CN113466566A - 一种触发式信号采集方法和装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种触发式信号采集方法和装置,方法包括:从待测系统将待测信号通过焊接测试点导入处理芯片,并使处理芯片基于待测信号设置第一采集参数;通过连接到待测系统和处理芯片的第二通信芯片使处理芯片开始基于第一采集参数采集并存储正常信号;通过第二通信芯片使处理芯片开始基于不同于第一采集参数的第二采集参数采集并存储异常信号;基于待测系统指示测试继续或测试中止,来基于第一采集参数继续采集并存储阈值数量的正常信号后停止工作、或直接停止工作;将采集并存储的正常信号和异常信号通过上位机以彼此不同的形式示出。本发明能够在发生概率性问题时自动定位问题,节省人工并提升效率。

Description

一种触发式信号采集方法和装置
技术领域
本发明涉及测试领域,更具体地,特别是指一种触发式信号采集方法和装置。
背景技术
在当前的服务器系统中,涉及的系统相关测试越来越全面,在测试中往往会出现一些概率性问题,由于问题复现起来较为困难,因此此类问题对测试人员以及开发人员来说是较难解决的。概率性问题可能只有在某个瞬间才会发生,因此在调试过程中,比较困难的就是问题发生的时间点不固定,无法确认问题发生时关键信号的状态。
捕捉问题发生瞬间的关键信号状态是解决测试中概率性问题的关键,但是现有技术还是无法准确确认问题发生时刻的信号状态。现有技术多通过人为观察示波器,或是通过设置示波器进行多次抓取波形进行分析,但面对概率性问题难以使用。
针对现有技术中问题发生时刻的信号状态难以采集的问题,目前尚无有效的解决方案。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例的目的在于提出一种触发式信号采集方法和装置,能够在发生概率性问题时自动定位问题,节省人工并提升效率。
基于上述目的,本发明实施例的第一方面提供了一种触发式信号采集方法,包括执行以下步骤:
从待测系统将待测信号通过焊接测试点导入处理芯片,并使处理芯片基于待测信号设置第一采集参数;
响应于待测系统指示测试启动,而通过连接到待测系统和处理芯片的第二通信芯片使处理芯片开始基于第一采集参数采集并存储正常信号;
响应于待测系统指示测试异常,而通过第二通信芯片使处理芯片开始基于不同于第一采集参数的第二采集参数采集并存储异常信号;
响应于处理芯片完成异常信号的采集并存储,而基于待测系统指示测试继续或测试中止,来基于第一采集参数继续采集并存储阈值数量的正常信号后停止工作、或直接停止工作;
响应于处理芯片停止工作,而将采集并存储的正常信号和异常信号通过上位机以彼此不同的形式示出。
在一些实施方式中,方法还包括执行以下步骤:
使用连接到处理芯片和第二通信芯片的电源模块为处理芯片和第二通信芯片供电,其中电源模块由处理芯片执行上电时序控制。
在一些实施方式中,从待测系统将待测信号通过焊接测试点导入处理芯片包括:从待测系统将多个待测信号通过焊线固定到对应的多个焊接测试点,以电性连接到处理芯片的不同通用输入输出总线上。
在一些实施方式中,使处理芯片基于待测信号设置第一采集参数包括:使处理芯片基于待测信号的信号速率设置特定采样频率;基于第一采集参数采集并存储正常信号包括:基于特定采样频率采集并存储正常信号。
在一些实施方式中,基于不同于第一采集参数的第二采集参数采集并存储异常信号包括:在全频率上采集并存储异常信号。
在一些实施方式中,采集并存储正常信号/异常信号包括:采集并存储正常信号/异常信号的信号电压数据和与信号电压数据相对应的采样时间。
在一些实施方式中,将采集并存储的正常信号和异常信号通过上位机以彼此不同的形式示出包括:将采集并存储的正常信号和异常信号的信号电压数据和采样时间数据对在上位机上以平面坐标系形式示出。
在一些实施方式中,处理芯片和第二通信芯片之间以内部集成电路总线连接;处理芯片和上位机之间以串行总线连接;第二通信芯片和待测系统之间以串行总线连接。
在一些实施方式中,待测系统内部包括第一通信芯片;第二通信芯片和第一通信芯片之间以串行总线连接;待测系统指示测试启动、测试异常、测试继续、或测试中止均为第一通信芯片指示测试启动、测试异常、测试继续、或测试中止。
本发明实施例的第二方面提供了一种装置,包括:
