CN108074624B - 存储卡测试装置和方法、计算机设备和存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种存储卡测试装置和方法、计算机设备和存储介质，该装置包括：具有输入接口和输出接口的测试板，以及集成在测试板上的单片机、信号选通开关和至少两个用于放置存储卡的测试卡槽；测试板上的单片机的输入端通过输入接口与上位机连接，其输出端连接信号选通开关的输入端；信号选通开关的输出端分别与各测试卡槽连接；测试板上的测试卡槽通过输出接口与测试样机的卡槽连接；单片机根据上位机的控制信号，控制信号选通开关选通对应的测试卡槽进行测试。采用该存储卡测试装置，能够提高存储卡的测试效率。

Description

存储卡测试装置和方法、计算机设备和存储介质

技术领域

本发明涉及测试技术领域，特别是涉及一种存储卡测试装置和方法、计算机设备和存储介质。

背景技术

存储卡是用于手机、数码相机、便携式电脑、音乐播放器其他数码产品上的独立存储介质，一般是卡片的形态。手机、平板电脑等携带存储卡的设备在研发与产品测试过程中，需要对各品牌和各种类的存储卡进行信息识别/读取/热插拔等兼容性测试。

当前的测试方法是纯人工测试。测试工程师将要测的存储卡插入样机，一次只能测试一张，且需要手动操作读取存储卡的容量、读写速度、图片显示质量和视频播放流畅度等，从而导致存储卡的测试效率低。

发明内容

基于此，有必要针对测试效率低的问题，提供一种存储卡测试装置和方法、计算机设备和存储介质。

一种存储卡测试装置，包括：

具有输入接口和输出接口的测试板，以及集成在所述测试板上的单片机、信号选通开关和至少两个用于放置存储卡的测试卡槽；

所述测试板上的单片机的输入端通过所述输入接口与上位机连接，其输出端连接所述信号选通开关的输入端；

所述信号选通开关的输出端分别与各测试卡槽连接；

所述测试板上的测试卡槽通过所述输出接口与测试样机的卡槽连接；

所述单片机根据所述上位机的测试卡槽选通指令，控制所述信号选通开关选通对应的测试卡槽进行测试。一种存储卡测试方法，运行在上位机上，包括：

向测试样机发送测试指令；

向上述的存储卡测试装置发送测试卡槽选通指令，以使存储卡测试装置的测试板上对应的测试卡槽被选通与测试样机的卡槽信号连接；

当检测到测试样机能够识别被测存储卡时，读取所述被测存储卡的信息，并通过测试样机对被测存储卡依次执行测试项目，得到测试日志；

接收所述测试样机发送的测试日志。

一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述的存储卡测试方法的步骤。

一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时，实现上述的存储卡测试方法的步骤。

上述的存储卡测试装置，由于测试板上设置有多个卡槽，测试板上的测试卡槽通过输出接口与测试样机的卡槽连接；单片机根据上位机的控制信号，控制信号选通开关选通对应的测试卡槽进行测试，从而能够实现一次对多个存储卡进行测试，卡的切换过程无需人工参与，避免测试样机的卡槽因多次插拔被损坏等问题。采用该存储卡测试装置，能够提高存储卡的测试效率。

附图说明

图1为一个实施例的存储卡测试装置的结构示意图；

图2为另一个实施例的存储卡测试装置的结构示意图；

图3为一个实施例的转接板的电路示意图；

图4为再一个实施例的存储卡测试装置的结构示意图；

图5为一个实施例的TF/SD测试卡槽电路示意图；

图6为一个实施例的存储卡测试方法的流程图；

图7为一个实施例的测试项目的程序框图；

图8为再一个实施例的存储卡测试方法的流程图。

具体实施方式

如图1所示，一种存储卡测试装置，包括：具有输入接口和输出接口的测试板20，以及集成在测试板上的单片机201、信号选通开关202和至少两个用于放置存储卡的测试卡槽203。

