CN101408582B - 电路板测试方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种电路板测试装置，包括微处理器单元、信号源单元、测试操作台以及数据分组单元，微处理器单元控制信号源单元向固定于测试操作台的电路板中相应的走线输入测试信号；数据分组单元根据走线的类型对所需测试走线输出的信号进行测试，并将测试后得到的信号发送给微处理器单元进行分析处理，从而得到所述所需测试走线的状态信息。本发明同时公开了一种电路板测试方法，该装置及方法能够实现对于电路板的自动、全面测试，且测试效率较高。

Description

电路板测试方法及装置

技术领域

本发明涉及电路板测试技术，尤其涉及一种电路板测试方法及装置。

背景技术

在集散型控制系统(DCS，Dsitributed Control System)或可编程逻辑控制器(PLC，Programmable Logic Controller)系统中，采用机笼单板插槽或机架式设计时，需使用母板。母板是连接单板或模块的基础。母板的焊接和制板的可靠性，决定了系统运行的稳定性和可靠性。基于母板在设计中的重要作用和特殊地位，对其进行全面、有效的测试就变得非常关键和重要。

母板的特点是：面积大、走线密集、接插件数量多、走线类型丰富。其中，就接插件来看，包括64芯欧插、DB25、DB9、20芯欧插、8芯接线端子等；就走线类型来看，包括电源走线、屏蔽地线、一对一信号线、一对多信号线等。

在母板测试过程中，主要测试母板的焊点是否存在短路、母板上的走线是否存在断线，母板上的接插件是否存在方向性错误等。目前，现有技术中对母板进行测试的方法主要有两种：

一种是由人工按照母板上的走线，用万用表进行一一测试。但是，这种测试方式仅测试走线的一一对应性，已需要非常大的工作量，若需进一步测试相邻走线间是否短接，则工作量将更加庞大；同时，在大量重复劳动时，在测试过程中遗漏测试一定数量走线的可能性很大。基于以上原因，使得这种母板测试方法工艺上难以保障，且测试效率低下。

另一种母板测试方法是用基于母板使用的单板来测试其对应的母板。这种方法的缺点是：基于母板使用的单板有自身的使用要求，并不能使用母板上的所有走线和连接，只能使用其中的一部分，因此，使用单板测试其对应的母板并不能达到全面测试母板上所有走线和连接的目的。

综上所述，现有技术中的母板测试方法，并不能自动、全面地对母板进行测试，且测试效率低下。

发明内容

有鉴于此，本发明要解决的技术问题是，提供一种电路板测试方法及装置，能够实现对于电路板的自动、全面测试，且测试效率较高。

为此，本发明实施例采用如下技术方案：

本发明提供了一种电路板测试装置，该装置包括：微处理器单元、信号源单元、测试操作台、数据分组单元；其中，

微处理器单元，用于根据电路板上当前所需测试走线及测试内容，控制信号源单元向电路板上相应的走线输出测试信号，以及控制数据分组单元对所述当前所需测试走线输出的信号进行测试；还用于对数据分组单元发来的测试后得到的信号进行分析处理，得到所需测试走线的状态信息；

信号源单元，用于在微处理器单元控制下向测试操作台上所安装电路板的相应走线发送测试信号；

测试操作台，用于为所需测试的电路板提供连接信号源单元和数据分组单元的接口；

数据分组单元，用于在微处理器单元控制下，对所述所需测试走线输出的信号进行测试，并将测试后得到的信号发送给微处理器单元。

其中，所述数据分组单元还用于：在微处理器单元控制下，使用与所述所需测试走线类型相适应的测试方法进行所需测试走线的所述测试；相应的，

微处理器单元进一步用于：根据所需测试走线的类型，控制数据分组单元使用与所述所需测试走线类型相适应的测试方法进行所需测试走线的所述测试。

该装置还包括：结果显示单元，用于将微处理器单元分析处理得到的走线的状态信息向用户显示。

该装置还包括：接口转换单元，用于进行数据分组单元与测试操作台之间的接口转换。

微处理器单元包括：模拟开关控制单元、模拟开关单元以及数据输入处理单元；其中，

模拟开关控制单元，根据电路板上当前所需测试的走线、测试内容以及走线类型，控制模拟开关单元中各个模拟开关的开关状态；

模拟开关单元，用于通过自身所包含各个模拟开关的开关状态的改变，控制信号源单元向电路板上相应的走线输出高低电平测试信号，以及控制数据分组单元选择当前所需测试的走线以及与所需测试走线相适应的测试方法；

