CN111929562B - 芯片测试系统、测试方法、芯片的测试响应方法和芯片 - Google Patents

芯片测试系统、测试方法、芯片的测试响应方法和芯片 Download PDF

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Abstract

本发明涉及集成电路技术领域，提供一种芯片测试系统、测试方法、芯片的测试响应方法和芯片，芯片测试系统包括：测试设备和切换装置；其中，切换装置包括第一至第三组通信接口；第一组通信接口与测试设备电连接，第二和第三组通信接口分别用于与被测芯片中的第一和第二组管脚电连接；切换装置在第一连通态和第二连通态之间进行切换；其中，在第一连通态，被测芯片中除第一组管脚外的其他所有管脚作为被测管脚，第一组管脚作为通信管脚；在第二连通态，第一组管脚作为被测管脚，第二组管脚作为通信管脚。根据本发明实施例的芯片测试系统，无需在测试前对管脚分组，可以实现自动检测，无需根据被测芯片的型号调试测试设备，通用性强。

Description

芯片测试系统、测试方法、芯片的测试响应方法和芯片
技术领域
本发明涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种芯片测试系统、测试方法、芯片的测试响应方法和芯片。
背景技术
管脚的输入特性主要包括其对输入的模拟电压的跳变点。在测试管脚的输入特性时，需要测试设备给被测管脚一个模拟电压信号，然后从芯片中读取该管脚的状态，而从芯片中读取管脚的状态，势必需要用到芯片的其他管脚。
当需要对芯片的所有管脚进行测试时，相关技术需要把被测芯片的管脚分组进行测试，分组测试占用测试流程，且对于不同的芯片，还需要人工对测试设备的程序进行修改，使得整个测试方法高度依赖测试人员的技术素养，测试效率低。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出一种芯片测试系统，以实现通用的全自动化测试。
本发明还提出一种芯片管脚输入特性的测试方法。
本发明还提出一种芯片的测试响应方法。
本发明还提出一种芯片。
本发明还提出一种家用电器。
根据本发明第一方面实施例的芯片测试系统，包括：测试设备和切换装置；其中，所述切换装置包括第一组通信接口、第二组通信接口和第三组通信接口；所述第一组通信接口与所述测试设备电连接，用于接收所述测试设备发送的指示被测管脚的测试信息，所述第二组通信接口用于与所述被测芯片中的第一组管脚电连接，所述第三组通信接口用于与所述被测芯片中的第二组管脚电连接；所述切换装置用于基于所述测试设备发送的控制指令，控制在第一连通态和第二连通态之间进行切换；其中，所述第一组通信接口与所述第二组通信接口电连接的情况下为所述第一连通态，在所述第一连通态下，所述被测芯片中除所述第一组管脚外的其他所有管脚作为被测管脚，所述第一组管脚作为通信管脚；所述第一组通信接口与所述第三组通信接口电连接的情况下为所述第二连通态，在所述第二连通态下，所述第一组管脚作为被测管脚，所述第二组管脚作为通信管脚。
根据本发明一些实施例的芯片测试系统，所述测试设备具体用于，在所述第一连通态下，若确定所述测试信息所指示的是所述第一组管脚，则向所述切换装置发送所述控制指令，切换至所述第二连通态下对所述第一组管脚进行测试；或在所述第一连通态下，若确定所述测试信息所指示的并非所述第一组管脚，则对除所述第一组管脚外的其他管脚基于所述测试信息进行测试；或在所述第二连通态下，若确定所述测试信息所指示的是所述第二组管脚，则向所述切换装置发送所述控制指令，切换至所述第一连通态下对所述第二组管脚进行测试；或在所述第二连通态下，若确定所述测试信息所指示的并非所述第二组管脚，则对除所述第二组管脚外的其他管脚基于所述测试信息进行测试。
根据本发明一些实施例的芯片测试系统，所述切换装置还包括控制接口，用于与所述测试设备电连接，接收所述测试设备发送的所述控制指令。
根据本发明一些实施例的芯片测试系统，所述切换装置为继电器。
根据本发明第二方面实施例的芯片管脚输入特性的测试方法，该芯片管脚输入特性的测试方法使用如上述任一种所述的芯片测试系统，该芯片管脚输入特性的测试方法包括：所述测试设备通过所述第一组通信接口向被测芯片发送测试信息；若确定所述测试信息所指示的管脚为通信管脚，则向所述切换装置发送所述控制指令，切换所述切换装置的连通态；若确定所述测试信息所指示的管脚为并非通信管脚，则对所述测试信息所指示的管脚进行测试。
根据本发明一些实施例的芯片管脚输入特性的测试方法，所述确定所述测试信息所指示的管脚为通信管脚，包括：在目标时间内，未接收到从所述被测芯片发送的反馈信息，确定所述测试信息所指示的管脚为通信管脚。
根据本发明一些实施例的芯片管脚输入特性的测试方法，所述确定所述测试信息所指示的管脚为通信管脚，包括：从所述被测芯片接收基于所述测试信息确定的反馈信息；基于所述反馈信息，确定所述测试信息所指示的管脚为通信管脚。
根据本发明一些实施例的芯片管脚输入特性的测试方法，所述确定所述测试信息所指示的管脚为并非通信管脚，包括：从所述被测芯片接收基于所述测试信息确定的反馈信息；基于所述反馈信息，确定所述测试信息所指示的管脚为并非通信管脚。