测试板上的单片机201的输入端通过输入接口与上位机10连接，其输出端连接信号选通开关202的输入端，信号选通开关202的输出端分别与各测试卡槽203连接。测试板20上的测试卡槽203通过输出接口与测试样机30的卡槽连接。

单片机201根据上位机的测试卡槽选通指令，控制信号选通开关202选通对应的测试卡槽进行测试。

具体地，测试样机是指携带存储卡的设备，例如手机、数码相机、便携式电脑等等。上位机10安装有测试程序，实现对整个测试流程的控制，包括测试过程的监控，卡槽的切换，得到测试结果等。单片机确保测试卡槽203的准确切换，通过输入接口接收上位机的测试卡槽选通指令，根据测试卡槽选通指令切换至对应的测试卡槽203，并将选择结果反馈至上位机10。

使用时，将待测的各品牌的存储卡分别安装于测试板20的不同的测试卡槽203，将测试板的输出接口连接至测试样机30的卡槽。测试卡槽203上可设置为不同类型的存储卡的卡槽，以满足不同样机对不同存储卡的测试需求。上位机10执行测试程序，与单片机201通信。单片机201根据上位机的测试卡槽选通指令，控制信号选通开关202选通对应的测试卡槽203，使测试样机30的卡槽的信号线与被选通的测试卡槽的信号线连接，从而测试样机能够对测试板上的各测试卡槽中安装的被测存储卡进行测试。

测试样机30接收上位机的测试指令，对选通的测试卡槽203上安装的存储卡进行测试，并将测试日志发送至上位机10，上位机10完成对当测存储卡的测试后，向单片机201发送测试卡槽选通指令，单片机201根据测试卡槽选通指令控制信号选通开关202选通下一卡槽203，以完成对下一张存储卡的测试，直至所有的存储卡测试完成。

上述的存储卡测试装置，由于测试板上设置有多个卡槽，测试板上的测试卡槽通过输出接口与测试样机的卡槽连接；单片机根据上位机的控制信号，控制信号选通开关选通对应的测试卡槽进行测试，从而能够实现一次对多个存储卡进行测试，卡的切换过程无需人工参与，避免测试样机的卡槽因多次插拔被损坏等问题。采用该存储卡测试装置，能够提高存储卡的测试效率。

另一个实施例的存储卡测试装置的结构示意图如图2所示，还包括一端用于插入测试板20的输出接口、另一端用于插入测试样机30的卡槽的转接板40。通过转接板40将测试样机30的卡槽的各信号线引出以与测试板20被选通的测试卡槽203的各信号线连接。

将转接板40的一端插入测试板20的输出接口，另一端插入测试样机30的卡槽，从而转接板40将测试样机30的卡槽的各信号线引出以与测试板20被选通的测试卡槽203的各信号线连接。上位机10执行测试程序，与单片机201通信。单片机201根据上位机的信号控制信号选通开关202选通对应的测试卡槽203以与转接板40连接，未选通的测试卡槽203引脚全部断开连接，以免对选通的测试卡槽203的被测存储卡信号质量造成影响。

一个实施例的转接板40的电路示意图如图3所示，转接板40里包含两个接口，10芯的接口用来实现测试样机30与测试板20之间的各信号的连接，5芯针座则用来实现串口log打印。转接板40的作用是将测试样机30上卡槽的8根信号线(包括电源与地)引出，将测试样机30内部电源VCC引出是由于测试样机与测试板是分别供电，导致测试板与测试样机的3.3V并不完全相等，当测试样机检测到被测存储卡的供电电压与自身PMU的输出电压不相等时，可能会导致测试样机死机。转接小板的厚度为0.8mm，厚度比正常存储卡稍微加厚，是为了使转接板插入测试样机的卡槽时能够与卡槽内部的弹片充分接触且不易松动。转接板的DATA、CMD、CLK信号都加上拉电阻可避免信号的台阶问题，对提高测试系统的可靠性有较大帮助。通过在测试样机与测试板之间采用专门设计的转接板，能够避免信号质量因接口与排线等因素被衰减，保证测试系统的稳定性。