处理器;
控制器,存储有处理器可运行的程序代码,处理器在运行程序代码时执行以下步骤:
从待测系统将待测信号通过焊接测试点导入处理芯片,并使处理芯片基于待测信号设置第一采集参数;
响应于待测系统指示测试启动,而通过连接到待测系统和处理芯片的第二通信芯片使处理芯片开始基于第一采集参数采集并存储正常信号;
响应于待测系统指示测试异常,而通过第二通信芯片使处理芯片开始基于不同于第一采集参数的第二采集参数采集并存储异常信号;
响应于处理芯片完成异常信号的采集并存储,而基于待测系统指示测试继续或测试中止,来基于第一采集参数继续采集并存储阈值数量的正常信号后停止工作、或直接停止工作;
响应于处理芯片停止工作,而将采集并存储的正常信号和异常信号通过上位机以彼此不同的形式示出。
本发明具有以下有益技术效果:本发明实施例提供的触发式信号采集方法和装置,通过从待测系统将待测信号通过焊接测试点导入处理芯片,并使处理芯片基于待测信号设置第一采集参数;响应于待测系统指示测试启动,而通过连接到待测系统和处理芯片的第二通信芯片使处理芯片开始基于第一采集参数采集并存储正常信号;响应于待测系统指示测试异常,而通过第二通信芯片使处理芯片开始基于不同于第一采集参数的第二采集参数采集并存储异常信号;响应于处理芯片完成异常信号的采集并存储,而基于待测系统指示测试继续或测试中止,来基于第一采集参数继续采集并存储阈值数量的正常信号后停止工作、或直接停止工作;响应于处理芯片停止工作,而将采集并存储的正常信号和异常信号通过上位机以彼此不同的形式示出的技术方案,能够在发生概率性问题时自动定位问题,节省人工并提升效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明提供的触发式信号采集方法的流程示意图;
图2为本发明提供的触发式信号采集方法的详细流程图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实施例,并参照附图,对本发明实施例进一步详细说明。
需要说明的是,本发明实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量,可见“第一”“第二”仅为了表述的方便,不应理解为对本发明实施例的限定,后续实施例对此不再一一说明。
基于上述目的,本发明实施例的第一个方面,提出了一种在发生概率性问题时自动定位问题,节省人工并提升效率的触发式信号采集方法的一个实施例。图1示出的是本发明提供的触发式信号采集方法的流程示意图。
所述的触发式信号采集方法,如图1所示,包括执行以下步骤:
步骤S101,从待测系统将待测信号通过焊接测试点导入处理芯片,并使处理芯片基于待测信号设置第一采集参数;
步骤S103,响应于待测系统指示测试启动,而通过连接到待测系统和处理芯片的第二通信芯片使处理芯片开始基于第一采集参数采集并存储正常信号;
步骤S105,响应于待测系统指示测试异常,而通过第二通信芯片使处理芯片开始基于不同于第一采集参数的第二采集参数采集并存储异常信号;
步骤S107,响应于处理芯片完成异常信号的采集并存储,而基于待测系统指示测试继续或测试中止,来基于第一采集参数继续采集并存储阈值数量的正常信号后停止工作、或直接停止工作;
步骤S109,响应于处理芯片停止工作,而将采集并存储的正常信号和异常信号通过上位机以彼此不同的形式示出。
本发明提出了一种异常波形测试系统。在使用时,将待测板卡上需要测试的信号,在接到示波器的同时接去本测试系统。测试系统中,使用CPLD(复杂逻辑可编程器件)作为处理芯片,用于为数据记录,接收待测信号数据信息,对采集到数据进行记录,并在问题发生时记录数据信息并存储;同时CPLD还需控制测试系统中的电源时序,保证系统中其他模块正常运行。还使用BMC(基板管理控制器)作为通信芯片主要功能为与待测系统进行信息交互,获取数据采集时间,并将该信息传递给CPLD执行相应操作。电源模块为系统中所有模块供电。以上模块相互配合,可以实现对待测信号异常发生时波形的及时捕捉,从而提高概率性问题的解决效率。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,可以通过计算机程序来指令相关硬件来完成,所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中,该程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(ROM)或随机存储记忆体(RAM)等。所述计算机程序的实施例,可以达到与之对应的前述任意方法实施例相同或者相类似的效果。
