CN106887257B - 一种多智能卡测试系统和方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种多智能卡测试系统和方法，系统包括计算机、测试单元和级联单元，每一个级联单元的下游连接测试单元或连接另一级联单元；级联单元通过多级连接组成级联单元网络，级联单元网络连接在测试单元和计算机之间。级联单元包括集线器、上行接口A、多个下行接口A，集线器连接在上行接口A和下行接口A之间。集线器进一步包括上行接口B、多个下行接口B；上行接口B连接级联单元的上行接口A，进而连接到计算机或者上一级级联单元；集线器的下行接口B连接级联单元的下行接口A，通过下行接口A连接测试单元，或者下一级级联单元。通过级联单元级联的方式，使得多智能卡测试系统增强了可扩展性，提高了测试效率。

Description

一种多智能卡测试系统和方法
技术领域
本发明涉及智能卡测试的技术领域，尤其涉及一种多智能卡测试系统和方法。
背景技术
随着智能卡的兴起，小型化的智能卡广泛应用在身份识别、信息加解密、注钥、电子设备内部存储等领域。智能卡的测试随着智能卡的广泛应用，也逐渐成为智能卡企业的重要一环。
目前，智能卡的测试方法大致有两种，一种是一台计算机一次对一个智能卡进行操作，这种方法的测试效率低且对计算机性能产生了极大的浪费；另一种是用一台计算机直接连接多个读卡器进行测试，这种方法不利于计算机系统的稳定，两种方法都会极大地增加企业的测试成本，智能卡的测试效率普遍较低。因此，有必要提供一种可以单次测量多个智能卡设备的测试平台方案，同时测量的智能卡数量可以灵活扩展，且平台对计算机的性能要求低，以解决现有方法测试成本高的问题。
发明内容
鉴于上述的分析，本发明旨在提供一种多智能卡测试系统和方法，用以解决现有技术中一台计算机一次只能对一个智能卡进行操作，导致测试效率低、测试成本高的问题。
本发明的目的主要是通过以下技术方案实现的：
一种多智能卡测试系统，包括计算机、测试单元和级联单元。
其中，计算机用于显示和存储测试信息，测试单元用于智能卡的测试。
每一个级联单元的下游连接测试单元或连接另一级联单元；级联单元通过多级连接组成级联单元网络，级联单元网络连接在测试单元和计算机之间。
级联单元包括集线器、上行接口A、多个下行接口A，集线器连接在上行接口A和下行接口A之间；集线器包括上行接口B、多个下行接口B。
集线器的上行接口B连接级联单元的上行接口A，进而连接到计算机或者上一级级联单元；集线器的下行接口B连接级联单元的下行接口A，通过下行接口A连接测试单元，或者下一级级联单元。
进一步的，测试系统通过控制级联单元网络中级联单元的层级和数量，来控制连接的测试单元的数量。
进一步的，计算机包括显示模块和存储模块；显示模块用于实时显示智能卡的测试信息；存储模块将实时测试信息记录、存储起来。
优选的，级联单元采用USB-HUB的形式，包括USB-Hub、上行USB接口和多个下行USB接口；USB-Hub进一步包括上行接口和多个下行接口。
进一步的，测试单元包括测试单元底板和测试单元子板；
测试单元底板连接测试单元子板，并为测试单元子板提供通信通道；
测试单元底板包括USB接口和USB-Hub模块，USB-Hub模块的下行接口通过测试单元子板的USB接口连接测试单元子板；USB-Hub模块的上行接口通过测试单元底板的USB接口连接级联单元；
测试单元子板包括USB接口、主控制器、片选模块、多个智能卡接口和多个指示器；其中，主控制器用于进行智能卡选择、测试和通信的控制，主控制器连接USB接口和片选模块；片选模块，连接在主控制器和智能卡接口之间，用于选通进行测试的智能卡，并将选择结果传输给主控制器；智能卡接口，用于连接智能卡；指示器，设置在智能卡接口上，用于指示智能卡的测试状态。
上述主控制器包括控制模块、测试模块和通信模块；
其中，控制模块，用于读取智能卡状态，控制多智能卡测试顺序和进程；
测试模块，用于测试智能卡的各个功能模块，判断测试结果；
通信模块，用于控制模块和显示模块、存储模块之间的通信。
主控制器通过其控制模块来控制片选模块选择和切换进行测试的智能卡，并根据测试模块的测试情况和结果来判断智能卡的测试是否通过，进而控制指示器的显示；同时控制模块控制通信模块将每个智能卡的测试信息上传到计算机。
优选的，上述指示器采用三色LED灯进行智能卡的测试状态的显示。
本发明还提供一种使用上述多智能卡测试系统进行多智能卡测试的方法，包括以下步骤：
测试单元上主控制器的控制模块向片选模块发出控制指令，指示片选模块对需要测试的智能卡进行选择；
