CN103389932A - 接口测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种接口测试装置，用于测试一电子设备的PCIE接口的数据传输完整性，所述接口测试装置包括主板及切换单元，该PCIE接口设于主板上，该切换单元包括输入/输出引脚，该输入/输出引脚均通过PCIE接口与主板电性连接，以形成测试回路，该主板用于通过接口向切换单元发送测试数据，并接收由切换单元传送的反馈数据，该主板还用于比对测试数据与反馈数据进而判断PCIE接口的数据传输完整性。该接口测试装置测试成本较低，且便于测试。
Description
技术领域
本发明涉及一种接口测试装置。
背景技术
外部组件互联标准（Peripheral Component Interconnect-Express，PCIE）技术的数据传输速率已经由第一代的2.5GB发展到现在的8GB，其传输性能大幅提升，因此目前服务器等电子设备的主板大都采用PCIE接口进行数据传输。通常，在主板出厂前，厂家会对PCIE接口进行数据传输完整性测试。然而，在测试PCIE接口时，往往需要用到专业测试仪，由于该类测试仪大都价格昂贵，给测试带来一定的局限性。
发明内容
鉴于以上情况，有必要提供一种测试成本较低的接口测试装置。
一种接口测试装置，用于测试一电子设备的PCIE接口的数据传输完整性，所述接口测试装置包括主板及切换单元，该PCIE接口设于主板上，该切换单元包括输入/输出引脚，该输入/输出引脚均通过PCIE接口与主板电性连接，以形成测试回路，该主板用于通过接口向切换单元发送测试数据，并接收由切换单元传送的反馈数据，该主板还用于比对测试数据与反馈数据进而判断PCIE接口的数据传输完整性。
上述的接口测试装置通过设置切换单元，使其与主板建立通信并形成测试回路，如此主板在输出测试数据后可接收反馈数据，并通过比对测试数据与反馈数据进而判断PCIE接口的数据传输完整性。本发明的接口测试装置无需专业的测试仪即可测试PCIE接口的数据传输完整性，其测试成本较低，且便于测试。
附图说明
图1为本发明较佳实施方式的接口测试装置之功能模块图。
主要元件符号说明
| 接口测试装置 | 100 |
| 主板 | 10 |
| 切换单元 | 20 |
| E2PROM | 30 |
| 控制器 | 40 |
| 显示单元 | 50 |
| PCIE接口 | 200 |
| 第一输入/输出端子 | A11/A12…An1/An2 |
| 第二输入/输出端子 | B11/B12…Bn1/Bn2 |
| 电容 | C |
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参阅图1，本发明的较佳实施方式提供一种接口测试装置100，其用于测试一电子设备（如服务器，图未示）的PCIE接口200的数据传输完整性。该PCIE接口200的类型可为PCIE X16、PCIE X8、PCIE X4、PCIE X2等，分别用于供不同的PCIE扩展卡插接。
该接口测试装置100包括主板10、切换单元20、电可擦可编程只读存储器(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory，E2PROM)30，控制器40及显示单元50。
该PCIE接口200设置于主板10上，该主板10用于通过PCIE接口200向切换单元20输入测试数据（如一串数字信号），并通过PCIE接口200接收由切换单元20传送的反馈数据（后详述）。同时，该主板10还用于将反馈数据与测试数据进行比较，以判断该PCIE接口200的数据传输完整性。另外，该主板10还通过PCIE接口200与控制器40电性连接，以向控制器40写入控制命令（后详述）。
该切换单元20为一支持PCIE数据传输的高速桥接器芯片，其可支持PCIE X16、PCIE X8、PCIE X4、PCIE X2等类型的PCIE接口200。该切换单元20包括多组第一输入/输出端子A11/A12…An1/An2及多组第二输入/输出端子B11/B12…Bn1/Bn2。每组第一输入/输出端子An1/An2通过电气连线与PCIE接口200形成电气回路，或者通过第二输入/输出端子Bn1/Bn2及一电容C与PCIE接口200形成电气回路。
该切换单元20用于通过PCIE接口200与主板10建立通信，以启动第一测试模式或第二测试模式。其中第一测试模式是指：切换单元20使能第一输入/输出端子An1/An2，以通过PCIE接口200与主板10构成测试回路，使得主板10输出的测试数据经过PCIE接口200传送至第一输入端子An1，该测试数据随即经第一输出端子An2及PCIE接口200回传至主板10，使得主板10接收到一组反馈数据。第二测试模式是指：切换单元20使能第二输入/输出端子Bn1/Bn2，并控制第二输入/输出端子Bn1/Bn2与第一输入/输出端子An1/An2一一对应电性连接，进而与PCIE接口200及主板10构成测试回路，使得主板10输出的测试数据经过PCIE接口200传送至第一输入端子An1，再传送至第二输入端子Bn1，该测试数据随即经电容C、第二输出端子Bn2、第一输出端子An2及PCIE接口200回传至主板10，使得主板10接收到一组反馈数据。由于该电容C可视为负载，使得在第二测试模式下测试数据在传输过程中损耗相对第一测试模式较大，故主板10在第一测试模式下接收到的反馈数据与在第二测试模式下接收到的反馈数据不同。
