测试组件200与驱动芯片300；在视觉测试阶段，第一开关211在视觉测试组件200的控制下导通；在显示阶段，所述第一开关211在驱动芯片的控制下断开。
需要说明的是，本实施例提供的显示面板10，可以为有机发光显示面板，也可以为纳米发光二极管显示面板，还可以为其他类型的显示面板，本实施例对此不作特殊限定。显示单元100可以包括阳极和阴极，以及位于阳极和阴极之间的发光层，发光层在阳极和阴极之间的电压驱动下发光，发光层可以为有机发光层，也可以为纳米发光二极管，本实施例也不作特殊限定。
另外，需要说明的是，本实施例中，可选的，视觉测试组件200包括控制端202，第一开关211的控制端连接至视觉测试组件200的控制端202，控制端202在视觉测试阶段施加信号于第一开关211的控制端，以使得第一开关211导通；驱动芯片300包括控制端302，第一开关211的控制端连接至驱动芯片300的控制端302，控制端302在显示阶段施加信号于第一开关211的控制端，以使得第一开关211断开。
此外，为了方便说明起见，图1以及后文附图中，示意性地表示出了信号线400以及第一开关211等结构的数量，应当明确的是，附图中仅为示例，不是对信号线400以及第一开关211的数量的限定，具体数量可以视具体情况而定，本实施例对此不作特殊限定。
通过上述描述可知，本发明实施例提供的显示面板10，其中，包括显示面板10用于视觉测试阶段的视觉测试组件200和用于正常显示阶段的驱动芯片300，以及为显示面板10中的显示单元100生成驱动信号的多条信号线400，多条信号线400分别连接至视觉测试组件200和驱动芯片300，且视觉测试组件200包括与多条信号线400中的至少一条信号线400连接的第一开关211，在视觉测试阶段，第一开关211在视觉测试组件200的控制下导通，在显示阶段，第一开关211在驱动芯片300的控制下断开，从而避免在显示阶段驱动芯片300提供于多条信号线400上的信号传输至视觉测试组件200，而导致视觉测试组件200在显示面板10的高温高湿环境下实验时，容易因其上信号产生的电势与环境中的水或者氧气发生电化学腐蚀的现象，保证显示面板10的可靠性。
可选的，本实施例中，如图1所示，显示面板10包括驱动电路500，驱动电路500可以包括栅极驱动电路和/或发光驱动电路，多条信号线400连接于驱动电路500，可以连接于栅极驱动电路和/或发光驱动电路，多条信号线400用于为显示单元200生成栅极驱动信号和/或发光驱动信号，多条信号线400包括恒压信号线、时钟信号线以及触发信号线；其中，恒压信号线包括第一电平信号线401和第二电平信号线402，第一电平信号线401用于传输高电平信号，第二电平信号线402用于传输低电平信号；时钟信号线用于为驱动电路500提供时钟脉冲信号；触发信号线用于为驱动电路500提供触发信号。另外，需要说明的是，如图1所示，驱动电路500可以位于显示面板10的两侧，从两侧为显示单元100提供驱动信号，此外，在其他的实施方式中，驱动电路500也可以位于显示面板10的单侧，从单侧为显示单元100提供驱动信号，本实施例对此不作特殊限定。
由于为驱动电路500提供信号的信号线400用于传输高电平信号、低电平信号或者脉冲信号等，这些信号如施加于视觉测试组件200，则容易导致视觉测试组件200与环境中的水或者氧气发生电化学腐蚀，因此，信号线400通过第一开关211与视觉测试组件200连接，在显示阶段，将第一开关211断开，从而能够避免视觉测试组件200在显示阶段受到腐蚀。
此外，在本实施例的一些实施方式中，多条信号线400除了包含用于为显示单元100生成栅极驱动信号和/或发光驱动信号之外，多条信号线400还可以包含其他信号线。参考图3，图3是本发明实施例提供的另一种显示面板的局部放大示意图，其中，显示面板10还包括短路棒600，多条信号线400还包括用于连接视觉测试组件200与短路棒600的信号线，在视觉测试阶段，信号线为短路棒600提供数据信号和/或短路控制信号。在视觉测试阶段，短路棒600用于根据视觉测试组件200上提供的信号，将不同的数据线短接在一起，如将发光颜色为同一种颜色的显示元件的数据线短接在一起，从而使得显示面板显示纯色画面，视觉测试组件200为短路棒600提供的信号，包括为显示元件提供显示灰阶信号的数据信号和为控制数据信号与短路棒之间的导通与断开的短路控制信号，本实施例提供的数据线，即可为提供上述两种信号的数据线，或者提供上述两种信号之中的一种信号的数据线。