数据输入处理单元，用于对数据分组单元发来的所述测试后得到的信号进行分析处理，得到所需测试走线的状态信息。

数据分组单元包括：电源线测试单元、一对一走线方式测试单元、以及一对多走线方式测试单元；其中，

电源线测试单元，用于对电路板中电源线输出的信号进行测试；

一对一走线方式测试单元，用于对电路板中一对一走线输出的信号进行测试；

一对多走线方式测试单元，用于对电路板中一对多走线输出的信号进行测试。

所述结果显示单元包括：简易显示单元和/或详细显示单元；其中，

简易显示单元，用于根据所述状态信息使用蜂鸣器和/或LED灯进行走线状态信息的显示；

详细显示单元，用于直接将电路板中走线的所述状态信息进行输出显示。

该装置进一步包括：

通讯单元，用于将所述状态信息转发给详细显示单元。

本发明同时提供了一种电路板测试方法，该方法包括：

根据电路板上当前所需测试走线、测试内容向电路板中相应走线的一侧输入测试信号；

对所述当前所需测试走线输出的信号进行测试；

将测试后得到的信号进行分析处理，得到所述所需测试走线的状态信息。

其中，对输出的信号进行测试之前，该方法进一步包括：根据所述所需测试走线的类型，确定与所述所需测试走线相适应的测试方法。

该方法进一步包括：

将得到的所述状态信息向用户进行显示。

所述分析处理具体为：

将获得的所述测试后得到的信号与一样本数据进行逐位比较，数据相同的数据位，该数据位对应的走线状态为未发生故障；而数据不相同的数据位，该数据位对应的走线状态为故障；其中，

所述样本数据为所述所需测试走线均未发生故障时对其输出的信号测试后得到的信号。

走线的类型包括：电源线、一对一走线方式、以及一对多走线方式。

所述显示具体为：

使用蜂鸣器和/或LED灯进行走线状态信息的显示；和/或

使用上位机直接将电路板中走线的所述状态信息进行输出显示。

对于上述技术方案的技术效果分析如下：

直接通过微处理器单元控制信号源单元向电路板中的走线输入测试信号，并通过数据分组单元实现对于走线输出信号的测试，之后，再次通过微处理器单元完成对于测试后得到信号的分析处理，得到电路板中各走线的状态信息，所有过程由装置自动完成，无需人工进行走线的测试，提高了测试效率。

而且，本发明所述测试方法和装置通过在各个走线的一侧输入测试信号，测试走线另一侧输出的信号的方法进行走线状态的测试，可以对电路板中的所有走线进行测试；而且，由于测试自动完成，不存在遗漏所需测试的走线的情况。基于以上两点，本发明所述测试方法及装置使得对于电路板中走线的测试更加全面。

附图说明

图1为本发明电路板测试装置结构示意图；

图1a为本发明电路板测试装置中微处理器单元实现示例图；

图1b为本发明电路板测试装置中模拟开关单元实现示例图；

图1c为本发明电路板测试装置中信号源单元实现示例图；

图1d为本发明电路板测试装置中接口转换单元实现示例图；

图1e为本发明电路板测试装置中电源线测试单元实现示例图；

图1f为本发明电路板测试装置中一对一走线方式测试单元实现示例图；

图1g为本发明电路板测试装置中一对多走线方式测试单元实现示例图；

图1h为本发明电路板测试装置中简易显示单元实现示例图；

图1i为本发明电路板测试装置中通讯单元实现示例图；

图2为本发明电路板测试方法流程示意图。

具体实施方式

本发明的基本思想是：微处理器单元控制信号源单元向电路板中相应的走线输入测试信号；数据分组单元根据走线的类型使用相应的测试方法对所需测试的走线输出的信号进行测试，并将测试后得到的信号发送给微处理器单元进行分析处理，得到所述所需测试走线的状态信息。

以下，通过具体实施例结合附图详细说明本发明电路板测试方法及装置的实现。

图1为本发明电路板测试装置结构示意图，如图1所示，该装置包括：微处理器单元110、信号源单元120、测试操作台130、数据分组单元140、以及结果显示单元150；其中，