在一些实施方式中,方法还包括执行以下步骤:
使用连接到处理芯片和第二通信芯片的电源模块为处理芯片和第二通信芯片供电,其中电源模块由处理芯片执行上电时序控制。
在一些实施方式中,从待测系统将待测信号通过焊接测试点导入处理芯片包括:从待测系统将多个待测信号通过焊线固定到对应的多个焊接测试点,以电性连接到处理芯片的不同通用输入输出总线上。
在一些实施方式中,使处理芯片基于待测信号设置第一采集参数包括:使处理芯片基于待测信号的信号速率设置特定采样频率;基于第一采集参数采集并存储正常信号包括:基于特定采样频率采集并存储正常信号。
在一些实施方式中,基于不同于第一采集参数的第二采集参数采集并存储异常信号包括:在全频率上采集并存储异常信号。
在一些实施方式中,采集并存储正常信号/异常信号包括:采集并存储正常信号/异常信号的信号电压数据和与信号电压数据相对应的采样时间。
在一些实施方式中,将采集并存储的正常信号和异常信号通过上位机以彼此不同的形式示出包括:将采集并存储的正常信号和异常信号的信号电压数据和采样时间数据对在上位机上以平面坐标系形式示出。
在一些实施方式中,处理芯片和第二通信芯片之间以内部集成电路总线连接;处理芯片和上位机之间以串行总线连接;第二通信芯片和待测系统之间以串行总线连接。
在一些实施方式中,待测系统内部包括第一通信芯片;第二通信芯片和第一通信芯片之间以串行总线连接;待测系统指示测试启动、测试异常、测试继续、或测试中止均为第一通信芯片指示测试启动、测试异常、测试继续、或测试中止。
结合这里的公开所描述的方法或算法的步骤可以直接包含在硬件中、由处理器执行的软件模块中或这两者的组合中。软件模块可以驻留在RAM存储器、快闪存储器、ROM存储器、EPROM存储器、EEPROM存储器、寄存器、硬盘、可移动盘、CD-ROM、或本领域已知的任何其它形式的存储介质中。示例性的存储介质被耦合到处理器,使得处理器能够从该存储介质中读取信息或向该存储介质写入信息。在一个替换方案中,所述存储介质可以与处理器集成在一起。处理器和存储介质可以驻留在ASIC中。ASIC可以驻留在用户终端中。在一个替换方案中,处理器和存储介质可以作为分立组件驻留在用户终端中。
下面根据图2所示的具体实施例进一步阐述本发明的具体实施方式。
首先,根据出现的问题确定待测信号net1-netN。为了简化描述,本发明仅阐述只存在net1的情形,多信号的其他信号输入与之类似并且互不影响。将net1接入测试系统,测试系统板卡上设置多个可供焊接的测试点,这部分测试点硬件线路上连接至CPLD的普通GPIO(通用输入输出总线)上。
测试系统中包括串口通信模块,待测板卡所在系统通过串口与测试系统连接,实现两个系统BMC之间,即第一通信芯片(BMC1)和第二通信芯片(BMC2)之间的信息交互。应当注意,第二通信芯片是本发明实施例侧的监测设备的一部分,而第一通信芯片是待测系统的一部分。
CPLD中的逻辑块类似于一个小规模PLD,通常一个逻辑块包含4~20个宏单元,每个宏单元一般由乘积项阵列、乘积项分配和可编程寄存器构成。每个宏单元有多种配置方式,各宏单元也可级联使用,因此可实现较复杂组合逻辑和时序逻辑功能。对集成度较高的CPLD,通常还提供了带片内存储器的嵌入阵列块。可编程互连通道主要提供逻辑块、宏单元、输入/输出引脚间的互连网络。输入/输出块(I/O块)提供内部逻辑到器件I/O引脚之间的接口。逻辑规模较大的CPLD一般还内带边界扫描测试电路,可对已编程的高密度可编程逻辑器件做全面彻底的系统测试,此外也可进行系统编程。
BMC非常适合用于多种远程管理,比如刀锋型伺服器、公用桌上型电脑、印表机、集线器和家庭网路设备(网路闸道、数位视讯转换盒)等。BMC会周期性地轮询数位感测器来监视系统工作状态,并通过主线界面与主机通讯,还提供一个用于本地系统管理、推进警告和存取非挥发性记忆体的介面。推进警告用于从主机发送警告到远程终端以通知BIOS或作业系统产生的任何事件。例如,紧急BIOS代码可以通过本地局域网从典型I/O埠重定向到远程终端。