根据本发明一些实施例的芯片管脚输入特性的测试方法，所述若确定所述测试信息所指示的管脚为通信管脚，则向所述切换装置发送所述控制指令，切换所述切换装置的连通态，包括：在所述第一连通态下，若确定所述测试信息所指示的是所述第一组管脚，则向所述切换装置发送所述控制指令，切换至所述第二连通态；或在所述第二连通态下，若确定所述测试信息所指示的是所述第二组管脚，则向所述切换装置发送所述控制指令，切换至所述第一连通态。
根据本发明一些实施例的芯片管脚输入特性的测试方法，所述对所述测试信息所指示的管脚进行测试，包括：向所述测试信息所指示的管脚输出模拟电压；通过所述通信管脚，从被测芯片接收基于所述模拟电压确定的状态信号；基于所述状态信号，确定所述测试信息所指示的管脚的输入特性。
根据本发明第三方面实施例的芯片的测试响应方法，包括：接收芯片测试系统发送的测试信息，所述测试信息用于指示被测管脚，接收所述测试信息的管脚为通信管脚；确定所述测试信息所指示的管脚并非所述通信管脚，向所述芯片测试系统发送反馈信息；从所述测试信息所指示的管脚接收模拟电压，所述通信管脚向所述芯片测试系统输出状态信号。
根据本发明一些实施例的芯片的测试响应方法，还包括：确定所述测试信息所指示的管脚是所述通信管脚，不向所述芯片测试系统发送反馈信息。
根据本发明第四方面实施例的芯片，包括：第一接收模块，用于接收芯片测试系统发送的测试信息，所述测试信息用于指示被测管脚，接收测试信息的管脚为通信管脚；反馈模块，用于确定所述测试信息所指示的管脚并非所述通信管脚，向所述芯片测试系统发送反馈信息；第二接收模块，用于从所述测试信息所指示的管脚接收模拟电压；响应模块，用于通过所述通信管脚向所述芯片测试系统输出状态信号。
根据本发明第五方面实施例的家用电器，具有如上述任一种所述的芯片。
本发明实施例中的上述一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果之一：无需在测试前对管脚分组，通过测试设备对反馈信息的反馈来控制切换装置的切换，即可实现对所有管脚的自动检测，无需根据被测芯片的型号调试测试设备，通用性强。
进一步的，通过继电器切换的方式，可以实现物理切断，使非通信用途的管脚不受其他因素影响，测试精度高。
进一步的，通过在接入模拟电压前，先确定被测管脚并非通信管脚，这样无需进行管脚分组或对应调试测试程序，可以实现全自动化测试。
本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的一种芯片测试系统的结构原理图；
图2是本发明实施例提供的另一种芯片测试系统的结构原理图；
图3是本发明实施例提供的一种芯片管脚输入特性的测试方法的流程示意图；
图4是本发明实施例提供的一种芯片的测试响应方法的流程示意图；
图5是本发明实施例提供的一种芯片的测试响应方法的结构示意图；
图6是本发明实施例提供的一种家用电器的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明的实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不能用来限制本发明的范围。
在本发明实施例的描述中，需要说明的是，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本发明实施例的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明实施例中的具体含义。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明实施例的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
下面结合图1和图2描述本发明实施例的芯片测试系统，该芯片测试系统可以用于测试管脚的输入特性。
如图1所示，本发明实施例的芯片测试系统包括：测试设备100和切换装置200，测试设备100通过切换装置200与被测芯片通信连接，当然测试设备100还可以直接或间接地与被测芯片电连接，以在测试时向被测芯片输出模拟电压，比如测试设备100的电源可以通过选通模块与被测芯片的管脚电连接。
如图1所示，切换装置200包括第一组通信接口D0、第二组通信接口D1和第三组通信接口D2，第一组通信接口D0可以包括一个通信接口或多个通信接口，第二组通信接口D1可以包括一个通信接口或多个通信接口，第三组通信接口D2可以包括一个通信接口或多个通信接口。第一组通信接口D0、第二组通信接口D1和第三组通信接口D2各自包括的通信接口的数目相等。
第一组通信接口D0、第二组通信接口D1和第三组通信接口D2各自包括的通信接口的数目与测试设备100与被测芯片之间的通信方式相关，或者说与被测芯片的通信口的类型有关。如果被测芯片的通信口由1根线组成，则每次占用1个管脚就能实现通信，那么第一组通信接口D0、第二组通信接口D1和第三组通信接口D2各自包括1个通信接口即可；如果被测芯片的通信口由2根线组成，则每次占用2个管脚就能实现通信，那么第一组通信接口D0、第二组通信接口D1和第三组通信接口D2各自包括2个通信接口即可；如果被测芯片的通信口由8根线组成，则每次占用8个管脚就能实现通信，那么第一组通信接口D0、第二组通信接口D1和第三组通信接口D2各自包括8个通信接口即可。
比如在图2所示的实施例中，测试设备100与被测芯片之间的通信方式为UART(Universal Asynchronous Receiver/Transmitter，通用异步收发传输器)通信，则对应地，第一组通信接口D0、第二组通信接口D1和第三组通信接口D2各自包括两个通信接口，第一组通信接口D0包括通信接口TXD和RXD，第二组通信接口D1包括通信接口TXD1和RXD1，第三组通信接口D2包括通信接口TXD2和RXD2。
