CN105911452A - 一种多sam卡模块测试电路、测试设备和测试方法 - Google Patents
一种多sam卡模块测试电路、测试设备和测试方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN105911452A CN105911452A CN201610234531.6A CN201610234531A CN105911452A CN 105911452 A CN105911452 A CN 105911452A CN 201610234531 A CN201610234531 A CN 201610234531A CN 105911452 A CN105911452 A CN 105911452A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- input pin
- test
- pin
- rst
- sam card
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
本发明提供一种多SAM卡模块测试电路、测试设备和测试方法，解决主板上多个SAM卡接口的硬件测试问题。本发明属于主板硬件测试领域，特别是支持多个SAM卡的主板的测试。其包括VCC输入引脚、IO输入引脚、CLK输入引脚、第一RST输入引脚、第二RST输入引脚、SAM卡和切换电路；所述VCC输入引脚、IO输入引脚、CLK输入引脚分别连接SAM卡的VCC引脚、IO引脚和CLK引脚；所述切换电路包括至少两个输入引脚，和一个输出引脚；所述第一RST输入引脚和第二RST输入引脚分别连接不同的输入引脚；所述输出引脚连接SAM卡的RST引脚。上述技术方案切换电路用于对各RST输入引脚进行切换，切换输出的RST输入引脚作为SAM卡RST的输入，实现测试电路上只有一个SAM卡，并且无需修改现有的测试软件，即可测试支持多SAM卡的主板。
Description
技术领域
本发明属于主板硬件测试领域，特别是支持多个SAM卡的主板的测试。
背景技术
传统POS机都有支持SAM卡功能，有的POS机可最多支持四张SAM卡，而其POS内部的主板在经过SMT生产后会经过一道工装测试，以测试主板的硬件焊接等。其中主板的SAM卡模块电路的测试方案是其支持几张SAM卡就会在测试工装电路上对应留几个SAM卡座，以对主板的各个SAM卡接口实现功能检测，即主板各SAM卡接口测试是分开的。
在实现本发明的过程中，发明人发现，在测试时，根据主板支持SAM卡的数量不同，选用的测试工装电路也是不同。如图1所示，对于不同设计的主板，需要设计不同的测试工装电路；而且SAM卡座在测试设备上占位较大。
发明内容
以下给出对一个或更多个方面的简化概述以力图提供对此类方面的基本理解。此概述不是所有构想到的方面的详尽综览，并且既非旨在指认出所有方面的关键性或决定性要素亦非试图界定任何或所有方面的范围。其唯一的目的是要以简化形式给出一个或更多个方面的一些概念以作为稍后给出的更加具体的说明之序。
本发明提供一种多SAM卡模块测试电路、测试设备和测试方法解决主板上多个SAM卡接口的硬件测试问题。
为实现上述目的，发明人提供了一种多SAM卡模块测试电路，包括VCC输入引脚、IO输入引脚、CLK输入引脚、第一RST输入引脚、第二RST输入引脚、SAM卡、切换电路；
所述VCC输入引脚、IO输入引脚、CLK输入引脚分别连接SAM卡的VCC引脚、IO引脚、CLK引脚；
所述切换电路包括至少两个输入引脚和一个输出引脚；所述第一RST输入引脚和第二RST输入引脚分别连接不同的输入引脚；所述输出引脚连接SAM卡的RST引脚。
进一步，还包括第三RST输入引脚；
所述切换电路包括至少三个输入引脚；所述第一RST输入引脚、第二RST输入引脚、第三RST输入引脚分别连接不同的输入引脚。
进一步，还包括第四RST输入引脚；
所述切换电路包括至少四个输入引脚；所述第一RST输入引脚、第二RST输入引脚、第三RST输入引脚和第四RST输入引脚分别连接不同的输入引脚。
进一步，还包括片选输入引脚，所述切换电路是片选芯片；所述片选输入引脚连接片选芯片的片选引脚。
进一步，所述切换电路是自动切换电路。
发明人还提供一种测试设备，所述测试设备使用上述任一多SAM卡模块测试电路。
发明人还提供一种多SAM卡模块测试方法，由测试设备通过通信接口发送预先设定的测试指令给被测主板的MCU，让MCU依次进行SAM1到SAM4的卡功能检测，然后被测主板的MCU将测试结果反馈给测试设备；
测试设备为上述任一的测试设备。
进一步，在步骤“测试设备通过通信接口发送预先设定的测试指令给被测主板的MCU”之前还包括步骤：
测试设备连接网络，开机后，由测试员输入登入的相关信息，验证信息OK后进入测试系统界面；
界面提示请扫入主板信息，测试员先用测试设备上带的一维扫描枪扫被测主板上的条形码，将主板信息输入到测试设备，然后将被测主板送入测试设备；