除了基本的智能平台管理接口功能和系统工作监视功能外,通过利用2个快闪记忆体之一储存以前的BIOS,BMC还能实现BIOS快速元件的选择和保护。例如,在远程BIOS升级后系统不能启动时,远程管理人员可以切换回以前工作的BIOS映像来启动系统。一旦BIOS升级,BIOS映像就能被锁住,可有效防止病毒对它的侵害。
然后根据测试需求生成测试脚本。脚本中除常规测试程序外,还增加以下功能:测试开始后发送“测试启动”信息给到待测系统BMC1;在测试出现异常时将该“结果异常”信息发送给到待测系统BMC1;若是异常发生后可以继续进行测试,发送“测试继续”信息给到BMC1;若是异常发生后无法继续进行测试,则发送“停止测试”信息给到BMC1。脚本被放入待测系统并由待测系统执行。
待测系统中BMC1接收到“测试启动”的信息后,通过串口将该信息传递给测试系统的BMC2,BMC2通过I2C(内部集成电路总线)与测试系统中的CPLD进行通信,通知CPLD开始进行数据采集。
CPLD数据采集模块中根据net1的待测信号速率进行采样频率设置,按照该频率(对应前述的第一采集参数)对信号进行数据采集,采集信号电压数据以及采样时间,并将其进行存储。
当BMC1收到待测系统发出的异常通知时,使用与前述相似的方式通过BMC2将该信息传递给CPLD。此时CPLD不再根据设置的采样频率进行数据采集,而是在收到异常通知后立即进行全频段(对应前述的第二采集参数)的数据采集,将该数据存储并进行单独标记。全频段的数据采集可以获取与异常有关的更多信息,而单独标记将在稍后的展示环节方便使用者。
CPLD在完成异常数据采集后,若接收到“测试继续”命令,则CPLD根据前述采样频率继续采集n个数据(n可以根据信号速率进行设置)后停止数据采集;若接收到“停止测试”信息,则不再继续进行数据采集,直接停止。
然后,CPLD将存储的数据取出,按照采集时间为横坐标,数据信息为纵坐标进行数据传输,这些数据通过串口与上位机相连,并将传输的数据在上位机上进行图像显示。
另外,CPLD模块除了进行数据采集与处理外,还需控制板上芯片上电时序,保证BMC2工作正常。
本文所述的计算机可读存储介质(例如,存储器)可以是易失性存储器或非易失性存储器,或者可以包括易失性存储器和非易失性存储器两者。作为例子而非限制性的,非易失性存储器可以包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦写可编程ROM(EEPROM)或快闪存储器。易失性存储器可以包括随机存取存储器(RAM),该RAM可以充当外部高速缓存存储器。作为例子而非限制性的,RAM可以以多种形式获得,比如同步RAM(DRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据速率SDRAM(DDR SDRAM)、增强SDRAM(ESDRAM)、同步链路DRAM(SLDRAM)、以及直接Rambus RAM(DRRAM)。所公开的方面的存储设备意在包括但不限于这些和其它合适类型的存储器。
从上述实施例可以看出,本发明实施例提供的触发式信号采集方法,通过从待测系统将待测信号通过焊接测试点导入处理芯片,并使处理芯片基于待测信号设置第一采集参数;响应于待测系统指示测试启动,而通过连接到待测系统和处理芯片的第二通信芯片使处理芯片开始基于第一采集参数采集并存储正常信号;响应于待测系统指示测试异常,而通过第二通信芯片使处理芯片开始基于不同于第一采集参数的第二采集参数采集并存储异常信号;响应于处理芯片完成异常信号的采集并存储,而基于待测系统指示测试继续或测试中止,来基于第一采集参数继续采集并存储阈值数量的正常信号后停止工作、或直接停止工作;响应于处理芯片停止工作,而将采集并存储的正常信号和异常信号通过上位机以彼此不同的形式示出的技术方案,能够在发生概率性问题时自动定位问题,节省人工并提升效率。
需要特别指出的是,上述触发式信号采集方法的各个实施例中的各个步骤均可以相互交叉、替换、增加、删减,因此,这些合理的排列组合变换之于触发式信号采集方法也应当属于本发明的保护范围,并且不应将本发明的保护范围局限在所述实施例之上。
基于上述目的,本发明实施例的第二个方面,提出了一种自动执行RMT,解放人工并提升效率,实时分析内存性能的触发式信号采集装置的一个实施例。装置包括:
