CN101118512A - 具多界面的快闪存储卡测试器具 - Google Patents

Abstract

本发明为一种具多界面的快闪存储卡测试器具，该测试器具主体上设有一个或一个以上的连接界面转接板，该连接界面转接板可通过连接界面与测试电路板成一电性相连。再者，通过测试控制电路内所设置的微处理器及微处理器内的存储卡种类检测脚，将可检测所插入的存储卡属于何种规格，因此藉由测试器具上的测试电路板及连接界面转接板，将可测试具有不同界面的快闪存储卡，以节省不同界面的快闪存储卡测试器具设置成本。

Description

具多界面的快闪存储卡测试器具

技术领域

本发明涉及一种记忆存储卡的测试装置，尤其涉及一种具有多个界面的快闪存储卡的测试器具，该器具用于计算机存储卡的测试领域。

背景技术

目前闪存的技术有着快速地成长，近年来业者不断开发更大容量的闪存，如MP3播放器、个人数字助理、数字相机或数字摄影机等多媒体装置及手机等通讯装置几乎皆设有存储卡。另外，现今市面上一般的影音播放装置的本体内亦至少设立有控制芯片、闪存于其内，其中该闪存可应用于数字影音译码及录音上使用，用以将计算机的影音资料供使用者下载，并可由影音播放装置进行播放数字音乐使用，另外，市面上亦有一种资料储存装置内单纯利用闪存使用的产品，此种产品仅提供消费者增加除计算机外的资料记忆使用，且亦可随意插拔于计算机上进行读取或存取资料使用，因此自从闪存问世已来即受到广大消费者的青睐，而成为一种几乎不可或缺的使用工具。

但是，上述闪存的应用则因不同厂商或是需求，则存在不同类型、不同尺寸规格的存储卡，然而目前市面上大致具有MMC卡(Multi Media Card)、CF卡(Compact FlashCard)、SMC卡(Smart Media Card)、MS卡(Memory Stick)及SD卡(Secure Digital Memory Card)等规格。

快闪存储卡在出厂时，需要用快闪存储卡的测试器具来测试闪存的瑕庇，因此在生产流程上就必须完全依据测试器具的设计来规划，若测试器具设计不良，不仅不方便也浪费更多的工时与生产成本，且针对上述不同规格的快闪存储卡，生产快闪存储卡的厂商更需要利用不同规格的测试器具来检测不同规格的快闪存储卡；然而针对闪存越来越多样的应用，快闪存储卡的容量、界面和功能的设计发展也越来越繁复，因此对于生产快闪存储卡的厂商而言，要兼顾大量生产不同界面的快闪存储卡以及同时保证大量生产时的品质，则是一个严肃的课题。

缘此，上述现有技术的不足，便为从事此行业者所亟欲改善的课题，而有待相关业者作进一步改进与创新设计的必要。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种具多界面的快闪存储卡测试器具，该器具利用连接界面转接板可外接有不同界面的快闪存储卡，因此快闪存储卡测试者可在同一测试器具主体上并利用不同的测试电路板及连接界面转接板，来测试不同界面的快闪存储卡，以节省测试不同界面的快闪存储卡所设置的器具成本。

另外，本发明的次要目的在于提供的具多界面的快闪存储卡测试器具，其测试电路板可设有一个或一个以上的快闪存储卡的控制界面，因此当有单数的测试电路板或连接界面转接板损坏时，将可单独将该元件进行更换，因此不需将测试器具主体进行修缮，藉此将可大幅减少测试器具主体的维修时间及经费的功效。

为达成上述目的，本发明采用的技术手段如下：

一种具多界面的快闪存储卡测试器具，其特征是，于测试器具上设有一个或一个以上的连接界面转接板，且该连接界面转接板可通过连接界面与测试电路板成电性相连。

其中该测试电路板设有测试控制电路及控制此电路的程序。该测试控制电路由微处理器、短路检测电路、存储卡电源供应电路及存储卡插槽所构成。该微处理器设有存储卡种类检测脚。该测试电路板设有一个或一个以上的快闪存储卡的控制界面。该连接界面转接板设有测试电路板连接界面、连接界面转换电路及快闪存储卡连接界面。该连接界面转接板与快闪存储卡相连接，并通过连接界面将测试信号传送至测试电路板连接界面。该连接界面转接板设有电源标示、测试正常标示、测试中标示或测试失败标示。

通过上述技术特征，本发明与现有技术比较具下列优点：

(一)本发明利用测试电路板通过连接界面与连接界面转接板相耦接，且连接界面转接板可进一步外接不同界面的快闪存储卡，因此快闪存储卡测试者可在同一测试器具主体上利用不同的测试电路板及连接界面转接板，来测试不同界面的快闪存储卡，以节省设置不同界面的快闪存储卡器具的成本。

