JP2016115045A - 通信モジュールおよびモジュール試験システム - Google Patents

通信モジュールおよびモジュール試験システム Download PDF

Info

Publication number
JP2016115045A
JP2016115045A JP2014251826A JP2014251826A JP2016115045A JP 2016115045 A JP2016115045 A JP 2016115045A JP 2014251826 A JP2014251826 A JP 2014251826A JP 2014251826 A JP2014251826 A JP 2014251826A JP 2016115045 A JP2016115045 A JP 2016115045A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
module
test
input
communication module
standard
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2014251826A
Other languages
English (en)
Inventor
平野 幸男
Yukio Hirano
幸男 平野
進一 諏訪
Shinichi Suwa
進一 諏訪
晴規 出丸
Harunori Idemaru
晴規 出丸
山下 晃広
Akihiro Yamashita
晃広 山下
文彦 田野
Fumihiko Tano
文彦 田野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2014251826A priority Critical patent/JP2016115045A/ja
Publication of JP2016115045A publication Critical patent/JP2016115045A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Information Transfer Systems (AREA)

Abstract

【課題】 ホスト装置に接続可能な通信モジュールのピン機能を変更可能であり、また、ピン機能の誤変更を抑制することが可能な通信モジュールおよびそのモジュール試験システムを得ることを目的とする。【解決手段】 本発明に係る通信モジュールは、ホスト装置およびモジュール試験装置と接続可能であり、標準規格で規定される機能を含む少なくとも2つの種類の機能を備える入出力部と、入出力部に入力されるモジュール試験装置より送付される設定コマンドを検出するコマンド検出手段と、前記コマンド検出手段により検出された設定コマンドに基づいて、前記入出力部の機能を切り替える制御手段と、を備える。【選択図】 図1