其中，如图1所示，第一组通信接口D0与测试设备100电连接，比如图2所示的实施例中，第一组通信接口D0包括通信接口TXD和通信接口RXD，测试设备100包括控制芯片，通信接口TXD和通信接口RXD与控制芯片电连接。
被测芯片至少包括第一组管脚和第二组管脚，以被测芯片的通信口由2根线组成为例，被测芯片可以包括4个管脚，或者6个管脚或者更多个管脚。
第二组通信接口D1用于与被测芯片中的第一组管脚电连接，第三组通信接口D2用于与被测芯片中的第二组管脚电连接，在需要测试被测芯片的所有管脚的输入特性时，测试设备100的电源可以通过选通模块与被测芯片的每个管脚电连接。
第一组通信接口D0用于接收测试设备100发送的指示被测管脚的测试信息。测试信息的信息内容可以为“测试第N个管脚的输入特性”。
切换装置200用于基于测试设备100发送的控制指令，控制在第一连通态和第二连通态之间进行切换。
其中，第一组通信接口D0与第二组通信接口D1电连接的情况下为第一连通态，在第一连通态下，被测芯片中除第一组管脚外的其他所有管脚作为被测管脚，第一组管脚作为通信管脚。
换言之，在第一连通态下测试时，测试设备100发出的测试信息顺次通过第一组通信接口D0、第二组通信接口D1、第一组管脚传输给被测芯片，第一组管脚作为通信管脚在使用，这时可以测试除第一组管脚外的其他所有管脚的输入特性，比如在需要测试其他所有管脚中任一管脚的输入特性时，测试设备100可以向对应的管脚输入模拟电压，并通过第一组管脚、第二组通信接口D1、第一组通信接口D0采集被测芯片的状态信息，来测量该管脚的跳变点。
第一组通信接口D0与第三组通信接口D2电连接的情况下为第二连通态，在第二连通态下，第一组管脚作为被测管脚，第二组管脚作为通信管脚。
换言之，在第二连通态下测试时，测试设备100发出的测试信息顺次通过第一组通信接口D0、第三组通信接口D2、第二组管脚传输给被测芯片，第二组管脚作为通信管脚在使用，这时可以测试第一组管脚的输入特性，测试设备100可以向第一组管脚中的一个输入模拟电压，并通过第二组管脚、第三组通信接口D2、第一组通信接口D0采集被测芯片的状态信息，来测量该管脚的跳变点。
可以理解的是，由于在第一连通态下，可以测试除第一组管脚外的其他所有管脚的输入特性，因此，在第二连通态下，只需测试第一组管脚的输入特性，即可实现对被测芯片所有管脚的测试。
需要特别说明的是，本发明实施例的芯片测试系统中，测试设备100设置为根据被测芯片对测试信息的反馈信息，发出用于控制切换装置200的控制指令，这样对于任一种被测芯片，在测试前，无需将被测芯片的管脚分为两组——通信管脚和被测管脚，只需要基于通信方式的类型，从被测芯片中选择对应数目的任意管脚与第二组通信接口D1及第三组通信接口D2电连接，通过测试设备100对反馈信息的反馈来控制切换装置200的切换，即可实现对所有管脚的测试。
换言之，通过设置切换装置200，在接线前无需进行管脚分组，对不同的芯片可以采用完全一样的测试程序，可以实现全自动化测试。
根据本发明实施例的芯片测试系统，无需在测试前对管脚分组，通过测试设备100对反馈信息的反馈来控制切换装置200的切换，即可实现对所有管脚的自动检测，无需根据被测芯片的型号调试测试设备100，通用性强。
在一些实施例中，测试设备100具体用于，在第一连通态下，若确定测试信息所指示的并非第一组管脚，则对除第一组管脚外的其他管脚基于测试信息进行测试。
在第一连通态下，测试设备100的控制芯片发出测试信息，该测试信息依次通过控制芯片-第一组通信接口D0-第二组通信接口D1-第一组管脚发送到被测芯片。以图2所示的实施例为例，测试信息依次通过控制芯片-通信接口TXD-通信接口TXD1-第一组管脚中的一个发送到被测芯片。
被测芯片收到测试信息后，会基于测试信息发送反馈信息，测试设备100接收反馈信息后，不向切换装置200发送控制指令。
比如，被测芯片收到测试信息“测试第N个管脚的输入特性”；被测芯片判断第N个管脚是不是当前接收到测试信息的管脚所在的组，如果是，则不回应(即反馈信息为空)，如果不是，则回复“准备好”的反馈信息。
当然，被测芯片基于接收的测试信息发送的反馈信息也可以都不为空，即被测芯片可能生成两种反馈信息，测试设备100基于接收的反馈信息的类型，选择是否向切换装置200发送控制指令。
被测芯片接收到测试信息后，可以判断接收到测试信息的管脚是否为测试信息指示的管脚，即测试信息指示的管脚是否为第一组管脚中的一个，并给出对应的反馈信息，该反馈信息发送给测试设备100的控制芯片。
比如测试信息所指示的并非第一组管脚，则被测芯片可以反馈“准备好”的反馈信息，以图2所示的实施例为例，反馈信息依次通过第一组管脚中的另一个-通信接口RXD1-通信接口RXD-控制芯片发送到测试设备100。即可测试测试信息所指示的管脚的输入特性。
需要说明的是，在该状态下，可以对除第一组管脚外的其他管脚进行测试。
或者，测试设备100具体用于，在第一连通态下，若确定测试信息所指示的是第一组管脚，则向切换装置200发送控制指令，切换至第二连通态下对第一组管脚进行测试。
测试设备100的控制芯片发出测试信息，该测试信息依次通过控制芯片-第一组通信接口D0-第二组通信接口D1-第一组管脚发送到被测芯片，以图2所示的实施例为例，测试信息依次通过控制芯片-通信接口TXD-通信接口TXD1-第一组管脚中的一个发送到被测芯片。
