CN110931076A - 一种固态硬盘异常上下电测试装置及方法 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种固态硬盘异常上下电测试装置及方法，包括：供电切换电路，用于切换主供电装置和辅助供电装置作为供电电源通过固态硬盘的DC/DC转换电路对固态硬盘的内部模块供电；供电开关，用于控制主供电装置和辅助供电装置的供电时间；本申请利用供电切换电路和辅助供电装置不仅实现了对固态硬盘的下电测试，还能够确保在主供电装置下电后，由供电切换电路让辅助供电装置继续对固态硬盘除电压检测电路外的模块继续供电，既不会阻碍固态硬盘触发断电保护，也确保了固态硬盘能够完整执行完断电保护，记录期间的执行过程至运行日志中，为后续利用固态硬盘的运行日志分析和完善固态硬盘的断电保护提供了基础，使用户能快速定位问题，提高研发效率。

Description

一种固态硬盘异常上下电测试装置及方法

技术领域

本发明涉及自动化控制领域，特别涉及一种固态硬盘异常上下电测试装置及方法。

背景技术

众所周知，与机械硬盘相比，固态硬盘在速度，功耗，容量，噪声，可靠性等性能方面具有较大优势，在现阶段，尽管前者在价格上有一定优势，但是随着大容量FLASH闪存颗粒(Flash EEPROM Memory，闪存存储器芯片)的出现，固态硬盘的也会越来越低，使其更广泛应用于服务器、存储等设备中。但在服务器和存储领域，企业级固态硬盘不同于消费级固态硬盘，要求固态硬盘异常断电时，能够保证DRAM(Dynamic Random Access Memory，动态随机存存储器)数据刷新保存到FLASH，所对应的FTL表(Flash Translation Layer，闪存转换层)不被破坏，实现下一次固态硬盘正常上电后正常识别和运行，通过固态硬盘主板上的储能电容完成异常掉电时的数据保护。

但是，在固态硬盘前期研发阶段，如何实现固态硬盘的自动化上下电测试，特别是当服务器或者存储设备给固态硬盘断电后，有些为了解决软件开发过程中的异常下电bug问题，检查代码逻辑和功能，保证固态硬盘控制器能够被正常供电和运-行，打印对应的日志和寄存器信息，方便问题定位，是摆在现有软件研发人员面前的主要问题。

为了解决上述问题，需要一种用于模拟固态硬盘异常上下电的测试装置和方法，方便软件定位问题，提高研发的开发效率，缩短固态硬盘产品的研发周期。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种固态硬盘异常上下电测试装置及方法，方便软件定位问题，提高研发的开发效率，缩短固态硬盘产品的研发周期。其具体方案如下：

一种固态硬盘异常上下电测试装置，包括：测试PC机、所述测试PC机的主供电装置、辅助供电装置、供电开关和供电切换电路；

所述供电开关的第一控制端与所述主供电装置连接，所述供电开关的第二控制端与所述辅助供电装置连接，所述主供电装置分别与所述供电切换电路的第一输入端和待测的固态硬盘的电压检测电路连接，所述辅助供电装置与所述供电切换电路的第二输入端连接，所述供电切换电路的输出端连接所述固态硬盘的DC/DC转换电路，所述测试PC机与所述固态硬盘的固态硬盘控制器通信连接；

所述主供电装置和所述辅助供电装置均用于通过所述供电切换电路向所述固态硬盘供电，所述主供电装置还用于为所述测试PC机供电；

所述供电切换电路，用于切换所述主供电装置和所述辅助供电装置作为供电电源通过所述固态硬盘的DC/DC转换电路对固态硬盘的内部模块供电；

所述供电开关，用于控制所述主供电装置和辅助供电装置的供电时间。

可选的，所述固态硬盘的所述DC/DC转换电路向所述固态硬盘的固态硬盘控制器、NAND FLASH和DDR SDRAM供电。

可选的，所述测试PC机，还用于获取所述固态硬盘中的运行日志和内部寄存器数据。

可选的，所述测试PC机通过PCIe3.0 x4接口和相应的U.2转接治具与所述固态硬盘的所述固态硬盘控制器通信连接；

所述主供电装置通过所述PCIe3.0 x4接口和所述U.2转接治具与所述供电切换电路和所述固态硬盘的所述电压检测电路连接。

可选的，所述主供电装置和所述辅助供电装置的输出电压为12V。

可选的，所述供电开关包括：供电电源、第一继电器、第二继电器和MCU；

所述供电电源分别与所述第一继电器、所述第二继电器和所述MCU连接，所述MCU分别与所述第一继电器和所述第二继电器连接，所述第一继电器与所述主供电装置连接，所述第二继电器与所述辅助供电装置连接；