Description

本発明は、ホスト装置に装着され、標準規格で規定される機能を実行する通信モジュールおよびそのモジュール試験装置に関するものであり、例えば、MSA(Multi Source Agreement)で外形状および入出力が規定されたSFP(Small Form−factor Pluggable)モジュールに関するものである。
情報通信分野においては、標準規格に準拠した通信モジュールを規定することにより、多数のモジュールメーカーの参入を促し、通信モジュールの安定した供給と低価格化を促している。ここで、標準規格では、製品の外形寸法、入出力ピン配置、入出力ピン電気仕様等を定めている。また、このようなモジュールは、技術の発展に伴い、小型化が図られており、それに伴い、必要最小限の入出力ピンが規定されている。上述のSFPモジュールにおいては、入出力について非特許文献1に記載がある(例えば、非特許文献1参照)。非特許文献1には、カードエッジ型のI/Oピンが、幅9.2ミリメートルほどに表裏10本ずつ、合計20本配置されている通信モジュールが記載されている。また、各I/Oピンの機能が標準規格で規定されており、図9および図10に示すようにピン配置およびその機能が定められている。
SFPモジュールに新しい機能を実装する場合、例えば、SFPモジュールにCPUを搭載し、対向ホスト装置のSFPモジュールと標準規格に非準拠の独自のプロトコルで通信することで、ホスト装置の助けなしに新たな機能を実装するような場合について考える。ホスト装置と接続され通常動作を行う場合には、準拠する標準規格に規定されたピン配置と機能をそのまま使用することができる。しかしながら、このようなSFPモジュールをモジュール試験装置に装着し、出荷検査を行う際には、モジュール試験装置がCPUの動作を確認できるような入出力ピンをSFPモジュールの標準規格で規定されていないため、特定のピンに既存機能に加えてCPUとの通信機能を受け持たせ、通常利用時と出荷検査時でピンの機能を切り替える従来技術がある。(例えば、特許文献1参照)
特許文献1記載の従来技術においては、SFPモジュールの標準規格で備えられている通信機能(ピン番号4と5に配備される2 Wire Serial Interface、一般的にはI2Cと呼ばれる通信機能)を用いて、モジュール試験装置が、SFPモジュールに配置される入出力I/F設定格納ブロックに適切な値をライトすることにより、ピン機能を変更させている。また、この値は電源を切っても記憶されており、再度電源を投入した際に、モジュール試験装置からのライトが無くても、変更したピン機能が動作することができる。
INF−8074i Specification forSFP (Small Formfactor Pluggable) Transceiver
国際公開第2010/103970号
しかしながら、従来技術においては、標準規格で備えられた通信機能を用いて、ホスト装置からのデータのライトによりピン機能を変更可能であるため、ホスト装置の故障などにより、意図せずにピン機能を変更させてしまう危険性がある。さらに従来技術のSFPモジュールは、変更したピン機能を記憶するため、一度電源を切っても、元のピン機能に戻すことができないため、一度誤ってピン機能が変更させられた場合、継続して誤ったピン機能のまま動作してしまうという課題がある。
本発明は、上記のような課題を解決するためになされたもので、ピン機能を変更可能であり、また、ピン機能の誤変更を抑制することが可能な通信モジュールおよびモジュール試験システムを得ることを目的とする。
この発明に係る通信モジュールは、ホスト装置およびモジュール試験装置と接続可能であり、標準規格で規定される機能を含む少なくとも2つの種類の機能を備える入出力部と、モジュール試験装置より送信され、入出力部に入力される設定コマンドを検出するコマンド検出手段と、コマンド検出手段により検出された設定コマンドに基づいて、入出力部の機能を切り替える制御手段と、を備える。
また、この発明に係るモジュール試験システムは、ホスト装置に接続可能である通信モジュールと通信モジュールに接続可能なモジュール試験装置を有するモジュール試験システムであって、通信モジュールは、 標準規格で規定される機能を含む少なくとも2つの種類の機能を備える入出力部と、入出力部に入力されるモジュール試験装置より送付される設定コマンドを検出するコマンド検出手段と、コマンド検出手段により検出された設定コマンドに基づいて、入出力部の機能を切り替える制御手段と、入出力部を介して試験データをモジュール試験装置に送付する試験データ送信手段と、を備え、モジュール試験装置は、通信モジュールに試験開始を示す設定コマンドを送信するコマンド送信手段と、通信モジュールより受信した試験データを解析し、予め定められた検査基準を満たすか否かを判定する試験データ解析手段と、を備える。
本発明によれば、ピン機能を変更可能であり、また、ピン機能の誤変更を抑制することが可能な通信モジュールおよびモジュール試験システムを得ることができる。