处理器;
控制器,存储有处理器可运行的程序代码,处理器在运行程序代码时执行以下步骤:
从待测系统将待测信号通过焊接测试点导入处理芯片,并使处理芯片基于待测信号设置第一采集参数;
响应于待测系统指示测试启动,而通过连接到待测系统和处理芯片的第二通信芯片使处理芯片开始基于第一采集参数采集并存储正常信号;
响应于待测系统指示测试异常,而通过第二通信芯片使处理芯片开始基于不同于第一采集参数的第二采集参数采集并存储异常信号;
响应于处理芯片完成异常信号的采集并存储,而基于待测系统指示测试继续或测试中止,来基于第一采集参数继续采集并存储阈值数量的正常信号后停止工作、或直接停止工作;
响应于处理芯片停止工作,而将采集并存储的正常信号和异常信号通过上位机以彼此不同的形式示出。
在一些实施方式中,方法还包括执行以下步骤:
使用连接到处理芯片和第二通信芯片的电源模块为处理芯片和第二通信芯片供电,其中电源模块由处理芯片执行上电时序控制。
在一些实施方式中,从待测系统将待测信号通过焊接测试点导入处理芯片包括:从待测系统将多个待测信号通过焊线固定到对应的多个焊接测试点,以电性连接到处理芯片的不同通用输入输出总线上。
在一些实施方式中,使处理芯片基于待测信号设置第一采集参数包括:使处理芯片基于待测信号的信号速率设置特定采样频率;基于第一采集参数采集并存储正常信号包括:基于特定采样频率采集并存储正常信号。
在一些实施方式中,基于不同于第一采集参数的第二采集参数采集并存储异常信号包括:在全频率上采集并存储异常信号。
在一些实施方式中,采集并存储正常信号/异常信号包括:采集并存储正常信号/异常信号的信号电压数据和与信号电压数据相对应的采样时间。
在一些实施方式中,将采集并存储的正常信号和异常信号通过上位机以彼此不同的形式示出包括:将采集并存储的正常信号和异常信号的信号电压数据和采样时间数据对在上位机上以平面坐标系形式示出。
在一些实施方式中,处理芯片和第二通信芯片之间以内部集成电路总线连接;处理芯片和上位机之间以串行总线连接;第二通信芯片和待测系统之间以串行总线连接。
在一些实施方式中,待测系统内部包括第一通信芯片;第二通信芯片和第一通信芯片之间以串行总线连接;待测系统指示测试启动、测试异常、测试继续、或测试中止均为第一通信芯片指示测试启动、测试异常、测试继续、或测试中止。
本发明例公开所述的装置、设备等可为各种电子终端设备,例如手机、个人数字助理(PDA)、平板电脑(PAD)、智能电视等,也可以是大型终端设备,如服务器等,因此本发明实施例公开的保护范围不应限定为某种特定类型的装置、设备。本发明实施例公开所述的客户端可以是以电子硬件、计算机软件或两者的组合形式应用于上述任意一种电子终端设备中。
从上述实施例可以看出,本发明实施例提供的触发式信号采集装置,通过从待测系统将待测信号通过焊接测试点导入处理芯片,并使处理芯片基于待测信号设置第一采集参数;响应于待测系统指示测试启动,而通过连接到待测系统和处理芯片的第二通信芯片使处理芯片开始基于第一采集参数采集并存储正常信号;响应于待测系统指示测试异常,而通过第二通信芯片使处理芯片开始基于不同于第一采集参数的第二采集参数采集并存储异常信号;响应于处理芯片完成异常信号的采集并存储,而基于待测系统指示测试继续或测试中止,来基于第一采集参数继续采集并存储阈值数量的正常信号后停止工作、或直接停止工作;响应于处理芯片停止工作,而将采集并存储的正常信号和异常信号通过上位机以彼此不同的形式示出的技术方案,能够在发生概率性问题时自动定位问题,节省人工并提升效率。
需要特别指出的是,上述装置的实施例采用了所述触发式信号采集方法的实施例来具体说明各模块的工作过程,本领域技术人员能够很容易想到,将这些模块应用到所述触发式信号采集方法的其他实施例中。当然,由于所述触发式信号采集方法实施例中的各个步骤均可以相互交叉、替换、增加、删减,因此,这些合理的排列组合变换之于所述装置也应当属于本发明的保护范围,并且不应将本发明的保护范围局限在所述实施例之上。
以上是本发明公开的示例性实施例,但是应当注意,在不背离权利要求限定的本发明实施例公开的范围的前提下,可以进行多种改变和修改。根据这里描述的公开实施例的方法权利要求的功能、步骤和/或动作不需以任何特定顺序执行。此外,尽管本发明实施例公开的元素可以以个体形式描述或要求,但除非明确限制为单数,也可以理解为多个。