微处理器单元110，用于根据电路板上当前所需测试的走线以及测试内容确定电路板中当前所需被输入测试信号的走线，控制信号源单元120向电路板上相应的走线输出测试信号；还用于根据所述当前所需测试走线及走线的类型确定需使用的测试方法，控制数据分组单元140选择当前所需测试的走线、以及与所需测试走线相适应的测试方法，进行走线中输出信号的测试；还用于接收数据分组单元140发来的测试后得到的信号，对所述测试后得到的信号进行分析处理，获得所测试走线的状态信息，并将所述状态信息发送给结果显示单元150。

其中，在测试过程中，测试内容主要包括：测试走线是否断线、以及走线之间是否短路。具体的原理为：

在走线始端输入测试信号，在走线末端如果测试到信号则可以排除断线的可能；

循环改变某一走线的测试信号，使得该走线输出的信号有效区别于其他走线，若任何其他走线和该走线间有短路现象，则在数据采集端接收到两个相同的信号，从而确定输出相同信号的两条走线之间存在短路。

基于以上原理，信号源单元120所发送测试信号的走线与数据分组单元140所选择的所述所需测试走线可能相同，也可能不同。但是，数据分组单元140所选择的所述所需测试走线与信号源单元120所发送测试信号的走线相关联，所述所需测试走线中输出的信号理论上需根据被输入测试信号的走线中的测试信号而发生变化，从而在向所述被输入测试信号的走线中输入测试信号时，通过测试所述所需测试走线中输出的信号得知所述所需测试走线的状态。

走线的状态一般可以分为发生故障和未发生故障两种状态。所述分析处理一般为：将获得的所述测试后得到的信号与一样本数据进行逐位比较，所述样本数据为所述所需测试走线均未发生故障时对其输出的信号测试后得到的信号，从而，通过比较，其中数据相同的数据位，该数据位对应的走线未发生故障；而数据不相同的数据位，该数据位对应的走线发生故障。

所述微处理器单元110可以使用AT89系列单片机实现。图1a给出了一种微处理器单元110的实现电路，同时给出了一种用于保护所述微处理器单元110的看门狗电路。

其中，微处理器单元110还可以进一步划分为：模拟开关控制单元1101、模拟开关单元1102、以及数据输入处理单元1103，其中，

模拟开关控制单元1101，根据电路板上当前所需测试的走线以及测试内容确定电路板中当前所需被输入测试信号的走线，控制模拟开关单元1102中各个模拟开关的开关状态。

模拟开关单元1102，用于通过自身所包含各个模拟开关的开关状态的变化，控制信号源单元120向电路板上相应的走线输出高低电平测试信号，以及控制数据分组单元140选择当前所需测试的走线以及与所需测试走线相适应的测试方法进行测试。

所述模拟开关单元1102可以采用多路模拟开关MC14051完成。如图1b所示，给出了一种模拟开关单元1102实现的实例图，这里不再赘述。

数据输入处理单元1103，用于接收数据分组单元140发来的所述测试后得到的信号，对所述测试后得到的信号进行分析处理，获得所需测试走线的状态信息，并将所述状态信息发送给结果显示单元150。

在微处理器单元110的控制下，进一步地，在模拟开关控制单元1101借由模拟开关单元1102的控制下，信号源单元120向电路板上各个走线循环输入测试信号，使得当前被输入测试信号的走线中的信息有效区别于其他未被输入测试信号的走线，通过对所述所需测试走线输出信号的测试，使得微处理器单元110，进一步地，使得所述微处理器单元110中包含的数据输入处理单元1103通过对测试结果进行分析处理，对各走线的走线有无短路做出判断。

信号源单元120，用于在微处理器单元110的控制下向测试操作台130所连接电路板上的相应走线发送有序的高低电平测试信号。

如图1c所示，给出了一种信号源单元120的实现示例图。

测试操作台130，用于为所需测试的电路板提供电气连接的接口，并将电路板中各个走线的两侧分别与信号源单元120和数据分组单元140连接，从而接收信号源单元120发来的高低电平测试信号，并输入电路板对应走线的一侧；将走线另一侧产生的信号发送给数据分组单元140。