この発明の実施の形態1に示す通信モジュールの構成を示すブロック図である。 この発明の実施の形態1に示すI/O部の構成を示すブロック図である。 この発明の実施の形態1に示すホスト装置と通信モジュールとの接続した場合の構成を示すブロック図である。 この発明の実施の形態1に示すモジュール試験装置と通信モジュールとの接続した場合の構成を示すブロック図である。 この発明の実施の形態1に示すI/O制御部の状態遷移図である。 この発明の実施の形態2に示す通信モジュールの構成を示すブロック図である。 この発明の実施の形態2に示すモジュール試験装置と通信モジュールとの接続した場合の構成を示すブロック図である。 この発明の実施の形態2に示すモジュール試験装置と通信モジュールとの接続した場合の動作シーケンス図である。 従来技術であるSFPモジュールのI/Oピンアサインを示す図である。 従来技術であるSFPモジュールのI/Oピン機能一覧を示す図である。
以下に、本発明を適用した通信モジュールについて、図面を参照して説明する。なお、本発明は以下の記述に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において適宜変更可能である。
実施の形態1.
図1に、この発明の実施の形態1に係る通信モジュールの構成を表すブロック図を示す。図1において、通信モジュール1は、入出力部2(以下、I/O部2とする)、入出力制御部3(以下、I/O制御部3とする)、コマンド検出部4(以下、I/O設定コマンド検出部4とする)、試験データ送信部5、標準データ受信部6を備えている。
I/O部2は、通信モジュール1が搭載されるホスト装置やモジュール試験装置に接続され、これらの装置に対しデータやコマンドの入出力を行う。また、I/O部2は、複数の入出力ピンを有しており、標準規格に準拠したピン配置となっている。例えば、上述のSPFモジュールであればこの仕様に対応した20ピンで構成されており、図9および図10に示すピン配置および機能を有している。I/O部2の少なくとも1つの入出力ピンは、2以上の機能を備えており、これらの機能を切替可能なように構成されている。2以上の機能のうち、少なくとも1つは標準規格で規定される機能であり、例えば、図10に記載されている機能であり、通信モジュール1が搭載されるホスト装置との間で標準規格に準拠したデータやコマンドのやり取りが可能となっている。また、I/O部2は標準規格で規定されていない機能も備えており、例えば、出荷検査を行う場合に、CPUとの通信機能を受け持たせ、モジュール試験装置がCPUの動作を確認できるような機能である。ここでは、ホスト装置に接続された場合に標準規格に準拠した形式のデータ(標準データ)を入力し、モジュール試験装置に接続された場合に試験結果のデータ(試験データ)を出力するように切り替えを行う場合を例にとり説明する。なお、切り替えを行う機能については、上述した機能に限られるものではない。
I/O制御部3は、I/O部2およびI/O設定コマンド検出部4に接続されており、I/O設定コマンド検出部4より通知される設定コマンドの種類に応じて、I/O部2に対して、機能の切替を指示するコマンドを出力する。I/O設定コマンド検出部4は、I/O部2およびI/O制御部3と接続されており、通信モジュール1の外部より入力される設定コマンドの解析を行い、設定コマンドが予め取り決めておいた試験開始または終了のコマンドを受信した場合にI/O制御部3に通知する。ここでは、I/O設定コマンド検出部4の検出可能な設定コマンドは、標準規格に非準拠の設定コマンドのみとなっているが、標準規格に準拠したコマンドを検出可能とし、標準規格に規定されたコマンドを検出した場合にはその設定コマンドを破棄(I/O制御部3への通知を行わない)するような構成としてもよい。
試験データ送信部5は、I/O部2に接続されており、通信モジュール1がモジュール試験装置に接続された場合に、モジュール試験装置に対して送信する試験結果等のデータを生成し、I/O部2に出力する。標準データ受信部6は、I/O部2に接続されており、通信モジュール1がホスト装置に接続された場合に、ホスト装置から送信される標準データをI/O部2を介して受信する。
図2に、I/O部2の構成を表すブロック図を示す。I/O部2は、I/O制御部3からの指示により、送信許可付きドライバ21および受信許可付きレシーバ22を備えている。すなわち、送信許可付きドライバ21および受信許可付きレシーバ22は、I/O制御部3からの指示に基づいてデータやコマンドの送信または受信機能の稼働または停止を行うことができ、これによりI/O部2の機能の変更、すなわち標準データの入力と試験データの出力の切替を行うことができる。
通信モジュール1は、ホスト装置10およびモジュール試験装置30と接続可能である。図3に通信モジュール1とホスト装置10を接続した場合の構成、図4に通信モジュールとモジュール試験装置30と接続した場合の構成を示す。図3において、ホスト装置10は、2つの標準データ送信部(標準データ送信部A11および標準データ送信部B12)を備えており、それぞれが通信モジュール1のI/O部2に接続されている。標準データ送信部A11および標準データ送信部B12は、通信モジュール1に対して標準規格に準拠した形式のデータを送信する。
図4において、モジュール試験装置30は、試験制御部31、コマンド送信部32、試験データ解析部33を備えている。試験制御部31は、モジュール試験の開始および終了を制御し、コマンド送信部32に試験開始および試験終了を通知する。コマンド送信部32は、通信モジュール1に対して、試験開始および試験終了のコマンドを送信する。試験データ解析部33は、通信モジュール1より送信される試験結果のデータの解析を行い、モジュールが検査に合格したか否かを判定する。また、試験データ解析部33は、その判定結果を試験制御部31に通知する。
