CN220254525U - 以太网测试装置及测试系统 - Google Patents

Abstract

本公开提供了一种以太网测试装置及测试系统，涉及测试技术领域，尤其涉及以太网测试技术领域。在一些实施例中，以太网测试装置包括：以太网连接电路、噪声注入电路、开短路控制电路及控制器。其中，以太网连接电路用于与被测以太网设备建立以太网连接。噪声注入电路与以太网连接电路连接，用于调整以太网连接的阻抗。开短路控制电路与以太网连接电路连接，用于调整以太网连接的连接状态。控制器与以太网连接电路连接，用于获取以太网连接电路的连接信号，并基于连接信号检测被测以太网设备的互操作性。

Description

以太网测试装置及测试系统

技术领域

本公开涉及测试技术领域，具体涉及以太网测试技术领域，尤其涉及以太网测试装置及测试系统。

背景技术

为了满足大量数据的准确传输，以太网传输技术受到了广泛关注。因此，对以太网的测试尤为重要。以太网物理层的稳定性和可靠性是上层应用和功能的实现的基础。因此，以太网物理层的测试尤为重要。

实用新型内容

本公开提供了一种用于以太网测试装置及测试系统，能够检测被测以太网设备的互操作性。

根据本公开的一方面，提供了一种以太网测试装置，包括：以太网连接电路、噪声注入电路、开短路控制电路及控制器。其中，以太网连接电路用于与被测以太网设备建立以太网连接。噪声注入电路与以太网连接电路连接，用于调整以太网连接的阻抗。开短路控制电路与以太网连接电路连接，用于调整以太网连接的连接状态。控制器与以太网连接电路连接，用于获取以太网连接电路的连接信号，并基于连接信号检测被测以太网设备的互操作性。

根据本公开的另一方面，提供了一种测试系统，包括上文提及的测试装置和被测以太网设备，测试装置与被测以太网设备建立以太网连接。

应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本公开的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本公开的范围。本公开的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

附图说明

附图用于更好地理解本方案，不构成对本公开的限定。其中：

图1是根据本公开的第一实施例的以太网测试装置的结构示意图；

图2是根据本公开第二实施例的以太网测试装置的结构示意图；

图3是根据本公开第三实施例的以太网测试装置的结构示意图；

图4是根据本公开第四实施例的以太网测试装置的结构示意图；

图5是根据本公开第五实施例的以太网测试装置的结构示意图；

图6是根据本公开第六实施例的测试系统的结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图对本公开的示范性实施例做出说明，其中包括本公开实施例的各种细节以助于理解，应当将它们认为仅仅是示范性的。因此，本领域普通技术人员应当认识到，可以对这里描述的实施例做出各种改变和修改，而不会背离本公开的范围和精神。同样，为了清楚和简明，以下的描述中省略了对公知功能和结构的描述。

在一些技术中，车载以太网互操作性测试可借助示波器进行连接时间测试，借助信号发生器模拟注入噪声。然而，该测试方式的系统需要手动搭建，系统搭建复杂且测试效率低下。

图1是根据本公开的第一实施例的以太网测试装置的结构示意图。在本公开的第一实施例中，以太网测试装置100包括：以太网连接电路110、噪声注入电路120、开短路控制电路130及控制器140。其中，以太网连接电路110用于与被测以太网设备建立以太网连接。噪声注入电路120与以太网连接电路110连接，用于调整以太网连接的阻抗。开短路控制电路130与以太网连接电路110连接，用于调整以太网连接的连接状态。控制器140与以太网连接电路110连接，用于获取以太网连接电路110的连接信号，并基于连接信号检测被测以太网设备的互操作性。

应当理解的是，图1以以太网连接电路110、噪声注入电路120和开短路控制电路130依次连接为例进行示例性说明，在未背离本公开教导情况下，以太网测试装置100也可被设置以太网连接电路110、开短路控制电路130和噪声注入电路120依次连接，本公开对此不做限制。

在本公开的一些实施例中，被测以太网设备可例如为车载以太网设备，以太网测试装置110用于测试车载以太网的互操作性。其中，以太网的互操作性测试包括但不限于连接(Linkup)时间测试项、信号质量指示测试项和远端开路测试项等。

在本公开的一些实施例中，控制器140可通过多种方式协助进行以太网互操作性的测试。例如，控制器140获取连接信号并基于连接信号检测互操作性的方式包括但不限于方式一和方式二。

