CN112698182A - 治具上电时序的监测方法及装置、设备、存储介质和系统 - Google Patents

Abstract

本申请实施例公开了一种治具上电时序的监测方法及装置、设备、存储介质和系统，其中，所述方法包括：获取信号采集电路采集的所述治具提供的N个电信号中每一电信号的波形参数，N为大于等于1的自然数；将所述每一电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数进行比较；如果所述N个电信号中至少一个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数不同，确定所述治具的上电时序异常。

Description

治具上电时序的监测方法及装置、设备、存储介质和系统

技术领域

本申请实施例涉及电子技术，涉及但不限于一种治具上电时序的监测方法及装置、设备、存储介质和系统。

背景技术

目前，显示屏是许多电子设备的重要元器件，尤其是一些智能设备，其显示屏承担着人机交互的接口功能。例如，对于采用了触摸屏的智能手机等智能终端，用户是通过触摸其中的触摸显示屏来实现与智能手机的交互。

通常情况下，制造商在批量生产显示屏后，通常会对显示屏进行各种测试，测试合格后才会出厂。显示屏测试中必不可少的一个测试环节为测试治具点亮显示屏的测试，如使用测试治具中的点亮功能对显示屏进行点亮操作。即通过一个点亮治具对显示屏输入驱动信号，将显示屏点亮。

但是，所述驱动信号是测试治具模拟PMIC(Power Management IntegratedCircuit，电源集成电路)和DDIC(Display Driver Integrated Circuit，显示驱动集成电路)产生的信号，现有技术无法判断所述驱动信号是否正常。如果所述驱动信号的时序错误极容易造成DDIC损伤等问题。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例提供一种治具上电时序的监测方法及装置、设备、存储介质和系统。

本申请实施例的技术方案是这样实现的：

第一方面，本申请实施例提供一种治具上电时序的监测方法，所述方法包括：

获取信号采集电路采集的所述治具提供的N个电信号中每一电信号的波形参数，N为大于等于1的自然数；

将所述每一电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数进行比较；

如果所述N个电信号中至少一个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数不同，确定所述治具的上电时序异常。

第二方面，本申请实施例提供一种治具上电时序的监测装置，所述装置包括：

获取单元，用于获取信号采集电路采集的所述治具提供的N个电信号中每一电信号的波形参数，N为大于等于1的自然数；

比较单元，用于将所述每一电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数进行比较；

第一确定单元，用于如果所述N个电信号中至少一个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数不同，确定所述治具的上电时序异常。

第三方面，本申请实施例提供一种治具上电时序的监测设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述方法中的步骤。

第四方面，本申请实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述方法中的步骤。

第五方面，本申请实施例提供一种治具上电时序的监测系统，所述系统包括：

信号采集电路，用于采集所述治具提供的N个电信号中每一电信号的波形参数，N为大于等于1的自然数；

处理器，用于获取所述信号采集电路采集的所述每一电信号的波形参数，并将所述每一电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数进行比较，如果所述N个电信号中至少一个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数不同，确定所述治具的上电时序异常。

本申请实施例提供一种治具上电时序的监测方法及装置、设备、存储介质和系统，通过获取信号采集电路采集的所述治具提供的N个电信号中每一电信号的波形参数，N为大于等于1的自然数；将所述每一电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数进行比较；如果所述N个电信号中至少一个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数不同，确定所述治具的上电时序异常，如此，能够监测治具的各路电压电流，判断所述电压电流对显示屏模组上电是否存在风险，从而减少显示屏由于IC(Integrated Circuit Chip，集成芯片)击伤造成的过多损耗。

附图说明

图1A为本申请实施例治具上电时序的监测方法的实现流程示意图一；

图1B为本申请实施例治具上电时序的监测方法的实现流程示意图二；

图2为本申请实施例治具上电时序的监测方法的实现流程示意图三；

图3为本申请实施例治具上电时序的监测装置的组成结构示意图；

图4A为本申请实施例治具上电时序的监测系统的组成结构示意图一；

图4B为本申请实施例治具上电时序的监测系统的组成结构示意图二；

图5为相关技术全面屏的示意图；

图6A为本申请实施例PMIC的供电时序示意图；

图6B为本申请实施例AVDD的上电时序及电压调控时序示意图；

图6C为本申请实施例ELVDD和ELVSS的上电及电压调控时序示意图；

图7A为本申请实施例特定类型DDIC点屏的时序示意图；

图7B为本申请实施例特定类型DDIC熄屏的时序示意图；

图8A为本申请实施例显示屏上电原理示意图；

图8B为本申请实施例治具点屏异常的流程示意图；

图9为本申请实施例监测设备的一种硬件实体示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本申请的技术方案进一步详细阐述。显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

在以下的描述中，涉及到“一些实施例”，其描述了所有可能实施例的子集，但是可以理解，“一些实施例”可以是所有可能实施例的相同子集或不同子集，并且可以在不冲突的情况下相互结合。

在后续的描述中，使用用于表示元件的诸如“模块”、“部件”或“单元”的后缀仅为了有利于本申请的说明，其本身没有特定的意义。因此，“模块”、“部件”或“单元”可以混合地使用。

需要指出，本申请实施例所涉及的术语“第一\第二\第三”仅仅是是区别类似的对象，不代表针对对象的特定排序，可以理解地，“第一\第二\第三”在允许的情况下可以互换特定的顺序或先后次序，以使这里描述的本申请实施例能够以除了在这里图示或描述的以外的顺序实施。

本申请实施例提供一种治具上电时序的监测方法，该方法应用于监测设备，该方法所实现的功能可以通过所述监测设备中的处理器调用程序代码来实现，当然程序代码可以保存在所述监测设备的存储介质中。图1A为本申请实施例治具上电时序的监测方法的实现流程示意图一，如图1A所示，所述方法包括：

