CN114167254B - 一种第一tp测试工具和tp测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种第一TP测试工具和TP测试装置。第一TP测试工具包括第一控制模块和N选1的开关模块,开关模块包括1个第一端和N个第二端;当进行TP测试时,第一控制模块的通信端与待测试TP的通信端连接,开关模块的第一端与待测试TP的中断管脚连接,开关模块的一个第二端与第一控制模块的中断端连接;当需要兼容除第二TP测试工具时,第一TP测试工具的第一控制模块的通信端、第二TP测试工具的第二控制模块的通信端分别与待测试TP的通信端连接,构成了通信网络,第二TP测试工具的第二控制模块的中断端分别连接开关模块的不同第二端。实现了多个TP测试工具兼容,能够减少测试时间,提高产线生产效率。
Description
技术领域
本发明涉及测试技术领域,特别是涉及一种第一TP测试工具和TP测试装置。
背景技术
目前,大部分触摸屏(touch panel,简称TP)测试方案是通过对应的TP芯片厂家提供的TP_TOOL工具进行测试,但是TP_TOOL工具的测试方案比较单一,此外还受限于芯片厂家设计TP测试的思路不同,有的测试方案不利于导入生产产线进行TP测试。因此,实际生产中,还需要制备专门的TP测试工具,即TP治具,用于对TP_TOOL工具的测试方案进行补充,产线上在一种测试工具测试完后,拆下TP,将TP与另一种测试工具连接进行后续测试,这样操作导致测试效率低下。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题,特别创新地提出了一种第一TP测试工具和TP测试装置。
为了实现本发明的上述目的,根据本发明的第一个方面,本发明提供了一种第一TP测试工具,包括第一控制模块和N选1的开关模块,所述开关模块包括1个第一端和N个第二端,所述N为大于等于2的正整数;当进行TP测试时,所述第一控制模块的通信端与待测试TP的通信端连接,所述开关模块的第一端与待测试TP的中断管脚连接,所述开关模块的一个第二端与第一控制模块的中断端连接;当需要兼容第二TP测试工具时,第一TP测试工具的第一控制模块的通信端、第二TP测试工具的第二控制模块的通信端分别与待测试TP的通信端连接,构成了通信网络,第二TP测试工具的第二控制模块的中断端分别连接开关模块的不同第二端。
上述技术方案:第一TP测试工具通过设置N选1的开关模块,可实现与第二TP测试工具的兼容测试,测试中只需要把待测试TP安装在本发明提供的第一TP测试工具上,在一个TP测试工具测试完成后,控制开关模块切换到下一个TP测试工具进行测试,不需要取下待测试TP,实现了多个TP测试工具兼容,能够减少测试时间,提高产线生产效率。
在本发明的一种优选实施方式中,还包括第一连接端子,所述第一控制模块的通信端通过第一连接端子与待测试TP的通信端连接。
上述技术方案:通过第一连接端子中转,便于连接。
在本发明的一种优选实施方式中,还包括第二连接端子,所述开关模块的第一端通过第二连接端子与待测试TP的中断管脚连接。
上述技术方案:通过第二连接端子中转,便于连接。
在本发明的一种优选实施方式中,第二TP测试工具的第二控制模块的通信端分别通过第一连接端子与待测试TP的通信端连接。
上述技术方案:简化连接线路。
在本发明的一种优选实施方式中,所述第一控制模块包括开关控制单元,所述开关控制单元被配置为在当前测试的TP测试工具测试结束后切换开关模块的第一端与下一个第二端接通。
上述技术方案:实现了TP测试工具的自动切换,节省人力。
在本发明的一种优选实施方式中,所述开关控制单元从从第一控制模块的通信端抓取当前测试的TP测试工具的测试结束信号。
上述技术方案:便于实施和获取测试结束信号。
为了实现本发明的上述目的,根据本发明的第二个方面,本发明提供了一种TP测试装置,包括一个本发明第一方面提供的第一TP测试工具和至少一个第二TP测试工具,所述第一TP测试工具的第一控制模块的通信端、第二TP测试工具的第二控制模块的通信端分别与待测试TP的通信端连接,所述第一TP测试工具的第一控制模块的中断端、第二TP测试工具的第二控制模块的中断端分别与开关模块不同的第二端连接。
上述技术方案:该装置可以兼容各种TP测试工具的测试方案,达到提高测试效率的目的。
附图说明
图1是本发明一具体实施方式中第一TP测试装置硬件结构示意图;
图2是本发明一具体实施方式中开关模块结构示意图。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本发明,而不能理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中,需要理解的是,术语“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中,除非另有规定和限定,需要说明的是,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是机械连接或电连接,也可以是两个元件内部的连通,可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。