所述供电电源，用于向所述第一继电器、所述第二继电器和所述MCU供电；

所述MCU，用于控制所述第一继电器和所述第二继电器的闭合时间；

所述第一继电器，用于控制所述主供电装置的供电时间；

所述第二继电器，用于控制所述辅助供电装置的供电时间。

可选的，所述主供电装置的开关与所述第一继电器连接，所述第一继电器控制所述主供电装置的开关；

所述主供电装置的输出端分别与所述供电切换电路第一输入端连接和所述固态硬盘的所述电压检测电路连接。

可选的，所述辅助供电装置输出端通过所述第二继电器与所述供电切换电路连接，以向所述固态硬盘供电。

可选的，所述供电切换电路包括第一二极管和第二二极管；

所述第一二极管的阳极作为所述供电切换电路的第一输入端与所述主供电装置连接，所述第一二极管的阴极和所述第二二极管的阴极相连，所述第一二极管的阴极和所述第二二极管的阴极的公共端作为所述供电切换电路的输出端与所述固态硬盘的所述DC/DC转换电路连接，所述第二二极管的阳极作为所述供电切换电路的第二输入端与所述辅助供电装置连接。

本发明还公开了一种固态硬盘异常上下电测试方法，应用于如前述的固态硬盘异常上下电测试装置，包括：

判断上下电循环次数是否大于预设的循环阈值；

若未达到所述循环阈值，则在预设的第一延时时间后，控制主供电装置向待测的固态硬盘供电；

在预设的第二延时时间后，控制辅助供电装置向所述固态硬盘供电；

所述固态硬盘在得电后，与测试PC机正常通信运行预设的第三延时时间后，控制所述主供电装置停止向所述固态硬盘供电；

在预设的第四延时时间后，控制所述辅助供电装置停止向所述固态硬盘供电；

上下电循环次数加一，继续判断上下电循环次数，直至上下电循环次数大于所述循环阈值；

其中，第四延时时间的计时起始点为第三延时时间的结束点。

本发明中，固态硬盘异常上下电测试装置，包括：测试PC机、测试PC机的主供电装置、辅助供电装置、供电开关和供电切换电路；供电开关的第一控制端与主供电装置连接，供电开关的第二控制端与辅助供电装置连接，主供电装置分别与供电切换电路的第一输入端和待测的固态硬盘的电压检测电路连接，辅助供电装置与供电切换电路的第二输入端连接，供电切换电路的输出端连接固态硬盘的DC/DC转换电路，测试PC机与固态硬盘的固态硬盘控制器通信连接；主供电装置和辅助供电装置均用于通过供电切换电路向固态硬盘供电，主供电装置还用于为测试PC机供电；供电切换电路，用于切换主供电装置和辅助供电装置作为供电电源通过固态硬盘的DC/DC转换电路对固态硬盘的内部模块供电；供电开关，用于控制主供电装置和辅助供电装置的供电时间。

本发明利用供电切换电路和辅助供电装置不仅实现了对固态硬盘的下电测试，还能够确保在主供电装置下电后，由供电切换电路让辅助供电装置继续对固态硬盘除电压检测电路外的模块继续供电，既不会阻碍固态硬盘触发断电保护，也确保了固态硬盘能够完整执行完断电保护，记录期间的执行过程至运行日志中，为后续利用固态硬盘的运行日志分析和完善固态硬盘的断电保护过程提供了基础，能够使用户快速定位问题所在，提高研发效率，缩短研发周期。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例公开的一种固态硬盘异常上下电测试装置结构示意图；

图2为本发明实施例公开的另一种固态硬盘异常上下电测试装置结构示意图；

图3为本发明实施例公开的一种固态硬盘异常上下电测试方法了流程示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明实施例公开了一种固态硬盘异常上下电测试装置，参见图1所示，该装置包括：测试PC机1、测试PC机1的主供电装置11、辅助供电装置2、供电开关3和供电切换电路4；