测试操作台130所提供的所述接口用于实现所需测试电路板与本发明所述电路板测试装置的连接。而且，所提供的接口最好为制具安装接口，以通过和各类制具进行组合以及制具的更换，实现对多种类型电路板的兼容，达到扩展所能测试的电路板类型的作用。例如，当进行母板的测试时，制具依照母板类型，设置相应的接口，且，接口一般采用方向性的接插件，满足测试过程中对母板接口的方向性识别。

另外，测试操作台130还可以采用由多重弹簧组合设计的可自复位接口，用以实现多个接口同时有效连接的作用。

在实际应用中，测试操作台130与数据分组单元140之间一般还包括接口转换单元160，用于进行数据分组单元140与测试操作台130之间的接口转换。如图1d所示，给出了一种接口转换单元160的实现示例图。

数据分组单元140，用于接收测试操作台130传来的电路板中所述所需测试走线所输出的信号，并在微处理器单元110，进一步地，在微处理器单元110包含的模拟开关单元1102控制下，将所述走线输出的信号传输给与所述所需测试走线类型相对应的测试电路进行测试，并将测试后得到的信号发送给微处理器单元110。

所述数据分组单元可以使用逻辑芯片74HC30和74HC245实现。

其中，依据走线类型的不同，走线所输出的信号在数据分组单元140中使用不同的测试方式进行测试。

对于走线的类型，走线按照功能分为信号线和电源线两种。其中，信号线按照走线方式的不同，又可以分为一对一走线和一对多走线；电源走线中包括二极管时，需要进行二极管极性测试。在二极管极性测试上，主要使用电源进行正反方向输入，来判断二极管的极性。对于信号线，分为一对一走线方式和一对多走线方式。一对一走线方式是指只有一对起止点的走线方式；一对多走线方式是指有一个起始点并对应有多个中间点的走线方式。

数据分组单元140可以根据上述走线类型，对每种走线类型设计一个具有针对性的测试功能单元，分别为：电源线测试单元1401、一对一走线方式测试单元1402、以及一对多走线方式测试单元1403。其中，

电源线测试单元1401，用于对电路板中电源线输出的信号进行测试。

其中，对于电源线进行测试一般主要涉及到电源走线内包括的二极管、电阻的合格性测试。如图1e所示，根据电路板上电源线的设计方式，在每一走线设置2个PHOTOMOS，与图1b所示的模拟开关单元结构示例图结合，通过模拟开关单元1102的74HC244的控制选通，使得在同一时刻内电源线只存在唯一状态，并且在相邻的走线上的电平状态相反。通过该方式就可以判定走线间是否存在短路。这种测试方法对电源线上存在二极管构成冗余电路的方式同样满足。

一对一走线方式测试单元1402，用于对一对一走线输出的信号进行测试。

如图1f所示，测试一对一走线，即是起始于一测试点并终止于另一测试点的走线时，将相应走线输出的信号传输到74HC30芯片上，在同一个芯片上的信号空间上不可能存在短接情况。在测试时，通过微处理器单元110有序改变信号源单元120输出的测试信号，从而使得唯一存在一个74HC30输出电平区别于组内其他芯片的输出电平，由该方法判断走线间是否存在短路。确切地说，通过改变信号源单元120的测试信号，使得唯一存在一个74HC30输出电平为高电平，而其他74HC30输出电平都为低电平。若存在另一个74HC30输出电平为高电平，就可以判定走线间存在短路。

一对多走线方式测试单元1403，用于对电路板中类型为一对多走线的走线输出的信号进行测试。

该测试方法一般需要具备记忆功能，通过对测试过的走线进行记忆，防止测试重复或遗漏。如图1g所示，测试一对多走线，即是起始于一测试点并经过多个中间点后终止于另一测试点的走线时，要分两个过程进行：

首先，测试走线间是否存在短路的现象。结合图1b所示的模拟开关单元结构示例图，通过对模拟开关单元1102的74HC245进行选通，使得在同一时刻有唯一的一组走线中输入的测试信号被改变，从而实现该组走线所对应的74HC30芯片的输出电平区别于其他组，从而实现对走线间短路的测试。

其次，要测试起始点和各个中间过程点是否存在断路的问题以及在测试过程中如何防止重复操作的问题。在测试起始点和过程点间的断线问题时，可以对各过程端点的信号进行采集，从而转换成一对一走线的形式来测试，其测试原理和一对一测试的原理是一致的。最大的不同点在于：对于已测试完成的过程点进行记忆。主要实现方法可以为使用74HC32芯片，将采集测试过程点时的信号反馈到微处理器单元110。在微处理器单元110中设置缓冲区来暂存各个标志位，最后对标志位进行统一计算，从而给出测试过程中重测或漏测的提示。