测试设备检验到被测主板到位后，开始进入测试流程；
给被测主板上电，并通过通信接口跟被测主板建立联接；
进一步，在步骤“测试设备通过通信接口发送预先设定的测试指令给被测主板的MCU”之后还包括步骤：
测试设备通过网络将测试数据送入服务器后台，由后台对数据进行处理，对数据进行处理包括对其进行统计分析，判断各批次的被测主板质量情况和质量发布曲线，并将结果生成Excel格式文件储存；主板维修人员可通过主板上的信息从后台读取相关的故障主板故障信息。区别于现有技术，上述技术方案切换电路用于对各RST输入引脚进行切换，切换输出的RST输入引脚作为SAM卡RST的输入，实现测试电路上只有一个SAM卡，并且无需修改现有的测试软件，即可测试支持多SAM卡的主板。
为能达成前述及相关目的，这一个或更多个方面包括在下文中充分描述并在所附权利要求中特别指出的特征。以下描述和附图详细阐述了这一个或更多个方面的某些说明性特征。但是，这些特征仅仅是指示了可采用各种方面的原理的各种方式中的若干种，并且本描述旨在涵盖所有此类方面及其等效方面。
附图说明
以下将结合附图来描述所公开的方面，提供附图是为了说明而非限定所公开的方面，附图中相似的标号标示相似要素，并且在其中：
图1为背景技术所述主板与测试电路连接示意图；
图2为具体实施方式所述主板与测试电路连接示意图；
图3、为具体实施方式的一种切换电路的实现方式(片选芯片)；
图4、为具体实施方式的一种切换电话的实现方式(二极管)。
附图标记说明：
10、主板；
110、MCU；
120、SAM卡驱动电路；
20、测试设备；
210、测试系统；
240、SAM卡1；
250、SAM卡2；
260、SAM卡3；
270、SAM卡4；
280、切换电路；
290、SAM卡。
具体实施方式
为详细说明技术方案的技术内容、构造特征、所实现目的及效果，以下结合具体实施例并配合附图详予说明。在以下描述中，出于解释目的阐述了众多的具体细节以提供对一个或更多个方面的透彻理解。但是显而易见的是，没有这些具体细节也可实践此类方面。
首字母缩写列表
RST:重置，reset的缩写；
IO:输入输出，input and output的缩写；
CLK：时钟，clock的缩写；
VCC：电源；
MCU:微控制单元,Microcontroller Unit的缩写MCU。
SAM卡：全称是Security Access module；是一种特殊的CPU卡；存储了密钥和加解密算法。
发明人提供一种多SAM卡模块测试电路，该测试电路可以作为测试设备，也可以作为测试设备中的一部分电路。如图2所示，包括VCC输入引脚(如图VCC)、IO输入引脚(如图IO)、CLK输入引脚(如图CLK)、第一RST输入引脚(如图RST1)、第二RST输入引脚(如图RST2)、SAM卡290和切换电路280；
所述VCC输入引脚、IO输入引脚、CLK输入引脚分别连接SAM卡的VCC引脚、IO引脚和CLK引脚；
所述切换电路280包括至少两个输入引脚和一个输出引脚；所述第一RST输入引脚和第二RST输入引脚分别连接切换电路的不同的输入引脚；所述输出引脚连接SAM卡290的RST引脚。
上述多SAM卡模块测试电路用于测试支持多SAM卡的主板10。主板包含MCU110、SAM卡驱动电路120，SAM卡驱动电路支持至少2个SAM卡，即主板支持至少2个SAM卡。主板支持的各SAM卡的VCC、IO、CLK、RST的电学特性与电学参数是一致的，即主板支持的各SAM卡的规格是等同的。上述VCC输入引脚、IO输入引脚、CLK输入引脚、第一RST输入引脚、第二RST输入引脚为主板的输入引脚，即分别在主板上有对应的引脚。
切换电路280用于对各RST输入引脚进行切换，切换输出的RST输入引脚作为SAM卡RST的输入，实现测试电路上只有一个SAM卡，并且无需修改现有的测试软件，即可测试支持多SAM卡的主板。
切换电路280可以是由简单二极管组成的切换电路，也可以是片选电路，例如切换电路可以是根据第一RST输入引脚和第二RST输入引脚的电平的高低，选择自动切换到其中电平输入引脚高的。也可以是如图4所示的简单二极管组成的切换电路，在某一RST输入引脚为高时切换电路的输出的RST引脚为高，从而实现测试设备中的SAM卡RST引脚的使能。在另一些实施例中，也可以是切换电路采用片选芯片，例如图3所示，为一种型号为74HCT4052DB的片选芯片，测试设备上具有片选输入引脚，用于控制RST输入引脚的有效性。所述片选输入引脚连接片选芯片的片选引脚S0、S1，RST输入引脚分别连接片选芯片的输入引脚1Y0-1Y3。从而实现切换电路对第一RST输入引脚和第二RST输入引脚的切换。在测试SAM卡时通过控制S0、S1通道切换控制信号，在测试SAM1卡的时候控制S0和S1切换到RST1通道，然后进行测试，并依次类推，从SAM1到SAM4依次测试。
