CN101424722B - 主板发光二极管测试系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种主板发光二极管测试方法，包括如下步骤：预先为待测主板上的每个LED编号；随机选择两个LED编号，将其对应的LED的工作状态分别设置为恒亮和恒灭，并将待测主板上的其它LED的工作状态设为闪烁；控制待测主板上的LED工作；根据LED的实际工作状态，输入一个恒亮LED的编号和一个恒灭LED的编号；将所输入的两个编号与所选择的两个LED编号进行比较，确定其是否相同；及若比较结果是编号分别相同，则再次随机选择两个编号进行测试。另外，本发明还提供一种主板发光二极管测试系统。利用本发明，可减少主板LED测试结果失真的情况出现。

Description

主板发光二极管测试系统及方法 

技术领域

本发明涉及一种主板发光二极管测试系统及方法。 

背景技术

寿命长、高亮度的发光二极管(Light Emitting Diode，LED)被广泛用于越来越多的领域，尤其是显示领域，例如，LED被用于交通警示标志、商店、火车站、加油站等户外场所作为显示装置。 

随着计算机技术的发展，LED作为计算机设备的一个元件，其可能散布在主板上，以及系统前端的LED前置面板上，称之为诊断灯，用来指示其相应的设备或功能目前的状态。当LED被点亮时，表示这些设备或功能被系统检测出不合于规格的异常现象，便于相关人员发现此问题并加以解决，或者用户通过观察LED的颜色，确定该计算机设备的电源是否接通，通过在主板的中央处理器(Central Processing Unit，CPU)旁安装一个LED灯，利用不同的颜色显示该CPU是否出现故障。 

在生产主板时，一般常见的检验主板LED是否良好的测试方法是通过软件程序设置LED全亮或全灭，并根据该设置控制LED工作，然后弹出对话框询问测试人员所述LED是否呈现全亮或全灭的状态，软件程序将测试人员所输入的内容与所设置的内容进行比较，以判定主板测试的结果。然而，当软件程序控制主板上的LED全亮或全灭时，由于测试人员的疏忽，可能会漏掉某个LED的实际工作状态而输入错误，导致测试结果失真。 

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种主板发光二极管(Light Emitting Diode，LED)测试系统，根据待测主板上的LED的实际工作状态，输入一个恒亮LED和一个恒灭LED的编号，并将其与所设置的恒亮LED和恒灭LED的编号进行比较，以判定该待测主板LED的测试结果，可减少测试结果失真的情况出现。 

鉴于以上内容，有必要提供一种主板发光二极管测试方法，根据待测主板上的LED的实际工作状态，输入一个恒亮LED和一个恒灭LED的编号，并将其与所设置的恒亮LED和恒灭LED的编号进行比较，以判定该待测主板LED的测试结果，可减少测试结果失真的情况出现。 

一种主板发光二极管测试系统，该系统包括一个号码编排模块、一个设置模块、一个控制模块、一个接收模块、一个对比模块及一个结果输出模块。所述号码编排模块用于根据LED在待测主板上的位置或功能，对每个LED进行编号。所述设置模块用于分两次分别随机选择两个编号，将其对应的LED的工作状态分别设置为恒亮和恒灭，并将待测主板上的其它LED的工作状态设为闪烁。所述控制模块用于根据设置模块所设置的工作状态，控制待测主板上的LED工作。所述接收模块用于接收测试人员每次根据LED的实际工作状态所输入的一个恒亮LED的编号和一个恒灭LED的编号。所述对比模块用于将每次所接收到的恒亮LED的编号与相应设置的恒亮LED进行比较，及将每次所接收到的恒灭LED的编号与相应设置的恒灭LED的编号进行比较，以确定其是否分别相同。所述结果输出模块用于当上述比较结果是至少有一对编号不同时，显示该待测主板上的LED没有通过测试，及当上述每次比较结果是所述两组编号分别相同时，显示待测主板上的发光二极管通过测试。 

一种主板发光二极管测试方法，包括如下步骤：(a)根据LED在待测主板上的位置或功能预先为每个LED编号；(b)随机选择两个编号，将其对应的LED的工作状态分别设置为恒亮和恒灭，并将待测主板上的其它LED的工作状态设为闪烁；(c)根据步骤(b)中的设置控制待测主板上的LED工作；(d)根据待测主板上的LED的实际工作状态，输入一个恒亮LED的编号和一个恒灭LED的编号；(e)比较所输入的恒亮LED的编号与所设置的恒亮LED的编号是否相同，及比较所输入的恒灭LED的编号与所设置的恒灭LED的编号是否相同；及(f)若步骤(e)中的比较结果是所述编号至少有一对编号不同，则显示待测主板上的LED没有通过测试，然后直接结束流程。 