步骤S101、获取信号采集电路采集的所述治具提供的N个电信号中每一电信号的波形参数，N为大于等于1的自然数；

在电子设备的开发和测试试产过程中，显示屏都是通过具有模拟PMIC和DDIC信号功能的治具进行点亮的。由于点亮显示屏的测试需治具完成，因此需要将显示屏与所述治具电连接，其中治具有对批量出厂的显示屏进行多项标准测试的功能。本申请实施例中，所述治具用于模拟显示屏的供电电路，以提供用于点亮显示屏的电信号。

这里，所述显示屏可以为手机、PDA(Personal Digital Assistant，个人数字助理)、导航仪、数字电话、视频电话、智能手表、智能手环、可穿戴设备、平板电脑、一体机等电子设备的显示屏。并且，本申请实施例中对所述显示屏的型号、材质、形状、组成结构并不做限制。

所述监测设备为具有信息处理能力的设备，并且所述监测设备为不同于所述显示屏对应的电子设备的第三方设备。

所述显示屏在被点亮的过程中(包括上电以及电压调控)，需要多个电信号(在出厂后用户实际使用的过程中所述显示屏是通过PMIC和DDIC进行点亮的)。因此，在开发测试时，所述治具模拟所述多个电信号，并将模拟出的所述电信号提供给所述显示屏，以对显示屏的点屏或者熄屏等功能进行测试。

本申请实施例中所述信号采集电路可以获取所述治具模拟出的所述多个电信号的波形参数，其中，所述波形参数包括信号的周期、信号的幅值和信号的波形起始点的相关信息。在一些实施例中，所述信号采集电路为示波器或信号采集器。这样，就可以通过示波器或者信号采集器采集信号的波形参数。并且，本申请实施例中对所述波形参数的具体类型并不做限制。

步骤S102、将所述每一电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数进行比较；

这里，标准信号指的是PMIC和DDIC在正常点亮显示屏时提供的电信号。所述点亮显示屏包括显示屏的上电和显示屏的电压调整等。在设备出厂后用户实际使用的过程中所述电子设备的显示屏都是通过PMIC和DDIC进行点亮的，只有在出厂前的开发测试过程中才使用治具模拟PMIC和DDIC信号进行显示屏的点亮测试。

步骤S103、如果所述N个电信号中至少一个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数不同，确定所述治具的上电时序异常。

这里，如果所述N个电信号中至少一个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数不同，说明所述治具提供的电信号设定有错误。因此后续可以调整所述治具提供的电信号直至所述治具提供的电信号正常，再利用所述治具进行点屏处理。

本申请实施例中，通过获取信号采集电路采集的所述治具提供的N个电信号中每一电信号的波形参数，N为大于等于1的自然数；将所述每一电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数进行比较；如果所述N个电信号中至少一个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数不同，确定所述治具的上电时序异常，如此，能够监测治具的各路电压电流，根据所述电压电流的波形参数判断所述电压电流对显示屏模组上电是否存在风险，从而减少显示屏由于IC击伤造成的过多损耗。

基于前述的实施例，本申请实施例再提供一种治具上电时序的监测方法，所述方法包括：

步骤S111、获取信号采集电路采集的所述治具提供的N个电信号中每一电信号的周期，N为大于等于1的自然数；

步骤S112、将所述每一电信号的周期与对应的标准信号的周期进行比较；

步骤S113、如果所述N个电信号中至少一个电信号的周期与对应的标准信号的周期不同，确定所述治具的上电时序异常。

基于前述的实施例，本申请实施例再提供一种治具上电时序的监测方法，所述方法包括：

步骤S121、获取信号采集电路采集的所述治具提供的N个电信号中每一电信号的幅值，N为大于等于1的自然数；

步骤S122、将所述每一电信号的幅值与对应的标准信号的幅值进行比较；

步骤S123、如果所述N个电信号中至少一个电信号的幅值与对应的标准信号的幅值不同，确定所述治具的上电时序异常。

基于前述的实施例，本申请实施例再提供一种治具上电时序的监测方法，图1B为本申请实施例治具上电时序的监测方法的实现流程示意图二，如图1B所示，所述方法包括：

步骤S131、获取信号采集电路采集的所述治具提供的N个电信号中每一电信号的波形参数，N为大于等于1的自然数；

步骤S132、将所述每一电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数进行比较；

步骤S133、如果所述N个电信号中至少一个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数不同，确定所述治具的上电时序异常；

步骤S134、如果所述N个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数相同，根据所述每一电信号的波形参数确定所述每一电信号的延时信息；

本申请实施例中，如果所述N个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数相同，需要进一步确定所述N个电信号的延时信息与对应的标准信号的延时信息是否一致。在所述N个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数相同，且所述N个电信号的延时信息与对应的标准信号的延时信息一致的情况下，才确定所述治具提供的电信号为正常的电信号。

通常情况下，IC和显示屏是有一个适配关系的。PMIC用来供电，DDIC用来提供驱动信号，这两个芯片在工作过程中是存在顺序和时间的(即不同信号之间是存在输出顺序和输出时间间隔的)，如此才能够达到上电完全(包括显示屏上电，及在上电过程中及上电完成后显示屏不会出现花屏、黑屏等现象)的效果。举例来说，假设显示屏上电需要A信号、B信号和C信号这三个信号，并且所述A信号先进行输出，所述A信号输出后10ms(毫秒)，所述B信号再输出，所述B信号输出后5ms，所述C信号再输出，则所述显示屏才能上电完全。也就是说，在正常的上电过程中，不同电信号之间的输出顺序，以及输出时间间隔(即输出延时)都是有标准的规定。