本発明の実施の形態1に係る通信モジュールの動作について説明する。まず、通信モジュール1がホスト装置10に装着された際の動作について説明する。モジュール1がホスト装置10に装着され、モジュール1の電源が起動すると、I/O制御部3は自動的に標準制御状態(S1)に移行するように設定されている。標準制御状態(S1)に移行したI/O制御部3は、I/O部2に対し、ホスト装置10と接続された入出力ピンの設定を「入力」とするように「Low」を出力する。I/O制御部3から「Low」を受信したI/O部2は、この入出力ピンに接続された受信許可付きレシーバ22のみの動作を許可し、該当ピンを「入力」と設定する。ここでは、電源起動時に、I/O制御部3を自動的に標準制御状態(S1)に移行するように設定しているが、後述するようにI/O制御部3の状態遷移において、電源を切った場合でもその状態(S1もしくはS2)を記憶するような構成では、試験動作終了時に強制的に標準制御状態(S1)に移行させるようにすることにより、標準制御状態(S1)に移行させるようにしてもよい。
ホスト装置10は、標準データ送信部A11から標準データを通信モジュール1に対して送信する。通信モジュール1のI/O部2では、ホスト装置10と接続されたピンが「入力」に設定されているので、この標準データを受信し、標準データ受信部6に転送する。また、標準データ送信部B12も、同様に標準規定どおりのデータを通信モジュール1に対して送信し、I/O部2では入力された標準データを標準データ受信部6に転送する。
ここで、モジュール1のI/O設定コマンド検出部4が検出する設定コマンドは、標準に準拠にしていない設定コマンドのみであることから、標準データ送信部12が送信してきたデータを設定コマンドと見なすことができず、特に動作を行わないため、I/O制御部2もS1状態のままとなる。そのため、ホスト装置が誤動作等を行った場合にも標準に準拠していない設定コマンドを通常送信しないため通信モジュールの誤切替を抑制することができる。標準データ受信部6は、標準データ送信部A11および標準データ送信部B12から標準規格に規定どおりのデータを受信し、標準規格に規定された通りの動作を行う。
なお、標準規格に規定された動作を行っている間は、送信許可付きドライバ21の動作が許可されないので、試験データ送信部5からのデータがモジュール1から送信されることはない。したがって、試験データ送信部5は電源起動後すぐに動作を行っても良いし行わなくても良い。試験データ送信部5を電源起動後すぐに動作を行わないようにすることにより、消費電力を低減することができる。
次に、通信モジュール1がモジュール試験装置30に装着された際の動作について説明する。通信モジュール1がモジュール試験装置30に装着され、モジュール1の電源が起動し、I/O部2の該当ピンが入力となるまでは、ホスト装置10との接続の場合と同様であり、I/O制御部3は、まず標準制御状態(S1)に移行し、受信許可付きレシーバ22のみの動作が許可される。
そして、試験制御部31はモジュール試験を開始し、コマンド送信部32にその旨を通知する。コマンド送信部32は、試験開始の通知を受けて試験開始コマンドを通信モジュール1に対して送信する。ここで、コマンド送信部32より送信される設定コマンドは、通信モジュール1が準拠する標準規格に準拠していない設定コマンドであり、I/O設定コマンド検出部4で検出可能なように予め取り決めを行った設定コマンドである。
コマンド送信部32より試験開始コマンドを受信したI/O設定コマンド検出部4は、この試験開始コマンドを受信すると、I/O制御部3へ切替通知を行う。切替通知を受けたI/O制御部3は、検査時制御状態(S2)に移行し、モジュール試験装置30と接続された入出力ピンを「出力」と設定するようにI/O部2に対し、「High」を出力する。I/O制御部2は、I/O制御部3から「High」を受信すると、該当するピンに接続された送信許可付きレシーバ21のみ動作許可されるため、該当するピンが「出力」と設定される。なお、試験制御部31がモジュール試験を開始するタイミングは、通信モジュールの装着を検出してから開始しても良いし、通信モジュールが装着されたか否かに関わらず、モジュール試験装置20が電源起動するとすぐに開始しても良い。ここで、モジュール試験とは、特定の試験に限定されるものではなく、例えば、モジュールのインターフェースや処理手順が正しく動作するか、仕様書の通りに動作しているか、通信モジュールの入出力ピンや処理手順が正しく動作するか、標準規格や仕様書の通りに動作しているかなどの検証を実施する。また、通信モジュール1にCPUを搭載した場合には、このCPUが正しく動作しているかなどの検証を実施する。
モジュール試験開始の通知を受けた試験データ送信部5は、試験データをI/O部2に送信する。I/O部2では該当ピンが「出力」に設定されているので、この試験データを出力し、モジュール試験装置30に送信することできる。なお、試験データ送信部5は、通信モジュール1の電源起動直後から動作しても良いし、試験開始通知をI/O設定コマンド検出部4から受信し、この通知を受信してから動作を開始しても良い。