(二)本发明通过连接界面转接板上的电源标示、测试正常标示、测试中标示及测试失败标示或是通过操作系统或操作系统内建的应用程序，快闪存储卡测试者将可以快速明了快闪存储卡测试后的结果，并明确掌握测试器具主体的运作状态。

(三)该测试电路板可设有一个或一个以上的快闪存储卡的控制界面，因此该测试器具主体将可针对复数的快闪存储卡同时进行测试，且当若有单数的测试电路板或连接界面转接板损坏时，将可单独将该元件进行更换，因此不需将测试器具主体进行修缮，藉此将可大幅减少测试器具主体的维修时间及经费。

(四)而当快闪存储卡于受测时且有短路狀况发生时，该短路检测电路则会将存储卡电源供应电路的电源关闭并切断存储卡插槽的电源，以保护测试中的存储卡与测试电路板的电路。

附图说明

图1  为本发明的系统架构方块示意图。

图2  为本发明的测试电路板方块示意图。

图3  为本发明的测试控制电路方块示意图。

图4  为本发明的连接界面转接板方块示意图。

图5  为本发明的另一系统架构方块示意图。

图6  为本发明的电路图(一)。

图7  为本发明的电路图(二)。

图8  为本发明的电路图(三)。

图9  为本发明的电路图(四)。

图10 为本发明的电路图(五)。

图中符号说明

1、测试器具主体

11、测试电路板

111、测试控制电路

1111、微处理器

1112、短路检测电路

1113、存储卡电源供应电路

1114、存储卡插槽

112、快闪存储卡的控制界面

12、连接界面转接板

121、测试电路板连接界面

122、快闪存储卡连接界面

123、电源标示

124、测试正常标示

125、测试中标示

126、测试失败标示

127、连接界面转换电路

13、连接界面

具体实施方式

请参阅图1所示，为本发明的系统架构方块示意图，由图中所示可清楚看出，本发明的测试器具主体1设置有测试电路板11、连接界面转接板12及连接界面13，其中该测试电路板11可通过连接界面13将测试电路板11与连接界面转接板12相连接。

请参阅图2所示，为本发明的测试电路板方块示意图，图中该测试电路板11设有测试控制电路111及控制此电路的软件程序，另外，该测试电路板11亦设有快闪存储卡的控制界面112。

请参阅图3所示，为本发明的测试控制电路方块示意图，并请参阅图6、7、8、9、10，为本发明的电路图(一)、(二)、(三)、(四)、(五)，该测试控制电路111由可通过存储卡种类检测脚讀取存储卡种类的微处理器1111、可通过短路检测脚来检测电流值的短路检测电路1112、负责供应存储卡电源的存储卡电源供应电路1113以及可供存储卡插置的存储卡插槽1114所构成，是以，当短路狀况发生时则该测试控制电路111不须经由微处理器1111的处理，该短路检测电路1112即可通过存储卡电源开关来立刻关闭电源，以减少对电路的伤害。

请参阅图4所示，为本发明的连接界面转接板方块示意图，而该连接界面转接板12由测试电路板连接界面121、快闪存储卡连接界面122、连接界面转换电路127、电源标示123、测试正常标示124、测试中标示125及测试失败标示126所构成，而测试电路板11通过测试电路板连接界面121与连接界面转换电路127及快闪存储卡连接界面122，该测试电路板11即可对快闪存储卡进行测试，并将测试结果通过电源标示123、测试正常标示124、测试中标示125及测试失败标示126显示，因此测试者则可以得知受测试的快闪存储卡状态。

请参阅图1、2、3、4所示，就本发明的测试电路板11、连接界面转接板12及连接界面13的相对关系做下述说明，测试电路板11包括有测试控制电路111及快闪存储卡的控制界面112，而连接界面转接板12包括有测试电路板连接界面121、连接界面转换电路127、快闪存储卡连接界面122、电源标示123、测试正常标示124、测试中标示125及测试失败标示126，通过连接界面13，快闪存储卡的控制界面112与测试电路板连接界面121可通过连接界面13将测试电路板11与连接界面转接板12相耦接并成电性相连；另外，测试电路板连接界面121可通过连接界面转换电路127与快闪存储卡连接界面122相耦接，因此快闪存储卡连接界面122可进一步与欲受测的快闪存储卡相连结并接受测试电路板11的测试，再者，本发明的测试器具主体1可通过一操作系统及操作系统内建的应用程序，来达到控制或监视测试器具主体1的运作状态。