步骤S135、如果所述N个电信号中至少一个电信号的延时信息与对应的标准信号的延时信息不一致，确定所述治具的上电时序异常。

这里，所述N个电信号中至少一个电信号的延时信息与对应的标准信号的延时信息不一致，可以是多个所述标准信号中第一标准信号相对于第二标准信号的延时信息，与所述治具模拟出来的多个电信号中第一电信号相对于第二电信号的延时信息不一致。其中，所述第一电信号为治具模拟出的所述第一标准信号；所述第二电信号为所述治具模拟出的所述第二标准信号。

本申请实施例中，通过获取信号采集电路采集的所述治具提供的N个电信号中每一电信号的波形参数，N为大于等于1的自然数；将所述每一电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数进行比较；如果所述N个电信号中至少一个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数不同，确定所述治具的上电时序异常；如果所述N个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数相同，根据所述每一电信号的波形参数确定所述每一电信号的延时信息；如果所述N个电信号中至少一个电信号的延时信息与对应的标准信号的延时信息不一致，确定所述治具的上电时序异常，如此，能够通过监测治具的各路电压时序及电压电流，判断所述电压时序等对显示屏模组上电是否存在风险，从而减少显示屏由于IC击伤造成的过多损耗。

基于前述的实施例，本申请实施例再提供一种治具上电时序的监测方法，所述方法包括：

步骤S141、获取信号采集电路采集的所述治具提供的N个电信号中每一电信号的波形参数，N为大于等于1的自然数；

步骤S142、将所述每一电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数进行比较；

步骤S143、如果所述N个电信号中至少一个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数不同，确定所述治具的上电时序异常；

步骤S144、如果所述N个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数相同，将所述每一电信号的波形起始点的时刻信息与预设的基准时刻信息进行比较，以确定所述每一电信号的延时信息；

这里，所述波形起始点的时刻信息，指的是所述电信号实际输出的时刻。本申请实施例中，可以将所述预设的基准时刻信息作为一个标尺，将每一电信号都与所述标尺进行比较，进而确定出第一电信号相对于第二电信号的延时信息。并且，可以将所述预设的基准时刻信息设置为0时刻。举例来说，假设显示屏上电需要A信号、B信号和C信号这三个信号，所述A信号的波形起始点的时刻信息相对于预设的基准时刻信息的延时为10ms，所述B信号的波形起始点的时刻信息相对于预设的基准时刻信息的延时为20ms，所述C信号的波形起始点的时刻信息相对于预设的基准时刻信息的延时为24ms，则所述B信号相对于A信号的延时为10ms，所述C信号相对于B信号的延时为4ms。

步骤S145、如果所述N个电信号中至少一个电信号的延时信息与对应的标准信号的延时信息不一致，确定所述治具的上电时序异常。

举例来说，假设显示屏上电需要A信号、B信号和C信号这三个信号，并且所述A信号先进行输出，所述A信号输出后10ms，所述B信号再输出，所述B信号输出后5ms，所述C信号再输出，则所述显示屏才能上电完全。在治具模拟出的信号中，B信号相对于A信号的延时为10ms，所述C信号相对于B信号的延时为4ms。则所述治具模拟出的所述B信号相对于标准信号的延时一致，模拟出的所述C信号相对于标准信号的延时不一致。

基于前述的实施例，本申请实施例再提供一种治具上电时序的监测方法，所述方法包括：

步骤S151、获取信号采集电路采集的所述治具提供的N个电信号中每一电信号的波形参数，N为大于等于1的自然数；

步骤S152、将所述每一电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数进行比较；

步骤S153、如果所述N个电信号中至少一个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数不同，确定所述治具的上电时序异常；

步骤S154、如果所述N个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数相同，在获取的基准信号上设置参考点；

这里，所述基准信号可以为周期性的脉冲信号，并且可以将所述脉冲信号打出来的一个一阶脉冲作为参考点。

步骤S155、将所述每一电信号的波形起始点的位置信息与所述参考点的位置信息进行比较，以确定所述每一电信号的延时信息；

本申请实施例中，所述波形起始点的位置信息，可以是所述波形起始点在示波器上的位置信息。

这里，假设信号采集电路为示波器，因为治具模拟出的电信号太多示波器无法同时接这么多管脚，则可以按预设的时间间隔分批次地将所述治具模拟出的电信号传输至示波器。所以设置一个基准信号，将治具模拟出的所有电信号都跟所述基准信号做对比。比如所述基准信号可以是周期性的脉冲信号，所述脉冲信号是每隔10ms打一个1ms的脉冲出来，则可以将所述脉冲信号作为一个标尺放在这里，后面所有模拟出的电信号都跟这个标尺做对比。这样就可以以所述基准信号为中介，把所有模拟出的电信号都拉到一起来比较。

步骤S156、如果所述N个电信号中至少一个电信号的延时信息与对应的标准信号的延时信息不一致，确定所述治具的上电时序异常。

基于前述的实施例，本申请实施例再提供一种治具上电时序的监测方法，所述方法包括：

步骤S161、获取信号采集电路采集的所述治具提供的N个电信号中每一电信号的波形参数，N为大于等于1的自然数；

步骤S162、将所述每一电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数进行比较；

步骤S163、如果所述N个电信号中至少一个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数不同，确定所述治具的上电时序异常；

步骤S164、如果所述N个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数相同，在获取的周期性的脉冲信号上设置参考点；

步骤S165、将所述每一电信号的波形起始点的位置信息与所述参考点的位置信息进行比较，得到位置信息的差值；

步骤S166、根据所述位置信息的差值和所述脉冲信号的参数，确定所述每一电信号的延时信息；其中，所述参数至少包括以下之一：脉冲宽度、周期和占空比；

举例来说，假设治具模拟出的A信号的波形起始点的位置信息与所述参考点的位置信息之间相差5个脉冲，每个脉冲宽度为1ms，两个脉冲之间的宽度为2ms，则所述A信号相对于所述参考点的延时为13ms。