モジュール試験装置30では、試験データ解析部33がモジュール1からの試験データを受信し、あらかじめ定められた検査基準との対比を行い、検査に合格したか否かを判定する。また、この判定結果を試験制御部31に通知する。これらの動作により、モジュール試験装置30は、モジュール1から試験データを標準規格には非準拠の機能を有する入出力ピンから受信し、モジュール1を検査することができる。
なお、上述したようにI/O制御部3の状態遷移において、電源起動時は自動的に標準設定S1に状態遷移するように構成したケースでは、モジュール1の検査を実施した後に、モジュール試験装置30がモジュール1のピンを標準規定の入力ピンに戻す必要はない。一旦電源を切ってからホスト装置10に接続し、電源を投入すれば、自動的に標準状態S1に戻るためである。一方、I/O制御部3の状態遷移において、電源を切っても状態S1もしくはS2を記憶するケースでは、モジュール試験装置30はモジュール1のピンを標準規定の入力ピンに戻す必要がある。
設定を「入力」に戻す動作について説明する。試験制御部31は試験終了をコマンド送信部32に通知する。コマンド送信部32は試験終了コマンドを出力する。モジュール1のI/O設定コマンド検出部4は、この試験終了コマンドを検出した場合、I/O制御部3へ切り戻し通知を行う。I/O制御部3は切り戻し通知を受け、標準制御状態(S1)へ移行し、入力ピンとするようにI/O部2に対し、「Low」を出力する。これにより、該当ピンは標準規定の「入力」に設定されたピンとして機能する。また、この設定が記憶されるため、次回電源起動時に、標準制御状態(S1)に移行することとなる。
ここで、標準規格に非準拠の試験開始コマンドや試験終了コマンドは、例えば、UART (Universal Asynchronous Receiver Transmitter) とし、通信速度9600baud、8bitシンボルなどを、モジュール試験装置30とI/O設定コマンド検出部4とで予め取り決めておく。試験開始コマンドとして「StarT#triaL」、試験終了コマンドとして「EnD@triaL」のようにパスワード形式、すなわち、モジュール試験装置30とI/O設定コマンド検出部4のみが検出可能な標準規格に非準拠の任意の文字列としておくことで、バグのあるホスト装置や悪意のあるホスト装置との接続時においても、意図しないピン機能の変更を防止することができる。
図4に示すモジュール試験装置との接続時の構成では、標準データ受信部6は標準データを受信しないので、標準に規定されない動作を行う可能性がある。そのため、実施の形態1では、I/O設定コマンド検出部4と接続するピンには、この通信モジュールで未使用のピンを用いると良い。または、標準に規定されない入力を行っても機能上問題がないことが分かっているピンを用いても良い。例えば、SFPモジュールで、光信号の送受信試験を別途行う場合には、3番ピンのTX Disableや7番ピンのRate Selectをこのピンとして使うことも考えられる。
本実施の形態に示す通信システムでは、以上のような構成をしているため通信モジュールの入出力ピン機能を変更でき、予め取り決められた試験開始を示す設定コマンドのみを検出するコマンド検出部を備えているため、ホスト装置の誤動作による意図しない変更を抑制することができる。また、通信モジュールの電源起動時に、自動的に標準制御状態に移行するようにしているため、ピン機能が誤変更された場合でも適切な動作を行うことが。
実施の形態2.
図6は、この発明の実施の形態2に係る通信モジュールの構成を示すブロック図である。実施の形態1に示す通信モジュールでは、モジュール試験装置接続時に試験動作のみを行う構成について示したが、実施の形態2に示す通信モジュールでは、モジュール試験装置接続時に標準規格に規定された動作と試験動作の両方を可能とするように機能を変更するようにしたものである。
図6において、図1および図2と同じ符号のものは同一または相当の装置を示す。また、図6において、通信モジュール1は、受信許可付きレシーバ22および23の2つの受信許可付レシーバを備えており、また、試験コマンド検出部41を備えている。図7は、モジュール1とモジュール試験装置30とを接続した場合の構成を示すブロック図である。図10において、経路切替部35は試験制御部31からの指示により、通信モジュールとの接続先の切り替えを行う。図7において、図3および図4と同じ符号のものは同一または相当の装置を示す。
実施の形態2に係る通信モジュールの動作を説明する。
まず、モジュール1がホスト装置に装着された際の動作について説明する。モジュール1の電源が起動すると、実施の形態1に示す場合と同様に、I/O制御部3は標準制御状態(S1)に移行し、I/O部2に対して「Low」を出力する。I/O部2は、I/O制御部3から「Low」を受信すると、受信許可付きレシーバ22およびのもう一つの受信許可付きレシーバ23のみを動作許可とし、2つの該当ピンを「入力」に設定する。これより以降は実施の形態1と同様であり説明を省略する。標準データ受信部6は、標準データ送信部A11および標準データ送信部B12から標準規格に規定された標準データを受信し、規定どおりの動作を行う。
