CN102280142B - 存储器检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种存储器检测方法，在电子装置开机自我检测阶段，基本输入输出系统检测该电子装置当前使用的存储器的存储器类型，接着，将所检测到的存储器类型输出至基板管理控制器，此时，该基板管理控制器依据该存储器类型自预存的数据中提取对应该存储器类型的存储器状态数据，而据以判断该存储器工作是否异常，进而相应输出符合该存储器类型的事件信息。由此在正确识别存储器类型的前提下，相应地提供正确的判断基准，进而解决现有技术的种种缺失。

Description

存储器检测方法
技术领域
本发明有关于一种存储器检测方法，更详而言之，关于一种应用于具有基本输入输出系统、基板管理控制器以及多个类型存储器的电子装置中的存储器检测方法。
背景技术
通常，服务器一旦上电(即供电)，服务器内的基板管理控制器(Baseboard Management Controller；BMC)会不停地通过传感器感测主机板上所使用的多类元件如存储器(双列直插存储器模块，Dual InlineMemory Module；DIMM)、风扇等，然后，判断主机板上该些元件是否出现异常，进而产生相应的事件信息，例如异常、正常等信息。
然而，对于同一机型业界通常使用具有相同规格的存储器、风扇等元件，但，随着服务器越来越多样化的发展，为了满足客户不同的需求，主机板需要配置不同规格的元件。
所以，对于使用多种类型存储器的服务器，如何提出一种存储器检测方法，以正确识别存储器类型，并相应正确的判断不同类型的存储器是否正常工作，实为目前亟欲解决的技术问题。
发明内容
鉴于上述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种存储器检测方法，以正确识别存储器类型，并相应提供正确的判断基准而供顺利完成存储器电压检测操作。
为达上述目的及其他目的，本发明提供一种存储器检测方法，应用于具有基本输入输出系统、基板管理控制器以及多个类型存储器的电子装置中，该存储器检测方法包括以下步骤：该基板管理控制器建立并储存多个存储器类型、以及对应各该存储器类型的多笔存储器状态数据；在该电子装置的开机自我检测阶段，该基本输入输出系统检测该电子装置当前使用的存储器的存储器类型；该基本输入输出系统将所检测到的存储器类型输出至该基板管理控制器；该基板管理控制器在接收到该基本输入输出系统所检测到的存储器类型后，依据该存储器类型自所储存的数据中提取对应该存储器类型的存储器状态数据；以及该基板管理控制器依据所提取的存储器状态数据，判断该存储器工作是否异常，而相应输出符合该存储器类型的事件信息。
在本发明的存储器检测方法的一实施例中，该电子装置进一步具有多个传感器分别耦接多个存储器插槽及该基板管理控制器，该存储器状态数据则为传感器数据储存库(Sensor Data Repository；SDR)文档，而该存储器类型例如为具有1.5V标准电压的存储器类型或具有1.35V标准电压的存储器类型。
相比于现有技术，本发明的存储器检测方法在于预存多个存储器类型、以及对应各该存储器类型的多笔存储器状态数据，并于开机自我检测阶段，该基本输入输出系统检测电子装置当前使用的存储器的存储器类型，接着，将所检测到的存储器类型输出至基板管理控制器，此时，该基板管理控制器依据该存储器类型自预存的数据中提取对应该存储器类型的存储器状态数据，判断出该存储器工作是否异常，而相应输出符合该存储器类型的事件信息。因此，应用本发明的存储器检测方法，即可实现在正确识别存储器类型的前提下，相应提供正确的判断基准，而有助于顺利完成存储器电压的检测作业。
附图说明
图1用以显示本发明的存储器检测方法的操作流程图。
元件标号的简单说明
S10～S50    步骤
具体实施方式
以下通过特定的具体实例说明本发明的技术内容，本领域技术人员可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。
请参阅图1，用以显示本发明的存储器检测方法的操作流程图。本发明的存储器检测方法应用于具有基本输入输出系统(BasicInput/Output System；BIOS)、基板管理控制器以及多个类型存储器的电子装置中，其中，该电子装置可例如为服务器或个人电脑等。在本实施例中，该存储器为双列直插存储器模块(Dual Inline MemoryModule；DIMM)，但不以此为限，在其他实施例中，该存储器也可是单列直插存储器模块(Single Inline Memory Module；SIMM)。以下将详细说明本发明的存储器检测方法的具体操作步骤。
如图1所示，首先进行步骤S10，该基板管理控制器建立并储存多个存储器类型、以及对应各该存储器类型的多笔存储器状态数据。在一具体实施例中，该电子装置进一步具有多个传感器，以分别耦接多个存储器插槽及该基板管理控制器，该存储器状态数据包括存储器工作电压，该多个传感器分别读取该多个存储器的该工作电压，并反馈该些工作电压至该基板管理控制器；再者，各该存储器类型以及各该存储器状态数据是储存于该基板管理控制器的内存空间(flash memory)中，以利于该基板管理控制器自该内存空间中提取相关数据而执行后续判断作业，但上述数据的储存位置并非以此为限；此外，该存储器状态数据为传感器数据储存库(Sensor Data Repository；SDR)文档，且该SDR文档包含多个存储器工作电压范围以及对应各该存储器工作电压范围的事件(event)信息(例如异常、正常等事件信息)。接着进行步骤S20。
在步骤S20中，在该电子装置的开机自我检测(POST)阶段，该基本输入输出系统检测该电子装置当前使用的存储器的存储器类型。其中，该存储器的类型可例如为具有1.5V标准电压的存储器类型或具有1.35V标准电压的存储器类型。接着进行步骤S30。
在步骤S30中，该基本输入输出系统将所检测到的存储器类型输出至该基板管理控制器。接着进行步骤S40。
在步骤S40中，该基板管理控制器在接收到该基本输入输出系统所检测到的存储器类型后，依据该存储器类型自所储存的数据中提取对应该存储器类型的存储器状态数据。承前所述的具体实施例中，应用本发明的存储器检测方法，该基板管理控制器在获悉存储器类型之前不执行读取该传感器所测量的电压值这一步骤，而在获悉该电子装置当前所使用的存储器类型后，方执行读取与判断等后续步骤，而避免可能因判断基准(即SDR文档)所基于的存储器类型与当前使用的存储器类型不匹配，造成判断失误的弊端。接着进行步骤S50。
在步骤S50中，该基板管理控制器依据所提取的存储器状态数据，判断该存储器工作是否异常，而相应输出符合该存储器类型的事件信息。承前所述的具体实施例中，依据所提取的存储器状态数据(即SDR文档)，判断通过该传感器所读取的工作电压落入哪个存储器工作电压范围，进而搜寻出对应该存储器工作电压范围的事件信息，并予以输出。
承上所述，本发明的存储器检测方法预先在电子装置处于开机自我检测阶段，基本输入输出系统检测当前使用的存储器的存储器类型，并将所检测到的存储器类型输出予基板管理控制器后，该基板管理控制器依据该存储器类型自预存的数据中提取对应该存储器类型的存储器状态数据，并读取传感器所量测的电压值，以比对所提取的传感器数据与所读取的电压值间的关系，从而判断出所读取的电压值是否异常，而相应输出符合该存储器类型的事件信息。由此以通过该基本输入输出系统与该基板管理控制器的协同合作而避免因基板管理控制器中预设的判断基准所因应的存储器类型有限，且基板管理控制器自身无法预先获悉电子装置当前使用的存储器类型，导致可能出现判断基准(SDR文档)所基于的DIMM类型与当前实际使用的DIMM类型不匹配，造成无法准确完成存储器电压检测作业的弊端。
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何本领域技术人员均可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰与改变。因此，本发明的权利保护范围，应如权利要求书所列。