步骤S167、如果所述N个电信号中至少一个电信号的延时信息与对应的标准信号的延时信息不一致，确定所述治具的上电时序异常。

基于前述的实施例，本申请实施例再提供一种治具上电时序的监测方法，图2为本申请实施例治具上电时序的监测方法的实现流程示意图三，如图2所示，所述方法包括：

步骤S201、获取信号采集电路采集的所述治具提供的N个电信号中每一电信号的波形参数，N为大于等于1的自然数；

步骤S202、将所述每一电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数进行比较；

步骤S203、如果所述N个电信号中至少一个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数不同，确定所述治具的上电时序异常；

步骤S204、如果所述N个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数相同，根据所述每一电信号的波形参数确定所述每一电信号的延时信息；

步骤S205、如果所述N个电信号中至少一个电信号的延时信息与对应的标准信号的延时信息不一致，确定所述治具的上电时序异常；

步骤S206、如果所述治具的上电时序异常，调整所述治具提供的电信号；

步骤S207、如果所述N个电信号的延时信息与对应的标准信号的延时信息一致，利用所述治具提供的电信号对显示屏进行点亮。

在一些实施例中，所述方法还包括：如果所述N个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数相同，且所述N个电信号的延时信息与对应的标准信号的延时信息一致，则确定所述治具的上电时序为正常的上电时序。

通过本申请实施例提供的方案，能够对治具模拟出的电信号(例如AVDD信号、ELVSS信号和ELVDD信号等)的信号周期、强度，以及不同电信号之间的上电顺序进行监测。

本申请实施例中，通过如果所述治具的上电时序异常，调整所述治具提供的电信号；如果所述N个电信号的延时信息与对应的标准信号的延时信息一致，利用所述治具提供的电信号对显示屏进行点亮，如此，能够通过监测治具的各路电压时序及电压电流，判断所述电压时序等对显示屏模组上电是否存在风险，无风险后再用治具点屏来实现对显示屏的调试和可靠性测试等环节，从而减少显示屏由于IC击伤造成的过多损耗。

基于前述的实施例，本申请实施例提供一种治具上电时序的监测装置，该装置包括所包括的各单元、以及各单元所包括的各模块、以及各模块所包括的各部件，可以通过监测设备中的处理器来实现；当然也可通过具体的逻辑电路实现；在实施的过程中，处理器可以为CPU(Central Processing Unit，中央处理器)、MPU(Microprocessor Unit，微处理器)、DSP(Digital Signal Processing，数字信号处理器)或FPGA(Field ProgrammableGate Array，现场可编程门阵列)等。

图3为本申请实施例治具上电时序的监测装置的组成结构示意图，如图3所示，所述装置300包括：

获取单元301，用于获取信号采集电路采集的所述治具提供的N个电信号中每一电信号的波形参数，N为大于等于1的自然数；

比较单元302，用于将所述每一电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数进行比较；

第一确定单元303，用于如果所述N个电信号中至少一个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数不同，确定所述治具的上电时序异常。

在一些实施例中，所述波形参数包括周期；

对应地，所述比较单元302，包括：第一比较模块，用于将所述每一电信号的周期与对应的标准信号的周期进行比较；

所述第一确定单元303，包括：第一确定模块，用于如果所述N个电信号中至少一个电信号的周期与对应的标准信号的周期不同，确定所述治具的上电时序异常。

在一些实施例中，所述波形参数包括幅值；

对应地，所述比较单元302，还包括：第二比较模块，用于将所述每一电信号的幅值与对应的标准信号的幅值进行比较；

所述第一确定单元303，还包括：第二确定模块，用于如果所述N个电信号中至少一个电信号的幅值与对应的标准信号的幅值不同，确定所述治具的上电时序异常。

在一些实施例中，所述装置还包括：

延时确定单元，用于如果所述N个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数相同，根据所述每一电信号的波形参数确定所述每一电信号的延时信息；

第二确定单元，用于如果所述N个电信号中至少一个电信号的延时信息与对应的标准信号的延时信息不一致，确定所述治具的上电时序异常。

在一些实施例中，所述延时确定单元，包括：

第一延时确定模块，用于将所述每一电信号的波形起始点的时刻信息与预设的基准时刻信息进行比较，以确定所述每一电信号的延时信息。

在一些实施例中，所述延时确定单元，包括：

设置模块，用于在获取的基准信号上设置参考点；

第二延时确定模块，用于将所述每一电信号的波形起始点的位置信息与所述参考点的位置信息进行比较，以确定所述每一电信号的延时信息。

在一些实施例中，所述基准信号为周期性的脉冲信号；

对应地，所述第二延时确定模块，包括：

差值确定部件，用于将所述每一电信号的波形起始点的位置信息与所述参考点的位置信息进行比较，得到位置信息的差值；

延时确定部件，用于根据所述位置信息的差值和所述脉冲信号的参数，确定所述每一电信号的延时信息；其中，所述参数至少包括以下之一：脉冲宽度、周期和占空比。

在一些实施例中，所述装置还包括：

调整单元，用于如果所述治具的上电时序异常，调整所述治具提供的电信号；

处理单元，用于如果所述N个电信号的延时信息与对应的标准信号的延时信息一致，利用所述治具提供的电信号对显示屏进行点亮。

基于前述的实施例，本申请实施例提供一种治具上电时序的监测系统，图4A为本申请实施例治具上电时序的监测系统的组成结构示意图一，如图4A所示，所述监测系统40包括：

信号采集电路41，用于采集所述治具提供的N个电信号中每一电信号的波形参数，N为大于等于1的自然数；

处理器42，用于获取所述信号采集电路采集的所述每一电信号的波形参数，并将所述每一电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数进行比较，如果所述N个电信号中至少一个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数不同，确定所述治具的上电时序异常。