被测芯片接收到测试信息后，可以判断接收到测试信息的管脚是否为测试信息指示的管脚，即测试信息指示的管脚是否为第一组管脚中的一个，并给出对应的反馈信息，该反馈信息发送给测试设备100的控制芯片。
测试设备100在目标时间内，未接收到从被测芯片发送的反馈信息(即反馈信息为空)，确定测试信息所指示的是第一组管脚，则向切换装置200发送控制指令，切换至第二连通态下对第一组管脚进行测试。
在第二连通态下，测试设备100的控制芯片发出测试信息，测试信息所指示的是第一组管脚，该测试信息依次通过控制芯片-第一组通信接口D0-第三组通信接口D2-第二组管脚发送到被测芯片。
测试信息所指示的是第一组管脚，则被测芯片可以反馈“准备好”的反馈信息，以图2所示的实施例为例，反馈信息依次通过第二组管脚中的另一个-通信接口RXD2-通信接口RXD-控制芯片发送到测试设备100。即可测试第一组管脚的输入特性。
或者，测试设备100具体用于，在第二连通态下，若确定测试信息所指示的并非第二组管脚，则对除第二组管脚外的其他管脚基于测试信息进行测试。
在第二连通态下，测试设备100的控制芯片发出测试信息，该测试信息依次通过控制芯片-第一组通信接口D0-第三组通信接口D2-第二组管脚发送到被测芯片。
被测芯片接收到测试信息后，可以判断接收到测试信息的管脚是否为测试信息指示的管脚，即测试信息指示的管脚是否为第二组管脚中的一个，并给出对应的反馈信息，该反馈信息发送给测试设备100的控制芯片。
比如测试信息所指示的是第一组管脚，则被测芯片可以反馈“准备好”的反馈信息，以图2所示的实施例为例，反馈信息依次通过第二组管脚中的另一个-通信接口RXD2-通信接口RXD-控制芯片发送到测试设备100。即可测试第一组管脚的输入特性。
需要说明的是，在该状态下，可以对除第二组管脚外的其他管脚进行测试。
或者，测试设备100具体用于，在第二连通态下，若确定测试信息所指示的是第二组管脚，则向切换装置200发送控制指令，切换至第一连通态下对第二组管脚进行测试。
在第一连通态下，测试设备100的控制芯片发出测试信息，该测试信息依次通过控制芯片-第一组通信接口D0-第二组通信接口D1-第一组管脚发送到被测芯片。
被测芯片收到测试信息后，会基于测试信息发送反馈信息，测试设备100接收反馈信息后，可以基于反馈信息向切换装置200发送控制指令。
测试信息所指示的是第二组管脚，则被测芯片可以反馈“准备好”的反馈信息，以图2所示的实施例为例，反馈信息依次通过第一组管脚中的另一个-通信接口RXD1-通信接口RXD-控制芯片发送到测试设备100。
在一些实施例中，切换装置200还可以包括控制接口，控制接口用于与测试设备100电连接，接收测试设备100发送的控制指令。在实际的执行中，控制接口可以测试设备100的控制芯片电连接，控制指令可以为高低电平信号等。
在一些实施例中，切换装置200可以为继电器。通过继电器切换的方式，可以实现物理切断，使非通信管脚不受其他因素影响，测试精度高。
如图2所示，切换装置200为继电器，且包括输入回路和输出回路，输入回路的控制接口接入控制信号U5_CTRL，输出回路具有第一组通信接口D0、第二组通信接口D1和第三组通信接口D2。
测试设备100与被测芯片之间的通信方式为UART通信，这样在每次测试时，通过通信接口TXD1和通信接口RXD1占用了被测芯片的2个管脚作为通信管脚。
第一组通信接口D0包括通信接口TXD和通信接口RXD，第二组通信接口D1包括通信接口TXD1和通信接口RXD1，第三组通信接口D2包括通信接口TXD2和通信接口RXD2。
测试设备100包括控制芯片，通信接口TXD1和通信接口RXD1控制芯片电连接，第二组通信接口D1和第三组通信接口D2可选择性地与第一组通信接口D0电连接。
在第一连通态，第一组通信接口D0的通信接口TXD与第二组通信接口D1的通信接口TXD1电连接，第一组通信接口D0的通信接口RXD与第二组通信接口D1的通信接口RXD1电连接。
在第二连通态，第一组通信接口D0的通信接口TXD与第三组通信接口D2的通信接口TXD2电连接，第一组通信接口D0的通信接口RXD与第三组通信接口D2的通信接口RXD2电连接，
继电器的输入回路包括：限流电阻R141、限流电阻R142和开关管Q70；继电器的输出回路包括继电器主体K1，继电器主体K1的各个端口分别连接通信接口TXD、通信接口RXD、通信接口TXD1、通信接口RXD1、通信接口TXD2和通信接口RXD2，其中继电器主体K1的端口4通过限流电阻R140连接通信接口TXD，继电器主体K1的端口9通过限流电阻R139连接通信接口RXD，继电器主体K1的两个控制端口之间连接二极管D70，且继电器的输入回路连接继电器主体K1的控制端口12，且继电器主体K1的控制端口1接入电源。
通信接口TXD和通信接口RXD均与测试设备100的控制芯片连通，通信接口TXD1通过通信接口TXD与测试设备100的控制芯片连通，通信接口RXD1通过通信接口RXD与测试设备100的控制芯片连通，通信接口TXD1和通信接口RXD1连接第一组管脚，通信接口TXD2和通信接口RXD2连接第二组管脚。
测试设备100通过控制输入回路的控制接口接入的控制信号U5_CTRL来控制继电器的切换：在输入回路的输入端接入的控制信号U5_CTRL为低电平时，通信接口TXD与通信接口TXD1电连接，通信接口RXD与通信接口RXD1电连接；在输入回路的输入端接入的控制信号U5_CTRL为高电平时，通信接口TXD与通信接口TXD2电连接，通信接口RXD与通信接口RXD2电连接。