相较于现有技术，所述的主板发光二极管测试系统及方法，通过对主板上的LED进行测试，进而确定主板是否测试通过，作业方法简单，可减少主板测试结果失真的情况出现。 

附图说明

图1是本发明待测主板的硬件架构图。 

图2是本发明基板管理控制器与测试程序间的通讯示意图。 

图3是本发明测试程序的功能单元图。 

图4和图5是本发明设置发光二极管工作状态的示意图。 

图6是本发明发光二极管的实际工作状态示意图。 

图7是本发明发光二极管测试方法较佳实施例的作业流程图。 

具体实施方式

如图1所示，是本发明待测主板的硬件架构图。该待测主板包括基板管理控制器(Baseboard Management Controller，BMC)1、I²C总线2、输入输出控制器3、至少一个芯片4、存储装置5及多个发光二极管6(Light Emitting Diode，LED，以下简称为“LED6”)。所述BMC1通过I2C总线2与输入输出控制器3和芯片4相连，并通过多个硬件和连线与存储装置 5相连。本实施例中的待测主板与一台显示器相连，该显示器提供用户界面用于显示测试该待测主板时的相关数据与测试结果。 

其中，输入输出控制器3用于决定待测主板的功能，并控制该待测主板上的各种接口(如串口、通用串行总线接口)、周边元件扩展接口总线(PCI)、集成电路设备(IDE)以及芯片4(如集成声卡、集成RAID卡、集成网卡)等。芯片4具体是指待测主板1上的集成电路芯片。待测主板上的大部分LED6是由BMC1控制，而少部分的LED6可以由芯片4通过I²C总线2上的指令进行控制。存储装置5可以为硬盘、存储器或其它类型的移动存储设备，用于存储一段测试程序50对待测主板上的LED6进行测试，并将测试时的相关数据和测试结果显示于所述用户界面上。所述LED6包括待测主板上的LED6和前置面板上的LED6。 

如图2所示，是本发明BMC1与测试程序50间的通讯示意图。本较佳实施例中的BMC1通过KCS界面7与测试程序50通讯。BMC1接收测试程序50所发送的命令，控制LED6亮、灭和闪烁，并将测试结果通过KCS界面(Keyboard Controller Style Interface)7反馈给测试程序50，测试程序50于显示器所提供的界面上显示该测试结果。 

如图3所示，是本发明测试程序50的功能单元图。所述测试程序50包括一个号码编排模块500、一个设置模块502、一个控制模块504、一个接收模块506、一个对比模块508及一个结果输出单元510。 

所述号码编排模块500用于根据LED6在待测主板上的位置或功能，对每个LED6进行编号，该编号在本实施例中相当于LED6的身份码，不能重复。例如，开关电源上的LED6的编号为“P-001”，BMC1上的LED6的编号为“B-002”。号码编排模块500保存所有LED6的编号。 

设置模块502用于设置待测主板上的LED6的工作状态，所述设置工作状态具体是指，设置模块502从号码编排模块500所存储的编号中随机选择一个编号，将该编号所对应的LED6的工作状态设置为恒亮，并随机另选一个编号，将其对应的LED6的工作状态设置为恒灭，而该待测主板上的其它LED6的工作状态设置成闪烁状态，如图4和图5所示，是本发明设置LED6工作状态的示意图，图中所示的每个圆代表一个LED6，每个LED6有一个预先编排好的编号，设置模块502每次随机选择的编号均不相同，如图4中的LED6a和LED6b，图5中的LED6c和LED6d，其编号不相同。设置模块502还用于设置LED6的闪烁方式和闪烁频率，具体而言，设置模块502可以将LED6设置成“先亮后灭”或“先灭后亮”，并设置“亮”和“灭”的显示时间，使得测试人员在检查LED6的实际工作状态时不至于因为LED6闪烁太快而人眼无法识别。 

控制模块504用于根据设置模块502所设置的工作状态，通过BMC1和芯片4控制待测主板上的LED6工作。本实施例以图4中所设置的工作状态为例进行说明，如图6中的A所示，当控 制模块504向BMC1和芯片4发送命令，要求其控制待测主板上的LED6a为恒亮，LED6b恒灭，待测主板上的其它LED6闪烁，且控制所述其它LED6的闪烁方式为“先亮后灭”时，待测主板上的LED6会以A-1和A-2中的方式工作，即正常情况下，如果待测主板上的所有LED6的线路连接与其本身没有故障，那么，待测主板上的LED6工作时会先呈现出A-1的实际工作状态，然后，呈现出A-2所示的实际工作状态。 

测试人员根据所看到的测试情况，通过鼠标或键盘向显示器分别输入一个恒亮LED6的编号和一个恒灭LED6的编号，接收模块506接收测试人员所输入的编号，并将所述编号显示于所述用户界面上。若测试人员看到的恒亮LED6或恒灭LED6的个数大于1个或等于零，则测试人员不用再向显示器输入编号，可直接判断该待测主板的LED6没有通过测试。 