片选模块接收到控制模块的指令后，对连接到智能卡接口的智能卡进行测试选择，并将选择结果传输给测试模块；
测试模块接收到片选模块的选择结果后，对选择的智能卡进行测试；
测试完成后，测试结果传输给控制模块，由控制模块根据测试情况来判断智能卡的测试是否通过，进而发出控制指令控制指示器的变化；
控制模块还控制通信模块，将智能卡的测试信息通过USB接口，经过级联单元网络上传到计算机；
计算机对每个智能卡的测试结果进行显示，并将测试信息存储在计算机中。
上述智能卡可以是TF智能卡、或SM卡、或SD卡、或CF卡、或MMC卡、或MS卡、或XD卡。
本发明有益效果如下：
本发明提供了一种多智能卡测试系统和方法，通过采用级联单元级联的方法，使得测试系统的可扩展性强；测试单元的测试单元子板采用相互独立的设置，既可以均分整个测试平台的系统运行压力，也能提高系统运行效率；多个测试单元子板运行时，可以同时测试多个智能卡，有效地提高单位时间的测试效率。通过采用本发明提出的系统和方法，可以通过级联模块和测试单元的组合、扩展，让企业更灵活的组织智能卡的测试。
本发明的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分的从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
附图仅用于示出具体实施例的目的，而并不认为是对本发明的限制，在整个附图中，相同的参考符号表示相同的部件。
图1为多智能卡测试系统的结构示意图；
图2为级联单元的结构示意图；
图3为USB-HUB形式的级联单元的结构示意图；
图4为测试单元底板的结构示意图；
图5为测试单元子板的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图来具体描述本发明的优选实施例，其中，附图构成本申请一部分，并与本发明的实施例一起用于阐释本发明的原理。
本发明的一个具体实施例，公开了一种多智能卡测试系统，具体以TF智能卡(TransFlash Card，或Micro SD Card，微型安全数字卡)的测试为例进行说明，如图1所示，包括：计算机1、测试单元2、级联单元3。
其中，通过级联单元3通过多级连接组成级联单元网络4，级联单元网络将测试单元2和计算机1连接在一起。每一个级联单元的下游可以直接连接测试单元，也可以连接另一级联单元。级联单元通过多级连接组成级联单元网络，级联单元网络连接在测试单元和计算机之间。通过控制级联单元网络4中级联单元3的层级和数量，来控制连接的测试单元2的数量，从而实现多智能卡测试系统的灵活配置，进而提高了测试系统的可扩展性。
计算机用于显示和存储测试信息，包括显示模块5和存储模块6；显示模块5用于实时显示当前测试的各个TF卡的实时测试信息，实时测试信息通过级联单元网络4传输到计算机；存储模块6将实时测试信息记录、存储起来。具体地，在本实施方案中，以文本文档的形式将测试信息存储于计算机硬盘中。
级联单元10，用于增加平台的可扩展性，是实现平台可扩展性的主要组件，如图2。级联单元包括集线器、上行接口A、多个下行接口A，集线器连接在上行接口A和下行接口A之间。集线器进一步包括上行接口B、多个下行接口B；集线器的上行接口B连接级联单元的上行接口A，进而连接到计算机或者上一级级联单元；集线器的下行接口B连接级联单元的下行接口A，通过下行接口A连接测试单元，或者下一级级联单元。
如图3所示，本实施方案中的级联单元采用USB-HUB的形式，具体包含有USB-Hub(Universal Serial Bus-Hub，串行总线集线器)11、上行USB接口8(上行接口A)和多个下行USB接口13(下行接口A)。USB-Hub进一步包括上行接口9(上行接口B)和多个下行接口12(下行接口B)，上行接口9外接上行USB接口8，进一步连接到计算机或者上一级级联单元；下行接口12连接下行USB接口13，进一步连接测试单元或者下一级测试单元。本实施方案中(图2、图3)，一个级联单元具有1个上行接口和4个下行接口，这4个下行接口可以扩展出了4个下一级级联单元，或者4个测量单元。
测试单元，用于TF智能卡的测试，包括测试单元底板15(图4)和测试单元子板21(图5)。