待一个或一个以上的快闪存储卡欲受测试时，先将快闪存储卡与快闪存储卡的控制界面112或连接界面转接板12的快闪存储卡连接界面122相耦接，待快闪存储卡与测试器具主体1成电性相连时，测试信号将依续由测试电路板11的测试控制电路111及快闪存储卡的控制界面112并通过连接界面13传送至连接界面转接板12，再由连接界面转接板12的测试电路板连接界面121通过连接界面转换电路127传送至快闪存储卡连接界面122并进行测试，待该快闪存储卡测试完后，该受测后的测试信号将传送至连接界面转接板12，再通过测试正常标示124、测试中标示125或测试失败标示126显示受测快闪存储卡的状态，此外，若本发明的测试器具主体1于激活时，该电源标示123于动作流程中将不会熄灭，且该测试中标示125会在动作流程中不断闪动，一但受测的快闪存储卡没有故障，该测试正常标示124则会亮起，若是快闪存储卡故障则测试失败标示126会亮起，藉此以利了解快闪存储卡的测试是否已经完成、失败或是正在进行中，然而，快闪存储卡的测试状态除了可通过连接界面转接板12的指示灯来了解快闪存储卡的故障状态，亦可通过操作系统内建的应用程序并进一步由显示幕来显示快闪存储卡的测试结果。

然而，待上述存储卡于插入之前，测试控制电路111内的微处理器1111的存储卡信号检测脚可检测某特定存储卡的插入信号，而该信号会先初始定义值，例如设为高电位或是低电位，因此，当特定存储卡插入后，由于存储卡内部电路中，其相对应連接位置的信号与存储卡信号检测脚的电性信号相反，因此存储卡信号检测脚会得到与初始定义值相反之电位，所以若测试电路板11中所检测到的电位为相反，则代表此存储卡已插入，反之，则代表卡未插入或是代表插入不同规格的存储卡；再者，当测试电路板11上的电流超过短路检测电路1112所设定的上限值时，该短路检测电路1112的短路检测脚将会为0，反之，正常狀况下，短路检测脚将会为1，藉此以告知微处理器1111目前的电路狀况，而当短路狀况发生时，短路检测电路1112则会通过存储卡电源开关来关闭存储卡电源供应电路1113的电源并切断存储卡插槽1114的电源，以保护存储卡与测试电路板11的电路，而当测试电路板11的电流恢复稳定后且该短路狀况已经解除，则短路检测电路1112则重新开启存储卡电源开关，并恢復存储卡插槽1114的电源。

再者，请参阅图1及图5所示，测试器具主体1上可设有数个测试电路板11，且该测试电路板11亦可设有一个或一个以上的快闪存储卡的控制界面112，因此该测试器具主体1将可针对多数且具有多界面的快闪存储卡同时进行测试。

而上述的快闪存储卡的规格可为MMC卡(Multi Media Card)、CF卡(Compact Flash Card)、SMC卡(Smart Media Card)、MS卡(Memory Stick)及SD卡(Secure Digital Memory Card)等规格的快闪存储卡，故举凡可达成前述效果的形式皆应受本发明所涵盖，此种简易修饰及等效结构变化，均应同理包含于本发明的保护范围内，合予陈明。

以上的公开，仅是本发明的较佳实施例而已，自不能以此而局限本发明的专利范围，因此，举凡运用本发明的专利范围所做的均等变化与修饰，仍应包含于本发明所涵盖的专利范围内。

综上所述，本发明的具多界面的快闪存储卡测试器具，确实能达到其功效及目的，符合发明专利的申请要件，诚符合产业利用性、新颖性及进步性，依法提出申请。

Claims (11)

1.一种具多界面的快闪存储卡测试器具，其特征是，于测试器具上设有一个或一个以上的连接界面转接板，且该连接界面转接板可通过连接界面与测试电路板成电性相连。

2.如权利要求1所述的具多界面的快闪存储卡测试器具，其中该测试电路板设有测试控制电路及控制此电路的程序。

3.如权利要求2所述的具多界面的快闪存储卡测试器具，其中该测试控制电路由微处理器、短路检测电路、存储卡电源供应电路及存储卡插槽所构成。

4.如权利要求3所述的具多界面的快闪存储卡测试器具，其中该微处理器设有存储卡种类检测脚。

5.如权利要求1所述的具多界面的快闪存储卡测试器具，其中该测试电路板设有一个或一个以上的快闪存储卡的控制界面。

6.如权利要求1所述的具多界面的快闪存储卡测试器具，其中该连接界面转接板设有测试电路板连接界面、连接界面转换电路及快闪存储卡连接界面。

7.如权利要求6所述的具多界面的快闪存储卡测试器具，其中该连接界面转接板与快闪存储卡相连接，并通过连接界面将测试信号传送至测试电路板连接界面。

8.如权利要求1所述的具多界面的快闪存储卡测试器具，其中该连接界面转接板设有电源标示、测试正常标示、测试中标示或测试失败标示。

9.如权利要求1所述的具多界面的快闪存储卡测试器具，其中该测试器具主体上设有一个或一个以上的测试电路板。

10.如权利要求1所述的具多界面的快闪存储卡测试器具，其中该快闪存储卡的规格为MMC卡、CF卡、SMC卡、MS卡或SD卡的快闪存储卡。

11.如权利要求1所述的具多界面的快闪存储卡测试器具，其中该测试器具的主体在预设的操作系统及操作系统内建的应用程序下进行操作。

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