这里，所述处理器可以为上述的监测设备。也就是说，所述监测系统，包括信号采集电路以及上述的监测设备。

基于前述的实施例，本申请实施例再提供一种治具上电时序的监测系统，图4B为本申请实施例治具上电时序的监测系统的组成结构示意图二，如图4B所示，所述监测系统400包括：

信号转接电路401，用于获取所述治具提供的N个电信号，所述治具用于模拟显示屏的供电电路，以提供用于点亮显示屏的电信号；

其中，所述信号转接电路包括多个信号获取端口，且不同的信号获取端口获取不同的电信号；所述多个信号获取端口中的每一信号获取端口与所述治具的一个电引脚连接。

这里，由于模拟出的所述电信号是多种多样的，并且所述电信号的类型也是多种多样的，例如有PMIC对应的电信号，DDIC对应的电信号等等。因此，所述治具提供所述电信号的引脚也是繁多的。因此，所述信号转接电路，可以为具有电路转接功能的电路板，能够将所述治具上的不同引脚按特定的组合、顺序等接出来，达到方便监测不同类型电信号的目的。

信号采集电路402，用于采集所述治具提供的N个电信号中每一电信号的波形参数，N为大于等于1的自然数；

处理器403，用于获取所述信号采集电路采集的所述每一电信号的波形参数，并将所述每一电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数进行比较，如果所述N个电信号中至少一个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数不同，确定所述治具的上电时序异常。

这里，所述处理器可以为上述的监测设备。也就是说，所述监测系统，包括信号转接电路、信号采集电路以及上述的监测设备。

基于前述的实施例，本申请实施例再提供一种治具上电时序的监测系统，所述监测系统包括小板、示波器和计算设备，其中：

所述小板，用于做电路的转接，通过将治具上电的引脚接到小板上实现。

在一些实施例中，所述小板上还包括时序控制电路，用于按照固定的时间间隔将所述治具提供的各路信号分别传输至所述示波器。

这里，因为小板的信号输出端口太多示波器无法同时接这么多管脚，则可以按预设的时间间隔分批次地将所述治具模拟出的电信号传输至所述示波器。例如，可以按预设的时间间隔将所述N个电信号中的每一电信号分别传输至所述示波器，也可以按预设的时间间隔每次只传输所述N个电信号中的M个电信号至所述示波器，其中M为大于等于2小于N的自然数。

所述示波器，连接所述小板的输出脚，用于获取所述各路信号的信号周期、强度和其它波形参数。

在一些实施例中，所述波形参数还包括信号的波形起始点的相关信息。

本申请实施例中，可以设置一个标准时间靶点，所述各路信号相对于所述标准时间靶点的延时可以通过所述示波器显示的波形看出。

所述计算设备，以所述时序控制电路设定的分时靶点作为基准，比较各路信号相对于靶点时间的延时，将靶点时间统一置为0时刻。

所述计算设备，还用于按照各路信号相对于靶点的时间，获得治具提供的各路信号的信号周期，强度，以及延时信息，并且，与标准信号时序做对比。如果信号时序与标准信号相同，则判断治具设定正常，可以进行治具点屏处理，如果时序及信号设定有错误，则调整治具上电设定，从而避免治具错误上电造成的IC损伤。

基于前述的实施例，本申请实施例再提供一种集成的治具上电时序的监测系统，所述监测系统可以为监测机，所述监测机包括机壳、及其内部的测试主板、信号采集器和显示面板，其中：

所述测试主板上包括信号转接电路和处理器；

所述信号转接电路，用于获取所述治具提供的N个电信号，并将所述电信号传输给所述信号采集器；所述治具用于模拟显示屏的供电电路，以提供用于点亮显示屏的电信号；

其中，所述信号转接电路包括多个信号获取端口，且不同的信号获取端口获取不同的电信号；所述多个信号获取端口中的每一信号获取端口与所述治具的一个电引脚连接。

一般地，治具点屏的过程包括上电以及调压，是非常复杂的，因此在这个过程中需要很多信号来实现不同的功能。对应地，所述信号转接电路包括多个信号获取端口，每一信号获取端口获取一种电信号。并且通常情况下不同的信号是通过器件不同的引脚进行输出的，因此，所述信号转接电路的每一信号获取端口，都与所述治具的一个上电引脚连接，以获取所述引脚输出的电信号。

所述信号采集器，用于采集所述治具提供的N个电信号中每一电信号的波形参数，并将所述波形参数传输给所述处理器，N为大于等于1的自然数；

所述处理器，用于获取所述信号采集电路采集的所述每一电信号的波形参数，并将所述每一电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数进行比较，如果所述N个电信号中至少一个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数不同，确定所述治具的上电时序异常，并将异常的电信号的标识显示在所述显示面板上。

这里，所述测试主板上的处理器和显示面板可以相当于上述的监测设备。

全面屏显示技术是通过将前置摄像头隐藏或者升降及边置等方案，实现在显示终端正面的全屏显示的技术方案。在目前已有的概念设计中，主要是通过在显示屏上分割区域，在其中一个小区域，一般是在前置摄像头的位置，将显示屏面板做成低PPI(Pixels PerInch，像素密度)显示，增加透过性，在小区域下埋摄像头模组，从而实现全面屏的设计。