方式一

在本公开的一些实施例中，控制器140可外接显示屏。控制器140获取以太网连接电路110的连接信号后，可将连接信号显示于显示屏，以便测试人员根据显示屏显示的连接信号对被测以太网设备的互操作性进行评估。

方式二

在本公开的一些实施例中，控制器140可获取以太网连接电路110的连接信号，基于连接信号确定互操作性的各项评估指标以检测被测以太网设备的互操作性。控制器140可通过外接的显示屏显示互操作性的各项评估指标，也可通过指定的通信方式将互操作性的各项评估指标反馈至测试端。其中，测试端可以是测试人员接收被测以太网设备的互操作性的检测结果的设备，例如，移动终端等，此处不做限制。

作为一种选择，控制器140可与噪声注入电路120连接，用于控制噪声注入电路120的输出阻抗。该示例中，通过控制器140控制噪声注入电路120，无需测试人员手动控制，有利于实现自动化测试。

作为一种选择，控制器140与开短路控制电路130连接，还用于控制开短路控制电路130改变以太网连接的连接状态，其中，连接状态包括开路连接、短路连接。该示例中，通过控制器140控制开短路控制电路130，无需测试人员手动控制，有利于实现自动化测试。

根据本公开的技术，以太网连接电路110与被测以太网设备建立以太网连接，设置噪声注入电路120以调整以太网的阻抗，设置开短路控制电路130以调整以太网连接状态，并将控制器140与以太网连接电路110连接以获取以太网连接电路110的连接信号，使得能够根据该连接信号检测被测以太网设备的互操作性。

图2是根据本公开的第二实施例的以太网测试装置的结构示意图。在本公开的第二实施例中，以太网测试装置200包括：以太网连接电路210、噪声注入电路220、开短路控制电路230及控制器240。其中，图2中的噪声注入电路220、开短路控制电路230、控制器240的结构与功能与图1中的噪声注入电路120、开短路控制电路130及控制器140相同或相似，此处不再赘述。下面主要对以太网连接电路210的结构进行示例性说明。

如图2所示，以太网连接电路210包括以太网物理层(PHY)芯片211和供电组件212。控制器240分别与以太网物理层芯片211和供电组件212连接。

在一些实施例中，供电组件212和以太网物理层芯片211连接，用于为以太网物理层芯片211提供可控电源。

在一些实施例中，以太网物理层芯片211可配备有两个端口，分别作为以太网连接电路210的、用于与被测以太网设备连接的第一传输端PHY_P和第二传输端PHY_N。以太网连接电路210的第一传输端PHY_P可通过P差分线与被测以太网设备的第一端口连接，以太网连接电路210的第二传输端PHY_N可通过N差分线与被测以太网设备的第二端口连接，以建立以太网连接。以太网连接电路210与被测以太网设备连接后，控制器240可通过监控以太网物理层芯片211的连接信号，实现对被测以太网设备的以太网连接的监控，进而进行互操作性测试。

在一些实施例中，控制器240可与供电组件212连接，用于控制供电组件212为以太网物理层芯片211上电或下电。示例地，控制器240可设置有第一能量控制端口Power_EN 1，第一能量控制端口与供电组件212的控制端连接。控制器240通过第一能量控制端口使能供电组件212，对以太网物理层芯片211进行上下电操作。

在一些实施例中，控制器240可与以太网物理层芯片211连接，以获取以太网物理层芯片211的连接信号。示例地，控制器240可通过管理数据输入输出(Management DataInput/Output，MDIO)接口与以太网物理层芯片211连接，根据MDIO接口接收到的连接信号监控以太网物理层芯片211的连接(linkup)状态，并可根据连接信号计算以太网物理层芯片211的上下电连接时间。

在一些实施例中，控制器240可与被测以太网设备连接，以控制被测以太网设备上电或下电。示例地，控制器240可设置有第二能量控制端口(例如，图6所示的Power_EN 2)，第二能量控制端口与被测以太网设备的控制端连接。控制器240可通过第二能量控制端口使能被测以太网设备上下电，通过MDIO接口接收到的连接信号监控以太网物理层芯片211的linkup状态，并根据以太网物理层芯片211的连接信号检测被测以太网设备的连接时间。例如，控制器240控制供电组件212为以太网物理层芯片211供电，发送信号控制被测以太网设备上电，根据连接信号监控以太网物理层芯片211的连接状态。控制器240在确定连接信号指示以太网物理层芯片211的连接状态为连接成功后，根据连接成功的时间和发送信号的时间确定被测以太网设备的linkup时间。