本发明公开了一种第一TP测试工具,在一种优选实施方式中,如图1中第一TP测试工具的结构图所示,该TP测试工具包括第一控制模块和N选1的开关模块,开关模块包括1个第一端和N个第二端,N为大于等于2的正整数。当进行TP测试时,第一控制模块的通信端与待测试TP的通信端连接,开关模块的第一端与待测试TP的中断管脚连接,开关模块的一个第二端与第一控制模块的中断端连接;当需要兼容第二TP测试工具(除本发明提供的TP测试工具之外的其他TP测试工具)时,如图1所示,第二TP测试工具的第二控制模块的通信端与待测试TP的通信端连接,第一TP测试工具的第一控制模块的通信端、第二TP测试工具的第二控制模块的通信端分别与待测试TP的通信端连接,构成了通信网络,第二TP测试工具的第二控制模块的中断端分别连接开关模块的不同第二端,每个第二TP测试工具连接一个第二端,并且第二控制模块的中断端连接的第二端与第一控制模块的中断端连接的第二端不同。第二TP测试工具可以是TP厂家提供的测试工具,也可以是产线开发的TP测试治具。第一控制模块和第二控制模块优选但不限于为单片机、ARM等嵌入式微处理器。
在本实施方式中,开关模块可为手动开关或电控开关。开关模块可包括N个单路开关(如N个单刀单掷开关或者N个如MOS开关管的电子开关),N个单路开关的第一端连接在一起,N个单路开关的第二端分别作为开关模块的N个第二端。开关模块还可为单刀多掷开关,或者为常开常闭按钮,或者为电控的N选一数字选择器,如8选1数据选择器CD4512。当N为2时,常开常闭按钮的结构示意图如图2所示,开关模块的第一端与待测试TP的中断管脚(INT管脚)连接,开关模块的两个第二端分别与本发明提供的第一测试工具的第一控制模块的中断端(即图2中的H1_INT端)和第二TP测试工具的第二控制模块的中断端(即图2中的H2_INT端)连接。
在本实施方式中,一般TP中含有控制芯片IC,待测试TP的通信端一般为TP中的控制芯片IC的通信端,第一控制模块的通信端和控制芯片IC的通信端为通信协议相同的同类型通信接口,如I2C接口、URAT接口、SPI接口、SDIO并行接口等。第一控制模块的通信端、第二控制模块的通信端分别与控制芯片IC的通信端连接,实现测试数据的传输和测试结果的反馈,测试结果可反馈在待测试TP的显示屏上或者反馈在与TP测试工具连接的显示器上。
在本实施方式中,本发明第一TP测试工具包括硬件部分和软件部分。硬件部分包括第一控制模块、开关模块等,优选的,硬件部分还包括TP安装机构。软件部分为事先开发好的TP测试方案的程序指令集合。第二TP测试工具也包括硬件部分和软件部分,硬件部分为第二控制模块,软件部分为事先开发好的TP测试方案的程序指令集合,需要说明书的是,软件部分不在本发明保护范围内。在一种优选实施方式中,如图1所示,还包括第一连接端子,第一控制模块的通信端通过第一连接端子与待测试TP的通信端连接。第一连接端子可采用连接座或连接焊盘等结构。
在本实施方式中,优选的,如图1所示,第二TP测试工具的第二控制模块的通信端分别通过第一连接端子与待测试TP的通信端连接。
在一种优选实施方式中,如图1所示,还包括第二连接端子,开关模块的第一端通过第二连接端子与待测试TP的中断管脚连接。第二连接端子可采用连接座或连接焊盘等结构。
在一种优选实施方式中,第一控制模块包括开关控制单元,开关控制单元被配置为在当前测试的TP测试工具测试结束后切换开关模块的第一端与下一个第二端接通。下一个第二端是指连接有TP测试工具且连接的TP测试工具还未对待测TP进行测试的开关模块的第二端。
在本实施方式中,优选的,开关控制单元从第一控制模块的通信端抓取当前测试的TP测试工具的测试结束信号。所有TP测试工具的软件部分设置有当所有测试项目测试完成后输出测试结束信号的程序指令。多个TP测试工具的测试结束信号可以相同或不同。优选的,开关控制单元内存储有所有TP测试工具的标准测试结束信号,开关单元实时从第一控制模块的通信端抓取信号,通过将抓取的信号与标准测试结束信号进行比对判断抓取的信号是否是测试结束信号,这样能够比较方便获取到测试结束信号,也不增加其他硬件电路开销。优选的,为避免误操作,切换准确,开关控制单元内包括第一存储器,第一存储器用于存储开关模块中连接有TP测试工具并且在本次测试还未与开关模块第一端接通过的第二端的编号,开关控制单元在抓取到测试结束信号后从第一存储器中选择一个第二端与开关模块的第一端接通,同时清除选择的第二端在第一存储器中的编号记录。