在另一些实施例中，主板还输出第三RST输入引脚(如图RST3)，切换电路包括至少三个输入引脚；所述第一RST输入引脚(如图RST1)、第二RST输入引脚(如图RST2)、第三RST输入引脚(如图RST3)分别连接切换电路的不同的输入引脚。切换电路用于对各输入的RST输入引脚进行切换，切换输出的RST输入引脚作为SAM卡RST的输入，实现测试电路上只有一个SAM卡，并且无需修改现有的测试软件，即可测试支持三个SAM卡的主板。
在另一些实施例中，主板还输出第四RST输入引脚，切换电路包括至少四个输入引脚；所述第一RST输入引脚(如图RST1)、第二RST输入引脚(如图RST2)、第三RST输入引脚(如图RST3)和第四RST输入引脚(如图RST4)分别连接不同的输入引脚。切换电路用于对各输入的RST输入引脚进行切换，切换输出的RST输入引脚作为SAM卡RST的输入，实现测试电路上只有一个SAM卡，并且无需修改现有的测试软件，即可测试支持4个SAM卡的主板。
发明人还提供一种测试设备，所述测试设备包括上述任一多SAM卡模块测试电路。该设备上具有测试系统210，该测试系统与主板的MCU通过通信接口通信。该测试设备可以测试支持多SAM卡的POS机，支持多SAM卡的微型POS机等。
发明人提供一种多SAM卡模块的测试方法，在一实施例中，该方法是这样实现的：
S101、测试设备连接网络，开机后，由测试员输入登入的相关信息，验证信息OK后进入测试系统界面；
S102、界面提示请扫入主板信息，测试员先用测试设备上带的一维扫描枪扫被测主板上的条形码，将主板信息输入到测试设备，然后将被测主板送入测试设备；
S103、测试设备检验到被测主板到位后，开始进入测试流程；
S104、给被测主板上电，并通过通信接口跟被测主板建立联接；
S104、由测试设备通过通信接口发预先设定好的指令给被测主板的MCU，让MCU依次进行SAM1到SAM4的卡功能检测，然后被测主板的MCU将测试结果反馈给测试设备。
S106、测试员通过测试设备的测试结果，来区分被测主板是否存在故障，并做区分，有故障的板送到维修处等待维修。
S107、测试设备通过网络将测试数据送入服务器后台，由后台对数据进行处理，对数据进行处理包括对其进行统计分析，判断各批次的被测主板质量情况和质量发布曲线，并将结果生成Excel格式文件储存。主板维修人员可通过主板上的信息从后台读取相关的故障主板故障信息，并进行针对性的维修，有效提高效率。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”或“包含……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的要素。此外，在本文中，“大于”、“小于”、“超过”等理解为不包括本数；“以上”、“以下”、“以内”等理解为包括本数。
尽管已经对上述各实施例进行了描述，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例做出另外的变更和修改，所以以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利保护范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围之内。
Claims (9)
1.一种多SAM卡模块测试电路，其特征在于：包括VCC输入引脚、IO输入引脚、CLK输入引脚、第一RST输入引脚、第二RST输入引脚、SAM卡和切换电路；
所述VCC输入引脚、IO输入引脚、CLK输入引脚分别连接SAM卡的VCC引脚、IO引脚和CLK引脚；
所述切换电路包括至少两个输入引脚和一个输出引脚；所述第一RST输入引脚和第二RST输入引脚分别连接切换电路的不同的输入引脚；所述输出引脚连接SAM卡的RST引脚。
2.根据权利要求1所述的一种多SAM卡模块测试电路，其特征在于：还包括第三RST输入引脚；
所述切换电路包括至少三个输入引脚；所述第一RST输入引脚、第二RST输入引脚、第三RST输入引脚分别连接切换电路的不同的输入引脚。
3.根据权利要求1所述的一种多SAM卡模块测试电路，其特征在于：还包括第四RST输入引脚；
所述切换电路包括至少四个输入引脚；所述第一RST输入引脚、第二RST输入引脚、第三RST输入引脚和第四RST输入引脚分别连接切换电路的不同的输入引脚。
4.根据权利要求1所述的一种多SAM卡模块测试电路，其特征在于：还包括片选输入引脚，所述切换电路是片选芯片；所述片选输入引脚连接片选芯片的片选引脚。
5.根据权利要求1所述的一种多SAM卡模块测试电路，其特征在于：所述切换电路是自动切换电路。
6.一种测试设备，其特征在于：包括如权利要求1-5所述任一SAM卡模块测试电路。
7.一种多SAM卡模块测试方法，其特征在于：由测试设备通过通信接口发送预先设定的测试指令给被测主板的MCU，让MCU依次进行SAM1到 SAM4的卡功能检测，然后被测主板的MCU将测试结果反馈给测试设备；