根据本公开的实施例，控制器240可对以太网物理层芯片211和被测以太网设备的上下电进行控制，以便基于以太网物理层芯片211的连接信号实现对以太网互操作性中的连接时间测试。

图3是根据本公开的第三实施例的以太网测试装置的结构示意图。在本公开的第三实施例中，以太网测试装置300包括：以太网连接电路310、噪声注入电路320、开短路控制电路330及控制器340。其中，图3中的以太网连接电路310、开短路控制电路330及控制器340与的结构与功能与图1中的以太网连接电路110、开短路控制电路130及控制器140相同或相似，此处不再赘述。下面主要对噪声注入电路320的结构进行示例性说明。

如图3所示，噪声注入电路320可包括电阻调节组件321和第一开关组件322。第一开关组件322连接于电阻调节组件321和以太网连接电路310之间，用于控制电阻调节组件321是否接入以太网连接。示例地，第一开关组件322处于连通状态，电阻调节电阻321接入以太网连接电路310和被测以太网设备之间的以太网连接，以模拟噪声注入。控制器340根据以太网连接电路310的连接信号监控以太网连接电路310的信号质量。通过比较控制器340监控到的信号质量和被测以太网设备的信号质量指示，可确定被测以太网设备的信号质量指示是否正确，实现对被测以太网设备的信号质量指示测试。

值得一提的是，该实施例中，通过第一开关组件322控制模拟噪声输入，有利于减少噪声注入电路320对互操作性的其他指标测试的影响，减少干扰。此外，通过电阻调节组件321模拟噪声输入，操作简单，便于测试人员上手。

在一些实施例中，控制器340与电阻调节组件321的控制端R_EN连接，用于调节电阻调节组件321的输出阻抗。示例地，控制器340可通过集成电路总线(Inter-IntegratedCircuit，I2C)连接方式与电阻调节组件321连接，以通过I2C控制通道使能电阻调节组件321输出单调变化电阻，模拟噪声注入，无需手动调整，操作更为简单。

在一些实施例中，电阻调节组件321可选用数字电位器。数字电位器作为数控可编程电阻器，可提供单调变化的电阻。单调变化的电阻并入以太网连接电路310和被测以太网设备之间的以太网连接，即并入到以太网连接电路310的P/N差分线对间，可模拟单调变化噪声注入。

应当理解的是，在未背离本公开教导的情况下，电阻调节组件321还可选用其他电阻可变的元器件，例如，滑动变阻器，本公开对电阻调节组件321所选用的元器件不做限制。

在一些实施例中，参见图3，以太网连接电路310包括用于与被测以太网设备连接的第一传输端(PHY_P)和第二传输端(PHY_N)。第一开关组件322包括第一开关T1和第二开关T2。电阻调节组件321的第一端通过第一开关T1与以太网连接电路310的第一传输端连接，电阻调节组件321的第二端通过第二开关T2与以太网连接电路310的第二传输端连接。该实施例中，在电阻调节组件321与以太网连接电路310的第一传输端的连接线路和电阻调节组件321与以太网连接电路310的第二传输端的连接线路上分别设置开关，可减少其他互操作性的指标测试过程中，电阻调节组件321对以太网连接信号的影响，减少对其他指标的准确性的影响。

应当理解的是，在未背离本公开教导的情况下，第一开关组件322还可采取其他电路结构，例如，第一开关组件322包括第一开关T1而不包括第二开关T2，或者，第一开关组件322包括第二开关T2而不包括第一开关T1，本公开对第一开关组件322的电路结构不做限制。

在一些实施例中，第一开关T1和第二开关T2为晶体管，控制器340与第一开关T1的控制端以及第二开关T2的控制端连接。例如，控制器340通过IO控制通道分别与第一开关T1的控制端以及第二开关T2的控制端连接。该实例中，使用晶体管作为开关，使得控制器340可通过电信号改变第一开关T1和第二开关T2的状态。

应当理解的是，在未背离本公开教导的情况下，第一开关T1和第二开关T2也可选用机械开关，机械开关的控制端可设置于以太网测试装置300的外部，以便测试人员手动控制。本公开对第一开关T1和第二开关T2所选用的器件类型不做限制。