此外，该切换单元20还用于依据接收到的测试数据计算PCIE接口200的数据传输速率。该切换单元20与显示单元50电性连接，该切换单元20用于依据计算出的数据传输速率发送电压信号控制显示单元50。在本实施例中，该显示单元50为多个发光二极管（LED）。例如，当当前的数据传输速率为8GB时，切换单元20发送电压信号点亮第一个发光二极管。可以理解，该显示单元50也可为数码管。
该E2PROM30与切换单元20电性连接，该E2PROM30内预存一组用于控制切换单元20的默认配置信息。该默认配置信息用于控制切换单元20启动第一测试模式或第二测试模式，即控制切换单元20使能多组第一输入/输出端子A11/A12…An1/An2或同时使能多组第一输入/输出端子A11/A12…An1/An2及多组第二输入/输出端子B11/B12…Bn1/Bn2。同时，该默认配置信息还用于控制切换单元20在第一测试模式或第二测试模式下选择使能输入/输出端子的数量。该切换单元20还用于读取E2PROM30内预存的默认配置信息，以执行相应的动作。在本实施例中，该默认配置信息用于控制切换单元20启动第一测试模式，并使能16组第一输入/输出端子A11/A12…A161/A162。
该控制器40与切换单元20电性连接，并通过PCIE接口与主板10电性连接。该控制器40用于接收主板10写入的控制命令，并依据该控制命令控制切换单元20切换第一测试模式或第二测试模式，即控制切换单元20切换使能多组第一输入/输出端子A11/A12…An1/An2或使能多组第一输入/输出端子A11/A12…An1/An2及多组第二输入/输出端子B11/B12…Bn1/Bn2，以及控制切换单元20在第一测试模式或第二测试模式下选择使能与PCIE接口200的类型匹配的输入/输出端子的数量。例如，当PCIE接口200的类型为PCIE X2时，则控制切换单元20选择使能第一输入/输出端子A11/A12、A21/A22或者同时使能第一输入/输出端子A11/A12、A21/A22及第二输入/输出端子B11/B12、B21/B22。当PCIE接口200的类型为PCIE X8时，则控制切换单元20选择使能第一输入/输出端子A11/A12…A81/A82或者同时使能第一输入/输出端子A11/A12…A81/A82及第二输入/输出端子B11/B12…B81/B82。如此，通过该控制器40可以改变切换单元20的初始状态。
该控制器40进一步与E2PROM30电性连接，用于依据主板10写入的控制命令重新设置E2PROM30内预存的默认配置信息。例如，将默认配置信息由“用于控制切换单元20启动第一测试模式并使能16多组第一输入/输出端子A11/A12…A161/A162”重新设置为“用于控制切换单元20启动第二测试模式并同时使能多组第一输入/输出端子A11/A12…A81/A82及多组第二输入/输出端子B11/B12…B81/B82”。
另外，控制器40还电性连接于切换单元20与显示单元50之间，用于侦测切换单元20向显示单元发送的电压信号，并依据侦测到的电压信号计算出PCIE接口200的数据传输速率，进而将其传送至主板10，以通过主板10外接的显示装置（如LCD，图未示）显示该数据传输速率。
下面进一步说明该接口测试装置100的工作原理：首先，主板10启动后，PCIE接口200上电，切换单元20读取E2PROM30内预存的默认配置信息并执行相应的动作，即切换单元20启动第一测试模式并使能16组第一输入/输出端子A11/A12…A161/A162。其后，主板10发送测试数据，该测试数据经PCIE接口200传送至第一输入端子An1（n=1-16），随后经第一输出端子An2（n=1-16）及PCIE接口200回传至主板10，使得主板10接收到一组反馈数据。该主板10将该反馈数据与测试数据进行比较，以判断该PCIE接口200的数据传输完整性。例如，当反馈数据的损耗在预设范围时，则判断该PCIE接口200的数据传输完整性较好。另一方面，该切换单元20依据测试数据计算出数据传输速率，并以此控制显示单元50显示。