参考图4，图4是本发明实施例提供的再一种显示面板的局部放大示意图，其中，可选的，在多条信号线400中，第一电平信号线401未通过第一开关211而直接连接于视觉测试组件200，其余信号线400均通过第一开关211连接于视觉测试组件200。由于当信号线上施加高电平信号时，更不易于受到腐蚀，而当信号线上施加低电平信号时，容易受到腐蚀，因此，本实施方式中，通过第一开关211将高电平信号外的信号线400连接至视觉测试组件200，从而可以避免视觉测试组件200受到腐蚀。
另外，本实施例中，可选的，也可以如图2或者图3所示，多条信号线400均通过第一开关211连接于视觉测试组件200，如此，可以避免视觉测试组件200在显示阶段接收到任一条信号线400的信号，从而充分保证视觉测试组件200受到腐蚀。
参考图5和图6，图5是本发明实施例提供的又一种显示面板的局部放大示意图，图6是本发明实施例提供的再一种显示面板的局部放大示意图，其中，可选的，第一开关为薄膜晶体管，如图5所示，薄膜晶体管为PMOS型晶体管，视觉测试组件200在视觉测试阶段为薄膜晶体管的栅极提供低电平信号，驱动芯片300在显示阶段为薄膜晶体管的栅极提供高电平信号。如图6所示，薄膜晶体管为NMOS型晶体管，视觉测试组件200在视觉测试阶段为薄膜晶体管的栅极提供高电平信号，驱动芯片300在显示阶段为薄膜晶体管的栅极提供低电平信号。上述设计，能够使得第一开关211在视觉测试阶段导通，而在显示阶段断开，从而保证视觉测试组件在显示阶段免于受到腐蚀。
如图5和图6所示，本实施例中，可选的，多条信号线400分别包括第一节点411，各信号线400通过第一节点411后分为第一子信号线410和第二子信号线420，第一子信号线410连接至视觉测试组件200，第二子信号线连接至驱动芯片300。在视觉测试阶段，视觉测试组件200通过第一子信号线410将信号传输至第一节点411，再通过信号线400传输至驱动电路500；在显示阶段，驱动芯片300通过第二子信号线420将信号传输至第一节点411，再通过信号线400传输至驱动电路500；通过第一子信号线410和第二子信号线420可以使得信号线在视觉测试阶段和显示阶段分别传输信号，不发生干扰。
参考图7，图7是本发明实施例提供的又一种显示面板的局部放大示意图，可选的，视觉测试组件200包括视觉测试单元210，视觉测试单元210包括多个测试信号输入端201，第一开关211位于第一节点411与视觉测试单元210之间。当第一开关211位于第一节点411与视觉测试单元210之间，则当显示阶段，第一开关211断开时，信号线400上的信号不会传输至视觉测试单元210上，从而避免视觉测试单元210受到腐蚀。需要注意的是，可选的，如图7所示，视觉测试单元210也可以包括连接于第一开关211的控制端202。
参考图8，图8是本发明实施例提供的再一种显示面板的局部放大示意图，其中，可选的，视觉测试组件200还包括静电释放单元220，静电释放单元220通过多条信号线400中的至少部分信号线400与视觉测试单元210连接。在显示面板中，因为信号线上都施加有电信号，从而易于产生静电，因此，为了保证信号线的正常使用，信号线通过连接静电释放电路来使得有静电产生时能够及时释放，避免信号线受到静电损伤。在本实施例中，静电释放单元220通过多条信号线400中的至少部分信号线与视觉测试单元210连接，通过静电释放单元220释放视觉测试阶段中视觉测试单元210上产生的静电。
可选的，本实施例中，如图8所示，第一开关211位于第一节点411与静电释放单元220之间，静电释放单元220位于第一开关211与视觉测试单元210之间。如此，在显示阶段，使得第一开关211断开时，视觉测试单元210与静电释放单元220均与信号线400断开，从而保证在显示阶段，视觉测试单元210与静电释放单元220均免受腐蚀。
另外，参考图9，图9是本发明实施例提供的又一种显示面板的局部放大示意图，可选的，第一开关211位于第一节点411与视觉测试单元210之间，视觉测试单元210位于第一开关211与静电释放单元220之间。如此，使得第一开关211断开时，视觉测试单元210与静电释放单元220均与信号线400断开，从而保证在显示阶段，视觉测试单元210与静电释放单元220均免受腐蚀。