图5为相关技术全面屏的示意图，如图5所示，图5中区域501是透明屏区域，区域502是过渡区，区域503是正常的主屏区域。区域501采用OLED(Organic Light EmittingDiode，有机发光二极管)像素加透明电极以增强透过率，将不透明的驱动电路布置到过渡区502。区域503的像素和TFT(Thin Film Transistor，薄膜场效应晶体管)驱动电路正常布置。由于区域501中只剩下透明像素和透明电极，从而极大的提高了透光率，并且通过将不透明的驱动电路边置到过渡区502的设置，进一步增强了透明区的透过率，将前置摄像头布置到透明区之下，实现屏下摄像，同时又实现了全面屏的设计。图5中区域503是正常显示屏区域，像素按照常规排列，像素密度为403PPI。区域501是透明显示屏区域，与过渡区域502的物理像素排布相同，排布方式与区域503相同，但是像素的尺寸增大，变成200PPI物理像素密度。区域501通过并联矩形分割区域内4个物理像素的方式，减少3/4的驱动电路走线，通过并联多像素区块的方式，可以极大减少驱动电路的金属走线，增加透明度并且减少衍射效应，经过并联后透明区域501的显示像素密度在100PPI。将透明区域501的驱动电路通过连线连接到过渡区502，布置在过渡区502的像素下。过渡区502的像素排列方式与常规显示区域503的像素排布方式是一致的，但是像素的颗粒度增大两倍，同时PPI会降低一半，过渡区502本身的像素驱动电路会减少一半，从而空出一半的空间给到透明显示区域501的驱动电路布置，从而实现全屏显示的技术方案。

从而可以看出，区域501是通过减少像素或者改变像素排布增加空隙，从而增加透过的光量，新设计的像素的驱动电流以及器件结构都与原来的主屏区域(即区域503)器件结构不同。因此在驱动主副屏(主屏即区域503，副屏即区域501和区域502)显示时，需要对DDIC进行优化设计，以适应屏下摄像副屏区域的改变。由于副屏区域的存在，对于DDIC上电时序有了更高的要求。并且，采用并联像素的设计会导致区域501的像素数量减少，为了保证全屏亮度一致，在区域501的单像素的驱动电流相比正常显示屏区域要更大，接近4倍的驱动电流，同时由于像素采用并联设计，控制TFT也需要控制更大的电流通路，进而驱动电流需要更大，对于冲击电流电压的耐受程度更低。

对于显示屏上电是通过DDIC控制上电的时序，从而实现显示信息。DDIC会通过驱动信号控制PMIC对显示屏的OLED像素部分进行上电处理。PMIC和DDIC的上电时序要求如下所示。PMIC主要输出三路电压给显示屏模组(包括AVDD信号、ELVSS信号和ELVDD信号)，即接收ASEIRE信号和ESWIRE信号，从而输出调制的AVDD信号、固定的ELVDD信号和调制的ELVSS信号。

其中，IC内部电压信号有很多，例如VLIN信号、AVC信号、VINT信号、VGL信号和VGH信号等，这些信号都是显示屏上电相关的信号。

图6A为本申请实施例PMIC的供电时序示意图，如图6A所示，PMIC的供电时序波形图如下：波形61为ASWIRE信号的信号波形图，波形62为ESWIRE信号的信号波形图，波形63为AVDD信号的信号波形图，波形64为ELVDD信号的信号波形图，波形65为ELVSS信号的信号波形图。可以看出，在PMIC供电时，所述ASWIRE信号、ESWIRE信号、AVDD信号和ELVDD信号都为高电平有效，所述ELVSS信号为低电平有效。且所述ASWIRE信号用来控制电源管理芯片PMIC的电源AVDD的使能和输出电压值大小，所述ESWIRE信号用来控制电源管理芯片PMIC的电源ELVDD的使能，同时也是用来控制电源管理芯片PMIC的电源ELVSS的使能和输出电压值大小。

图6B为本申请实施例AVDD的上电时序及电压调控时序示意图，如图6B所示，AVDD的上电时序及电压调控时序波形图如下：波形601为ASWIRE信号的信号波形图，波形602为AVDD信号的信号波形图。

图6C为本申请实施例ELVDD和ELVSS的上电及电压调控时序示意图，如图6C所示，ELVDD和ELVSS的上电时序及电压调控时序波形图如下：波形611为ESWIRE信号的信号波形图，波形612为ELVDD信号的信号波形图，波形613为ELVSS信号的信号波形图。

DDIC主要用于控制驱动显示屏模组点屏，另外包括一些内部的其他功能。DDIC能够在PMIC提供的AVDD、ELVDD和ELVSS三路电压下，驱动所述显示屏模组。

其中，一种型号DDIC的点屏时序和熄屏时序如下：

图7A为本申请实施例特定类型DDIC点屏的时序示意图，如图7A所示，所述特定类型DDIC点屏的时序波形图如下：波形701为VDDI信号的信号波形图，波形702为VDD信号的信号波形图，波形703为RSTN信号的信号波形图，波形704为MIPI I/F信号的信号波形图，波形705为OLED使能信号的信号波形图，波形706为AVDD信号的信号波形图，波形707为SWIRE信号的信号波形图，波形708为ELVDD信号的信号波形图，波形709为ELVSS信号的信号波形图。

图7B为本申请实施例特定类型DDIC熄屏的时序示意图，如图7B所示，所述特定类型DDIC熄屏的时序波形图如下：波形711为VDD信号的信号波形图，波形712为RSTB信号的信号波形图，波形713为MIPI信号的信号波形图，波形714为VS信号的信号波形图，波形715为VDDI信号的信号波形图，波形716为AVDD信号的信号波形图，波形717为AVEE信号的信号波形图，波形718为VGH信号的信号波形图，波形719为VGL信号的信号波形图，波形720为VCL信号的信号波形图，波形721为VGMP/VGSP信号的信号波形图，波形722为VINT信号的信号波形图，波形723为SOUT信号的信号波形图，波形724为GOA信号的信号波形图，波形725为Swire信号的信号波形图，波形726为OLED使能信号的信号波形图。

除了点屏和熄屏外，利用PMIC提供的AVDD电压输入VCI/VDDI信号等，还可以在IC内部生成调整灰阶和Gamma校正等功能的不同电压值。

在显示屏开发和测试试产过程中，对于显示屏点亮是通过治具模拟PMIC和DDIC信号对显示屏进行点亮。由此，容易造成在显示屏试产和调试阶段，会由于治具的上电时序波动引起信号的时序错误，DDIC原本设计的保护电路不足以实现保护功能从而对DDIC造成损伤，包括引脚损伤等问题，进而造成大批DDIC击伤。

图8A为本申请实施例显示屏上电原理示意图，如图8A所示，在上电的过程中，ELVSS、ELVDD、OVSS和OVDD等信号都是给显示屏81供电的，PMIC 82在电子设备的主板上。SWIRE和AVDD使能信号都是源极驱动芯片83发送给PMIC 82的，AVDD信号是PMIC 82往源极驱动芯片83上电的电源。同时，源极驱动芯片83接收MIPI、VCI和VDDIO等信号，并输出VGH、VGL、VREF和GIP等信号给显示屏81。

图8B为本申请实施例治具点屏异常的流程示意图，如图8B所示，治具在模拟PMIC和DDIC信号对显示屏进行点亮，但是电屏异常造成烧屏的流程如下：

步骤S801、PG点屏，VDDIO信号和VCI信号上电；

步骤S802、PG送初始化代码；

这里，所述PG送初始化代码的作用是控制显示屏的灰阶，例如控制显示屏是按125灰阶亮还是按228灰阶亮。

步骤S803、PG送AVDD信号；

这里，所述AVDD信号的作用是整体供电。

这里，在步骤S803中如果存在限流保护，则PG掉电。如果不存在限流保护，则AVDD烧毁，且继续所述步骤S804。

步骤S804、IC工作或IC未工作；

这里，在步骤S804中如果屏体正常则IC正常工作，如果屏体异常则PG大电流保护，AVDD信号、VCI信号和CDDIO等掉电，IC不工作，或IC自我保护不工作。

步骤S805、PG送出ELVDD和ELVSS信号；

这里，在步骤S805中如果存在限流保护则PG掉电。如果无限流保护，则OVDD信号或OVSS信号对应的线路烧毁。

步骤S806、PG无限流保护；

步骤S807、AVDD信号或OVDD信号或OVSS信号对应的线路烧伤。

因此，本申请实施例对烧屏过程进行了还原：PG点屏时，不接收DDIC反馈的SWIRE信号和AVDD使能控制信号，直接通过设置的延迟送出AVDD/ELVDD/ELVSS电源，如此可能出现在IC未正常工作状态下即开启电源造成IC内部损伤。也就是说，AVDD电压提前或延后上电，在IC内部产生ESD(Electro-Static discharge，静电释放)或者EOS干扰，从I/O(InputOutput，输入输出)接口引脚进入IC，造成AVDD或者AVSS信号的钳位电路损坏。而最终宣泄口为GND(即电线接地端)，所以当ESD进来时，并须经过AVDD和AVSS信号的钳位电路才得以出去，但ESD能量过强，导致路径上的钳位电路损坏，从而造成内部击伤。

基于此，针对以上的概率性问题，本申请实施例提供一种对治具PG上电时序进行监测的电路，所述电路的工作原理如下：

(1)新增一个小板(可以为电路板)做电路的转接，通过将治具上电的引脚接到小板上，获取所述治具在测试时提供的上电信号。

(2)将所述小板的输出脚接到示波器上，在小板上增加时序控制模块，按照固定的时间间隔将各路信号分别传输至示波器。示波器分别获取所述各路信号相对于标准时间靶点的延时。

(3)以所述时序控制模块设定的标准时间靶点作为基准，比较各路信号相对于所述标准靶点时间的延时，将靶点时间统一置为0时刻。

(4)按照各路信号相对于靶点的延时，在计算机中获得治具在测试时提供的各路上电信号的信号周期，强度，以及延时信息。

(5)与标准信号时序进行对比。如果测试治具提供的上电信号的时序与标准信号时序相同，则判断治具设定正常，可以进行治具点屏处理。如果测试治具提供的上电信号的时序及信号设定有错误，则调整治具上电设定，从而避免治具错误上电造成的IC损伤。

在屏下摄像方案中，由于副屏区域的器件设计不同，使得DDIC驱动性能的要求更高。时序误差或者EOS(Electrical Over Stress，电气过应力)都会造成DDIC击伤的问题。因此本申请实施例提供了一种监测治具上电时序的电路，可以在显示屏试产调试以及可靠性测试之前，准确获得治具的上电时序以及电压电流数值。从而可以充分保证治具上电时序及电压电流的稳定性，保护处于调试阶段的屏下DDIC。

也就是说，在显示屏的试产和调试过程中，一般是模拟PMIC送电的治具来给所述显示屏上电。但是由于屏下器件的独特设计，会造成DDIC的调整裕量与原来设计有差异，超过冗余度的时序或者EOS等问题，极有可能击伤IC，造成显示屏模组损坏。因此，本申请实施例通过设计连接板(即小板)，将治具提供的各路电压时序及电压电流通过监测电路预输出，获得相应的治具信号后再判断对显示屏模组上电无风险，才用治具点屏。实现对显示屏的调试和可靠性测试等环节。减少显示屏由于IC击伤造成的过多损耗。

以上装置和系统实施例的描述，与上述方法实施例的描述是类似的，具有同方法实施例相似的有益效果。对于本申请装置和系统实施例中未披露的技术细节，请参照本申请方法实施例的描述而理解。

需要说明的是，本申请实施例中，如果以软件功能模块的形式实现上述的治具上电时序的监测方法，并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台电子设备(可以是个人计算机、服务器等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、ROM(Read Only Memory，只读存储器)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。这样，本申请实施例不限制于任何特定的硬件和软件结合。

对应地，本申请实施例提供一种监测设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述实施例中提供的治具上电时序的监测方法中的步骤。

对应地，本申请实施例提供一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述治具上电时序的监测方法中的步骤。

这里需要指出的是：以上存储介质和设备实施例的描述，与上述方法实施例的描述是类似的，具有同方法实施例相似的有益效果。对于本申请存储介质和设备实施例中未披露的技术细节，请参照本申请方法实施例的描述而理解。

需要说明的是，图9为本申请实施例监测设备的一种硬件实体示意图，如图9所示，该监测设备900的硬件实体包括：处理器901、通信接口902和存储器903，其中

处理器901通常控制监测设备900的总体操作。

通信接口902可以使监测设备900通过网络与其他终端或服务器通信。

存储器903配置为存储由处理器901可执行的指令和应用，还可以缓存待处理器901以及监测设备900中各模块待处理或已经处理的数据(例如，图像数据、音频数据、语音通信数据和视频通信数据)，可以通过FLASH(闪存)或RAM(Random Access Memory，随机访问存储器)实现。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的设备和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，如：多个单元或组件可以结合，或可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另外，所显示或讨论的各组成部分相互之间的耦合、或直接耦合、或通信连接可以是通过一些接口，设备或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性的、机械的或其它形式的。

上述作为分离部件说明的单元可以是、或也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是、或也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，也可以分布到多个网络单元上；可以根据实际的需要选择其中的部分或全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请各实施例中的各功能单元可以全部集成在一个处理模块中，也可以是各单元分别单独作为一个单元，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中；上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：移动存储设备、ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

本申请所提供的几个方法实施例中所揭露的方法，在不冲突的情况下可以任意组合，得到新的方法实施例。

本申请所提供的几个产品实施例中所揭露的特征，在不冲突的情况下可以任意组合，得到新的产品实施例。

本申请所提供的几个方法或设备实施例中所揭露的特征，在不冲突的情况下可以任意组合，得到新的方法实施例或设备实施例。

以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (14)

1.一种治具上电时序的监测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取信号采集电路采集的所述治具提供的N个电信号中每一电信号的波形参数，N为大于等于1的自然数；

将所述每一电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数进行比较；

如果所述N个电信号中至少一个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数不同，确定所述治具的上电时序异常。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述波形参数包括周期；

对应地，所述将所述每一电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数进行比较，包括：将所述每一电信号的周期与对应的标准信号的周期进行比较；

所述如果所述N个电信号中至少一个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数不同，确定所述治具的上电时序异常，包括：如果所述N个电信号中至少一个电信号的周期与对应的标准信号的周期不同，确定所述治具的上电时序异常。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述波形参数包括幅值；

对应地，所述将所述每一电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数进行比较，包括：将所述每一电信号的幅值与对应的标准信号的幅值进行比较；

所述如果所述N个电信号中至少一个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数不同，确定所述治具的上电时序异常，包括：如果所述N个电信号中至少一个电信号的幅值与对应的标准信号的幅值不同，确定所述治具的上电时序异常。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

如果所述N个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数相同，根据所述每一电信号的波形参数确定所述每一电信号的延时信息；

如果所述N个电信号中至少一个电信号的延时信息与对应的标准信号的延时信息不一致，确定所述治具的上电时序异常。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述每一电信号的波形参数确定所述每一电信号的延时信息，包括：

将所述每一电信号的波形起始点的时刻信息与预设的基准时刻信息进行比较，以确定所述每一电信号的延时信息。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述每一电信号的波形参数确定所述每一电信号的延时信息，包括：

在获取的基准信号上设置参考点；

将所述每一电信号的波形起始点的位置信息与所述参考点的位置信息进行比较，以确定所述每一电信号的延时信息。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述基准信号为周期性的脉冲信号；

对应地，所述将所述每一电信号的波形起始点的位置信息与所述参考点的位置信息进行比较，以确定所述每一电信号的延时信息，包括：

将所述每一电信号的波形起始点的位置信息与所述参考点的位置信息进行比较，得到位置信息的差值；

根据所述位置信息的差值和所述脉冲信号的参数，确定所述每一电信号的延时信息；其中，所述参数至少包括以下之一：脉冲宽度、周期和占空比。

8.根据权利要求4至7任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

如果所述治具的上电时序异常，调整所述治具提供的电信号；

如果所述N个电信号的延时信息与对应的标准信号的延时信息一致，利用所述治具提供的电信号对显示屏进行点亮。

9.一种治具上电时序的监测装置，其特征在于，所述装置包括：

获取单元，用于获取信号采集电路采集的所述治具提供的N个电信号中每一电信号的波形参数，N为大于等于1的自然数；

比较单元，用于将所述每一电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数进行比较；

第一确定单元，用于如果所述N个电信号中至少一个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数不同，确定所述治具的上电时序异常。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

调整单元，用于如果所述治具的上电时序异常，调整所述治具提供的电信号；

处理单元，用于如果所述N个电信号的延时信息与对应的标准信号的延时信息一致，利用所述治具提供的电信号对显示屏进行点亮。

11.一种治具上电时序的监测设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现权利要求1至8任一项所述的方法。

12.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至8任一项所述的方法。

13.一种治具上电时序的监测系统，其特征在于，所述系统包括：

信号采集电路，用于采集所述治具提供的N个电信号中每一电信号的波形参数，N为大于等于1的自然数；

处理器，用于获取所述信号采集电路采集的所述每一电信号的波形参数，并将所述每一电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数进行比较，如果所述N个电信号中至少一个电信号的波形参数与对应的标准信号的波形参数不同，确定所述治具的上电时序异常。

14.根据权利要求13所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：

信号转接电路，用于获取所述治具提供的N个电信号，所述治具用于模拟显示屏的供电电路，以提供用于点亮显示屏的电信号；

其中，所述信号转接电路包括多个信号获取端口，且不同的信号获取端口获取不同的电信号；所述多个信号获取端口中的每一信号获取端口与所述治具的一个电引脚连接。

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