如果被测芯片的通信口由1根线组成，则每次占用1个管脚就能实现通信；如果被测芯片的通信口由2根线组成，则每次占用2个管脚就能实现通信；如果被测芯片的通信口由8根线组成，则每次占用8个管脚就能实现通信。对应地，继电器的结构需要对应调整。
本发明还公开了一种芯片管脚输入特性的测试方法，该芯片管脚输入特性的测试方法使用如上述任一种实施例的芯片测试系统。
如图3所示，本发明实施例提供的芯片管脚输入特性的测试方法包括步骤310-步骤330。
步骤310、测试设备100通过第一组通信接口D0向被测芯片发送测试信息。
测试设备100的控制芯片发出测试信息，该测试信息依次通过控制芯片-第一组通信接口D0-某组通信接口-对应的管脚发送到被测芯片。
在第一连通态下，测试设备100的控制芯片发出测试信息，该测试信息依次通过控制芯片-第一组通信接口D0-第二组通信接口D1-第一组管脚发送到被测芯片。
在第二连通态下，测试设备100的控制芯片发出测试信息，该测试信息依次通过控制芯片-第一组通信接口D0-第三组通信接口D2-第二组管脚发送到被测芯片。
被测芯片收到测试信息后，会基于测试信息发送反馈信息，测试设备100接收反馈信息后，可以基于反馈信息向切换装置200发送或不发送控制指令。
比如，被测芯片收到测试信息“测试第N个管脚的输入特性”；被测芯片判断第N个管脚是不是当前接收到测试信息的管脚所在的组，如果是，则不回应(即反馈信息为空)，如果不是，则回复“准备好”的反馈信息。
当然，被测芯片基于接收的测试信息发送的反馈信息也可以都不为空，即被测芯片可能生成两种反馈信息，测试设备100基于接收的反馈信息的类型，选择是否向切换装置200发送控制指令。
被测芯片接收到测试信息后，可以判断接收到测试信息的管脚是否为测试信息指示的管脚，并给出对应的反馈信息，该反馈信息发送给测试设备100的控制芯片。
比如以图2所示的实施例为例，测试信息依次通过测试设备100的控制芯片-通信接口TXD-通信接口TXD1-第一组管脚中的一个发送到被测芯片。反馈信息依次通过第一组管脚中的另一个-通信接口RXD1-通信接口RXD-控制芯片发送到测试设备100。
步骤320、若确定测试信息所指示的管脚为通信管脚，则向切换装置200发送控制指令，切换切换装置200的连通态。
若初始状态为第一连通态，确定测试信息所指示的是第一组管脚，则向切换装置200发送控制指令，切换至第二连通态下对第一组管脚进行测试。
测试设备100的控制芯片发出测试信息，该测试信息依次通过控制芯片-第一组通信接口D0-第二组通信接口D1-第一组管脚发送到被测芯片，被测芯片接收到测试信息后，可以判断接收到测试信息的管脚是否为测试信息指示的管脚，即测试信息指示的管脚是否为第一组管脚中的一个，并给出对应的反馈信息，该反馈信息发送给测试设备100的控制芯片。
测试设备100在目标时间内，未接收到从被测芯片发送的反馈信息，确定测试信息所指示的是第一组管脚，则向切换装置200发送控制指令，切换至第二连通态下对第一组管脚进行测试。
在第二连通态下，测试设备100的控制芯片发出测试信息，测试信息所指示的是第一组管脚，该测试信息依次通过控制芯片-第一组通信接口D0-第三组通信接口D2-第二组管脚发送到被测芯片。测试信息所指示的是第一组管脚，则被测芯片可以反馈“准备好”的反馈信息，即可测试第一组管脚的输入特性。
若初始状态为第二连通态，确定测试信息所指示的是第二组管脚，则向切换装置200发送控制指令，切换至第一连通态下对第二组管脚进行测试。
在第一连通态下，测试设备100的控制芯片发出测试信息，该测试信息依次通过控制芯片-第一组通信接口D0-第二组通信接口D1-第一组管脚发送到被测芯片。被测芯片收到测试信息后，会基于测试信息发送反馈信息，测试设备100接收反馈信息后，可以基于反馈信息向切换装置200发送控制指令。
测试信息所指示的是第二组管脚，则被测芯片可以反馈“准备好”的反馈信息，即可测试第二组管脚的输入特性。
步骤330、若确定测试信息所指示的管脚为并非通信管脚，则对测试信息所指示的管脚进行测试。
若初始状态为第一连通态，若确定测试信息所指示的并非第一组管脚，则对除第一组管脚外的其他管脚基于测试信息进行测试。
在第一连通态下，测试设备100的控制芯片发出测试信息，该测试信息依次通过控制芯片-第一组通信接口D0-第二组通信接口D1-第一组管脚发送到被测芯片。以图2所示的实施例为例，测试信息依次通过控制芯片-通信接口TXD-通信接口TXD1-第一组管脚中的一个发送到被测芯片。
被测芯片收到测试信息后，会基于测试信息发送反馈信息，测试设备100接收反馈信息后，不向切换装置200发送控制指令。在该状态下，可以对除第一组管脚外的其他管脚进行测试。
若初始状态为第二连通态，若确定测试信息所指示的并非第二组管脚，则对除第二组管脚外的其他管脚基于测试信息进行测试。
在第二连通态下，测试设备100的控制芯片发出测试信息，该测试信息依次通过控制芯片-第一组通信接口D0-第三组通信接口D2-第二组管脚发送到被测芯片。
被测芯片接收到测试信息后，可以判断接收到测试信息的管脚是否为测试信息指示的管脚，即测试信息指示的管脚是否为第二组管脚中的一个，并给出对应的反馈信息，该反馈信息发送给测试设备100的控制芯片。在该状态下，可以对除第二组管脚外的其他管脚进行测试。