所属领域的普通技术人员应当理解:以上任何实施例的讨论仅为示例性的,并非旨在暗示本发明实施例公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子;在本发明实施例的思路下,以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合,并存在如上所述的本发明实施例的不同方面的许多其它变化,为了简明它们没有在细节中提供。因此,凡在本发明实施例的精神和原则之内,所做的任何省略、修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明实施例的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种触发式信号采集方法,其特征在于,包括执行以下步骤:
从待测系统将待测信号通过焊接测试点导入处理芯片,并使所述处理芯片基于所述待测信号设置第一采集参数;
响应于待测系统指示测试启动,而通过连接到待测系统和所述处理芯片的第二通信芯片使所述处理芯片开始基于所述第一采集参数采集并存储正常信号;
响应于待测系统指示测试异常,而通过所述第二通信芯片使所述处理芯片开始基于不同于所述第一采集参数的第二采集参数采集并存储异常信号;
响应于所述处理芯片完成所述异常信号的采集并存储,而基于待测系统指示测试继续或测试中止,来基于所述第一采集参数继续采集并存储阈值数量的正常信号后停止工作、或直接停止工作;
响应于所述处理芯片停止工作,而将采集并存储的正常信号和异常信号通过上位机以彼此不同的形式示出。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括执行以下步骤:
使用连接到所述处理芯片和所述第二通信芯片的电源模块为所述处理芯片和所述第二通信芯片供电,其中所述电源模块由所述处理芯片执行上电时序控制。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,从待测系统将待测信号通过焊接测试点导入处理芯片包括:从待测系统将多个待测信号通过焊线固定到对应的多个所述焊接测试点,以电性连接到所述处理芯片的不同通用输入输出总线上。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,使所述处理芯片基于所述待测信号设置第一采集参数包括:使所述处理芯片基于所述待测信号的信号速率设置特定采样频率;
基于所述第一采集参数采集并存储正常信号包括:基于所述特定采样频率采集并存储正常信号。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,基于不同于所述第一采集参数的第二采集参数采集并存储异常信号包括:在全频率上采集并存储异常信号。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,采集并存储正常信号/异常信号包括:采集并存储正常信号/异常信号的信号电压数据和与所述信号电压数据相对应的采样时间。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,将采集并存储的正常信号和异常信号通过上位机以彼此不同的形式示出包括:将采集并存储的正常信号和异常信号的所述信号电压数据和所述采样时间数据对在所述上位机上以平面坐标系形式示出。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述处理芯片和所述第二通信芯片之间以内部集成电路总线连接;所述处理芯片和所述上位机之间以串行总线连接;所述第二通信芯片和待测系统之间以串行总线连接。
9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,待测系统内部包括第一通信芯片;所述第二通信芯片和所述第一通信芯片之间以串行总线连接;待测系统指示测试启动、测试异常、测试继续、或测试中止均为所述第一通信芯片指示测试启动、测试异常、测试继续、或测试中止。
10.一种触发式信号采集装置,其特征在于,包括:
处理器;