根据本公开的第三实施例，噪声注入电路320中设置电阻调节组件321以模拟噪声注入，使得测试操作更为简单，便于测试人员上手。

图4是根据本公开的第四实施例的以太网测试装置的结构示意图。在本公开的第四实施例中，以太网测试装置410包括：以太网连接电路411、噪声注入电路412、开短路控制电路413及控制器414。图4中的以太网连接电路411、噪声注入电路412及控制器414与的结构与功能与图1中的以太网连接电路110、噪声注入电路120及控制器140相同或相似，此处不再赘述。下面主要对开短路控制电路413的结构进行示例性说明。

如图4所示，开短路控制电路413包括第三开关T3、第四开关T4和第五开关T5。通过控制第三开关T3、第四开关T4和第五开关T5的状态可改变以太网连接的连接状态。其中，连接状态包括开路连接和短路连接。

示例地，参见图4，以太网连接电路411包括用于与被测以太网设备420连接的第一传输端PHY_P和第二传输端PHY_N。第三开关T3的第一端与第一传输端PHY_P连接，第三开关T3的第二端用于与被测以太网设备420连接。第四开关T4的第一端与第二传输端PHY_N连接，第四开关T4的第二端用于与被测以太网设备420连接。第五开关T5的第一端和第二端分别与第一传输端和第二传输端连接。

在一些实施例中，以太网测试装置410进行被测以太网设备420的开短路指示测试。开短路指示测试可包括P差分线开路测试、N差分线开路测试和P/N差分线短路测试。

P差分线开路测试过程中，断开第三开关T3和第五开关T5，闭合第四开关T4，以使以太网连接的P差分线开路。控制器414通过监控以太网连接电路411的连接信号确定P差分线是否已经开路，若确定连接信号指示P差分线开路，可查看被测以太网设备420的开短路指示是否指示P差分线开路，以确定被测以太网设备420的P差分线开路测试的结果。

N差分线开路测试过程中，断开第四开关T4和第五开关T5，闭合第三开关T3，以使以太网连接的N差分线开路。控制器414通过监控以太网连接电路411的连接信号确定N差分线是否已经开路，若确定连接信号指示N差分线开路，查看被测以太网设备420的开短路指示是否指示N差分线开路，以确定被测以太网设备420的N差分线开路测试的结果。

P/N差分线短路测试过程中，闭合第五开关T5，以使以太网连接的P/N差分线短路。控制器414通过监控以太网连接电路411的连接信号确定P/N差分线是否短路，若确定连接信号指示P/N差分线短路，查看被测以太网设备420的开短路指示是否指示P/N差分线短路，以确定被测以太网设备420的P/N差分线短路测试的结果。

在一些实施例中，第三开关T3、第四开关T4和第五开关T5为均为晶体管，第三开关T3的控制端、第四开关T4的控制端和第五开关T5的控制端分别与控制器414通信连接。例如，控制器414可通过IO控制通道分别与第三开关T3的控制端、第四开关T4的控制端和第五开关T5的控制端连接，以便控制第三开关T3、第四开关T4和第五开关T5的通断，无需测试人员手动操作。

应当理解的是，在未背离本公开教导的情况下，第三开关T3、第四开关T4和第五开关T5也可选用机械开关，机械开关的控制端可设置于以太网测试装置410的外部，以便测试人员手动控制。本公开对第三开关T3、第四开关T4和第五开关T5所选用的器件类型不做限制。

根据本公开的第四实施例，以太网测试装置410通过开短路控制电路413可改变以太网连接的连接状态，进而对被测以太网设备进行开短路指示测试，无需测试人员进行插拔线等操作，便于测试人员上手。

图5是根据本公开的第五实施例的以太网测试装置的结构示意图。如图5所示，在本公开的第五实施例中，以太网测试装置510包括：以太网连接电路511、噪声注入电路512、开短路控制电路513及控制器514。

以太网连接电路511包括以太网物理层(PHY)芯片5111和供电组件5112。控制器514分别与以太网物理层芯片5111和供电组件5112连接。以太网物理层芯片5111可配备有两个端口，分别作为以太网连接电路511的、用于与被测以太网设备520连接的第一传输端(PHY_P)和第二传输端(PHY_N)。以太网连接电路511的第一传输端可通过P差分线与被测以太网设备的第一端口连接，以太网连接电路511的第二传输端可通过N差分线与被测以太网设备的第二端口连接，以建立以太网连接。