可选的，本实施例中，如图8和图9所示，视觉测试单元210与静电释放单元220之间直接通过信号线400连接，如此，保证视觉测试单元210上的静电能够及时通过静电释放单元220导出。
另外，在本实施例的其他可选的实施方式中，参考图10，图10是本发明实施例提供的再一种显示面板的局部放大示意图，其中，视觉测试组件200还包括与至少一条信号线400连接的第二开关221，第二开关221位于视觉测试单元210与静电释放单元220之间；其中，第二开关221的控制端同时连接至视觉测试单元210与驱动芯片300；在显示阶段，第二开关221在驱动芯片300的控制下断开。如此设计，能够充分保证在显示阶段，静电释放单元220不受到腐蚀。
可选的，本实施例的一些实施方式中，在视觉测试阶段，第二开关221在视觉测试单元210的控制下导通，如此，能够使得视觉测试阶段，视觉测试单元210上的静电能够及时通过静电释放单元220释放。在另一些可选的实施方式中，在视觉测试阶段，第二开关221在视觉测试单元210的控制下断开，在这种情况下，如果视觉测试阶段，视觉测试单元210上的信号为正常信号，视觉测试单元210与静电释放单元220之间不导通，视觉测试单元210也能够正常工作，当视觉测试单元210上出现异常静电时，本实施例中设置，异常静电可以将第二开关221导通，使得异常静电及时从静电释放单元220释放，关于异常静电如何使得第二开关221导通，请参考后文详细描述。
继续参考图10，本实施例中，可选的，第二开关221包括第一子开关2211和第二子开关2212，各信号线400同时通过一第一子开关2211和一第二子开关2212连接至静电释放单元220，第一子开关2211为PMOS型薄膜晶体管，第二子开关2212为NMOS型薄膜晶体管。
可选的，在视觉测试阶段，第一子开关2211与第二子开关2212在视觉测试单元210的控制下断开，当信号线400上产生高电平信号导致第一子开关2211导通时，高电平信号通过第一子开关2211传输至静电释放单元220释放；当信号线400上产生低电平信号导致第二子开关2212导通时，低电平信号通过第二子开关2212传输至静电释放单元220释放。
需要说明的是，视觉测试单元210还包括控制端2201和控制端2202，驱动芯片300还包括控制端3201和控制端3202，控制端2201和控制端3201同时连接至第一子开关2211的控制端，用于控制第一子开关；控制端2202和控制端3202同时连接至第二子开关2212的控制端，用于控制第二子开关。
在上述实施方式中，通过设置第一子开关2211和第二子开关2212，使得无论是显示阶段还是视觉测试阶段，当信号线400上产生异常静电时，无论异常静电是高电平还是低电平，都可以通过静电释放单元400及时释放。另外，因显示阶段，第一子开关2211和第二子开关2212均处于断开状态，因此，可以保证显示阶段静电释放单元220避免受到腐蚀。
可选的，在本实施例中，静电释放单元220包括接地端，第二开关连接至接地端。静电释放单元220将静电导入接地端，能够及时释放视觉测试单元上的异常静电。
另外，可选的，在本实施例中，参考图11，图11是本发明实施例提供的一种静电释放单元的示意图，其中，静电释放单元220还可以包括多个静电释放电路230，静电释放电路230包括信号连接端233以及高电平释放端231、低电平释放端232，信号连接端233用于连接信号线400，高电平释放端231通过薄膜晶体管连接至所述第一电平信号线410，所述低电平释放端232通过薄膜晶体管连接至所述第二电平信号线420，其中，静电释放电路230中的薄膜晶体管可以为PMOS型薄膜晶体管，此时，高电平释放端231的薄膜晶体管的源极连接至所述信号连接端233、栅极和漏极连接至所述第一电平信号线410；低电平释放端232的薄膜晶体管的栅极与源极连接至信号连接端233、漏极连接至所述第二电平信号线420。此外，静电释放电路230中的薄膜晶体管可以为NMOS型薄膜晶体管，高电平释放端231的薄膜晶体管的栅极与源极连接至信号连接端233、漏极连接至所述第一电平信号线410；低电平释放端232的薄膜晶体管的源极连接至所述信号连接端233、栅极和漏极连接至所述第一电平信号线420。上述设计，能够使得视觉测试单元210上产生的高电平静电能够及时通过静电释放电路230导入第一电平信号线410，低电平静电能够及时通过静电释放电路230导入第二电平信号线420。