测试设备为权利要求6所述的测试设备。
8.根据权利要求7所述的多SAM卡模块测试方法，其特征在于：
在步骤“测试设备通过通信接口发送预先设定的测试指令给被测主板的MCU”之前还包括步骤：
测试设备连接网络，开机后，由测试员输入登入的相关信息，验证信息OK后进入测试系统界面；
界面提示请扫入主板信息，测试员先用测试设备上带的一维扫描枪扫被测主板上的条形码，将主板信息输入到测试设备，然后将被测主板送入测试设备；
测试设备检验到被测主板到位后，开始进入测试流程；
给被测主板上电，并通过通信接口跟被测主板建立联接。
9.根据权利要求7所述的多SAM卡模块测试方法，其特征在于：
在步骤“测试设备通过通信接口发送预先设定的测试指令给被测主板的MCU”之后还包括步骤：
测试设备通过网络将测试数据送入服务器后台，由后台对数据进行处理，对数据进行处理包括对其进行统计分析，判断各批次的被测主板质量情况和质量发布曲线，并将结果生成Excel格式文件储存；主板维修人员可通过主板上的信息从后台读取相关的故障主板故障信息。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201610234531.6A CN105911452A (zh) | 2016-04-15 | 2016-04-15 | 一种多sam卡模块测试电路、测试设备和测试方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201610234531.6A CN105911452A (zh) | 2016-04-15 | 2016-04-15 | 一种多sam卡模块测试电路、测试设备和测试方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN105911452A true CN105911452A (zh) | 2016-08-31 |
Family
ID=56746229
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201610234531.6A Pending CN105911452A (zh) | 2016-04-15 | 2016-04-15 | 一种多sam卡模块测试电路、测试设备和测试方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN105911452A (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111929562A (zh) * | 2020-07-03 | 2020-11-13 | 上海美仁半导体有限公司 | 芯片测试系统、测试方法、芯片的测试响应方法和芯片 |
| CN115294702A (zh) * | 2022-07-12 | 2022-11-04 | 华录智达科技股份有限公司 | 一种支持多个sam卡连接到微控制器的连接电路 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5233564A (en) * | 1990-06-08 | 1993-08-03 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Multiport memory with test signal generating circuit controlling data transfer from ram port to sam port |
| CN101089640A (zh) * | 2006-06-16 | 2007-12-19 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 多个电池插槽测试系统及方法 |
| CN101685432A (zh) * | 2008-09-22 | 2010-03-31 | 联想(北京)有限公司 | 实现usb接口切换的装置，实现usb接口测试的系统 |
| CN101713812A (zh) * | 2009-11-26 | 2010-05-26 | 北京中星微电子有限公司 | 一种ic设计电路板的测试系统、方法及一种测试接口板 |
| CN102467431A (zh) * | 2010-11-19 | 2012-05-23 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | Sata接口测试装置及测试方法 |
-
2016
- 2016-04-15 CN CN201610234531.6A patent/CN105911452A/zh active Pending