噪声注入电路512可包括电阻调节组件5121和第一开关组件5122。第一开关组件5122包括第一开关T1和第二开关T2。电阻调节组件5121的第一端通过第一开关T1与以太网连接电路511的第一传输端(PHY_P)连接，即连接至P差分线。电阻调节组件5121的第二端通过第二开关T2与以太网连接电路511的第二传输端(PHY_N)连接，即连接至N差分线。

开短路控制电路513包括第三开关T3、第四开关T4和第五开关T5。第三开关T3的第一端与第一传输端(PHY_P)连接，第三开关T3的第二端用于与被测以太网设备520连接。第四开关T4的第一端与第二传输端(PHY_N)连接，第四开关T4的第二端用于与被测以太网设备520连接。第五开关T5的第一端和第二端分别与第一传输端(PHY_P)和第二传输端(PHY_N)连接。

控制器514通过控制以太网连接电路511、噪声注入电路512、开短路控制电路513，监控以太网连接电路511的连接信号，能够进行以太网连接时间测试、模拟注入噪声进行信号质量指示测试以及模拟远端开短路进行开短路诊断指示测试。其中，控制器514对以太网连接电路511、噪声注入电路512和开短路控制电路513的控制可参考本公开的第一实施例、第二实施例、第三实施例和第四实施例的示例性说明，此处不再赘述。

应当理解的是，在未背离本公开教导的情况下，控制器514对以太网连接电路511、噪声注入电路512和开短路控制电路513的控制信号可由测试人员触发，也可通过运行指定脚本触发，本公开对此不做限制。

图6是根据本公开第六实施例的测试系统的结构示意图。在本公开的第六实施例中，测试系统600可包括以太网测试装置610和被测以太网设备620。其中，以太网测试装置610可包括以太网连接电路611、噪声注入电路612、开短路控制电路613及控制器614，各个电路的结构可参考第一实施例至第五实施例的示例性说明。被测以太网设备620可例如为车载以太网设备，也可为其他场景使用的以太网设备，此处不做限制。以太网测试装置610与被测以太网设备620建立以太网连接，以便测试系统600对被测以太网设备620进行互操作性测试。

在一些实施例中，测试装置610设置有第一外接端口(P1)和第二外接端口(N1)，第一外接端口(P1)与被测以太网设备的第一端口(P2)连接，第二外接端口(N1)与被测以太网设备620的第二端口(N2)连接。

在一些实施例中，控制器614与噪声注入电路612连接，还用于控制噪声注入电路612的输出阻抗；控制器614与开短路控制电路613连接，还用于控制开短路控制电路613改变以太网连接的连接状态，其中，连接状态包括开路连接、短路连接。

在一些实施例中，以太网连接电路611包括以太网物理层芯片6111和供电组件6112。控制器614分别与以太网物理层芯片6111和供电组件6112连接，还用于控制供电组件6112为以太网物理层芯片6111上电或下电，控制被测以太网设备620上电或下电，以根据以太网物理层芯片6111的连接信号检测被测以太网设备620的连接时间。

在一些实施例中，噪声注入电路612可包括电阻调节组件6121和第一开关组件6122。第一开关组件6122连接于电阻调节组件6121和以太网连接电路611之间，用于控制电阻调节组件6121是否接入以太网连接。

可选择的，以太网连接电路611包括用于与被测以太网设备620连接的第一传输端和第二传输端，第一开关组件6122包括第一开关T1和第二开关T2。其中，电阻调节组件6121的第一端通过第一开关T1与第一传输端连接，电阻调节组件6121的第二端通过第二开关T2与第二传输端连接。

可选择的，第一开关T1和第二开关T2为晶体管，控制器614与第一开关T1的控制端以及第二开关T2的控制端连接。

可选择的，控制器614与电阻调节组件6121的控制端连接，还用于调节电阻调节组件6121的输出阻抗。

可选择的，电阻调节组件6121包括数字电位器或滑动变阻器。

在一些实施例中，以太网连接电路611包括用于与被测以太网设备620连接的第一传输端(PHY_P)和第二传输端(PHY_N)，开短路控制电路613包括第三开关T3、第四开关T4和第五开关T5。第三开关T3的第一端与第一传输端连接，第三开关T3的第二端用于与被测以太网设备620连接。第四开关T4的第一端与第二传输端连接，第四开关T4的第二端用于与被测以太网设备620连接。第五开关T5的第一端和第二端分别与第一传输端和第二传输端连接。