本发明实施例的另一方面提供另一种显示面板，如下所示：
参考图12和图13，图12是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图，图13是图12中A2区域的局部放大示意图，其中，显示面板11包括显示单元100；视觉测试组件200，视觉测试组件200包括多个测试信号输入端201；驱动芯片300，驱动芯片300包括多个显示信号输入端301；多条信号线400，多条信号线400用于为显示单元生成驱动信号，其中，在视觉测试阶段，视觉测试组件通过多个测试信号输入端201为各信号线400提供信号；在显示阶段，驱动芯片300通过多个显示信号输入端301为各信号线400提供信号；其中，视觉测试组件200包括视觉测试单元210和静电释放单元220，以及与至少一条信号线400连接的至少一个第一开关111，视觉测试单元210包括多个测试信号输入端201，静电释放单元220通过多条信号线400中的至少部分信号线与视觉测试单元210连接，第一开关111的控制端同时连接至视觉测试组件200与驱动芯片300；在显示阶段，第一开关111在驱动芯片的控制下断开。
通过上述描述可知，本发明实施例提供的显示面板11，其中，包括显示面板11用于视觉测试阶段的视觉测试组件200和用于正常显示阶段的驱动芯片300，以及为显示面板11中的显示单元100生成驱动信号的多条信号线400，多条信号线400分别连接至视觉测试组件200和驱动芯片300，且视觉测试组件200视觉测试单元210和静电释放单元220，以及与至少一条信号线400连接的至少一个第一开关111，在显示阶段，第一开关111在驱动芯片300的控制下断开，从而避免在显示阶段驱动芯片300提供于多条信号线400上的信号传输至视觉测试组件200，而导致视觉测试组件200在显示面板11的高温高湿环境下实验时，容易因其上信号产生的电势与环境中的水或者氧气发生电化学腐蚀的现象，保证显示面板11的可靠性。
另外，需要说明的是，本实施例提供的显示面板11，可以为有机发光显示面板，也可以为纳米发光二极管显示面板，还可以为其他类型的显示面板，本实施例对此不作特殊限定。此外，多条信号线400可以用于为显示单元100生成栅极驱动信号和/或发光控制信号，还可以用于与短路棒连接，为显示单元100提供数据信号或者短路控制信号。
可选的，本实施例中，在视觉测试阶段，第一开关111在视觉测试单元210的控制下导通，如此，能够使得视觉测试阶段，视觉测试单元210上的静电能够及时通过静电释放单元220释放。在另一些可选的实施方式中，在视觉测试阶段，第二开关111在视觉测试单元210的控制下断开，在这种情况下，如果视觉测试阶段，视觉测试单元210上的信号为正常信号，视觉测试单元210与静电释放单元220之间不导通，视觉测试单元210也能够正常工作，当视觉测试单元210上出现异常静电时，本实施例中设置，异常静电可以将第一开关111导通，使得异常静电及时从静电释放单元220释放，关于异常静电如何使得第一开关111导通，请参考后文详细描述。
可选的，本实施例中，如图13所示，各信号线400分别包括第一节点411，各信号线400通过第一节点411后分为第一子信号线410和第二子信号线420，第一子信号线410连接至视觉测试组件200，第二子信号线420连接至驱动芯片300,；其中，视觉测试单元210位于第一节点411与第一开关111之间，第一开关111位于视觉测试单元210与静电释放单元220之间。如此设计，能够充分保证显示阶段，静电释放单元220避免受到腐蚀。
另外，可选的，本实施例中，如图13所示，第一开关111包括第三子开关1111和第四子开关1112，各信号线400同时通过一第三子开关1111与一第四子开关1112连接至静电释放单元220，第三子开关为PMOS型薄膜晶体管，第四子开关为NMOS型薄膜晶体管。
在视觉测试阶段，第三子开关1111和第四子开关1112在视觉测试单元210的控制下断开，当信号线400上产生高电平信号导致第三子开关1111导通时，所述高电平信号通过第三子开关1111传输至所述静电释放单元释放，当信号线400上产生低电平信号导致第四子开关1112导通时，低电平信号通过第四子开关1112传输至静电释放单元220释放。