测试单元底板15主要作用是连接测试单元子板21，并为测试单元子板21提供一个通信的通道。测试单元底板包括上行接口14(实施例具体采用USB接口)和USB-Hub模块16。测试单元底板15中的USB-Hub模块16中的下行接口18通过测试单元子板21的USB接口连接测试单元子板19。此处，USB-Hub模块16中的下行接口18采用USB杰克，以与测试单元子板21的USB接口相适应。本实施例中最多可以连接4个测试单元子板19；USB-Hub模块16的上行接口17通过测试单元底板15的USB接口14连接级联单元或者直接连接计算机。
测试单元在本实施例中的设计是以级联单元采用USB-HUB形式为基础，因此，测试单元与级联单元相连接的接口(测试单元底板的上行接口14)采用USB接口的形式，以与实施例中的级联单元相适应，但本发明的测试单元底板的接口不限于USB接口，只要与级联单元相适应的接口均可。
测试单元子板21是测试TF智能卡的主要单元，包括USB接口20、主控制器22、片选模块26、智能卡接口27和指示器28。
主控制器22，用于进行智能卡选择、测试和通信的控制，主控制器连接USB接口和片选模块。主控制器22进一步包括控制模块23、测试模块24、通信模块25。
片选模块，连接在主控制器和智能卡接口之间，用于选通进行测试的智能卡，并将选择结果传输给主控制器。
智能卡接口，用于连接智能卡，一个智能卡接口连接一张智能卡。
指示器，设置在智能卡接口上，由主控制器进行控制，用于指示智能卡的测试状态。本实施例优选采用三色LED灯28进行智能卡的测试状态的显示，三色LED灯具体设置在智能卡接口卡座旁边。三色LED灯28的白灯常亮表示智能卡插入智能卡接口27；蓝灯闪烁表示正在测试中；绿色常亮表示通过测试；红色常亮表示未通过测试。
主控制器的控制模块23，用于读取智能卡状态，控制多智能卡测试顺序和进程；
主控制器的测试模块24，用于测试智能卡的各个功能模块，判断测试结果；
主控制器的通信模块25，用于控制模块和显示模块、存储模块之间的通信。
主控制器通过其控制模块23来控制片选模块26选择和切换进行测试的TF智能卡，并根据测试模块24的测试情况和结果来判断智能卡的测试是否通过，进而控制三色LED28的颜色和亮灭；同时控制模块23控制通信模块25将每个智能卡的测试信息通过USB接口20上传到计算机。
本发明的另一个具体实施例，公开了一种使用上述多智能卡测试系统进行多智能卡测试的方法，具体以TF智能卡为例进行说明。TF智能卡通过测试单元子板的智能卡接口连接到测试单元，测试单元通过由级联单元组成的级联单元网络进一步连接到计算机，其中，级联单元网络由多级级联单元组成，每一个级联单元可以直接连接测试单元，也可以连接另一级联单元，
测试方法包括：
将已经测试完成的智能卡从智能卡接口上取下，将需要进行测试的智能卡连接到测试单元的智能卡接口上；
测试单元上主控制器的控制模块向片选模块发出控制指令，指示测试单元上的片选模块对需要测试的智能卡进行选择；
片选模块接收到控制模块的指令后，对连接到智能卡接口的智能卡进行测试选择，并将选择结果传输给测试单元上的测试模块；其中可以选择其中还未进行测试的智能卡，也可以选择智能卡接口上连接的前部智能卡；
测试模块接收到片选模块的选择结果后，对选择的智能卡进行测试，测试可以是同时并行执行，也可以单个进行；
测试完成后，将测试结果传输给控制模块，由控制模块根据测试情况来判断TF智能卡的测试是否通过，进而发出控制指令控制指示器的变化，具体实施例通过控制三色LED28的颜色和亮灭实现；
控制模块还控制测试单元上的通信模块，将智能卡的测试信息通过USB接口，经过级联单元网络上传到计算机；
计算机的显示模块对每个智能卡的测试结果进行显示，并将测试信息存储在计算机的存储模块中。
本发明提供的多智能卡测试系统，不仅可以在上述TF智能卡上进行应用，还可以应用在SM卡(SmartMedia Card，智能媒体卡)、SD卡(Secure Digital Card，安全数字卡)、CF卡(CompactFlash Card，标准闪存卡)、MMC卡(Multi Media Card，多媒体卡)、MS卡(Memory Stick，记忆棒)、XD卡(Extreme Digital Card，极限数字卡)等其他类型的智能卡的测试上。在针对不同之类的智能卡进行测试时，只需修改
图中的智能卡接口27为对应标准的卡接口即可。
此外，本发明提供的多智能卡测试系统中的级联单元中的集线器具体采用的是USB-HUB形式，但本发明并不局限于此，类似设计替换成网口也可取得相同的效果，也可以作为本设计的替代方案。