本发明还公开了一种TP测试装置,在一种优选实施方式中,如图1所示,该TP测试装置包括一个第一TP测试工具和至少一个第二TP测试工具,第一TP测试工具的第一控制模块的通信端、第二TP测试工具的第二控制模块的通信端分别与待测试TP的通信端连接,第一TP测试工具的第一控制模块的中断端、第二TP测试工具的第二控制模块的中断端分别与开关模块不同的第二端连接。
在本实施方式中,第一TP测试工具的第一控制模块的通信端、第二TP测试工具的第二控制模块的通信端分别与待测试TP的通信端连接,构成了通信网络,因此,开关控制单元从第一控制模块的通信端就能抓取整个通信网络中的信号。
在本实施方式中,该装置在实际测试中,当一个TP测试工具(如第一TP测试工具)测试完成后,将开关模块的第一端切换到未与第一端接通过的下一个第二端(记为连通第二端),之后,触碰待测试TP,待测试TP会输出一个中断信号,该中断信号通过开关模块的第一端与连通第二端的连接通路传送至与连通第二端连接的TP测试工具的控制模块的中断端,触发与连通第二端连接的TP测试工具的控制模块(如第二TP测试工具的第二控制模块)启动测试程序,进入下一轮测试,按此循环往复,直到完成所有接入的TP测试工具的测试方案。在本实施方式中,优选的,至少有一个第二TP测试工具为TP厂家提供的测试工具。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例,本领域的普通技术人员可以理解:在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由权利要求及其等同物限定。
Claims (7)
1.一种第一TP测试工具,其特征在于,包括第一控制模块和N选1的开关模块,所述开关模块包括1个第一端和N个第二端,N为大于等于2的正整数;
当进行TP测试时,所述第一控制模块的通信端与待测试TP的通信端连接,所述开关模块的第一端与待测试TP的中断管脚连接,所述开关模块的一个第二端与第一控制模块的中断端连接;
当需要兼容第二TP测试工具时,第一TP测试工具的第一控制模块的通信端、第二TP测试工具的第二控制模块的通信端分别与待测试TP的通信端连接,构成了通信网络,第二测试工具的第二控制模块的中断端分别连接开关模块的不同第二端;
第一控制模块包括开关控制单元,开关控制单元被配置为在当前测试的TP测试工具测试结束后切换开关模块的第一端与下一个第二端接通;
当一个TP测试工具测试完成后,将开关模块的第一端切换到未与开关模块的第一端接通过的下一个第二端,记为连通第二端,之后,触碰待测试TP,待测试TP会输出一个中断信号,该中断信号通过开关模块的第一端与连通第二端的连接通路传送至与连通第二端连接的TP测试工具的控制模块的中断端,触发与连通第二端连接的TP测试工具的控制模块启动测试程序,进入下一轮测试。
2.如权利要求1所述的第一TP测试工具,其特征在于,还包括第一连接端子,所述第一控制模块的通信端通过第一连接端子与待测试TP的通信端连接。
3.如权利要求2所述的第一TP测试工具,其特征在于,第二 TP测试工具的第二控制模块的通信端分别通过第一连接端子与待测试TP的通信端连接。
4.如权利要求1-3之一所述的第一TP测试工具,其特征在于,还包括第二连接端子,所述开关模块的第一端通过第二连接端子与待测试TP的中断管脚连接。
5.如权利要求1所述的第一TP测试工具,其特征在于,所述开关控制单元从第一控制模块的通信端抓取当前测试的TP测试工具的测试结束信号。
6.一种TP测试装置,其特征在于,包括一个如权利要求1-5之一所述的第一TP测试工具和至少一个第二TP测试工具,所述第一TP测试工具的第一控制模块的通信端、第二TP测试工具的第二控制模块的通信端分别与待测试TP的通信端连接,所述第一TP测试工具的第一控制模块的中断端、第二TP测试工具的第二控制模块的中断端分别与开关模块不同的第二端连接。
7.如权利要求6所述的TP测试装置,其特征在于,至少有一个第二TP测试工具为TP厂家提供的测试工具。
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Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106443412A (zh) * | 2016-09-09 | 2017-02-22 | 杭州万高科技股份有限公司 | 一种ic测试装置及方法 |
CN108761328A (zh) * | 2018-08-03 | 2018-11-06 | 德丰电创科技股份有限公司 | 电动工具开关测试装置及系统 |
CN109388408A (zh) * | 2017-08-06 | 2019-02-26 | 陶妮 | 多片离线烧录测试治具 |
WO2021004087A1 (zh) * | 2019-07-05 | 2021-01-14 | 昆山国显光电有限公司 | 屏体检测电路、显示屏以及屏体检测方法 |
CN112491030A (zh) * | 2020-11-19 | 2021-03-12 | 珠海格力电器股份有限公司 | 触摸屏电源正反接兼容电路、触摸屏及电器设备 |