所述对比模块508用于将所输入的编号与设置模块502所随机选择的两个LED编号进行比较，以确定测试人员输入的编号与设置模块502设置的编号是否相同。 

当比较结果是至少有一对编号不同时，例如，A-1中不只是LED6b恒灭或者LED6b没有呈现灭的状态，结果输出模块510于所述用户界面上显示该待测主板上的LED6没有通过测试，也就是说，该待测主板上的某个LED6的连接线路或LED6本身有故障。 

当比较结果是所述两对编号分别相同时，如A-1所示的恒亮LED6a与A中所设置的恒亮LED6a为同一个LED，且A-2所示的恒灭LED6b与A中所设置的恒灭LED6b为同一个LED，测试人员在看到A-1和A-2中的LED6后，所输入的编号与设置模块502设置的编号相同，结果输出模块510于用户界面上显示该待测主板上的LED6通过测试。 

如图7所示，是本发明主板LED测试方法较佳实施例的作业流程图。 

首先，号码编排模块500根据LED6在待测主板上的位置或功能，预先为每个LED6编排一个号码，简称“编号”，并保存所有LED6的编号(步骤S700)。 

设置模块502设置LED6的工作状态，具体而言，设置模块502第一次从号码编排模块500所存储的编号中随机选择一个编号，将该编号所对应LED6的工作状态设置为恒亮，如图4中所示的LED6a，并随机另选一个编号将其对应的LED6的工作状态设置为恒灭，如图4中所示的LED6b，主板上的其它LED6的工作状态被设置成闪烁状态，并设置LED6的闪烁方式和闪烁频率(步骤S702)。 

控制模块504根据设置模块502所设置的工作状态，通过BMC1和芯片4控制待测主板上的LED6工作(步骤S704)。 

测试人员根据待测主板上的LED6的实际工作状态，通过鼠标或键盘向显示器分别输入一个恒亮LED6的编号和一个恒灭LED6的编号，接收模块506接收测试人员所输入的编号，并将 所述编号显示于用户界面上(步骤S706)。 

对比模块508将测试人员输入的编号分别与步骤S702中所选择的编号进行比较，以确定测试人员输入的编号与设置模块502所设置的编号是否相同，具体是指，比较所输入的恒亮LED6的编号与所设置的恒亮LED6的编号是否相同，及比较所输入的恒灭LED6的编号与所设置的恒灭LED6的编号是否相同(步骤S708)。 

若比较结果是所述两对编号中至少有一对编号不同，则直接进入步骤S716，结果输出模块510于所述用户界面上显示待测主板上的LED6没有通过测试，然后结束流程。 

若比较结果是所述两对编号分别相同，如测试人员输入的恒亮LED6的编号与设置模块502所设置的恒亮LED6的编号相同，且测试人员输入的恒灭LED6的编号与设置模块502所设置的恒灭LED6的编号相同，则设置模块502刷新第一次所选择的编号，并第二次从号码编排模块500中随机选择两个编号，将该两个编号对应的LED的工作状态分别设为恒亮和恒灭，而将主板上的其它LED的工作状态设为闪烁状态，如图5所示(步骤S710)。本实施例中，该第二次选择的两个编号均不同于第一次所选择的两个编号。 

控制模块504根据步骤S712中所设置的工作状态，通过BMC1和芯片4控制待测主板上的LED6工作，测试人员根据LED6的实际工作状态，向显示器分别输入一个恒亮LED6的编号和一个恒灭LED6的编号，接收模块506将这两个编号显示于所述用户界面上(步骤S712)。 

对比模块508将步骤S714所输入的编号分别与步骤S712中所选择的编号进行比较，以确定测试人员输入的编号与设置模块502所设置的编号是否相同(步骤S714)。 

若步骤S714的比较结果是所述两对编号中至少有一对编号不同，则结果输出模块510于所述用户界面上显示待测主板上的LED6没有通过测试，也就是说，该主板上的某个LED6的连接线路或LED6本身有故障(步骤S716)。 

若步骤S714的比较结果是所述两对编号分别相同，如测试人员输入的恒亮LED6的编号与设置模块502所设置的恒亮LED6的编号相同，且测试人员输入的恒灭LED6的编号与设置模块502所设置的恒灭LED6的编号相同，则结果输出模块510于用户界面上显示该待测主板上的LED6通过测试(步骤S718)。 

在步骤S706和步骤S712中，当测试人员看到的恒亮LED6或恒灭LED6的个数大于1个或等于零时，测试人员不用再向显示器输入编号，可直接判断该待测主板的LED6没有通过测试。 