在该测试方法中，不依赖人工预先分出通信管脚或被测管脚，即判断某管脚是否为通信管脚完全是通过芯片测试系统自行应答判断，这样对于任一种被测芯片，在测试前，无需将被测芯片的管脚分为两组——通信管脚和被测管脚，只需要基于通信方式的类型，从被测芯片中选择对应数目的任意管脚与第二组通信接口D1及第三组通信接口D2电连接，通过测试设备100对反馈信息的反馈来控制切换装置200的切换，即可实现对所有管脚的测试。
换言之，该芯片管脚输入特性的测试方法，在接线前无需进行管脚分组，对不同的芯片可以采用完全一样的测试程序，可以实现全自动化测试。
根据本发明实施例的芯片管脚输入特性的测试方法，通过通信管脚判别的自动应答机制，且无需在测试前对管脚分组，可以实现对所有管脚的自动检测，无需根据被测芯片的型号调试测试方法，通用性强。
在一些实施例中，确定测试信息所指示的管脚为通信管脚，包括：在目标时间内，未接收到从被测芯片发送的反馈信息，确定测试信息所指示的管脚为通信管脚。
被测芯片收到测试信息“测试第N个管脚的输入特性”；被测芯片判断第N个管脚是不是当前接收到测试信息的管脚，如果是，则不回应，如果不是，则回复“准备好”的反馈信息。
通过设置目标时间未接收反馈信息的方式，来判断测试信息所指示的管脚为通信管脚，可以减少指令的数量，判断方法更简单。
当然，在另一些实施例中，确定测试信息所指示的管脚为通信管脚，包括：从被测芯片接收基于测试信息确定的反馈信息；基于反馈信息，确定测试信息所指示的管脚为通信管脚。
被测芯片基于接收的测试信息发送的反馈信息也可以都不为空，即被测芯片可能生成两种反馈信息，测试设备100基于接收的反馈信息的类型，选择是否向切换装置200发送控制指令。
换言之，被测芯片接收到测试信息后，可以判断与测试设备100的控制芯片连通的管脚是否为被测管脚，如果被测芯片判断第N个管脚不是当前接收到测试信息的管脚，也回复对应的反馈信息。
在一些实施例中，确定测试信息所指示的管脚为并非通信管脚，包括：从被测芯片接收基于测试信息确定的反馈信息；基于反馈信息，确定测试信息所指示的管脚为并非通信管脚。
控制芯片发出测试信息，该测试信息依次通过控制芯片-通信接口-管脚发送到被测芯片，以图2所示的实施例为例，在图2所示的实施例中，测试信息依次通过测试设备100的控制芯片-通信接口TXD-通信接口TXD1-管脚发送到被测芯片，如果与测试设备100的控制芯片连通的管脚并非被测管脚，则被测芯片将“准备好”的反馈信息依次通过管脚-通信接口RXD1-通信接口RXD发送到测试设备100的控制芯片，测试设备100从被测芯片接收基于测试信息确定的反馈信息，即确认测试信息所指示的管脚为并非通信管脚。
在一些实施例中，若确定测试信息所指示的管脚为通信管脚，则向切换装置200发送控制指令，切换切换装置200的连通态，包括：在第一连通态下，若确定测试信息所指示的是第一组管脚，则向切换装置200发送控制指令，切换至第二连通态。
或若确定测试信息所指示的管脚为通信管脚，则向切换装置200发送控制指令，切换切换装置200的连通态，包括：在第二连通态下，若确定测试信息所指示的是第二组管脚，则向切换装置200发送控制指令，切换至第一连通态。
在一些实施例中，对测试信息所指示的管脚进行测试，包括：向测试信息所指示的管脚输出模拟电压；通过通信管脚，从被测芯片接收基于模拟电压确定的状态信号；基于状态信号，确定测试信息所指示的管脚的输入特性。
换言之，在确认测试信息指示的管脚并非通信管脚后，即可开始正式的测量，测试设备100可以向被测管脚输出模拟电压。
在实际的执行中，测试设备100可以包括电源，电源与被测管脚导通，以向被测管脚输出模拟电压，其中测试设备100可以包括选通模块，电源可以通过选通模块与被测管脚导通。
被测芯片对被施加的模拟电压会输出状态信号，该状态信号通过通信管脚及第一通信接口输出给测试设备100。
该状态信号可能为0或1，在状态信号发生跳变时，对应的模拟电压即为跳变点，该跳变点可以作为被测管脚的输入特性。
在实际的执行中，可以从以下两个方面中的至少一个确定跳变点。
模拟电压从目标最小值开始，确定状态信号为0，增大模拟电压，直至状态信号跳变为1，记录状态信号跳变为1时对应的模拟电压。
换言之，测试设备100给出一个模拟电压V0(目标最小值是0V)；测试设备100读取管脚的状态信号，如果状态信号为0，则增大电压V0；如果I/O状态为1，则记录此时的电压V0，测试结束。
模拟电压从目标最大值开始，确定状态信号为1，减小模拟电压，直至状态信号跳变为0，记录状态信号跳变为0时对应的模拟电压。
换言之，测试设备100给出一个模拟电压V1(目标最大值是最大输入电压)；测试设备100读取管脚的状态信号；如果状态信号为1，则减小电压V1；如果状态信号为0，则记录此时的电压V1，测试结束。
需要说明的是，相关技术中，由于测试的构思为对每个芯片单独进行管脚分组，并对应调试接入方式或对应调试测试程序，因此，往往在测试开始时，直接接入模拟电压。
下面参考图2和图3描述本发明一个实施例的芯片管脚输入特性的测试方法。
测试设备100与被测芯片之间的通信方式为UART通信，切换装置200的通信接口TXD和通信接口RXD与测试设备100的控制芯片电连接，切换装置200的通信接口TXD1和通信接口RXD1为一组，通信接口TXD2和通信接口RXD2为一组，通信接口TXD1、通信接口RXD1、通信接口TXD2和通信接口RXD2各自连接一个管脚。比如通信接口TXD1与第1个管脚电连接，通信接口RXD1与第2个管脚电连接，通信接口TXD2与第3个管脚电连接，通信接口RXD2与第4个管脚电连接。