DE202020107459U1 (de) * | 2020-12-22 | 2021-03-24 | Shenzhen Nexnovo Technology Co., Ltd. | Treiberchip, LED-Leuchte und LED-Anzeigebildschirm |
CN212989502U (zh) * | 2020-05-07 | 2021-04-16 | 海的电子科技(苏州)有限公司 | 一种基于stm32的设备测试治具 |
CN112817872A (zh) * | 2021-02-26 | 2021-05-18 | 苏州挚途科技有限公司 | 开发测试系统及方法 |
CN113514757A (zh) * | 2021-07-01 | 2021-10-19 | 深圳亿昇动力科技有限公司 | 测试设备 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9634853B2 (en) * | 2014-02-06 | 2017-04-25 | Paul Jones | Smart power management apparatus and method leveraging monitoring status of manual switch |
US9626888B2 (en) * | 2014-09-10 | 2017-04-18 | Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd | Method and apparatus for testing display panel |
CN104267329B (zh) * | 2014-10-21 | 2017-03-15 | 京东方科技集团股份有限公司 | 晶体管测试电路以及测试方法 |
CN105373259B (zh) * | 2015-12-11 | 2018-11-27 | 上海中航光电子有限公司 | 一种阵列基板、显示面板及显示装置 |
CN107402674B (zh) * | 2017-07-28 | 2020-06-26 | 上海天马微电子有限公司 | 压力触控检测电路、方法和显示面板 |
CN112305398A (zh) * | 2019-08-01 | 2021-02-02 | 富港电子(东莞)有限公司 | 自动化电路板测试系统及其方法 |
CN110992861B (zh) * | 2019-12-31 | 2023-05-05 | 武汉天马微电子有限公司 | 显示面板以及显示装置 |
-
2021
- 2021-10-31 CN CN202111278666.XA patent/CN114167254B/zh active Active
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106443412A (zh) * | 2016-09-09 | 2017-02-22 | 杭州万高科技股份有限公司 | 一种ic测试装置及方法 |
CN109388408A (zh) * | 2017-08-06 | 2019-02-26 | 陶妮 | 多片离线烧录测试治具 |
CN108761328A (zh) * | 2018-08-03 | 2018-11-06 | 德丰电创科技股份有限公司 | 电动工具开关测试装置及系统 |
WO2021004087A1 (zh) * | 2019-07-05 | 2021-01-14 | 昆山国显光电有限公司 | 屏体检测电路、显示屏以及屏体检测方法 |
CN212989502U (zh) * | 2020-05-07 | 2021-04-16 | 海的电子科技(苏州)有限公司 | 一种基于stm32的设备测试治具 |
CN112491030A (zh) * | 2020-11-19 | 2021-03-12 | 珠海格力电器股份有限公司 | 触摸屏电源正反接兼容电路、触摸屏及电器设备 |
DE202020107459U1 (de) * | 2020-12-22 | 2021-03-24 | Shenzhen Nexnovo Technology Co., Ltd. | Treiberchip, LED-Leuchte und LED-Anzeigebildschirm |
CN112817872A (zh) * | 2021-02-26 | 2021-05-18 | 苏州挚途科技有限公司 | 开发测试系统及方法 |
CN113514757A (zh) * | 2021-07-01 | 2021-10-19 | 深圳亿昇动力科技有限公司 | 测试设备 |
Also Published As
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