次に、モジュール1がモジュール試験装置30に装着された際の動作について説明する。図8は、実施の形態2に示す通信モジュールの試験動作を示すシーケンス図である。モジュール試験装置30の試験制御部31は、モジュール試験前には、経路切替部35に、標準データ送信部A11と標準データ送信部B12を選択するよう、経路切り戻し通知を行う。そして、モジュール1の電源が起動し、I/O部2の該当ピンが「入力」となるまでは、ホスト装置に接続された場合と同様であり、標準データ送信部A11と標準データ送信部B12より標準データを通信モジュール1に対して送信する。
次に、試験制御部31はモジュール試験を開始する。試験制御部31は、モジュール試験を開始すると、経路切替部35に経路切替通知を行うとともに、試験開始をコマンド送信部32に通知する。経路切替部35は、経路切替通知を受信すると、通信モジュール1への接続先として試験データ解析部33とコマンド切替部32を選択する。コマンド送信部32は、試験開始を受けて試験開始コマンドを送信する。モジュール1の試験コマンド検出部41は、この試験開始コマンドを受信し、I/O制御部3に切替通知を行うとともに、試験データ送信部5に試験準備開始を通知する。I/O制御部3は検査時制御状態(S2)に移行し、該当するピンを「出力」設定とするようにI/O部2に対し、「High」を出力する。I/O部2は、I/O制御部3から「High」を受信すると、送信許可付きレシーバ21のみ動作を許可し、該当ピンを「出力」とする。
試験データ送信部5は試験準備開始通知を受けると、試験準備を行い、試験準備が完了すると試験準備完了を試験コマンド検出部41とI/O部2へ送信する。I/O部2の該当ピンが「出力」になっていて、かつ切替制御部35が試験データ解析部33を選択しているので、この試験準備完了は試験データ解析部33で受信される。また、試験コマンド検出部41は、準備完了を受け、I/O制御部3へ切り戻し通知を行う。I/O制御部3はI/O部2へ「Low」を出力し、これにより該当ピンは標準規定の入力ピンとなる。
そして、試験データ解析部33は試験制御部31へモジュール1の試験準備ができたことを通知する。試験制御部31は試験準備通知を受け、経路切替部35へ経路切り戻し通知を行う。経路切替部は経路切り戻し通知を受信すると、標準データ送信部A11と標準データ送信部B12を選択する。これにより、モジュール試験装置30は試験用の標準データを送信する。試験用の標準データを受信したモジュール1は、該当ピンが「入力」になっているので、標準データ受信部6にてこれらのデータを受信し、標準で規定された動作を行い、例えば、受信したデータの個数やデータの誤り個数といった、試験の結果を試験データ送信部5へ通知する。
試験時間になると、試験制御部31は標準データの出力を停止し、標準データの送信を終了する。さらに、経路切替部35へ経路切替通知を行う。経路切替部35は、試験データ解析部33とコマンド送信部32を選択する。次に、試験制御部31はコマンド送信部32へ試験結果出力通知を行う。これを受けたコマンド送信部32は、試験結果出力コマンドを送信する。経路が切り替わっているので、モジュール1の試験コマンド検出部41はこのコマンドを受理し、I/O制御部3へ切替通知を行うとともに、試験データ送信5へ試験結果出力を通知する。I/O制御部は切替通知により検査時制御(S2)へ移行し、I/O部2へ「High」を送信する。さらに試験データ送信部6は試験結果を送信する。I/O部2の該当ピンは「出力」になっていて、さらに経路切替部35は試験データ解析部33を選択しているので、モジュール試験装置30の試験データ解析部35はこの試験結果を受信する。試験データ解析部35は試験の合否を判定し、試験制御部31へ通知する。
この時点で、実施の形態1と同様、試験シーケンスを終了しても良いし、I/O部2にて該当ピンを「入力」に戻すため、同様の制御を行っても良い。
また、非標準の試験開始コマンド、試験終了コマンドは実施の形態1と同様パスワード形式とし、さらに試験結果出力コマンドもパスワード形式とすることで、意図しないピン機能の変更を抑制することができる。
実施の形態2に係る通信モジュールは以上のような構成をしているため、実施の形態1と同様にホスト装置の誤動作等による意図しない変更を抑制することできる。さらに、モジュール試験装置を接続した場合においても、標準規定の動作および試験動作の両方の動作を実施可能とするようにモジュールのピン機能を変更できる。
以上では、モジュールをモジュール試験装置に接続した場合に、モジュールの新しい機能として試験データ送信機能が実施できることを示した。本発明にかかるモジュールは、モジュール試験装置への装着時だけではなく、新たな機能を搭載したモジュールに接続することを前提とするホスト装置への装着時にも、新たな機能で動作することも可能である。このようなホスト装置に対しては、モジュール提供者は、パスワード形式のコマンドを送信できるドライバソフトウェアも合わせて提供することで、新たな機能を動作させることができる。
1 通信モジュール、2 入出力部(I/O部)、3 入出力制御部(I/O制御部)、4 コマンド検出部(I/O設定コマンド検出部)、5 試験データ送信部、6 標準データ受信部、10 ホスト装置、11 標準データ送信部A、12 標準データ送信部B、21 送信許可付きドライバ、22 受信許可付きレシーバ、23 受信許可付きレシーバ、30 モジュール試験装置、31 試験制御部、32 コマンド送信部、33 試験データ解析部、41 試験コマンド検出部