在上述实施方式中，通过设置第三子开关1111和第四子开关1112，使得无论是显示阶段还是视觉测试阶段，当信号线400上产生异常静电时，无论异常静电是高电平还是低电平，都可以通过静电释放单元400及时释放。另外，因显示阶段，第一子开关1111和第二子开关1112均处于断开状态，因此，可以充分保证显示阶段静电释放单元220避免受到腐蚀。
可选的，在本实施例中，静电释放单元220包括接地端，第二开关连接至接地端。静电释放单元220将静电导入接地端，能够及时释放视觉测试单元上的异常静电。
本发明实施例的又一方面提供一种显示装置，如下所示：
参考图14，图14是本发明实施例提供的一种显示装置的示意图，其中，显示装置20包括显示面板，显示面板可以为上述任一实施方式中的显示面板10或者显示面板11，显示装置20可以为手机或者折叠显示屏、笔记本电脑、电视机、手表、智能穿戴显示装置等，本实施例对此不作特殊限定。
通过上述描述可知，本发明实施例提供的显示面板以及显示装置，其中，通过在视觉测试组件200中的元件与信号线400之间设置第一开关，第一开关在显示阶段，在驱动芯片300的控制下断开，从而能够保证视觉测试组件200中的元件在显示阶段避免受到腐蚀，从而充分保证了显示面板的可靠性。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。
Claims (14)
1.一种显示面板，其特征在于，包括：
显示单元；
视觉测试组件，所述视觉测试组件包括多个测试信号输入端；
驱动芯片，所述驱动芯片包括多个显示信号输入端；
多条信号线，所述多条信号线用于为所述显示单元生成驱动信号，其中，在视觉测试阶段，所述视觉测试组件通过所述多个测试信号输入端为各所述多条信号线提供信号；在显示阶段，所述驱动芯片通过所述多个显示信号输入端为各所述多条信号线提供信号；其中，
所述视觉测试组件包括与至少一条所述信号线连接的至少一个第一开关，所述第一开关的控制端同时连接至所述视觉测试组件与所述驱动芯片；
各所述多条信号线分别包括第一节点，各所述多条信号线通过所述第一节点后分为第一子信号线和第二子信号线，所述第一子信号线连接至所述视觉测试组件，所述第二子信号线连接至所述驱动芯片；
所述视觉测试组件还包括静电释放单元，所述静电释放单元通过所述多条信号线中的至少部分所述信号线与视觉测试单元连接；
所述第一开关位于所述第一节点与所述视觉测试单元之间，所述视觉测试单元位于所述第一开关与所述静电释放单元之间；
所述视觉测试组件还包括与至少一条所述信号线连接的第二开关，所述第二开关位于所述视觉测试单元与所述静电释放单元之间；其中，所述第二开关的控制端同时连接至所述视觉测试单元与所述驱动芯片；
在视觉测试阶段，所述第一开关在所述视觉测试组件的控制下导通；
在显示阶段，所述第一开关在所述驱动芯片的控制下断开，所述第二开关在所述驱动芯片的控制下断开；
所述第二开关包括第一子开关和第二子开关，各所述信号线同时通过一所述第一子开关和一所述第二子开关连接至所述静电释放单元，所述第一子开关为PMOS型薄膜晶体管，所述第二子开关为NMOS型薄膜晶体管。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，
所述多条信号线用于为所述显示单元生成栅极驱动信号和/或发光驱动信号，所述多条信号线包括恒压信号线、脉冲信号线以及触发信号线；其中，
所述恒压信号线包括第一电平信号线和第二电平信号线，所述第一电平信号线用于传输高电平信号，所述第二电平信号线用于传输低电平信号。
3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，
所述显示面板还包括短路棒，所述多条信号线还包括用于连接所述视觉测试组件与所述短路棒的信号线，在视觉测试阶段，所述信号线为所述短路棒提供数据信号和/或短路控制信号。
4.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，
所述多条信号线中，所述第一电平信号线未通过所述第一开关而直接连接于所述视觉测试组件，其余所述信号线均通过所述第一开关连接于所述视觉测试组件。
5.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，