供电开关3的第一控制端与主供电装置11连接，供电开关3的第二控制端与辅助供电装置2连接，主供电装置11分别与供电切换电路4的第一输入端和待测的固态硬盘5的电压检测电路51连接，辅助供电装置2与供电切换电路4的第二输入端连接，供电切换电路4的输出端连接固态硬盘5的DC/DC转换电路53，测试PC机1与固态硬盘5的固态硬盘控制器52通信连接；

主供电装置11和辅助供电装置2均用于通过供电切换电路4向固态硬盘5供电，主供电装置11还用于为测试PC机1供电；

供电切换电路4，用于切换主供电装置11和辅助供电装置2作为供电电源通过固态硬盘5的DC/DC转换电路53对固态硬盘5的内部模块54供电；

供电开关3，用于控制主供电装置11和辅助供电装置2的供电时间。

具体的，供电开关3中内置有驱动程序，能够控制主供电装置11和辅助供电装置2何时为固态硬盘5供电，何时断电，从而模拟固态硬盘5上下电的情景。

具体的，在主供电装置11为固态硬盘5供电的同时也为测试PC机1供电，测试PC机1在得电后，与固态硬盘控制器52进行通信，可以执行数据写入读取等通信内容，以便后续进行上下电测试时，能够模拟实际固态硬盘5运行情况。

具体的，在测试时，供电开关3首先控制主供电装置11为测试PC机1和固态硬盘5进行供电，主供电装置11上电将会触发固态硬盘5的电压检测电路51，使固态硬盘5确认得电开始工作，测试PC机1将开始与固态硬盘5的固态硬盘控制器52通信，模拟固态硬盘5得电工作的状态，主供电装置11通过供电切换电路4的第一输入端和输出端将电力输送至固态硬盘5主板上的DC/DC转换电路53，DC/DC转换电路53能够将主供电装置11的电压转换为固态硬盘5上其它电路所要求的额定工作电压，例如，主供电装置11输出12V电压，DC/DC转换电路53可以将电压转换为0.9V/1.2V/1.8V/2.5V/3.3V等电压，供固态硬盘5主板上的各模块工作。

具体的，固态硬盘5为保证突然下电后，再次上电时数据不会丢失，需要在电压检测电路51检测到断电后，令固态硬盘控制器52及时在彻底断电前，控制固态硬盘5进行保存数据等操作，避免数据丢失，为了分析固态硬盘5断掉保护是否能够有效运行，那些地方需要改进，在触发固态硬盘5的断电保护后，需要继续为固态硬盘5供电，确保固态硬盘5整个断电保护过程能够被记载，防止因断电导致记录不完整，为此设置辅助供电装置2。

具体的，在主供电装置11上电后，为保证主供电装置11下电时能够与辅助供电装置2无缝切换，辅助供电装置2可以在主供电装置11下电前提前与供电切换电路4连接，随时准备对固态硬盘5供电，当主供电装置11下电后，供电切换电路4将确保第一时间将辅助供电装置2的电力输送至固态硬盘5，实现主供电装置11与辅助供电装置2供电的无缝切换，确保固态硬盘5不会因供电装置的切换导致数据丢失。

具体的，主供电装置11下电时，待测的固态硬盘5的电压检测电路51将检测到主供电装置11的供电电压下降，将会触发断电警告，例如，主供电装置11输出额定工作电压12V，主供电装置11输出的电压降至10.5V时，电压检测电路51就会认定将会出现断电，便可以发送低电平至固态硬盘控制器52的中断引脚，告知固态硬盘控制器52进行断电保护操作。

具体的，由于固态硬盘5进行断电保护时，辅助供电装置2仍继续对固态硬盘5中主板上除电压检测电路51外的各模块供电，固态硬盘5能够完整执行完整个断电保护操作，固态硬盘5有足够的时间，将断电保护器件的操作记录在日志中。

具体的，在一定时间后，确定固态硬盘5的下电期间的动作执行完毕后，可以断开辅助供电装置2，从而使固态硬盘5彻底断电，完成一次下电测试，可以理解的是，若要从固态硬盘5中获取下电期间的断电保护日志和重新检测数据，则需要重新上电，此时，便可以完成最后的上电过程，从而完整实现一次上下电测试。

可以理解的是，通过在供电开关3中设置相应的循环程序，便可以重复多次上述的上下电过程，实现多次试验。

需要说明的是，测试PC机1可以在测试期间通过串口、JTAG等调试接口可以导出固态硬盘控制器5中的运行日志、内部寄存器中的数据和其它记录了固态硬盘5断电保护期间所执行的动作和保存的数据等信息，当然也可以在完成一次下电后，重新对测试PC机1和待测的固态硬盘5上电后，测试PC机1可以获取固态硬盘5中上述数据。

可见，本发明实施例利用供电切换电路4和辅助供电装置2不仅实现了对固态硬盘5的下电测试，还能够确保在主供电装置11下电后，由供电切换电路4让辅助供电装置2继续对固态硬盘5除电压检测电路51外的模块继续供电，既不会阻碍固态硬盘5触发断电保护，也确保了固态硬盘5能够完整执行完断电保护，记录期间的执行过程至运行日志中，为后续利用固态硬盘5的运行日志分析和完善固态硬盘5的断电保护过程提供了基础，能够使用户快速定位问题所在，提高研发效率，缩短研发周期。

其中，固态硬盘5的DC/DC转换电路53可以向固态硬盘5的固态硬盘控制器52、NANDFLASH 541(NAND闪存)和DDR SDRAM 542(Double Data Rate SDRAM，双倍速率同步动态随机存储器)供电。

其中，固态硬盘5可以为U.2固态硬盘5；主供电装置11和辅助供电装置2的输出电压可以为12V。

本发明实施例公开了一种具体的固态硬盘5异常上下电测试装置，相对于上一实施例，本实施例对技术方案作了进一步的说明和优化。参见图2所示，具体的：

具体的，上述供电开关3可以包括：供电电源31、第一继电器32、第二继电器33和MCU 34(Microcontroller Unit，微控制器单元)；

供电电源31分别与第一继电器32、第二继电器33和MCU 34连接，MCU 34分别与第一继电器32和第二继电器33连接，第一继电器32与主供电装置11连接，第二继电器33与辅助供电装置2连接；

供电电源31，用于向第一继电器32、第二继电器33和MCU 34供电；

MCU 34，用于控制第一继电器32和第二继电器33的闭合时间；

第一继电器32，用于控制主供电装置11的供电时间；

第二继电器33，用于控制辅助供电装置2的供电时间。

具体的，上述主供电装置11的开关与第一继电器32连接，第一继电器32控制主供电装置11的开关；

主供电装置11的输出端分别与供电切换电路4第一输入端连接和固态硬盘5的电压检测电路51连接。

具体的，辅助供电装置2输出端通过第二继电器33与供电切换电路4连接，以向固态硬盘5供电。

具体的，供电开关3可以由独立的供电电源31供电，供电开关3中设置第一继电器32和第二继电器33分别用于控制主供电装置11和辅助供电装置2，第一继电器32导通可以使主供电装置11开启，从而使主供电装置11通过供电切换电路4向固态硬盘5供电和向固态硬盘5的电压检测电路51供电，第一继电器32关断则主供电装置11关闭，停止供电，第二继电器33在辅助供电装置2和供电切换电路4之间，第二继电器33闭合，辅助供电装置2和供电切换电路4之间的回路导通，辅助供电装置2才可以向固态硬盘5供电，第二继电器33关断，辅助供电装置2便无法继续供电。

具体的，第一继电器32的导通时间和第二继电器33的导通时间由MCU 34控制，例如，MCU 34在上电初始化后，延时T1(例如，T1＝10ms)，MCU 34控制第一继电器32闭合；待固态硬盘控制器52完成上电操作流程后；MCU 34延时T2(例如，T2＝1min)后，MCU 34控制第二继电器33闭合；此时MCU 34控制继电器的一个上电周期完成；然后，固态硬盘5稳定运行一段时间T3(例如，T3＝5min)后；MCU 34控制第一继电器32关断，12V主电掉电；延时T4(例如，T4＝3min)后，MCU 34控制第二继电器33关断，至此固态硬盘5的一个上电和下电流程完成。

可以理解的是，主供电装置11的开关同样为测试PC机1的开关。

具体的，上述供电切换电路4可以包括第一二极管D1和第二二极管D2；

第一二极管D1的阳极作为供电切换电路4的第一输入端与主供电装置11连接，第一二极管D1的阴极和第二二极管D2的阴极相连，第一二极管D1的阴极和第二二极管D2的阴极的公共端作为供电切换电路4的输出端与固态硬盘5的DC/DC转换电路53连接，第二二极管D2的阳极作为供电切换电路4的第二输入端与辅助供电装置2连接。

具体的，供电切换电路4利用二极管的单向导通性能隔离主供电装置11和辅助供电装置2，当两个供电装置同时供电时，输出电压高的供电装置通过供电切换电路4的输出端相固态硬盘5的DC/DC转换电路53供电。

具体的，第一二极管D1的阳极与主供电装置11的输出端连接，第二二极管D2的阳极作为供电切换电路4的第二输入端与第二继电器33连接。

其中，上述测试PC机1可以通过PCIe3.0 x4接口12和相应的U.2转接治具6与固态硬盘5的固态硬盘控制器52通信连接；

主供电装置11通过PCIe3.0 x4接口12和U.2转接治具6与供电切换电路4和固态硬盘5的电压检测电路51连接，主供电装置11利用PCIe3线将电力输送至U.2转接治具6，U.2转接治具6利用U.2线将电力输送至固态硬盘。

相应的，本发明实施例还公开了一种固态硬盘异常上下电测试方法，参见图3所示，应用于如前述的固态硬盘异常上下电测试装置，该方法包括：

S11：判断上下电循环次数是否大于预设的循环阈值。

具体的，循环阈值可以为1000等根据实际应用需要人为设定的数值。

S12：若未达到循环阈值，则在预设的第一延时时间后，控制主供电装置向待测的固态硬盘供电。

可以理解的是，若上下电循环次数大于预设的循环阈值，则无需继续执行后续步骤，可以结束测试。

S13：在预设的第二延时时间后，控制辅助供电装置向固态硬盘供电；

S14：固态硬盘在得电后，与测试PC机正常通信运行预设的第三延时时间后，控制主供电装置停止向固态硬盘供电；

S15：在预设的第四延时时间后，控制辅助供电装置停止向固态硬盘供电；其中，第四延时时间的计时起始点可以为第三延时时间的结束点；

S16：上下电循环次数加一，继续判断上下电循环次数，直至上下电循环次数大于循环阈值。

需要说明的是，第一延时时间、第二延时时间、第三延时时间和第四延时时间的结束时间依次均晚于前一次的延时时间的结束时间，即在第一延时时间计时结束后，第二延时时间才会结束，在第二延时时间计时结束后，第三延时时间才会结束，在第三延时时间计时结束后，第四延时时间才会结束，实际效果是，在主供电装置上电后，辅助供电装置才会上电，在主供电装置和辅助供电装置同时上电后，固态硬盘稳定运行一段时间后，例如，稳定运行第三延时时间后，主供电装置断电，之后辅助供电装置才会断电，此部分适用于上述的固态硬盘异常上下电测试装置各实施例。

可见，本发明实施例实现了对固态硬盘的多次循环测试，提高了测试效率，利用前述的固态硬盘异常上下电测试装置实现了利用供电切换电路和辅助供电装置不仅实现了对固态硬盘的下电测试，还能够确保在主供电装置下电后，由供电切换电路让辅助供电装置继续对固态硬盘除电压检测电路外的模块继续供电，既不会阻碍固态硬盘触发断电保护，也确保了固态硬盘能够完整执行完断电保护，记录期间的执行过程至运行日志中，为后续利用固态硬盘的运行日志分析和完善固态硬盘的断电保护过程提供了基础，能够使用户快速定位问题所在，提高研发效率，缩短研发周期。

具体的，当前述的固态硬盘异常上下电测试装置中的供电开关包括：供电电源、第一继电器、第二继电器和MCU；则上述在预设的第一延时时间后，控制主供电装置向待测的固态硬盘供电的过程，可以具体为：在第一延时时间后，控制供电开关的第一继电器闭合，以使主供电装置向固态硬盘供电；

上述在预设的第二延时时间后，控制辅助供电装置向固态硬盘供电的过程，可以具体为：在第二延时时间后，控制供电开关的第二继电器闭合，以使辅助供电装置向固态硬盘供电；

上述第三延时时间后，控制主供电装置停止向固态硬盘供电的过程，可以具体为：第三延时时间后，控制第一继电器断开，以使主供电装置停止向固态硬盘供电；

上述在预设的第四延时时间后，控制辅助供电装置停止向固态硬盘供电的过程，可以具体为：在第四延时时间后，控制第二继电器断开，以使辅助供电装置停止向固态硬盘供电。

最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

以上对本发明所提供的技术内容进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种固态硬盘异常上下电测试装置，其特征在于，包括：测试PC机、所述测试PC机的主供电装置、辅助供电装置、供电开关和供电切换电路；

所述供电开关的第一控制端与所述主供电装置连接，所述供电开关的第二控制端与所述辅助供电装置连接，所述主供电装置分别与所述供电切换电路的第一输入端和待测的固态硬盘的电压检测电路连接，所述辅助供电装置与所述供电切换电路的第二输入端连接，所述供电切换电路的输出端连接所述固态硬盘的DC/DC转换电路，所述测试PC机与所述固态硬盘的固态硬盘控制器通信连接；

所述主供电装置和所述辅助供电装置均用于通过所述供电切换电路向所述固态硬盘供电，所述主供电装置还用于为所述测试PC机供电；

所述供电切换电路，用于切换所述主供电装置和所述辅助供电装置作为供电电源通过所述固态硬盘的DC/DC转换电路对固态硬盘的内部模块供电；

所述供电开关，用于控制所述主供电装置和辅助供电装置的供电时间。

2.根据权利要求1所述的固态硬盘异常上下电测试装置，其特征在于，所述固态硬盘的所述DC/DC转换电路向所述固态硬盘的固态硬盘控制器、NAND FLASH和DDR SDRAM供电。

3.根据权利要求1所述的固态硬盘异常上下电测试装置，其特征在于，所述测试PC机，还用于获取所述固态硬盘中的运行日志和内部寄存器数据。

4.根据权利要求3所述的固态硬盘异常上下电测试装置，其特征在于，所述测试PC机通过PCIe3.0 x4接口和相应的U.2转接治具与所述固态硬盘的所述固态硬盘控制器通信连接；

所述主供电装置通过所述PCIe3.0 x4接口和所述U.2转接治具与所述供电切换电路和所述固态硬盘的所述电压检测电路连接。

5.根据权利要求1所述的固态硬盘异常上下电测试装置，其特征在于，所述主供电装置和所述辅助供电装置的输出电压为12V。

6.根据权利要求1所述的固态硬盘异常上下电测试装置，其特征在于，所述供电开关包括：供电电源、第一继电器、第二继电器和MCU；

所述供电电源分别与所述第一继电器、所述第二继电器和所述MCU连接，所述MCU分别与所述第一继电器和所述第二继电器连接，所述第一继电器与所述主供电装置连接，所述第二继电器与所述辅助供电装置连接；

所述供电电源，用于向所述第一继电器、所述第二继电器和所述MCU供电；

所述MCU，用于控制所述第一继电器和所述第二继电器的闭合时间；

所述第一继电器，用于控制所述主供电装置的供电时间；

所述第二继电器，用于控制所述辅助供电装置的供电时间。

7.根据权利要求6所述的固态硬盘异常上下电测试装置，其特征在于，所述主供电装置的开关与所述第一继电器连接，所述第一继电器控制所述主供电装置的开关；

所述主供电装置的输出端分别与所述供电切换电路第一输入端连接和所述固态硬盘的所述电压检测电路连接。

8.根据权利要求6所述的固态硬盘异常上下电测试装置，其特征在于，所述辅助供电装置输出端通过所述第二继电器与所述供电切换电路连接，以向所述固态硬盘供电。

9.根据权利要求1至8任一项所述的固态硬盘异常上下电测试装置，其特征在于，所述供电切换电路包括第一二极管和第二二极管；

所述第一二极管的阳极作为所述供电切换电路的第一输入端与所述主供电装置连接，所述第一二极管的阴极和所述第二二极管的阴极相连，所述第一二极管的阴极和所述第二二极管的阴极的公共端作为所述供电切换电路的输出端与所述固态硬盘的所述DC/DC转换电路连接，所述第二二极管的阳极作为所述供电切换电路的第二输入端与所述辅助供电装置连接。

10.一种固态硬盘异常上下电测试方法，其特征在于，应用于如权利要求1至9任一项所述的固态硬盘异常上下电测试装置，包括：

判断上下电循环次数是否大于预设的循环阈值；

若未达到所述循环阈值，则在预设的第一延时时间后，控制主供电装置向待测的固态硬盘供电；

在预设的第二延时时间后，控制辅助供电装置向所述固态硬盘供电；

所述固态硬盘在得电后，与测试PC机正常通信运行预设的第三延时时间后，控制所述主供电装置停止向所述固态硬盘供电；

在预设的第四延时时间后，控制所述辅助供电装置停止向所述固态硬盘供电；

上下电循环次数加一，继续判断上下电循环次数，直至上下电循环次数大于所述循环阈值；

其中，第四延时时间的计时起始点为第三延时时间的结束点。

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