Claims (7)

  1. ホスト装置およびモジュール試験装置と接続可能であり、標準規格で規定される機能を含む少なくとも2つの種類の機能を備える入出力部と、
    前記モジュール試験装置より送信され、前記入出力部に入力される設定コマンドを検出するコマンド検出手段と、
    前記コマンド検出手段により検出された設定コマンドに基づいて、前記入出力部の機能を切り替える制御手段と、
    を備えることを特徴とする通信モジュール。
  2. 前記制御手段は、自通信モジュールの電源起動時に、前記入出力部を前記ホスト装置から標準規格に準拠するデータを受信可能となるように制御する標準制御状態に移行するとともに、前記コマンド検出手段が、前記モジュール試験装置より送信された設定コマンドが予め取り決められた試験開始を示す設定コマンドであることを検出した場合に、前記入出力部を試験データを前記モジュール試験装置に送信可能なように切替を行う検査時制御状態に移行すること、
    を特徴とする請求項1記載の通信モジュール。
  3. 前記制御手段は、前記コマンド検出手段により検出された設定コマンドが前記標準規格に非準拠のコマンドである場合には前記入出力部の機能の切替を行い、前記標準規格に準拠したコマンドである場合には前記入出力部の機能の切替を行わないこと、
    を特徴とする請求項1または2記載の通信モジュール。
  4. 前記モジュール試験装置より送信される設定コマンドがパスワード形式の設定コマンドであることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の通信モジュール。
  5. ホスト装置に接続可能である通信モジュールと前記通信モジュールに接続可能なモジュール試験装置を有するモジュール試験システムであって、
    前記通信モジュールは、
    標準規格で規定される機能を含む少なくとも2つの種類の機能を備える入出力部と、
    前記入出力部に入力される前記モジュール試験装置より送付される設定コマンドを検出するコマンド検出手段と、
    前記コマンド検出手段により検出された設定コマンドに基づいて、前記入出力部の機能を切り替える制御手段と、
    前記入出力部を介して試験データを前記モジュール試験装置に送付する試験データ送信手段と、
    を備え、
    前記モジュール試験装置は、
    前記通信モジュールに試験開始を示す設定コマンドを送信するコマンド送信手段と、
    前記通信モジュールより受信した試験データを解析し、予め定められた検査基準を満たすか否かを判定する試験データ解析手段と、
    を備えることを特徴とするモジュール試験システム。
  6. 前記通信モジュールの前記制御手段は、自通信モジュールの電源起動時に、前記入出力部を前記ホスト装置から標準規格に準拠するデータを受信可能となるように制御する標準制御状態に移行し、
    前記コマンド検出手段が、前記モジュール試験装置より送信された設定コマンドが予め取り決められた試験開始を示す設定コマンドであることを検出した場合に、前記入出力部を試験データを前記モジュール試験装置に送信可能なように切替を行う検査時制御状態に移行すること、
    を特徴とする請求項5記載のモジュール試験システム。
  7. 前記モジュール試験装置の前記コマンド送信手段は、試験終了を示す設定コマンドを前記通信モジュールに送信し、
    前記通信モジュールの制御手段は、前記コマンド送信手段により送信された試験終了を示す設定コマンドを受信した場合、前記標準制御状態に切り戻すこと、
    を特徴とする請求項6記載のモジュール試験システム。
JP2014251826A 2014-12-12 2014-12-12 通信モジュールおよびモジュール試験システム Pending JP2016115045A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014251826A JP2016115045A (ja) 2014-12-12 2014-12-12 通信モジュールおよびモジュール試験システム