所述多条信号线均通过所述第一开关连接于所述视觉测试组件。
6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，
所述第一开关为薄膜晶体管，其中，
所述薄膜晶体管为PMOS型晶体管，所述视觉测试组件在所述视觉测试阶段为所述薄膜晶体管的栅极提供低电平信号，所述驱动芯片在所述显示阶段为所述薄膜晶体管的栅极提供高电平信号，或者，
所述薄膜晶体管为NMOS型晶体管，所述视觉测试组件在所述视觉测试阶段为所述薄膜晶体管的栅极提供高电平信号，所述驱动芯片在所述显示阶段为所述薄膜晶体管的栅极提供低电平信号。
7.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，
所述视觉测试组件包括视觉测试单元，所述视觉测试单元包括所述多个测试信号输入端，所述第一开关位于所述第一节点与所述视觉测试单元之间。
8.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，
在所述视觉测试阶段，所述第二开关在所述视觉测试单元的控制下导通或者断开。
9.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，
在所述视觉测试阶段，所述第一子开关与所述第二子开关在所述视觉测试单元的控制下断开，当所述信号线上产生高电平信号导致所述第一子开关导通时，所述高电平信号通过第一子开关传输至所述静电释放单元释放；当所述信号线上产生低电平信号导致所述第二子开关导通时，所述低电平信号通过所述第二子开关传输至所述静电释放单元释放。
10.根据权利要求9所述的显示面板，其特征在于，
所述静电释放单元包括接地端，所述第二开关连接至所述接地端。
11.一种显示面板，其特征在于，包括
显示单元；
视觉测试组件，所述视觉测试组件包括多个测试信号输入端；
驱动芯片，所述驱动芯片包括多个显示信号输入端；
多条信号线，所述多条信号线用于为所述显示单元生成驱动信号，其中，在视觉测试阶段，所述视觉测试组件通过所述多个测试信号输入端为各所述多条信号线提供信号；在显示阶段，所述驱动芯片通过所述多个显示信号输入端为各所述多条信号线提供信号；其中，
所述视觉测试组件包括视觉测试单元和静电释放单元，以及与至少一条所述信号线连接的至少一个第一开关，所述视觉测试单元包括所述多个测试信号输入端，所述静电释放单元通过所述多条信号线中的至少部分所述信号线与所述视觉测试单元连接，所述第一开关的控制端同时连接至所述视觉测试组件与所述驱动芯片；
各所述多条信号线分别包括第一节点，各所述多条信号线通过所述第一节点后分为第一子信号线和第二子信号线，所述第一子信号线连接至所述视觉测试组件，所述第二子信号线连接至所述驱动芯片；其中，所述视觉测试单元位于所述第一节点与所述第一开关之间，所述第一开关位于所述视觉测试单元与所述静电释放单元之间；
所述第一开关包括第三子开关和第四子开关，各所述信号线同时通过一所述第三子开关与一所述第四子开关连接至所述静电释放单元，所述第三子开关为PMOS型薄膜晶体管，所述第四子开关为NMOS型薄膜晶体管；
在显示阶段，所述第一开关在所述驱动芯片的控制下断开。
12.根据权利要求11所述的显示面板，其特征在于，
所述视觉测试组件，还包括与至少一条所述信号线连接的第二开关，所述第二开关位于所述视觉测试单元与所述第一节点之间，所述第二开关的控制端同时连接至所述视觉测试单元与所述驱动芯片；
在所述视觉测试阶段，所述第二开关在所述视觉测试单元的控制下导通或者断开。
13.根据权利要求11所述的显示面板，其特征在于，
在所述视觉测试阶段，所述第三子开关与所述第四子开关在所述视觉测试单元的控制下断开，当所述信号线上产生高电平信号导致所述第三子开关导通时，所述高电平信号通过所述第三子开关传输至所述静电释放单元释放，当所述信号线上产生低电平信号导致所述第四子开关导通时，所述低电平信号通过所述第四子开关传输至所述静电释放单元释放。
14.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1-10任意一项或者权利要求11-13任意一项所述的显示面板。
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