结果显示单元150，用于将微处理器单元110发来的所述状态信息显示给测试用户。

其中，结果显示单元150还可以包括简易显示单元1501和/或详细显示单元1502；其中，

简易显示单元1501，用于根据微处理器单元110发来的所述状态信息，使用蜂鸣器和/或LED灯等进行各走线状态信息的提示。

简易显示单元1501的实现示例图如图1h所示。

简易显示单元1501对各走线的状态进行简易提示，主要从操作的方便性角度出发，将测试结果直接表达出来。

详细显示单元1502，用于根据微处理器单元110发来的所述状态信息，对电路板各走线状态的数据信息进行详细显示。

详细显示单元1502中对各走线状态进行详细显示，主要是从结果分析的角度出发。通过通讯单元，将详细的状态信息上传到所述详细显示单元1502中进行显示。

所述详细显示单元1502一般位于上位机中，通过屏幕向用户显示所述状态信息。此时，微处理器单元110中数据输入处理单元1103和详细显示单元1502之间还包括：

通讯单元170，用于将微处理器单元110的状态信息转发给详细显示单元1502。

通讯单元170可以使用RS-232电平转换单元完成，具体的，可以采用MAX232芯片完成，如图1i所示。

所述通讯单元170可以位于微处理器单元110中或结果显示单元150中，或者，也可以作为独立的通讯单元存在。

其中，图1a～图1i所示的各个单元可以组成一具体的电路板测试装置应用例。

另外，图1所示本发明实施例、以及图1a～图1i所组成的电路板测试装置应用例均可以应用于对于母板的测试。

图2为本发明电路板测试方法流程示意图，如图2所示，该方法包括：

步骤201：根据电路板上当前所需测试的走线、测试内容以及这些走线的类型向相应的电路板走线中输入测试信号。

所需测试走线与被输入测试信号的走线相关联，所述所需测试走线中输出的信号理论上需根据被输入测试信号的走线中的测试信号而发生变化，从而在向所述被输入测试信号的走线中输入测试信号时，通过测试所述所需测试走线中输出的信号得知所述所需测试走线的状态。

其中，通过向电路板上相应的走线输入测试信号，使得当前被输入测试信号的走线中的信息有效区别于其他未被输入测试信号的走线。

步骤202：根据所述所需测试走线的类型使用相应的测试方法，对所述当前所需测试走线输出的信号进行测试。

一般的，对于走线的不同类型需使用不同的测试方法，在图1e～图1f分别给出了进行三种不同类型走线测试的测试电路示例，当然，也可以使用其他现有技术中的走线测试方法和电路，这里不再赘述。

步骤203：将测试后得到的信号进行分析处理，得到所述所需测试走线的状态信息。

走线的状态一般可以分为发生故障和未发生故障两种状态。所述分析处理一般为：将获得的所述测试后得到的信号与一样本数据进行逐位比较，数据相同的数据位，该数据位对应的走线状态为未发生故障；而数据不相同的数据位，该数据位对应的走线状态为故障。其中，所述样本数据为所述所需测试走线均未发生故障时对其输出的信号测试后得到的信号。

步骤204：将所述走线的状态信息向用户进行显示。

其中，所述显示可以分为详细显示和简易显示两种。简易提示主要从操作的方便性角度出发，使用蜂鸣器和LED灯等进行各走线状态信息的提示，从而将测试结果直接表达出来，例如在流水生产方式下，可以将各走线的状态向测试人员进行直观有效的提示，提高生产的效率。详细显示是指直接将电路板中走线的所述状态信息在上位机等输出设备上进行输出显示；该方式主要是对故障分析人员开放，用以提供详细的故障信息，方便故障点的定位。

图2所示本发明实施例电路板测试方法可以应用于对于母板的测试。

本领域普通技术人员可以理解，实现上述实施例电路板测试方法的过程可以通过程序指令相关的硬件来完成，所述的程序可以存储于可读取存储介质中，该程序在执行时执行上述方法中的对应步骤。所述的存储介质可以如：ROM/RAM、磁碟、光盘等。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (13)