控制器,存储有所述处理器可运行的程序代码,所述处理器在运行所述程序代码时执行以下步骤:
从待测系统将待测信号通过焊接测试点导入处理芯片,并使所述处理芯片基于所述待测信号设置第一采集参数;
响应于待测系统指示测试启动,而通过连接到待测系统和所述处理芯片的第二通信芯片使所述处理芯片开始基于所述第一采集参数采集并存储正常信号;
响应于待测系统指示测试异常,而通过所述第二通信芯片使所述处理芯片开始基于不同于所述第一采集参数的第二采集参数采集并存储异常信号;
响应于所述处理芯片完成所述异常信号的采集并存储,而基于待测系统指示测试继续或测试中止,来基于所述第一采集参数继续采集并存储阈值数量的正常信号后停止工作、或直接停止工作;
响应于所述处理芯片停止工作,而将采集并存储的正常信号和异常信号通过上位机以彼此不同的形式示出。
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Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070120831A1 (en) * 2005-11-28 2007-05-31 Mahowald Peter H Neutralizing elecromagnetic noise for a capacitive input device
CN101072374A (zh) * 2007-06-20 2007-11-14 中兴通讯股份有限公司 多媒体系统的自动化测试方法
CN103744009A (zh) * 2013-12-17 2014-04-23 记忆科技(深圳)有限公司 一种串行传输芯片测试方法、系统及集成芯片
CN104200109A (zh) * 2014-09-09 2014-12-10 南车株洲电力机车有限公司 一种城轨车辆空调系统故障诊断方法和装置
CN107621988A (zh) * 2017-09-06 2018-01-23 郑州云海信息技术有限公司 一种dc测试中宕机故障定位方法及系统
CN111949538A (zh) * 2020-08-14 2020-11-17 Oppo广东移动通信有限公司 数据分析方法、设备及系统
CN112084108A (zh) * 2020-08-28 2020-12-15 山东英信计算机技术有限公司 一种测试脚本生成方法、装置及相关组件
CN112698182A (zh) * 2020-12-10 2021-04-23 Oppo广东移动通信有限公司 治具上电时序的监测方法及装置、设备、存储介质和系统

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070120831A1 (en) * 2005-11-28 2007-05-31 Mahowald Peter H Neutralizing elecromagnetic noise for a capacitive input device
CN101072374A (zh) * 2007-06-20 2007-11-14 中兴通讯股份有限公司 多媒体系统的自动化测试方法
CN103744009A (zh) * 2013-12-17 2014-04-23 记忆科技(深圳)有限公司 一种串行传输芯片测试方法、系统及集成芯片
CN104200109A (zh) * 2014-09-09 2014-12-10 南车株洲电力机车有限公司 一种城轨车辆空调系统故障诊断方法和装置
CN107621988A (zh) * 2017-09-06 2018-01-23 郑州云海信息技术有限公司 一种dc测试中宕机故障定位方法及系统
CN111949538A (zh) * 2020-08-14 2020-11-17 Oppo广东移动通信有限公司 数据分析方法、设备及系统
CN112084108A (zh) * 2020-08-28 2020-12-15 山东英信计算机技术有限公司 一种测试脚本生成方法、装置及相关组件
CN112698182A (zh) * 2020-12-10 2021-04-23 Oppo广东移动通信有限公司 治具上电时序的监测方法及装置、设备、存储介质和系统

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