当需要启动第二测试模式时，操作者通过主板10发出相应的控制命令，控制器40依据该控制命令控制切换单元20切换至第二测试模式，切换单元20同时使能16组第一输入/输出端子A11/A12…A161/A162及16组第二输入/输出端子B11/B12…B161/B162，并控制16组第二输入/输出端子B11/B12…B161/B162与16组第一输入/输出端子A11/A12…A161/A162一一对应电性连接。此时切换单元20即可通过PCIE接口200与主板10建立通信，以便主板10再次测试PCIE接口200的数据传输完整性。
当PCIE接口200的类型改变时，操作者通过主板10发出相应的控制命令，控制器40依据该控制命令控制切换单元20选择使能与PCIE接口200的类型匹配的输入/输出端子的数量，如在第一测试模式下，使能多组第一输入/输出端子A11/A12…A81/A82以匹配类型为PCIE X8的PCIE接口200。若后续待测的PCIE接口200的类型均为PCIE X8时，该控制器40还可重新设置E2PROM30内预存的默认配置信息，以便后续测试。
本发明的接口测试装置100通过设置切换单元20，使其与主板10建立通信并形成测试回路，如此主板10在输出测试数据后可接收反馈数据，并通过比对测试数据与反馈数据进而判断PCIE接口200的数据传输完整性。另一方面，本案还通过E2PROM30和控制器40控制切换单元20，以便启动第一测试模式和第二测试模式，增加了测试方式。本发明的接口测试装置100无需专业的测试仪即可测试PCIE接口200的数据传输完整性，其测试成本较低，且便于测试。
Claims (10)
1.一种接口测试装置，用于测试一电子设备的PCIE接口的数据传输完整性，其特征在于：所述接口测试装置包括主板及切换单元，该PCIE接口设于主板上，该切换单元包括输入/输出引脚，该输入/输出引脚均通过PCIE接口与主板电性连接，以形成测试回路，该主板用于通过PCIE接口向切换单元发送测试数据，并接收由切换单元传送的反馈数据，该主板还用于比对测试数据与反馈数据进而判断PCIE接口的数据传输完整性。
2.如权利要求1所述的接口测试装置，其特征在于：所述切换单元包括多组第一输入/输出引脚及多组第二输入/输出引脚，所述切换单元用于使能多组第一输入/输出引脚，以启动第一测试模式，以及用于同时使能多组第一输入/输出引脚及多组第二输入/输出引脚，并控制多组第二输入/输出引脚与多组第一输入/输出引脚一一对应电性连接，以启动第二测试模式。
3.如权利要求2所述的接口测试装置，其特征在于：在所述第一测试模式时，第一输入/输出引脚通过电气连线与PCIE接口形成回路；在所述第二测试模式时，第一输入/输出引脚通过第二输入/输出引脚、电气连线、电容与PCIE接口形成回路。
4.如权利要求3所述的接口测试装置，其特征在于：所述接口测试装置还包括E2PROM，该E2PROM与切换单元电性连接，该E2PROM内预存一组用于控制切换单元的默认配置信息，该切换单元用于读取该默认配置信息以启动第一测试模式或第二测试模式，以及在第一测试模式或第二测试模式下选择使能输入/输出端子的数量。
5.如权利要求4所述的接口测试装置，其特征在于：所述接口测试装置还包括控制器，所述控制器与主板及切换单元电性连接，所述主板用于向控制器写入控制命令，所述控制器依据控制命令控制切换单元切换第一测试模式或第二测试模式，以及控制切换单元在第一测试模式或第二测试模式下选择使能与PCIE接口的类型匹配的输入/输出端子的数量。
6.如权利要求5所述的接口测试装置，其特征在于：当所述PCIE接口的类型为PCIE X2时，切换单元选择使能二组第一输入/输出引脚或同时使能二组第一输入/输出引脚及二组第二输入/输出引脚；当所述PCIE接口的类型为PCIE X4时，切换单元选择使能四组第一输入/输出引脚或同时使能四组第一输入/输出引脚及四组第二输入/输出引脚；当所述PCIE接口的类型为PCIE X8时，切换单元选择使能八组第一输入/输出引脚或同时使能八组第一输入/输出引脚及八组第二输入/输出引脚；当所述PCIE接口的类型为PCIE X16时，切换单元选择使能十六组第一输入/输出引脚或同时使能十六组第一输入/输出引脚及十六组第二输入/输出引脚。
7.如权利要求5所述的接口测试装置，其特征在于：所述控制器与E2PROM电性连接，用于依据主板写入的控制命令重新设置E2PROM内预存的默认配置信息。
8.如权利要求1所述的接口测试装置，其特征在于：所述切换单元还用于依据接收到的测试数据计算当前的数据传输速率。
9.如权利要求8所述的接口测试装置，其特征在于：所述接口测试装置还包括显示单元，所述显示单元与切换单元电性连接，所述切换单元用于依据计算出的数据传输速率向显示单元发送电压信号以控制显示单元显示。
10.如权利要求9所述的接口测试装置，其特征在于：所述接口测试装置还包括控制器，所述控制器与切换单元及主板电性连接，所述控制器用于侦测切换单元发送的电压信号，并依据该电压信号计算数据传输速率，并将该数据传输速率传送至主板。
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