步骤1、在初始状态下，U5_CTRL为低电平，通信接口TXD1与通信接口TXD电连接，通信接口RXD1与通信接口RXD电连接，通信接口TXD2与通信接口TXD断开，通信接口RXD2与通信接口RXD断开。
步骤2、测试设备100利用通信接口TXD和通信接口TXD1发送测试信息，测试信息的信息内容包括“测试第N个管脚的输入特性”。
步骤3、测试设备100如果通过通信接口RXD1和通信接口RXD收到“准备好”的信息，则进行如下所述的测试：模拟电压从目标最小值开始，确定状态信号为0，增大模拟电压，直至状态信号跳变为1，记录状态信号跳变为1时对应的模拟电压；模拟电压从目标最大值开始，确定状态信号为1，减小模拟电压，直至状态信号跳变为0，记录状态信号跳变为0时对应的模拟电压。测试设备100如果在目标时间内未收到“准备好”的信息，则进行步骤4。
步骤4、U5_CTRL为高电平，通信接口TXD2与通信接口TXD电连接，通信接口RXD2与通信接口RXD电连接，通信接口TXD1与通信接口TXD断开，通信接口RXD1与通信接口RXD断开。
步骤5、测试设备100利用通信接口TXD和通信接口TXD2发送测试信息，测试信息的信息内容包括“测试第N个管脚的输入特性”。
步骤6、测试设备100如果通过通信接口RXD2和通信接口RXD收到“准备好”的信息，则进行如下所述的测试：模拟电压从目标最小值开始，确定状态信号为0，增大模拟电压，直至状态信号跳变为1，记录状态信号跳变为1时对应的模拟电压；模拟电压从目标最大值开始，确定状态信号为1，减小模拟电压，直至状态信号跳变为0，记录状态信号跳变为0时对应的模拟电压。测试设备100如果在目标时间内未收到“准备好”的信息，则报故障信息。
需要说明的是，被测芯片收到测试信息“测试第N个管脚的输入特性”；被测芯片判断第N个管脚是不是当前接收到测试信息的管脚，如果是，则不回应，如果不是，则回复“准备好”的反馈信息。
换言之，如果需要测试第N个管脚的输入特性，则要给第N个管脚输入模拟电压，上述测试方法可以在输入模拟电压前，先判断第N个管脚是否是用于通信传输，如果是，则切换用于通信传输的管脚。这样本发明实施例的芯片管脚输入特性的测试方法，在对不同的芯片进行测试时，无需单独调试测试设备100的程序，且无需进行管脚分组，测试效率大大提高，且可以降低对测试人员的技术依赖，通用性好。
本发明还公开了一种芯片的测试响应方法，该芯片即上述实施例所述的被测芯片。
如图4所示，本发明实施例的芯片的测试响应方法包括：步骤410-步骤440。
步骤410、接收芯片测试系统发送的测试信息，测试信息用于指示被测管脚，接收测试信息的管脚为通信管脚。
步骤420、确定测试信息所指示的管脚并非通信管脚，向芯片测试系统发送反馈信息。
步骤430、从测试信息所指示的管脚接收模拟电压。
步骤440、通过通信管脚向芯片测试系统输出状态信号。
在一些实施例中，该芯片的测试响应方法还包括：步骤421、确定测试信息所指示的管脚是通信管脚，不向芯片测试系统发送反馈信息。
换言之，芯片测试系统的测试设备100的控制芯片发出测试信息，该测试信息依次通过控制芯片-第一组通信接口D0-某组通信接口-通信管脚发送到被测芯片。
在第一连通态下，测试设备100的控制芯片发出测试信息，该测试信息依次通过控制芯片-第一组通信接口D0-第二组通信接口D1-第一组管脚发送到被测芯片。
在第二连通态下，测试设备100的控制芯片发出测试信息，该测试信息依次通过控制芯片-第一组通信接口D0-第三组通信接口D2-第二组管脚发送到被测芯片。
被测芯片收到测试信息后，会基于测试信息发送反馈信息，测试设备100接收反馈信息后，可以基于反馈信息向切换装置200发送或不发送控制指令。
比如，被测芯片收到测试信息“测试第N个管脚的输入特性”；被测芯片判断第N个管脚是不是当前接收到测试信息的管脚所在的组，如果是，则不回应(即反馈信息为空)，如果不是，则回复“准备好”的反馈信息。
当然，被测芯片基于接收的测试信息发送的反馈信息也可以都不为空，即被测芯片可能生成两种反馈信息，测试设备100基于接收的反馈信息的类型，选择是否向切换装置200发送控制指令。
被测芯片接收到测试信息后，可以判断接收到测试信息的管脚是否为测试信息指示的管脚，并给出对应的反馈信息，该反馈信息发送给测试设备100的控制芯片。
根据本发明实施例的芯片的测试响应方法，建立了通过通信管脚判别的自动应答机制，且无需在测试前对管脚分组，可以实现对所有管脚的自动检测，无需根据被测芯片的型号调试测试方法。
本发明还公开了一种芯片，该芯片与上述的芯片的测试响应方法对应。
如图5所示，根据本发明实施例的芯片包括：第一接收模块510、反馈模块520、第二接收模块530和响应模块540。
其中，第一接收模块510，用于接收芯片测试系统发送的测试信息，测试信息用于指示被测管脚，接收测试信息的管脚为通信管脚；反馈模块520，用于确定测试信息所指示的管脚并非通信管脚，向芯片测试系统发送反馈信息；第二接收模块530，用于从测试信息所指示的管脚接收模拟电压；响应模块540，用于通过通信管脚向芯片测试系统输出状态信号。
根据本发明实施例的芯片，帮助建立了通过通信管脚判别的自动应答机制，且无需在测试前对管脚分组，可以实现对所有管脚的自动检测，无需根据被测芯片的型号调试测试方法。
本发明还公开了一种家用电器。