可选择的，第三开关T3、第四开关T4和第五开关T5为均为晶体管，第三开关T3的控制端、第四开关T4的控制端和第五开关T5的控制端分别与控制器614通信连接。

根据本公开的实施例，以太网连接电路611与被测以太网设备620建立以太网连接，设置噪声注入电路612以调整以太网的阻抗，设置开短路控制电路613以调整以太网连接状态，并将控制器614与以太网连接电路611连接以获取以太网连接电路611的连接信号，使得能够根据该连接信号检测被测以太网设备的互操作性。

上述具体实施方式，并不构成对本公开保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是，根据设计要求和其他因素，可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本公开的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本公开保护范围之内。

Claims (14)

1.一种以太网测试装置，其特征在于，包括：

以太网连接电路，用于与被测以太网设备建立以太网连接；

噪声注入电路，与所述以太网连接电路连接，用于调整所述以太网连接的阻抗；

开短路控制电路，与所述以太网连接电路连接，用于调整所述以太网连接的连接状态；以及

控制器，与所述以太网连接电路连接，用于获取所述以太网连接电路的连接信号，并基于所述连接信号检测所述被测以太网设备的互操作性。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述控制器与所述噪声注入电路连接，还用于控制所述噪声注入电路的输出阻抗；

所述控制器与所述开短路控制电路连接，还用于控制所述开短路控制电路改变所述以太网连接的连接状态，其中，所述连接状态包括开路连接、短路连接。

3.根据权利要求1或2所述的测试装置，其特征在于，所述噪声注入电路包括：电阻调节组件和第一开关组件；

所述第一开关组件连接于所述电阻调节组件和所述以太网连接电路之间，用于控制所述电阻调节组件是否接入所述以太网连接。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述以太网连接电路包括用于与所述被测以太网设备连接的第一传输端和第二传输端，所述第一开关组件包括第一开关和第二开关；

其中，所述电阻调节组件的第一端通过所述第一开关与所述第一传输端连接，所述电阻调节组件的第二端通过所述第二开关与所述第二传输端连接。

5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述第一开关和所述第二开关为晶体管，所述控制器与所述第一开关的控制端以及所述第二开关的控制端连接。

6.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述控制器与所述电阻调节组件的控制端连接，还用于调节所述电阻调节组件的输出阻抗。

7.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述电阻调节组件包括数字电位器或滑动变阻器。

8.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述以太网连接电路包括用于与所述被测以太网设备连接的第一传输端和第二传输端，所述开短路控制电路包括第三开关、第四开关和第五开关；

所述第三开关的第一端与所述第一传输端连接，所述第三开关的第二端用于与所述被测以太网设备连接；

所述第四开关的第一端与所述第二传输端连接，所述第四开关的第二端用于与所述被测以太网设备连接；

所述第五开关的第一端和第二端分别与所述第一传输端和所述第二传输端连接。

9.根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于，所述第三开关、所述第四开关和所述第五开关为均为晶体管，所述第三开关的控制端、所述第四开关的控制端和所述第五开关的控制端分别与所述控制器通信连接。

10.根据权利要求8所述的测试装置，其特征在于，所述噪声注入电路包括电阻调节组件、第一开关和第二开关，所述电阻调节组件通过所述第一开关与所述第三开关的第一端或所述第三开关的第二端连接，所述电阻调节组件通过所述第二开关与所述第四开关的第一端或所述第四开关的第二端连接。

11.根据权利要求1至10中任一项所述的测试装置，其特征在于，所述以太网连接电路包括以太网物理层芯片和供电组件；

所述控制器分别与所述以太网物理层芯片和所述供电组件连接，还用于控制所述供电组件为所述以太网物理层芯片上电或下电，控制所述被测以太网设备上电或下电，并根据所述以太网物理层芯片的连接信号检测所述被测以太网设备的连接时间。

12.根据权利要求1至11中任一项所述的测试装置，其特征在于，所述被测以太网设备为车载以太网设备。

13.一种测试系统，其特征在于，包括权利要求1至12中任一项所述的测试装置和被测以太网设备，所述测试装置与所述被测以太网设备建立以太网连接。

14.根据权利要求13所述的测试系统，其特征在于，所述测试装置设置有第一外接端口和第二外接端口，第一外接端口与所述被测以太网设备的第一端口连接，所述第二外接端口与所述被测以太网设备的第二端口连接。