综上所述，本发明实施例提供了一种多智能卡测试系统和方法，通过采用级联单元级联的方法，使得测试系统的可扩展性强；测试单元的测试单元子板采用相互独立的设置，既可以均分整个测试平台的系统运行压力，也能提高系统运行效率；多个测试单元子板运行时，可以同时测试多个智能卡，有效地提高单位时间的测试效率；且测试单元子板和级联单元相互独立，可以重复组合、扩展，让企业可以灵活组合测试产线，提高各测试产线的综合测试效率。测试单元子板和级联单元无论进行多少扩展，和计算机都仅通过一个借口相连，提高了测试系统的稳定性。
本领域技术人员可以理解，实现上述实施例方法的全部或部分流程，可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于计算机可读存储介质中。其中，所述计算机可读存储介质为磁盘、光盘、只读存储记忆体或随机存储记忆体等。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种多智能卡测试系统，包括计算机和测试单元，计算机用于显示和存储测试信息，测试单元用于智能卡的测试，其特征在于，多智能卡测试系统还包括级联单元，每一个级联单元的下游连接测试单元或连接另一级联单元；级联单元通过多级连接组成级联单元网络，级联单元网络连接在测试单元和计算机之间；
级联单元包括集线器、上行接口A、多个下行接口A，集线器连接在上行接口A和下行接口A之间；集线器包括上行接口B、多个下行接口B；
集线器的上行接口B连接级联单元的上行接口A，进而连接到计算机或者上一级级联单元；集线器的下行接口B连接级联单元的下行接口A，通过下行接口A连接测试单元，或者下一级级联单元；
所述级联单元采用USB-HUB的形式，包括USB-Hub、上行USB接口和多个下行USB接口；USB-Hub进一步包括上行接口和多个下行接口；
所述测试单元包括测试单元底板和测试单元子板；
测试单元底板连接测试单元子板，并为测试单元子板提供通信通道；
测试单元底板包括USB接口和USB-Hub模块，USB-Hub模块的下行接口通过测试单元子板的USB接口连接测试单元子板；USB-Hub模块的上行接口通过测试单元底板的USB接口连接级联单元；
测试单元子板包括USB接口、主控制器、片选模块、多个智能卡接口和多个指示器；其中，主控制器用于进行智能卡选择、测试和通信的控制，主控制器连接USB接口和片选模块；片选模块，连接在主控制器和智能卡接口之间，用于选通进行测试的智能卡，并将选择结果传输给主控制器；智能卡接口，用于连接智能卡；
指示器，设置在智能卡接口上，用于指示智能卡的测试状态；
所述主控制器包括控制模块、测试模块和通信模块；
控制模块，用于读取智能卡状态，控制多智能卡测试顺序和进程；
测试模块，用于测试智能卡的各个功能模块，判断测试结果；
通信模块，用于控制模块和显示模块、存储模块之间的通信；
主控制器通过其控制模块来控制片选模块选择和切换进行测试的智能卡，并根据测试模块的测试情况和结果来判断智能卡的测试是否通过，进而控制指示器的显示；同时控制模块控制通信模块将每个智能卡的测试信息上传到计算机。
2.根据权利要求1所述的多智能卡测试系统，其特征在于，通过控制级联单元网络中级联单元的层级和数量，来控制连接的测试单元的数量。
3.根据权利要求1所述的多智能卡测试系统，其特征在于，所述计算机包括显示模块和存储模块；显示模块用于实时显示智能卡的测试信息；存储模块将实时测试信息记录、存储起来。
4.根据权利要求1所述的多智能卡测试系统，其特征在于，所述指示器采用三色LED灯进行智能卡的测试状态的显示。
5.根据权利要求1至3之一所述的多智能卡测试系统，其特征在于，所述智能卡是TF智能卡、SM卡、SD卡、CF卡、MMC卡、MS卡或XD卡。
6.一种使用权利要求1～4之一的多智能卡测试系统进行多智能卡测试的方法，其特征在于，通过设置级联单元网络连接计算机和测试单元，测试步骤包括：
测试单元上主控制器的控制模块向片选模块发出控制指令，指示片选模块对需要测试的智能卡进行选择；
片选模块接收到控制模块的指令后，对连接到智能卡接口的智能卡进行测试选择，并将选择结果传输给测试模块；
测试模块接收到片选模块的选择结果后，对选择的智能卡进行测试；
测试完成后，测试结果传输给控制模块，由控制模块根据测试情况来判断智能卡的测试是否通过，进而发出控制指令控制指示器的变化；
控制模块还控制通信模块，将智能卡的测试信息通过USB接口，经过级联单元网络上传到计算机；
计算机对每个智能卡的测试结果进行显示，并将测试信息存储在计算机中。
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