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5233564A (en) * | 1990-06-08 | 1993-08-03 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Multiport memory with test signal generating circuit controlling data transfer from ram port to sam port |
| CN101089640A (zh) * | 2006-06-16 | 2007-12-19 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 多个电池插槽测试系统及方法 |
| CN101685432A (zh) * | 2008-09-22 | 2010-03-31 | 联想(北京)有限公司 | 实现usb接口切换的装置，实现usb接口测试的系统 |
| CN101713812A (zh) * | 2009-11-26 | 2010-05-26 | 北京中星微电子有限公司 | 一种ic设计电路板的测试系统、方法及一种测试接口板 |
| CN102467431A (zh) * | 2010-11-19 | 2012-05-23 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | Sata接口测试装置及测试方法 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111929562A (zh) * | 2020-07-03 | 2020-11-13 | 上海美仁半导体有限公司 | 芯片测试系统、测试方法、芯片的测试响应方法和芯片 |
| CN115294702A (zh) * | 2022-07-12 | 2022-11-04 | 华录智达科技股份有限公司 | 一种支持多个sam卡连接到微控制器的连接电路 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN106887257B (zh) | 一种多智能卡测试系统和方法 | |
| CN107632219B (zh) | 一种自动开关机测试系统及其测试方法 | |
| CN106294222A (zh) | 一种确定pcie设备与插槽对应关系的方法及装置 | |
| CN103592898B (zh) | 一种电子产品生产自动化控制系统及方法 | |
| CN101105782B (zh) | 基于高性能计算通讯架构的边界扫描系统及方法 | |
| CN101408582B (zh) | 电路板测试方法及装置 | |
| CN101576603A (zh) | 测试装置 | |
| CN110174621A (zh) | 汽车电池下线测试系统及方法 | |
| CN103164301A (zh) | 便携式检测装置及其检测方法 | |
| CN105045350A (zh) | 一种pcie扩展方法及pcie扩展系统 | |
| CN105911452A (zh) | 一种多sam卡模块测试电路、测试设备和测试方法 | |
| CN105320510B (zh) | 一种自动追踪数据关系的方法及装置 | |
| CN104376296A (zh) | 条码阅读设备设置方法和装置 | |
| CN104598283A (zh) | 一种单架构多结构bmc固件程序的实现方法 | |
| CN101930525A (zh) | 信息写入方法和系统 | |
| CN105575947A (zh) | 一种显示基板、显示装置以及显示装置的身份识别方法 | |
| CN101471977B (zh) | 智能手机的键盘测试系统及其测试方法 | |
| CN101266562B (zh) | 组态设定系统及方法 | |
| CN202533525U (zh) | 一种自动识别空调机组类型的装置 | |
| CN103186465B (zh) | 网页用户界面的浏览器兼容性测试方法和系统 | |
| CN102541705A (zh) | 计算机的测试方法和工装板 | |
| CN205563583U (zh) | 批量硬盘数据销毁、坏道隔离及验证数据残留的系统 | |
| CN110287074A (zh) | Pcie ssd产品的一站式集成测试方法及其装置 | |
| CN207851599U (zh) | 一种光伏组件生产监控系统 | |
| CN102890648A (zh) | 一种基于计算机总线接口卡的内存条测试方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20160831 |
|
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |