CN115083510B - 固态硬盘测试方法、装置、存储介质、电源及电子设备 - Google Patents
固态硬盘测试方法、装置、存储介质、电源及电子设备 Download PDFInfo
- Publication number
- CN115083510B CN115083510B CN202210866031.XA CN202210866031A CN115083510B CN 115083510 B CN115083510 B CN 115083510B CN 202210866031 A CN202210866031 A CN 202210866031A CN 115083510 B CN115083510 B CN 115083510B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- test
- ssd
- sample data
- power supply
- test sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
Abstract
本发明公开一种固态硬盘测试方法、装置、存储介质及电子设备，通过创建第一测试样本数据并将第一测试样本数据写入待测试的SSD中后，对SSD进行随机操作测试，能够模拟SSD在实际场景中出现的不同情况的操作，同时，在测试的过程中当接收到关闭信号时，则发出关闭电源指令至电源切断SSD的供电，在确认SSD掉电后再接收开启信号，发出开启电源指令至电源开启SSD的供电，实现电源掉电和上电的自动控制，从而提高了测试效率高，减少人力测试投入，并且测试过程能够模拟SSD使用过程中的不同场景下的掉电异常，提高异常测试覆盖率，实现对固态硬盘掉电数据保护能力的高效率自动化测试。
Description
技术领域
本发明涉及存储器测试领域，特别是涉及一种固态硬盘测试方法、装置、存储介质、电源及电子设备。
背景技术
SSD(Solid State Disk，固态硬盘)的工作环境存在多种不同的异常。其中，最常见的一种异常是突然断电。为保证其内部数据正确可靠，SSD通常都具有掉电数据保护能力。由于SSD实际工作环境中的掉电情况可能出现在读、写以及静置等状态下，使得FW（FirmWare，固件）和HW（HardWare，硬件）要考虑到不同情况下的掉电场景。需要通过大量测试工作来保证数据的掉电可靠性。
针对上述情况的测试项目被称为SSD掉电测试。也就是验证SSD掉电数据保护能力的测试，它在SSD测试工作中是一个重要的环节。目前的测试方法为：先由测试人员将数据写入到SSD中，然后再对SSD进行掉电操作，最后在SSD恢复上电并接入操作系统后，再验证写入数据是否正确。但是该测试方法实现的执行方式效率低下，并且覆盖点少，导致测试不完整，对产品质量的监控存在风险。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是：提供一种固态硬盘测试方法、装置、存储介质、电源及电子设备，实现对固态硬盘掉电数据保护能力的高效率自动化测试。
为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：
一种固态硬盘测试方法，包括步骤：
创建第一测试样本数据，将所述第一测试样本数据写入待测试的SSD中；
对待测试的所述SSD进行随机操作测试，在所述随机操作测试的过程中，判断是否接收到关闭信号，若是，则发出关闭电源指令用于指示电源切断所述SSD的供电；判断是否接收到开启信号，若是，则发出开启电源指令用于指示电源为所述SSD供电；
读取完成测试的所述SSD中的所述第一测试样本数据，得到第二测试样本数据；根据所述第一测试样本数据和第二测试样本数据得到第一测试结果。
为了解决上述技术问题，本发明采用的另一技术方案为：
一种固态硬盘测试电源，包括微控制器、电源装置、固态继电器、MOS管和二极管；
所述微控制器的输入端用于接收关闭电源指令和开启电源指令；
所述微控制器的输出端与所述MOS管的栅极连接；
所述MOS管的漏极分别与所述二极管的正极以及固态继电器的负极输入端连接，所述MOS管的源极接地；
所述固态继电器的正极输入端以及所述二极管的负极用于与基准电压连接；
所述固态继电器的控制端设置于所述电源装置的输出端。
为了解决上述技术问题，本发明采用的另一技术方案为：
一种固态硬盘测试装置，包括：
创建模块，用于创建第一测试样本数据，将所述第一测试样本数据写入待测试的SSD中；
测试模块，用于对待测试的所述SSD进行随机操作测试；
控制模块，用于在所述随机操作测试的过程中，接收关闭信号，发出关闭电源指令用于指示电源切断所述SSD的供电；接收开启信号，发出开启电源指令用于指示电源为所述SSD供电；
读取模块，用于读取完成测试的所述SSD中的所述第一测试样本数据，得到第二测试样本数据；根据所述第一测试样本数据和第二测试样本数据得到第一测试结果。
为了解决上述技术问题，本发明采用的另一技术方案为：
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述的一种固态硬盘测试方法中的各个步骤。
一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述一种固态硬盘测试方法中的各个步骤。
本发明的有益效果在于：通过创建第一测试样本数据并将第一测试样本数据写入待测试的SSD中后，对SSD进行随机操作测试，能够模拟SSD在实际场景中出现的不同情况的操作，同时，在测试的过程中当接收到关闭信号时，则发出关闭电源指令至电源切断SSD的供电，在确认SSD掉电后再接收开启信号，发出开启电源指令至电源开启SSD的供电，实现电源掉电和上电的自动控制，从而提高了测试效率高，减少人力测试投入，并且测试过程能够模拟SSD使用过程中的不同场景下的掉电异常，提高异常测试覆盖率，实现对固态硬盘掉电数据保护能力的高效率自动化测试。
附图说明
图1为本发明实施例的一种固态硬盘测试方法的步骤流程图；
图2为本发明实施例的一种固态硬盘测试装置的结构示意图；
图3为本发明实施例的一种电子设备的结构示意图；
图4为本发明实施例的一种固态硬盘测试方法的另一骤流程图；
图5为本发明实施例的一种固态硬盘测试电源的微控制器结构示意图；
图6为本发明实施例的一种固态硬盘测试电源的控制电路示意图；
图7为本发明实施例的一种固态硬盘测试方法对应的测试环境组网结构示意图。
具体实施方式
为详细说明本发明的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。
请参照图1，一种固态硬盘测试方法，包括步骤：
创建第一测试样本数据，将所述第一测试样本数据写入待测试的SSD中；
对待测试的所述SSD进行随机操作测试，在所述随机操作测试的过程中，判断是否接收到关闭信号，若是，则发出关闭电源指令用于指示电源切断所述SSD的供电；判断是否接收到开启信号，若是，则发出开启电源指令用于指示电源为所述SSD供电；
读取完成测试的所述SSD中的所述第一测试样本数据，得到第二测试样本数据；根据所述第一测试样本数据和第二测试样本数据得到第一测试结果。
由上述描述可知，本发明的有益效果在于：通过创建第一测试样本数据并将第一测试样本数据写入待测试的SSD中后，对SSD进行随机操作测试，能够模拟SSD在实际场景中出现的不同情况的操作，同时，在测试的过程中当接收到关闭信号时，则发出关闭电源指令至电源切断SSD的供电，在确认SSD掉电后再接收开启信号，发出开启电源指令至电源开启SSD的供电，实现电源掉电和上电的自动控制，从而提高了测试效率高，减少人力测试投入，并且测试过程能够模拟SSD使用过程中的不同场景下的掉电异常，提高异常测试覆盖率，实现对固态硬盘掉电数据保护能力的高效率自动化测试。
进一步地，所述创建第一测试样本数据之前包括：
获取待测试的所述SSD的异常记录信息，得到第一信息数据；
所述根据所述第一测试样本数据和所述第二测试样本数据得到第一测试结果之后包括：
判断所述第一测试结果是否合格，若是，则获取完成测试的所述SSD的异常记录信息，得到第二信息数据；若否，则结束测试；
根据所述第一信息数据和第二信息数据得到第二测试结果。
由上述描述可知，通过获取SSD的异常记录信息得到第一信息数据，在完成测试并判断第一测试结果为合格时，再获取完成测试的SSD的异常记录信息得到第二信息数据，若第二信息数据与第一信息数据不一致，则表明有差异记录的SSD出现了异常情况并上报错误，从而提高了异常测试覆盖率，使得SSD测试的精度提升。
进一步地，所述创建第一测试样本数据之前还包括：
获取预设的测试循环次数；
所述根据所述第一信息数据和第二信息数据得到第二测试结果之后包括：
判断所述第二测试结果是否合格，若是，则判断当前测试次数是否达到所述测试循环次数，若未达到，则执行所述创建第一测试样本数据的步骤，直至当前测试次数达到所述测试循环次数；若否，则结束测试；
由上述描述可知，根据不同SSD产品的质量要求设置不同的测试循环次数，能够满足不同SSD产品的测试需求，并且当完成一次测试流程且第一测试结果和第二测试结果均为合格的情况下，若当前测试次数未达到设置测试循环次数则再次进入测试步骤，直至达到设置测试循环次数，通过循环测试，极大提高了SSD测试的覆盖率，减少误测的问题。
进一步地，所述创建第一测试样本数据包括：
通过写随机数据生成所述第一测试样本数据。
由上述描述可知，采用写随机数据的方式生成第一测试样本数据，使得每一次测试的过程中生成的第一测试样本数据均是不同的，而采用不同的测试数据进行测试相比于采用相同的测试数据进行测试，更能够提高测试的覆盖率。
进一步地，所述对待测试的所述SSD进行随机操作测试包括：
对所述SSD随机执行读操作、写操作、读写混合操作或空操作。
由上述描述可知，通过对SSD随机进行读操作、写操作、读写混合操作或空操作，从而能够模拟SSD在实际使用过程中的不同操作情况，提高测试的覆盖率。
进一步地，所述接收开启信号之前包括：
判断所述SSD的状态是否为离线，若是，则接收所述开启信号。
由上述描述可知，在接收开启信号之前判断SSD是否处于离线状态，只有当SSD处于离线状态时，才接收开启信号，从而避免了当SSD仍处于在线状态时再次上电，使得测试中的SSD未进入掉电状态，出现将异常SSD误测为正常SSD的问题。
为了解决上述技术问题，本发明采用的另一技术方案为：
包括微控制器、电源装置、固态继电器、MOS管和二极管；
所述微控制器的输入端用于接收关闭电源指令和开启电源指令；
所述微控制器的输出端与所述MOS管的栅极连接；
所述MOS管的漏极分别与所述二极管的正极以及固态继电器的负极输入端连接，所述MOS管的源极接地；
所述固态继电器的正极输入端以及所述二极管的负极用于与基准电压连接；
所述固态继电器的控制端设置于所述电源装置的输出端。
为了解决上述技术问题，本发明采用的另一技术方案为：
请参照图2，一种固态硬盘测试装置，包括：
创建模块，用于创建第一测试样本数据，将所述第一测试样本数据写入待测试的SSD中；
测试模块，用于对待测试的所述SSD进行随机操作测试；
控制模块，用于在所述随机操作测试的过程中，接收关闭信号，发出关闭电源指令用于指示电源切断所述SSD的供电；接收开启信号，发出开启电源指令用于指示电源为所述SSD供电；
读取模块，用于读取完成测试的所述SSD中的所述第一测试样本数据，得到第二测试样本数据；根据所述第一测试样本数据和第二测试样本数据得到第一测试结果。
为了解决上述技术问题，本发明采用的另一技术方案为：
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述的一种固态硬盘测试方法中的各个步骤。
为了解决上述技术问题，本发明采用的另一技术方案为：
请参照图3，一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述一种固态硬盘测试方法中的各个步骤。
本发明上述固态硬盘测试方法、装置、存储介质、电源及电子设备能够适用于设置有SATA（SerialAdvanced Technology Attachment，串行ATA硬盘接口规范）的硬盘的测试，以下通过具体实施方式进行说明：
实施例一
请参照图1和图4，一种固态硬盘测试方法，包括步骤：
S0、获取预设的测试循环次数；如预设的测试循环次数为5次，则在未出现测试异常的情况下，共执行5轮测试；
S1、获取待测试的所述SSD的异常记录信息，得到第一信息数据；具体的，测试脚本通过smartctr命令获取所有测试的SSD盘片的关键SMART（Self-Monitoring Analysis andReporting Technology，自我监测、分析及报告技术）中异常记录项的信息，并记录为所述第一信息数据，记为数据A；
S2、创建第一测试样本数据，将所述第一测试样本数据写入待测试的SSD中；具体的，测试脚本在测试PC的系统盘区域中通过写随机数据的方式生成所述第一测试样本数据，命名为File1；完成创建后，测试脚本将所述第一测试样本数据File1写入到所有待测试的SSD盘中；其中，对于不具有PLP（Packet Level Protocol，分组级协议）功能的测试盘，需要下发协议flush命令让测试的SSD盘将缓存中的数据下刷到NAND中；
S3、对待测试的所述SSD进行随机操作测试，在所述随机操作测试的过程中，判断是否接收到关闭信号，若是，则发出关闭电源指令用于指示电源切断所述SSD的供电；判断是否接收到开启信号，若是，则发出开启电源指令用于指示电源为所述SSD供电；
具体的，试脚本对每张测试SSD未写入所述第一测试样本数据的区域再次进行操作，所述操作方式为读操作、写操作、读写混合操作或空操作这四种方式中的任一种操作；即所述第一测试样本数据不会写满SSD，测试脚本对写入区域以外的区域进行随机操作；同时，在进行所述随机操作测试的过程中，测试脚本先发送所述关闭信号，并且判断所述SSD的状态为离线后再发送所述开启信号，实现SSD的掉电和恢复上电；当SSD重新上电后，测试脚本通过fdisk命令检查系统上的所有SSD的状态，如测试SSD被系统识别，将会打印出测试SSD的信息；如果未打印出测试SSD的信息，那么代表该片测试SSD掉电后不能恢复正常，则上报错误；
S4、读取完成测试的所述SSD中的所述第一测试样本数据，得到第二测试样本数据；根据所述第一测试样本数据和第二测试样本数据得到第一测试结果；如将所述第二测试样本数据记为文件File2，即比较数据文件File1与数据文件File2中的数据是否一致，若数据不一致，则表明该SSD盘的掉电数据保护能力较弱，所述第一测试结果为不合格，并上报错误；
S5、判断所述第一测试结果是否合格，若是，则获取完成测试的所述SSD的异常记录信息，得到第二信息数据；根据所述第一信息数据和第二信息数据得到第二测试结果；若否，则结束测试；即当数据文件File1与数据文件File2中的数据一致时，再获取所有测试的SSD盘片的关键SMART中异常记录项的信息，并记录为所述第二信息数据，记为数据B；当数据B与数据A不相同时，则说明差异记录的SSD出现了异常情况，所述第二测试结果为不合格，并上报错误；
S6、判断所述第二测试结果是否合格，若是，则判断当前测试次数是否达到所述测试循环次数，若未达到，则执行所述创建第一测试样本数据的步骤，直至当前测试次数达到所述测试循环次数；若否，则结束测试。
实施例二
请参照图2，一种固态硬盘测试装置，包括：
创建模块，用于创建第一测试样本数据，将所述第一测试样本数据写入待测试的SSD中；
测试模块，用于对待测试的所述SSD进行随机操作测试；
控制模块，用于在所述随机操作测试的过程中，接收关闭信号，发出关闭电源指令用于指示电源切断所述SSD的供电；接收开启信号，发出开启电源指令用于指示电源为所述SSD供电；
读取模块，用于读取完成测试的所述SSD中的所述第一测试样本数据，得到第二测试样本数据；根据所述第一测试样本数据和第二测试样本数据得到第一测试结果。
实施例三
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如实施例一所述的一种固态硬盘测试方法中的各个步骤。
实施例四
请参照图3，一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如实施例一所述一种固态硬盘测试方法中的各个步骤。
实施例五
请参照图5和图6，一种固态硬盘测试电源，包括微控制器、电源装置、固态继电器、MOS管和二极管；所述微控制器包括型号为STM32F100C8的单片机；所述固态继电器的型号为G3MC-202P；
所述微控制器的输入端用于接收关闭电源指令和开启电源指令；所述微控制器的输出端与所述MOS管的栅极连接，即所述微控制器的SVALVE_OUT3与所述MOS管的栅极连接，两者之间还串连有电阻；所述MOS管的漏极分别与所述二极管的正极以及固态继电器的负极输入端连接，所述MOS管的源极接地；所述固态继电器的正极输入端以及所述二极管的负极用于与基准电压连接；所述固态继电器的控制端设置于所述电源装置的输出端；电路中还包括电阻以及电容等其他电子元器件，以使电路正常运行；
其中，请参照图7，所述固态硬盘测试电源与PC终端以及待测试的SSD盘组成测试环境组网结构；所述PC终端包括实施例三中所述计算机程序，且支持SATA热插拔功能；
上述测试环境组网具体工作原理如下：
按照测试组网图搭建测试环境，需要将测试SSD使用的SATA接口热插拔开启(部分PC主板默认关闭)，SATA连接线主要是指开启SATA热插拔功能的传输链接线路，包含SATA直连线，HBA卡转接线等；所述PC终端开机上电，并能够正常识别到待测试的SSD；通过所述单片机的RX/TX端口与所述PC终端的串口连接以进行通信，当所述单片机在接收到所述PC终端发送的开启/关闭电源指令后，所述单片机通过调整SVALVE_OUT3引脚输出的电平值，控制所述固态继电器中标号为3与4之间的通断来实现电源的开启/关闭功能。
综上所述，本发明提供的一种固态硬盘测试方法、装置、存储介质及电子设备，通过创建第一测试样本数据并将第一测试样本数据写入待测试的SSD中后，对SSD进行随机操作测试，能够模拟SSD在实际场景中出现的不同情况的操作，同时，在测试的过程中当接收到关闭信号时，则发出关闭电源指令至电源切断SSD的供电，在确认SSD掉电后再接收开启信号，发出开启电源指令至电源开启SSD的供电，实现电源掉电和上电的自动控制，从而提高了测试效率高，减少人力测试投入，并且测试过程能够模拟SSD使用过程中的不同场景下的掉电异常，并通过测试前与测试后获取的SMART信息以及测试样本数据之间的对比得到测试结果，提高异常测试覆盖率，实现对固态硬盘掉电数据保护能力的高效率自动化测试。
在本申请所提供的上述实施例中，应该理解到，所揭露的方法、装置、计算机可读存储介质以及电子设备，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个组件或模块可以结合或者可以集成到另一个装置，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或组件或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的组件可以是或者也可以不是物理上分开的，作为组件显示的部件可以是或者也可以不是物理模块，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络模块上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部组件来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理模块中，也可以是各个组件单独物理存在，也可以两个或两个以上模块集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。
所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器（ROM，Read-OnlyMemory）、随机存取存储器（RAM，Random Access Memory）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
需要说明的是，对于前述的各方法实施例，为了简便描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明，某些步骤可以采用其它顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作和模块并不一定都是本发明所必须的。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其它实施例的相关描述。
以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (8)
1.一种固态硬盘测试方法，其特征在于，包括步骤：
创建第一测试样本数据，将所述第一测试样本数据写入待测试的SSD中；
对待测试的所述SSD进行随机操作测试，在所述随机操作测试的过程中，判断是否接收到关闭信号，若是，则发出关闭电源指令用于指示电源切断所述SSD的供电；判断是否接收到开启信号，若是，则发出开启电源指令用于指示电源为所述SSD供电；
读取完成测试的所述SSD中的所述第一测试样本数据，得到第二测试样本数据；根据所述第一测试样本数据和第二测试样本数据得到第一测试结果；
所述创建第一测试样本数据之前包括：
获取待测试的所述SSD的异常记录信息，得到第一信息数据；
所述根据所述第一测试样本数据和所述第二测试样本数据得到第一测试结果之后包括：
判断所述第一测试结果是否合格，若是，则获取完成测试的所述SSD的异常记录信息，得到第二信息数据；若否，则结束测试；
根据所述第一信息数据和第二信息数据得到第二测试结果；
所述创建第一测试样本数据之前还包括：
获取预设的测试循环次数；
所述根据所述第一信息数据和第二信息数据得到第二测试结果之后包括：
判断所述第二测试结果是否合格，若是，则判断当前测试次数是否达到所述测试循环次数，若未达到，则执行所述创建第一测试样本数据的步骤，直至当前测试次数达到所述测试循环次数；若否，则结束测试。
2.根据权利要求1所述的一种固态硬盘测试方法，其特征在于，所述创建第一测试样本数据包括：
通过写随机数据生成所述第一测试样本数据。
3.根据权利要求1所述的一种固态硬盘测试方法，其特征在于，所述对待测试的所述SSD进行随机操作测试包括：
对所述SSD随机执行读操作、写操作、读写混合操作或空操作。
4.根据权利要求1所述的一种固态硬盘测试方法，其特征在于，所述接收到开启信号之前包括：
判断所述SSD的状态是否为离线，若是，则接收所述开启信号。
5.一种固态硬盘测试电源，应用于权利要求1所述的一种固态硬盘测试方法中，其特征在于，包括微控制器、电源装置、固态继电器、MOS管和二极管；
所述微控制器的输入端用于接收关闭电源指令和开启电源指令；
所述微控制器的输出端与所述MOS管的栅极连接；
所述MOS管的漏极分别与所述二极管的正极以及固态继电器的负极输入端连接，所述MOS管的源极接地；
所述固态继电器的正极输入端以及所述二极管的负极用于与基准电压连接；
所述固态继电器的控制端设置于所述电源装置的输出端。
6.一种固态硬盘测试装置，其特征在于，包括：
创建模块，用于创建第一测试样本数据，将所述第一测试样本数据写入待测试的SSD中；
所述创建第一测试样本数据之前包括：
获取待测试的所述SSD的异常记录信息，得到第一信息数据；
测试模块，用于对待测试的所述SSD进行随机操作测试；
控制模块，用于在所述随机操作测试的过程中，接收关闭信号，发出关闭电源指令用于指示电源切断所述SSD的供电；接收开启信号，发出开启电源指令用于指示电源为所述SSD供电；
读取模块，用于读取完成测试的所述SSD中的所述第一测试样本数据，得到第二测试样本数据；根据所述第一测试样本数据和第二测试样本数据得到第一测试结果；
所述根据所述第一测试样本数据和所述第二测试样本数据得到第一测试结果之后包括：
判断所述第一测试结果是否合格，若是，则获取完成测试的所述SSD的异常记录信息，得到第二信息数据；若否，则结束测试；
根据所述第一信息数据和第二信息数据得到第二测试结果；
所述创建第一测试样本数据之前还包括：
获取预设的测试循环次数；
所述根据所述第一信息数据和第二信息数据得到第二测试结果之后包括：
判断所述第二测试结果是否合格，若是，则判断当前测试次数是否达到所述测试循环次数，若未达到，则执行所述创建第一测试样本数据的步骤，直至当前测试次数达到所述测试循环次数；若否，则结束测试。
7.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-4任意一项所述的一种固态硬盘测试方法中的各个步骤。
8.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-4任意一项所述一种固态硬盘测试方法中的各个步骤。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202210866031.XA CN115083510B (zh) | 2022-07-22 | 2022-07-22 | 固态硬盘测试方法、装置、存储介质、电源及电子设备 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202210866031.XA CN115083510B (zh) | 2022-07-22 | 2022-07-22 | 固态硬盘测试方法、装置、存储介质、电源及电子设备 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN115083510A CN115083510A (zh) | 2022-09-20 |
| CN115083510B true CN115083510B (zh) | 2023-01-10 |
Family
ID=83243031
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202210866031.XA Active CN115083510B (zh) | 2022-07-22 | 2022-07-22 | 固态硬盘测试方法、装置、存储介质、电源及电子设备 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN115083510B (zh) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117009157A (zh) * | 2023-06-30 | 2023-11-07 | 深圳市晶存科技有限公司 | 一种模拟游戏场景的device测试方法、控制器、系统和介质 |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102411993A (zh) * | 2011-11-24 | 2012-04-11 | 曙光信息产业股份有限公司 | 固态硬盘的测试方法和装置 |
| CN104658611A (zh) * | 2013-11-25 | 2015-05-27 | 深圳市国微电子有限公司 | 一种对固态硬盘进行异常掉电测试的方法及系统 |
| CN108009062A (zh) * | 2017-12-14 | 2018-05-08 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种企业级ssd系统掉电功能测试方法、装置及系统 |
| CN109766230A (zh) * | 2019-01-09 | 2019-05-17 | 深圳忆联信息系统有限公司 | 单盘ssd异常掉电测试方法、装置和计算机设备 |
| CN110931076A (zh) * | 2019-11-24 | 2020-03-27 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种固态硬盘异常上下电测试装置及方法 |
| CN111105840A (zh) * | 2019-12-27 | 2020-05-05 | 合肥大唐存储科技有限公司 | 一种固态硬盘异常掉电的测试方法、装置和系统 |
| CN111782446A (zh) * | 2020-06-30 | 2020-10-16 | 深圳忆联信息系统有限公司 | Ssd正常掉电的测试方法、装置、计算机设备及存储介质 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9176883B2 (en) * | 2009-04-30 | 2015-11-03 | HGST Netherlands B.V. | Storage of data reference blocks and deltas in different storage devices |
| CN110569158A (zh) * | 2019-08-30 | 2019-12-13 | 东莞记忆存储科技有限公司 | 测试ssd随机场景下异常掉电的方法、装置及计算机设备 |
| CN210245076U (zh) * | 2019-09-27 | 2020-04-03 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种用于自动化测试ssd上下电的装置 |
| CN111081309B (zh) * | 2019-12-16 | 2022-03-22 | 湖南磐石科技有限公司 | 固态硬盘测试系统 |
-
2022
- 2022-07-22 CN CN202210866031.XA patent/CN115083510B/zh active Active
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102411993A (zh) * | 2011-11-24 | 2012-04-11 | 曙光信息产业股份有限公司 | 固态硬盘的测试方法和装置 |
| CN104658611A (zh) * | 2013-11-25 | 2015-05-27 | 深圳市国微电子有限公司 | 一种对固态硬盘进行异常掉电测试的方法及系统 |