在再一个实施例中，测试板由5V的火牛接口供电，每个测试板可携带8个TF卡测试卡槽，4个SD卡测试卡槽，输入接口为异步串行通信接口(UART通讯口)。由单片机201实现UART通讯与测试卡槽203切换功能，测试样机的卡槽与测试板通过转接板连接，测试样机的各信号经过转接板后，通过信号选通开关202进行选通，未选中的测试卡槽203的引脚全部断开连接，以免对选通的测试卡槽的信号质量造成影响。

一个实施例中，如图4所示，信号选通开关选用高速开关芯片，一种具体的型号为SN74CB3Q325DBQR，测试卡槽203的针座的插入检测脚与连接到高速开关芯片之间加电阻以降低纹波对信号质量的影响。需要注意的是，因测试样机在卡的切换过程中，测试卡槽的卡切换的检测脚需要有一个从高电位被拉到低电位的过程，否则样机对切换后的存储卡读取会被严重影响，所以测试卡槽的卡是否插入的检测脚需要飞线到测试样机存储卡卡槽的卡切换的检测脚，同时把卡槽左侧的机械接地弹片拨开。高速开关芯片用来选通测试卡槽，该芯片的三个地址位直接通过单片机LPC1768控制，000-111分别使B1-B8的某一路与A端导通。由于CMD信号仅是测试样机发送给TF卡的操作指令，不涉及应答与握手，所以CMD信号与电源由继电器控制。

一个实施例中，测试板20包括TF卡卡槽和SD卡卡槽，例如，设置有8个TF卡卡槽接口和4个SD卡卡槽接口。因SD卡测试需求较少，减少SD卡卡槽的数量，可以使测试板面积大大减小。每个TF卡槽旁边都加一个指示灯，当前卡槽被选中时，指示灯亮，反之，指示灯灭。一个实施例的TF/SD测试卡槽电路示意图如图5所示。

上述的存储卡测试装置，采用上位机对存储卡进行测试，对测试板的卡槽进行选择，卡的切换过程无需人工参与，实现了存储卡的读写速度、视频播放、图片浏览等测试自动化，测试人员根据测试日志进行判断，无需人工观察视频卡顿，图片显示花屏等问题，同时能够避免人为因素导致的漏测、漏记载等问题。

一种存储卡测试方法，运行在如图1所示的上位机10上。如图6所示，该方法包括以下步骤：

S602：向测试样机发送测试指令。

测试样机是指携带存储卡的设备，例如手机、数码相机、便携式电脑等等。

S604：向存储卡测试装置发送测试卡槽选通指令，以使存储卡测试装置的测试板上对应的测试卡槽被选通与测试样机的卡槽信号连接。

存储卡测试装置、上位机以及测试样机的连接关系如前面装置部分，此处不再赘述。上位机10安装有测试程序，实现对整个测试流程的控制，包括测试过程的监控，卡槽的切换，得到测试结果等。

S606：当测试样机能够识别被测存储卡时，读取被测存储卡的信息，并通过测试样机对被测存储卡依次执行测试项目，得到测试日志。

具体地，测试项目包括读操作、写操作、多场景识别和性能测试的至少一种。一个实施例的测试项目的程序框图如图7所示。读操作包括视频播放、采用像素对比法浏览图片和APK安装浏览电子书。写操作包括文件创建、文件互拷贝和格式化。多场景识别包括热插拔识别、待机插拔唤醒识别和开关机插拔识别。性能测试包括读写速度性能。