1.一种电路板测试装置，其特征在于，该装置包括：微处理器单元、信号源单元、测试操作台、数据分组单元；其中，

微处理器单元，用于根据电路板上当前所需测试走线及测试内容，控制信号源单元向电路板上相应的走线输出测试信号，以及控制数据分组单元对所述当前所需测试走线输出的信号进行测试；还用于对数据分组单元发来的测试后得到的信号进行分析处理，得到所需测试走线的状态信息；

其中，所述分析处理包括：将获得的所述测试后得到的信号与一样本数据进行逐位比较，数据相同的数据位，该数据位对应的走线状态为未发生故障；而数据不相同的数据位，该数据位对应的走线状态为故障；其中，所述样本数据为所述所需测试走线均未发生故障时对其输出的信号测试后得到的信号；

信号源单元，用于在微处理器单元控制下向测试操作台上所安装电路板的相应走线发送测试信号；

测试操作台，用于为所需测试的电路板提供连接信号源单元和数据分组单元的接口；

数据分组单元，用于在微处理器单元控制下，对所述所需测试走线输出的信号进行测试，并将测试后得到的信号发送给微处理器单元。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述数据分组单元还用于：在微处理器单元控制下，使用与所述所需测试走线类型相适应的测试方法进行所需测试走线的所述测试；相应的，

微处理器单元进一步用于：根据所需测试走线的类型，控制数据分组单元使用与所述所需测试走线类型相适应的测试方法进行所需测试走线的所述测试。

3.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于，该装置还包括：

结果显示单元，用于将微处理器单元分析处理得到的走线的状态信息向用户显示。

4.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于，该装置还包括：

接口转换单元，用于进行数据分组单元与测试操作台之间的接口转换。

5.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，微处理器单元包括：模拟开关控制单元、模拟开关单元以及数据输入处理单元；其中，

模拟开关控制单元，根据电路板上当前所需测试的走线、测试内容以及走线类型，控制模拟开关单元中各个模拟开关的开关状态；

模拟开关单元，用于通过自身所包含各个模拟开关的开关状态的改变，控制信号源单元向电路板上相应的走线输出高低电平测试信号，以及控制数据分组单元选择当前所需测试的走线以及与所需测试走线相适应的测试方法；

数据输入处理单元，用于对数据分组单元发来的所述测试后得到的信号进行分析处理，得到所需测试走线的状态信息。

6.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于，数据分组单元包括：电源线测试单元、一对一走线方式测试单元、以及一对多走线方式测试单元；其中，

电源线测试单元，用于对电路板中电源线输出的信号进行测试；

一对一走线方式测试单元，用于对电路板中一对一走线输出的信号进行测试；

一对多走线方式测试单元，用于对电路板中一对多走线输出的信号进行测试。

7.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述结果显示单元进一步包括：简易显示单元和/或详细显示单元；其中，

简易显示单元，用于根据所述状态信息使用蜂鸣器和/或LED灯进行走线状态信息的显示；

详细显示单元，用于直接将电路板中走线的所述状态信息进行输出显示。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，该装置包括：

通讯单元，用于将所述状态信息转发给详细显示单元。

9.一种电路板测试方法，其特征在于，该方法包括：

根据电路板上当前所需测试走线、测试内容向电路板中相应走线的一侧输入测试信号；

对所述当前所需测试走线输出的信号进行测试；

将测试后得到的信号进行分析处理，得到所述所需测试走线的状态信息；

其中，所述分析处理具体为：

将获得的所述测试后得到的信号与一样本数据进行逐位比较，数据相同的数据位，该数据位对应的走线状态为未发生故障；而数据不相同的数据位，该数据位对应的走线状态为故障；其中，

所述样本数据为所述所需测试走线均未发生故障时对其输出的信号测试后得到的信号。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，对输出的信号进行测试之前，该方法进一步包括：根据所述所需测试走线的类型，确定与所述所需测试走线相适应的测试方法。

11.根据权利要求9或10所述的方法，其特征在于，该方法进一步包括：

将得到的所述状态信息向用户进行显示。

12.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，走线的类型包括：电源线、一对一走线方式、以及一对多走线方式。

13.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述显示具体为：

使用蜂鸣器和/或LED灯进行走线状态信息的显示；和/或

使用上位机直接将电路板中走线的所述状态信息进行输出显示。

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