如图6所示，根据本发明实施例的家用电器包括：上述任一种芯片。该家用电器包括但不限于：电视机、洗衣机、冰箱、空调、空气净化器、微波炉、台灯等。
以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
以上实施方式仅用于说明本发明，而非对本发明的限制。尽管参照实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，对本发明的技术方案进行各种组合、修改或者等同替换，都不脱离本发明技术方案的精神和范围，均应涵盖在本发明的权利要求范围中。

Claims (11)

1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：
测试设备和切换装置；
其中，所述切换装置包括第一组通信接口、第二组通信接口和第三组通信接口；所述第一组通信接口与所述测试设备电连接，用于接收所述测试设备发送的指示被测管脚的测试信息，所述第二组通信接口用于与被测芯片中的第一组管脚电连接，所述第三组通信接口用于与所述被测芯片中的第二组管脚电连接；
所述切换装置用于基于所述测试设备发送的控制指令，控制在第一连通态和第二连通态之间进行切换；其中，所述第一组通信接口与所述第二组通信接口电连接的情况下为所述第一连通态，在所述第一连通态下，所述被测芯片中除所述第一组管脚外的其他所有管脚作为被测管脚，所述第一组管脚作为通信管脚；所述第一组通信接口与所述第三组通信接口电连接的情况下为所述第二连通态，在所述第二连通态下，所述第一组管脚作为被测管脚，所述第二组管脚作为通信管脚；
所述测试设备具体用于，
在所述第一连通态下，若确定所述测试信息所指示的并非所述第一组管脚，则对除所述第一组管脚外的其他管脚基于所述测试信息进行测试；或
在所述第一连通态下，若确定所述测试信息所指示的是所述第一组管脚，则向所述切换装置发送所述控制指令，切换至所述第二连通态下对所述第一组管脚进行测试；或
在所述第二连通态下，若确定所述测试信息所指示的并非所述第二组管脚，则对除所述第二组管脚外的其他管脚基于所述测试信息进行测试；或
在所述第二连通态下，若确定所述测试信息所指示的是所述第二组管脚，则向所述切换装置发送所述控制指令，切换至所述第一连通态下对所述第二组管脚进行测试。
2.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述切换装置还包括控制接口，用于与所述测试设备电连接，接收所述测试设备发送的所述控制指令。
3.根据权利要求1-2中任一项所述的芯片测试系统，其特征在于，所述切换装置为继电器。
4.一种使用如权利要求1-3中任一项所述的芯片测试系统的芯片管脚输入特性的测试方法，其特征在于，包括：
所述测试设备通过所述第一组通信接口向被测芯片发送测试信息；
若确定所述测试信息所指示的管脚为通信管脚，则向所述切换装置发送所述控制指令，切换所述切换装置的连通态；
若确定所述测试信息所指示的管脚为并非通信管脚，则对所述测试信息所指示的管脚进行测试。
5.根据权利要求4所述的芯片管脚输入特性的测试方法，其特征在于，所述确定所述测试信息所指示的管脚为通信管脚，包括：
在目标时间内，未接收到从所述被测芯片发送的反馈信息，确定所述测试信息所指示的管脚为通信管脚。
6.根据权利要求4所述的芯片管脚输入特性的测试方法，其特征在于，所述确定所述测试信息所指示的管脚为通信管脚，包括：
从所述被测芯片接收基于所述测试信息确定的反馈信息；
基于所述反馈信息，确定所述测试信息所指示的管脚为通信管脚。
7.根据权利要求4所述的芯片管脚输入特性的测试方法，其特征在于，所述确定所述测试信息所指示的管脚为并非通信管脚，包括：
从所述被测芯片接收基于所述测试信息确定的反馈信息；
基于所述反馈信息，确定所述测试信息所指示的管脚为并非通信管脚。
8.根据权利要求4-7中任一项所述的芯片管脚输入特性的测试方法，其特征在于，所述若确定所述测试信息所指示的管脚为通信管脚，则向所述切换装置发送所述控制指令，切换所述切换装置的连通态，包括：
在所述第一连通态下，若确定所述测试信息所指示的是所述第一组管脚，则向所述切换装置发送所述控制指令，切换至所述第二连通态；或
在所述第二连通态下，若确定所述测试信息所指示的是所述第二组管脚，则向所述切换装置发送所述控制指令，切换至所述第一连通态。
9.根据权利要求4-7中任一项所述的芯片管脚输入特性的测试方法，其特征在于，所述对所述测试信息所指示的管脚进行测试，包括：
向所述测试信息所指示的管脚输出模拟电压；
通过所述通信管脚，从被测芯片接收基于所述模拟电压确定的状态信号；
基于所述状态信号，确定所述测试信息所指示的管脚的输入特性。
10.一种基于权利要求1-3任一项所述的芯片测试系统对芯片的测试响应方法，其特征在于，包括：
接收芯片测试系统发送的测试信息，所述测试信息用于指示被测管脚，接收所述测试信息的管脚为通信管脚；
确定所述测试信息所指示的管脚并非所述通信管脚，向所述芯片测试系统发送反馈信息；
从所述测试信息所指示的管脚接收模拟电压；
通过所述通信管脚向所述芯片测试系统输出状态信号。
11.根据权利要求10所述的芯片的测试响应方法，其特征在于，还包括：
确定所述测试信息所指示的管脚是所述通信管脚，不向所述芯片测试系统发送反馈信息。
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