在本实施例中，测试程序50可以实现只用一次选择编号对待测主板上的LED6进行测试。为了达到测试结果更准备的目的，本较佳实施例以两次选择编号为例进行了说明。另外，本发明中的测试程序50还可以实现多次选择编号进行测试。本领域技术人员还可在本发明精神 内做其它变化，只要其不偏离本发明的技术效果，都应包含在本发明所要求保护的范围之内。 

Claims (6)

1.一种主板发光二极管测试方法，其特征在于，该方法包括：

(a)根据发光二极管在待测主板上的位置或功能预先为每个发光二极管编号；

(b)随机选择两个编号，将其对应的发光二极管的工作状态分别设置为恒亮和恒灭，并将待测主板上的其它发光二极管的工作状态设为闪烁；

(c)根据步骤(b)中的设置控制待测主板上的发光二极管工作；

(d)根据待测主板上的发光二极管的实际工作状态，输入一个恒亮发光二极管的编号和一个恒灭发光二极管的编号；

(e)比较所输入的恒亮发光二极管的编号与所设置的恒亮发光二极管的编号是否相同，及比较所输入的恒灭发光二极管的编号与所设置的恒灭发光二极管的编号是否相同；

(f)若步骤(e)中的比较结果是所述编号至少有一对编号不同，则显示待测主板上的发光二极管没有通过测试，然后直接结束流程；

(g)若步骤(e)中的比较结果是所述两对编号分别相同，则刷新步骤(b)中所选择的编号，返回步骤(b)再一次随机选择两个编号，并执行步骤(b)至步骤(d)的测试流程，根据待测主板上的发光二极管的实际工作状态，输入一个恒亮发光二极管的编号和一个恒灭发光二极管的编号；

(h)将步骤(g)中所输入的恒亮发光二极管的编号和恒灭发光二极管的编号与步骤(g)中随机选择的两个编号分别进行比较，以确定其是否分别相同；

(i)若步骤(h)的比较结果是该步骤(h)中的两对编号分别相同，则显示该待测主板上的发光二极管通过测试，相反，若步骤(h)的比较结果是该步骤(h)中的两对编号中至少有一对不同，则显示待测主板上的发光二极管没有通过测试；及 

在步骤(d)和(g)中，若恒亮发光二极管或恒灭发光二极管的个数大于1个或等于零，则直接判断该待测主板的发光二极管没有通过测试。

2.如权利要求1所述的主板发光二极管测试方法，其特征在于，在步骤(b)和(g)中所选择的编号互不相同。

3.如权利要求1所述的主板发光二极管测试方法，其特征在于，所述步骤(b)还包括步骤：设置发光二极管的闪烁方式与闪烁频率。

4.一种主板发光二极管测试系统，其特征在于，该系统包括：

号码编排模块，用于根据发光二极管在待测主板上的位置或功能，对每个发光二极管进行编号；

设置模块，用于随机选择两个编号，将其对应的发光二极管的工作状态分别设置为恒亮和恒灭，并将待测主板上的其它发光二极管的工作状态设为闪烁；

控制模块，用于根据设置模块所设置的工作状态，控制待测主板上的发光二极管工作；

接收模块，用于当恒亮发光二极管和恒灭发光二极管的个数分别等于1个时接收测试人员根据发光二极管的实际工作状态所输入的一个恒亮发光二极管的编号和一个恒灭发光二极管的编号；

对比模块，用于将所接收到的恒亮发光二极管的编号与所设置的恒亮发光二极管进行比较，及将所接收到的恒灭发光二极管的编号与所设置的恒灭发光二极管的编号进行比较，以确定其是否分别相同；

结果输出模块，用于当上述比较结果是至少有一对编号不同时，显示该待测主板上的发光二极管没有通过测试；

所述设置模块还用于当上述比较结果是所述两对编号分别相同时，刷新所选择的编号，再次随机选择两个编号，将其对应的发光二极管的工作状态分别设置为恒亮和恒灭，并将待测主板上的其它发光二极管的工作状态设为闪烁，所述控制模块还用于根据该设置 控制待测主板上的发光二极管工作；

所述接收模块还用于当恒亮发光二极管和恒灭发光二极管的个数分别等于1个时接收测试人员根据该次发光二极管的实际工作状态所输入的一个恒亮发光二极管的编号和一个恒灭发光二极管的编号；

所述对比模块还用于将该次接收到的两个编号分别与该次所设置的两个编号进行比较，以确定其是否分别相同；及

所述结果输出模块还用于当该次比较结果是两对编号分别相同时，显示待测主板上的发光二极管通过测试，当该次比较结果是两对编号中至少有一对编号不同时，显示待测主板上的发光二极管没有通过测试。

5.如权利要求4所述的主板发光二极管测试系统，其特征在于，所述设置模块每次随机选择的编号互不相同。

6.如权利要求4所述的主板发光二极管测试系统，其特征在于，所述设置模块还用于设置发光二极管的闪烁方式与闪烁频率。 

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