Claims (5)

1.一种存储器检测方法，应用于具有基本输入输出系统、基板管理控制器以及多个类型存储器的电子装置中，其特征在于，该存储器检测方法包括以下步骤：
该基板管理控制器建立并储存多个存储器类型、以及对应各该存储器类型的多笔存储器状态数据；
在该电子装置的开机自我检测阶段，该基本输入输出系统检测该电子装置当前使用的存储器的存储器类型；
该基本输入输出系统将所检测到的存储器类型输出至该基板管理控制器；
该基板管理控制器在接收到该基本输入输出系统所检测到的存储器类型后，依据该存储器类型自所储存的数据中提取对应该存储器类型的存储器状态数据；以及
该基板管理控制器依据所提取的存储器状态数据，判断该存储器工作是否异常，而相应输出符合该存储器类型的事件信息。
2.根据权利要求1所述的存储器检测方法，其特征在于，该电子装置进一步具有多个传感器分别耦接多个存储器插槽及该基板管理控制器。
3.根据权利要求2所述的存储器检测方法，其特征在于，该存储器状态数据包括存储器工作电压，该多个传感器分别读取该多个存储器的该工作电压，并反馈该些工作电压至该基板管理控制器。
4.根据权利要求1所述的存储器检测方法，其特征在于，该存储器类型为具有1.5V标准电压的存储器类型或具有1.35V标准电压的存储器类型。
5.根据权利要求1所述的存储器检测方法，其特征在于，该多个存储器类型、以及对应各该存储器类型的多笔存储器状态数据储存于该基板管理控制器的内存空间中。
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