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014251826A JP2016115045A (ja) 2014-12-12 2014-12-12 通信モジュールおよびモジュール試験システム

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2016115045A true JP2016115045A (ja) 2016-06-23

Family

ID=56141784

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014251826A Pending JP2016115045A (ja) 2014-12-12 2014-12-12 通信モジュールおよびモジュール試験システム

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2016115045A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111929562A (zh) * 2020-07-03 2020-11-13 上海美仁半导体有限公司 芯片测试系统、测试方法、芯片的测试响应方法和芯片

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0836892A (ja) * 1994-07-22 1996-02-06 Mitsubishi Denki Semiconductor Software Kk 不揮発性半導体記憶装置
JPH11250700A (ja) * 1998-02-27 1999-09-17 Toshiba Corp メモリ混載半導体集積回路
JP2005020349A (ja) * 2003-06-26 2005-01-20 Renesas Technology Corp 半導体集積回路および電子システム
WO2009153996A1 (ja) * 2008-06-20 2009-12-23 株式会社アドバンテスト 試験装置および試験方法
WO2010103970A1 (ja) * 2009-03-09 2010-09-16 古河電気工業株式会社 光通信モジュール、及びこの光通信モジュールが使用される光通信システム

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0836892A (ja) * 1994-07-22 1996-02-06 Mitsubishi Denki Semiconductor Software Kk 不揮発性半導体記憶装置
JPH11250700A (ja) * 1998-02-27 1999-09-17 Toshiba Corp メモリ混載半導体集積回路
JP2005020349A (ja) * 2003-06-26 2005-01-20 Renesas Technology Corp 半導体集積回路および電子システム
WO2009153996A1 (ja) * 2008-06-20 2009-12-23 株式会社アドバンテスト 試験装置および試験方法
WO2010103970A1 (ja) * 2009-03-09 2010-09-16 古河電気工業株式会社 光通信モジュール、及びこの光通信モジュールが使用される光通信システム

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111929562A (zh) * 2020-07-03 2020-11-13 上海美仁半导体有限公司 芯片测试系统、测试方法、芯片的测试响应方法和芯片

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8553578B2 (en) Automated protocol selection for host adapter card
US9001950B2 (en) Information processing apparatus, serial communication system, method of initialization of communication therefor, and serial communication apparatus
US9924058B2 (en) Information processing apparatus that controls power supply to different destinations, method of controlling the same, and storage
US10361776B2 (en) Sparing configurations and protocols for parallel fiber optics
US7975075B2 (en) Data communication system and method
CN103986524B (zh) 一种单纤双向光模块、通信设备及连接错误检测方法
WO2009144843A1 (ja) 通信システム、試験装置、通信装置、通信方法および試験方法
US7995598B2 (en) Small form factor pluggable (SFP) status indicator
US6438285B1 (en) Facility for intializing a fiber optic data link in one mode of a plurality of modes
US20140257597A1 (en) Interface system for multiple protocols
JP2016115045A (ja) 通信モジュールおよびモジュール試験システム
US9935731B2 (en) Communication apparatus, lens apparatus and image pickup apparatus including the same
TWI449926B (zh) 傳輸介面及判斷傳輸訊號之方法
CN104102561A (zh) 通用序列总线测试装置
US20190278724A1 (en) Keyboard-video-mouse switch, signal processing method, and non-transitory computer-readable storage medium
US20140201420A1 (en) Transmission interface system with detection function and method
CN103684404A (zh) 差错检测时的高速数据传输方法和系统
US9246848B2 (en) Relay apparatus, storage system, and method of controlling relay apparatus
CN109002404B (zh) Pcie设备及其监控方法
US10574514B2 (en) Duplex control device and duplex system
US20190123822A1 (en) Wireless transmission of server status information
KR101529613B1 (ko) 차량진단장치 시스템의 통신유지(test-present) 수행 방법
US20050169352A1 (en) Control circuit
KR20140055519A (ko) Spi 수신 버퍼의 스턱비트 에러발생 판별방법
KR20050072615A (ko) Usb포트 검사장치

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170214

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20171025

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20171107

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20171115

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20180508