S608：接收测试样机发送的测试日志。

上述的存储卡测试方法，通过上位机对测试样机的存储卡进行测试，对测试板的测试卡槽进行切换，从而能够实现一次对多个存储卡进行测试，卡的切换过程无需人工参与，避免测试样机的卡槽因多次插拔被损坏等问题。采用该存储卡测试方法，能够提高存储卡的测试效率。

进一步的，如图8所示，在步骤S608之后，还包括：

S610：判断当前被测存储卡的全部测试项目是否执行完毕。若是，则执行步骤S612，若否，则返回步骤S606。

S612：判断测试板上的所有被测存储卡是否测试完毕。若是，则结束测试，若否，则返回步骤S604。

请继续参阅图8，当检测到测试样机不能识别被测存储卡时，执行步骤：确定被测存储卡异常并保存测试日志，并返回步骤S604。

采用上位机对存储卡进行测试，对测试板的卡槽进行选择，卡的切换过程无需人工参与，实现了存储卡的读写速度、视频播放、图片浏览等测试自动化，测试人员根据测试日志进行判断，无需人工观察视频卡顿，图片显示花屏等问题，同时能够避免人为因素导致的漏测、漏记载等问题。

基于上述的实施例，提供一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现上述的存储卡测试方法的步骤。

基于上述的实施例，提供一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时，实现上述的存储卡测试方法的步骤。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种存储卡测试装置，其特征在于，包括：

具有输入接口和输出接口的测试板，以及集成在所述测试板上的单片机、信号选通开关和至少两个用于放置存储卡的测试卡槽；

所述测试板上的单片机的输入端通过所述输入接口与上位机连接，其输出端连接所述信号选通开关的输入端；

所述信号选通开关的输出端分别与各测试卡槽连接；

所述测试板上的测试卡槽通过所述输出接口与测试样机的卡槽连接；

所述单片机根据所述上位机的测试卡槽选通指令，控制所述信号选通开关选通对应的测试卡槽进行测试。

2.根据权利要求1所述的存储卡测试装置，其特征在于，还包括一端用于插入所述测试板的输出接口、另一端用于插入所述测试样机的卡槽的转接板；通过所述转接板将所述测试样机的卡槽的各信号线引出以与所述测试板被选通的测试卡槽的各信号线连接。

3.根据权利要求1或2所述的存储卡测试装置，其特征在于，所述输入接口为异步串行通信接口，所述单片机的输入端通过所述异步串行通信接口与上位机连接。

4.根据权利要求1所述的存储卡测试装置，其特征在于，所述信号选通开关为高速开关芯片、三极管或继电器中的任意一种。

5.根据权利要求4所述的存储卡测试装置，其特征在于，各所述测试卡槽的针座的插入检测脚与所述信号选通开关的输入端连接电阻。

6.一种存储卡测试方法，运行在上位机上，其特征在于，包括：

向测试样机发送测试指令；

向如权利要求1-5任一项所述的存储卡测试装置发送测试卡槽选通指令，以使存储卡测试装置的测试板上对应的测试卡槽被选通与测试样机的卡槽信号连接；

当检测到测试样机能够识别被测存储卡时，读取所述被测存储卡的信息，并通过测试样机对被测存储卡依次执行测试项目，得到测试日志；

接收所述测试样机发送的测试日志。

7.根据权利要求6所述的存储卡测试方法，其特征在于，在接收所述测试样机发送的测试日志的步骤之后，还包括：

当被测存储卡的全部测试项目执行完毕时，若所述测试板上的所有被测存储卡未测试完毕，则返回所述向测试板发送测试卡槽选通指令的步骤，直至所述测试板上的所有存储卡测试完毕。

8.根据权利要求6所述的存储卡测试方法，其特征在于，当检测到测试样机不能识别被测存储卡时，确定被测存储卡异常并保存测试日志，返回所述向存储卡测试装置发送测试卡槽选通指令的步骤。

9.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现权利要求6至8任一项所述的存储卡测试方法的步骤。

10.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时，实现权利要求6至8任一项所述的存储卡测试方法的步骤。

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