| CN108009062A (zh) * | 2017-12-14 | 2018-05-08 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种企业级ssd系统掉电功能测试方法、装置及系统 |
| CN109766230A (zh) * | 2019-01-09 | 2019-05-17 | 深圳忆联信息系统有限公司 | 单盘ssd异常掉电测试方法、装置和计算机设备 |
| CN110931076A (zh) * | 2019-11-24 | 2020-03-27 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种固态硬盘异常上下电测试装置及方法 |
| CN111105840A (zh) * | 2019-12-27 | 2020-05-05 | 合肥大唐存储科技有限公司 | 一种固态硬盘异常掉电的测试方法、装置和系统 |
| CN111782446A (zh) * | 2020-06-30 | 2020-10-16 | 深圳忆联信息系统有限公司 | Ssd正常掉电的测试方法、装置、计算机设备及存储介质 |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| NAND闪存固态硬盘空间环境效应分析及测试系统设计;李鹏 等;《航天器环境工程》;20181231;581-587 * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN115083510A (zh) | 2022-09-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN111081309B (zh) | 固态硬盘测试系统 | |
| CN112017723B (zh) | 存储器的掉电测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 | |
| CN111508551B (zh) | 固态硬盘多功能自动测试系统及其方法 | |
| CN115083510B (zh) | 固态硬盘测试方法、装置、存储介质、电源及电子设备 | |
| CN111653307A (zh) | 固态硬盘的数据完整性检测方法、系统、设备及存储介质 | |
| US20130111268A1 (en) | Testing device capable of simulating plugging and unplugging operations and method thereof | |
| CN111104275A (zh) | 一种闪断ssd硬盘电源的自动化测试方法及装置 | |
| CN114530188A (zh) | 一种半导体测试方法、系统及存储介质 | |
| CN107516546B (zh) | 一种随机存储器的在线检测装置及方法 | |
| CN114860528A (zh) | 一种NVMe SSD Nand可靠性测试方法及系统 | |
| CN114265733A (zh) | 固态硬盘异常掉电自动化测试方法及装置 | |
| CN113204456A (zh) | 一种服务器vpp接口的测试方法、治具、装置及设备 | |
| CN111897685A (zh) | 掉电时校验数据的方法、装置、存储介质及电子设备 | |
| CN112559266A (zh) | 固态硬盘测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 | |
| CN111459730A (zh) | 一种Whitley平台下PCH端参数的调整方法及系统 | |
| CN116539992A (zh) | 存储设备在位稳定状态检测装置、方法、逻辑模块及介质 | |
| CN115877113A (zh) | Ssd供电抗干扰能力测试方法、装置、存储介质及系统 | |
| CN100511172C (zh) | 一种板间透传总线的测试装置及方法 | |
| US10922023B2 (en) | Method for accessing code SRAM and electronic device | |
| CN102411527B (zh) | 一种图像处理芯片的检测方法、开发板和检测系统 | |
| CN112486717A (zh) | 一种磁盘数据一致性校验方法、系统、终端及存储介质 | |
| CN110647435A (zh) | 服务器、硬盘远程控制方法及控制组件 | |
| CN111414272B (zh) | 电子装置与电子装置的重置方法 | |
| CN117406934B (zh) | 闪存数据访问方法、电量计算方法、装置及存储介质 | |
| CN113835631B (zh) | 残留平台配置数据删除方法、系统、终端及存储介质 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |